JP3465890B2 - 電子放出素子、およびそれを用いたフラットディスプレイ - Google Patents

電子放出素子、およびそれを用いたフラットディスプレイ

Info

Publication number
JP3465890B2
JP3465890B2 JP2000314354A JP2000314354A JP3465890B2 JP 3465890 B2 JP3465890 B2 JP 3465890B2 JP 2000314354 A JP2000314354 A JP 2000314354A JP 2000314354 A JP2000314354 A JP 2000314354A JP 3465890 B2 JP3465890 B2 JP 3465890B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
type semiconductor
semiconductor film
electron
cathode
conductivity type
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000314354A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001143605A (ja
Inventor
正雄 内田
博由 田中
宏一 小寺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2000314354A priority Critical patent/JP3465890B2/ja
Publication of JP2001143605A publication Critical patent/JP2001143605A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3465890B2 publication Critical patent/JP3465890B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
  • Electrodes For Cathode-Ray Tubes (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、真空下で電子を放
出する電子放出素子及びそれを用いたフラットディスプ
レイに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体微細化技術を用いて、微細な電子
放出素子を集積して作製し、超高速素子等の高機能素子
を実現する研究が近年盛んになってきている。こうした
研究分野は真空マイクロエレクトロニクスと呼ばれ、特
に、フラットディスプレイ(フィールドエミッションデ
ィスプレイ、以下FEDと略す)への応用が注目されて
いる。電子放出素子をFEDに用いれば、従来のブラウ
ン管ディスプレイに比べ、薄型で軽量の表示装置が実現
されると考えられるからである。
【0003】電子放出素子を用いたFEDでは、電子放
出素子が二次元的に配置され、蛍光体を塗布した陽極と
対向して保持される。そして、陰極と陽極との間に電圧
を印加することにより、真空中に電子が引き出され、蛍
光体に電子が衝突することにより、蛍光体が励起発光す
る。
【0004】以下に、従来の電子放出素子について説明
する。一般に、真空中で固体電極から電子を引き出すと
きの電流密度Jは、ファウラー−ノルドハイム(Fow
ler−Nordheim)の式(1)により与えられ
る。
【0005】 J=(A・F2/φ)・exp(−B・φ3/2/F) ・・・・・・・・(1) ここでA、Bは正の定数、Fは電界、φは陰極の仕事関
数である。また電子を引き出す際に印加する電圧をVと
すると、電界Fは、式(2)で与えられる。
【0006】 F=βV ・・・・・・・・(2) ここで、βは陰極の幾何学的形状により決定される定数
である。式(1)及び式(2)より、印加電圧Vが一定
の場合、電流密度Jを大きくするためにはβを大きくす
るか、あるいはφを小さくすればよい。ただし陰極とし
て半導体を用いる場合には仕事関数φの代わりに、真空
準位と半導体の伝導帯のエネルギー差で与えられる電子
親和力χを小さくすればよい。βを大きくするためには
鋭い先端を持つように陰極を加工する必要があり、具体
的には例えば、n形シリコン基板をエッチングして先端
をとがらせた突起状の電子放出部を形成する手法がとら
れている。
【0007】図11は、鋭い先端を持つ突起状の電子放
出部を備えた従来の電子放出素子の断面構造を概略的に
示している。電子放出素子500は、電子放出部502
を有するシリコン基板504と電子放出部を囲むように
絶縁膜506を介してシリコン基板504上に形成され
たゲート電極508とを有している。電子放出部502
はシリコン基板504をエッチングすることにより得ら
れ、先端が尖った円錐形をしている。また、シリコン基
板504には電極510が設けられている。
【0008】真空下において、電子放出素子500を陽
極と対向させて保持し、電極510を介して、シリコン
基板504に対してゲート電極508に数十〜数百ボル
トの正の電圧を印加すると、電子放出部502は先端が
鋭くなっているため電界が集中するようになる。そし
て、電子放出部502中の電子に対して真空準位が形成
する電位障壁が低く押し下げられ、その電位障壁が薄く
