JP3425328B2 - 光スポットのフォーカス変位検出方法及び光ディスク装置 - Google Patents
光スポットのフォーカス変位検出方法及び光ディスク装置Info
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- JP3425328B2 JP3425328B2 JP15384797A JP15384797A JP3425328B2 JP 3425328 B2 JP3425328 B2 JP 3425328B2 JP 15384797 A JP15384797 A JP 15384797A JP 15384797 A JP15384797 A JP 15384797A JP 3425328 B2 JP3425328 B2 JP 3425328B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク上の光
スポットのフォーカス変位を検出するフォーカス変位検
出方法とそれを用いた光ディスク装置に係り、特に、光
スポットのフォーカス変位を精密に検出する光スポット
のフォーカス変位検出方法と、光スポットを光ディスク
上のフォーカス方向に精密に位置決めすることが可能な
光ディスク装置とに関するものである。
スポットのフォーカス変位を検出するフォーカス変位検
出方法とそれを用いた光ディスク装置に係り、特に、光
スポットのフォーカス変位を精密に検出する光スポット
のフォーカス変位検出方法と、光スポットを光ディスク
上のフォーカス方向に精密に位置決めすることが可能な
光ディスク装置とに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から、光ディスク装置では、光ディ
スク面に光ビームを照射し、その光スポットを光ディス
ク面上のトラックへ位置決めするために、フォーカス制
御とトラック制御とが行なわれている。ここで、フォー
カス制御とは、光ディスク面に垂直な方向（フォーカス
方向）での光ディスク面からの光ビームの焦点位置のず
れ量（以下、光スポットのフォーカス変位という）に応
じたフォーカスエラー信号を検出し、それに基づいて、
光ビームが光ディスク面上で焦点を結ぶように、光ビー
ムの焦点位置をフォーカスアクチュエータによって光デ
ィスク面に垂直方向であるフォーカス方向に制御するも
のである。
スク面に光ビームを照射し、その光スポットを光ディス
ク面上のトラックへ位置決めするために、フォーカス制
御とトラック制御とが行なわれている。ここで、フォー
カス制御とは、光ディスク面に垂直な方向（フォーカス
方向）での光ディスク面からの光ビームの焦点位置のず
れ量（以下、光スポットのフォーカス変位という）に応
じたフォーカスエラー信号を検出し、それに基づいて、
光ビームが光ディスク面上で焦点を結ぶように、光ビー
ムの焦点位置をフォーカスアクチュエータによって光デ
ィスク面に垂直方向であるフォーカス方向に制御するも
のである。
【０００３】一方、トラック制御とは、光ディスク上の
トラックに対する光スポットのずれ量（以下、光スポッ
トのトラック変位という）に応じたトラックエラー信号
を検出し、それに基づいて光スポットがトラックに追従
するように、光スポットをトラックアクチュエータによ
ってトラックに対してディスク半径方向であるトラック
方向に位置制御するものである。
トラックに対する光スポットのずれ量（以下、光スポッ
トのトラック変位という）に応じたトラックエラー信号
を検出し、それに基づいて光スポットがトラックに追従
するように、光スポットをトラックアクチュエータによ
ってトラックに対してディスク半径方向であるトラック
方向に位置制御するものである。
【０００４】光ディスクで用いられているフォーカスエ
ラー信号は、一般に、図７に示すように、光スポットの
フォーカス変位に応じて変化する。光ディスク装置で
は、フォーカス方向に光ビームの焦点位置を移動させる
場合、フォーカスエラー信号にフォーカスオフセットを
加える。
ラー信号は、一般に、図７に示すように、光スポットの
フォーカス変位に応じて変化する。光ディスク装置で
は、フォーカス方向に光ビームの焦点位置を移動させる
場合、フォーカスエラー信号にフォーカスオフセットを
加える。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、フォーカス
エラー信号は、図７に示すように、零点を交差する極め
て微小な領域７２でのみ光スポットのフォーカス変位に
比例し、広い範囲では、この比例関係は成り立たない。
エラー信号は、図７に示すように、零点を交差する極め
て微小な領域７２でのみ光スポットのフォーカス変位に
比例し、広い範囲では、この比例関係は成り立たない。
【０００６】また、グルーブやランドにトラックが形成
されている光ディスクの場合には、光ディスクからの反
射光はかかるグルーブやランドによる回析の影響を受け
ることになる。つまり、フォーカスエラー信号の特性
は、光ビームが通過するレンズ系の収差やグルーブ，ラ
ンド形状、あるいは光スポットのトラック変位などによ
っても異なることになる。換言すれば、光ディスク装置
や光ディスク毎にフォーカスエラー信号の特性が異なる
ことになる。
されている光ディスクの場合には、光ディスクからの反
射光はかかるグルーブやランドによる回析の影響を受け
ることになる。つまり、フォーカスエラー信号の特性
は、光ビームが通過するレンズ系の収差やグルーブ，ラ
ンド形状、あるいは光スポットのトラック変位などによ
っても異なることになる。換言すれば、光ディスク装置
や光ディスク毎にフォーカスエラー信号の特性が異なる
ことになる。
【０００７】このようなことから、従来のフォーカス制
御やトラック制御の機能を備えた光ディスク装置では、
光ビームの焦点位置を光スポットのフォーカス方向の任
意の位置に高精度で位置決めすることはできなかった。
御やトラック制御の機能を備えた光ディスク装置では、
光ビームの焦点位置を光スポットのフォーカス方向の任
意の位置に高精度で位置決めすることはできなかった。
【０００８】本発明の第１の目的は、かかる問題を解消
し、光スポットのフォーカス変位を高精度で検出するこ
とができるようにした光スポットのフォーカス変位検出
方法を提供することにある。
し、光スポットのフォーカス変位を高精度で検出するこ
とができるようにした光スポットのフォーカス変位検出
方法を提供することにある。
【０００９】本発明の第２の目的は、光ビームの焦点位
置を光スポットのフォーカス方向の任意の位置に高精度
に位置決めすることができるようにした光ディスク装置
を提供することにある。
置を光スポットのフォーカス方向の任意の位置に高精度
