JP3490110B2 - 精度検定装置 - Google Patents
精度検定装置Info
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- JP3490110B2 JP3490110B2 JP09880193A JP9880193A JP3490110B2 JP 3490110 B2 JP3490110 B2 JP 3490110B2 JP 09880193 A JP09880193 A JP 09880193A JP 9880193 A JP9880193 A JP 9880193A JP 3490110 B2 JP3490110 B2 JP 3490110B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】 本発明は、複写図の精度検定装
置に関するものである。
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に高精度の地図等を原図として透明
紙等へ複写し、この複写図を利用することがある。
紙等へ複写し、この複写図を利用することがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような場合、複写
図も高精度を必要とするが、複写を行うと複写図が原図
とずれることが多い。このため、かかる複写図を利用す
る場合、複写図の原図に対する精度を知る必要がある。
図も高精度を必要とするが、複写を行うと複写図が原図
とずれることが多い。このため、かかる複写図を利用す
る場合、複写図の原図に対する精度を知る必要がある。
【０００４】本発明は、このような必要性に鑑みてなさ
れたもので、その目的とするところは、複写図の原図に
対する精度を人為差なく検定することのできる複写図の
精度検定装置を提供することにある。
れたもので、その目的とするところは、複写図の原図に
対する精度を人為差なく検定することのできる複写図の
精度検定装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】図１は、本発明の原理説
明図である。図１において１はライトテーブルであり、
すりガラス（図示せず）の下側から照明を行う。３はラ
イトテーブル１に貼られた原図、５は原図３上に貼られ
た複写図である。この複写図５は原図３を複写機で複写
したものである。７はコンピュータである。
明図である。図１において１はライトテーブルであり、
すりガラス（図示せず）の下側から照明を行う。３はラ
イトテーブル１に貼られた原図、５は原図３上に貼られ
た複写図である。この複写図５は原図３を複写機で複写
したものである。７はコンピュータである。
【０００６】オペレータはライトテーブル１に重ねて貼
り付けられた原図３と複写図５において、対応する点の
座標Ｘi 、Ｙi および変位ｘi 、ｙi を測定する（ステ
ップＳ１）。座標Ｘi 、Ｙi は物差し等で測定し、この
座標Ｘi 、Ｙi は原図３、あるいは複写図５の内の点の
一方の座標を用いる。変位ｘi 、ｙi は原図３と複写図
５の対応する点のずれであり、顕微鏡等で測定する。測
定されたデータをコンピュータ７に入力し、コンピュー
タ７は変位ｘi 、ｙi の標準誤差εを次式により求める
（ステップＳ２）。
り付けられた原図３と複写図５において、対応する点の
座標Ｘi 、Ｙi および変位ｘi 、ｙi を測定する（ステ
ップＳ１）。座標Ｘi 、Ｙi は物差し等で測定し、この
座標Ｘi 、Ｙi は原図３、あるいは複写図５の内の点の
一方の座標を用いる。変位ｘi 、ｙi は原図３と複写図
５の対応する点のずれであり、顕微鏡等で測定する。測
定されたデータをコンピュータ７に入力し、コンピュー
タ７は変位ｘi 、ｙi の標準誤差εを次式により求める
（ステップＳ２）。
【０００７】
【数１】
【０００８】次に、変位ｘi 、ｙi にアフィン変換を行
い、アフィン変換用パラメータを決定する（ステップＳ
３）。アフィン変換された変位ｘi ´、ｙi ´の標準誤
差ε´を次式により求める（ステップＳ４）。
い、アフィン変換用パラメータを決定する（ステップＳ
３）。アフィン変換された変位ｘi ´、ｙi ´の標準誤
差ε´を次式により求める（ステップＳ４）。
【０００９】
【数２】
【００１０】そしてステップＳ２で求められた標準誤差
εとステップＳ４で求められた標準誤差ε´を比較す
る。
