JP3492064B2 - 画像形成装置 - Google Patents

画像形成装置

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JP3492064B2
JP3492064B2 JP35211495A JP35211495A JP3492064B2 JP 3492064 B2 JP3492064 B2 JP 3492064B2 JP 35211495 A JP35211495 A JP 35211495A JP 35211495 A JP35211495 A JP 35211495A JP 3492064 B2 JP3492064 B2 JP 3492064B2
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Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、電子写真記録方法
等により像担持体上に画像を形成する画像形成装置に関
する。 【0002】 【従来の技術】従来、電子写真複写装置においては、原
稿画像をそのまま忠実に再現しようとするため、たとえ
ば、地図のように下地が複数の濃度を有したものを原稿
とする場合、下地部はそのまま複数の濃度に複写されて
いた。あるいは、古くなった印刷物や一度複写されたも
ので、画像の下地に濃度むらがあるものを原稿とする場
合、下地の濃度むらはそのまま複写されていた。 【0003】また、複写する必要のない下地部をある一
定のしきい値で消すように処理することも行なわれてい
る。これについて、図12に示す従来の画像処理方法の
代表例を例にとって説明する。 【0004】図12(a)は、1走査ラインにおける原
稿画像の状態を示したものであり、横軸は位置、縦軸は
濃度を示している。I1〜I6は画像、G1〜G7は下
地を示し、この場合、下地G5が画像I1よりも濃度が
高くなっている。図12(b)、(c)、(d)は、各
々、しきい値X、Y、Zで画像処理をした後の画像の状
態を示している。 【0005】図12(b)に示すように、下地のなかで
最も濃度の高いG5を消去するしきい値Xで処理した場
合は、画像I3、I4、I5が得られるだけで、画像I
1、I2、I6は再現されない欠損のある画像であっ
た。図12(c)に示すように、画像のなかで最も濃度
の低いI1をどうにか再現するしきい値Yで処理した場
合は、画像I1の濃度がかなり低く、下地G4、G5が
はっきりと再現されており、見づらい画像であった。図
12(d)に示すように、下地のなかで最も濃度の低い
G1を消去するだけで、画像を全部再現するしきい値Z
で処理した場合は、下地G2〜G5がそのままはっきり
と再現されており、見づらい画像であった。 【0006】 【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来
は、画像の下地に濃度むらがある原稿を複写装置で複写
する場合、使用者は下地を複写する必要がないことが多
いにもかかわらず、下地がそのまま複写され、複写画像
の品位を損なうという問題があった。 【0007】また、複写画像における下地を消すため
に、下地の高濃度部を取り除くしきい値で処理を行なう
場合、下地の低濃度部にある薄文字、細文字等の濃度が
低下し、薄文字、細文字等を鮮明に再現できなくなり、
複写画像の品位を損なうという問題があった。 【0008】 なお、照明むらのある(従って下地濃度
むらが生じる)多値画像を、形状の画像情報を保存して
2値化処理する方法は、特開平4−1866号、同4−
74283、同5−252597号、同5−2843
57号、同5−290152号で公知である。しかし、
このように最終画像を2値画像にした場合、濃淡画像を
得ようとすると、解像力が劣る、薄文字の再現が困難に
なるなど、画質がかなり劣るという問題がある。 【0009】 本発明の目的は、複数の下地濃度を持っ
た原稿画像に対しても、下地を再現せずもしくは所定濃
度で再現し、画像のみを鮮明に再現することを可能と
た画像形成装置を提供することである。 【0010】 【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明に
かる画像形成装置にて達成される。要約すれば、本発明
は、各走査ラインごとに原稿画像の画像情報の隣接画素
の濃度を比較し、隣接画素の濃度差が所定値以上あると
きにこれを高低2箇所の判定基準点として、高濃度側を
画像、低濃度側を下地と判定する第1段階の画像・下地
判定手段と、判定された画像・下地の位置と濃度を求め
る手段と、隣り合った判定基準点が画像・画像の場合は
その間を全て画像と判定し、隣り合った判定基準点が下