に位置決めすることができるようにした光ディスク装置
を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成す
るためには、本発明は、光ディスク面に光スポットを照
射し、該光ディスクからの反射光を検出して光スポット
のフォーカス変位に応じたフォーカスエラー信号を生成
し、該フォーカスエラー信号を制御入力としてフォーカ
スアクチュエータにより、光ビームをフォーカス制御す
るようにし、この際、得られた該フォーカスエラー信号
に所定の異なるフォーカスオフセットを順次加えて、各
フォーカスオフセット毎にフォーカスエラー信号に対す
るフォーカスアクチュエータの入力値のゲインを測定
し、この測定された該ゲインをフォーカスエラー信号で
積分する。これにより、フォーカスエラー信号に対応す
る光スポットのフォーカス変位を算出することが可能で
ある。この場合、フォーカスアクチュエータの入力値と
しては、電流値であることが望ましいが、電圧値であっ
ても、換算が可能であるため、特に問題とはならない。
るためには、本発明は、光ディスク面に光スポットを照
射し、該光ディスクからの反射光を検出して光スポット
のフォーカス変位に応じたフォーカスエラー信号を生成
し、該フォーカスエラー信号を制御入力としてフォーカ
スアクチュエータにより、光ビームをフォーカス制御す
るようにし、この際、得られた該フォーカスエラー信号
に所定の異なるフォーカスオフセットを順次加えて、各
フォーカスオフセット毎にフォーカスエラー信号に対す
るフォーカスアクチュエータの入力値のゲインを測定
し、この測定された該ゲインをフォーカスエラー信号で
積分する。これにより、フォーカスエラー信号に対応す
る光スポットのフォーカス変位を算出することが可能で
ある。この場合、フォーカスアクチュエータの入力値と
しては、電流値であることが望ましいが、電圧値であっ
ても、換算が可能であるため、特に問題とはならない。
【００１１】光ディスク上のトラックがグルーブやラン
ドに形成されている領域では、フォーカスエラー信号の
特性が、光スポットのトラック変位に応じて変化する。
このため、光スポットのトラック変位に応じたトラック
エラー信号を検出し、該トラックエラー信号を制御入力
とするトラックアクチュエータにより、光スポットをト
ラックに対して位置決めするトラック制御を行ない、か
かるトラック制御状態で上記の光スポットのフォーカス
変位の検出を行なう。
ドに形成されている領域では、フォーカスエラー信号の
特性が、光スポットのトラック変位に応じて変化する。
このため、光スポットのトラック変位に応じたトラック
エラー信号を検出し、該トラックエラー信号を制御入力
とするトラックアクチュエータにより、光スポットをト
ラックに対して位置決めするトラック制御を行ない、か
かるトラック制御状態で上記の光スポットのフォーカス
変位の検出を行なう。
【００１２】ここで、トラックエラー信号は、一般に、
ほぼ正弦波状の波形であるため、トラック制御を行なう
ことにより、光スポットを各トラック毎に位置決めする
ことができる。各トラック毎に上記の光スポットのフォ
ーカス変位の検出を行なう場合には、上記積分計算にお
ける積分定数は、各トラック上に予め設けられたピット
あるいマークからの読取り信号の振幅が最大となるトラ
ック位置に光スポットを設定し、かかるトラック制御状
態でフォーカスエラー信号が所定の値となるように算出
することが望ましい。
ほぼ正弦波状の波形であるため、トラック制御を行なう
ことにより、光スポットを各トラック毎に位置決めする
ことができる。各トラック毎に上記の光スポットのフォ
ーカス変位の検出を行なう場合には、上記積分計算にお
ける積分定数は、各トラック上に予め設けられたピット
あるいマークからの読取り信号の振幅が最大となるトラ
ック位置に光スポットを設定し、かかるトラック制御状
態でフォーカスエラー信号が所定の値となるように算出
することが望ましい。
【００１３】上記第２の目的を達成するために、本発明
は、光ディスクに光ビームを照射する光スポット照射手
段と、光ディスクからの反射光を検出する光検出器と、
光検出器の出力から光ディスクに対する光スポットのフ
ォーカス変位に応じたフォーカスエラー信号を生成する
サーボ信号検出手段と、該フォーカスエラー信号を制御
入力とするフォーカスアクチュエータにより、光ビーム
のフォーカス制御を行なうフォーカス制御手段と、該フ
ォーカスエラー信号に所定の異なるフォーカスオフセッ
トを順次加えるフォーカスオフセット加算手段と、該フ
ォーカスオフセット毎に該フォーカスエラー信号に対す
るフォーカスアクチュエータの入力電流値のゲインを測
定するゲイン測定手段と、測定されたゲインをフォーカ
スエラー信号で積分することにより、該フォーカスエラ
ー信号に対応する光スポットのフォーカス変位を計算し
て記憶するコントローラを設ける。該コントローラは、
目標とするフォーカス変位に対応するフォーカスオフセ
ットをフォーカスエラー信号に加えることにより、光ス
ポットを任意のフォーカス変位でフォーカス制御するこ
とが可能である。
は、光ディスクに光ビームを照射する光スポット照射手
段と、光ディスクからの反射光を検出する光検出器と、
光検出器の出力から光ディスクに対する光スポットのフ
ォーカス変位に応じたフォーカスエラー信号を生成する
サーボ信号検出手段と、該フォーカスエラー信号を制御
入力とするフォーカスアクチュエータにより、光ビーム
のフォーカス制御を行なうフォーカス制御手段と、該フ
ォーカスエラー信号に所定の異なるフォーカスオフセッ
トを順次加えるフォーカスオフセット加算手段と、該フ
ォーカスオフセット毎に該フォーカスエラー信号に対す
るフォーカスアクチュエータの入力電流値のゲインを測
定するゲイン測定手段と、測定されたゲインをフォーカ
スエラー信号で積分することにより、該フォーカスエラ
ー信号に対応する光スポットのフォーカス変位を計算し
て記憶するコントローラを設ける。該コントローラは、
目標とするフォーカス変位に対応するフォーカスオフセ
ットをフォーカスエラー信号に加えることにより、光ス
ポットを任意のフォーカス変位でフォーカス制御するこ
とが可能である。
【００１４】光ディスク上のトラックがグルーブやラン
ドに形成されている領域では、フォーカスエラー信号の
特性が、光スポットのトラック変位によって変化する。
そのため、光ディスクのかかる領域に光スポットを照射
する光スポット照射手段と、該光ディスクからの反射光
を検出する光検出器と、光検出器の出力から光スポット
のフォーカス変位に応じたフォーカスエラー信号と光ス
ポットのトラック変位に応じたトラックエラー信号とを
生成するサーボ信号検出手段と、該トラックエラー信号
を制御入力とするトラックアクチュエータにより、光ス
ポットのトラック制御を行なうトラック制御手段と、該
フォーカスエラー信号を制御入力とするフォーカスアク
チュエータにより、光スポットのフォーカス制御を行な
うフォーカス制御手段と、該フォーカスエラー信号に所
定の異なるフォーカスオフセットを順次加えるフォーカ
スオフセット加算手段と、該フォーカスオフセット毎に
該フォーカスエラー信号に対するフォーカスアクチュエ
ータの入力値のゲインを測定するゲイン測定手段と、測
定されたゲインを該フォーカスエラー信号で積分するこ
とにより、該フォーカスエラー信号に対応する光スポッ
トのフォーカス変位を計算して記憶するコントローラを
設ける。コントローラは、目標とするフォーカス変位に
対応するフォーカスオフセットをフォーカスエラー信号
に加えることにより、光ビームを任意のフォーカス変位
でフォーカス制御することが可能である。
ドに形成されている領域では、フォーカスエラー信号の
特性が、光スポットのトラック変位によって変化する。
そのため、光ディスクのかかる領域に光スポットを照射
する光スポット照射手段と、該光ディスクからの反射光
を検出する光検出器と、光検出器の出力から光スポット
のフォーカス変位に応じたフォーカスエラー信号と光ス
ポットのトラック変位に応じたトラックエラー信号とを
生成するサーボ信号検出手段と、該トラックエラー信号
を制御入力とするトラックアクチュエータにより、光ス
ポットのトラック制御を行なうトラック制御手段と、該
フォーカスエラー信号を制御入力とするフォーカスアク
チュエータにより、光スポットのフォーカス制御を行な
うフォーカス制御手段と、該フォーカスエラー信号に所
定の異なるフォーカスオフセットを順次加えるフォーカ
スオフセット加算手段と、該フォーカスオフセット毎に
該フォーカスエラー信号に対するフォーカスアクチュエ
ータの入力値のゲインを測定するゲイン測定手段と、測
定されたゲインを該フォーカスエラー信号で積分するこ
とにより、該フォーカスエラー信号に対応する光スポッ
トのフォーカス変位を計算して記憶するコントローラを
設ける。コントローラは、目標とするフォーカス変位に
対応するフォーカスオフセットをフォーカスエラー信号
に加えることにより、光ビームを任意のフォーカス変位
でフォーカス制御することが可能である。
【００１５】ここで、トラックエラー信号は、一般に、
ほぼ正弦波状に変化するため、トラック制御を行なうこ
とにより、光スポットを各トラックに位置決めすること
ができる。そして、各トラック毎に上記の光スポットの
フォーカス変位の検出を行なう場合には、上記積分計算
における積分定数は、トラック上に予め設けられたピッ
トあるいマークからの信号の振幅を最大となる光スポッ
トのトラック位置で該フォーカスエラー信号が所定の値
となるように、算出することが望ましい。
ほぼ正弦波状に変化するため、トラック制御を行なうこ
とにより、光スポットを各トラックに位置決めすること
ができる。そして、各トラック毎に上記の光スポットの
フォーカス変位の検出を行なう場合には、上記積分計算
における積分定数は、トラック上に予め設けられたピッ
トあるいマークからの信号の振幅を最大となる光スポッ
トのトラック位置で該フォーカスエラー信号が所定の値
となるように、算出することが望ましい。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
より説明する。
より説明する。
【００１７】図１は本発明による光スポットのフォーカ
ス変位検出方法及びこれを用いた光ディスク装置の一実
施形態を示すブロック図であって、１は光ディスク、２
はトラックが設けられている領域、３はトラックが設け
られていない領域、４はトラック、５は光ヘッド、６は
レーザ源、７は光ビーム、８はコリメートレンズ、９は
ビームスプリッタ、１０は対物レンズ、１１は光スポッ
ト、１２は検出レンズ、１３は光検出器、１４はフォー
カスアクチュエータ、１５はトラックアクチュエータ、
１６はサーボ信号検出手段、１７はフォーカスオフセッ
ト加算手段、１８はフォーカス制御手段、１９はゲイン
測定手段、２０はコントローラ、２１はトラック制御手
段である。
ス変位検出方法及びこれを用いた光ディスク装置の一実
施形態を示すブロック図であって、１は光ディスク、２
はトラックが設けられている領域、３はトラックが設け
られていない領域、４はトラック、５は光ヘッド、６は
レーザ源、７は光ビーム、８はコリメートレンズ、９は
ビームスプリッタ、１０は対物レンズ、１１は光スポッ
ト、１２は検出レンズ、１３は光検出器、１４はフォー
カスアクチュエータ、１５はトラックアクチュエータ、
１６はサーボ信号検出手段、１７はフォーカスオフセッ
ト加算手段、１８はフォーカス制御手段、１９はゲイン
測定手段、２０はコントローラ、２１はトラック制御手
段である。
【００１８】同図において、光ディスク１には、その外
周部や内周部のようにトラックが設けられていない領域
３と、トラック４が設けられている領域２とがある。こ
こでは、この光ディスク１の領域２にグルーブとランド
とが交互に同心円状に設けられ、それらに夫々環状のト
ラックが形成された、いわゆる、ランドグルーブフォー
マットが採用されているものとする。ここでは、これら
領域２，３夫々について、光スポットのフォーカス変位
を検出するものとする。
周部や内周部のようにトラックが設けられていない領域
３と、トラック４が設けられている領域２とがある。こ
こでは、この光ディスク１の領域２にグルーブとランド
とが交互に同心円状に設けられ、それらに夫々環状のト
ラックが形成された、いわゆる、ランドグルーブフォー
マットが採用されているものとする。ここでは、これら
領域２，３夫々について、光スポットのフォーカス変位
を検出するものとする。
【００１９】光ヘッド５では、例えば、半導体レーザか
らなるレーザ源１から出射した光ビーム７がコリメート
レンズ８で平行光となり、ビームスプリッタ９で反射さ
れた後、対物レンズ１０で光ディスク１上に集光され、
光スポット１１が生ずる。また、光ディスク１で反射し
た光ビーム７は対物レンズ１０とビームスプリッタ９と
を通過し、検出レンズ１２で光検出器１３に集光されて
受光される。
らなるレーザ源１から出射した光ビーム７がコリメート
レンズ８で平行光となり、ビームスプリッタ９で反射さ
れた後、対物レンズ１０で光ディスク１上に集光され、
光スポット１１が生ずる。また、光ディスク１で反射し
た光ビーム７は対物レンズ１０とビームスプリッタ９と
を通過し、検出レンズ１２で光検出器１３に集光されて
受光される。
【００２０】光検出器１３から出力される受光状態に応
じて電気信号はサーボ信号検出手段１６に供給されて演
算処理され、光ディスク１の面に対するフォーカス方向
の光ビーム１１の焦点位置のずれ量（即ち、光スポット
１１のフォーカス変位）に応じたフォーカスエラー信号
Ｅｆと、光ディスク１上に設けられたトラック４に対す
る光スポット１１のトラック方向のずれ量（即ち、光ス
ポット１１のトラック変位）に応じたトラックエラー信
号Ｅｔとが生成される。
じて電気信号はサーボ信号検出手段１６に供給されて演
算処理され、光ディスク１の面に対するフォーカス方向
の光ビーム１１の焦点位置のずれ量（即ち、光スポット
１１のフォーカス変位）に応じたフォーカスエラー信号
Ｅｆと、光ディスク１上に設けられたトラック４に対す
る光スポット１１のトラック方向のずれ量（即ち、光ス
ポット１１のトラック変位）に応じたトラックエラー信
号Ｅｔとが生成される。
【００２１】このフォーカスエラー信号Ｅｆはフォーカ
スオフセット加算手段１７に供給されて、コントローラ
２０からのフォーカスオフセット信号Ｆｏが加算され
る。このフォーカスオフセット信号Ｆｏは動作毎に異な
る。フォーカスオフセット加算手段１７の出力信号は制
御入力としてフォーカス制御手段１８に供給され、この
フォーカス制御手段１８はこの制御入力に応じた駆動電
流Ｄｆを生成出力する。この駆動電流Ｄｆによってフォ
ーカスアクチュエータ１４が駆動されて、光スポット１
１の焦点位置が光ディスク１の面に対してフォーカス方
向の所定に位置決めされるようにフォーカス制御が行な
われる。フォーカス制御手段１８は、フォーカスオフセ
ット手段１７の出力（即ち、制御入力）が零となるよう
に、フォーカス制御を行なう。従って、このときには、
フォーカスエラー信号Ｅｆとフォーカスオフセット信号
Ｆｏとは、絶対値が等しく、互いに逆極性の信号であ
る。
スオフセット加算手段１７に供給されて、コントローラ
２０からのフォーカスオフセット信号Ｆｏが加算され
る。このフォーカスオフセット信号Ｆｏは動作毎に異な
る。フォーカスオフセット加算手段１７の出力信号は制
御入力としてフォーカス制御手段１８に供給され、この
フォーカス制御手段１８はこの制御入力に応じた駆動電
流Ｄｆを生成出力する。この駆動電流Ｄｆによってフォ
ーカスアクチュエータ１４が駆動されて、光スポット１
１の焦点位置が光ディスク１の面に対してフォーカス方
向の所定に位置決めされるようにフォーカス制御が行な
われる。フォーカス制御手段１８は、フォーカスオフセ
ット手段１７の出力（即ち、制御入力）が零となるよう
に、フォーカス制御を行なう。従って、このときには、
フォーカスエラー信号Ｅｆとフォーカスオフセット信号
Ｆｏとは、絶対値が等しく、互いに逆極性の信号であ
る。
【００２２】一方、サーボ信号検出手段１６で生成され
たトラックエラー信号Ｅｔは制御入力としてトラック制
御手段２１に供給される。このトラック制御手段２１は
この制御入力に応じた駆動電流Ｄｔを生成し、トラック
アクチュエータ１５に供給する。このトラックアクチュ
エータ１５はこの駆動電流Ｄｔによって駆動されて光ヘ
ッド５を移動させ、光スポット１１を光ディスク１のト
ラック方向に移動させて、トラック４に対して位置決め
するように、トラック制御を行なう。
たトラックエラー信号Ｅｔは制御入力としてトラック制
御手段２１に供給される。このトラック制御手段２１は
この制御入力に応じた駆動電流Ｄｔを生成し、トラック
アクチュエータ１５に供給する。このトラックアクチュ
エータ１５はこの駆動電流Ｄｔによって駆動されて光ヘ
ッド５を移動させ、光スポット１１を光ディスク１のト
ラック方向に移動させて、トラック４に対して位置決め
するように、トラック制御を行なう。
【００２３】なお、当然のことではあるが、光スポット
１１が光ディスク１のトラックが設けられていない領域
３にあるときには、サーボ信号検出手段１６でトラック
エラー信号Ｅｔが生成されないから、トラック制御手段
２１は駆動電流Ｄｔを出力せず、トラック制御は行なわ
れない。また、光スポット１１が光ディスク１のグルー
ブとランドにトラック４が設けられた領域２にあるとき
には、サーボ信号検出手段１６でトラックエラー信号Ｅ
ｔが生成されて出力され、トラック制御手段２１はトラ
ック制御を行なう。但し、光スポット１１をグルーブで
のトラックにトラック制御する場合とランドでのトラッ
クにトラック制御する場合とで、トラックエラー信号Ｅ
ｔの極性が異なる。
１１が光ディスク１のトラックが設けられていない領域
３にあるときには、サーボ信号検出手段１６でトラック
エラー信号Ｅｔが生成されないから、トラック制御手段
２１は駆動電流Ｄｔを出力せず、トラック制御は行なわ
れない。また、光スポット１１が光ディスク１のグルー
ブとランドにトラック４が設けられた領域２にあるとき
には、サーボ信号検出手段１６でトラックエラー信号Ｅ
ｔが生成されて出力され、トラック制御手段２１はトラ
ック制御を行なう。但し、光スポット１１をグルーブで
のトラックにトラック制御する場合とランドでのトラッ
クにトラック制御する場合とで、トラックエラー信号Ｅ
ｔの極性が異なる。
【００２４】次に、本発明による光スポットのフォーカ
ス変位検出方法の一実施形態を図２を参照して説明す
る。ここでは、トラックが設けられていない領域３とト
ラック４が設けられている領域２とでの検出方法につい
て説明する。
ス変位検出方法の一実施形態を図２を参照して説明す
る。ここでは、トラックが設けられていない領域３とト
ラック４が設けられている領域２とでの検出方法につい
て説明する。
【００２５】トラックが設けられていない領域３での
検出方法：この場合には、光ディスク１が一定の回転数
で回転し、光ヘッド５は位置固定されている。そして、
上記のように、トラック制御は行なわれていない。従っ
て、光スポット１１は光ディスク１上の同じ軌跡を走査
している。
検出方法：この場合には、光ディスク１が一定の回転数
で回転し、光ヘッド５は位置固定されている。そして、
上記のように、トラック制御は行なわれていない。従っ
て、光スポット１１は光ディスク１上の同じ軌跡を走査
している。
【００２６】このとき、上記のように、サーボ信号検出
手段１６からフォーカスオフセット加算手段１７にフォ
ーカスエラー信号Ｅｆが供給されるが、これとともに、
コントローラ２０からも、所定フォーカスオフセット値
のフォーカスオフセット信号Ｆｏがフォーカスオフセッ
ト加算手段１７に供給され、これらフォーカスエラー信
号Ｅｆとフォーカスオフセット信号Ｆｏとが加算され
る。このフォーカスオフセット加算手段１７の加算出力
が制御入力としてフォーカス制御手段１８に供給され、
これに応じたフォーカスアクチュエータ１４の駆動電流
Ｄｆが生成されてフォーカス制御（即ち、フォーカス制
御手段１８の制御入力が零となる制御）が行なわれるの
であるが、ゲイン測定手段１９は、この制御入力が零と
なったときのフォーカスアクチュエータ１４の駆動電流
Ｄｆとフォーカスエラー信号Ｅｆを検出し、例えば、Ｆ
ＦＴの原理に基づいて、フォーカスエラー信号Ｅｆに対
するこの駆動電流Ｄｆのゲインを測定する。この測定結
果は、コントローラ２０に取り込まれる。
手段１６からフォーカスオフセット加算手段１７にフォ
ーカスエラー信号Ｅｆが供給されるが、これとともに、
コントローラ２０からも、所定フォーカスオフセット値
のフォーカスオフセット信号Ｆｏがフォーカスオフセッ
ト加算手段１７に供給され、これらフォーカスエラー信
号Ｅｆとフォーカスオフセット信号Ｆｏとが加算され
る。このフォーカスオフセット加算手段１７の加算出力
が制御入力としてフォーカス制御手段１８に供給され、
これに応じたフォーカスアクチュエータ１４の駆動電流
Ｄｆが生成されてフォーカス制御（即ち、フォーカス制
御手段１８の制御入力が零となる制御）が行なわれるの
であるが、ゲイン測定手段１９は、この制御入力が零と
なったときのフォーカスアクチュエータ１４の駆動電流
Ｄｆとフォーカスエラー信号Ｅｆを検出し、例えば、Ｆ
ＦＴの原理に基づいて、フォーカスエラー信号Ｅｆに対
するこの駆動電流Ｄｆのゲインを測定する。この測定結
果は、コントローラ２０に取り込まれる。
【００２７】なお、フォーカスアクチュエータ１４を駆
動電圧で駆動する場合には、それを電流に換算してゲイ
ンを求める。
動電圧で駆動する場合には、それを電流に換算してゲイ
ンを求める。
【００２８】フォーカスオフセット信号Ｆｏは一定周波
数の正弦波信号に所定の値のフォーカスオフセット（直
流）が加算されたものであるが、いま、図２（ａ）に示
すように、フォーカスオフセット値fo1のフォーカスオ
フセット信号Ｆｏがフォーカスオフセット加算手段１７
に供給されて上記のゲイン測定が行なわれたものとする
と、フォーカス制御手段１８の制御入力が零となったと
きのフォーカスアクチュエータ１４の駆動電流Ｄｆは図
２（ｃ）に示すようになり、また、このときのフォーカ
スエラー信号Ｅｆは、このときのフォーカスオフセット
信号Ｆｏの極性を反転したものであるから、図２（ｄ）
に示すように、図２（ａ）に示す波形を極性反転したも
のとなる。
数の正弦波信号に所定の値のフォーカスオフセット（直
流）が加算されたものであるが、いま、図２（ａ）に示
すように、フォーカスオフセット値fo1のフォーカスオ
フセット信号Ｆｏがフォーカスオフセット加算手段１７
に供給されて上記のゲイン測定が行なわれたものとする
と、フォーカス制御手段１８の制御入力が零となったと
きのフォーカスアクチュエータ１４の駆動電流Ｄｆは図
２（ｃ）に示すようになり、また、このときのフォーカ
スエラー信号Ｅｆは、このときのフォーカスオフセット
信号Ｆｏの極性を反転したものであるから、図２（ｄ）
に示すように、図２（ａ）に示す波形を極性反転したも
のとなる。
【００２９】かかるゲイン測定が終わると、次に、図２
（ｂ）に示すように、異なるフォーカスオフセット値fo
2のフォーカスオフセット信号Ｆｏがコントローラ２０
からフォーカスオフセット加算手段１７に供給され、同
様にして、このときのフォーカスエラー信号Ｅｆに対す
る駆動電流Ｄｆのゲインがゲイン測定手段１９で測定さ
れて、その測定結果がコントローラ２０に取り込まれ
る。このように、フォーカスオフセット信号Ｆｏのフォ
ーカスオフセット値を順次異ならせて、夫々のフォーカ
スオフセット値毎にフォーカスエラー信号Ｅｆに対する
駆動電流Ｄｆのゲインを測定する動作を必要回数繰り返
す。
（ｂ）に示すように、異なるフォーカスオフセット値fo
2のフォーカスオフセット信号Ｆｏがコントローラ２０
からフォーカスオフセット加算手段１７に供給され、同
様にして、このときのフォーカスエラー信号Ｅｆに対す
る駆動電流Ｄｆのゲインがゲイン測定手段１９で測定さ
れて、その測定結果がコントローラ２０に取り込まれ
る。このように、フォーカスオフセット信号Ｆｏのフォ
ーカスオフセット値を順次異ならせて、夫々のフォーカ
スオフセット値毎にフォーカスエラー信号Ｅｆに対する
駆動電流Ｄｆのゲインを測定する動作を必要回数繰り返
す。
【００３０】ここで、フォーカス制御手段１８は、その
制御入力であるフォーカスオフセット加算手段１７の出
力を零とするように、フォーカス制御を行なうものであ
り、極性を反転したフォーカスオフセット信号Ｆｏはフ
ォーカス制御系の目標値である。即ち、フォーカスエラ
ー信号Ｅｆはフォーカスオフセット信号Ｆｏを極性反転
したものと等しいから、フォーカスエラー信号Ｅｆとゲ
インとの関係は、即ち、極性反転したフォーカスオフセ
ット信号Ｆｏとゲインとの関係ということになる。図３
は上記の測定の結果得られたフォーカスエラー信号Ｅｆ
に対するゲインの曲線の一測定例を示すものである。
制御入力であるフォーカスオフセット加算手段１７の出
力を零とするように、フォーカス制御を行なうものであ
り、極性を反転したフォーカスオフセット信号Ｆｏはフ
ォーカス制御系の目標値である。即ち、フォーカスエラ
ー信号Ｅｆはフォーカスオフセット信号Ｆｏを極性反転
したものと等しいから、フォーカスエラー信号Ｅｆとゲ
インとの関係は、即ち、極性反転したフォーカスオフセ
ット信号Ｆｏとゲインとの関係ということになる。図３
は上記の測定の結果得られたフォーカスエラー信号Ｅｆ
に対するゲインの曲線の一測定例を示すものである。
【００３１】一方、ゲインは、フォーカスオフセット信
号Ｆｏに付加されている上記正弦波信号の周波数が一定
のとき、光スポットのフォーカス変位の微係数に比例す
る。このときの比例定数は、フォーカスアクチュエータ
１４の特性やこの正弦波信号の周波数から求めることが
できる。従って、図３に示すようなゲイン曲線をフォー
カスエラー信号Ｅｆで積分し、この比例定数で除算する
ことにより、フォーカスエラー信号Ｅｆに対する光スポ
ットのフォーカス変位が得られることになる。図４はこ
のようにして図３のゲイン曲線から求めたフォーカスエ
ラー信号に対する光スポットのフォーカス変位の曲線を
示すものである。
号Ｆｏに付加されている上記正弦波信号の周波数が一定
のとき、光スポットのフォーカス変位の微係数に比例す
る。このときの比例定数は、フォーカスアクチュエータ
１４の特性やこの正弦波信号の周波数から求めることが
できる。従って、図３に示すようなゲイン曲線をフォー
カスエラー信号Ｅｆで積分し、この比例定数で除算する
ことにより、フォーカスエラー信号Ｅｆに対する光スポ
ットのフォーカス変位が得られることになる。図４はこ
のようにして図３のゲイン曲線から求めたフォーカスエ
ラー信号に対する光スポットのフォーカス変位の曲線を
示すものである。
【００３２】図３のゲイン曲線から図４の曲線を求める
方法としては、その一例として、このゲイン曲線を関数
近似して積分する方法がある。また、積分定数は求める
必要性はない。何故なら、フォーカス変位零の定義自体
が困難なためである。強いて積分定数を求めるならば、
例えば、光検出器１３で受光する光量が最大となるフォ
ーカス変位を零とすればよい。
方法としては、その一例として、このゲイン曲線を関数
近似して積分する方法がある。また、積分定数は求める
必要性はない。何故なら、フォーカス変位零の定義自体
が困難なためである。強いて積分定数を求めるならば、
例えば、光検出器１３で受光する光量が最大となるフォ
ーカス変位を零とすればよい。
【００３３】以上のようにして、光スポットのフォーカ
ス変位を検出することができ、図４に示すような光スポ
ットのフォーカス変位の曲線がコントローラ２０は記憶
される。
ス変位を検出することができ、図４に示すような光スポ
ットのフォーカス変位の曲線がコントローラ２０は記憶
される。
【００３４】そこで、光スポット１１のフォーカス変位
を所望の値に、即ち、光ビームの焦点位置を光ディスク
１に対してフォーカス方向の所望の位置を位置決めする
際には、この位置に対するフォーカスエラー信号Ｅｆが
得られるように、コントローラ２０からこのフォーカス
エラー信号Ｅｆに絶対値が等しいフォーカスオフセット
信号Ｆｏを選択し、フォーカスエラー信号Ｅｆとは極性
を逆にして出力すればよい。このようにして、光スポッ
ト１１のフォーカス変位、従って、光ビーム７の焦点位
置を任意の位置に位置決めすることができる。
を所望の値に、即ち、光ビームの焦点位置を光ディスク
１に対してフォーカス方向の所望の位置を位置決めする
際には、この位置に対するフォーカスエラー信号Ｅｆが
得られるように、コントローラ２０からこのフォーカス
エラー信号Ｅｆに絶対値が等しいフォーカスオフセット
信号Ｆｏを選択し、フォーカスエラー信号Ｅｆとは極性
を逆にして出力すればよい。このようにして、光スポッ
ト１１のフォーカス変位、従って、光ビーム７の焦点位
置を任意の位置に位置決めすることができる。
【００３５】トラックが設けられている領域２での検
出方法：この場合には、グルーブに形成されているトラ
ックとランドに形成されているトラック４とで夫々上記
の光スポット１１のフォーカス変位の検出を行なう。こ
の検出に際しては、サーボ信号検出手段１６からトラッ
クエラー信号Ｅｔも出力され、トラック制御手段２１は
このトラックエラー信号Ｅｔに応じた駆動電流Ｄｔを生
成してトラックアクチュエータ１５を駆動することによ
り、トラック制御が行なわれる。
出方法：この場合には、グルーブに形成されているトラ
ックとランドに形成されているトラック４とで夫々上記
の光スポット１１のフォーカス変位の検出を行なう。こ
の検出に際しては、サーボ信号検出手段１６からトラッ
クエラー信号Ｅｔも出力され、トラック制御手段２１は
このトラックエラー信号Ｅｔに応じた駆動電流Ｄｔを生
成してトラックアクチュエータ１５を駆動することによ
り、トラック制御が行なわれる。
【００３６】即ち、まず、例えば、光スポット１１が１
つのグルーブのトラック４を走査するようにトラック制
御が行なわれて、上記のようにして、光スポット１１の
フォーカス変位の測定を行ない、次に、光スポット１１
が１つのランドのトラック４を走査するようにトラック
制御が行なわれて、上記のようにして、光スポット１１
のフォーカス変位の測定を行なう。
つのグルーブのトラック４を走査するようにトラック制
御が行なわれて、上記のようにして、光スポット１１の
フォーカス変位の測定を行ない、次に、光スポット１１
が１つのランドのトラック４を走査するようにトラック
制御が行なわれて、上記のようにして、光スポット１１
のフォーカス変位の測定を行なう。
【００３７】図５はこのようにして得られたグルーブと
ランドとでのトラックに対するフォーカスエラー信号Ｅ
ｆに対するゲインの曲線の一測定例を示す図であるであ
る。
ランドとでのトラックに対するフォーカスエラー信号Ｅ
ｆに対するゲインの曲線の一測定例を示す図であるであ
る。
【００３８】グルーブとランドとでのトラックに対して
光スポット１１のフォーカス変位の基準を統一する必要
がある場合には、上記積分計算での積分定数を求める必
要があるが、これは、夫々のトラック上に予め設けられ
たピットあるいはマークからから得られる信号の振幅が
最大とするフォーカス変位でフォーカスエラー信号Ｅｆ
が零となるように算出すればよい。
光スポット１１のフォーカス変位の基準を統一する必要
がある場合には、上記積分計算での積分定数を求める必
要があるが、これは、夫々のトラック上に予め設けられ
たピットあるいはマークからから得られる信号の振幅が
最大とするフォーカス変位でフォーカスエラー信号Ｅｆ
が零となるように算出すればよい。
【００３９】図６はこのような積分定数を用いてグルー
ブとランドとでのトラック毎のフォーカスエラー信号Ｅ
ｆに対する光スポット１１のフォーカス変位の曲線を示
すであり、これがコントローラ２０に記憶される。この
図６から明らかなように、グルーブとランドとでは、光
スポット１１のフォーカス変位の曲線が異なることにな
る。
ブとランドとでのトラック毎のフォーカスエラー信号Ｅ
ｆに対する光スポット１１のフォーカス変位の曲線を示
すであり、これがコントローラ２０に記憶される。この
図６から明らかなように、グルーブとランドとでは、光
スポット１１のフォーカス変位の曲線が異なることにな
る。
【００４０】このようにして、グルーブとランドとでの
トラック毎のフォーカスエラー信号Ｅｆに対する光スポ
ット１１のフォーカス変位の曲線が得られることにな
り、これらをコントローラ２０に記憶しておくことによ
り、グルーブとランドとでのトラック毎に、光スポット
１１のフォーカス変位を任意に位置決めすることができ
る。
トラック毎のフォーカスエラー信号Ｅｆに対する光スポ
ット１１のフォーカス変位の曲線が得られることにな
り、これらをコントローラ２０に記憶しておくことによ
り、グルーブとランドとでのトラック毎に、光スポット
１１のフォーカス変位を任意に位置決めすることができ
る。
【００４１】なお、以上の説明では、光ディスク１の領
域２にグルーブとランドとが設けられ、夫々にトラック
４が形成されているものとしたが、グルーブかランドの
いずれかが設けられ、これにトラック４が形成された光
ディスク１であってもよく、同様にして、領域２，３で
の光スポット１１のフォーカス変位を検出することがで
きるし、その検出結果を利用して光スポット１１のフォ
ーカス変位を任意に位置決めすることができる。
域２にグルーブとランドとが設けられ、夫々にトラック
４が形成されているものとしたが、グルーブかランドの
いずれかが設けられ、これにトラック４が形成された光
ディスク１であってもよく、同様にして、領域２，３で
の光スポット１１のフォーカス変位を検出することがで
きるし、その検出結果を利用して光スポット１１のフォ
ーカス変位を任意に位置決めすることができる。
【００４２】また、上記の説明では、グルーブやランド
を、従って、トラック４を同心円状に形成したものとし
たが、螺旋状に形成した光ディスク１についても同様で
ある。但し、かかる光ディスク１の場合には、領域２で
の光スポット１１のフォーカス変位を検出する場合、ト
ラック制御により、必要回数のフォーカス変位検出動作
の間、光スポットがトラック４を走査するようにしなけ
ればならないことはいうまでもない。
を、従って、トラック４を同心円状に形成したものとし
たが、螺旋状に形成した光ディスク１についても同様で
ある。但し、かかる光ディスク１の場合には、領域２で
の光スポット１１のフォーカス変位を検出する場合、ト
ラック制御により、必要回数のフォーカス変位検出動作
の間、光スポットがトラック４を走査するようにしなけ
ればならないことはいうまでもない。
【００４３】さらに、領域２にグルーブやランドが設け
られないでトラック４が形成されている光ディスク１に
ついても同様である。
られないでトラック４が形成されている光ディスク１に
ついても同様である。
【００４４】さらにまた、上記の数値例は一例にすぎ
ず、本発明がこれによって限定されるものではない。
ず、本発明がこれによって限定されるものではない。
【００４５】さらに、光ディスクの外周部分，内周部
分，それらの間の領域について夫々光スポットの変位を
測定したが、それらの測定結果に格別の差異はなかっ
た。従って、１回の測定で充分である。
分，それらの間の領域について夫々光スポットの変位を
測定したが、それらの測定結果に格別の差異はなかっ
た。従って、１回の測定で充分である。
【００４６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
トラックによる回析の影響を受けることなく、フォーカ
スエラー信号を検出することが可能であるとともに、任
意のフォーカス方向の位置に光ビームの焦点位置を高精
度に位置決めすることが可能である。
トラックによる回析の影響を受けることなく、フォーカ
スエラー信号を検出することが可能であるとともに、任
意のフォーカス方向の位置に光ビームの焦点位置を高精
度に位置決めすることが可能である。
【図１】本発明による光スポットのフォーカス変位検出
方法を用いた光ディスク装置の一実施形態を示すブロッ
ク図である。
方法を用いた光ディスク装置の一実施形態を示すブロッ
ク図である。
【図２】図１に示した実施形態での光スポットのフォー
カス変位検出方法を示す図である。
カス変位検出方法を示す図である。
【図３】図２に示した光スポットのフォーカス変位検出
方法によって図１における光ディスクのトラックが形成
されていない領域で得られたフォーカスエラー信号に対
するゲイン曲線の一測定例を示す図である。
方法によって図１における光ディスクのトラックが形成
されていない領域で得られたフォーカスエラー信号に対
するゲイン曲線の一測定例を示す図である。
【図４】図３に示したゲイン曲線から求められたフォー
カスエラー信号に対するフォーカス変位曲線を示す図で
ある。
カスエラー信号に対するフォーカス変位曲線を示す図で
ある。
【図５】図２に示した光スポットのフォーカス変位検出
方法によって図１における光ディスクのトラックが形成
されている領域で得られたグールブとランド毎のフォー
カスエラー信号に対するゲイン曲線の一測定例を示す図
である。
方法によって図１における光ディスクのトラックが形成
されている領域で得られたグールブとランド毎のフォー
カスエラー信号に対するゲイン曲線の一測定例を示す図
である。
【図６】図３に示したゲイン曲線から求められたグール
ブとランド毎のフォーカスエラー信号に対するフォーカ
ス変位曲線を示す図である。
ブとランド毎のフォーカスエラー信号に対するフォーカ
ス変位曲線を示す図である。
【図７】従来のフォーカスエラー信号を示す特性図であ
る。
る。
１ 光ディスク
２ トラックが設けられた領域
３ トラックが設けられていない領域
４ トラック
５ 光ヘッド
７ 光ビーム
１１ 光スポット
１３ 光検出器
１４ フォーカスアクチュエータ
１５ トラックアクチュエータ
１６ サーボ信号検出手段
１７ フォーカスオフセット加算手段
１８ フォーカス制御手段
１９ ゲイン測定手段
２０ コントローラ
２１ トラック制御手段
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 昭64−89034（ＪＰ，Ａ)
特開 平１−220229（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−7311（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G11B 7/09 - 7/10
G11B 19/00 - 19/18
Claims (8)
- 【請求項１】 光ディスクに光スポットを照射し、 該光ディスクからの反射光を検出して該光ディスクに対
する該光スポットのフォーカス変位に応じたフォーカス
エラー信号を生成し、 該フォーカスエラー信号に所定の異なるフォーカスオフ
セットを順次加算し、その加算出力に応じた信号を制御
入力とするフォーカスアクチュエータにより、該光スポ
ットの焦点位置を該光ディスクに対して位置決めするフ
ォーカス制御を行ない、 各フォーカスオフセット毎に該フォーカスエラー信号に
対する該フォーカスアクチュエータの入力値のゲインを
測定し、 測定されたゲインを該フォーカスエラー信号で積分する
ことにより、該フォーカスエラー信号に対応する該光ス
ポットのフォーカス変位を算出することを特徴とする光
スポットのフォーカス変位検出方法。 - 【請求項２】 請求項１記載の光スポットのフォーカス
変位検出方法において、 前記フォーカスアクチュエータの入力値が入力電流値で
あることを特徴とする光スポットのフォーカス変位検出
方法。 - 【請求項３】 請求項１記載の光スポットのフォーカス
変位検出方法において、 前記フォーカスアクチュエータの入力値が入力電圧値で
あることを特徴とする光スポットのフォーカス変位検出
方法。 - 【請求項４】 光ディスク上のトラックに光スポットを
照射し、 該光ディスクからの反射光を検出して、該光ディスクに
対する該光スポットのフォーカス変位に応じたフォーカ
スエラー信号と、該トラックに対する該光スポットの変
位に応じたトラックエラー信号とを生成し、 該フォーカスエラー信号に所定の異なるフォーカスオフ
セットを順次加算し、その加算出力に応じた信号を制御
入力とするフォーカスアクチュエータにより、該光スポ
ットの焦点位置を該光ディスクに対して位置決めするフ
ォーカス制御を行ない、 該トラックエラー信号を制御入力とするトラックアクチ
ュエータにより、該光スポットを該トラックに対して位
置決めするトラック制御を行ない、 各フォーカスオフセット毎に該フォーカスエラー信号に
対する該フォーカスアクチュエータの制御入力値のゲイ
ンを測定し、 測定された該ゲインを該フォーカスエラー信号で積分す
ることにより、該フォーカスエラー信号に対応する該光
スポットのフォーカス変位を算出することを特徴とする
光スポットのフォーカス変位検出方法。 - 【請求項５】 請求項４記載の光スポットのフォーカス
変位検出方法において、 前記積分における積分定数は、前記トラック上に予め設
けられたピットあるいマークからの信号振幅を最大とす
る位置で前記フォーカスエラー信号が所定の値となるよ
うに算出することを特徴とする光スポットのフォーカス
変位検出方法。 - 【請求項６】 光ディスクに光スポットを照射する光ス
ポット照射手段と、該光ディスクからの反射光を検出す
る光検出器と、 該光検出器の出力から該光ディスクに対する該光スポッ
トのフォーカス変位に応じたフォーカスエラー信号を生
成するサーボ信号検出手段と、 該フォーカスエラー信号に所定の異なるフォーカスオフ
セットを順次加えるフォーカスオフセット加算手段と、 フォーカスオフセット加算手段の出力信号に応じた信号
を制御入力とするフォーカスアクチュエータにより、該
光スポットの焦点位置を該光ディスクに対して位置決め
するように、フォーカス制御を行なうフォーカス制御手
段と、 該フォーカスエラー信号に対する該フォーカスアクチュ
エータの制御入力値のゲインを測定するゲイン測定手段
と、 測定された該ゲインを該フォーカスエラー信号で積分す
ることにより、該フォーカスエラー信号に対応する該光
スポットのフォーカス変位を計算して記憶するコントロ
ーラを設け、 該コントローラは、目標とするフォーカス変位に対応す
るフォーカスオフセットを該フォーカスエラー信号に加
え、該光スポットを任意のフォーカス変位にフォーカス
制御することを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項７】 光ディスク上のトラックに光スポットを
照射する光スポット照射手段と、 該光ディスクからの反射光を検出する光検出器と、 該光検出器の出力から該光ディスクに対する該光スポッ
トのフォーカス変位に応じたフォーカスエラー信号と該
トラックに対する該光スポットの変位に応じたトラック
エラー信号を生成するサーボ信号検出手段と、 該トラックエラー信号を制御入力とするトラックアクチ
ュエータにより、該光スポットを該トラックに対して位
置決めするようにトラック制御を行なうトラック制御手
段と、 該フォーカスエラー信号に所定の異なるフォーカスオフ
セットを順次加えるフォーカスオフセット加算手段と、 該フォーカスオフセット加算手段の出力に応じた信号を
制御入力としてフォーカスアクチュエータにより、該光
スポットの焦点位置を該光ディスクに対して位置決めす
るようにフォーカス制御を行なうフォーカス制御手段
と、 該フォーカスエラー信号に対する該フォーカスアクチュ
エータの制御入力値のゲインを測定するゲイン測定手段
と、 測定された該ゲインを該フォーカスエラー信号で積分す
ることにより、該フォーカスエラー信号に対応する該光
スポットのフォーカス変位を計算して記憶するコントロ
ーラとを設け、 該コントローラは、目標とするフォーカス変位に対応す
るフォーカスオフセットを該フォーカスエラー信号に加
え、該光スポットを任意のフォーカス変位でフォーカス
制御することを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項８】 請求項７記載の光ディスク装置におい
て、 前記積分計算における積分定数は、前記トラック上に予
め設けられたピットあるいマークからの信号振幅を最大
とする位置で前記フォーカスエラー信号が所定の値とな
るように、算出することを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15384797A JP3425328B2 (ja) | 1997-06-11 | 1997-06-11 | 光スポットのフォーカス変位検出方法及び光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15384797A JP3425328B2 (ja) | 1997-06-11 | 1997-06-11 | 光スポットのフォーカス変位検出方法及び光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH113527A JPH113527A (ja) | 1999-01-06 |
| JP3425328B2 true JP3425328B2 (ja) | 2003-07-14 |
Family
ID=15571410
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15384797A Expired - Fee Related JP3425328B2 (ja) | 1997-06-11 | 1997-06-11 | 光スポットのフォーカス変位検出方法及び光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3425328B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4699423B2 (ja) * | 2006-06-22 | 2011-06-08 | パナソニック株式会社 | 光ディスク装置 |
-
1997
- 1997-06-11 JP JP15384797A patent/JP3425328B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH113527A (ja) | 1999-01-06 |
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