JP3465268B2 - 光学ピックアップ特性の計測装置及び光学ピックアップのトラッキング特性の計測方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光学ピックアップ特性、
特に光ピックアップトラッキング時の極性並にトラック
本数を自動的に判別及び計数可能な光学ピックアップ特
性の計測装置及び光学ピックアップのトラッキング特性
の計測方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から光学ピックアップのトラッキン
グエラー検出方法としては種々の検出方法が提案されて
いるがその一つに３スポット方式として知られた方式が
ある。

【０００３】図６はこの様な３スポット方式の光学ピッ
クアップに適用される光学系の１例を示すものである。

【０００４】図６に於いて、１はレーザダイオード、２
はコリメータレンズ、３は回折格子、４はビームスプリ
ッタ、５はフォーカスレンズ、６はＣＤ等のディスク、
７はディスク６上のトラックピット、８，９はフォトデ
ィテクタレンズ、１０は６分割フォトディテクタ、１
１，１２，１３はそれぞれ零次，＋１次，−１次の光ス
ポット、１４，１５，１６は６分割フォトディテクタを
構成する二つのＥ及びＦフォトディテクタと４分割フォ
トディテクタ、１７はフォーカスレンズ５を駆動するた
めのアクチュエータコイルである。

【０００５】図７は図６の光学系に用いられる従来の信
号処理系の系統図であり、１８はトラッキング誤差演算
回路、１９はトラッキング誤差増幅回路である。

【０００６】図６において、レーザダイオード１から出
た光はコリメータレンズ２で平行光線にされ、回折格子
３で、零次，±１次，±２次，‥‥のように複数のビー
ムに分割される。これらのビームのうち実際に利用され
るのは、零次光、±１次光の３本の光ビームである。零
次光，±１次光はビームスプリッタ４を通り、フォーカ
スレンズ５によりディスク６上に集束される。零次光は
光スポット１１として、＋１次光，−１次光はそれぞれ
光スポット１２，１３としてディスク６上に集束され
る。ディスク６から反射した光は、再びビームスプリッ
タ４を通り、フォトディテクタレンズ８，９によって６
分割フォトディテクタ１０の上に集束される。零次光は
４分割フォトディテクタ１４の上に、＋１次光，−１次
光はそれぞれフォトディテクタ１５，１６の上に集束さ
れる。

【０００７】フォーカス誤差信号は、よく知られたアス
ティグマフォーカス方式と呼ばれる方法により、４分割
フォトディテクタ１４の出力から得られる。また、ディ
スクに記録された情報信号も、４分割フォトディテクタ
１４の出力から抽出される。従って、ディスク６の上
で、光スポット１１がちょうどトラック７の上に位置す
るようにフォーカスレンズ５を左右に動かしてトラッキ
ング制御する。フォーカスレンズ５は動電型のアクチュ
エータコイル１７によって動かされる。

【０００８】もし、光スポット１１が図６の右方向にず
れたとすると、光スポット１２はトラック上からさらに
はずれ、逆に光スポット１３はさらにトラック上に乗る
ように、光スポット１１，１２，１３はトラック７に対
して傾いた中心線２０上に配置されている。

【０００９】従って、この場合、光スポット１２からの
反射光量が増大し、逆に光スポット１３からの反射光量
は減少する。この変化量はフォトディテクタ１５，１６
で検出される。図７に示すように、フォトディテクタ１
５，１６のそれぞれの出力Ｅ，Ｆの差を誤差演算回路１
８で演算し、誤差増幅回路１９で増幅し、誤差増幅回路
１９の出力で、アクチュエータコイル１８を駆動し、誤
差演算回路１８の出力が零になるようにフォーカスレン
ズ５を動かす様に成されている。

【００１０】上述の如き３スポットのサブスポット１
２，１３は図６の様に主スポット１１を中心に中心線２
０を中心に一体に動く様に成され、例えばＣＤの如きト
ラックに対しては最大１０本程度に渡って中心線２０が
主スポット１１を中心に時計又は反時計方向に回転可能
に構成されている。