なり、トンネル効果によって電子放出部502の表面か
ら電子が真空中へ引き出される。引き出された電子は、
シリコン基板504と対向し、ゲート電極508に対し
て数百〜数キロボルトの正電圧を印加した陽極に捕獲さ
れる。
【0009】ゲート電極が存在せずシリコン基板504
と電子放出部502のみで構成された電子放出陰極で
は、シリコン基板504に対し数百〜数キロボルトの電
圧を印加した対向する陽極により直接電子が引き出され
捕獲される。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来の電子放出素子では、以下に示すような問題点があ
る。
【0011】まず、電子放出部の先端はナノメートルの
オーダで加工する必要があり、高度な半導体プロセス技
術が必要となる。このため、そのような電子放出素子を
用いたFEDを低コストで生産することは困難であると
考えられる。また、電子放出部の先端部分の形状にばら
つきが生じやすく、これにより、FEDの表示が不均一
になるという問題が生じる。更に、真空中、電子放出部
の先端部分にイオン粒子が衝突してスパッタリングされ
やすいために、先端部分が経時変化を起こしやすいとい
う問題がある。このため、長寿命のFEDを期待できな
い。
【0012】上述の電子放出素子を用いてFEDを構成
する場合には、10-8〜10-10Torr程度の高真空
を実現する必要があり、そのような高真空を備えたFE
Dを商業的に生産することは現実的ではない。
【0013】更に、基板としてシリコン基板を用いるた
め、FEDの画面サイズはシリコン基板の大きさにより
決定されてしまい、大画面のFEDを実現できないとい
う問題もある。
【0014】本発明は上記課題を解決するためになされ
たものであり、その目的とすることは、安価で、生産性
がよく、大面積化が容易で長寿命な電子放出素子を提供
することにある。また、それを用いたフラットディスプ
レイを提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明の電子放出素子
は、導電性膜と、該導電性膜上に形成された第1導電形
半導体膜と、該第1導電形半導体膜上に形成された島状
の第2導電形半導体膜とを有する陰極と、真空空間を隔
てて該第1導電形半導体膜に対向して設けられた陽極
と、を有し、該第1導電形半導体膜と該第2導電形半導
体膜との界面が、該陰極表面に露出されており、該陰極
と該陽極との間に電圧を印加することにより、該陰極か
ら電子を放出させるものであり、そのことにより上記目
的が達成される。
【0016】前記第1導電形半導体膜は島状に形成され
ていてもよい。
【0017】本発明の電子放出素子は、導電性膜と、該
導電性膜上に形成された第1導電形半導体膜と、該第1
導電形半導体膜上に形成されており、少なくとも該第1
導電形半導体膜の表面を露出させる複数の開口部が設け
られた第2導電形半導体膜とを有する陰極と、真空空間
を隔てて該第1導電形半導体膜に対向して設けられた陽
極と、を有し、該第1導電形半導体膜と該第2導電形半
導体膜との界面が、該陰極表面に露出されており、該陰
極と該陽極との間に電圧を印加することにより、該陰極
から電子を放出させるものであり、そのことにより上記
目的が達成される。
【0018】前記開口部は導電性膜の表面が露出するよ
うに、前記第1導電形半導体膜にも設けられていてもよ
い。
【0019】前記第1導電形半導体膜及び前記第2導電
形半導体膜の一方は、ボロンをドープしたダイヤモンド
を含むことが好ましい。
【0020】前記第1導電形半導体膜及び前記第2導電
形半導体膜の一方は、ピリジン、ピリダジン、ピリミジ
ン、及び1,3,5−トリアジンからなるグループから
選ばれた材料を原料として製造される窒素を含有した炭
素薄膜からなることが好ましい。
【0021】前記陰極と前記陽極との間に設けられてお
り、該陰極の少なくとも一部を露出させる開口部を備え
たゲート電極とを有し、ゲート電極に印加される電圧に
より、該陰極から電子を引き出させる。
【0022】前記陰極及び前記ゲート電極は、互いに交
差するように異なる方向に延びるストライプ状にそれぞ
れ形成されており、該陰極と該ゲート電極が交差する部
分に前記開口部が設けられている。
【0023】
【0024】
【0025】
【0026】
【0027】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて説明する。 (実施例1)図1(a)は、本発明の第1の実施例によ
る電子放出素子の斜視図である。電子放出素子40は、
基板42上に設けられた電子放出陰極44と、電子放出
陰極44上に設けられた絶縁膜46と、絶縁膜46上に
設けられたゲート電極48とを有している。ゲート電極
48及び絶縁膜46には、開口部50が設けられてお
り、その底部において、電子放出陰極44の一部が露出
している。
【0028】電子放出素子40は、更に開口部50が向
かい合うように電子放出陰極44と対向して保持された
陽極22を有しており、陽極22と電子放出陰極44と
の間の空間は、10-2から10-5Torr程度の真空に
たもたれている。電子放出陰極44とゲート電極48と
の間に数十から数百ボルトの電圧を印加し、電子放出陰
極44と陽極22との間に数百から数千ボルトの電圧を
印加すると、電子放出陰極44とゲート電極48との間
に印加された電圧により、電子放出陰極44の表面から