地・下地の場合はその間を全て下地と判定し、隣り合っ
た判定基準点が画像・下地または下地・画像の場合は、
連続した画像・下地群の間の所定の位置で画像と下地に
分割するように判定する第2段階の画像・下地判定手段
と、判定した下地を所定の濃度に変更する手段とを具備
したことを特徴とする画像形成装置である。 【0011】 【0012】 【0013】 【0014】 【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施例を詳細に説明する。 【0015】実施例1 図1は、本発明の一実施例の複写装置における画像処理
の実施に使用する処理システムの構成を示すブロック図
である。 【0016】本実施例において、画像処理システムは、
図1に示すように、原稿画像の読み取りを行なうCCD
100と、CCDからの画像情報のアナログ画像信号を
デジタル画像信号へ変換するA/D変換部101と、デ
ジタル画像信号を複写装置の再現特性を考慮して変換
し、出力するための変換テーブル102と、デジタル画
像信号の光量にかかる信号を濃度にかかる信号に変換す
る濃度変換回路103と、濃度変換回路により変換され
た濃度にかかる信号を記憶する画像メモリー回路104
と、濃度にかかる信号をもとに第1段階の画像・下地の
判定を行なう画像・下地検出回路105(これを特に画
像・下地検出回路Aという)と、画像・下地検出回路A
の判定処理結果をもとに第2段階の画像・下地の判定を
行なう画像・下地検出回路106(画像・下地検出回路
B)と、画像・下地検出回路AおよびBにより判定され
た画像・下地の位置を記憶する画像・下地位置記憶回路
107と、原稿画像の濃度信号と画像・下地の位置信号
に基づいて画像・下地の濃度を制御する制御部108
と、出力部109を備えて構成される。 【0017】図2は、本実施例における画像・下地を検
出する画像処理方法を示す説明図である。このうち、図
2(a)は、1走査ラインにおける原稿画像の状態を示
したものであり、横軸は位置、縦軸は濃度を示してい
る。I1〜I6は画像、G1〜G7は下地を示し、この
場合、下地G5は画像I1よりも濃度が高くなってい
る。 【0018】図3は、画像・下地を検出するための注目
画素とその近傍画素の説明図である。図3(a)は比較
する近傍画素が1ラインの例であり、a12が注目画素、
a11が近傍画素である。図3(b)、(c)は、各々比
較する近傍画素が3ライン、5ラインの例である。図3
(d)〜(f)は、各々図3(a)〜(c)に対する注
目画素の位置と近傍画素の重み付けを示すものであり、
*印は注目画素を示し、数字は近傍画素の重み付けを示
している。 【0019】ここで、画素a11、a12・・・の濃度をD
11、D12・・・とし、注目画素の濃度をDSとし、重み
付けをした後の近傍画素の濃度をDRとし、注目画素と
近傍画素の濃度差をΔDとする。従って、注目画素と近
傍画素の濃度差ΔD=DS−DRとなる。 【0020】図3(a)の場合、近傍画素は隣接画素で
あり、注目画素a12の濃度はD12、近傍画素a11の濃度
はD11で重み付けは1なので、重み付け後の近傍画素の
濃度DRは、DR=D11×1=D11であり、注目画素と
近傍画素の濃度差ΔDは、ΔD=DS−DR=D12−D
11である。 【0021】この濃度差ΔDの絶対値を所定値THLと比
較して、大きい場合は、画像・下地検出回路Aで第1段
階の画像・下地の判定を行ない、画像・下地位置記憶回
路107に画像・下地の位置を記憶させる。 【0022】すなわち、|ΔD|=|DS−DR|=|
D11−D12|>THLの場合、 D12−D11>THL:注目画素a12は画像、近傍画素a11
は下地と判定 D12−D11<THL:注目画素a12は下地、近傍画素a11
は画像と判定 する。 【0023】画像・下地位置記憶回路107には、当
初、各々の画素に対応したアドレスに数字0が収納され
ており、下地と判定した場合は、該当するアドレスに1
が収納され、画像と判定した場合は、該当するアドレス
に2が収納される。従って、判定された画像・下地の位
置が記憶される。 【0024】このようにして、図2(a)の原稿画像に
ついて、第1段階の画像と下地を検出した結果を示した
ものが図2(b)であり、○は画像を、×は下地を示し
ている。 【0025】次に、第1段階の画像・下地検出回路Aに
より検出された画像および下地をもとに、画像・下地検
出回路Bで第2段階の画像・下地の判定を行なう。すな
わち、検出した画像と画像に囲まれた部分は全て画像と
判定し、それ以外の部分は、適宜、画像または下地と判
定する。その結果を示したものが図2(c)であり、○
は画像を、×は下地を示している。 【0026】次に、制御部108により、図2(c)に