εとステップＳ４で求められた標準誤差ε´を比較す
る。
【００１１】
【作用】本発明では、原図と複写図の対応する点の変位
（ずれ）を顕微鏡等で測定し、その変位に対してアフィ
ン変換を行い、アフィン変換を行う前後の変位の標準誤
差を算出することによって複写図の精度検定を行う。ま
た、複写図の伸縮および偏平等の誤差の要因を究明す
る。
（ずれ）を顕微鏡等で測定し、その変位に対してアフィ
ン変換を行い、アフィン変換を行う前後の変位の標準誤
差を算出することによって複写図の精度検定を行う。ま
た、複写図の伸縮および偏平等の誤差の要因を究明す
る。
【００１２】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例を詳細
に説明する。図２は、本発明の第１の実施例に係る複写
図の精度検定装置における精度検定方法を示すフローチ
ャートである。オペレータはライトテーブル１に原図３
と複写図５を重ねて貼り合わせる（ステップ２０１）。
そして原図３と複写図５において対応する点の座標
Ｘｉ、Ｙｉ、変位ｘｉ、ｙｉを測定する（ステップ２０
２）。尚、図２のステップ２０３からステップ２０６の
処理はコンピュータ７が行う。この処理はコンピュータ
７内のプログラムに基づきコンピュータ７内の制御部が
行う。
に説明する。図２は、本発明の第１の実施例に係る複写
図の精度検定装置における精度検定方法を示すフローチ
ャートである。オペレータはライトテーブル１に原図３
と複写図５を重ねて貼り合わせる（ステップ２０１）。
そして原図３と複写図５において対応する点の座標
Ｘｉ、Ｙｉ、変位ｘｉ、ｙｉを測定する（ステップ２０
２）。尚、図２のステップ２０３からステップ２０６の
処理はコンピュータ７が行う。この処理はコンピュータ
７内のプログラムに基づきコンピュータ７内の制御部が
行う。
【００１３】図３は原図３上の文字９ａと複写図５上の
文字９ｂがずれている状態を示す。この場合、座標
Ｘi 、Ｙi として原図３上の文字９ａの右隅の点の座標
を物差し等で測定する。なおこの座標Ｘi 、Ｙi として
複写図５上の文字９ｂ上の点の座標を用いてもよい。変
位ｘi 、ｙi は文字９ａと文字９ｂの対応する点のずれ
であり、目盛り付き顕微鏡等で測定する。
文字９ｂがずれている状態を示す。この場合、座標
Ｘi 、Ｙi として原図３上の文字９ａの右隅の点の座標
を物差し等で測定する。なおこの座標Ｘi 、Ｙi として
複写図５上の文字９ｂ上の点の座標を用いてもよい。変
位ｘi 、ｙi は文字９ａと文字９ｂの対応する点のずれ
であり、目盛り付き顕微鏡等で測定する。
【００１４】図４は、原図３上のしみ１１ａと複写図５
上のしみ１１ｂがずれている状態を示す。このようなし
みを図３に示す文字と同様に取り扱って座標Ｘi 、
Ｙi 、変位ｘi 、ｙi を測定してもよい。
上のしみ１１ｂがずれている状態を示す。このようなし
みを図３に示す文字と同様に取り扱って座標Ｘi 、
Ｙi 、変位ｘi 、ｙi を測定してもよい。
【００１５】このように文字、あるいはしみ等を用いて
複数の点について座標Ｘi 、Ｙi 、変位ｘi 、ｙi を測
定する。
複数の点について座標Ｘi 、Ｙi 、変位ｘi 、ｙi を測
定する。
【００１６】測定された変位ｘi 、ｙi に対し、原図３
と複写図５の貼り合わせ誤差を取り除くための補正を行
い、補正後の変位をｘi ´、ｙi ´とする（ステップ２
０３）。すなわち、変位ｘi 、ｙi に対して回転と平行
移動の影響係数を求め、変位ｘi 、ｙi に回転と平行移
動の補正を行い、補正後の変位をｘi ´、ｙi ´とす
る。 この処理は次のようにアフィン変換を用いて行わ
れる。
と複写図５の貼り合わせ誤差を取り除くための補正を行
い、補正後の変位をｘi ´、ｙi ´とする（ステップ２
０３）。すなわち、変位ｘi 、ｙi に対して回転と平行
移動の影響係数を求め、変位ｘi 、ｙi に回転と平行移
動の補正を行い、補正後の変位をｘi ´、ｙi ´とす
る。 この処理は次のようにアフィン変換を用いて行わ
れる。
【００１７】ｘi ´＝ｘi −ＢＹi −Ｃ……（１）
ｙi ´＝ｙi ＋ＢＸi −Ｆ……（２）
とし、ｌi ´2 ＝ｘi ´2 ＋ｙi ´2 が最小となるよう
にパラメータＢ、Ｃ、Ｆを求める。ｌi ´2 が最小とな
るためには、
にパラメータＢ、Ｃ、Ｆを求める。ｌi ´2 が最小とな
るためには、
【００１８】
【数３】