電子が放出される。この電子の一部はゲート電極48に
入射するが、大部分は陽極22に向かって放出される。
ゲート電極48に印加する電圧によって放出される電子
の量は調節できる。
【0029】図1(b)は、電子放出陰極44の断面を
示している。電子放出陰極44は、導電膜52と導電膜
52上に形成されたn形半導体膜54と、半導体膜54
上に形成された島状のp形半導体膜56とを有してい
る。
【0030】図1(a)及び(b)では、電子放出素子
40は3端子素子として構成しているが、2端子素子と
して構成してもよい。その場合には、図2に示すよう
に、ゲート電極48及び絶縁膜46を省略し、電子放出
陰極44を直接、陽極22に対向させればよい。また図
1(a)の電子放出素子40において、ゲート電極48
は絶縁膜46を介して電子放出陰極44上に設けられて
いたが、図1(C)に示すように、ゲート電極48を電
子放出陰極44上に直接形成してもよい。この場合ゲー
ト電極48と電子放出陰極44との間に流れる電流の一
部が電子放出陰極44から開口部50を介して放出され
る。
【0031】以下に本実施例で用いる電子放出素子40
の動作について説明する。
【0032】n形半導体とp形半導体を接触させると接
合面ではキャリアは密度の高い方から低い方へ拡散する
ため、接合面近傍でキャリアが消滅し、熱平衡状態では
n形半導体とp形半導体との間で拡散電位が形成され
る。その大きさをeVDとすると、p形半導体の伝導帯
の下端はn形半導体の伝導帯の下端よりもeVDだけエ
ネルギー準位が高くなる。このため、p形半導体におい
て少数キャリアとなる電子を伝導帯へ注入すれば、n形
半導体の伝導帯から電子を放出させるよりもp形半導体
の伝導帯から電子を放出させる方がエネルギー的に優位
となる。
【0033】図3は、電子を引き出して捕獲するための
陽極22(図1)に対して導電膜52に負の電圧を印加
した場合の電子放出陰極44のエネルギーバンドを模式
的に示している。
【0034】導電膜52、n形半導体膜54、及びp形
半導体膜56では、それぞれのフェルミ準位62、6
4、及び66は図3に示されるように位置している。ま
た、p形半導体膜56の伝導帯端と真空準位との間には
電位障壁68が形成される。
【0035】陽極22と導電膜52との間に印加された
電圧によって、導電膜52から電子70がn形半導体膜
54の伝導帯に注入される。この電子70は印加電圧に
より、エネルギー準位のより高いp形半導体膜56の伝
導帯へ注入される。上述したように、p形半導体膜56
では、n形半導体膜54の伝導帯に比べて疑似的に電子
親和力が小さくなる。このため、p形半導体膜56に注
入された電子70は、印加電圧によって薄くなった真空
準位が形成する電位障壁68をトンネリングすることに
よって真空空間へ放出され、陽極に捕獲される。
【0036】ここで注意すべきことは、p形半導体膜5
6中の少数キャリアである電子70の振舞いである。p
形半導体膜56の伝導帯中の電子70は、熱エネルギー
等によりp形半導体膜56の価電子帯およびp形半導体
56の表面準位から励起されて生成する場合と、n形半
導体膜54から注入される場合がある。p形半導体膜5
6中の電子70がp形半導体膜56中の多数キャリアで
ある正孔72と再結合して消滅することを避けるために
は、p形半導体膜56中を流れる電子70が真空へ放出
される間に移動する距離がp形半導体膜56中の電子7
0の拡散長より小さくすればよい。したがってn形半導
体膜54とp形半導体膜56の薄膜を堆積したpn接合
においては、p形半導体膜56の膜厚を小さくすればよ
い。ただし膜厚の非常に小さい薄膜を均一に製膜するの
は困難である。そこで本実施例における電子放出素子で
は、島状のp形半導体膜56がn形半導体膜54上に部
分的に堆積されている。
【0037】図4は、n形半導体膜54およびp形半導
体膜56の接合部分を示す拡大断面図である。p形半導
体膜56の厚さWが電子の拡散長よりも短い場合、軌道
76に示されるように、電子はp形半導体膜56を横切
って放出される。
【0038】一方、Wが拡散長より大きい場合、図4に
示すように、軌道76に沿って電子を放出することは困
難である。しかし、pn接合界面74付近では、n形半
導体膜54から注入される電子70はp形半導体膜56
の表面へ拡散することができる。このとき、p形半導体
膜56の表面へ拡散した電子70は、軌道80に示され
るように、p形半導体膜56中の正孔と再結合する前に
真空空間へ放出可能となる。またp形半導体膜56を構
成する半導体の種類によってはp形半導体膜56の表面
に到達した電子がp形半導体膜56の表面を移動し、軌
道78で示されるように電子70を放出することも可能
である。なお、図4に示される軌道76、78および8
0は説明のため示した例であり、電子放出の経路はこの
軌道に限定されるものではない。
【0039】以上のように本実施例によれば、n形半導
体膜上に部分的に堆積したp形半導体膜を設けることに
より、疑似的に電子親和力を低下させ、p形半導体膜中
を拡散した電子がp形半導体膜表面に到達しやすいた
め、効果的に電子を放出することができる。
【0040】図1(a)、図1(b)及び図2を参照し
て、電子放出素子40の製造方法の一例を説明する。
【0041】まず基板42上に電子放出陰極44を形成
する。基板42上に導電膜52を形成し、導電膜52上
にはn形半導体膜54を形成する。その後、p形半導体
膜56がn形半導体膜54を完全に覆ってしまわないよ
