JP3429162B2 - 電子回路の特性の調整方法及び調整装置 - Google Patents
電子回路の特性の調整方法及び調整装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、サーボ装置等の電
子回路の特性の調整方法及び調整装置に関する。
子回路の特性の調整方法及び調整装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】特公平８−３３７６１号公報には、閉ル
ープ制御回路における制御増幅器のゲイン調整作業を容
易化する技術が記載されている。しかしこうした技術
は、次に述べるような実際上の問題を抱えている。図１
には、かかる公報記載の技術に属しかつ光ディスクプレ
ーヤ等に適用されうるフォーカスサーボループの一部構
成が示されている。図１において、フォーカスサーボル
ープに含まれる制御増幅器１は、制御偏差信号としての
フォーカスエラー信号が供給され、このフォーカスエラ
ー信号を設定されたゲインにて増幅して制御対象たるフ
ォーカスアクチュエータ駆動系への操作信号を出力す
る。この制御増幅器１のゲインは可変であり、フォーカ
スエラー信号を目標ゲインと比較して当該ループゲイン
の実測値と目標ゲインとの比較をなす比較器２と、この
比較器２の比較結果すなわち両ゲインの差に応じて制御
信号を発するゲイン制御部３とからなるゲイン調整手段
によって調整される。
ープ制御回路における制御増幅器のゲイン調整作業を容
易化する技術が記載されている。しかしこうした技術
は、次に述べるような実際上の問題を抱えている。図１
には、かかる公報記載の技術に属しかつ光ディスクプレ
ーヤ等に適用されうるフォーカスサーボループの一部構
成が示されている。図１において、フォーカスサーボル
ープに含まれる制御増幅器１は、制御偏差信号としての
フォーカスエラー信号が供給され、このフォーカスエラ
ー信号を設定されたゲインにて増幅して制御対象たるフ
ォーカスアクチュエータ駆動系への操作信号を出力す
る。この制御増幅器１のゲインは可変であり、フォーカ
スエラー信号を目標ゲインと比較して当該ループゲイン
の実測値と目標ゲインとの比較をなす比較器２と、この
比較器２の比較結果すなわち両ゲインの差に応じて制御
信号を発するゲイン制御部３とからなるゲイン調整手段
によって調整される。
【０００３】図２は、かかるゲイン調整手段の動作を示
しており、目標ゲインとして０［ｄＢ］が設定されかつ
ゲイン制御部３が制御信号をして変化せしめる制御増幅
器１の１ステップのゲイン変更幅をΔＧとした場合を前
提にしている。いま、最初に得られる実測ゲインが点ｐ
４に対応しているものとすると、ゲイン比較器２は、点
ｐ４に対応するゲイン値から０［ｄＢ］を差し引いて得
られる正の値をゲイン制御部３に供給する。ゲイン制御
部３は、かかる正の値を認識してゲイン変更幅ΔＧだけ
ゲインを下げるよう制御信号を制御増幅器１へ供給す
る。これにより実測ゲインが点ｐ３に対応するレベルま
で下がり、以降同様に点ｐ３，ｐ２，ｐ１についても、
ゲイン制御部３によってゲイン変更幅ΔＧずつゲインを
下げる制御信号が制御増幅器１へ供給される。そして制
御部３は、点ｐ１の実測ゲインからΔＧだけ下げたこと
により、実測ゲインがほぼ目標値０［ｄＢ］に到達した
ものとみなした時点で増幅器１のゲイン制御を終える。
しており、目標ゲインとして０［ｄＢ］が設定されかつ
ゲイン制御部３が制御信号をして変化せしめる制御増幅
器１の１ステップのゲイン変更幅をΔＧとした場合を前
提にしている。いま、最初に得られる実測ゲインが点ｐ
４に対応しているものとすると、ゲイン比較器２は、点
ｐ４に対応するゲイン値から０［ｄＢ］を差し引いて得
られる正の値をゲイン制御部３に供給する。ゲイン制御
部３は、かかる正の値を認識してゲイン変更幅ΔＧだけ
ゲインを下げるよう制御信号を制御増幅器１へ供給す
る。これにより実測ゲインが点ｐ３に対応するレベルま
で下がり、以降同様に点ｐ３，ｐ２，ｐ１についても、
ゲイン制御部３によってゲイン変更幅ΔＧずつゲインを
下げる制御信号が制御増幅器１へ供給される。そして制
御部３は、点ｐ１の実測ゲインからΔＧだけ下げたこと
により、実測ゲインがほぼ目標値０［ｄＢ］に到達した
ものとみなした時点で増幅器１のゲイン制御を終える。
【０００４】また、最初に得られる実測ゲインが点ｑ４
に対応しているものとすると、ゲイン比較器２は、点ｑ
４に対応するゲイン値から０［ｄＢ］を差し引いて得ら
れる負の値をゲイン制御部３に供給する。ゲイン制御部
３は、かかる負の値を認識してゲイン変更幅ΔＧだけゲ
インを上げるよう制御信号を制御増幅器１へ供給する。
これにより実測ゲインが点ｑ３に対応するレベルまで上
がり、以降同様に点ｑ３，ｑ２，ｑ１についても、ゲイ
ン制御部３によってゲイン変更幅ΔＧずつゲインを上げ
る制御信号が制御増幅器１へ供給される。そして制御部
３は、点ｑ１の実測ゲインからΔＧだけ上げたことによ
り、実測ゲインがほぼ目標値０［ｄＢ］に到達したもの
とみなした時点で増幅器１のゲイン制御を終える。
に対応しているものとすると、ゲイン比較器２は、点ｑ
４に対応するゲイン値から０［ｄＢ］を差し引いて得ら
れる負の値をゲイン制御部３に供給する。ゲイン制御部
３は、かかる負の値を認識してゲイン変更幅ΔＧだけゲ
インを上げるよう制御信号を制御増幅器１へ供給する。
これにより実測ゲインが点ｑ３に対応するレベルまで上
がり、以降同様に点ｑ３，ｑ２，ｑ１についても、ゲイ
ン制御部３によってゲイン変更幅ΔＧずつゲインを上げ
る制御信号が制御増幅器１へ供給される。そして制御部
３は、点ｑ１の実測ゲインからΔＧだけ上げたことによ
り、実測ゲインがほぼ目標値０［ｄＢ］に到達したもの
とみなした時点で増幅器１のゲイン制御を終える。
【０００５】ここで、実測ゲインがほぼ目標値０［ｄ
Ｂ］に到達したものとする制御部３の判断には、目標値
０［ｄＢ］を中心値とし当該中心値よりゲイン変更幅Δ
Ｇだけ上下に上限及び下限を有する判定ウィンドウが確
立されていることになる。この場合、判定ウィンドウ
は、＋ΔＧ〜−ΔＧの範囲に相当する。この判定ウィン
ドウの存在理由は、制御部３が１ステップで変更させる
ことのできる制御増幅器１のゲインがΔＧであるため
に、かかる＋ΔＧ〜−ΔＧの範囲内に実測ゲインを引き
込んだ場合にそれ以上実測ゲインを目標ゲインたる０
［ｄＢ］に近づけることをしないからである。従って制
御部３は、比較器２からの両ゲインの差が当該判定ウィ
ンドウ内にあった場合に増幅器１のゲイン制御を終了す
るので、±ΔＧよりも高い精度は得られないのである。
故に図に示されているように、点ｐ０においても点ｑ０
においても増幅器１の設定ゲインに残存誤差を有したま
ま増幅器１のゲイン制御が終了することとなる。
Ｂ］に到達したものとする制御部３の判断には、目標値