【００１１】この為に主スポット１１がＣＤの所定トラ
ック２１上にあるときに図８示す様にサブスポット１２
及び１３もピット７から成るトラック２１の左右端部に
接する様に中心線２０の回転角（主スポット１１を中心
に時計又は反時計方向に回動する際の角度）を合わせる
調整並に先行のサブスポット（Ｅスポット）１２及び後
方のサブスポット（Ｆスポット）１３の極性（先、後の
差異）を判断する調整処理を必要とした。

【００１２】この様な調整を行なうための従来の調整装
置としては図６に示すフォトディテクタ１５及び１６に
照射されたＥスポット１２′とＦスポット１３′の光量
を電気信号に変換したＥ及びＦ出力を所定の増幅回路に
通して、増幅後にオシロスコープのＸ及びＹ軸に接続さ
せて、その波形を観察する様に成されていた。

【００１３】この様なオシロスコープ上のＸ−Ｙモード
での波形を得るためには光学ピックアップをＣＤの最外
周位置に持ち来たし、ピット列から成るトラック７と最
外周の鏡面部にまたがる様に光学ピックアップを振る様
な境界線でのシークサーボを掛けることで、フォトディ
テクタ１５及び１６のＥ及びＦ出力が例えば図９Ａ，Ｂ
の様な位相関係で出力される。

【００１４】図９でＥスポット及びＦスポットがトラッ
ク２１を横切った時には夫々２２及び２３で示す交流波
形が得られ、ＣＤの鏡面部を横切った時は直流分２４及
び２５が得られる。この様な位相関係にあるＥ出力波形
及びＦ出力波形を夫々オシロスコープのＸ及びＹ軸端子
に供給して、図１０に示すオシロスコープ画面２６上で
観察すると、交流波形２２及び２３が重なった範囲２７
では図１０に示すリサージ図形２８と成るが、オシロス
コープのＹ端子に供給されるＦ出力波形は図９Ｂで示す
様に実線の交流波形２３は先に鏡面に入って直流分２５
となるがＥ出力波形の交流波形は残っているため図１０
の様にＸ軸方向に波形２９の様に振られる。

【００１５】逆にＦ出力波形が図１０Ｂの破線の交流波
形２３ａの様にＥ出力波形（図９Ａ）側が先に鏡面領域
に入った場合は図１０に波形３０の様にＹ軸方向に振ら
れる。

【００１６】依って、この波形本数を目でみてカウント
することでトラック本数を確認して、この様な波形２９
及び３０が出ない時に、光学ピックアップの主スポット
位置に対するサブスポット位置を調整していた。

【００１７】

【発明が解決しようとする課題】上述の如くオシロスコ
ープのＸ及びＹ軸にＥ出力波形及びＦ出力波形を供給し
て、リサージ波形を画かせることでトラック数を目で確
認して計数する方法では、オシロスコープの画面を看な
がら波形２９又は３０が無くなって完全なリサージ波形
と成る様に光学ピックアップの回折格子を微調整してい
た。

【００１８】この為に調整が極めて煩雑で調整者によっ
て製品にバラツキを生ずるだけでなく、自動化調整が出
来ない問題があった。

【００１９】本発明は叙上の問題点を解消するために成
されたもので、その目的とするところはトラッキング時
の極性並にトラック数をカウントし、主スポットと同一
トラック上にサブスポットを持ち来す調整が自動的に出
来る光学ピックアップ特性の計測装置及び光学ピックア
ップのトラッキング特性の計測方法を得んとするにあ
る。

【００２０】本発明の光学ピックアップ特性の計測装置
は光ディスクからの反射主スポット及び少なくとも2つ
の反射サブスポットを光学ピックアップ内の光−電気変
換素子に照射し、電気信号を取り出す様に成された光学
ピックアップ特性の計測装置において、光学ピックアッ
プの対物レンズを光ディスクのトラック位置と鏡面のあ
る境界位置において、光ディスクの輻方向に揺動させる
様なサーボを行なうシークサーボ手段と、少なくとも２
つの反射サブスポットの照射される光−電気変換素子か
らの検出信号と、所定の基準閾値レベルとを比較する比
較手段と、比較手段の出力から２つのサブスポット間の
トラック数の差を検出する計数手段と、この計数手段の
計数結果に応じて３ビーム方式のサブスポットを主スポ
ットと同一トラックに照射するように合わせる調整手段
とを具備することを特徴としたものである。