うに短時間でp形半導体膜56の堆積を完了させる。あ
るいは、n形半導体膜54を完全に覆うp形半導体層を
形成した後、選択エッチングによりp形半導体層の一部
を除去し、島状のp形半導体膜56としてもよい。ま
た、n形半導体膜54上に島状の開口を有するマスクを
設けてp形半導体層を形成し、マスクを除去するか、粒
子状のp形半導体を表面に分散させてp形半導体膜56
を形成してもよい。p形半導体膜は数nmから数μm程
度の大きさを有する島状に形成することが好ましい。導
電膜52からn形半導体膜54への電子注入を容易にす
るため、導電膜52とn形半導体膜54はオーミック接
触を形成するような組み合わせを選択する。これによ
り、電子放出陰極44が形成される。
【0042】なお、n形半導体膜54及びp形半導体膜
56としては、ボロンやリン、窒素などをドープしたダ
イヤモンドやDLC膜を用いることができる。
【0043】電子放出陰極44上に絶縁膜46及びゲー
ト電極48を形成する。絶縁膜46には酸化ケイ素や窒
化ケイ素などの材料を用いてもよいし、他の絶縁材料で
もよい。また、導電膜ゲート電極48には、アルミニウ
ム等の導電性の金属を用いる。その後、ゲート電極48
及び絶縁膜46を貫通し、電子放出陰極44の表面が露
出するように開口部50を設ける。図2に示す構造の電
子放出素子を作製する場合には、ゲート電極48及び絶
縁膜46を形成しなくてよい。
【0044】最後に陽極22を電子放出陰極44に対向
させて設け、陽極22と電子放出陰極44との間の空間
を真空に保つか、または、陽極22及び電子放出陰極4
4全体を真空空間に封じ込めることにより、電子放出素
子40が完成する。
【0045】上記実施例で説明した電子放出陰極44を
種々に改変することが可能である。以下に、他の構造を
備えた電子放出陰極を説明する。
【0046】図5は、電子放出陰極80の断面を模式的
に示している。電子放出陰極80は、基板42上に形成
された導電膜82と、導電膜82上に島状に形成された
n形半導体膜84と、n形半導体膜84の一部と重なる
ように導電膜82上に形成された島状のp形半導体膜8
6とを有している。島状のn形半導体膜84及び島状の
p形半導体膜86は、上述の電子放出陰極44で説明し
たのと同じ方法により形成することができる。
【0047】電子放出陰極80は、図1(a)あるいは
図2に示される電子放出陰極44にかえて電子放出素子
40に用いることにより、同様に電子を放出させること
ができる。
【0048】n形半導体膜84とp形半導体膜86との
界面が表面に露出しているので、その界面付近におい
て、n形半導体膜84の内部あるいは表面を通ってp形
半導体膜86中を拡散した電子はp形半導体表面に容易
に到達することができる。p形半導体ではn形半導体に
比べて電圧印加状態で擬似的に電子親和力が減少してい
るので、p形半導体膜86の表面から、効率よく電子を
放出させることができる。
【0049】図6に示される電子放出陰極90は、基板
42上に形成された導電膜92と、導電膜92上に島状
に形成されたn形半導体膜94と、n形半導体膜94上
に形成されたp形半導体膜96とを有している。この構
造は、導電膜92を完全に覆うn形半導体層を形成し、
更に島状のp形半導体膜96をn形半導体層上に形成
し、p形半導体膜96をマスクとして、n形半導体層を
エッチングして、島状のn形半導体膜94を得ることに
より形成される。
【0050】電子放出陰極90も、図1(a)あるいは
図2に示される電子放出陰極44にかえて電子放出素子
40に用いることにより、同様に電子を放出させること
ができる。
【0051】n形半導体膜94とp形半導体膜96との
界面が表面に露出しているので、その界面付近におい
て、n形半導体膜94の内部あるいは表面を通ってp形
半導体膜96中を拡散した電子はp形半導体表面に容易
に到達することができる。p形半導体ではn形半導体に
比べて電圧印加状態で擬似的に電子親和力が減少してい
るので、p形半導体膜96の表面から、効率よく電子を
放出させることができる。
【0052】図7に示される電子放出陰極100は、基
板42上に形成された導電膜102と、導電膜102上
に形成されたn形半導体膜104と、開口部108を有
し、n形半導体膜104上に形成されたp形半導体膜1
06とを有している。導電膜102を完全に覆うn形半
導体膜104を形成し、開口108を規定する島状のマ
スクをn形半導体膜104上に形成した後、p形半導体
膜106をn形半導体膜104上に形成し、マスクをリ
フトオフ法により除去することによって、開口108を
有するp形半導体膜106が得られる。
【0053】電子放出陰極100も、図1(a)に示さ
れる電子放出陰極44にかえて電子放出素子40に用い
ることにより、同様に電子を放出させることができる。
【0054】n形半導体膜104とp形半導体膜106
との界面が表面に露出しているので、その界面付近にお
いて、n形半導体膜104の内部あるいは表面を通って
p形半導体膜106中を拡散した電子はp形半導体表面
に容易に到達することができる。p形半導体ではn形半
導体に比べて電圧印加状態で擬似的に電子親和力が減少
しているので、p形半導体膜106の表面から、効率よ
く電子を放出させることができる。
【0055】図8に示される電子放出陰極110は、基
板42上に形成された導電膜112と、導電膜112上
に形成されたn形半導体膜114と、n形半導体膜11