示した判定結果と原稿画像の濃度信号とに基づいて、画
像・下地の濃度制御をする。すなわち、画像・下地の位
置信号に基づいて下地と判定した部分は白地として、画
像と判定した部分は原稿画像の濃度信号をそのまま出力
したものが、図2(d)である。 【0027】以上のように、原稿画像の下地の特定部分
の濃度が画像の特定部分の濃度よりも高い場合でも、画
像と下地を鮮鋭に抽出して、下地を再現せずに画像のみ
を鮮明に再現した複写画像を得ることができる。 【0028】以上では、下地部分を白地としたが、制御
部108により下地と判定した部分の濃度を変更した濃
度制御を行ない、薄い濃度で再現してもよい。特に多色
画像を形成する場合には、下地部分を薄い色で再現する
と、見やすい複写画像が得られる。 【0029】次に、図3(b)、(c)に示す注目画素
と近傍画素を用いた場合について説明する。たとえば図
3(b)の例では、注目画素a22の濃度DSをD22、近
傍画素a11、a12、a31、a32の濃度をD11、D12、D
21、D32とすると、重み付けはa11、a31が1/8、a
12、a21、a32が2/8なので、重み付け後の近傍画素
の濃度DRは下記となる。 【0030】近傍画素の濃度DR=D11×1 /8+D12
×2/8+D21×2/8+D31×1 /8+D32×2/8 【0031】また、図3(c)の例では、注目画素はa
33、近傍画素はa11、a12、a13、a21、a22、a23、
a31、a32、a41、a42、a43、a51、a52、a53であ
り、注目画素の濃度DSと重み付け後の近傍画素の濃度
DRを求めると、下記のようになる。 【0032】近傍画素の濃度DR=D11×1 /45+D
12×2/45+D13×3/45+D21×2/45+D22
×4/45+D23×6/45+D31×3/45+D32×
6/45+D41×2/45+D42×4/45+D43×6
/45+D51×1/45+D52×2/45+D53×3/
45 【0033】また、注目画素と近傍画素の濃度差ΔDは
DS−DRであり、前述したのと同様に、濃度差ΔDの
絶対値を所定値THLと比較して、一連の画像処理を行な
えば、同様に、原稿画像の下地の特定部分の濃度が画像
の特定部分の濃度よりも高い場合でも、画像と下地を鮮
鋭に抽出して、下地を再現せずに画像のみを鮮明に再現
した複写画像を形成することができる。 【0034】上記において、比較する近傍画像の数を増
すことにより、構成は複雑になるが、穏やかな濃度勾配
を持った原稿画像に対して、画像と下地をより鮮明に抽
出できる効果がある。 【0035】実施例2 本実施例は、制御部108での濃度制御方法を異ならせ
た以外は、実施例1と同様な条件にした。すなわち、本
実施例では、図2(a)〜(c)の処理を行なった後、
制御部108での処理により、図2(e)に示すような
出力画像を得るものである。 【0036】画像I1〜I6の連なった画像ブロックに
隣接した両端の下地G1、G7の濃度の平均値をDR
A、該当する画像ブロックの濃度をDSをとしたとき、
画像部の処理後の画像濃度DS′を下記式 DS′=DS−K×DRA で表す。ただし、Kは0〜1までの値の定数である。 【0037】図2(e)において、K=1の出力画像を
細線S1で、K=0の出力画像を太線S2で、K=0.
5の出力画像を点線S3で示した。K=0の場合の出力
画像S2は、図2(d)の出力画像と同じである。 【0038】細線S1で示すようにK=1で処理する
と、下地濃度の低いG1、G2上の画素I1と、下地濃
度の高いG4、G5上の画素I4との濃度差がほぼ等し
くなるので、現像条件を適切にすると、下地濃度の低い
G1、G2上の画像I1までももはっきりと再現するこ
とができる。 【0039】以上のように、本実施例によれば、原稿画
像の下地の特定部分の濃度が画像の特定部分の濃度より
も高い場合でも、画像と下地を鮮鋭に抽出して、下地を
再現せずに画像のみを鮮明に再現でき、しかも比較的濃
度の低い画像部をも鮮明に再現することができる。 【0040】なお、前述したのと同様に、下地部分を薄
い濃度で再現することもでき、特に多色画像を形成する
場合に、下地部分を薄い色で再現すると、見やすい複写
画像が得られる。 【0041】実施例3 図4は、本発明の他の実施例における画像処理システム
の構成を示すブロック図である。 【0042】本実施例の画像処理システムは、図1で示
した実施例1の場合と同様、原稿画像の読み取りを行な
うCCD100と、CCDからの画像情報のアナログ画
像信号をデジタル画像信号へ変換するA/D変換部10
1と、デジタル画像信号を複写装置の再現特性を考慮し
て変換し、出力するための変換テーブル102と、デジ