【００２１】本発明の光学ピックアップのトラッキング
特性の計測方法は光ディスクからの反射主スポット及び
少なくとも2つの反射サブスポットを光学ピックアップ
内の光−電気変換素子に照射し、電気信号を取り出す様
に成された３ビーム方式の光学ピックアップのトラッキ
ング特性の計測方法において、光学ピックアップの対物
レンズを光ディスクのトラック位置と鏡面のある境界位
置に持ち来たし、光ディスクの輻方向に揺動させる様な
サーボを行うシークサーボ工程と、少なくとも２つの反
射サブスポットの照射される光−電気変換素子からの検
出信号と所定の基準閾値レベルとを比較する比較工程
と、比較工程の出力から２つのサブスポット間のトラッ
ク数の差を検出する計数工程と、計数工程の計数結果に
応じて３ビーム方式のサブスポットを主スポットと同一
トラックに照射するように合わせる調整工程とを具備す
ることを特徴としたものである。

【００２２】

【作用】本発明の光学ピックアップ特性の計測装置及び
光学ピックアップのトラッキング特性の計測方法によれ
ば３ビーム方式の光学ピックアップの主スポットが照射
される光ディスクトラック上にサブスポットの照射され
る位置を合わせる調整時のトラック本数及びその極性の
測定を自動的に行なえると共に上述の調整の自動化を行
なうことの出来るものが得られる。

【００２３】

【実施例】以下、本発明の光学ピックアップ特性の計測
装置及びその計測方法の原理的構成を図１乃至図３によ
って簡単に説明する。

【００２４】尚、図６乃至１０で説明した光学ピックア
ップ構造との対応部分には同一符号を付して重複説明を
省略する。

【００２５】図１は本発明の光学ピックアップ特性の計
測装置及び光学ピックアップのトラッキング特性の計測
方法に於いて、３ビーム光学ピックアップで主スポット
１１の照射される光ディスク６のトラック２１上に２つ
のサブスポット１２及び１３を乗せる調整を行なうため
に、トラック数を自動的に計数すると共に、２つのサブ
スポット１２及び１３のうち、どちらのサブスポット１
２及び１３が主スポット１１より先行しているかを自動
的に検出する様に成したものである。

【００２６】図１の原理的系統図に於いて、ＣＤの如き
光ディスク６に同心円状に形成されたトラック２１‥‥
と光ディスク６の外周又は内周、並に曲間位置等のトラ
ック２１と鏡面３６の境界面位置に光学ピックアップの
対物レンズ５の開口部を持ち来たす。

【００２７】この光学ピックアップはシークサーボ用の
スライドモータによって光ディスク６のトラック２１と
鏡面３６の境界面位置に移動される。

【００２８】更に、このシークサーボ用のスライドモー
タに図２Ｂに示す様な例えば、光ディスクの外周から内
周に向かって、即ち、複数のトラック２１‥‥と鏡面３
６とを横切る様に所定の＋Ｖから−Ｖまでの電圧を周期
的に供給すると、図２Ａに示す様に光学ピックアップか
らのビームは光ディスクのトラック２１‥‥位置に照射
されて反射される位置の信号面ではフォトディテクタ上
で所定の交流分の信号３６を検出することが出来るが、
鏡面では直流分３７と成される。

【００２９】即ち、複数のトラック２１と鏡面３６を跨
ぐ様に光学ピックアップを揺動させてシークサーボ手段
３５で、複数のトラック２１と鏡面３６の境界面でシー
クサーボを掛けることで光学ピックアップのビームが横
切るトラック数に対応した交流分の信号３６がフォトデ
ィテクタ１５及び１６に検出されることになる。

【００３０】この様に光学ピックアップのサブビームが
信号面の複数のトラックを横切った時にフォトディテク
タ１５及び１６のＥスポット１２′及びＦスポット１
３′で得られる交流の信号波形３６Ｅ及び３６Ｆは図３
Ａ及び図３Ｂの如く、主ビームのトラック２１上にサイ
ドビームがあれば主ビームの主スポット１１′から得ら
れる交流の信号波形とサブビームのサブスポットのＥ、
Ｆスポット１２′，１３′から得られる交流信号の波形
３６Ｅ、３６Ｆのパルス数は同一である。Ｅスポット１
２′とＦスポット１３′間でも同様のことが云える。