4上に形成されたp形半導体膜116とを有している。
n形半導体膜114及びp形半導体膜116には、開口
118が複数形成されており、開口118の底部におい
て導電膜112の一部が露出している。開口118はフ
ォトレジストを用いたエッチングまたは陽極酸化等の方
法により形成することができる。フォトレジストを用い
たエッチングによれば、μmオーダーの直径を有する開
口118が形成できる。また、陽極酸化によれば、nm
オーダーの直径を有する開口118が形成できる。開口
118の直径や数に特に制限はない。
【0056】電子放出陰極110も、図1(a)に示さ
れる電子放出陰極44にかえて電子放出素子40に用い
ることにより、同様に電子を放出させることができる。
【0057】n形半導体膜114とp形半導体膜116
との界面が表面に露出しているので、その界面付近にお
いて、n形半導体膜114の内部あるいは表面を通って
p形半導体膜116中を拡散した電子はp形半導体表面
に容易に到達することができる。p形半導体ではn形半
導体に比べて電圧印加状態で擬似的に電子親和力が減少
しているので、p形半導体膜116の表面から、効率よ
く電子を放出させることができる。
【0058】以上の説明から明らかなように、本実施例
の電子放出陰極は、n形半導体膜から電子が供給され、
かつn形半導体膜とp形半導体膜との接合部分近傍が真
空中に露出した構造を備えている。従って、n形半導体
膜からp形半導体膜へ注入された電子が、p形半導体膜
内で正孔と再結合する前に、真空中へ放出可能な経路が
形成され、n形半導体に比べて電圧印加状態で擬似的に
電子親和力の小さいp形半導体から効率的に電子を放出
することができる。
【0059】また、突起状の電子放出部が必要ないた
め、種々の基板上に形成可能であり、大面積を備えた電
子放出陰極を形成することも容易である。また、突起が
ないため電界の集中が起こりにくく、電極の経時変化は
非常に小さい。
【0060】上記実施例では、導電膜が基板42上に形
成されているが、基板自身が導電性を有するものであれ
ば、基板上の導電膜は特に必要でない。また基板および
n形半導体膜を一体とみなしてn形半導体基板を用いて
も差し支えない。
【0061】またp形半導体として、ボロンをドープし
たダイヤモンドを用いた場合、ダイヤモンドの電子親和
力は他の物質に比べて非常に小さく、結晶面によっては
電子親和力が負になるため、更に効果的な電子放出素子
が得られる。シリコン等を用いた電子放出素子では雰囲
気に汚染され酸化膜を形成するためある程度の高真空が
必要であるが、ダイヤモンドは雰囲気に対して不活性で
あるという特徴もあり、10-2Torr程度の比較的低真空
でも動作する。ダイヤモンド表面での電気伝導を顕著に
するため、ダイヤモンド表面は水素終端されていること
が好ましい。
【0062】n形半導体としてもダイヤモンドを用いれ
ばよいが、満足な特性を有するn形ダイヤモンドを得る
ことは困難である。従って、DLC膜をn形半導体膜に
用いることが好ましい。この場合には、導電膜としてア
ルミニウムを選択すれば、良好なオーミック接触が得ら
れる。
【0063】DLC膜は、ビッカース硬度2000から
6000kg/mm2程度の硬度を備えており、ラマン
散乱スペクトルにおいて、1550cm-1及び1240
cm -1付近に特徴的なブロードなスペクトルがみられる
ことにより同定される。
【0064】DLC膜は以下のような方法により製造さ
れる。
【0065】真空に排気したチャンバ内にピリジンの蒸
気を導入する。ピリジンに不活性ガスをバブリングして
チャンバに導入してもよい。次に、チャンバ内のピリジ
ンに数十から数百ボルトの電圧を印加して、気化したピ
リジンをイオン化し、イオン化した粒子を数千ボルトの
電圧で加速してチャンバ内に取り付けた基板に堆積させ
る。堆積した膜には窒素原子が含まれるのでn形半導体
として機能する。ピリジン以外には、ピリダジン、ピリ
ミジン及びそれらの誘導体を用いてもよい。またピラジ
ンや1,3,5−トリアジン及びこれらの誘導体をベン
ゼンなどの溶媒に溶解して用いてもよい。
【0066】また、上記実施例では、導電膜上にn形半
導体膜が形成され、n形半導体膜上にp形半導体膜が形
成された電子放出陰極を説明したが、p形半導体膜を導
電膜上に形成し、p形半導体膜上にn形半導体膜を形成
してもよい。pn接合界面が真空中に露出する限り、本
発明の効果は得られる。 (実施例2)本実施例では、実施例1で説明した電子放
出素子を用いたフラットディスプレイについて説明す
る。
【0067】図9(a)は、フラットディスプレイ15
0の断面構造を概略的に示している。図9(a)では、
実施例1において説明した図2に示される電子放出陰極
44を用いた例を示している。
【0068】フラットディスプレイ150において、支
持基板152上に実施例1で説明した導電膜52、n形
半導体膜54、及びp形半導体膜56を有する電子放出
陰極44が形成されている。
【0069】フラットディスプレイ150は更にガラス
などからなる透明基板156を有しており、透明基板1
56上には、ITOなどからなる透明電極158とその
上に蛍光体膜160とが設けられている。蛍光体膜16
0は、ZnO:Zn等の無機材料、あるいは蛍光色素や
蛍光性導電性高分子等の有機材料で構成されている。
【0070】透明基板156と支持基板152とは、透
明電極158及び電子放出陰極44が対向するように絶
縁体154を挟んで適当な間隔を隔てて保持されてお