タル画像信号の光量にかかる信号を濃度にかかる信号に
変換する濃度変換回路103と、濃度変換回路により変
換された濃度にかかる信号を記憶する画像メモリー回路
104と、出力部109とを備える。 【0043】さらに、濃度にかかる信号をもとに第1段
階の画像・下地の判定を行なう画像・下地検出回路11
0(これを特に画像・下地検出回路A1 という)と、画
像・下地検出回路A1 の判定処理結果をもとに第2段階
の画像・下地の判定を行なう画像・下地検出回路111
(画像・下地検出回路B1 )と、画像・下地検出回路B
1 の判定処理結果をもとに第3段階の画像・下地の判定
を行なう画像・下地検出回路112(画像・下地検出回
路C1 )と、画像・下地検出回路C1 の判定処理結果を
もとに第4段階の画像・下地の判定を行なう画像・下地
検出回路113(画像・下地検出回路D1 )と、画像・
下地検出回路A1 、B1 、C1 およびD1 により判定さ
れた画像・下地の位置を記憶する画像・下地位置記憶回
路114と、原稿画像の濃度信号と画像・下地の位置信
号に基づいて画像・下地の濃度を制御する制御部115
を備える。 【0044】本実施例において、上記の画像・下地検出
回路B1 、D1 、画像・下地位置記憶回路114および
制御部115は、それぞれ実施例1の画像・下地検出回
路A、B、画像・下地位置記憶回路107および制御部
109に相当し、画像・下地検出回路A1 、C1 が増加
しただけで、処理システムの他の要素は実施例1と同様
であるので、画像・下地検出回路A1 、C1 の作用につ
いて詳細に説明する。。 【0045】まず、画像・下地検出回路A1 が、各画素
の濃度を所定値THL1 、THL2 と比較して、所定値THL
1 よりも小さい場合は下地と判定し、所定値THL2 より
も大きい場合は画像と判定するものであり、この第1段
階判定された画像・下地の位置は、画像・下地位置記憶
回路114に記憶される。これは、明らかに画像・下地
と分かっているものを予め判別することにより、画像・
下地検出回路B1 による第2段階の画像・下地の判別を
より精度よく行なわせるためである。 【0046】次に、画像・下地検出回路C1 は、前記の
画素下検出回路A1 、B1 により検出された画像および
下地をもとに、第3段階の画像・下地の判定を行なうも
のであり、判定した各々の画像および下地を注目画素と
して、隣接画素と比較するものである。 【0047】図5において、太枠で示したa22は注目画
素、斜線で示したa12、a21、a23、a32は隣接画素で
ある。注目画素a22が画像の場合、隣接画素の濃度が注
目画素の濃度以上のとき、該当する隣接画素を画像と判
断する。さらに新しく判定した画像をもとに隣接画素と
比較して画像の判定を行ない、これを繰り返す。 【0048】注目画素a22が下地の場合、隣接画素の濃
度が注目画素の濃度以下のとき、該当する隣接画素を下
地と判定する。さらに新しく判定した下地をもとに隣接
画素と比較して下地の判定を行ない、これを繰り返す。 【0049】以上のようにして判定された画像・下地の
位置は、画像・下地位置記憶回路114に記憶される。 【0050】次に、画像・下地検出回路A1 、B1 、C
1 により検出された画像および下地をもとに、画像・下
地検出回路D1 により第4段階の画像・下地の判定を行
なう。すなわち、判定した画像と画像に囲まれた部分は
全て画像と判定し、それ以外の部分は、適宜、画像また
は下地と判定する。判定された画像・下地の位置は、画
像・下地位置記憶回路114に記憶される。 【0051】次に、制御部115により下地と判定した
部分は白地として、画像と判定した部分はそのまま出力
すれば、図2(a)の原稿画像から図2(d)の複写画
像が得られる。 【0052】本実施例によれば、以上のように、原稿画
像の下地の特定部分の濃度が画像の特定部分の濃度より
も高い場合でも、画像と下地をさらに明瞭に抽出して、
下地を再現せずに画像のみを鮮明に複写することができ
る。 【0053】これまでと同様、下地部分を薄い濃度で再
現することもでき、特に多色画像を形成する場合に、下
地部分を薄い色で再現すると、見やすい複写画像が得ら
れる。 【0054】実施例4 図6は、本発明の他の実施例における画像処理システム
の構成を示すブロック図である。 【0055】本実施例の画像処理システムは、これまで
と同様、原稿画像の読み取りを行なうCCD100と、
CCDからの画像情報のアナログ画像信号をデジタル画
像信号へ変換するA/D変換部101と、デジタル画像
信号を複写装置の再現特性を考慮して変換し、出力する
ための変換テーブル102、デジタル画像信号の光量に
かかる信号を濃度にかかる信号に変換する濃度変換回路