【００３１】一方、この様にパルス数に本数差が生ずる
のは主スポット１１に対しサブスポットを通る中心線２
０が図３の時に時計又は反時計方向に大きく回転してい
る時である。

【００３２】この様なＥスポットとＦスポットのパルス
数の差は信号面では解らないがサイドビームが鏡面３６
を横切ったときには直流分３７Ｅ及び３７Ｆは早く又は
遅く出力されるために図３Ｂのｔで示す部分のパルス数
を計数することでＥスポット１２′とＦスポット１３′
のパルスの本数の差を計数することが出来る。

【００３３】この為に本例では図１に示す様にフォトデ
ィテクタ１５及び１６に投影された光ディスクからの戻
りビームであるＥスポット及びＦスポット１２′及び１
３′から得られる交流信号を比較手段４５Ｅ及び４５Ｆ
に供給して、基準のレベルＲＥＦ２及びＲＥＦ１と比較
して取り出された信号面のパルス数差をＥＦ出力差検出
手段５５に供給して、その差を取り出した後にカウンタ
５７を介して計数し、この計数結果に基づいて、自動調
整手段（例えばＣＰＵ）５９等で主スポット１１のトラ
ック位置にサブスポット１２及び１３を合わせる調整を
自動的に行なう様にしたものである。

【００３４】上述の如き原理によって検出される３ビー
ム方式の光学ピックアップのトラック数の計数並にＥス
ポット及びＦスポットの極性判別を行なうための具体的
構成を図４及び図５によって詳記する。

【００３５】尚、図４で図１との対応部分には同一符号
を付して説明する。

【００３６】図４で、入力端子Ｔ_E ，Ｔ_F にはフォトデ
ィテクタ１５及び１６で得られるＥ及びＦ出力信号を反
転回路（図示せず）で反転した−Ｅ及び−Ｆ出力が供給
される。

【００３７】この様なフォトディテクタ１５及び１６か
ら得られたＥ及びＦ出力は図５Ａ及び図５Ｂに示す様に
反転された−Ｅ及び−Ｆ出力信号と成されバッファアン
プ回路４０Ｅ及び４０Ｆとピーク検波回路４２Ｅ及び４
２Ｆ並に加算増幅回路４３に供給されてバッファアンプ
した後にアンプ回路４１Ｅ及び４１Ｆによって略２倍に
アンプされた後にコンデンサＣ１及びＣ２を介して零ク
ランプ回路４４で零クランプされると共にアンプ回路４
１Ｅの出力端は二つの第１及び第２の比較回路４５Ｅ１
及び４５Ｅ２の夫々の一方の入力端子に供給される。

【００３８】更にアンプ回路４１Ｆの出力端も二つの第
３及び第４の比較回路４５Ｆ１及び４５Ｆ２の夫々の一
方の入力端子に供給される。

【００３９】第１及び第２の比較回路４５Ｅ１及び４５
Ｅ２の夫々の他方の入力端子には基準信号源からの基準
信号電圧ＲＥＦ２及びＲＥＦ２′が加算増幅回路４６Ｅ
１及び４６Ｅ２を介して供給される。この加算増幅回路
４６Ｅ１及び４６Ｅ２では上記した基準信号電圧ＲＥＦ
２及びＲＥＦ２′に−Ｅ出力のピーク値を検出したピー
ク検出回路４２Ｅの出力が加算されて−Ｅ出力レベルの
変動に対応して基準信号電圧ＲＥＦ２及びＲＥＦ２′の
値を可変する様に成される。

【００４０】同様に第３及び第４の比較回路４５Ｆ１及
び４５Ｆ２の夫々の他方の入力端子には基準信号源から
の基準信号電圧ＲＥＦ１及びＲＥＦ１′が加算増幅回路
４６Ｆ１及び４６Ｆ２を介して供給される。この加算増
幅回路４６Ｆ１及び４６Ｆ２では上記した基準信号電圧
ＲＥＦ１及びＲＥＦ１′に−Ｆ出力のピーク値を検出し
たピーク検出回路４２Ｆの出力が加算されて−Ｆ出力レ
ベルの変動に対応して基準信号電圧ＲＥＦ１及びＲＥＦ
１′の値を可変する様に成される。