り、透明基板156と支持基板152により形成される
空間162は真空に保たれている。
【0071】フラットディスプレイ150において、透
明電極158と電子放出陰極44との間に電圧を印加す
ることにより、実施例1において説明したように電子放
出陰極44から電子が放出され、加速される。加速され
た電子は透明電極158上の蛍光体膜160に衝突し、
励起発光する。
【0072】なお、透明電極158は必ずしも必要では
なく、透明電極158の代わりに電子放出陰極44と透
明基板156との間に公知の加速手段を設けてもよい。
この場合には、蛍光体の表面にアルミニウム薄膜などを
もうけることが好ましい。
【0073】また、図9(b)に示すように、電子放出
陰極44に近接して電子を引き出すためのゲート電極を
設けてもよい。図9(b)に示されるフラットディスプ
レイ170は、電子放出陰極44上に絶縁膜46を介し
てゲート電極48が設けられている。図1(c)を参照
して説明したように絶縁膜46は省略し、ゲート電極4
8を電子放出陰極44上に設けてもよい。図9(b)に
おいて、図9(a)のフラットディスプレイパネル15
0と同一の構成要素には同じ参照符号を付している。フ
ラットディスプレイ170において、ゲート電極48と
電子放出陰極44との間に印加された電圧により電子が
電子放出陰極44から引き出され、陽極である透明電極
158により加速され、透明電極158上の蛍光体膜1
60が励起発光する。
【0074】図9(a)のフラットディスプレイ150
は2端子構造であり、簡単な構造である。一方、図9
(b)のフラットディスプレイ170は3端子でやや構
造が複雑となるが、ゲート電極を有するために、階調表
示が比較的容易となる。
【0075】また、フラットディスプレイを複数の画素
で構成するには、図10に示すような構造を備えた電子
放出陰極を用いてもよい。図10は、一画素分の電子放
出陰極の構成を説明する斜視図である。図10に示され
るように、Y方向に延びるストライプ状の信号電極線1
80を形成し、その上に実施例1で説明した電子放出陰
極を形成する。ここでは、電子放出陰極44を用いて説
明する。そして、信号電極線180と交差するように絶
縁膜184を介してX方向に延びるストライプ状のゲー
ト電極線182が信号電極線180上に形成されてい
る。ゲート電極線182及び信号電極線180の交差部
分において、電子放出陰極44の表面が露出するように
開口部186がゲート電極線182に設けられている。
ゲート電極線182と交差していない電子放出陰極44
の部分は必要に応じて絶縁膜を形成してもよい。
【0076】この様な構造を複数の信号電極線180及
び複数のゲート電極線182を用いて形成し、マトリク
ス状の画素を構成した基板を形成し、蛍光膜が設けられ
た透明電極を保持する透明基板と対向させれば、複数の
画素からなるフラットディスプレイが実現する。
【0077】上記実施例2では、実施例1で説明した電
子放出素子を用いた応用例としてフラットディスプレイ
を説明したが、本発明の電子放出素子は高速動作するス
イッチング素子等にも応用可能である。
【0078】
【発明の効果】本発明によれば、経時劣化が小さく、大
面積化が容易で低い真空度においても高効率で電子を放
出することができ、安価で量産性に優れた電子放出素子
が得られる。また、この電子放出素子を用いた高輝度で
寿命が長く、大きな画面を備えたフラットディスプレイ
が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は、本発明の第1の実施例による電子放
出素子の斜視図であり、(b)はその断面図である。
(c)は、第2の実施例による電子放出素子の別な構造
を示す断面図である。
【図2】本発明の別の電子放出素子の断面図である。
【図3】図1及び図2に示される電子放出素子に用いら
れる電子放出陰極の模式的なエネルギバンド図である。
【図4】図1及び図2に示される電子放出素子に用いら
れる電子放出陰極から電子が放出される様子を説明する
模式図である。
【図5】別の電子放出陰極の断面図である。
【図6】さらに別の電子放出陰極の断面図である。
【図7】さらに別の電子放出陰極の断面図である。
【図8】さらに別の電子放出陰極の断面図である。
【図9】(a)及び(b)は、本発明のフラットディス
プレイの模式的な断面図である。
【図10】図9に示すフラットディスプレイに好適に用
いることのできる1画素分の電子放出陰極の構造を示す
斜視図である。
【図11】従来の電子放出素子の断面図である。
【符号の説明】
40 電子放出素子 42 基板 44、80、90、100、110 電子放出陰極 46 絶縁膜 48 ゲート電極 50 開口部 22 陽極 52、82、92、102、112 導電膜 54 84、94、104、114 n形半導体膜 56 86、96、106、116 p形半導体膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01J 29/04 H01J 1/30 C 31/12 F (56)参考文献 特開 平7−65700(JP,A) 特開 平7−282715(JP,A) 特開 平8−306300(JP,A) 特開 昭55−25910(JP,A) 特開 昭55−46201(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01J 1/304 H01J 9/02 H01J 31/12