【００１９】これを整理すると
【００２０】
【数４】
【００２１】となる。この方程式を解いてパラメータ
Ｂ、Ｃ、Ｆを求める。求められたパラメータＢ、Ｃ、Ｆ
を用いて式（１）、（２）により変位ｘi ´、ｙi ´を
求める。
Ｂ、Ｃ、Ｆを求める。求められたパラメータＢ、Ｃ、Ｆ
を用いて式（１）、（２）により変位ｘi ´、ｙi ´を
求める。
【００２２】そして、変換後の変位ｘi ´、ｙi ´の標
準誤差εを
準誤差εを
【００２３】
【数５】
【００２４】に従い算出する（ステップ２０４）。
【００２５】次に、変位ｘi ´、ｙi ´にアフィン変換
を行い、アフィン変換用パラメータを決定し、アフィン
変換後の変位をｘi ″、ｙi ″とする（ステップ２０
５）。
を行い、アフィン変換用パラメータを決定し、アフィン
変換後の変位をｘi ″、ｙi ″とする（ステップ２０
５）。
【００２６】この処理は次のようにアフィン変換を用い
て行われる。
て行われる。
【００２７】ｘi ″＝ＡＸi ＋ＢＹi ＋Ｃ……（３）
ｙi ″＝ＤＹi ＋ＥＸi ＋Ｆ……（４）
とし、
εxi＝ｘi ´−ｘi ″
＝ｘi ´−（ＡＸi ＋ＢＹi ＋Ｃ）
εyi＝ｙi ´−ｙi ″
＝ｙi ´−（ＤＹi ＋ＥＸi ＋Ｆ）
とする。
【００２８】εxi 2 およびεyi 2 がそれぞれ最小となる
には、
には、
【００２９】
【数６】
【００３０】すなわち、
【００３１】
【数７】
【００３２】の連立方程式を解けばよい。この方程式を
解いてパラメータＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆを求める。求
められたパラメータＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆを用いて変
位ｘi ″、ｙi ″を求める。
解いてパラメータＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆを求める。求
められたパラメータＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆを用いて変
位ｘi ″、ｙi ″を求める。
【００３３】そして、変換後の変位ｘi ″、ｙi ″の標
準誤差ε´を
準誤差ε´を
【００３４】
【数８】
【００３５】に従い算出する（ステップ２０６）。
【００３６】なお、ステップ２０５の代わりに、次のよ
うな変換を行うこともできる。
うな変換を行うこともできる。
【００３７】変位ｘi ´、ｙi ´に対して、伸縮と偏平
の影響係数を求め、変位ｘi ´、ｙi ´に伸縮と偏平の
補正を行い、補正後の変位をｘi ″、ｙi ″とする。こ
の場合、 ｘi ″＝ｘi ´−（ＡＸi ＋ＥＹi ）……（５） ｙi ″＝ｙi ´−（ＥＸi ＋ＤＹi ）……（６） とし、εi ´2 ＝（ｘi ″2 ＋ｙi ″2 ）が最小となる
ようにパラメータＡ、Ｄ、Ｅを求める。εi ´2 が最小
となるためには、
の影響係数を求め、変位ｘi ´、ｙi ´に伸縮と偏平の
補正を行い、補正後の変位をｘi ″、ｙi ″とする。こ
の場合、 ｘi ″＝ｘi ´−（ＡＸi ＋ＥＹi ）……（５） ｙi ″＝ｙi ´−（ＥＸi ＋ＤＹi ）……（６） とし、εi ´2 ＝（ｘi ″2 ＋ｙi ″2 ）が最小となる
ようにパラメータＡ、Ｄ、Ｅを求める。εi ´2 が最小
となるためには、
【００３８】
【数９】
【００３９】これを整理すると
【００４０】
【数１０】
【００４１】となる。この方程式を解いてパラメータ
Ａ、Ｄ、Ｅを求める。求められたパラメータＡ、Ｄ、Ｅ
を用いて式（５）、（６）により変位ｘi ″、ｙi ″を
求める。
Ａ、Ｄ、Ｅを求める。求められたパラメータＡ、Ｄ、Ｅ
を用いて式（５）、（６）により変位ｘi ″、ｙi ″を
求める。
【００４２】図５は、座標Ｘi 、Ｙi 、変位ｘi ´、ｙ
i ´、およびステップ２０５でアフィン変換された後の
変位ｘi ″、ｙi ″、および（ｘi ″2 、ｙi ″2 ）
1/2 を示したものである。
i ´、およびステップ２０５でアフィン変換された後の
変位ｘi ″、ｙi ″、および（ｘi ″2 、ｙi ″2 ）
1/2 を示したものである。
【００４３】図６は、５種類の複写の方法（複写図）に
対して、本実施例を行った結果を示す表である。この図
６では、Ｘ方向、Ｙ方向の回転補正を行った場合と、伸
縮偏平補正を行った場合についての結果を示している。
