JP3490109B2

JP3490109B2 - 地図精度の検定方法、及び、検定装置

Info

Publication number: JP3490109B2
Application number: JP09879993A
Authority: JP
Inventors: 潔米山; 孝平川野
Original assignee: Tokyo Gas Co Ltd
Current assignee: Tokyo Gas Co Ltd
Priority date: 1993-03-31
Filing date: 1993-03-31
Publication date: 2004-01-26
Anticipated expiration: 2019-01-26
Also published as: JPH06290252A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、コンピュータを用いた
地図精度の検定方法、及び、検定装置に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】一般に、同一対象地域の地図を異なる管
理者が独自に測量して保有することがある。例えば、道
路管理者と下水道管理者とが同一地域について、独自に
測量した地図を保有することがある。このような場合に
おいて、道路管理者が以前から保有していた地図が古
く、再測量して新たな地図の作成の必要を感じたとき、
下水道管理者が同一地域について最近新たに測量して作
成した地図を保有していれば、道路管理者は下水道管理
者からその地図を購入して使用するほうが、再測量を行
わずにすみ、便利である。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら新たな地
図を購入して使用しようとすると、現在使用している地
図に対して新たに購入した地図の精度を検定する必要が
ある。

【０００４】従来、このような検定は２つの地図を重ね
て、目盛り付き顕微鏡や虫眼鏡を用いて同一対象となる
道路境界等の変位を測定して検定してきたが、地図の精
度測定は人為差が大きく客観性に欠けるという問題があ
った。

【０００５】本発明は、このような問題に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは人為差が少なく客観
性の高い地図精度の検定方法及び検定装置を提供するこ
とにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】図１は、本発明の原理説
明図である。図１において１はライトテーブル、３、５
はライトテーブル１上に重ねて貼られた２つの地図であ
る。ライトテーブル１は、すりガラスの下側から照明を
行うようにしたものである。７はコンピュータを示し、
Ａ１はこのコンピュータ７の処理を示すフローチャート
である。

【０００７】ステップＳ１、Ｓ２はオペレータが行う処
理であり、まずオペレータはライトテーブル１の上に２
枚の地図３、５を、その図郭が合うように重ねて貼り合
わせる。そして２つの地図３、５の図郭のずれを測定し
（ステップＳ１）、２つの地図３、５において対応する
線の間の変位（距離と角度）を測定する（ステップＳ
２）。

【０００８】コンピュータ７は、ステップＳ２で測定さ
れた変位に対してステップＳ１で得られた図郭のずれを
用いて補正を行う（ステップＳ３）。次に変位の精度を
算出し（ステップＳ４）、この変位を用いてアフィン変
換を行い（ステップＳ５）、アフィン変換された変位の
精度を算出する（ステップＳ６）。そしてステップＳ４
とステップＳ６で得られた変位の精度を比較して地図精
度の検定を行う。

【０００９】

【作用】本発明では、アフィン変換を行う前後の変位の
精度を比較することにより地図精度の検定を行う。検定
に係る処理は、殆どコンピュータ７が行うので人為的な
影響を受けにくく、検定結果の客観性を確保できる。

【００１０】

【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例を詳細
に説明する。図２は、本発明の１実施例に係る地図精度
の検定方法を示すフローチャートである。オペレータは
まず、ライトテーブル１に２つの地図３、５を重ね合わ
せて固定する（ステップ２０１）。図４はライトテーブ
ル１上に重ね合わせて貼り付けられた地図３、５を示す
ものである。オペレータは目盛り付き顕微鏡で図郭のず
れ量ｘ_O、ｙ_O……ｘ_R、ｙ_Rを測定し、物差しで座標
値Ｘ_O、Ｙ_O、…Ｘ_R、Ｙ_Rを測定し、表１１に記入す
る（ステップ２０２）。ここで図郭のずれ量ｘ_O、ｙ_O
……ｘ_R、ｙ_Rは図４に示すように、地図３、５の４隅
におけるｘ座標、ｙ座標のずれである。

【００１１】図５は図郭のずれ量を記入する表１１を表
わす。図５においてｘ、ｙは図郭のずれ量を示し、Ｘ、
Ｙは図郭の座標値を示す。図６は図郭のずれ量、および
図郭の座標値が記入された表１１を示す。