【００４１】上記した零クランプ回路４４には光学ピッ
クアップを境界面でシークサーボする際に、鏡面３６が
入る毎に零クランプさせるためのクランプパルスＣＰが
供給される。

【００４２】このクランプパルスＣＰ及び後述するも境
界面でのシークサーボによって光学ピックアップの対物
レンズが信号面に入る毎に信号面をリセットするための
リセットパルスＲＰを得るために、加算増幅回路４３で
加算した−Ｅ及び−Ｆ出力はエンベローブ検波回路４６
に供給される。このエンベローブ検波回路４６で−Ｅ及
び−Ｆ出力波形は包絡線検波されて検波出力波形ＥＶと
成され、この検波出力波形ＥＶはコンパレータ４７を介
し波形整形され、波形整形された包絡線検波出力波形Ｆ
ＥＶと成され、境界面でのシークサーボの周期に対応し
た出力波形ＦＥＶが第１及び第２のワンショットマルチ
バイブレータ４８及び４９に供給される。

【００４３】第１のワンショットマルチバイブレータ４
８では境界面でのシークサーボ波形の鏡面３６に入るた
びに鏡面３６を零クランプする鏡面零クランプパルスＣ
Ｐを出力して零クランプ回路４４に供給する。

【００４４】第２のワンショットマルチバイブレータ４
９の出力は信号面リセットパルスＲＰを形成して後述す
るフリップフロップ回路５２の図５Ｋ図示のリセットパ
ルスＲＰとして供給される。

【００４５】第１及び第３の比較回路４５Ｅ１及び４５
Ｆ１では基準信号電圧ＲＥＦ２及びＲＥＦ１はその閾値
ＳＨ２及びＳＨ１が図５Ｃ及び図５Ｄに示す様に、信号
部分に来る様に選択する。勿論、零クランプ回路４４で
完全に零クランプされている。

【００４６】同様に第２及び第３の比較回路４５Ｅ２及
び４５Ｆ２では基準信号電圧ＲＦＦ２′及びＲＦＦ１′
はその閾値ＳＨ3 及びＳＨ4 が図５Ｃ及び図５Ｄに示す
様に、零クランプした零点と信号間のレベルの中間、即
ち極性判別部分で比較が成される。

【００４７】第１及び第２の比較回路４５Ｅ１及び４５
Ｆ１の出力波形は図５Ｅ及び図５Ｆに示す様に信号部分
で基準値と比較された比較波形が出力されて、この−Ｅ
及び−Ｆの周期の差を出力する差回路５５Ｅ及び５５Ｆ
に供給される。

【００４８】即ち、この差回路５５Ｅ及び５５Ｆでは図
５Ａ，Ｂに示すフォトディテクタ−Ｅ及び−Ｆの周期の
差ｔを検出する。この為に後述するも図５Ｌに示すカウ
ントゲートパルス５３ａを差回路５５Ｅ及び５５Ｆに供
給する。

【００４９】第２及び第４の比較回路４５Ｅ２及び４５
Ｆ２の出力波形は図５Ｇ及び図５Ｈに示す様に極性部分
で基準値と比較された比較波形が出力されて、Ｄ型フリ
ップフロップ回路５０に供給される。この−Ｅ及び−Ｆ
の周期の差ｔに応じてＤ型フリップフロップ回路５０は
肯定又は否定出力Ｑ又ＱバーにＥ又は−Ｆ波形を出力
し、出力端子Ｔ₁ 及びＴ₂ に極性判別信号を出力して後
述するＣＰＵ５９に供給する。

【００５０】第２及び第４の比較回路４５Ｅ２及び４５
Ｆ２の出力はエクスクルーシブオアゲート回路５１に供
給されて、図５Ｇ及び図５Ｈに示す−Ｅ及び−Ｆ出力の
立ち上がりパルスで立ち上がり及び立ち下がるエッジパ
ルス５１ａ₁ ，５１ａ₂ ，５１ａ₁ ，５１ａ₂ ‥‥を図
５Ｉの如く得る。これは−Ｅ及び−Ｆ出力の差分と成
る。