103と、濃度変換回路により変換された濃度にかかる
信号を記憶する画像メモリー回路104と、出力部10
9とを備える。 【0056】さらに、濃度にかかる信号をもとに第1段
階の画像・下地の判定を行なう画像・下地検出回路11
6(これを特に画像・下地検出回路A2 という)と、画
像・下地検出回路A2 の判定処理結果をもとに第2段階
の画像・下地の判定を行なう画像・下地検出回路117
(画像・下地検出回路B2 )と、画像・下地検出回路B
2 の判定処理結果をもとに第3段階の画像・下地の判定
を行なう画像・下地検出回路118(画像・下地検出回
路C2 )と、画像・下地検出回路C2 の判定処理結果を
もとに第4段階の画像・下地の判定を行なう画像・下地
検出回路119(画像・下地検出回路D2 )と、画像・
下地検出回路A2 、B2 、C2 およびD2 により判定さ
れた画像・下地の位置を記憶する画像・下地位置記憶回
路119と、原稿画像の濃度信号と画像・下地の位置信
号に基づいて画像・下地の濃度を制御する制御部120
とを備える。 【0057】本実施例では、1走査ラインごとに原稿画
像の隣接した画素の濃度差を比較することにより、画像
・下地の検出を行なっている。 【0058】図7は、本実施例における画像・下地を検
出する画像処理方法を示す説明図である。図7(a)
は、1走査ラインにおける原稿画像の状態を示したもの
であり、横軸は位置、縦軸は濃度を示している。I1〜
I5は画像、G1〜G6は下地を示し、この場合、下地
G4は画像I1よりも濃度が高くなっている。 【0059】まず、画像・下地検出回路A2 により隣接
した画素の濃度差ΔDの絶対値を所定値THLと比較し
て、濃度差ΔDの絶対値の方が大きい場合は、この隣接
した2つの画素の各々を判定基準点とする一方、隣接画
素の画素濃度の小さい方を下地、大きい方を画像と判定
する。 【0060】画像・下地位置記憶回路119には、当
初、各々の画素に対応したアドレスに数字0が収納され
ており、上記の第1段階の判定で下地と判定した場合
は、該当するアドレスに1が収納され、画像と判定した
場合は、該当するアドレスに2が収納される。従って、
第1段階判定の画像・下地の位置が記憶される。 【0061】このようにして、図7(a)の原稿画像に
ついて、第1段階判定の画像と下地を検出した結果を示
したものが、図7(b)であり、●は第1段階判定の画
像を、▲は第1段階判定の下地を示している。 【0062】次に、画像・下地検出回路A2 による第1
段階判定で検出された画像および下地をもとに、画像・
下地検出回路B2 で第2段階の画像・下地の判定を行な
う。すなわち、隣り合った判定基準点が画像・画像の場
合は、その間の部分を全て画像と判定し、隣り合った判
定基準点が下地・下地の場合は、その間の部分を全て下
地と判定する。判定された画像と下地は、画像・下地検
出回路119に種類と位置が記憶される。すなわち、第
2段階判定で下地と判定した場合は、該当するアドレス
に数字3が収納され、画像と判定した場合は、該当する
アドレスに4が収納される。 【0063】その結果を示したものが図7(c)であ
り、○は第2段階判定の画像、△は第2段階判定の下地
を示している。●は第1段階判定の画像、▲は第1段階
判定の下地を示す。 【0064】次に、画像・下地検出回路B2 により検出
された第2段階判定の画像および下地をもとに、画像・
下地検出回路C2 により第3段階の画像・下地の判定を
行なう。第2段階で画像・下地の判定がなされなかった
判定基準点、すなわち、隣り合った判定基準点は、画像
・下地または下地・画素であるが、この連続した画像・
下地群の間の所定の位置で画像と下地に分割するように
判定する。 【0065】この判定には、以下に示すように種々の方
法が考えられる。本実施例では、(3)の方法によっ
た。 【0066】(1)連続した画像・下地群の濃度の中央
値を境に濃度最大値側を画像、濃度最小値側を下地と判
定する; (2)連続した画像・下地群の中央位置を境に濃度最大
値側を画像、濃度最小値側を下地と判定する; (3)未確定の全ての判定基準点を画像と判定する。 【0067】判定された画像と下地は、画像・下地位置
記憶回路119に種類と位置とが記憶される。すなわ
ち、第3段階の判定で下地と判定した場合は、該当する
アドレスに0が収納され、第3段階の判定で画像と判定
した場合は、該当するアドレスに1が収納され、さらに
第2段階の判定で下地と判定されたものは、該当するア
ドレスに3の代わりに0が収納され、第2段階の判定で
画像と判定されたものは、該当するアドレスに4の代わ
りに1が収納される。その結果を示したものが図7
(d)であり、○は画像、△は下地を示している。 【0068】次に、制御部120により下地と判定した