【００１２】さらにオペレータは目盛り付き顕微鏡で２
つの地図上の対応する線間の変位ｌ_i（エル）を測定し
て表１３に記入し（ステップ２０３）、分度器を用いて
線の角度θ_iを測定し、物差しで位置座標Ｘ_i、Ｙ_iを
測定し、表１３に記入する（ステップ２０４）。図４に
示す変位ｌ_iは、一方の地図上の線から他方の地図上の
対応する線に下ろした垂線の長さであり、角度θ_iは、
この垂線がＸ軸となす角度である。座標Ｘ_i、Ｙ_iは、
垂線の足の座標である。

【００１３】ステップ２０３、ステップ２０４の処理を
繰り返し、多数の対象線に関する変位ｌ_i、角度θ_i、
位置座標Ｘ_i、Ｙ_iのデータを得て、測定が終了した場
合には（ステップ２０５）、測定したデータをコンピュ
ータ７に入力する（ステップ２０６）。

【００１４】図７はステップ２０３、ステップ２０４で
用いられる表１３を示す。Ｎｏは測定データの番号であ
り、これに続いて変位ｌ_i、角度θ_i、位置座標Ｘ_i、
Ｙ_iを記入する。図８は実際に測定されたｌ_i、θ_i、
Ｘ_i、Ｙ_iの値が記入された表１３である。

【００１５】次に、コンピュータ７は、図郭の補正パラ
メータを算出する（ステップ２０７）。この補正パラメ
ータの算出は、当出願人が開示した方法（特開平１−３
２０５７９号公報参照）を用いる。

【００１６】次にステップ２０７で算出された図郭の補
正パラメータを用いてステップ２０３で得られた変位ｌ
_iを補正してｌ_i´とする（ステップ２０８）。この補
正については、前述した特開平１−３２０５７９号公報
に記載されている。そして、補正された変位ｌ_i´の標
準偏差Ｓ´を求める（ステップ２０９）。

【００１７】次にこの補正された変位ｌ_i´に対してア
フィン変換を行い、伸縮、回転、偏平、移動の影響パラ
メータＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆを求める（ステップ２１
０）。図９はアフィン変換用パラメータの計算の説明
図である。図９に示すようにｌ_i″＝ｌ_i´−ｘ_iｃｏｓθ_i−ｙ_iｓｉｎθ_i……（１）とし、ｘ_i、ｙ_iに対する次式のアフィン変換を考え
る。なお図９では分かりやすくするため、ベクトル
ｌ_i″、ｘ_i、ｙ_iを平行移動して示してあるが実際に
はベクトルｌ_i´とベクトルｌ_i″とが重なっている。

【００１８】ｘ_i＝ＡＸ_ｉ＋ＢＹ_i＋Ｃｙ_i＝ＤＸ_ｉ＋ＥＹ_i＋Ｆという変換を考え、これを、ｌ_i″＝ｌ_i´−ｘ_iｃｏｓθ_i−ｙ_iｓｉｎθ_i に代入し、ｌ_i″＝ｌ_i´−ｃｏｓθ_i（ＡＸ_ｉ＋ＢＹ_i＋Ｃ）−
ｓｉｎθ_i（ＤＸ_ｉ＋ＥＹ_i＋Ｆ）を得る。このｌ_i″の２乗和が最小となるための条件
は、

【００１９】

【数１】

【００２０】である。計算結果は未定数パラメータを
Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆとした連立方程式となり、行列
で示すと次式の通りである。

【００２１】［Ｋ_hj］［Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，ｌ］＝０［Ｋ_hj］はＫ₁₁、Ｋ₁₂、…Ｋ₁₇、…Ｋ₆₁、…Ｋ₆₇という
ように４２個の係数の行列になるが、たとえばこの中の
Ｋ₁₁からＫ₁₇を示すと、つぎのようになる。

【００２２】

【数２】

【００２３】ここで、アフィン変換用パラメータの内、
ＡはＸ方向の伸縮率、（Ｂ＋Ｄ）／２は偏平率、ＣはＸ
方向の移動量、ＥはＹ方向の伸縮率、（Ｂ−Ｄ）／２は
回転量、ＦはＹ方向の移動量に関するものである。