対して、本実施例を行った結果を示す表である。この図
６では、Ｘ方向、Ｙ方向の回転補正を行った場合と、伸
縮偏平補正を行った場合についての結果を示している。
【００４４】図６から以下のような考察を行うことがで
きる。複写方法（４）を除き、Ｘ、Ｙ方向に0.1mm/m 以
上の均一な伸縮がある。伸縮はＸ、Ｙ方向によって異な
る。偏平の影響は小さく無視できる。伸縮補正を行うこ
とにより、Ｘ、Ｙ方向の偏差値は十分小さくなる。従っ
て均一に伸縮していると考えられる。
きる。複写方法（４）を除き、Ｘ、Ｙ方向に0.1mm/m 以
上の均一な伸縮がある。伸縮はＸ、Ｙ方向によって異な
る。偏平の影響は小さく無視できる。伸縮補正を行うこ
とにより、Ｘ、Ｙ方向の偏差値は十分小さくなる。従っ
て均一に伸縮していると考えられる。
【００４５】また５種類の複写方法の内、複写方法
（４）が最も精度がよく、次に複写方法（３）がよいと
いう結果が得られた。
（４）が最も精度がよく、次に複写方法（３）がよいと
いう結果が得られた。
【００４６】次に、本発明の第２の実施例について説明
する。この第２の実施例では、原図３と複写図５を5mm
程度離してデジタイザに貼り付け、複写図の精度検定を
行うものである。
する。この第２の実施例では、原図３と複写図５を5mm
程度離してデジタイザに貼り付け、複写図の精度検定を
行うものである。
【００４７】図７は、第２の実施例に用いられるハード
ウェアの構成を示す模式図である。７はコンピュータ、
１３はディスプレイ、１５はデジタイザ、１７は指示
具、１９はプロッタである。デジタイザ１５上に原図３
と複写図５が5mm 程度離されて貼り付けられる。指示具
１７はクリックすることにより、その点の座標を指示す
る。
ウェアの構成を示す模式図である。７はコンピュータ、
１３はディスプレイ、１５はデジタイザ、１７は指示
具、１９はプロッタである。デジタイザ１５上に原図３
と複写図５が5mm 程度離されて貼り付けられる。指示具
１７はクリックすることにより、その点の座標を指示す
る。
【００４８】図８は、この第２の実施例の処理を示すフ
ローチャートである。オペレータはデジタイザ１５に原
図３と複写図５を対応する点が5mm 程度ずれるように重
ねて貼り合わせる（ステップ８０１）。
ローチャートである。オペレータはデジタイザ１５に原
図３と複写図５を対応する点が5mm 程度ずれるように重
ねて貼り合わせる（ステップ８０１）。
【００４９】そして原図３と複写図５において対応する
座標（Ｘi 、Ｙi ）、（Ｘj 、Ｙj）を入力する（ステ
ップ８０２）。
座標（Ｘi 、Ｙi ）、（Ｘj 、Ｙj）を入力する（ステ
ップ８０２）。
【００５０】図９は、原図３上の文字２１ａと、複写図
５上の文字２１ｂを示し、図１０は原図３上のしみ２３
ａと複写図５上のしみ２３ｂを示すものである。
５上の文字２１ｂを示し、図１０は原図３上のしみ２３
ａと複写図５上のしみ２３ｂを示すものである。
【００５１】たとえば、図９上の点Ｃ１の位置に指示具
１７を移動させ、指示具１７をクリックすることにより
座標（Ｘi 、Ｙi ）を入力する。同様に、点Ｃ２の位置
に指示具１７を移動させ、指示具１７をクリックするこ
とにより座標（Ｘj 、Ｙj ）を入力する。
１７を移動させ、指示具１７をクリックすることにより
座標（Ｘi 、Ｙi ）を入力する。同様に、点Ｃ２の位置
に指示具１７を移動させ、指示具１７をクリックするこ
とにより座標（Ｘj 、Ｙj ）を入力する。
【００５２】あるいは、図１０に示すしみ２３ａの点Ｃ
３、およびしみ２３ｂの点Ｃ４を指示具１７でクリック
して座標を入力する。
３、およびしみ２３ｂの点Ｃ４を指示具１７でクリック
して座標を入力する。
【００５３】対応する点の座標（Ｘi 、Ｙi ）、
（Ｘj 、Ｙj ）を複数組の対応する点に関して入力す
る。
（Ｘj 、Ｙj ）を複数組の対応する点に関して入力す
る。
【００５４】このような入力が終了すると、コンピュー
タ７は変位ｘi 、ｙi を次式に従って算出する（ステッ
プ８０３）。
タ７は変位ｘi 、ｙi を次式に従って算出する（ステッ
プ８０３）。
【００５５】ｘi ＝Ｘj −Ｘi
ｙi ＝Ｙj −Ｙi
次に、変位ｘi 、ｙi に対し、原図３と複写図５の貼り
合わせ誤差を取り除くための補正を行い、補正後の変位
をｘi ´、ｙi ´とする（ステップ８０４）。
合わせ誤差を取り除くための補正を行い、補正後の変位