０［ｄＢ］を中心値とし当該中心値よりゲイン変更幅Δ
Ｇだけ上下に上限及び下限を有する判定ウィンドウが確
立されていることになる。この場合、判定ウィンドウ
は、＋ΔＧ〜−ΔＧの範囲に相当する。この判定ウィン
ドウの存在理由は、制御部３が１ステップで変更させる
ことのできる制御増幅器１のゲインがΔＧであるため
に、かかる＋ΔＧ〜−ΔＧの範囲内に実測ゲインを引き
込んだ場合にそれ以上実測ゲインを目標ゲインたる０
［ｄＢ］に近づけることをしないからである。従って制
御部３は、比較器２からの両ゲインの差が当該判定ウィ
ンドウ内にあった場合に増幅器１のゲイン制御を終了す
るので、±ΔＧよりも高い精度は得られないのである。
故に図に示されているように、点ｐ０においても点ｑ０
においても増幅器１の設定ゲインに残存誤差を有したま
ま増幅器１のゲイン制御が終了することとなる。
【０００６】かくして、このように目標ゲインからの残
存誤差を有するゲインが設定された状態でフォーカスサ
ーボループが形成されるので、上記判定ウィンドウの上
限及び下限を狭めない限り、すなわち判定ウィンドウの
分解能を上げない限り、当該ループゲインの設定精度を
改善することができず、精確なサーボを掛けることは困
難であった。
存誤差を有するゲインが設定された状態でフォーカスサ
ーボループが形成されるので、上記判定ウィンドウの上
限及び下限を狭めない限り、すなわち判定ウィンドウの
分解能を上げない限り、当該ループゲインの設定精度を
改善することができず、精確なサーボを掛けることは困
難であった。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した点
に鑑みてなされたものであり、ループ特性等の調整終了
を判定するウィンドウの分解能を変えることなくループ
特性等の精確な調整を行うことのできる電子回路の特性
の調整方法及び調整装置を提供することを目的とする。
に鑑みてなされたものであり、ループ特性等の調整終了
を判定するウィンドウの分解能を変えることなくループ
特性等の精確な調整を行うことのできる電子回路の特性
の調整方法及び調整装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明による調整方法
は、電子回路の現在特性値と目標値とを比較して前記現
在特性値と前記目標値との相違を示す比較結果を得、前
記比較結果に基づく制御信号に応じて前記現在特性値を
変更させるとともに、前記比較結果に基づき前記現在特
性値が前記目標値の近傍に達したことを判断したときに
前記制御信号による前記現在特性値の変更を終了させ、
前記現在特性値を前記目標値とする調整方法であって、
それぞれ前記目標値よりも所定値だけ正負に偏倚した第
１及び第２目標値を定め、調整開始から前記現在特性値
が前記第１及び第２目標値の一方に近づくよう前記制御
信号を発生し、前記現在特性値が前記第１及び第２目標
値の一方の近傍に達したことを判断して前記現在特性値
が前記第１及び第２目標値の他方に近づくよう前記制御
信号を発生し、前記現在特性値が前記第１及び第２目標
値の他方の近傍に達したことを判断して前記制御信号に
よる前記現在特性値の変更を終了させることを特徴とし
ている。
は、電子回路の現在特性値と目標値とを比較して前記現
在特性値と前記目標値との相違を示す比較結果を得、前
記比較結果に基づく制御信号に応じて前記現在特性値を
変更させるとともに、前記比較結果に基づき前記現在特
性値が前記目標値の近傍に達したことを判断したときに
前記制御信号による前記現在特性値の変更を終了させ、
前記現在特性値を前記目標値とする調整方法であって、
それぞれ前記目標値よりも所定値だけ正負に偏倚した第
１及び第２目標値を定め、調整開始から前記現在特性値
が前記第１及び第２目標値の一方に近づくよう前記制御
信号を発生し、前記現在特性値が前記第１及び第２目標
値の一方の近傍に達したことを判断して前記現在特性値
が前記第１及び第２目標値の他方に近づくよう前記制御
信号を発生し、前記現在特性値が前記第１及び第２目標
値の他方の近傍に達したことを判断して前記制御信号に
よる前記現在特性値の変更を終了させることを特徴とし
ている。
【０００９】前記所定値には、前記現在特性値の最小調
整幅を対応させることができる。本発明による調整装置
は、電子回路の現在特性値と目標値とを比較して前記現
在特性値と前記目標値との相違を示す比較結果を出力す
る比較手段と、制御信号に応じて前記現在特性値を変更
させる変更手段と、前記比較結果に基づき前記制御信号
を発生しかつ前記現在特性値が前記目標値の近傍に達し
たことを判断したときに前記変更手段における前記制御
信号による前記現在特性値の変更を終了させる制御手段
とを有し、前記現在特性値を前記目標値とする調整装置
であって、前記制御手段は、それぞれ前記目標値よりも
所定値だけ正負に偏倚した第１及び第２目標値が定めら
れ、調整開始から前記現在特性値が前記第１及び第２目
標値の一方に近づくよう前記制御信号を発生し、前記現
在特性値が前記第１及び第２目標値の一方の近傍に達し
たことを判断して前記現在特性値が前記第１及び第２目
標値の他方に近づくよう前記制御信号を発生し、前記現
在特性値が前記第１及び第２目標値の他方の近傍に達し
たことを判断して前記変更手段における前記制御信号に
よる前記現在特性値の変更を終了させることを特徴とし
ている。
整幅を対応させることができる。本発明による調整装置
は、電子回路の現在特性値と目標値とを比較して前記現
在特性値と前記目標値との相違を示す比較結果を出力す
る比較手段と、制御信号に応じて前記現在特性値を変更
させる変更手段と、前記比較結果に基づき前記制御信号
を発生しかつ前記現在特性値が前記目標値の近傍に達し
たことを判断したときに前記変更手段における前記制御
信号による前記現在特性値の変更を終了させる制御手段
とを有し、前記現在特性値を前記目標値とする調整装置
であって、前記制御手段は、それぞれ前記目標値よりも
所定値だけ正負に偏倚した第１及び第２目標値が定めら
れ、調整開始から前記現在特性値が前記第１及び第２目
標値の一方に近づくよう前記制御信号を発生し、前記現
在特性値が前記第１及び第２目標値の一方の近傍に達し
たことを判断して前記現在特性値が前記第１及び第２目
標値の他方に近づくよう前記制御信号を発生し、前記現
在特性値が前記第１及び第２目標値の他方の近傍に達し
たことを判断して前記変更手段における前記制御信号に
よる前記現在特性値の変更を終了させることを特徴とし
ている。
【００１０】前記所定値には、前記制御手段による前記
変更手段の最小調整幅を対応させることができる。上記
調整装置において、前記電子回路は、サーボループであ
り、所定周波数の外乱信号を発生する外乱発生手段と、
前記サーボループにおける誤差信号ラインに前記外乱信
号を加える加算手段と、前記誤差信号の前記所定周波数
成分を抽出するフィルタ手段とを有し、前記変更手段
は、前記加算手段の後段に設けられた可変利得型増幅手
段からなり、前記比較手段は、前記外乱信号の位相を基
準値とし前記フィルタ手段の出力信号と前記基準値との
位相差を前記現在特性値として前記目標値と比較するよ
うにしても良い。
変更手段の最小調整幅を対応させることができる。上記
調整装置において、前記電子回路は、サーボループであ
り、所定周波数の外乱信号を発生する外乱発生手段と、
前記サーボループにおける誤差信号ラインに前記外乱信
号を加える加算手段と、前記誤差信号の前記所定周波数
成分を抽出するフィルタ手段とを有し、前記変更手段
は、前記加算手段の後段に設けられた可変利得型増幅手
段からなり、前記比較手段は、前記外乱信号の位相を基
準値とし前記フィルタ手段の出力信号と前記基準値との
位相差を前記現在特性値として前記目標値と比較するよ
うにしても良い。
【００１１】これとは異なり、上記調整装置において、
前記電子回路は、サーボループであり、所定周波数の外
乱信号を発生する外乱発生手段と、前記サーボループに
おける誤差信号ラインに前記外乱信号を加える加算手段
と、前記誤差信号の前記所定周波数成分を抽出するフィ
ルタ手段とを有し、前記変更手段は、前記加算手段の後
段に設けられた可変利得型増幅手段からなり、前記比較
手段は、前記外乱信号のレベルを前記目標値としかつ前
記フィルタ手段の出力信号のレベルを前記現在特性値と
して比較するレベル比較器により構成されるようにして
も良い。
前記電子回路は、サーボループであり、所定周波数の外
乱信号を発生する外乱発生手段と、前記サーボループに
おける誤差信号ラインに前記外乱信号を加える加算手段
と、前記誤差信号の前記所定周波数成分を抽出するフィ
ルタ手段とを有し、前記変更手段は、前記加算手段の後
段に設けられた可変利得型増幅手段からなり、前記比較
手段は、前記外乱信号のレベルを前記目標値としかつ前
記フィルタ手段の出力信号のレベルを前記現在特性値と
して比較するレベル比較器により構成されるようにして
も良い。
【００１２】前記制御手段は、前記サーボループの閉成
状態下において調整開始するものとすることができる。
さらに本発明による調整装置は、電子回路の現在特性値
と目標値とを比較して前記現在特性値と前記目標値との
相違を示す比較結果を出力する比較手段と、制御信号に
応じて前記現在特性値を変更させる変更手段と、前記比
較結果に基づき前記制御信号を発生しかつ前記現在特性
値が前記目標値の近傍に達したことを判断したときに前
記変更手段における前記制御信号による前記現在特性値
の変更を終了させる制御手段とを有し、前記現在特性値
を前記目標値とする調整装置であって、前記制御手段
は、それぞれ前記目標値よりも所定値だけ正負に偏倚し
た第１及び第２目標値が定められ、調整開始から前記現
在特性値が前記第１及び第２目標値の一方に近づくよう
前記制御信号を発生し、前記現在特性値が前記第１及び
第２目標値の一方の近傍に達したことを判断して前記現
在特性値が前記第１及び第２目標値の他方に近づくよう
前記制御信号を発生し、前記現在特性値が前記第１及び
第２目標値の他方の近傍に達したことを判断して前記現
在特性値が前記目標値に近づくよう前記制御信号を発生
し、前記現在特性値が前記目標値の近傍に達したことを
判断して前記変更手段における前記制御信号による前記
現在特性値の変更を終了させることを特徴としている。
状態下において調整開始するものとすることができる。
さらに本発明による調整装置は、電子回路の現在特性値
と目標値とを比較して前記現在特性値と前記目標値との
相違を示す比較結果を出力する比較手段と、制御信号に
応じて前記現在特性値を変更させる変更手段と、前記比
較結果に基づき前記制御信号を発生しかつ前記現在特性
値が前記目標値の近傍に達したことを判断したときに前
記変更手段における前記制御信号による前記現在特性値
の変更を終了させる制御手段とを有し、前記現在特性値
を前記目標値とする調整装置であって、前記制御手段
は、それぞれ前記目標値よりも所定値だけ正負に偏倚し
た第１及び第２目標値が定められ、調整開始から前記現
在特性値が前記第１及び第２目標値の一方に近づくよう
前記制御信号を発生し、前記現在特性値が前記第１及び
第２目標値の一方の近傍に達したことを判断して前記現
在特性値が前記第１及び第２目標値の他方に近づくよう
前記制御信号を発生し、前記現在特性値が前記第１及び
第２目標値の他方の近傍に達したことを判断して前記現
在特性値が前記目標値に近づくよう前記制御信号を発生
し、前記現在特性値が前記目標値の近傍に達したことを
判断して前記変更手段における前記制御信号による前記
現在特性値の変更を終了させることを特徴としている。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図に
基づいて詳細に説明する。図３は、本発明による一実施
例のループ調整方法またはループ調整装置が適用された
光ディスクプレーヤにおけるフォーカスサーボループの
一部概略構成を示している。
基づいて詳細に説明する。図３は、本発明による一実施
例のループ調整方法またはループ調整装置が適用された
光ディスクプレーヤにおけるフォーカスサーボループの
一部概略構成を示している。
【００１４】図３において、Ａ／Ｄコンバータ１１は、
アナログのフォーカスエラー信号が供給され、これを所
定ビット数のディジタルフォーカスエラー信号に変換す
る。このＡ／Ｄコンバータ１１に供給されるフォーカス
エラー信号は、種々の公知な手法によって生成されるの
で、ここでは詳述しない。Ａ／Ｄコンバータ１１の出力
信号は、ディジタル加算器１２，ディジタル増幅器１３
及びディジタルイコライザ１４を経た後にＤ／Ａコンバ
ータ１５へと導かれる。Ｄ／Ａコンバータ１５は、ディ
ジタルイコライザ１４の出力信号をアナログ変換して図
示せぬフォーカスアクチュエータ駆動系へ供給する。こ
のフォーカスアクチュエータ駆動系についても種々の構
成が公知となっており、詳述はしないが、かかる駆動系
にはフォーカスアクチュエータに供給する駆動信号を生
成するドライバアンプが含まれる。フォーカスアクチュ
エータは、供給された駆動信号に応じて読取光の最適集
光位置をその光軸方向に変位させる。そしてこの最適集
光位置とディスク記録面との隔たりに応じたフォーカス
エラー信号が生成され、Ａ／Ｄコンバータ１１に供給さ
れることとなる。
アナログのフォーカスエラー信号が供給され、これを所
定ビット数のディジタルフォーカスエラー信号に変換す
る。このＡ／Ｄコンバータ１１に供給されるフォーカス
エラー信号は、種々の公知な手法によって生成されるの
で、ここでは詳述しない。Ａ／Ｄコンバータ１１の出力
信号は、ディジタル加算器１２，ディジタル増幅器１３
及びディジタルイコライザ１４を経た後にＤ／Ａコンバ
ータ１５へと導かれる。Ｄ／Ａコンバータ１５は、ディ
ジタルイコライザ１４の出力信号をアナログ変換して図
示せぬフォーカスアクチュエータ駆動系へ供給する。こ
のフォーカスアクチュエータ駆動系についても種々の構
成が公知となっており、詳述はしないが、かかる駆動系
にはフォーカスアクチュエータに供給する駆動信号を生
成するドライバアンプが含まれる。フォーカスアクチュ
エータは、供給された駆動信号に応じて読取光の最適集
光位置をその光軸方向に変位させる。そしてこの最適集
光位置とディスク記録面との隔たりに応じたフォーカス
エラー信号が生成され、Ａ／Ｄコンバータ１１に供給さ
れることとなる。
【００１５】以上の構成は、フォーカスサーボループの
主経路というべきものである。本実施例においては、デ
ィジタル増幅器１３のゲインを調整するためのゲイン調
整系が設けられており、かかる主経路の中途に設けられ
ている加算器１２へ供給される外乱信号としての正弦波
信号を発生する正弦波発生器２１が設けられている。こ
の正弦波信号は、後述の如きループゲイン調整時におい
て増幅器１３の入力信号に加えられる。
主経路というべきものである。本実施例においては、デ
ィジタル増幅器１３のゲインを調整するためのゲイン調
整系が設けられており、かかる主経路の中途に設けられ
ている加算器１２へ供給される外乱信号としての正弦波
信号を発生する正弦波発生器２１が設けられている。こ
の正弦波信号は、後述の如きループゲイン調整時におい
て増幅器１３の入力信号に加えられる。
【００１６】ゲイン調整系はまた、Ａ／Ｄコンバータ１
１の出力信号が供給される帯域通過ディジタルフィルタ
（ＢＰＦ）２２と、このフィルタ出力信号と上記正弦波
信号とが供給され、両信号の位相比較を行う位相比較器
２３と、その比較結果を平均化する平均化回路２４と、
平均化回路２４によって得られる値に基づいて増幅器１
３のゲインを調整するとともに他の必要な種々の制御を
行う制御部２５とを有する。本例では、正弦波信号の位
相を基準値とし、比較器２３によって得られるフィルタ
出力信号と当該基準値との位相差を現在特性値とする。
そしてこの現在特性値が制御部２５において目標値と比
較される。
１の出力信号が供給される帯域通過ディジタルフィルタ
（ＢＰＦ）２２と、このフィルタ出力信号と上記正弦波
信号とが供給され、両信号の位相比較を行う位相比較器
２３と、その比較結果を平均化する平均化回路２４と、
平均化回路２４によって得られる値に基づいて増幅器１
３のゲインを調整するとともに他の必要な種々の制御を
行う制御部２５とを有する。本例では、正弦波信号の位
相を基準値とし、比較器２３によって得られるフィルタ
出力信号と当該基準値との位相差を現在特性値とする。
そしてこの現在特性値が制御部２５において目標値と比
較される。
【００１７】次に、このゲイン調整系による主経路フォ
ーカスサーボループのループゲイン調整態様を説明す
る。図４は、かかる主経路フォーカスサーボループの開
ループ特性を示しており、本実施例は、この図４に示さ
れる如く、周波数２［ｋＨｚ］で開ループゲインが０
［ｄＢ］となるようなフォーカスサーボループに調整す
ることを目標にしている。
ーカスサーボループのループゲイン調整態様を説明す
る。図４は、かかる主経路フォーカスサーボループの開
ループ特性を示しており、本実施例は、この図４に示さ
れる如く、周波数２［ｋＨｚ］で開ループゲインが０
［ｄＢ］となるようなフォーカスサーボループに調整す
ることを目標にしている。
【００１８】図５は、主経路フォーカスサーボループの
閉ループ特性を示している。この閉ループ特性は、図４
の如き開ループ特性を呈するループを形成する各構成部
の伝達関数に基づくものである。つまり、目標の開ルー
プ特性は、フォーカスサーボループの閉ループ時におい
て図５の如き特性を呈することとなる。ここで、例えば
１．３８［ｋＨｚ］の周波数には、１４０．６２５［de
g ］の位相値が対応することが分かる。従って、フォー
カスサーボループの閉ループ動作時に、当該ループを通
じた１．３８［ｋＨｚ］の周波数成分の信号が１４０．
６２５［deg ］の位相値を呈していれば、目標の開ルー
プ特性に一致していることになる。以下、この周波数
１．３８［ｋＨｚ］のときの位相値１４０．６２５［de
g ］を調整目標値θT と定めることとする。
閉ループ特性を示している。この閉ループ特性は、図４
の如き開ループ特性を呈するループを形成する各構成部
の伝達関数に基づくものである。つまり、目標の開ルー
プ特性は、フォーカスサーボループの閉ループ時におい
て図５の如き特性を呈することとなる。ここで、例えば
１．３８［ｋＨｚ］の周波数には、１４０．６２５［de
g ］の位相値が対応することが分かる。従って、フォー
カスサーボループの閉ループ動作時に、当該ループを通
じた１．３８［ｋＨｚ］の周波数成分の信号が１４０．
６２５［deg ］の位相値を呈していれば、目標の開ルー
プ特性に一致していることになる。以下、この周波数
１．３８［ｋＨｚ］のときの位相値１４０．６２５［de
g ］を調整目標値θT と定めることとする。
【００１９】なお、制御部２５による１ステップ当たり
の増幅器１３のゲイン変更幅ΔＧは、位相に直すとΔθ
＝５．６２５［deg／step ］であるものとして説明す
る。また、上述の如き目標を設定した故に、正弦波発生
器２１は、１．３８［ｋＨｚ］の周波数を有する正弦波
信号を発生し、ＢＰＦ２２は、１．３８［ｋＨｚ］の周
波数成分を通過させるよう動作する。従って位相比較器
２３は、原外乱信号たる正弦波発生器２１からの１．３
８［ｋＨｚ］の正弦波信号と、ＢＰＦ２２からの同じ
１．３８［ｋＨｚ］の周波数成分であって当該原外乱信
号が閉ループを巡回して得られる戻り信号（フォーカス
エラー信号）とを位相比較することとなる。
の増幅器１３のゲイン変更幅ΔＧは、位相に直すとΔθ
＝５．６２５［deg／step ］であるものとして説明す
る。また、上述の如き目標を設定した故に、正弦波発生
器２１は、１．３８［ｋＨｚ］の周波数を有する正弦波
信号を発生し、ＢＰＦ２２は、１．３８［ｋＨｚ］の周
波数成分を通過させるよう動作する。従って位相比較器
２３は、原外乱信号たる正弦波発生器２１からの１．３
８［ｋＨｚ］の正弦波信号と、ＢＰＦ２２からの同じ
１．３８［ｋＨｚ］の周波数成分であって当該原外乱信
号が閉ループを巡回して得られる戻り信号（フォーカス
エラー信号）とを位相比較することとなる。
【００２０】図６は、制御部２５によって実行されるル
ープゲイン調整処理の手順を示しており、図７は、この
処理に対応した当該サーボループの位相及びゲイン変化
態様を示している。制御部２５は、先ず、その判定ウィ
ンドウの設定回数を数える内部カウンタｎに１をプリセ
ットする（ステップＳ０）。次いで制御部２５は、カウ
ンタｎの値を判別し（ステップＳ１）、ｎ＝１であれば
第１判定ウィンドウを設定し（ステップＳ１１）、ｎ＝
２であれば第２判定ウィンドウを設定し（ステップＳ１
２）、ｎ＝３であれば第３判定ウィンドウを設定（ステ
ップＳ１２）する。
ープゲイン調整処理の手順を示しており、図７は、この
処理に対応した当該サーボループの位相及びゲイン変化
態様を示している。制御部２５は、先ず、その判定ウィ
ンドウの設定回数を数える内部カウンタｎに１をプリセ
ットする（ステップＳ０）。次いで制御部２５は、カウ
ンタｎの値を判別し（ステップＳ１）、ｎ＝１であれば
第１判定ウィンドウを設定し（ステップＳ１１）、ｎ＝
２であれば第２判定ウィンドウを設定し（ステップＳ１
２）、ｎ＝３であれば第３判定ウィンドウを設定（ステ
ップＳ１２）する。
【００２１】ステップＳ１１においては、目標位相θT
から位相変更幅Δθを差し引いた値を中心値θ0 とし当
該中心値より位相変更幅Δθだけ上下に上限及び下限を
有する第１判定ウィンドウが設定される。実際には、目
標位相θT の値１４０．６２５［deg ］に上限を有し、
これより２Δθだけ小さい１２９．３７５［deg ］に下
限を有する第１判定ウィンドウが得られる。
から位相変更幅Δθを差し引いた値を中心値θ0 とし当
該中心値より位相変更幅Δθだけ上下に上限及び下限を
有する第１判定ウィンドウが設定される。実際には、目
標位相θT の値１４０．６２５［deg ］に上限を有し、
これより２Δθだけ小さい１２９．３７５［deg ］に下
限を有する第１判定ウィンドウが得られる。
【００２２】ステップＳ１２においては、目標位相θT
に位相変更幅Δθを加えた値を中心値θ0 とし当該中心
値より位相変更幅Δθだけ上下に上限及び下限を有する
第２判定ウィンドウが設定される。実際には、目標位相
θT の値１４０．６２５［deg ］に下限を有し、これよ
り２Δθだけ大きい１５１．８７５［deg ］に上限を有
する第２判定ウィンドウが得られる。
に位相変更幅Δθを加えた値を中心値θ0 とし当該中心
値より位相変更幅Δθだけ上下に上限及び下限を有する
第２判定ウィンドウが設定される。実際には、目標位相
θT の値１４０．６２５［deg ］に下限を有し、これよ
り２Δθだけ大きい１５１．８７５［deg ］に上限を有
する第２判定ウィンドウが得られる。
【００２３】ステップＳ１３においては、目標位相θT
を中心値θ0 とし当該中心値より位相変更幅Δθだけ上
下に上限及び下限を有する第３判定ウィンドウが設定さ
れる。これは従来の判定ウィンドウと同様である。すな
わち、目標位相θT の値１４０．６２５［deg ］を中心
に２Δθ（２×５．６２５［deg／step ］）の幅を有す
る。
を中心値θ0 とし当該中心値より位相変更幅Δθだけ上
下に上限及び下限を有する第３判定ウィンドウが設定さ
れる。これは従来の判定ウィンドウと同様である。すな
わち、目標位相θT の値１４０．６２５［deg ］を中心
に２Δθ（２×５．６２５［deg／step ］）の幅を有す
る。
【００２４】このように判定ウィンドウが設定される
と、制御部３は、かかるゲイン調整に必要な種々の初期
設定を行う（ステップＳ２）。この初期設定には、外乱
信号すなわち正弦波発生器２１によって発生される正弦
波信号のレベルを最適化したり、平均化回路２４におい
て平均化する単位のサンプル数を設定したり、さらには
サーボループを所定の閉ループ状態にするための制御を
行う処理を含む。
と、制御部３は、かかるゲイン調整に必要な種々の初期
設定を行う（ステップＳ２）。この初期設定には、外乱
信号すなわち正弦波発生器２１によって発生される正弦
波信号のレベルを最適化したり、平均化回路２４におい
て平均化する単位のサンプル数を設定したり、さらには
サーボループを所定の閉ループ状態にするための制御を
行う処理を含む。
【００２５】初期設定の後、制御部２５は、実際の調整
開始からの所定時間を計時する内部タイマーを起動させ
る（ステップＳ３）。そして制御部２５は、比較器２３
からの当該閉ループの現位相差が、設定された判定ウィ
ンドウの中心値θ0 に近づくようΔθに対応するΔＧだ
け増幅器１３のゲインＫｇを変更せしめる（ステップＳ
４０）。これにより、増幅器１３は、そのゲインを変え
て外乱として入った加算器１２を経た正弦波信号を増幅
し、当該閉ループ内に通ぜしめる。ゲインＫｇの変更が
終了すると、制御部２５は、比較器２３の両入力信号間
の位相差が現時点で設定されている判定ウィンドウ内に
入ったか否かを判別する（ステップＳ４１）。入ってい
なければ、制御部２５は、ステップＳ３において起動し
たタイマーが所定時間を計時したか否かを判別し（ステ
ップＳ４２）、所定時間を計時していなければ、ステッ
プＳ４０へ移行して再びΔＧだけ増幅器１３のゲインＫ
ｇを変更させる処理を行う。ステップＳ４０ないしＳ４
２の処理を繰り返すことにより、閉ループの位相差は、
設定された判定ウィンドウの中心値θ0 に近づくことと
なる。
開始からの所定時間を計時する内部タイマーを起動させ
る（ステップＳ３）。そして制御部２５は、比較器２３
からの当該閉ループの現位相差が、設定された判定ウィ
ンドウの中心値θ0 に近づくようΔθに対応するΔＧだ
け増幅器１３のゲインＫｇを変更せしめる（ステップＳ
４０）。これにより、増幅器１３は、そのゲインを変え
て外乱として入った加算器１２を経た正弦波信号を増幅
し、当該閉ループ内に通ぜしめる。ゲインＫｇの変更が
終了すると、制御部２５は、比較器２３の両入力信号間
の位相差が現時点で設定されている判定ウィンドウ内に
入ったか否かを判別する（ステップＳ４１）。入ってい
なければ、制御部２５は、ステップＳ３において起動し
たタイマーが所定時間を計時したか否かを判別し（ステ
ップＳ４２）、所定時間を計時していなければ、ステッ
プＳ４０へ移行して再びΔＧだけ増幅器１３のゲインＫ
ｇを変更させる処理を行う。ステップＳ４０ないしＳ４
２の処理を繰り返すことにより、閉ループの位相差は、
設定された判定ウィンドウの中心値θ0 に近づくことと
なる。
【００２６】ステップＳ４２において、タイマーが所定
時間を既に計時していることが判別された場合、制御部
２５は、ゲインＫｇの変更を中止する（ステップＳ
５）。これは、制御部２５が、ループ特性の調整にあま
りにも多くの時間が掛かりすぎており、何らかの理由に
よって当該閉ループの位相合わせ（ゲイン合わせ）が不
可能となったものと判断したからである。
時間を既に計時していることが判別された場合、制御部
２５は、ゲインＫｇの変更を中止する（ステップＳ
５）。これは、制御部２５が、ループ特性の調整にあま
りにも多くの時間が掛かりすぎており、何らかの理由に
よって当該閉ループの位相合わせ（ゲイン合わせ）が不
可能となったものと判断したからである。
【００２７】ステップＳ４１において閉ループの位相が
判定ウィンドウに入ったことが判別された場合及びステ
ップＳ５においてゲインの変更を中止した場合は、カウ
ンタｎの値が３であるか否かを判別する（ステップＳ
６）。そしてｎ＝３であれば第１ないし第３判定ウィン
ドウによる全てのループ調整が終了したものと判断して
本処理ルーチンを終了し、ｎ＜３であればカウンタｎの
値を１インクリメントさせ（ステップＳ７）、ステップ
Ｓ１に移行する。
判定ウィンドウに入ったことが判別された場合及びステ
ップＳ５においてゲインの変更を中止した場合は、カウ
ンタｎの値が３であるか否かを判別する（ステップＳ
６）。そしてｎ＝３であれば第１ないし第３判定ウィン
ドウによる全てのループ調整が終了したものと判断して
本処理ルーチンを終了し、ｎ＜３であればカウンタｎの
値を１インクリメントさせ（ステップＳ７）、ステップ
Ｓ１に移行する。
【００２８】かくして、閉ループの調整処理は、第１，
第２，第３判定ウィンドウの順に、各対応する判定ウィ
ンドウによる閉ループのゲイン調整がなされ、第３判定
ウィンドウによるゲイン調整の後に全ての処理が終了す
る運びとなる。かかる閉ループゲイン調整における当該
ループの位相差及びゲイン変化態様を図７を参照してさ
らに詳しく説明すると、先ず図７の左側に示される縦軸
は、先の図４において説明した如き開ループ時における
２［ｋＨｚ］でのゲインに相当する。この縦軸に対応し
て、その右側に、閉ループ時における１．３８［ｋＨ
ｚ］での位相差を表す縦軸が示されている。既述の内容
からも分かるように、左側縦軸における目標ゲイン０
［ｄＢ］は、右側縦軸における位相差１４０．６２５
［deg ］に対応する。以下では、代表的な例を２つ挙げ
て説明する。
第２，第３判定ウィンドウの順に、各対応する判定ウィ
ンドウによる閉ループのゲイン調整がなされ、第３判定
ウィンドウによるゲイン調整の後に全ての処理が終了す
る運びとなる。かかる閉ループゲイン調整における当該
ループの位相差及びゲイン変化態様を図７を参照してさ
らに詳しく説明すると、先ず図７の左側に示される縦軸
は、先の図４において説明した如き開ループ時における
２［ｋＨｚ］でのゲインに相当する。この縦軸に対応し
て、その右側に、閉ループ時における１．３８［ｋＨ
ｚ］での位相差を表す縦軸が示されている。既述の内容
からも分かるように、左側縦軸における目標ゲイン０
［ｄＢ］は、右側縦軸における位相差１４０．６２５
［deg ］に対応する。以下では、代表的な例を２つ挙げ
て説明する。
【００２９】いま、最初に得られる閉ループの位相差が
点ｐ５に対応しているものとすると、当該位相差が、第
１目標値たるθ0 ＝θT −Δθに近づくように、時間の
経過とともにΔθすなわち５．６２５［deg ］ずつ下げ
られる。この結果、点ｐ２において位相差が第１判定ウ
ィンドウ内に入り、またこの場合は最終目標値θT の１
４０．６２５［deg ］に達する。この場合は、その後に
第２判定ウィンドウが設定されたとしても、既に位相差
が第２判定ウィンドウ内に存在するので点ｐ１において
直ちに第２判定ウィンドウによる調整が終了する。そし
てさらに第３判定ウィンドウが設定されると、やはり位
相差が第３判定ウィンドウ内に存在するので点ｐ０にお
いて直ちに第３判定ウィンドウによる調整が終了し、も
ってゲインＫｇの制御が終了することとなる。結局、得
られる位相差は、最終目標値θTに丁度一致し、目標ゲ
インの０［ｄＢ］に正確に合わせ込まれた状態でループ
特性の調整が完了するのである。
点ｐ５に対応しているものとすると、当該位相差が、第
１目標値たるθ0 ＝θT −Δθに近づくように、時間の
経過とともにΔθすなわち５．６２５［deg ］ずつ下げ
られる。この結果、点ｐ２において位相差が第１判定ウ
ィンドウ内に入り、またこの場合は最終目標値θT の１
４０．６２５［deg ］に達する。この場合は、その後に
第２判定ウィンドウが設定されたとしても、既に位相差
が第２判定ウィンドウ内に存在するので点ｐ１において
直ちに第２判定ウィンドウによる調整が終了する。そし
てさらに第３判定ウィンドウが設定されると、やはり位
相差が第３判定ウィンドウ内に存在するので点ｐ０にお
いて直ちに第３判定ウィンドウによる調整が終了し、も
ってゲインＫｇの制御が終了することとなる。結局、得
られる位相差は、最終目標値θTに丁度一致し、目標ゲ
インの０［ｄＢ］に正確に合わせ込まれた状態でループ
特性の調整が完了するのである。
【００３０】一方、最初に得られる閉ループの位相がｑ
５に対応しているものとすると、当該位相差が、第１目
標値たるθ0 ＝θT −Δθに近づくように、時間の経過
とともにΔθずつ上げられる。この結果、点ｑ３におい
て位相差が第１判定ウィンドウ内に入る。その後、第２
判定ウィンドウが設定されると、第２目標値たるθ0＝
θT ＋Δθに近づくように、時間の経過とともにΔθず
つさらに上げられる。この結果、点ｑ１において位相差
が第２判定ウィンドウ内に入るとともに、ここで最終目
標値たる１４０．６２５［deg ］に達する。そして第３
判定ウィンドウが設定されると、当然ここでも位相差が
第３判定ウィンドウ内に存在するので点ｑ０において直
ちに第３判定ウィンドウによる調整が終了し、もってゲ
インＫｇの制御が終了することとなる。結局、得られる
位相差は、最終目標値θT に丁度一致し、目標ゲインの
０［ｄＢ］に正確に合わせ込まれた状態でループ特性の
調整が完了する。
５に対応しているものとすると、当該位相差が、第１目
標値たるθ0 ＝θT −Δθに近づくように、時間の経過
とともにΔθずつ上げられる。この結果、点ｑ３におい
て位相差が第１判定ウィンドウ内に入る。その後、第２
判定ウィンドウが設定されると、第２目標値たるθ0＝
θT ＋Δθに近づくように、時間の経過とともにΔθず
つさらに上げられる。この結果、点ｑ１において位相差
が第２判定ウィンドウ内に入るとともに、ここで最終目
標値たる１４０．６２５［deg ］に達する。そして第３
判定ウィンドウが設定されると、当然ここでも位相差が
第３判定ウィンドウ内に存在するので点ｑ０において直
ちに第３判定ウィンドウによる調整が終了し、もってゲ
インＫｇの制御が終了することとなる。結局、得られる
位相差は、最終目標値θT に丁度一致し、目標ゲインの
０［ｄＢ］に正確に合わせ込まれた状態でループ特性の
調整が完了する。
【００３１】なお、上述から明らかなように、第３判定
ウィンドウによる調整を行わなくとも原理的に目標値へ
位相及びゲインを引き込むことはできるが、信頼性を高
めるために本実施例では最後に第３判定ウィンドウによ
る調整を行っている。かくして本実施例においては、最
終目標値（θT ）に前後する第１及び第２目標値とを使
い、第１目標値への位相差及びゲインの引き込みと第２
目標値への位相差及びゲインの引き込みとを順に行って
いるので、最終目標値へ確実に位相差及びゲインを合わ
せ込むことができる。
ウィンドウによる調整を行わなくとも原理的に目標値へ
位相及びゲインを引き込むことはできるが、信頼性を高
めるために本実施例では最後に第３判定ウィンドウによ
る調整を行っている。かくして本実施例においては、最
終目標値（θT ）に前後する第１及び第２目標値とを使
い、第１目標値への位相差及びゲインの引き込みと第２
目標値への位相差及びゲインの引き込みとを順に行って
いるので、最終目標値へ確実に位相差及びゲインを合わ
せ込むことができる。
【００３２】なお、これまでの説明においては、フォー
カスサーボループの特性を調整する態様を挙げたが、こ
れに限らず、トラッキングサーボループを始め種々のサ
ーボループに本発明は適用可能であるし、広くは一般の
電子回路にも適用可能である。このようなサーボループ
以外の適用対象としては、いわゆるバイアス調整回路や
ディスクプレーヤ等におけるトラッキングバランス調整
回路などが挙げられる。要は、電子回路の現在特性値と
目標値とを比較して当該現在特性値と目標値との相違を
示す比較結果を得、この比較結果に基づく制御信号に応
じて現在特性値を変更させるとともに、比較結果に基づ
き現在特性値が目標値の近傍に達したことを判断したと
きに制御信号による現在特性値の変更を終了させること
により、現在特性値を目標値に調整するシステムに本発
明は適用可能である。
カスサーボループの特性を調整する態様を挙げたが、こ
れに限らず、トラッキングサーボループを始め種々のサ
ーボループに本発明は適用可能であるし、広くは一般の
電子回路にも適用可能である。このようなサーボループ
以外の適用対象としては、いわゆるバイアス調整回路や
ディスクプレーヤ等におけるトラッキングバランス調整
回路などが挙げられる。要は、電子回路の現在特性値と
目標値とを比較して当該現在特性値と目標値との相違を
示す比較結果を得、この比較結果に基づく制御信号に応
じて現在特性値を変更させるとともに、比較結果に基づ
き現在特性値が目標値の近傍に達したことを判断したと
きに制御信号による現在特性値の変更を終了させること
により、現在特性値を目標値に調整するシステムに本発
明は適用可能である。
【００３３】また、上記実施例においては、閉ループの
位相差に基づいてループゲインを調整しているが、先の
図１に示したようなゲインをみて調整するようにするこ
とも可能である。この場合、基本的には、図３の構成に
おいて位相比較器３に代えてレベル比較器を用いること
で実現することができる。さらに上記実施例において
は、第１判定ウィンドウと第２判定ウィンドウとの境界
を最終目標値に対応させているが、必ずしもこのような
厳密な対応にしなくとも良い。例えば、第１判定ウィン
ドウの上限を第２判定ウィンドウの下限より高く設定し
ても、すなわち２つのウィンドウ領域が重複しても本発
明特有の効果は得られる。
位相差に基づいてループゲインを調整しているが、先の
図１に示したようなゲインをみて調整するようにするこ
とも可能である。この場合、基本的には、図３の構成に
おいて位相比較器３に代えてレベル比較器を用いること
で実現することができる。さらに上記実施例において
は、第１判定ウィンドウと第２判定ウィンドウとの境界
を最終目標値に対応させているが、必ずしもこのような
厳密な対応にしなくとも良い。例えば、第１判定ウィン
ドウの上限を第２判定ウィンドウの下限より高く設定し
ても、すなわち２つのウィンドウ領域が重複しても本発
明特有の効果は得られる。
【００３４】この他にも、上記実施例では限定的な説明
を行ったが、当業者の設計可能な範囲で適宜改変するこ
とができる。
を行ったが、当業者の設計可能な範囲で適宜改変するこ
とができる。
【００３５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ループ特性等の調整終了を判定するウィンドウの分解能
を変えることなくループ特性等の精確な調整を行うこと
ができる。
ループ特性等の調整終了を判定するウィンドウの分解能
を変えることなくループ特性等の精確な調整を行うこと
ができる。
【図１】 従来のフォーカスサーボループの一部構成が
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図２】 図１におけるゲイン調整手段の動作を示すグ
ラフである。
ラフである。
【図３】 本発明による一実施例のループ調整方法また
はループ調整装置が適用された光ディスクプレーヤにお
けるフォーカスサーボループの一部概略構成を示すブロ
ック図である。
はループ調整装置が適用された光ディスクプレーヤにお
けるフォーカスサーボループの一部概略構成を示すブロ
ック図である。
【図４】 図３のフォーカスサーボループの調整条件を
説明するための当該開ループ特性を示すボーデ線図であ
る。
説明するための当該開ループ特性を示すボーデ線図であ
る。
【図５】 図３のフォーカスサーボループの調整条件を
説明するための当該閉ループ特性を示すボーデ線図であ
る。
説明するための当該閉ループ特性を示すボーデ線図であ
る。
【図６】 図３のフォーカスサーボループに付随するル
ープ特性制御部により実行されるループゲイン調整処理
の手順を示すフローチャートである。
ープ特性制御部により実行されるループゲイン調整処理
の手順を示すフローチャートである。
【図７】 図６の処理に対応した当該サーボループの位
相及びゲイン変化態様を示すグラフである。
相及びゲイン変化態様を示すグラフである。
【符号の説明】
１１ Ａ／Ｄコンバータ
１２ 加算器
１３ 増幅器
１４ ディジタルイコライザ
１５ Ｄ／Ａコンバータ
２１ 正弦波発生回路
２２ 帯域通過フィルタ
２３ 位相比較器
２４ 平均化回路
２５ 制御回路
フロントページの続き
(72)発明者 佐藤 健
埼玉県川越市大字山田字西町25番地１パ
イオニア株式会社 川越工場内
(72)発明者 高橋 正和
埼玉県川越市大字山田字西町25番地１パ
イオニア株式会社 川越工場内
(72)発明者 君川 雄一
埼玉県川越市大字山田字西町25番地１パ
イオニア株式会社 川越工場内
(72)発明者 木村 基
埼玉県川越市大字山田字西町25番地１パ
イオニア株式会社 川越工場内
(56)参考文献 特開 平５−250702（ＪＰ，Ａ)
特開 平７−141666（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−19829（ＪＰ，Ａ)
特公 平８−33761（ＪＰ，Ｂ２)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G05B 13/02
G11B 7/085
G11B 7/09
Claims (8)
- 【請求項１】 電子回路の現在特性値と目標値とを比較
して前記現在特性値と前記目標値との相違を示す比較結
果を得、前記比較結果に基づく制御信号に応じて前記現
在特性値を変更させるとともに、前記比較結果に基づき
前記現在特性値が前記目標値の近傍に達したことを判断
したときに前記制御信号による前記現在特性値の変更を
終了させ、前記現在特性値を前記目標値とする調整方法
であって、 それぞれ前記目標値よりも所定値だけ正負に偏倚した第
１及び第２目標値を定め、調整開始から前記現在特性値
が前記第１及び第２目標値の一方に近づくよう前記制御
信号を発生し、前記現在特性値が前記第１及び第２目標
値の一方の近傍に達したことを判断して前記現在特性値
が前記第１及び第２目標値の他方に近づくよう前記制御
信号を発生し、前記現在特性値が前記第１及び第２目標
値の他方の近傍に達したことを判断して前記制御信号に
よる前記現在特性値の変更を終了させることを特徴とす
る電子回路の特性の調整方法。 - 【請求項２】 前記所定値は、前記現在特性値の最小調
整幅に対応することを特徴とする請求項１記載の調整方
法。 - 【請求項３】 電子回路の現在特性値と目標値とを比較
して前記現在特性値と前記目標値との相違を示す比較結
果を出力する比較手段と、制御信号に応じて前記現在特
性値を変更させる変更手段と、前記比較結果に基づき前
記制御信号を発生しかつ前記現在特性値が前記目標値の
近傍に達したことを判断したときに前記変更手段におけ
る前記制御信号による前記現在特性値の変更を終了させ
る制御手段とを有し、前記現在特性値を前記目標値とす
る調整装置であって、 前記制御手段は、それぞれ前記目標値よりも所定値だけ
正負に偏倚した第１及び第２目標値が定められ、調整開
始から前記現在特性値が前記第１及び第２目標値の一方
に近づくよう前記制御信号を発生し、前記現在特性値が
前記第１及び第２目標値の一方の近傍に達したことを判
断して前記現在特性値が前記第１及び第２目標値の他方
に近づくよう前記制御信号を発生し、前記現在特性値が
前記第１及び第２目標値の他方の近傍に達したことを判
断して前記変更手段における前記制御信号による前記現
在特性値の変更を終了させることを特徴とする電子回路
の特性の調整装置。 - 【請求項４】 前記所定値は、前記制御手段による前記
変更手段の最小調整幅に対応することを特徴とする請求
項３記載の調整装置。 - 【請求項５】 前記電子回路は、サーボループであり、 所定周波数の外乱信号を発生する外乱発生手段と、前記
サーボループにおける誤差信号ラインに前記外乱信号を
加える加算手段と、前記誤差信号の前記所定周波数成分
を抽出するフィルタ手段とを有し、 前記変更手段は、前記加算手段の後段に設けられた可変
利得型増幅手段からなり、 前記比較手段は、前記外乱信号の位相を基準値とし前記
フィルタ手段の出力信号と前記基準値との位相差を前記
現在特性値として前記目標値と比較することを特徴とす
る請求項３または４記載の調整装置。 - 【請求項６】 前記電子回路は、サーボループであり、 所定周波数の外乱信号を発生する外乱発生手段と、前記
サーボループにおける誤差信号ラインに前記外乱信号を
加える加算手段と、前記誤差信号の前記所定周波数成分
を抽出するフィルタ手段とを有し、 前記変更手段は、前記加算手段の後段に設けられた可変
利得型増幅手段からなり、 前記比較手段は、前記外乱信号のレベルを前記目標値と
しかつ前記フィルタ手段の出力信号のレベルを前記現在
特性値として比較するレベル比較器により構成されるこ
とを特徴とする請求項３または４記載の調整装置。 - 【請求項７】 前記制御手段は、前記サーボループの閉
成状態下において調整開始することを特徴とする請求項
５または６記載の調整装置。 - 【請求項８】 電子回路の現在特性値と目標値とを比較
して前記現在特性値と前記目標値との相違を示す比較結
果を出力する比較手段と、制御信号に応じて前記現在特
性値を変更させる変更手段と、前記比較結果に基づき前
記制御信号を発生しかつ前記現在特性値が前記目標値の
近傍に達したことを判断したときに前記変更手段におけ
る前記制御信号による前記現在特性値の変更を終了させ
る制御手段とを有し、前記現在特性値を前記目標値とす
る調整装置であって、 前記制御手段は、それぞれ前記目標値よりも所定値だけ
正負に偏倚した第１及び第２目標値が定められ、調整開
始から前記現在特性値が前記第１及び第２目標値の一方
に近づくよう前記制御信号を発生し、前記現在特性値が
前記第１及び第２目標値の一方の近傍に達したことを判
断して前記現在特性値が前記第１及び第２目標値の他方
に近づくよう前記制御信号を発生し、前記現在特性値が
前記第１及び第２目標値の他方の近傍に達したことを判
断して前記現在特性値が前記目標値に近づくよう前記制
御信号を発生し、前記現在特性値が前記目標値の近傍に
達したことを判断して前記変更手段における前記制御信
号による前記現在特性値の変更を終了させることを特徴
とする電子回路の特性の調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17265797A JP3429162B2 (ja) | 1997-06-27 | 1997-06-27 | 電子回路の特性の調整方法及び調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17265797A JP3429162B2 (ja) | 1997-06-27 | 1997-06-27 | 電子回路の特性の調整方法及び調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1124705A JPH1124705A (ja) | 1999-01-29 |
| JP3429162B2 true JP3429162B2 (ja) | 2003-07-22 |
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ID=15945970
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17265797A Expired - Fee Related JP3429162B2 (ja) | 1997-06-27 | 1997-06-27 | 電子回路の特性の調整方法及び調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3429162B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN103264230B (zh) * | 2013-04-16 | 2016-04-20 | 周德海 | 一种激光电源能量反馈控制装置 |
-
1997
- 1997-06-27 JP JP17265797A patent/JP3429162B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
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