【００２４】アフィン変換用パラメータが求められる
と、伸縮、回転、偏平、移動の影響を補正した変位
ｌ_i″を計算する（ステップ２１１）。補正された変位
ｌ_i″の標準偏差Ｓ″を求め（ステップ２１２）、Ｓ´／Ｓ″≧α が成立するか否かを判定する（ステップ２１３）。

【００２５】ステップ２１３の条件が成立する場合、２
つの地図３、５の誤差はＳ´であり、伸縮、回転、偏
平、移動の影響があるとする（ステップ２１４）。ステ
ップ２１３の条件が成立しない場合、２つの地図３、５
の誤差はＳ´であり、伸縮、回転、偏平、移動の影響は
顕著でないものとする（ステップ２１５）。

【００２６】図１０、図１１は実際に処理されるデータ
を示したものである。図１０は図郭に関するデータを記
載した表であり、図６の表と実質的に同一のものであ
る。図１１は４５個の線間におけるアフィン変換の処理
結果を示すものである。

【００２７】なお、この場合、アフィン変換用パラメー
タ（影響パラメータ）Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆはそれぞ
れ0.707 、-0.557、-0.071、-0.711、-0.001、0.392 で
あり、変換前の変位ｌ_i´の標準偏差Ｓ´は0.363 であ
り、変換後の変位ｌ_i″の標準偏差Ｓ″は0.299 であっ
た。

【００２８】このように、本実施例では、コンピュータ
７を用いて、地図の検定を行うので、検定結果は、人為
差が小さく客観性の高いものとなる。［第２実施例］次に第２実施例について説明する。この
第２実施例では、ステップ２１０、２１１の代わりに、
偏平、回転に関する影響係数および回転中心を同時に求
める変換を行うものである。

【００２９】すなわち、変換式をｘ_i＝｛（Ａ／２）＋Ｂ｝Ｙ_i＋Ｃ ……（２）ｙ_i＝｛（Ａ／２）−Ｂ｝Ｘ_i＋Ｄ ……（３）とする。ここでＡは偏平に関する影響係数、Ｂは回転に
関する影響係数である。

【００３０】式（２）、式（３）を式（１）に代入する
と、ｌ_i″＝ｌ_i´−ｃｏｓθ_i［｛（Ａ／２）＋Ｂ｝Ｙ_i＋Ｃ］ −ｓｉｎθ_i［｛（Ａ／２）−Ｂ｝Ｘ_i＋Ｄ］ ……（４）ここで、（Ａ／２）＋Ｂ＝Ｅ ……（５）（Ａ／２）−Ｂ＝Ｆ ……（６）と置くと、ｌ_i″＝ｌ_i´−ｃｏｓθ_i（ＥＹ_i＋Ｃ）−ｓｉｎθ
_i（ＦＸ_i＋Ｄ）…（７）となる。このｌ_i″の２乗和が最小となるための条件は、

【００３１】

【数３】

【００３２】である。式（８）、（９）、（１０）、
（１１）を整理すると、

【００３３】

【数４】

【００３４】となる。式（１２）〜（１５）に示すよう
に、未定数パラメータをＣ、Ｄ、Ｅ、Ｆとした連立方程
式を解き、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆを求める。

【００３５】次に、Ａ＝Ｅ＋Ｆ ……（１６）Ｂ＝Ｅ−Ａ／２＝Ｅ−（Ｅ＋Ｆ）／２＝（Ｅ−Ｆ）／２ ……（１７）であるので、Ａ、Ｂが求められる。

【００３６】次に、回転偏平中心を求める。回転偏平中
心の座標を（Ｘ_o，Ｙ_o）とすると、 −｛（Ａ／２）＋Ｂ｝Ｙ_o＋Ｃ＝０ ……（１８） −｛（Ａ／２）−Ｂ｝Ｘ_o＋Ｄ＝０ ……（１９）であればよいので、Ｙ_o＝Ｃ／｛（Ａ／２）＋Ｂ｝＝２Ｃ／（Ａ＋２Ｂ） ……（２０）Ｘ_o＝Ｄ／｛（Ａ／２）−Ｂ｝＝２Ｄ／（Ａ−２Ｂ） ……（２１）として、回転偏平中心が求められる。このようにして、
偏平、回転に関する影響係数および回転中心が求められ
る。