をｘi ´、ｙi ´とする（ステップ８０４）。
【００５６】すなわち、変位ｘi 、ｙi に対して回転と
平行移動の影響係数を求め、変位ｘi 、ｙi に回転と平
行移動の補正を行い、補正後の変位をｘi ´、ｙi ´と
する。 この処理は次のようにアフィン変換を用いて行
われる。
平行移動の影響係数を求め、変位ｘi 、ｙi に回転と平
行移動の補正を行い、補正後の変位をｘi ´、ｙi ´と
する。 この処理は次のようにアフィン変換を用いて行
われる。
【００５７】ｘi ´＝ｘi −ＢＹi −Ｃ
ｙi ´＝ｙi ＋ＢＸi −Ｆ
とし、ｌi ´2 ＝ｘi ´2 ＋ｙi ´2 が最小となるよう
にパラメータＢ、Ｃ、Ｆを求める。ｌi ´2 が最小とな
るためには、
にパラメータＢ、Ｃ、Ｆを求める。ｌi ´2 が最小とな
るためには、
【００５８】
【数１１】
【００５９】これを整理すると
【００６０】
【数１２】
【００６１】となる。この方程式を解いてパラメータ
Ｂ、Ｃ、Ｆを求める。求められたパラメータＢ、Ｃ、Ｆ
を用いて変位ｘi ´、ｙi ´を求める。
Ｂ、Ｃ、Ｆを求める。求められたパラメータＢ、Ｃ、Ｆ
を用いて変位ｘi ´、ｙi ´を求める。
【００６２】そして、変換後の変位ｘi ´、ｙi ´の標
準誤差εを
準誤差εを
【００６３】
【数１３】
【００６４】に従い算出する（ステップ８０５）。
【００６５】次に、変位ｘi ´、ｙi ´にアフィン変換
を行い、アフィン変換用パラメータを決定し、アフィン
変換後の変位をｘi ″、ｙi ″とする（ステップ８０
６）。
を行い、アフィン変換用パラメータを決定し、アフィン
変換後の変位をｘi ″、ｙi ″とする（ステップ８０
６）。
【００６６】この処理は次のようにアフィン変換を用い
て行われる。
て行われる。
【００６７】ｘi ″＝ＡＸi ＋ＢＹi ＋Ｃ
ｙi ″＝ＤＹi ＋ＥＸi ＋Ｆ
とし、
εxi＝ｘi ´−ｘi ″
＝ｘi ´−（ＡＸi ＋ＢＹi ＋Ｃ）
εyi＝ｙi ´−ｙi ″
＝ｙi ´−（ＤＹi ＋ＥＸi ＋Ｆ）
とする。
【００６８】εxi 2 およびεyi 2 がそれぞれ最小となる
には、
には、
【００６９】
【数１４】
【００７０】すなわち、
【００７１】
【数１５】
【００７２】の連立方程式を解けばよい。この方程式を
解いてパラメータＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆを求める。求
められたパラメータＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆを用いて変
位ｘi ″、ｙi ″を求める。
解いてパラメータＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆを求める。求
められたパラメータＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆを用いて変
位ｘi ″、ｙi ″を求める。
【００７３】そして、変換後の変位ｘi ″、ｙi ″の標
準誤差ε″を
準誤差ε″を
【００７４】
【数１６】
【００７５】に従い算出する（ステップ８０７）。尚、
ステップ８０３からステップ８０７の処理はコンピュー
タ７が行う。この処理はコンピュータ７内のプログラム
に基づきコンピュータ７内の制御部が行う。
ステップ８０３からステップ８０７の処理はコンピュー
タ７が行う。この処理はコンピュータ７内のプログラム
に基づきコンピュータ７内の制御部が行う。
【００７６】一般に、顕微鏡では、０．０５mmまでは、
読み取ることができるが、０．０５mm以下の測定は不可
能である。しかしこの第２の実施例を用いれば、２点の
間隔が０．０５mm以下であっても、ステップ８０２にお
いて、座標値を入力できるので、対処することができ
る。
読み取ることができるが、０．０５mm以下の測定は不可
能である。しかしこの第２の実施例を用いれば、２点の
間隔が０．０５mm以下であっても、ステップ８０２にお
いて、座標値を入力できるので、対処することができ
る。
【００７７】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように本発明によ
れば、複写図の原図に対する精度を人為差なく検定する
ことができる。
れば、複写図の原図に対する精度を人為差なく検定する
ことができる。
【図１】 本発明の原理説明図