部分は白地として、画像と判定した部分はそのまま出力
すれば、図7(a)の原稿画像から図7(d)の複写画
像が得られる。 【0069】このように、本実施例によれば、比較的簡
便な方法で、原稿画像の下地の特定部分の濃度が画像の
特定部分の濃度よりも高い場合でも、画像と下地を鮮鋭
に抽出して、下地を再現せずに画像のみを鮮明に再現し
た複写画像を得ることができる。 【0070】これまでと同様、下地部分を薄い濃度で再
現することもでき、特に多色画像を形成する場合には、
下地部分を薄い色で再現することにより、見やすい複写
画像が得られる。 【0071】実施例5 図8は、本発明のさらに他の実施例における画像処理シ
ステムの構成を示すブロック図である。 【0072】本実施例の画像処理システムは、同様に、
原稿画像の読み取りを行なうCCD100と、CCDか
らの画像情報のアナログ画像信号をデジタル画像信号へ
変換するA/D変換部101と、デジタル画像信号を複
写装置の再現特性を考慮して変換し、出力するための変
換テーブル102と、デジタル画像信号の光量にかかる
信号を濃度にかかる信号に変換する濃度変換回路103
と、濃度変換回路により変換された濃度にかかる信号を
記憶する画像メモリー回路104と、出力部109とを
備える。 【0073】さらに、濃度にかかる信号をもとに第1段
階の画像・下地の判定を行なう画像・下地検出回路12
1(これを特に画像・下地検出回路A3 という)と、画
像・下地検出回路A3 により判定された画像・下地の種
類と位置を記憶する画像・下地位置記憶回路124と、
画像・下地検出回路A3 の判定処理結果をもとに第2段
階の画像・下地の判定を行なう画像・下地検出回路12
2(画像・下地検出回路B3 )と、画像・下地検出回路
B3 により判定された画像・下地の種類と位置を記憶す
る画像・下地位置記憶回路125と、画像・下地検出回
路B3 の判定処理結果をもとに第3段階の画像・下地の
判定を行なう画像・下地検出回路123(画像・下地検
出回路C3 )と、画像・下地検出回路C3 により判定さ
れた画像・下地の種類と位置を記憶する画像・下地位置
記憶回路126と、原稿画像の濃度信号と画像・下地の
位置信号に基づいて画像・下地の濃度を制御する制御部
127とを備える。 【0074】本実施例では、原稿画像情報を特定の領域
に分割して、各々分割した領域の濃度分布に基づいて、
下地の検出を行なっている。 【0075】本出願人は、先に、特開平1−21307
3号において、原稿画像の輝度情報のヒストグラムを取
り、白に近い高い度数のピークから所定の範囲の輝度を
しきい値として、下地の検出を行なう方法を提案した。 【0076】本実施例では、輝度情報でなく濃度情報を
用いているが、これらはどちらでも構わない。重要なこ
とは、原稿の全域でヒストグラムを取るのではなく、特
定の領域に分割してヒストグラムを取ることにより、初
めて、原稿画像の下地に濃度むら(濃度差)がある場合
でも、画像と下地を鮮明に抽出できることである。以
下、本実施例を詳細に説明する。 【0077】図9は、原稿画像情報を特定の領域に分割
する方法の1例を示す説明図である。図9(a)は、第
1回目の分割を示すものであり、原稿画像をT1 、T2
、U1 、U2 、V1 、V2 の領域に分割する。これを
第1の分割領域と称す。次に、図9(b)に示すよう
に、前記の領域とずらして、原稿画像をT1 ′、T2
′、T3 ′、U1 ′、U2 ′、U3 ′、V1 ′、V2
′、V3 ′、W1 ′、W2 ′、W3 ′、の領域に分割
する。これを第2の分割と称す。 【0078】図9(c)は図9の(a)と(b)の分割
領域を合わせたものであり、実線が第1の分割領域を、
破線が第2の分割領域を示す。従って、第1の分割領域
と第2の分割領域の組み合わせは、A1 −A1 ′、A1
−A2 ′、A2 −A2 ′、A2 −A3 ′、A1 −B1
′、A1 −B2 ′、A2 −B2 ′、A2 −B3 ′、B1
−B1 ′、B1 −B2 ′、B2 −B2 ′、B2 −B3 ′
・・・・となる。これを第1の分割領域と第2の分割領
域が重複した重複分割領域と称す。 【0079】これらの特定領域への分割方法は、種々の
方法があり、分割数が多ければ構成が複雑になり、分割
数が少なければ構成は簡単になるものの、原稿画像の種
類によっては、下地の判定精度が多少とも劣ることが生
じる場合がある。 【0080】まず、画像・下地検出回路A3 は第1の分
割領域に対して、各画素の濃度のヒストグラムを取る。
その1例を図10に示す。濃度が白に近い原稿の下地の
濃度で高い度数を示し(図中H1 )、ピークH2 から所
定の範囲にある濃度をしきい値H3 とする。このしきい