【００３７】その後、式（４）からｌ_i″を求め、ステ
ップ２１２に移行する。［第３実施例］次に第３実施例について説明する。この
第３実施例では、ステップ２１０、２１１の代わりに偏
平、Ｘ方向の移動、Ｙ方向の移動の影響係数を同時に求
める変換を行うものである。

【００３８】かかる場合、影響係数を求めるには以下の
ようにして行う。

【００３９】ｘ_i＝（Ａ／２）Ｙ_i＋Ｃ ……（２６）ｙ_i＝（Ａ／２）Ｘ_i＋Ｄ ……（２７）とする。

【００４０】式（２６）、式（２７）を式（１）に代入
すると、ｌ_i″＝ｌ_i´−ｃｏｓθ_i［（Ａ／２）Ｙ_i＋Ｃ］ −ｓｉｎθ_i［（Ａ／２）Ｘ_i＋Ｄ］ ……（２８）このｌ_i″の２乗和が最小となるための条件は、

【００４１】

【数５】

【００４２】すなわち、

【００４３】

【数６】

【００４４】である。計算結果は未定数パラメータを
Ａ、Ｃ、Ｄとした次のような連立方程式となる。

【００４５】

【数７】

【００４６】この連立方程式を解き、Ａ、Ｃ、Ｄを求め
る。［第４実施例］次に第４実施例について説明する。この
第４実施例では、ステップ２１０、２１１の代わりに回
転の影響係数および回転中心を同時に求める変換を行う
ものである。

【００４７】かかる場合、影響係数を求めるには以下の
ようにして行う。

【００４８】ｘ_i＝ＢＹ_i＋Ｃ ……（３６）ｙ_i＝−ＢＸ_i＋Ｄ ……（３７）とする。式（３６）、式（３７）を式（１）に代入する
と、ｌ_i″＝ｌ_i´−ｃｏｓθ_i［ＢＹ_i＋Ｃ］ −ｓｉｎθ_i［−ＢＸ_i＋Ｄ］ ……（３８）このｌ_i″の２乗和が最小となるための条件は、

【００４９】

【数８】

【００５０】すなわち、

【００５１】

【数９】

【００５２】である。計算結果は未定数パラメータを
Ｂ、Ｃ、Ｄとした次のような連立方程式となる。

【００５３】

【数１０】

【００５４】この連立方程式を解き、Ｂ、Ｃ、Ｄを求め
る。［第５実施例］次に第５実施例について説明する。この
第５実施例では、ステップ２１０、２１１の代わりにＸ
方向の移動、Ｙ方向の移動の影響係数を求める変換を行
うものである。

【００５５】かかる場合、影響係数を求めるには以下の
ようにして行う。

【００５６】ｘ_i＝Ｃ ……（４６）ｙ_i＝Ｄ ……（４７）とする。式（４６）、式（４７）を式（１）に代入する
と、ｌ_i″＝ｌ_i´−Ｃ・ｃｏｓθ_i−Ｄ・ｓｉｎθ_i ……（４５）このｌ_i″の２乗和が最小となるための条件は、

【００５７】

【数１１】

【００５８】すなわち、

【００５９】

【数１２】

【００６０】である。計算結果は未定数パラメータを
Ｃ、Ｄとした次のような連立方程式となる。

【００６１】

【数１３】

【００６２】この連立方程式を解き、Ｃ、Ｄを求める。［第６実施例］次に第６実施例について説明する。この
第６実施例では、ステップ２１０、２１１の代わりにＸ
方向の伸縮、Ｙ方向の伸縮、Ｘ方向の移動、Ｙ方向の移
動、の影響係数を同時に求める変換を行うものである。