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導電性膜と、該導電性膜上に形成された
    第1導電形半導体膜と、該第1導電形半導体膜上に形成
    された島状の第2導電形半導体膜とを有する陰極と、 真空空間を隔てて該第1導電形半導体膜に対向して設け
    られた陽極と、 を有し、 該第1導電形半導体膜と該第2導電形半導体膜との界面
    が、該陰極表面に露出されており、 該陰極と該陽極との間に電圧を印加することにより、該
    陰極から電子を放出させる電子放出素子。
  2. 【請求項2】 前記第1導電形半導体膜は島状に形成さ
    れている請求項1に記載の電子放出素子。
  3. 【請求項3】 導電性膜と、該導電性膜上に形成された
    第1導電形半導体膜と、該第1導電形半導体膜上に形成
    されており、少なくとも該第1導電形半導体膜の表面を
    露出させる複数の開口部が設けられた第2導電形半導体
    膜とを有する陰極と、 真空空間を隔てて該第1導電形半導体膜に対向して設け
    られた陽極と、 を有し、 該第1導電形半導体膜と該第2導電形半導体膜との界面
    が、該陰極表面に露出されており、 該陰極と該陽極との間に電圧を印加することにより、該
    陰極から電子を放出させる電子放出素子。
  4. 【請求項4】 前記開口部は導電性膜の表面が露出する
    ように、前記第1導電形半導体膜にも設けられている請
    求項3に記載の電子放出素子。
  5. 【請求項5】 前記第1導電形半導体膜及び前記第2導
    電形半導体膜の一方は、ボロンをドープしたダイヤモン
    ドを含む請求項1から4のいずれかに記載の電子放出素
    子。
  6. 【請求項6】 前記第1導電形半導体膜及び前記第2導
    電形半導体膜の一方は、ピリジン、ピリダジン、ピリミ
    ジン、及び1,3,5−トリアジンからなるグループか
    ら選ばれた材料を原料として製造される窒素を含有した
    炭素薄膜からなる請求項1から4のいずれかに記載の電
    子放出素子。
  7. 【請求項7】 前記陰極と前記陽極との間に設けられて
    おり、該陰極の少なくとも一部を露出させる開口部を備
    えたゲート電極とを有し、ゲート電極に印加される電圧
    により、該陰極から電子を引き出させる、請求項1また
    は3に記載の電子放出素子。
  8. 【請求項8】 前記陰極及び前記ゲート電極は、互いに
    交差するように異なる方向に延びるストライプ状にそれ
    ぞれ形成されており、該陰極と該ゲート電極が交差する
    部分に前記開口部が設けられている請求項7に記載の電
    子放出素子。
JP2000314354A 1994-10-05 2000-10-13 電子放出素子、およびそれを用いたフラットディスプレイ Expired - Fee Related JP3465890B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000314354A JP3465890B2 (ja) 1994-10-05 2000-10-13 電子放出素子、およびそれを用いたフラットディスプレイ