【００５１】エクスクルーシブオアゲート回路５１のエ
ッジパルス５１ａ（５１ａ₁ ，５１ａ₂ ）は次段のフリ
ップフロップ回路５２に供給される。フリップフロップ
回路５２はエッジパルス５１ａの立ち上がりパルスでト
リガされて図５Ｊに示す矩形波５２ａを出力する。

【００５２】この様な矩形波５２ａは図５Ｉで示す−Ｅ
及び−Ｆ出力の差パルスであるエッジパルス５１ａ₁ 及
び５１ａ₂ のうち、例えば一方のエッジパルス５１ａ₂
の周期ｔのみのパルス数をカウントするためにエッジパ
ルス５１ａ₁ 並に、−Ｅ及び−Ｆの共通信号部分の周期
ｔ₁ をマスクするために生成される。又、前記した様に
フリップフロップ回路５２は信号面が来るためにワンシ
ョットマルチバイブレータ４９の図６Ｋで示す信号面の
略真中位置に来る様に調整されたリセットパルスＲＰで
リセットし、前の信号の影響を除去する様に成されてい
る。

【００５３】フリップフロップ回路５２の肯定出力端子
Ｑから得られるマスク用の矩形波５２ａは更に、フリッ
プフロップ回路５３及び５４に供給される。否定出力端
子Ｑバーの出力は図６Ｎに示す様に読み込み制御信号と
してＣＰＵ５９に供給される。

【００５４】フリップフロップ回路５３は図５Ｌに示す
様にエッジパルス５１ａの周期ｔ ₁ よれも幅広の周期ｔ ₂
を有するゲートパルス５３ａを−Ｅと−Ｆ出力の差回路
５５Ｅ及び５５Ｆに供給する。

【００５５】フリップフロップ回路５４の出力は図５Ｍ
に示す様にデータラッチパルス５４ａを出力し、データ
ラッチ回路５６Ｅ及び５６Ｆに供給されてデータラッチ
が成される。

【００５６】差回路５５Ｅ及び５５Ｆでは−Ｅ及び−Ｆ
出力データの差をこのデータラッチパルス５４ａで切り
出して、切り出された差データをデータラッチ回路５６
Ｅ及び５６Ｆでラッチする。このラッチされた差データ
はカウンタ用のゲートパルス５４ａ内でラッチされて、
次段のカウンタ５７Ｅ及び５７Ｆ内で、このデータ計数
が成され、光学ピックアップのビームがトラックを横切
ったトラック数をカウントすることに成る。

【００５７】カウンタ５７Ｅ及び５７Ｆでカウントされ
たトラック数はＣＰＵ５９に供給される。即ち、ＣＰＵ
５９は出力端子Ｔ₁ 及びＴ₂ からの極性判別信号と、こ
のトラック数のカウント値に基づいて、回折格子を回動
させて、トラッキング調整を自動的に行なうことにな
る。

【００５８】尚、カウンタ５６Ｅ及び５６Ｆの出力はデ
コーダ６０Ｅ及び６０Ｆによって、セグメント表示素子
６１Ｅ及び６１Ｆの駆動データに変換されて、Ｅ−Ｆ及
びＦ−Ｅのトラック数値をセグメント表示素子６１Ｅ及
び６１Ｆに表示する。

【００５９】即ち、６１ＥにはＥ−Ｆ（Ｅ）の差の本数
を表示し、６１ＦにはＦ−Ｅ（Ｆ）の差の本数を表示す
る様にし、一方の表示装置に所定本数が表示され、他の
表示装置の本数がマイナスとなる場合は“０”を表示し
てマイナス表示は行わない様に成されている。この様な
表示装置によれば人が、この表示装置をみて、ＣＰＵ５
９との判別の可否を確認することも出来る。

【００６０】本発明は上述の様にＣＰＵに光学ピックア
ップの特性であるトラック本数のカウント並にＥ又はＦ
出力波形のどちらが先であるかの極性判断（トラック極
性判別）の自動化が出来るだけでなく、デジタル表示装
置上に表示するだけでトラック本数とトラック極性が一
目で判断可能となる。

【００６１】

【発明の効果】本発明の光学ピックアップ特性の計測装
置及び光学ピックアップのトラッキング特性の計測方法
によればＣＰＵによってトラック本数カウント及びトラ
ック極性の判別が可能で自動化出来るものが得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光学ピックアップ特性の計測装置及び
その計測方法の一実施例を示す原理的系統図である。

【図２】本発明の光学ピックアップ特性の計測装置及び
その計測方法の境界面サーボの波形説明図である。

【図３】本発明の光学ピックアップ特性の計測装置及び
その計測方法のサブスポットがトラックを横切った時の
波形説明図である。

【図４】本発明の光学ピックアップ特性の計測装置及び
その計測方法の一実施例を示す系統図である。

【図５】本発明の光学ピックアップ特性の計測装置及び
その計測方法の一実施例を示す波形図である。

【図６】従来の３ビーム方式の光学ピックアップの光学
系を示す図である。

【図７】従来のトラッキングエラー検出時の信号処理系
統図である。

【図８】従来のトラック上の３スポットの説明図であ
る。

【図９】従来のフォトディテクタからのＥ及びＦ出力波
形図である。

【図１０】従来のオシロスコープ上のリサージ波形図で
ある。

【符号の説明】

６ 光ディスク １１ 主スポット １２，１３ サブスポット １４，１５，１６ フォトディテクタ ２１ トラック ４５Ｅ，４５Ｆ 比較回路 ５５ 差回路 ５７ カウンタ ５９ ＣＰＵ

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/08 - 7/22

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクからの反射主スポット及び少
   なくとも2つの反射サブスポットを光学ピックアップ内
   の光−電気変換素子に照射し、電気信号を取り出す様に
   成された光学ピックアップ特性の計測装置において、 上記光学ピックアップの対物レンズを上記光ディスクの
   トラック位置と鏡面のある境界位置において、該光ディ
   スクの輻方向に揺動させる様なサーボを行なうシークサ
   ーボ手段と、 上記少なくとも２つの反射サブスポットの照射される光
   −電気変換素子からの検出信号と、所定の基準閾値レベ
   ルとを比較する比較手段と、上記比較手段の出力から上
   記２つのサブスポット間のトラック数の差を検出する計
   数手段と、 上記計数手段の計数結果に応じて３ビーム方式のサブス
   ポットを主スポットと同一トラックに照射するように合
   わせる調整手段とを具備することを特徴とする光学ピッ
   クアップ特性の計測装置。
2. 【請求項２】 光ディスクからの反射主スポット及び少
   なくとも2つの反射サブスポットを光学ピックアップ内
   の光−電気変換素子に照射し、電気信号を取り出す様に
   成された３ビーム方式の光学ピックアップのトラッキン
   グ特性の計測方法において、 上記光学ピックアップの対物レンズを上記光ディスクの
   トラック位置と鏡面のある境界位置に持ち来たし、該光
   ディスクの輻方向に揺動させる様なサーボを行うシーク
   サーボ工程と、 上記少なくとも２つの反射サブスポットの照射される光
   −電気変換素子からの検出信号と所定の基準閾値レベル
   とを比較する比較工程と、 上記比較工程の出力から上記２つのサブスポット間のト
   ラック数の差を検出する計数工程と、 上記計手工程の計数結果に応じて３ビーム方式のサブス
   ポットを主スポットと同一トラックに照射するように合
   わせる調整工程とを具備することを特徴とする光学ピッ
   クアップのトラッキング特性の計測方法。
3. 【請求項３】 前記少なくとも２つの前記反射サブスポ
   ットが照射される前記光−電気変換素子からの前記検出
   信号と、前記基準閾値レベルとの前記比較工程は、該検
   出信号部分を所定の閾値レベルと比較すると共に、極性
   部分の判定のための零レベルと信号部分の極性部分とを
   比較するようにしたことを特徴とする請求項２記載の光
   学ピックアップのラッキング特性の計測方法。