【００６３】かかる場合、影響係数を求めるには以下の
ようにして行う。

【００６４】ｘ_i＝ＡＸ_i＋Ｃ ……（５４）ｙ_i＝ＢＹ_i＋Ｄ ……（５５）とする。式（５４）、式（５５）を式（１）に代入する
と、ｌ_i″＝ｌ_i´−ｃｏｓθ_i［ＡＸ_i＋Ｃ］ −ｓｉｎθ_i［ＢＹ_i＋Ｄ］ ……（５６）このｌ_i″の２乗和が最小となるための条件は、

【００６５】

【数１４】

【００６６】すなわち、

【００６７】

【数１５】

【００６８】である。計算結果は未定数パラメータを
Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄとした次のような連立方程式となる。

【００６９】

【数１６】

【００７０】この連立方程式を解き、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを
求める。［第７実施例］図面に偏平および伸縮の影響がない場
合、第１実施例のステップ２０７、２０８の処理は、回
転と変位の影響だけを考慮すればよいので、次のように
アフィン変換を用いて補正を行うことができる。すなわ
ち、ｘ_i´＝ｘ_i−ＢＹ_i−Ｃｙ_i´＝ｙ_i＋ＢＸ_ｉ−Ｆという変換を考える。

【００７１】ここで、ｘ_i、ｙ_iは、目盛り付き顕微鏡
で測定された地図３、５の４隅における図郭のずれ量ｘ
_O、ｙ_O……ｘ_R、ｙ_R、であり、Ｘ_ｉ、Ｙ_iは、物差
しで測定された座標値Ｘ_O、Ｙ_O、…Ｘ_R、Ｙ_Rであ
る。

【００７２】そして、 ε_i´＝（ｘ_i´²＋ｙ_i´²）^1/2 を最小にするように、パラメータＢ、Ｃ、Ｆを定める。

【００７３】ε_i´²が最小になるための条件は、

【００７４】

【数１７】

【００７５】である。これを整理すると、

【００７６】

【数１８】

【００７７】となり、この方程式を解いて、パラメータ
Ｂ、Ｃ、Ｆを定め、補正後の変位ｘ_i´、ｙ_i´を定め
る。そして、ｌ_i´＝（ｘ_i´²＋ｙ_i´²）^1/2 により、ｌ_i´を求めステップ２０９に移行する。

【００７８】

【発明の効果】以上、詳細に説明したように本発明によ
れば、人為差が小さく客観性の高い地図精度の検定方
法、及び検定装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図