Applications Claiming Priority (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24122194 1994-10-05
JP6-241221 1994-10-05
JP5601695 1995-03-15
JP7-56016 1995-03-15
JP6075595 1995-03-20
JP7-60755 1995-03-20
JP2000314354A JP3465890B2 (ja) 1994-10-05 2000-10-13 電子放出素子、およびそれを用いたフラットディスプレイ

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25535695A Division JP3187302B2 (ja) 1994-10-05 1995-10-02 電子放出陰極、それを用いた電子放出素子、フラットディスプレイ、及び熱電冷却装置、ならびに電子放出陰極の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001143605A JP2001143605A (ja) 2001-05-25
JP3465890B2 true JP3465890B2 (ja) 2003-11-10

Family

ID=27463290

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000314354A Expired - Fee Related JP3465890B2 (ja) 1994-10-05 2000-10-13 電子放出素子、およびそれを用いたフラットディスプレイ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3465890B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001143605A (ja) 2001-05-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6629869B1 (en) Method of making flat panel displays having diamond thin film cathode
EP0706196B1 (en) An electron emission cathode; an electron emission device, a flat display, a thermoelectric cooling device incorporating the same; and a method for producing the electron emission cathode
US5663608A (en) Field emission display devices, and field emisssion electron beam source and isolation structure components therefor
JP3537053B2 (ja) 電子放出装置用の電子源
US5445550A (en) Lateral field emitter device and method of manufacturing same
US7682213B2 (en) Method of manufacturing an electron emitting device by terminating a surface of a carbon film with hydrogen
JPH0635405A (ja) カソードルミネセント表示装置
EP1086480B1 (en) Planar electron emitter (pee)
US5719406A (en) Field emission device having a charge bleed-off barrier
JP2001006532A (ja) 基材上にダイヤモンドを被着する方法
JPH10223130A (ja) 電子エミッタ
JP3187302B2 (ja) 電子放出陰極、それを用いた電子放出素子、フラットディスプレイ、及び熱電冷却装置、ならびに電子放出陰極の製造方法
JP3465890B2 (ja) 電子放出素子、およびそれを用いたフラットディスプレイ
JP3483972B2 (ja) 電界放出型陰極
KR20020064651A (ko) 박막형 전자 소스, 그것을 이용한 표시 장치 및 응용 기기
US6278229B1 (en) Field emission displays having a light-blocking layer in the extraction grid
US20070141736A1 (en) Field emission device with self-aligned gate electrode structure, and method of manufacturing same
FR2698992A1 (fr) Ecran plat à micropointes protégées individuellement par dipôle.
JP3405773B2 (ja) 微小電界放出陰極装置およびその製造方法
JPH07130282A (ja) 電子放出素子及びそれを用いた電子機器
JP3487230B2 (ja) 電界放射型電子源およびその製造方法およびディスプレイ装置
JPH06111722A (ja) 冷陰極パルス放射装置
JPH07226148A (ja) 半導体電子放出素子
JP2002343278A (ja) 表示装置及び表示装置製造方法
FR2788879A1 (fr) Ecran a emission de champ equipe de microcanaux

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20030818

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070829

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080829

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080829

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090829

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees