JP3447948B2 - Method for manufacturing resin-encapsulated semiconductor device - Google Patents

Method for manufacturing resin-encapsulated semiconductor device

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JP3447948B2
JP3447948B2 JP07739298A JP7739298A JP3447948B2 JP 3447948 B2 JP3447948 B2 JP 3447948B2 JP 07739298 A JP07739298 A JP 07739298A JP 7739298 A JP7739298 A JP 7739298A JP 3447948 B2 JP3447948 B2 JP 3447948B2
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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップ及び
リードフレームを封止樹脂で封止した樹脂封止型半導体
装置の製造方法及び封止テープ供給装置に関するもので
あり、特にその一部を封止樹脂から露出させるようにし
たものの改良に関する。 【0002】 【従来の技術】近年、電子機器の小型化に対応するため
に、電子機器に搭載される半導体部品を高密度に実装す
ることが要求され、それにともなって、半導体部品の小
型、薄型化が進んでいる。 【0003】以下、従来の樹脂封止型半導体装置につい
て説明する。 【0004】図21(a)は、従来の樹脂封止型半導体
装置の平面図であり、図21(b)は、従来の樹脂封止
型半導体装置の断面図である。 【0005】図21(a),(b)に示すように、従来
の樹脂封止型半導体装置は、裏面側に外部電極を有する
タイプの樹脂封止型半導体装置である。 【0006】従来の樹脂封止型半導体装置は、インナー
リード201と、ダイパッド202と、そのダイパッド
202を支持する吊りリード203とよりなるリードフ
レームとを備えている。そして、ダイパッド202上に
半導体チップ204が接着剤により接合されており、半
導体チップ204の電極パッド(図示せず)とインナー
リード201とは、金属細線205により電気的に接続
されている。そして、ダイパッド202,半導体チップ
204,インナーリード201,吊りリード203及び
金属細線205は封止樹脂6により封止されている。こ
の構造では、インナーリード201の裏面側には封止樹
脂206は存在せず、インナーリード201の裏面側は
露出されており、この露出面を含むインナーリード20
1の下部が外部電極207となっている。 【0007】なお、図21(a)は、封止樹脂206を
透明体として扱い、半導体装置の内部を透過して示して
いるが、図中、半導体チップ204は破線で示し、金属
細線205は図示を省略している。 【0008】また、従来においては、プリント基板等の
実装基板に樹脂封止型半導体装置を実装する場合に、外
部電極と実装基板の電極との接合において必要な封止樹
脂206の裏面からのスタンドオフ高さを確保するため
に、図22に示すように、外部電極207に対して、半
田からなるボール電極209を設け、ボール電極209
によりスタンドオフ高さを確保して、実装基板上に実装
していた。 【0009】次に、従来の樹脂封止型半導体装置の製造
方法について、図面を参照しながら説明する。図23〜
図26は、従来の樹脂封止型半導体装置の製造工程を示
す断面図である。 【0010】まず、図23に示すように、インナーリー
ド201、ダイパッド202を有するリードフレーム2
10を用意する。なお、図中、ダイパッド202は吊り
リードによって支持されているものであるが、吊りリー
ドの図示は省略している。また、吊りリードにはディプ
レス部が形成され、ダイパッド202はアップセットさ
れている。なお、このリードフレーム210には、樹脂
封止の際、封止樹脂の流出を止めるタイバーが設けられ
ていない。 【0011】次に、図24に示すように、用意したリー
ドフレームのダイパッド202の上に半導体チップ20
4を接着剤により接合する。この工程は、いわゆるダイ
ボンド工程である。 【0012】そして、図25に示すように、ダイパッド
202上に接合された半導体チップ204とインナーリ
ード201とを金属細線205により電気的に接続す
る。この工程は、いわゆるワイヤーボンド工程である。
金属細線205には、アルミニウム細線、金(Au)線
などが適宜用いられる。 【0013】次に、図26に示すように、ダイパッド2
02,半導体チップ204,インナーリード201,吊
りリード及び金属細線205を封止樹脂206により封
止する。この場合、半導体チップ204が接合されたリ
ードフレームが封止金型内に収納されて、トランスファ
ーモールドされるが、特にインナーリード201の裏面
が封止金型の上金型又は下金型に接触した状態で、樹脂
封止が行なわれる。 【0014】最後に、樹脂封止後に封止樹脂206から
外方に突出しているインナーリード201の先端部21
1を切断する。この切断工程により、切断後のインナー
リード201の先端面と封止樹脂6の側面とがほぼ同じ
面上にあるようになり、インナーリード201の下部が
外部電極207となる。 【0015】そして、従来の樹脂封止型半導体装置の製
造工程では、樹脂封止工程で、封止樹脂206がインナ
ーリード201の裏面側に回り込んで、樹脂バリ(樹脂
のはみ出し分)を形成する場合があることから、通常
は、樹脂封止工程の後、インナーリード201の切断工
程の前に、樹脂バリを吹き飛ばすためのウォータージェ
ット工程を導入している。 【0016】なお、必要に応じて、図22に示すよう
に、外部電極207の下面上に半田からなるボール電極
を形成し、樹脂封止型半導体装置とする。また、半田ボ
ールのかわりに半田メッキ層を形成する場合もあった。 【0017】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
樹脂封止型半導体装置では、半導体装置の裏面におい
て、外部電極207の下面と封止樹脂206との面がほ
ぼ同じ面上にあるので、封止樹脂206からのスタンド
オフ高さが得られない。そのために、半田等からなるボ
ール電極209を設けて、実装基板上に実装しなければ
ならず、効率的な実装を行なうことができないという課
題があった。 【0018】また、従来の樹脂封止型半導体装置の製造
方法の樹脂封止工程においては、半導体チップが接合さ
れたリードフレームを封止金型内に収納し、下金型の面
にインナーリードを押圧して密着させて、樹脂封止して
いるが、それでも封止樹脂がインナーリードの裏面側に
回り込んで、外部電極の表面に樹脂バリ(樹脂のはみ出
し分)が発生するという課題があった。 【0019】そこで、従来は、外部電極207上の樹脂
バリ206aを吹き飛ばすためにウォータージェット工
程を導入していたが、このようなウォータージェット工
程には多大の手間を要し、樹脂封止型半導体装置の量産
工程における工程削減等の工程の簡略化の要請に反す
る。つまり、樹脂バリの発生は、そのような工程の簡略
化のための大きな阻害要因となっていた。また、ウォー
タージェットにより、樹脂バリだけでなく柔らかい金属
メッキも剥がれるという品質上の大きな問題が発生する
おそれもあった。 【0020】本発明の目的は、樹脂封止工程において、
リードフレームの裏面への樹脂バリの発生を抑制し、あ
るいは外部電極の封止樹脂からのスタンドオフ高さを確
保しうる手段を講ずるとともに、そのような構造を有す
る樹脂封止型半導体装置を量産工程で得るための樹脂封
止型半導体装置の製造方法を提供することである。 【0021】 【課題を解決するための手段】本発明の樹脂封止型半導
体装置の製造方法は、封止金型と半導体チップとリー
フレームとを用意する第1の工程と、上記リードフレー
ムのダイパッドに上記半導体チップを搭載する第2の工
程と、封止テープを加熱する第3の工程と、上記加熱さ
れた封止テープを連続的に供給して上記封止金型に装着
する第4の工程と、上記リードフレームのインナーリー
ドの裏面側を上記封止テープに貼り付ける第5の工程
と、上記半導体チップ及び上記リードフレームのインナ
ーリードの裏面側を除く部分を封止樹脂内に封止する第
6の工程とを備えている。 【0022】この方法により、周辺部材のうち封止樹脂
から確実に露出させたい部分がある場合に、第2の工程
で周辺部材のその部分に封止テープを密着させておくこ
とで、その部分が確実に封止樹脂から露出した構造が実
現する。そして、周辺部材のその部分に樹脂バリが形成
されることもないので、従来必要となっていたウォータ
ージェット等の工程を不要とすることができるので、製
造工程の簡略化を図ることができる。 【0023】しかも、連続的に封止テープを供給して装
着できるので、封止テープを使用する際の能率を飛躍的
に向上させることができ、封止テープを使用する樹脂封
止型半導体装置の製造方法を量産に適した方法にするこ
とができる。 【0024】そして、封止テープの予備加熱を行なって
から上記封止金型に封止テープを供給することにより、
封止テープに張力を作用させるのに適正な温度に封止テ
ープを加熱することが可能になり、封止テープのシワ,
たるみを効果的に低減することができる。 【0025】 【0026】 【0027】 【発明の実施の形態】まず、各実施形態に共通に適用で
きる本発明の樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
について説明する。 【0028】図1(a)は、本発明に係る樹脂封止型半
導体装置の構造例を示す平面図であり、図1(b)は、
図1(a)に示すIb−Ib線における断面図である。ただ
し、図1(a)においては封止樹脂17を透明体として
扱い、半導体チップ15は破線で示す輪郭を有するもの
としており、金属細線16の図示は省略している。 【0029】図1(a)及び(b)に示すように、この
樹脂封止型半導体装置は、インナーリード12と、半導
体チップを支持するためのダイパッド13と、そのダイ
パッド13を支持するための吊りリード14とよりなる
リードフレームを備えている。そして、ダイパッド13
上に半導体チップ15が接着剤により接合されており、
半導体チップ15の電極パッド(図示せず)とインナー
リード12とは、金属細線16により互いに電気的に接
続されている。そして、インナーリード12,ダイパッ
ド13,吊りリード14,半導体チップ15及び金属細
線16は、封止樹脂17内に封止されている。また、ダ
イパッド13は、インナーリード12に対して上方に位
置するように、吊りリード14のディプレス部19によ
りアップセットされている。そのため、封止樹脂17に
より封止された状態では、封止樹脂17がダイパッド1
3の裏面側にも薄く存在している。インナーリード12
の下面側には封止樹脂17は存在せず、インナーリード
12の下面が露出されており、このインナーリード12
の下面が実装基板との接続面となる。すなわち、インナ
ーリード12の下部が外部電極18となっている。ま
た、この外部電極18には本来的に樹脂封止工程におけ
る樹脂のはみ出し部分である樹脂バリが存在せず、かつ
この外部電極18は封止樹脂17の裏面よりも下方に少
し突出している。このような樹脂バリの存在しないかつ
下方に突出した外部電極18の構造は、後述する製造方
法によって容易に実現できる。 【0030】このような樹脂封止型半導体装置では、イ
ンナーリード12の側方にはアウターリードが存在せ
ず、インナーリード12の下部が外部電極18となって
いるので、半導体装置の小型化を図ることができる。し
かも、インナーリード12の下面つまり外部電極18の
下面には樹脂バリが存在していないので、実装基板の電
極との接合の信頼性が向上する。また、外部電極18が
封止樹脂17の面より突出して形成されているため、実
装基板に樹脂封止型半導体装置を実装する際の外部電極
と実装基板の電極との接合において、外部電極18のス
タンドオフ高さが予め確保されていることになる。した
がって、外部電極18をそのまま外部端子として用いる
ことができ、従来のように、実装基板への実装のために
外部電極18に半田ボールを付設する必要はなく、製造
工数、製造コスト的に有利となる。 【0031】また、ダイパッド13が、インナーリード
12に対してアップセットされ、封止樹脂17がダイパ
ッド13の裏面側にも薄く存在しているので、樹脂封止
型半導体装置としての信頼性が向上する。 【0032】次に、樹脂封止型半導体装置の製造方法に
ついて、図面を参照しながら説明する。図2〜図7は、
本発明の樹脂封止型半導体装置の製造工程の一例を示す
断面図である。 【0033】まず、図2に示す工程で、インナーリード
12と、半導体チップを支持するためのダイパッド13
とが設けられているリードフレーム20を用意する。図
中、ダイパッド13は吊りリードによって支持されてい
るが、吊りリードはこの断面には現れないために図示さ
れていない。また、吊りリードにはディプレス部が形成
され、ダイパッド13はインナーリード12の面よりも
上方にアップセットされているものである。さらに、用
意するリードフレーム20は、樹脂封止の際、封止樹脂
の流出を止めるタイバーを設けていないリードフレーム
である。 【0034】次に、図3に示す工程で、用意したリード
フレームのダイパッド上に半導体チップ15を載置し
て、接着剤により両者を互いに接合する。この工程は、
いわゆるダイボンド工程である。なお、半導体チップを
支持する部材としてはリードフレームに限定されるもの
ではなく、他の半導体チップを支持できる部材、例えば
TABテープ、基板を用いてもよい。 【0035】そして、図4に示す工程で、ダイパッド1
3上に接合した半導体チップ15とインナーリード12
とを金属細線16により電気的に接合する。この工程
は、いわゆるワイヤーボンド工程である。金属細線とし
ては、アルミニウム細線、金(Au)線などを適宜選択
して用いることができる。また、半導体チップ15とイ
ンナーリード12との電気的な接続は、金属細線16を
介してでなくバンプなどを介して行なってもよい。 【0036】次に、図5に示す工程で、リードフレーム
のダイパッド13上に半導体チップ15が接合された状
態で、インナーリード12の裏面側に封止テープ21を
貼り付ける。 【0037】この封止テープ21は、特にインナーリー
ド12の裏面側に樹脂封止時に封止樹脂が回り込まない
ようにするマスク的な役割を果たさせるためのものであ
り、この封止テープ21の存在によって、インナーリー
ド12の裏面に樹脂バリが形成されるのを防止すること
ができる。このインナーリード12等に貼り付ける封止
テープ21は、ポリエチレンテレフタレート,ポリイミ
ド,ポリカーボネートなどを主成分とする樹脂をベース
としたテープであり、樹脂封止後は容易に剥がすことが
でき、また樹脂封止時における高温環境に耐性があるも
のであればよい。ここでは、ポリエチレンテレフタレー
トを主成分としたテープを用い、厚みは50[μm]と
した。 【0038】なお、ここでは、この封止テープ21は、
リードフレームのインナーリード12の面にのみ密着し
た状態でリードフレームの裏面側全体に亘って貼り付け
られており、吊りリードのディプレス部によりアップセ
ットされたダイパッド13の裏面には密着していない
が、ダイパッド13の裏面に密着させ、樹脂封止工程の
後に封止テープ21を剥がすことでダイパッド13の裏
面を露出させ、放熱特性の向上をねらってもよい。 【0039】次に、図6に示す工程で、半導体チップ1
5が接合され、封止テープ21が貼り付けられたリード
フレームを金型内に収納し、金型内に封止樹脂17を流
し込んで樹脂封止を行う。この際、インナーリード12
の裏面側に封止樹脂17が回り込まないように、金型で
リードフレームのインナーリード12の先端部分22を
下方に押圧して、樹脂封止する。また、インナーリード
12の裏面側の封止テープ21面を金型面側に押圧して
樹脂封止を行う。 【0040】最後に、図7に示す工程で、インナーリー
ド12の裏面に貼付した封止テープ21をピールオフに
より除去し、封止樹脂17の裏面より突出した外部電極
18を形成する。そして、インナーリード12の先端部
22を、インナーリード12の先端面と封止樹脂17の
側面とがほぼ同一面になるように切り離すことにより、
図7に示すような樹脂封止型半導体装置が完成される。 【0041】図8は、外部電極18の部分を拡大して示
す樹脂封止型半導体装置の部分裏面図である。同図に示
すように、ここでは、封止テープ21をリードフレーム
の裏面に貼付した樹脂封止工程を行なっているので、イ
ンナーリード12の裏面や側面、すなわち外部電極18
の表面上における樹脂バリの発生を防止することができ
る。また、従来の製造方法のごとく、封止樹脂17が外
部電極18の表面に回り込み、外部電極18の一部が封
止樹脂17内に埋没することを防止することができる。 【0042】以上の製造方法では、樹脂封止工程の前に
予めインナーリード12の裏面に封止テープ21を貼付
しているので、封止樹脂17が回り込むことがなく、外
部電極となるインナーリード12の裏面には樹脂バリの
発生はない。したがって、インナーリードの下面を露出
させる従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法のごと
く、インナーリード上に形成された樹脂バリをウォータ
ージェットなどによって除去する必要はない。すなわ
ち、この樹脂バリを除去するための面倒な工程の削除に
よって、樹脂封止型半導体装置の量産工程における工程
の簡略化が可能となる。また、従来、ウォータージェッ
トなどによる樹脂バリ除去工程において生じるおそれの
あったリードフレームのニッケル(Ni),パラジウム
(Pd),金(Au)などの金属メッキ層の剥がれは解
消できる。そのため、樹脂封止工程前における各金属層
のプリメッキが可能となる。 【0043】なお、図6に示すように、樹脂封止工程に
おいては、溶融している封止樹脂の熱によって封止テー
プ21が軟化するとともに熱収縮するので、インナーリ
ード12が封止テープ21に大きく食い込み、インナー
リード12の裏面と封止樹脂17の裏面との間には段差
が形成される。したがって、インナーリード12の裏面
は封止樹脂17の裏面から突出した構造となり、インナ
ーリード12の下部である外部電極18のスタンドオフ
高さを確保できる。そのため、この突出した外部電極1
8をそのまま外部端子として用いることができることに
なる。 【0044】また、インナーリード12の裏面と封止樹
脂17の裏面との間の段差の大きさは、封止工程前に貼
付した封止テープ21の厚みによりコントロールするこ
とができる。ここでは、50[μm]の封止テープ21
を用いているので、段差の大きさつまり外部電極18の
突出量は、一般的にはその半分程度であり最大50[μ
m]である。すなわち、封止テープ21がインナーリー
ド12の裏面よりも上方に入り込む量が封止テープ21
の厚さ分で定まることから、外部電極18の突出量を封
止テープ21の厚みによりセルフコントロールでき、製
造の容易化を図ることができる。この外部電極18の突
出量を管理するためには、量産工程で封止テープ21の
厚みを管理するだけでよく、別工程を設ける必要がない
ので、以上の製造方法は、工程管理のコスト上きわめて
有利な方法である。なお、貼付する封止テープ21につ
いては、所望とする段差の大きさに合わせて、材質の硬
度、厚み、および熱による軟化性を決定することができ
る。 【0045】なお、図1(b)に示すように、上記樹脂
封止型半導体装置において、ダイパッド13の裏面側に
封止樹脂17が存在しているものの、その厚みはダイパ
ッド13のアップセット量に等しく極めて薄い。したが
って、この樹脂封止型半導体装置は、実質的には片面封
止型の半導体装置である。 【0046】なお、ここでは、樹脂封止工程前に予め封
止テープ21をリードフレームのインナーリード12の
下面に貼付した例を示したが、このような貼り付ける方
法ではなく、封止テープ21を封止金型にセットし、そ
の上にリードフレーム12を密着させてもよい。この場
合は、後述するように、封止テープの封止金型へのリー
ル供給が可能となり、さらなる工程の合理化となる。 【0047】なお、ここでは、リードフレームの裏面に
封止テープを貼付して樹脂封止を行なう製造方法の例を
示したが、本発明の方法は、リードフレームを備えてい
る半導体装置に限定されるものではない。本発明の基本
的な概念である樹脂封止工程で封止テープを用いる方法
は、広く半導体チップを搭載し、樹脂封止される部材を
有する半導体装置の樹脂封止工程に適用できるものであ
り、TABタイプ、基板タイプなどの半導体装置の樹脂
封止工程に適用できる。 【0048】以下、本発明の各実施形態について説明す
る。以下の各実施形態では、樹脂封止型半導体装置のシ
ワの発生を防止するための封止テープを連続的に供給す
る方法と、封止テープ供給装置を付設した樹脂封止装置
とについて、図面を参照しながら説明する。 【0049】(第1の実施形態) 図9(a)〜(c)は、本実施形態の第1の実施形態に
おける封止テープの供給装置を付設した樹脂封止装置お
よび樹脂封止工程を示す斜視図である。また、図10
は、第1の実施形態における樹脂封止工程中の1つの工
程を示す断面図である。 【0050】図9(a)に示すように、封止金型は上金
型151aと下金型151bとからなり、下金型151
bには、多数の半導体製品成型部160(ダイキャビテ
ィ)と、各半導体製品成型部155に封止樹脂を供給す
るための封止樹脂流通路161とが設けられている。ま
た、巻き出しロール156aと巻き取りロール156b
との間で一定の張力を加えながら、連続的に封止テープ
152の巻き出しと巻き取りとを行なうことが可能に構
成されている。 【0051】そして、図9(b)に示すように、多数の
半導体チップを搭載したリードフレーム153が下金型
151bの半導体製品成型部160に供給され、樹脂タ
ブレット154aが下金型151bの封止樹脂供給部に
投入される。 【0052】次に、図10に示すように、封止金型の上
金型151aと下金型151bとが型締めされ、ピスト
ン158により下方から溶融した封止樹脂が各半導体製
品成型部160に供給されて、樹脂封止型半導体装置1
55が射出成形される。そして、射出成形が終了する
と、下金型151bが開く。 【0053】この時、下金型151bが開くと同時に、
図9(c)に示す樹脂カル154bと樹脂封止型半導体
装置155から封止テープ152が引き離される。ま
た、封止テープ152のうち、この樹脂封止工程で使用
された部分は巻き取りロールー156bに巻き取られ、
次の樹脂封止工程で使用する部分は巻き出しロール15
6aから供給される。その間に、樹脂カル154bと樹
脂封止型半導体装置155とは、下金型151bから取
り出される。 【0054】本実施形態の第1の実施形態によると、巻
き出しロール156aと巻き取りロール156bとの間
で、連続的に封止テープ152を供給することにより、
封止テープを用いた樹脂封止工程を迅速に行なうことが
でき、生産効率の向上を図ることができる。 【0055】また、巻き出しロール156aと巻き取り
ロール156bとに回転力を加えることで、封止テープ
152に適正な張力を与えることができ、樹脂封止工程
における封止テープ152のシワの発生を抑制すること
ができる。 【0056】図18(a),(b)は、封止テープ供給
装置を設けず、かつ封止テープに張力を与えずに樹脂封
止を行なうようにした樹脂封止装置の斜視図、および樹
脂封止工程中の1つの工程を示す断面図である。ただ
し、図18(a),(b)において図9(a),(b)
と同じ符号で示す部材は既に説明したとおりである。こ
の場合には、封止テープ152を単に広げて封止金型に
装着するだけで、何も張力は付与されていない。 【0057】図19(a),(b)は、図18(a),
(b)に示すごとく封止テープに張力を付与しない状態
で樹脂封止工程を行なったときの封止金型内の状態を示
す断面図、および形成される樹脂封止体の断面図であ
る。ただし、図19(a),(b)において図1
(a),(b)と同じ符号で示す部材は既に説明したと
おりである。この場合には、封止テープ152を単に広
げて封止金型に装着するだけで、何も張力は付与されて
いない。また、図20(a),(b)は、図9(a),
(b)に示すごとく封止テープに張力を付与した状態で
樹脂封止工程を行なったときの封止金型内の状態を示す
断面図、および形成される樹脂封止体の断面図である。
ただし、図19(a)および図20(a)では、樹脂封
止体と同じ上下関係で表示するために、図18(a),
図9(a)に示す状態とは上下を逆にして表示してい
る。 【0058】封止テープに張力を付与しないで樹脂封止
を行なうと、封止テープには、図19(a)に示すよう
なシワや、たるみ,破れなどが生じることがある。そし
て、このシワなどが生じると、それがそのまま封止樹脂
17に転写されるので、樹脂封止工程の終了後の取り出
された樹脂封止体の封止樹脂17の裏面には、図19
(b)に示すようなくぼみなどが発生するおそれがあっ
た。このようなくぼみが発生すると、外観が損なわれる
だけでなく、封止されている部材の一部が露出したり、
封止樹脂17のクラックが生じるなどのおそれがある。 【0059】それに対し、本実施形態のごとく封止テー
プをロール供給装置を介して封止金型に装着することに
より、封止テープに一定の張力が付与されるので、樹脂
封止工程においては、図20(a)に示すように封止テ
ープにシワが発生したり、リード間に封止テープが引き
込まれたりするのを抑制することができる。そして、樹
脂封止工程の終了後に取り出された樹脂封止体の封止樹
脂17の裏面にくぼみやリード間のシワなどが発生しな
いので、外観的にも特性的にも良好な樹脂封止型半導体
装置が得られる。すなわち、不良率の低減による歩留ま
りの向上を図ることができる。 【0060】(第2の実施形態) 図11は、本実施形態の第2の実施形態における封止テ
ープ供給装置を付設した樹脂封止装置の斜視図である。
また、図12は、第2の実施形態における樹脂封止工程
中の1つの工程を示す断面図である。 【0061】図11に示すように、第2の実施形態にお
ける封止金型の構造は、上記図9(a)に示す第1の実
施形態に示す封止金型の構造と同じであるので、同図に
おいて図9(a)と同じ符号を付した部材の説明は省略
する。本実施形態では、4つの回転ロール159が設け
られており、この4つの回転ロール159の間に封止テ
ープ152がフープ状に張架されている。そして、上記
4つの回転ロール159のうちのいずれか1つが駆動ロ
ールとして機能するように構成されており、封止テープ
152を図中時計回りに回転移動させる構成となってい
る。また、封止金型の側方かつ封止テープ152が封止
金型から送られる側には、封止テープを152を清掃す
るためのクリーナー165が設けられている。 【0062】そして、第1の実施形態とほぼ同じ手順で
射出成型までを行なう。すなわち、図12に示すよう
に、多数の半導体チップを搭載したリードフレーム15
3が下金型151bの半導体製品成型部160に供給さ
れ、樹脂タブレットが下金型151bの封止樹脂供給部
に投入される。そして、封止金型の上金型151aと下
金型151bとが型締めされ、ピストン158により下
方から溶融した封止樹脂が各半導体製品成型部160に
供給されて、樹脂封止型半導体装置155が射出成形さ
れる。そして、射出成形が終了すると、下金型151b
が開く。また、下金型151bが開くと同時に、樹脂カ
ル154bと樹脂封止型半導体装置155から封止テー
プ152が引き離される。また、回転ロール159が回
転して、封止テープ152が回転移動するとともにクリ
ーナー165によって清掃され、使用された部分に付着
している樹脂カス,ゴミ等は除去される。このとき、封
止テープ152はフープ状になっており、フープが一回
転するとテープ送りのピッチが変更され、少なくとも2
〜3ラウンドの間は、既に使用した領域間に存在する未
使用領域のテープ部分を使用できることが最も重要であ
る。なお、その間に、樹脂カル154bと樹脂封止型半
導体装置155とは、下金型151bから取り出され
る。 【0063】本実施形態によると、上記第1の実施形態
と同様に、連続的に封止テープ152を供給しながら樹
脂封止を行なうことができるので、生産効率を高めるこ
とができる。また、回転ロール159間に外方への引っ
張り力を加えることで、封止テープ152に適正な張力
を与え、くぼみなどのない外観的にも特性的に優れた樹
脂封止型半導体装置を得ることができる。すなわち、不
良率の低減による歩留まりの向上を図ることができる。 【0064】加えて、本実施形態のような封止テープ供
給装置を用い、閉ループ状の封止テープ152を清掃し
ながら使用することで、封止テープ152を無駄なく使
用できる利点がある。 【0065】なお、封止テープ152に張力を与えるた
めの付勢用ロール(図11の破線参照)を別途設けても
よい。 【0066】(第3の実施形態) 図13(a)は、本実施形態の第3の実施形態における
封止テープ供給装置を付設した樹脂封止装置の斜視図で
ある。また、図13(b)は、第3の実施形態における
封止テープ供給装置及び下金型の上面図である。 【0067】図13(a),(b)に示すように、第3
の実施形態における封止金型の構造は、上記図9(a)
に示す第1の実施形態に示す封止金型の構造と同じであ
るので、図中図9(a)と同じ符号を付した部材の説明
は省略する。本実施形態では、巻き出しロール156a
と巻き取りロール156bとの間で一定の張力を加えな
がら、連続的に封止テープ152の巻き出しと巻き取り
とを行なうことが可能に構成されており、さらに、封止
金型から離れた位置に、封止テープ152を予備加熱す
るためのヒータ166が設けられている。また、本実施
形態では、第1の実施形態とは異なり、巻き出しロール
156a及び巻き取りロール156bは、封止テープ1
52を封止金型とは離れた場所と封止金型の上金型−下
金型間の位置との間で移動可能なローラーユニット内に
組み込まれている。 【0068】本実施形態では、封止テープ152を封止
金型に供給する前にヒータ166で封止金型の温度より
も低い温度で予備加熱を行なってから射出成型までを行
なう。すなわち、多数の半導体チップを搭載したリード
フレームが下金型151bの半導体製品成型部160に
供給され、樹脂タブレットが下金型151bの封止樹脂
供給部に投入される。そして、封止金型の上金型151
aと下金型151bとが型締めされ、溶融した封止樹脂
が各半導体製品成型部160に供給されて、樹脂封止型
半導体装置が射出成形される。そして、射出成形が終了
すると、下金型151bが開く。また、下金型151b
が開くと同時に、樹脂カルと樹脂封止型半導体装置15
5から封止テープ152が引き離される。また、封止テ
ープ152のうち、この樹脂封止工程で使用された部分
は巻き取りロール156bに巻き取られ、次の樹脂封止
工程で使用する部分は巻き出しロール156aから供給
される。その間に、樹脂カルと樹脂封止型半導体装置と
は、下金型151bから取り出される。封止テープ15
2は、射出成型の終了後に下金型151bから離されて
完全に単独の状態になった後、いったん、ローラーユニ
ットごと所定の位置に移動し、使用された部分だけ巻き
取りロールー156bで巻き取られ、封止テープ152
の未使用部分が供給され、封止テープ152の未使用部
分は封止金型より低い温度で予備加熱される。 【0069】本実施形態によると、上記第1の実施形態
と同様に、巻き出しロール156aと巻き取りロール1
56bとの間で、連続的に封止テープ152を供給する
ことにより、封止テープを用いた樹脂封止工程を迅速に
行なうことができ、生産効率の向上を図ることができ
る。また、巻き出しロール156aと巻き取りロール1
56bとに回転力を加えることで、封止テープ152に
適正な張力を与え、くぼみなどのない外観的にも特性的
に優れた樹脂封止型半導体装置を得ることができる。す
なわち、不良率の低減による歩留まりの向上を図ること
ができる。 【0070】加えて、封止テープ152を連続的に供給
する際にテープを熱せられている封止金型に接触しない
ようにして供給し、さらに供給する直前に封止テープ1
52を予備加熱することで、封止テープ152のシワ、
たるみの発生をより効果的に抑制することができるの
で、樹脂封止型半導体装置の不良の発生率を大幅に低減
させることができる。 【0071】(第4の実施形態) 図14は、本実施形態の第4の実施形態における封止テ
ープ供給装置を付設した樹脂封止装置の斜視図である。
また、図15は、第4の実施形態における樹脂封止工程
中の1つの工程を示す断面図である。 【0072】本実施形態では、上記第3の実施形態と同
様に、巻き出しロール156a及び巻き取りロール15
6bと封止テープ152を予備加熱するためのヒータ1
66とを有するローラユニットを備えている。ただし、
本実施形態では、ローラユニットは常に封止テープ15
2を上金型−下金型間に保持するように構成されてい
る。 【0073】本実施形態では、ローラユニットが封止金
型の設置されている場所から離れた場所まで大きく移動
できるように構成されていない点を除くと、第3の実施
形態と同様の手順で射出成形及びその後の処理が行なわ
れるので、それらについての説明は省略する。なお、図
15において図10におけると同じ符号で示されている
部材は、図10において説明したとおりである。 【0074】本実施形態によると、第3の実施形態と同
様に、封止テープ152を連続的に供給する際にテープ
を熱せられている封止金型に接触しないようにして供給
し、さらに供給する直前に熱することで、封止テープ1
52のシワ、たるみの発生を低減し、樹脂封止型半導体
装置不良の発生率を低減させることができる。特に、第
3の実施形態に比べて省スペースで封止テープ152を
供給できることが最も重要である。 【0075】(第5の実施形態) 図16(a)は、本実施形態の第5の実施形態における
封止テープ供給装置を付設した樹脂封止装置の斜視図で
ある。また、図16(b)は、第5の実施形態における
樹脂封止工程中の1つの工程を示す断面図である。 【0076】図16(a)に示すように、第5の実施形
態における封止金型の構造は、上記図9(a)に示す第
1の実施形態に示す封止金型の構造と同じであるので、
同図において図9(a)と同じ符号を付した部材の説明
は省略する。本実施形態では、封止テープ供給装置にお
いて、巻き出しロール156a及び巻き取りロール15
6bとに加えて、上金型151aのコーナー部に封止テ
ープ152の破れを防止するための補助ロール167が
設けられている点が特徴である。 【0077】そして、第1の実施形態とほぼ同じ手順で
射出成型までを行なう。すなわち、図16(b)に示す
ように、多数の半導体チップを搭載したリードフレーム
153が下金型151bの半導体製品成型部160に供
給され、樹脂タブレットが下金型151bの封止樹脂供
給部に投入される。そして、封止金型の上金型151a
と下金型151bとが型締めされ、ピストン158によ
り下方から溶融した封止樹脂が各半導体製品成型部16
0に供給されて、樹脂封止型半導体装置155が射出成
形される。そして、射出成形が終了すると、下金型15
1bが開く。また、下金型151bが開くと同時に、樹
脂カルと樹脂封止型半導体装置155から封止テープ1
52が引き離される。その間に、樹脂カルと樹脂封止型
半導体装置155とは、下金型151bから取り出され
る。本実施形態では、供給される未使用部分の封止テー
プ152は上金型151aのコーナー部にある補助ロー
ル167に沿って供給される。 【0078】本実施形態によると、上記第1の実施形態
と同様に、連続的に封止テープ152を供給しながら樹
脂封止を行なうことができるので、生産効率を高めるこ
とができる。また、巻き出しロール−巻き取りロール間
に外方への引っ張り力を加えることで、封止テープ15
2に適正な張力を与え、くぼみなどのない外観的にも特
性的に優れた樹脂封止型半導体装置を得ることができ
る。すなわち、不良率の低減による歩留まりの向上を図
ることができる。 【0079】加えて、上金型151aのコーナー部に補
助ロール157を設け、補助ロール157に沿って封止
テープ152を供給するので、封止テープ152が供給
される際のテープのシワ、たるみ、破れの発生を低減す
ることができ、樹脂封止型半導体装置不良の発生率をよ
り効果的に低減させることができる。 【0080】(第6の実施形態) 図17(a)は、本実施形態の第6の実施形態における
封止テープ供給装置を付設した樹脂封止装置の斜視図で
ある。また、図17(b)は、封止テープの上から封止
テープ及び下金型を見たときの平面図である。 【0081】図17(a)に示すように、本実施形態に
おける封止金型の構造は、上記図9(a)に示す第1の
実施形態に示す封止金型の構造と同じであるので、同図
において図9(a)と同じ符号を付した部材の説明は省
略する。本実施形態では、封止テープ供給装置におい
て、巻き出しロール156a及び巻き取りロール156
bのうち少なくともいずれか一方にズレ補正手段として
のθ補正機構が設けられている。また、巻き出しロール
156a及び巻き取りロール156bのうちいずれか一
方をロール軸方向に平行な方向に移動させるズレ補正手
段としてのロール移動機構が設けられている。ただし、
このズレ補正手段としては、θ補正機構とロール移動機
構のうちいずれか一方が設けられていれば、封止テープ
152にシワが発生しないように、封止テープ152の
横ズレを補正して封止テープ152に均一な張力を与え
ることができる。 【0082】そして、第1の実施形態とほぼ同じ手順で
射出成型までを行なう。すなわち、多数の半導体チップ
を搭載したリードフレームが下金型151bの半導体製
品成型部160に供給され、樹脂タブレットが下金型1
51bの封止樹脂供給部に投入される。そして、封止金
型の上金型151aと下金型151bとが型締めされ、
溶融した封止樹脂が各半導体製品成型部160に供給さ
れて、樹脂封止型半導体装置が射出成形される。そし
て、射出成形が終了すると、下金型151bが開く。ま
た、下金型151bが開くと同時に、樹脂カルと樹脂封
止型半導体装置155とから封止テープ152が引き離
される。その間に、樹脂カルと樹脂封止型半導体装置1
55とは、下金型151bから取り出される。 【0083】本実施形態によると、上記第1の実施形態
と同様に、連続的に封止テープ152を供給しながら樹
脂封止を行なうことができるので、生産効率を高めるこ
とができる。また、巻き出しロール−巻き取りロール間
に外方への引っ張り力を加えることで、封止テープ15
2に適正な張力を与え、くぼみなどのない外観的にも特
性的に優れた樹脂封止型半導体装置を得ることができ
る。すなわち、不良率の低減による歩留まりの向上を図
ることができる。 【0084】加えて、巻き出しロール156a又は巻き
取りロール156bにθ補正機構又はロール移動機構が
設けられているので、使用される際における封止テープ
152のたるみ、シワ等で歪むθ方向のテープのズレを
補正することができ、生産効率を大幅に向上させること
ができる。 【0085】 【発明の効果】本発明の樹脂封止型半導体装置の製造方
法によると、封止テープを装着した状態で半導体チップ
及び周辺部材を封止樹脂内に封止する際に、封止テープ
を連続的に供給して封止金型に装着するようにしたの
で、封止テープが密着していた部分を封止樹脂から露出
させた構造を量産に適した製造工程で実現することがで
きる。 【0086】
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [0001] [0001] The present invention relates to a semiconductor chip and a semiconductor chip.
Resin-sealed semiconductor with lead frame sealed with sealing resin
The present invention relates to an apparatus manufacturing method and a sealing tape supply apparatus.
Yes, especially so that part of it is exposed from the sealing resin.
Related to the improvement of [0002] 2. Description of the Related Art In recent years, in order to cope with miniaturization of electronic equipment,
High-density mounting of semiconductor components mounted on electronic equipment
Is required, and accordingly, small semiconductor components
Molds and thinning are progressing. A conventional resin-encapsulated semiconductor device will be described below.
Will be explained. FIG. 21A shows a conventional resin-encapsulated semiconductor.
FIG. 21B is a plan view of the device, and FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view of a semiconductor device. [0005] As shown in FIGS.
Has an external electrode on the back side
This is a type of resin-sealed semiconductor device. A conventional resin-encapsulated semiconductor device has an inner
Lead 201, die pad 202, and die pad
A lead frame comprising a suspension lead 203 for supporting 202
With a frame. And on the die pad 202
The semiconductor chip 204 is joined by an adhesive,
Electrode pad (not shown) of conductor chip 204 and inner
Electrically connected to lead 201 by thin metal wire 205
Have been. Then, the die pad 202, the semiconductor chip
204, inner lead 201, suspension lead 203 and
The thin metal wire 205 is sealed with the sealing resin 6. This
In the structure shown in FIG.
There is no fat 206, and the back side of the inner lead 201
The inner lead 20 that is exposed and includes this exposed surface
The lower part of 1 is an external electrode 207. FIG. 21A shows that the sealing resin 206 is
Treated as a transparent body and show through the inside of the semiconductor device
However, in the figure, the semiconductor chip 204 is indicated by a broken line,
Illustration of the thin line 205 is omitted. Conventionally, printed circuit boards and the like
When mounting a resin-encapsulated semiconductor device on a mounting board,
Sealing tree required for joining the external electrodes and the electrodes of the mounting board
To secure stand-off height from the back of grease 206
Then, as shown in FIG.
A ball electrode 209 consisting of a pad is provided.
To secure the standoff height and mount on the mounting board
Was. Next, manufacturing of a conventional resin-encapsulated semiconductor device
The method will be described with reference to the drawings. FIG.
FIG. 26 shows a manufacturing process of a conventional resin-encapsulated semiconductor device.
FIG. First, as shown in FIG.
Lead frame 2 having lead 201 and die pad 202
Prepare 10 In the drawing, the die pad 202 is suspended.
Supported by reeds, but suspended
The illustration of the node is omitted. Also, the suspension leads are
The die pad 202 is upset.
Have been. The lead frame 210 has a resin
At the time of sealing, a tie bar is provided to stop the leakage of the sealing resin.
Not. Next, as shown in FIG.
The semiconductor chip 20 on the die pad 202 of the frame.
4 is bonded with an adhesive. This process is called a die
This is a bonding process. Then, as shown in FIG.
The semiconductor chip 204 bonded on the
Electrically connected to the circuit board 201 by a thin metal wire 205.
You. This step is a so-called wire bonding step.
Aluminum thin wire, gold (Au) wire
And the like are appropriately used. Next, as shown in FIG.
02, semiconductor chip 204, inner lead 201, suspension
The lead and the metal wire 205 are sealed with a sealing resin 206.
Stop. In this case, the semiconductor chip 204 is bonded to the
The transfer frame is stored in the sealing mold
-Molded, but especially the back surface of the inner lead 201
Is in contact with the upper or lower mold of the sealing mold,
Sealing is performed. Finally, after sealing the resin, the sealing resin 206
Tip 21 of inner lead 201 projecting outward
Cut 1 By this cutting process, the inner
The tip surface of the lead 201 is almost the same as the side surface of the sealing resin 6
On the surface, the lower part of the inner lead 201
It becomes the external electrode 207. Then, a conventional resin-encapsulated semiconductor device is manufactured.
In the manufacturing process, the sealing resin 206 is
-Wrapping around the back side of the lead 201
May protrude).
Is a cutting process of the inner lead 201 after the resin sealing step.
Before the process, a water jet to blow off resin burrs
A cutting process has been introduced. If necessary, as shown in FIG.
A ball electrode made of solder on the lower surface of the external electrode 207
To form a resin-sealed semiconductor device. In addition,
In some cases, a solder plating layer was formed instead of the metal plating layer. [0017] SUMMARY OF THE INVENTION However, the conventional
In a resin-encapsulated semiconductor device,
Therefore, the lower surface of the external electrode 207 and the surface of the sealing resin 206 are almost
Since it is on the same plane, the stand from the sealing resin 206
The off-height cannot be obtained. For this purpose, a solder
If the electrode 209 is provided and mounted on the mounting board,
Section that cannot be implemented efficiently
There was a title. In addition, manufacturing of a conventional resin-encapsulated semiconductor device
In the resin sealing step of the method, the semiconductor chip is bonded.
The lead frame is stored in the sealing mold and the
Press the inner lead to close contact and seal with resin
However, the sealing resin still exists on the back side of the inner lead
Wrap around the surface of the external electrode and apply resin burrs
However, there is a problem in that a small amount is generated. Therefore, conventionally, the resin on the external electrode 207
Water jet engineering to blow off burr 206a
Was introduced, but such a water jet engineering
Mass production of resin-encapsulated semiconductor devices
Contrary to the demand for simplification of processes such as process reduction in processes
You. In other words, the occurrence of resin burrs is a simplification of such a process.
It was a major impediment to the development. Also war
Turbet allows not only resin burrs but also soft metals
Large quality problems occur, such as plating being peeled off
There was a fear. An object of the present invention is to provide a resin sealing step
Suppresses resin burrs on the back of the lead frame,
Or the stand-off height of the external electrode from the sealing resin
Take measures that can be maintained and have such a structure
Sealing to obtain a resin-sealed semiconductor device in a mass production process
Manufacturing method of semiconductor deviceThe lawTo provide. [0021] Means for Solving the Problems The present inventionTreeFat-sealed semi-conductor
Body device manufacturing methodIs a sealWith die and semiconductor chipLee Do
flameAnd a first step of preparingNote lead frame
Second process for mounting the semiconductor chip on the die pad of the system
And a third step of heating the sealing tape;
Supply the sealed sealing tape continuously and attach it to the above sealing mold
And the inner lead of the lead frame.
Fifth step of attaching the back side of the pad to the sealing tape
When,The semiconductor chip and the aboveLead frame inner
ー Lead back sideThe part excluding the part is sealed in the sealing resin
6 steps. According to this method, the sealing resin among the peripheral members
The second step when there is a part to be surely exposed from
Make sure that the sealing tape is tightly
In this way, a structure in which that part is securely exposed from the sealing resin is realized.
Manifest. And resin burrs are formed on that part of the peripheral member
Water that was previously required
-It eliminates the need for processes such as jets,
The manufacturing process can be simplified. In addition, the sealing tape is continuously supplied and mounted.
Dramatically improves efficiency when using sealing tape
Can be improved by using a sealing tape with resin sealing
To make the manufacturing method of the fixed semiconductor device suitable for mass production.
Can be. [0024]AndPreheating the sealing tape
Supply the sealing tape to the sealing mold from above.And toThan,
Set the sealing tape to the appropriate temperature to apply tension to the sealing tape.
Can be heated, wrinkles in the sealing tape,
Sagging can be effectively reduced. [0025] [0026] [0027] DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, the present invention can be applied to each of the embodiments in common.
Of the present invention and a method of manufacturing the same
Will be described. FIG. 1A shows a resin-sealed mold half according to the present invention.
FIG. 1B is a plan view illustrating a structural example of the conductor device, and FIG.
FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line Ib-Ib shown in FIG. However
In FIG. 1A, the sealing resin 17 is a transparent body.
The semiconductor chip 15 has the outline shown by the broken line
The illustration of the thin metal wires 16 is omitted. As shown in FIGS. 1A and 1B,
The resin-encapsulated semiconductor device includes an inner lead 12 and a semiconductor
Die pad 13 for supporting body chip and die
Consists of suspension leads 14 for supporting pads 13
It has a lead frame. And die pad 13
The semiconductor chip 15 is bonded thereon with an adhesive,
Electrode pad (not shown) of semiconductor chip 15 and inner
The leads 12 are electrically connected to each other by thin metal wires 16.
Has been continued. Then, the inner lead 12 and the die pad
13, suspension leads 14, semiconductor chip 15 and fine metal
The wire 16 is sealed in the sealing resin 17. Also,
The pad 13 is positioned above the inner lead 12.
In the depressed portion 19 of the suspension lead 14 so that
Upset. Therefore, the sealing resin 17
In a more sealed state, the sealing resin 17 is
3 also exists thinly on the back side. Inner lead 12
There is no sealing resin 17 on the lower surface side of
The lower surface of the inner lead 12 is exposed.
Is the connection surface with the mounting board. That is, the inner
-The lower part of the lead 12 is an external electrode 18. Ma
In addition, this external electrode 18 is inherently used in the resin sealing process.
There is no resin burr that is the protruding part of the resin, and
This external electrode 18 is slightly lower than the back surface of the sealing resin 17.
It protrudes. There is no such resin burr and
The structure of the external electrode 18 protruding downward is described in the later-described manufacturing method.
It can be easily realized by the method. In such a resin-sealed semiconductor device,
There is an outer lead on the side of inner lead 12.
Instead, the lower part of the inner lead 12 becomes the external electrode 18.
Therefore, the size of the semiconductor device can be reduced. I
The lower surface of the inner lead 12, that is, the outer electrode 18
Since there is no resin burr on the bottom surface,
The reliability of joining with the pole is improved. Also, the external electrode 18
Since it is formed so as to protrude from the surface of the sealing resin 17, the actual
External electrodes when mounting a resin-encapsulated semiconductor device on a mounting board
When the external electrode 18 is connected to the electrodes of the mounting board,
This means that the standoff height is secured in advance. did
Therefore, the external electrode 18 is used as it is as an external terminal.
Can be mounted on the mounting board as before
There is no need to attach solder balls to the external electrodes 18;
This is advantageous in terms of man-hours and manufacturing costs. The die pad 13 has an inner lead.
12 and the sealing resin 17 is
Resin 13 because it is also thin on the back side of the pad 13
The reliability as a type semiconductor device is improved. Next, a method for manufacturing a resin-encapsulated semiconductor device will be described.
This will be described with reference to the drawings. 2 to 7
1 shows an example of a manufacturing process of a resin-encapsulated semiconductor device of the present invention.
It is sectional drawing. First, in the step shown in FIG.
12 and a die pad 13 for supporting a semiconductor chip
Is prepared. Figure
In the middle, the die pad 13 is supported by suspension leads.
However, since the suspension leads do not appear in this section,
Not. A depressed part is formed on the suspension lead.
The die pad 13 is larger than the surface of the inner lead 12.
It is set up at the top. Further, for
When the lead frame 20 is sealed with a resin,
Frame without tie bar to stop outflow of water
It is. Next, in the step shown in FIG.
Place the semiconductor chip 15 on the die pad of the frame
Then, they are joined to each other with an adhesive. This step is
This is a so-called die bonding process. In addition, the semiconductor chip
Supporting members are limited to lead frames
Rather, a member that can support other semiconductor chips, for example,
A TAB tape or a substrate may be used. Then, in the step shown in FIG.
3 and the semiconductor chip 15 and the inner lead 12
Are electrically connected by the thin metal wire 16. This process
Is a so-called wire bonding process. Metal wire
Aluminum thin wire, gold (Au) wire, etc.
Can be used. In addition, the semiconductor chip 15 and
The electrical connection with the inner lead 12 is made by connecting the thin metal wire 16.
It may be performed via a bump or the like instead of via a bump. Next, in the step shown in FIG.
Semiconductor chip 15 is bonded to the die pad 13 of FIG.
In the state, the sealing tape 21 is attached to the back side of the inner lead 12.
paste. This sealing tape 21 is particularly
The sealing resin does not flow around the back side of the gate 12 during resin sealing
To play the role of a mask
The presence of the sealing tape 21
To prevent resin burrs from being formed on the back of substrate 12
Can be. Sealing to be attached to the inner lead 12 and the like
The tape 21 is made of polyethylene terephthalate, polyimid
Based on resin containing polycarbonate and polycarbonate as main components
Tape that can be easily peeled off after sealing with resin.
And it is resistant to high-temperature environments during resin sealing.
If it is. Here, polyethylene terephthale
Using a tape whose main component is 50 g
did. Here, the sealing tape 21 is
Only adheres to the inner lead 12 surface of the lead frame
Affixed over the entire back side of the lead frame
Up and down by the depressed part of the suspension lead.
Not adhered to the back of the die pad 13
Is brought into close contact with the back surface of the die pad 13 to form a resin sealing step.
After the sealing tape 21 is peeled off, the back of the die pad 13 is removed.
The surface may be exposed to improve heat radiation characteristics. Next, in the step shown in FIG.
5 to which the sealing tape 21 is attached.
The frame is housed in the mold, and the sealing resin 17 flows into the mold.
Then, resin sealing is performed. At this time, the inner lead 12
Use a metal mold so that the sealing resin 17 does not
The tip 22 of the inner lead 12 of the lead frame
Press downward to seal with resin. Also, the inner lead
12 and press the sealing tape 21 surface on the back surface side to the mold surface side.
Perform resin sealing. Finally, in the step shown in FIG.
Peel off the sealing tape 21 attached to the back of the
External electrodes protruding from the back surface of the sealing resin 17
18 are formed. And the tip of the inner lead 12
22 is formed between the tip surface of the inner lead 12 and the sealing resin 17.
By separating the sides so that they are almost flush,
A resin-sealed semiconductor device as shown in FIG. 7 is completed. FIG. 8 is an enlarged view of a portion of the external electrode 18.
FIG. 3 is a partial back view of the resin-sealed semiconductor device. Shown in the figure
In this case, the sealing tape 21 is
Since the resin sealing process attached to the back of
The back and side surfaces of the inner leads 12, that is, the external electrodes 18
Of resin burrs on the surface of
You. Further, as in the conventional manufacturing method, the sealing resin 17 is
Part of the external electrode 18 is sealed around the surface of the external electrode 18.
It is possible to prevent the resin from being buried in the stopper resin 17. In the above manufacturing method, before the resin sealing step,
A sealing tape 21 is pasted on the back surface of the inner lead 12 in advance.
The sealing resin 17 does not wrap around,
A resin burr is formed on the back surface of
No occurrence. Therefore, the lower surface of the inner lead is exposed
The conventional method of manufacturing a resin-encapsulated semiconductor device
The resin burrs formed on the inner leads
It does not need to be removed by a jet or the like. Sand
In addition, to eliminate the troublesome process for removing this resin burr
Therefore, the steps in the mass production process of the resin-encapsulated semiconductor device
Can be simplified. Conventionally, water jets
May occur during the resin burr removal process
Nickel (Ni) and palladium on lead frames
(Pd), peeling of metal plating layers such as gold (Au)
Can be turned off. Therefore, each metal layer before the resin sealing process
Can be pre-plated. Note that, as shown in FIG.
The sealing table by the heat of the molten sealing resin.
As the tape 21 softens and thermally contracts,
The tape 12 greatly bites into the sealing tape 21 and the inner
A step is formed between the back surface of the lead 12 and the back surface of the sealing resin 17.
Is formed. Therefore, the back surface of the inner lead 12
Has a structure projecting from the back surface of the sealing resin 17,
-Standoff of external electrode 18 below lead 12
Height can be secured. Therefore, this protruding external electrode 1
8 can be used as it is as an external terminal
Become. The back surface of the inner lead 12 and the sealing resin
The size of the step between the back surface of the fat 17 and the
It can be controlled by the thickness of the sealing tape 21 attached.
Can be. Here, the sealing tape 21 of 50 [μm] is used.
Is used, the size of the step, that is, the external electrode 18
The amount of protrusion is generally about half that, and a maximum of 50 [μ
m]. That is, the sealing tape 21 is
The amount of the sealing tape 21 entering above the rear surface of the
The thickness of the external electrode 18 is determined by the thickness of
Self-controllable by the thickness of the stop tape 21
This facilitates fabrication. The protrusion of this external electrode 18
In order to control the output amount, it is necessary to use the sealing tape 21 in the mass production process.
You only need to control the thickness and there is no need to provide a separate process
Therefore, the above manufacturing method is extremely cost-effective for process control.
This is an advantageous method. Note that the sealing tape 21
In other words, the hardness of the material is adjusted according to the size of the desired step.
Degree, thickness, and heat softness can be determined
You. Note that, as shown in FIG.
In the encapsulated semiconductor device, on the back side of the die pad 13
Although the sealing resin 17 is present, its thickness is
Is very thin, equal to the upset amount of the pad 13. But
Therefore, this resin-sealed semiconductor device is substantially one-side sealed.
This is a stop type semiconductor device. Here, the sealing is performed before the resin sealing step.
Stop tape 21 for the inner lead 12 of the lead frame.
The example of pasting on the lower surface is shown.
Instead, set the sealing tape 21 in the sealing mold,
The lead frame 12 may be brought into close contact with the lead frame. This place
In this case, as described later, lead the sealing tape to the sealing mold.
Can be supplied, further streamlining the process. Here, on the back surface of the lead frame,
An example of a manufacturing method in which a sealing tape is attached and resin sealing is performed
As shown, the method of the present invention includes a lead frame.
However, the present invention is not limited to such semiconductor devices. Basic of the present invention
Using sealing tape in resin sealing process, which is a general concept
Is used to mount a semiconductor chip widely and use a resin-sealed member.
It can be applied to the resin sealing process of a semiconductor device having
Resin for semiconductor devices such as TAB type, substrate type, etc.
Applicable to the sealing step. Hereinafter, each embodiment of the present invention will be described.
You. In each of the following embodiments, a resin-sealed semiconductor device
Continuous supply of sealing tape to prevent
Method and resin sealing device provided with sealing tape supply device
Will be described with reference to the drawings. (First Embodiment) FIGS. 9A to 9C show the first embodiment of the present invention.
Sealing device with a sealing tape supply device
FIG. 3 is a perspective view illustrating a resin sealing step. FIG.
Is one process during the resin sealing process in the first embodiment.
It is sectional drawing which shows a process. As shown in FIG. 9A, the sealing mold is an upper mold.
The lower mold 151 includes a mold 151a and a lower mold 151b.
b, a large number of semiconductor product molding sections 160 (die cavities).
B) supplying the sealing resin to each semiconductor product molding unit 155
And a sealing resin flow path 161 for providing the same. Ma
The unwinding roll 156a and the winding roll 156b
Sealing tape continuously while applying constant tension between
152 can be unwound and wound up.
Has been established. Then, as shown in FIG.
The lead frame 153 on which the semiconductor chip is mounted is the lower mold
151b is supplied to the semiconductor product molding section 160, and the resin
The bullet 154a is connected to the sealing resin supply section of the lower mold 151b.
It is thrown. Next, as shown in FIG.
The mold 151a and the lower mold 151b are clamped,
The sealing resin melted from below by the
The resin-encapsulated semiconductor device 1 which is supplied to the product molding unit 160
55 is injection molded. And the injection molding ends
Then, the lower mold 151b opens. At this time, as soon as the lower mold 151b is opened,
The resin cull 154b and the resin-encapsulated semiconductor shown in FIG.
The sealing tape 152 is separated from the device 155. Ma
The sealing tape 152 is used in this resin sealing step.
The taken part is taken up by a take-up roll 156b,
The part used in the next resin sealing step is the unwinding roll 15
6a. Meanwhile, resin cull 154b and tree
The resin-sealed semiconductor device 155 is taken from the lower mold 151b.
Be sent out. According to the first embodiment of this embodiment, the winding
Between the take-out roll 156a and the take-up roll 156b
By supplying the sealing tape 152 continuously,
Resin sealing process using sealing tape can be performed quickly
It is possible to improve production efficiency. The unwinding roll 156a and the winding-up
By applying a rotational force to the roll 156b, the sealing tape
152 can be given an appropriate tension, and a resin sealing process can be performed.
The generation of wrinkles in the sealing tape 152 at the time of
Can be. FIGS. 18A and 18B show the supply of the sealing tape.
Resin sealing without equipment and without applying tension to the sealing tape
A perspective view of a resin sealing device for stopping
It is sectional drawing which shows one process in a grease sealing process. However
Then, in FIGS. 18A and 18B, FIGS.
The members denoted by the same reference numerals are as described above. This
In the case of, the sealing tape 152 is simply spread to form a sealing mold.
No tension is applied just by mounting. FIGS. 19 (a) and (b) correspond to FIGS.
As shown in (b), no tension is applied to the sealing tape
Shows the state inside the sealing mold when the resin sealing process was performed.
FIG. 2 is a cross-sectional view of a resin sealing body to be formed.
You. However, in FIGS. 19A and 19B, FIG.
The members denoted by the same reference numerals as (a) and (b) have already been described.
It is a cage. In this case, the sealing tape 152 is simply spread out.
Just attach it to the sealing mold and apply tension.
Not in. FIGS. 20 (a) and (b) correspond to FIGS.
As shown in (b), the tension is applied to the sealing tape.
Shows the state inside the sealing mold when performing the resin sealing step
It is sectional drawing and sectional drawing of the resin sealing body formed.
However, in FIGS. 19 (a) and 20 (a),
In order to display in the same vertical relationship as the stationary body, FIG.
It is displayed upside down from the state shown in FIG.
You. Resin sealing without applying tension to the sealing tape
Is carried out, the sealing tape becomes as shown in FIG.
Wrinkles, sagging, and tearing may occur. Soshi
When these wrinkles occur, they are
17 so that it is taken out after the resin sealing process
19 is provided on the back surface of the sealing resin 17 of the sealed resin sealing body.
As shown in (b), dents and the like may occur.
Was. When such dents occur, the appearance is impaired
Not only that, some of the sealed members may be exposed,
There is a possibility that cracks in the sealing resin 17 may occur. On the other hand, as in the present embodiment, the sealing table
To attach the tape to the sealing mold via the roll supply device.
Since a certain tension is applied to the sealing tape,
In the sealing step, as shown in FIG.
Wrinkles in the loop, or the sealing tape is pulled between the leads.
Can be suppressed. And the tree
The sealing tree of the resin sealing body taken out after the completion of the grease sealing process
No dents or wrinkles between leads occur on the back of grease 17.
Resin-encapsulated semiconductor with good appearance and characteristics
A device is obtained. In other words, the yield by reducing the defect rate
Can be improved. (Second Embodiment) FIG. 11 is a view showing a sealing TE according to the second embodiment of the present embodiment.
It is a perspective view of the resin sealing device provided with the loop supply device.
FIG. 12 shows a resin sealing step according to the second embodiment.
It is sectional drawing which shows one of the processes. As shown in FIG. 11, in the second embodiment,
The structure of the sealing die is shown in FIG. 9A.
Since the structure is the same as that of the sealing mold shown in the embodiment, FIG.
The description of the members denoted by the same reference numerals as in FIG.
I do. In this embodiment, four rotating rolls 159 are provided.
Between the four rotating rolls 159.
The hoop 152 is hung like a hoop. And the above
Any one of the four rotating rolls 159 is a driving roller.
Sealing tape
152 is rotated clockwise in the figure.
You. Also, the side of the sealing mold and the sealing tape 152 are sealed.
On the side sent from the mold, clean the sealing tape 152
Cleaner 165 is provided. Then, in substantially the same procedure as in the first embodiment,
Perform up to injection molding. That is, as shown in FIG.
And a lead frame 15 on which a large number of semiconductor chips are mounted.
3 is supplied to the semiconductor product molding section 160 of the lower mold 151b.
The resin tablet is connected to the sealing resin supply section of the lower mold 151b.
It is thrown into. Then, the upper mold 151a and the lower mold
The mold 151b is clamped and the piston 158 is moved downward.
The sealing resin melted from the
The resin-encapsulated semiconductor device 155 is supplied and injection-molded.
It is. When the injection molding is completed, the lower mold 151b
Opens. At the same time as the lower mold 151b is opened,
From the resin-sealed semiconductor device 155
The step 152 is separated. Also, the rotating roll 159 rotates
The sealing tape 152 rotates and clears.
Cleaned by the cleaner 165 and adheres to used parts
Resin scum, dust, and the like are removed. At this time,
The stop tape 152 has a hoop shape, and the hoop is once
Rotation changes the tape feed pitch, at least 2
Until the third round, there is no
It is most important that the tape portion of the used area can be used.
You. In the meantime, the resin cull 154b and the resin-sealed mold half
The conductor device 155 is taken out from the lower mold 151b.
You. According to this embodiment, the first embodiment
In the same manner as described above, while continuously supplying the sealing tape 152,
Can be sealed with grease to increase production efficiency.
Can be. In addition, the outer roll is pulled between the rotating rolls 159.
By applying a tension force, a proper tension is applied to the sealing tape 152.
Tree with excellent appearance and characteristics without dents
A fat-sealed semiconductor device can be obtained. That is,
The yield can be improved by reducing the yield. In addition, the sealing tape supply as in this embodiment is provided.
Cleaning the closed loop-shaped sealing tape 152 using a feeding device.
The sealing tape 152 can be used without wasting
There are advantages that can be used. Note that tension was applied to the sealing tape 152.
Even if a biasing roll (see the broken line in FIG. 11) is provided separately,
Good. (Third Embodiment) FIG. 13A shows a third embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a perspective view of a resin sealing device provided with a sealing tape supply device.
is there. FIG. 13B shows the third embodiment.
It is a top view of a sealing tape supply apparatus and a lower metallic mold. As shown in FIGS. 13A and 13B, the third
The structure of the sealing mold in the embodiment shown in FIG.
Is the same as the structure of the sealing mold shown in the first embodiment shown in FIG.
Therefore, description of members denoted by the same reference numerals as in FIG.
Is omitted. In the present embodiment, the unwinding roll 156a
Do not apply a constant tension between the
Then, unwinding and winding the sealing tape 152 continuously
It is configured to be able to perform
Preheat the sealing tape 152 at a position away from the mold
Heater 166 is provided. In addition, this implementation
In the embodiment, unlike the first embodiment, the unwinding roll
156a and the take-up roll 156b
52 is a place apart from the sealing mold and the upper mold-lower of the sealing mold.
In a roller unit that can move between the molds
It has been incorporated. In this embodiment, the sealing tape 152 is sealed.
Before supplying to the mold, the temperature of the sealing mold is increased by the heater 166.
Preheating at a low temperature and then performing injection molding.
Now. In other words, leads with many semiconductor chips mounted
The frame is connected to the semiconductor product molding section 160 of the lower mold 151b.
Supplied and the resin tablet is the sealing resin of the lower mold 151b.
It is supplied to the supply unit. Then, the upper die 151 of the sealing die
a and the lower mold 151b are clamped, and the sealing resin melts.
Is supplied to each semiconductor product molding unit 160,
A semiconductor device is injection molded. And the injection molding is finished
Then, the lower mold 151b opens. Also, the lower mold 151b
Is opened, the resin cull and the resin-encapsulated semiconductor device 15 are opened.
5, the sealing tape 152 is separated. In addition, sealing
Part of the loop 152 used in this resin sealing process
Is taken up by a take-up roll 156b, and the next resin sealing is performed.
The parts used in the process are supplied from the unwind roll 156a
Is done. In the meantime, resin culls and resin-encapsulated semiconductor devices
Is taken out of the lower mold 151b. Sealing tape 15
2 is separated from the lower mold 151b after the end of the injection molding.
Once completely independent, once the roller unit
Move the unit to the specified position and wind only the used part
It is wound up by a take-up roll 156b, and a sealing tape 152
Is supplied, and the unused portion of the sealing tape 152 is supplied.
The part is preheated at a lower temperature than the sealing mold. According to this embodiment, the first embodiment
Similarly, the unwinding roll 156a and the winding roll 1
56b, the sealing tape 152 is continuously supplied.
This speeds up the resin sealing process using sealing tape
And increase production efficiency.
You. The unwinding roll 156a and the winding roll 1
By applying a rotational force to the sealing tape 152
Appropriate tension and appearance without pits
A resin-encapsulated semiconductor device having excellent performance can be obtained. You
That is, to improve the yield by reducing the defect rate
Can be. In addition, the sealing tape 152 is continuously supplied.
The tape does not come into contact with the heated mold when heating
Supply, and immediately before the supply, the sealing tape 1
By preheating 52, the wrinkles of the sealing tape 152,
And it can more effectively control the occurrence of sagging.
Significantly reduces the failure rate of resin-encapsulated semiconductor devices
Can be done. (Fourth Embodiment) FIG. 14 is a view showing a sealing tape according to the fourth embodiment of the present embodiment.
It is a perspective view of the resin sealing device provided with the loop supply device.
FIG. 15 shows a resin sealing step according to the fourth embodiment.
It is sectional drawing which shows one of the processes. This embodiment is the same as the third embodiment.
The unwinding roll 156a and the winding roll 15
6b and a heater 1 for preheating the sealing tape 152
66 and a roller unit having the same. However,
In the present embodiment, the roller unit always has the sealing tape 15.
2 is held between the upper mold and the lower mold.
You. In the present embodiment, the roller unit is a sealing metal.
Large movement from the place where the mold is installed to the place far away
The third implementation, except that it is not configured to allow
Injection molding and subsequent processing are performed in the same procedure as
Therefore, the description thereof will be omitted. The figure
In FIG. 15, the same reference numerals as in FIG. 10 are used.
The members are as described in FIG. According to the present embodiment, the same as the third embodiment
When supplying the sealing tape 152 continuously,
Supply without contacting the heated sealing mold
Then, the sealing tape 1 is heated by heating immediately before supply.
A resin-encapsulated semiconductor that reduces wrinkles and sagging of 52
The occurrence rate of device failure can be reduced. In particular,
Compared to the third embodiment, the sealing tape 152 can be used in a smaller space.
The ability to supply is of paramount importance. (Fifth Embodiment) FIG. 16A shows a fifth embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a perspective view of a resin sealing device provided with a sealing tape supply device.
is there. FIG. 16 (b) shows the fifth embodiment.
It is sectional drawing which shows one process in a resin sealing process. As shown in FIG. 16A, the fifth embodiment
The structure of the sealing mold in the state is shown in FIG.
Since the structure is the same as that of the sealing mold shown in the first embodiment,
In the same figure, description of members denoted by the same reference numerals as in FIG.
Is omitted. In this embodiment, the sealing tape supply device
And the unwinding roll 156a and the winding roll 15
6b, and a sealing tape at the corner of the upper mold 151a.
Auxiliary roll 167 for preventing breakage of loop 152
The feature is that it is provided. Then, in substantially the same procedure as in the first embodiment,
Perform up to injection molding. That is, as shown in FIG.
Lead frame with a large number of semiconductor chips
153 is provided to the semiconductor product molding section 160 of the lower mold 151b.
The resin tablet is supplied with the sealing resin of the lower mold 151b.
It is thrown into the supply department. Then, the upper die 151a of the sealing die
And the lower mold 151b are clamped by the piston 158.
The sealing resin melted from below is
0, and the resin-encapsulated semiconductor device 155 is injected.
Is shaped. When the injection molding is completed, the lower mold 15
1b opens. At the same time that the lower mold 151b is opened,
Sealing tape 1 from grease and resin-sealed semiconductor device 155
52 is separated. In the meantime, resin cull and resin sealing type
The semiconductor device 155 is taken out from the lower mold 151b.
You. In this embodiment, the sealing tape of the supplied unused portion is used.
152 is an auxiliary row at the corner of the upper die 151a.
Is supplied along the line 167. According to this embodiment, the first embodiment
In the same manner as described above, while continuously supplying the sealing tape 152,
Can be sealed with grease to increase production efficiency.
Can be. Also, between the unwinding roll and the winding roll
By applying a pulling force outward to the sealing tape 15
2. Give proper tension to 2 and make it look
It is possible to obtain a resin-encapsulated semiconductor device with excellent sexual characteristics.
You. That is, the yield is improved by reducing the defect rate.
Can be In addition, the corners of the upper mold 151a are supplemented.
Provide auxiliary roll 157 and seal along auxiliary roll 157
Since the tape 152 is supplied, the sealing tape 152 is supplied.
Tape wrinkles, sagging and tearing
The occurrence rate of resin-encapsulated semiconductor device failures.
Can be effectively reduced. (Sixth Embodiment) FIG. 17A shows a sixth embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a perspective view of a resin sealing device provided with a sealing tape supply device.
is there. FIG. 17B shows that the sealing tape is sealed from above.
It is a top view when seeing a tape and a lower metallic mold. As shown in FIG. 17A, in this embodiment,
The structure of the sealing die in the first embodiment shown in FIG.
Since the structure is the same as that of the sealing mold shown in the embodiment, FIG.
In FIG. 9, description of members denoted by the same reference numerals as in FIG.
Abbreviate. In this embodiment, the sealing tape supply device
The unwinding roll 156a and the winding roll 156
at least one of b as deviation correction means
Is provided. Also unwind roll
Any one of 156a and take-up roll 156b
Misalignment hand that moves in the direction parallel to the roll axis direction
A roll moving mechanism as a step is provided. However,
This deviation correction means includes a θ correction mechanism and a roll moving device.
Sealing tape if one of the structures is provided
In order not to generate wrinkles on the sealing tape 152,
Correct the lateral displacement and apply uniform tension to the sealing tape 152
Can be Then, in substantially the same procedure as in the first embodiment,
Perform up to injection molding. That is, many semiconductor chips
Is mounted on the lower die 151b made of semiconductor
Is supplied to the product molding section 160 and the resin tablet is
The resin is supplied to the sealing resin supply unit 51b. And sealing metal
The upper mold 151a and the lower mold 151b of the mold are clamped,
The molten sealing resin is supplied to each semiconductor product molding unit 160.
Then, the resin-encapsulated semiconductor device is injection-molded. Soshi
When the injection molding is completed, the lower mold 151b is opened. Ma
At the same time as the lower mold 151b is opened,
The sealing tape 152 is separated from the stop semiconductor device 155.
Is done. In the meantime, the resin cull and the resin-encapsulated semiconductor device 1
55 is taken out from the lower mold 151b. According to the present embodiment, the first embodiment
In the same manner as described above, while continuously supplying the sealing tape 152,
Can be sealed with grease to increase production efficiency.
Can be. Also, between the unwinding roll and the winding roll
By applying a pulling force outward to the sealing tape 15
2. Give proper tension to the 2
It is possible to obtain a resin-encapsulated semiconductor device with excellent sexual characteristics.
You. That is, the yield is improved by reducing the defect rate.
Can be In addition, the unwinding roll 156a or
The take-up roll 156b has a θ correction mechanism or a roll moving mechanism.
Since it is provided, sealing tape when used
152 slack, wrinkles and other distortions in the θ direction
Can be corrected, greatly improving production efficiency
Can be. [0085] The method of manufacturing the resin-encapsulated semiconductor device of the present invention.
According to the method, the semiconductor chip with the sealing tape attached
When sealing the peripheral members in the sealing resin, the sealing tape
Is supplied continuously and is attached to the sealing mold.
To expose the part where the sealing tape has adhered from the sealing resin
Structure can be realized in a manufacturing process suitable for mass production.
Wear. [0086]

【図面の簡単な説明】 【図1】各実施形態に適用される樹脂封止型半導体装置
の封止樹脂を透過して示す平面図及び断面図である。 【図2】各実施形態に適用される樹脂封止型半導体装置
の製造工程におけるリードフレームを用意する工程を示
す断面図である。 【図3】各実施形態に適用される樹脂封止型半導体装置
の製造工程におけるダイパッド上に半導体チップを接合
する工程を示す断面図である。 【図4】各実施形態に適用される樹脂封止型半導体装置
の製造工程における金属細線を形成する工程を示す断面
図である。 【図5】各実施形態に適用される樹脂封止型半導体装置
の製造工程における封止テープをリードフレームの下に
敷く工程を示す断面図である。 【図6】各実施形態に適用される樹脂封止型半導体装置
の製造工程における樹脂封止工程を示す断面図である。 【図7】各実施形態に適用される樹脂封止型半導体装置
の製造工程におけるインナーリードの先端カット工程の
終了後の樹脂封止型半導体装置の断面図である。 【図8】各実施形態に適用される樹脂封止型半導体装置
の製造工程によって形成された樹脂封止型半導体装置の
部分裏面図である。 【図9】第1の実施形態における封止テープ供給装置を
付設した樹脂封止装置および樹脂封止工程を示す斜視図
である。 【図10】第1の実施形態における樹脂封止工程中の1
つの工程を示す断面図である。 【図11】第2の実施形態における封止テープ供給装置
を付設した樹脂封止装置の斜視図である。 【図12】第2の実施形態における樹脂封止工程中の1
つの工程を示す断面図である。 【図13】第3の実施形態における封止テープ供給装置
を付設した樹脂封止装置の斜視図、ならびに封止テープ
供給装置及び下金型の上面図である。 【図14】第4の実施形態における封止テープ供給装置
を付設した樹脂封止装置の斜視図である。 【図15】第4の実施形態における樹脂封止工程中の1
つの工程を示す断面図である。 【図16】第5の実施形態における封止テープ供給装置
を付設した樹脂封止装置の斜視図、及び第5の実施形態
における樹脂封止工程中の1つの工程を示す断面図であ
る。 【図17】第6の実施形態における封止テープ供給装置
を付設した樹脂封止装置の斜視図、及び封止テープの上
から封止テープ及び下金型を見たときの平面図である。 【図18】封止テープ供給装置を設けず、かつ封止テー
プに張力を与えずに樹脂封止を行なうようにした樹脂封
止装置の斜視図、および樹脂封止工程中の1つの工程を
示す断面図である。 【図19】封止テープに張力を付与しない状態で樹脂封
止工程を行なったときの封止金型内の状態を示す断面
図、および形成される樹脂封止体の断面図である。 【図20】封止テープに張力を付与した状態で樹脂封止
工程を行なったときの封止金型内の状態を示す断面図、
および形成される樹脂封止体の断面図である。 【図21】裏面側に外部電極を有するタイプの従来の樹
脂封止型半導体装置の平面図及び断面図である。 【図22】外部電極にボール電極を設けてスタンドオフ
高さを確保した従来の樹脂封止型半導体装置の断面図で
ある。 【図23】従来の樹脂封止型半導体装置の製造工程にお
けるリードフレームを用意する工程を示す断面図であ
る。 【図24】従来の樹脂封止型半導体装置の製造工程にお
けるダイパッド上に半導体チップを接合する工程を示す
断面図である。 【図25】従来の樹脂封止型半導体装置の製造工程にお
ける金属細線を形成する工程を示す断面図である。 【図26】従来の樹脂封止型半導体装置の製造工程にお
ける樹脂封止工程を示す断面図である。 【符号の説明】 12 インナーリード 13 ダイパッド 14 吊りリード 15 半導体チップ 16 金属細線 17 封止樹脂 18 外部電極 19 ディプレス部 20 リードフレーム 21 封止テープ 151a 上金型 151b 下金型 152 封止テープ 153 リードフレーム 154a 樹脂タブレット 154b 樹脂カル 155 樹脂封止型半導体装置 156a 巻き出しロール 156b 巻き取りロール 158 ピストン 159 回転ロール 160 半導体製品成形部 161 封止樹脂流通路 165 クリーナー 166 ヒータ 167 補助ロール
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a plan view and a cross-sectional view showing a sealing resin of a resin-sealed semiconductor device applied to each embodiment. FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a process of preparing a lead frame in a process of manufacturing a resin-sealed semiconductor device applied to each embodiment. FIG. 3 is a cross-sectional view showing a step of bonding a semiconductor chip onto a die pad in a manufacturing step of a resin-sealed semiconductor device applied to each embodiment. FIG. 4 is a cross-sectional view showing a step of forming a thin metal wire in a process of manufacturing a resin-sealed semiconductor device applied to each embodiment. FIG. 5 is a cross-sectional view showing a step of laying a sealing tape under a lead frame in a manufacturing process of the resin-sealed semiconductor device applied to each embodiment. FIG. 6 is a cross-sectional view showing a resin sealing step in a manufacturing step of the resin-sealed semiconductor device applied to each embodiment. FIG. 7 is a cross-sectional view of the resin-encapsulated semiconductor device after the end cutting step of the inner lead in the manufacturing process of the resin-encapsulated semiconductor device applied to each embodiment; FIG. 8 is a partial back view of the resin-sealed semiconductor device formed in the manufacturing process of the resin-sealed semiconductor device applied to each embodiment. FIG. 9 is a perspective view showing a resin sealing device provided with a sealing tape supply device according to the first embodiment and a resin sealing step. FIG. 10 illustrates a state during a resin sealing step according to the first embodiment.
It is sectional drawing which shows one process. FIG. 11 is a perspective view of a resin sealing device provided with a sealing tape supply device according to a second embodiment. FIG. 12 illustrates a state during a resin sealing step according to the second embodiment.
It is sectional drawing which shows one process. FIG. 13 is a perspective view of a resin sealing device provided with a sealing tape supply device according to a third embodiment, and a top view of the sealing tape supply device and a lower mold. FIG. 14 is a perspective view of a resin sealing device provided with a sealing tape supply device according to a fourth embodiment. FIG. 15 illustrates a state during a resin sealing step according to the fourth embodiment.
It is sectional drawing which shows one process. FIG. 16 is a perspective view of a resin sealing device provided with a sealing tape supply device according to a fifth embodiment, and a cross-sectional view illustrating one step in a resin sealing process according to the fifth embodiment. FIG. 17 is a perspective view of a resin sealing device provided with a sealing tape supply device according to a sixth embodiment, and a plan view of a sealing tape and a lower mold seen from above the sealing tape. FIG. 18 is a perspective view of a resin sealing device in which resin sealing is performed without providing a sealing tape supply device and applying tension to the sealing tape, and one step in the resin sealing process. FIG. FIG. 19 is a cross-sectional view showing a state in a sealing mold when a resin sealing step is performed in a state where tension is not applied to the sealing tape, and a cross-sectional view of a formed resin sealing body. FIG. 20 is a cross-sectional view showing a state in a sealing mold when a resin sealing step is performed with tension applied to the sealing tape;
FIG. 3 is a cross-sectional view of a formed resin sealing body. 21A and 21B are a plan view and a cross-sectional view of a conventional resin-encapsulated semiconductor device of a type having external electrodes on the back side. FIG. 22 is a cross-sectional view of a conventional resin-encapsulated semiconductor device having a stand-off height secured by providing ball electrodes on external electrodes. FIG. 23 is a cross-sectional view showing a step of preparing a lead frame in a conventional process of manufacturing a resin-sealed semiconductor device. FIG. 24 is a cross-sectional view showing a step of bonding a semiconductor chip onto a die pad in a conventional manufacturing process of a resin-encapsulated semiconductor device. FIG. 25 is a cross-sectional view showing a step of forming a thin metal wire in a manufacturing process of a conventional resin-encapsulated semiconductor device. FIG. 26 is a cross-sectional view showing a resin sealing step in a manufacturing process of a conventional resin-sealed semiconductor device. DESCRIPTION OF SYMBOLS 12 Inner lead 13 Die pad 14 Suspended lead 15 Semiconductor chip 16 Fine metal wire 17 Sealing resin 18 External electrode 19 Depressed part 20 Lead frame 21 Sealing tape 151a Upper die 151b Lower die 152 Sealing tape 153 Lead frame 154a Resin tablet 154b Resin cull 155 Resin-sealed type semiconductor device 156a Unwind roll 156b Take-up roll 158 Piston 159 Rotating roll 160 Semiconductor product forming section 161 Sealing resin flow passage 165 Cleaner 166 Heater 167 Auxiliary roll

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山田 恭裕 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工 業株式会社内 (72)発明者 安達 修 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工 業株式会社内 (56)参考文献 特開 平7−29927(JP,A) 特開 平9−107061(JP,A) 特開 平8−78821(JP,A) 特開 平10−6358(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/56 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Yasuhiro Yamada 1-1, Yukicho, Takatsuki-shi, Osaka Prefecture Inside Matsushita Electronics Corporation (72) Inventor Osamu Adachi 1-1, Yukicho, Takatsuki-shi, Osaka Matsushita Electronics (56) References JP-A-7-29927 (JP, A) JP-A-9-107061 (JP, A) JP-A-8-78821 (JP, A) JP-A-10-6358 ( JP, A) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/56

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 封止金型と半導体チップとリードフレー
ムとを用意する第1の工程と、 上記リードフレームのダイパッドに上記半導体チップを
搭載する第2の工程と、 封止テープを加熱する第3の工程と、 上記加熱された封止テープを連続的に供給して上記封止
金型に装着する第4の工程と、 上記リードフレームのインナーリードの裏面側を上記封
止テープに貼り付ける第5の工程と、 上記半導体チップ及び上記リードフレームのインナーリ
ードの裏面側を除く部分を封止樹脂内に封止する第6の
工程とを備えている樹脂封止型半導体装置の製造方法。
(57) Claims 1. A first step of preparing a sealing die, a semiconductor chip, and a lead frame, and a second step of mounting the semiconductor chip on a die pad of the lead frame. A third step of heating the sealing tape, a fourth step of continuously supplying the heated sealing tape and mounting it on the sealing mold, and a back surface of the inner lead of the lead frame. And a sixth step of sealing a portion of the semiconductor chip and the lead frame other than the back surface of the inner lead in a sealing resin. A method for manufacturing a sealed semiconductor device.
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