値H3 以下の薄い濃度を下地と判定する。 【0081】画像・下地位置記憶回路124により、し
きい値H3 と判定された画素の種類と位置が記憶され
る。すなわち、下地と判定した場合は該当するアドレス
に0が収納され、画像と判定した場合は該当するアドレ
スに1が収納される。さらに、しきい値H3 が収納され
る。 【0082】次に、画像・下地検出回路B3 は、第2の
分割領域に対して、前述と同様に、各画素の濃度のヒス
トグラムを取り、下地の検出を行ない、しきい値H3 と
判定された画素の種類と位置が、同様に、画像・下地位
置記憶回路125に記憶される。 【0083】次に、画像・下地検出回路C3 は、各画素
について画像・下地位置記憶回路124と画像・下地位
置記憶回路125の画像・下地の種類を比較して、両者
が一致している場合は、前回の判定が正しいのでそのま
まの判定とし、両者が一致していない場合は、所定の方
法で未定画素の画像・下地の判定を行なう。 【0084】この未定画素の画像・下地の判定には種々
の方法があるが、以下にその1例を述べる。第1の分割
領域でのしきい値をSH1 、第2の分割領域でのしきい
値をSH2 としたとき、第1の分割領域と第2の分割領
域が重複した重複分割領域での新たなしきい値SH3
を、下記式 SH1 >SH2 のとき:SH3 =K(SH1 −SH2 )
+SH2 SH1 <SH2 のとき:SH3 =K(SH2 −SH1 )
+SH1 とする。但し、Kは0〜1までの値の定数である。 【0085】K=1の場合、未定画素は全て下地と判定
され、K=0の場合、未定画素は全て画像と判定され
る。K=0.5の場合は、SH1 とSH2 の平均値をし
きい値として処理したことになる。 【0086】本実施例では、このように、分割領域を重
複させて下地判定を行なったので、判定精度を向上させ
る効果がある。判定された画像と下地は、画像・下地位
置記憶回路126に種類と位置が記憶される。 【0087】次に、制御部127により下地と判定した
部分は白地として、画像と判定した部分はそのまま出力
すれば、高品位の複写画像が得られる。 【0088】本実施例によれば、以上のように、比較的
簡便な方法で、原稿画像の下地の特定部分の濃度が画像
の特定部分の濃度よりも高い場合でも、画像と下地を鮮
鋭に抽出して、下地を再現せずに画像のみを鮮明に再現
した複写画像を形成することができる。 【0089】次に、図11は図9に示した第2の分割領
域の分割方法を変えたものであり、実線が第1の分割領
域を、破線が第2の分割領域を示す。原稿の端は下地で
ある場合が多いので、1度の下地判定でもある程度の精
度は得られる。原稿の中央部は画像と下地が混在してい
る場合が多いので、判定精度を上げるために、分割領域
を重複させて下地判定を行なった。このようにすれば、
より簡便な方法で、画像と下地を検出することができ
る。 【0090】次に、画像・下地位置記憶回路124と画
像・下地位置記憶回路125の画像・下地の種類を比較
して、両者が一致していない場合における画像・下地検
出回路C3 の別の判定方法について、いくつかの例を述
べる。 【0091】(1)まず、連続した未定画素ブロックと
隣接画素を比較して判定する方法について、その1例を
述べる。 【0092】連続した未定画素ブロックの端にある画素
を注目画素として、この全ての注目画素と隣接した画定
画素の濃度差ΔDの絶対値を所定値THL3 と比較して、
濃度差ΔDの絶対値の方が大きい場合、隣接画素の方が
高濃度のときは1を加算し、隣接画素の方が低濃度のと
きは−1を加算し、合計の値が所定値K1以上の場合を
下地と判定し、所定値K1未満の場合を画像と判定す
る。 【0093】すなわち、相対的に隣接画素が画像と認識
されるときに、未定画素ブロックを下地と判定し、隣接
画素が下地と認識されるときに、未定画素ブロックを画
像と判定するものであり、所定値K1=0の場合は、認
識された隣接画素の画像の数と下地の数の大小を比較す
ることとなる。 【0094】(2)次に、連続した未定画素ブロックの
特定の近傍画素を比較して判定する方法について、その
1例を述べる。 【0095】連続した未定画素ブロックの濃度の平均値
DRAを求め、これと隣接した画定画素を注目画素とし
て、注目画素の濃度DSと上記の平均値DRAとの濃度
差ΔDを所定値THL4 と比較して、下記式 ΔD=DS−DRA>THL4 を満足する場合、この注目画素を新たな特定画素とす
る。 【0096】新たな特定画素が生じなくなるまで、これ
を繰り返す。そして、この特定画素の合計した数が所定
値K2以上の場合は下地と判定し、所定値K2未満の場
合は画像と判定する。 【0097】あるいは、(3)連続した未定画素ブロッ