【図２】本発明の１実施例に係る地図精度の検定方法
の処理を示すフローチャート

【図３】本発明の１実施例に係る地図精度の検定方法
の処理を示すフローチャート

【図４】ライトテーブル１上に重ねて貼り付けられた
地図３、５を示す図

【図５】図郭のデータを書き込む表１１を示す図

【図６】実際にデータの書き込まれた表１１を示す図

【図７】２つの地図の線間の変位等を書き込む表１３
を示す図

【図８】実際にデータの書き込まれた表１３を示す図

【図９】アフィン変換用パラメータの計算の説明図

【図１０】図郭のデータを示す図

【図１１】コンピュータ７の処理結果を示す図

【符号の説明】

１………ライトテーブル３………地図５………地図７………コンピュータ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G06T 11/60 G06T 1/00 - 7/00 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】コンピュータを用いて地図精度の検定を
行う検定方法であって、（ａ）対象地域を同じくする２つの地図上の対応する２
つの線の間の複数組の変位を、前記２つの地図を重ね合
わせて測定された前記２つの地図の図郭のずれを用いて
補正する工程と、（ｂ）工程（ａ）で補正された変位の第１の標準偏差
Ｓ’を算出する工程と、（ｃ）工程（ａ）で補正された変位に対してアフィン変
換を用いてアフィン変換用パラメータを算出する工程
と、（ｄ）アフィン変換された後の変位の第２の標準偏差
Ｓ”を算出する工程と、（ｅ）Ｓ’／Ｓ”≧αの成否を指標として地図精度の検
定を行う工程と、を具備する地図精度の検定方法。
【請求項２】前記工程（ａ）は、アフィン変換を用い
て図郭のずれを補正するものである請求項１記載の地図
精度の検定方法。
【請求項３】前記工程（ｃ）は、前記第１の地図に対
する前記第２の地図の偏平、回転、Ｘ方向の伸縮、Ｙ方
向の伸縮、Ｘ方向の移動、Ｙ方向の移動の影響係数に関
するアフィン変換用パラメータを算出する請求項１また
は２のいずれかに記載された地図精度の検定方法。
【請求項４】前記工程（ｃ）は、回転と偏平の影響係
数および回転中心に関するアフィン変換用パラメータを
同時に求めることを特徴とする請求項１または２のいず
れかに記載された地図精度の検定方法。
【請求項５】前記工程（ｃ）は、偏平、Ｘ方向の移
動、Ｙ方向の移動の影響係数に関するアフィン変換用パ
ラメータを同時に求めることを特徴とする請求項１また
は２のいずれかに記載された地図精度の検定方法。
【請求項６】前記工程（ｃ）は、回転の影響係数およ
び回転中心に関するアフィン変換用パラメータを同時に
求めることを特徴とする請求項１または２のいずれかに
記載された地図精度の検定方法。
【請求項７】前記工程（ｃ）は、Ｘ方向の移動、Ｙ方
向の移動の影響係数に関するアフィン変換用パラメータ
を同時に求めることを特徴とする請求項１または２のい
ずれかに記載された地図精度の検定方法。
【請求項８】前記工程（ｃ）は、Ｘ方向の伸縮、Ｙ方
向の伸縮、Ｘ方向の移動、Ｙ方向の移動の影響係数に関
するアフィン変換用パラメータを同時に求めることを特
徴とする請求項１または２のいずれかに記載された地図
精度の検定方法。
【請求項９】コンピュータを用いて地図精度の検定を
行う検定装置であって、（ａ）対象地域を同じくする２つの地図上の対応する２
つの線の間の複数組の変位を、前記２つの地図を重ね合
わせて測定された前記２つの地図の図郭のずれを用いて
補正する手段と、（ｂ）手段（ａ）で補正された変位の第１の標準偏差Ｓ
´を算出する手段と、（ｃ）手段（ａ）で補正された変位に対してアフィン変
換を用いてアフィン変換用パラメータを算出する手段
と、（ｄ）アフィン変換された後の変位の第２の標準偏差
Ｓ”を算出する手段と、（ｅ）Ｓ’／Ｓ”≧αの成否を指標として地図精度の検
定を行う手段と、を具備する地図精度の検定装置。
【請求項１０】前記手段（ａ）は、アフィン変換を用
いて図郭のずれを補正するものである請求項９記載の地
図精度の検定装置。
【請求項１１】前記手段（ｃ）は、前記第１の地図に
対する前記第２の地図の偏平、回転、Ｘ方向の伸縮、Ｙ
方向の伸縮、Ｘ方向の移動、Ｙ方向の移動の影響係数に
関するアフィン変換用パラメータを算出する請求項９ま
たは１０のいずれかに記載された地図精度の検定装置。
【請求項１２】前記手段（ｃ）は、回転と偏平の影響
係数および回転中心に関するアフィン変換用パラメータ
を同時に求めることを特徴とする請求項９または１０の
いずれかに記載された地図精度の検定装置。
【請求項１３】前記手段（ｃ）は、偏平、Ｘ方向の移
動、Ｙ方向の移動の影響係数に関するアフィン変換用パ
ラメータを同時に求めることを特徴とする請求項９また
は１０のいずれかに記載された地図精度の検定装置。
【請求項１４】前記手段（ｃ）は、回転の影響係数お
よび回転中心に関するアフィン変換用パラメータを同時
に求めることを特徴とする請求項９または１０のいずれ
かに記載された地図精度の検定装置。
【請求項１５】前記手段（ｃ）は、Ｘ方向の移動、Ｙ
方向の移動の影響係数に関するアフィン変換用パラメー
タを同時に求めることを特徴とする請求項９または１０
のいずれかに記載された地図精度の検定装置。
【請求項１６】前記手段（ｃ）は、Ｘ方向の伸縮、Ｙ
方向の伸縮、Ｘ方向の移動、Ｙ方向の移動の影響係数に
関するアフィン変換用パラメータを同時に求めることを
特徴とする請求項９または１０のいずれかに記載された
地図精度の検定装置。