【図２】 第１の実施例の処理を示すフローチャート
【図３】 原図３および複写図５上の文字９ａ、９ｂを
示す図
示す図
【図４】 原図３および複写図５上のしみ１１ａ、１１
ｂを示す図
ｂを示す図
【図５】 アフィン変換前後のデータを示す図
【図６】 複数の複写の方法に対して本実施例を行った
結果を示す図
結果を示す図
【図７】 第２の実施例に係るハードウェアの構成を示
す図
す図
【図８】 第２の実施例の処理を示すフローチャート
【図９】 原図３および複写図５上の文字２１ａ、２１
ｂを示す図
ｂを示す図
【図１０】 原図３および複写図５上のしみ２３ａ、２
３ｂを示す図
３ｂを示す図
１……ライトテーブル
３……原図
５……複写図
７……コンピュータ
１３……ディスプレイ
１５……デジタイザ
１９……プロッタ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G06T 1/00 - 7/00
G06T 11/60 300
G09B 29/10
Claims (2)
- 【請求項１】 コンピュータを用いて複写図の精度を検
定する精度検定装置であって、 重ね合わされた原図と複写図において、前記原図の複数
の点の座標、および前記原図の複数の点に対応する前記
複写図の点の変位の測定値が入力されると、 前記コンピュータは、 入力された前記変位に対して貼り合わせ誤差を除去する
ため、アフィン変換を行い第１の変位を算出する手段
と、 前記第１の変位の標準誤差を算出する手段と、 前記補正された第１の変位に対して、伸縮と偏平の補正
を行うため、アフィン変換を行い第２の変位を算出する
手段と、 前記第２の変位の標準誤差を算出する手段として機能す
ることを特徴とする精度検定装置。 - 【請求項２】 コンピュータを用いて複写図の精度を検
定する精度検定装置であって、 対応する点がずれるようにデジタイザに重ね合わせて貼
り付けられた原図と複写図の対応する複数の点の座標が
入力されると、 前記コンピュータは、 入力された前記変位に対して貼り合わせ誤差を除去する
ため、アフィン変換を行い第１の変位を算出する手段
と、 前記第１の変位の標準誤差を算出する手段と、 前記補正された第１の変位に対して、伸縮と偏平の補正
を行うため、アフィン変換を行い第２の変位を算出する
手段と、 前記第２の変位の標準誤差を算出する手段として機能す
ることを特徴とする精度検定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09880193A JP3490110B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | 精度検定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09880193A JP3490110B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | 精度検定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JPH06290271A JPH06290271A (ja) | 1994-10-18 |
| JP3490110B2 true JP3490110B2 (ja) | 2004-01-26 |
Family
ID=14229455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09880193A Expired - Fee Related JP3490110B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | 精度検定装置 |
Country Status (1)
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|---|---|
| JP (1) | JP3490110B2 (ja) |
-
1993
- 1993-03-31 JP JP09880193A patent/JP3490110B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06290271A (ja) | 1994-10-18 |
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