クの端にある画素を比較画素とし、これと隣接した画定
画素を注目画素として、注目画素の濃度DSと比較画素
の濃度DRの濃度差ΔDを所定値THL4 と比較して、下
記式 ΔD=DS−DRA>THL4 を満足する場合、この注目画素を新たな特定画素とす
る。 【0098】新たな画素が生じなくなるまで、これを繰
り返し、この特定画素の合計した数が所定値K2以上の
場合は下地と判定し、所定値K2未満の場合は画像と判
定する。 【0099】このようにすれば、構成は複雑になるもの
の、精度よく画像と下地を検出することができる。 【0100】 【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
各走査ラインごとに原稿画像の画像情報の隣接画素の濃
度を比較し、隣接画素の濃度差が所定値以上あるときに
これを高低2箇所の濃度基準点として、その濃度基準点
の位置と濃度を求める手段と、隣り合った濃度基準点の
濃度差を求める手段と、隣り合った濃度基準点の濃度差
が所定値以上あるときにこの濃度基準点を判定基準点と
して、高濃度側を画像、低濃度側を下地と判定する手段
と、隣り合った判定基準点が画像・画像の場合はその間
を全て画像と判定し、隣り合った判定基準点が下地・下
地の場合はその間を全て下地と判定し、隣り合った判定
基準点が画像・下地または下地・画像の場合は、連続し
た画像・下地群の間の所定の位置で画像と下地に分割す
るように判定する手段と、判定した下地を所定の濃度に
変更する手段とを具備したので、複数の下地濃度を持っ
た原稿画像に対しても、比較的簡便に下地を検出して、
下地を再現せずもしくは所定濃度で再現した、画像のみ
が鮮明な高品位の画像を得ることができる画像形成装置
が提供される。 【0101】 【0102】 【0103】
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の一実施例における画像処理の実施に使
用する画像処理システムの構成を示すブロック図であ
る。 【図2】図1の処理システムにおける画像・下地を検出
する画像処理方法を示す説明図である。 【図3】画像・下地を検出するための注目画素と近傍画
素の説明図である。 【図4】本発明の他の実施例における画像処理システム
の構成を示すブロック図である。 【図5】注目画素と隣接画素の説明図である。 【図6】本発明のさらに他の実施例における画像処理シ
ステムの構成を示すブロック図である。 【図7】図6の処理システムにおける画像・下地を検出
する画像処理方法を示す説明図である。 【図8】本発明のさらに他の実施例における画像処理シ
ステムの構成を示すブロック図である。 【図9】原稿画像情報を特定の領域に分割する方法の1
例を示す説明図である。 【図10】本発明を適用した一実施例の一分割領域に対
するヒストグラムである。 【図11】原稿画像情報を特定の領域に分割する他の方
法の1例を示す説明図である。 【図12】従来の画像処理方法の代表例を示す説明図で
ある。 【符号の説明】 100 CCD 101 A/D変換部 102 変換テーブル 103 濃度変換回路 104 濃度メモリー回路 105、106、110〜113、116〜118、1
21〜123画像・下地検出回路 107、114、119、124、125、126画像
・下地位置記憶回路 108、115、120、127 制御部 109 出力部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04N 1/40 - 1/409 H04N 1/46 H04N 1/60

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 各走査ラインごとに原稿画像の画像情報
    の隣接画素の濃度を比較し、隣接画素の濃度差が所定値
    以上あるときにこれを高低2箇所の判定基準点として、
    高濃度側を画像、低濃度側を下地と判定する第1段階の
    画像・下地判定手段と、判定された画像・下地の位置と
    濃度を求める手段と、隣り合った判定基準点が画像・画
    像の場合はその間を全て画像と判定し、隣り合った判定
    基準点が下地・下地の場合はその間を全て下地と判定
    し、隣り合った判定基準点が画像・下地または下地・画
    像の場合は、連続した画像・下地群の間の所定の位置で
    画像と下地に分割するように判定する第2段階の画像・
    下地判定手段と、判定した下地を所定の濃度に変更する
    手段とを具備したことを特徴とする画像形成装置。
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