JP3413238B2 - 位相制御膜構造体 - Google Patents
位相制御膜構造体Info
- Publication number
- JP3413238B2 JP3413238B2 JP07446393A JP7446393A JP3413238B2 JP 3413238 B2 JP3413238 B2 JP 3413238B2 JP 07446393 A JP07446393 A JP 07446393A JP 7446393 A JP7446393 A JP 7446393A JP 3413238 B2 JP3413238 B2 JP 3413238B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- phase control
- control film
- film
- phase
- spectral
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/14—Condensers affording illumination for phase-contrast observation
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B1/00—Optical elements characterised by the material of which they are made; Optical coatings for optical elements
- G02B1/10—Optical coatings produced by application to, or surface treatment of, optical elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
Description
膜,変調コントラスト顕微鏡用の変調膜,及び瞳変調用
の変調膜等としての利用が可能で、且つ振幅変調と位相
変調とを同時的に行ない得るようにした位相制御膜構造
体に関するものである。
れる光吸収膜の先行技術には、次のようなものがある。
最初に、光吸収膜における反射防止膜の条件として、 (1) 膜構造形式が、少なくとも光吸収膜,及び透明膜
によって構成されていること、 (2) 光吸収膜によって反射された光線を打ち消すのに
必要な反射防止膜としての透明膜を有すること、 (3) 反射防止膜の位相条件から、光吸収膜で挟まれた
透明膜の厚さと屈折率との積(nd)が、反射防止した
い光の波長(λ)の略1/4であること、 (4) 反射防止膜の振幅条件から、光吸収膜の屈折率,
吸収係数と透明膜の屈折率とが、望ましくは、次式の値
Rが小さくなるような関係にあること、 R=(n−n0 )2 +k2 /(n+n0 )2 +
k2 但し、n0 ;透明物質の屈折率 n ;金属膜の屈折率 k ;金属膜の吸収係数 等を考慮した膜構成としては、例えば、特公昭52−2
9935,及び特公昭55−47361によって開示さ
れた技術が知られている。又、位相制御膜の条件とし
て、 (5) 光吸収膜によって変化した透過光の位相を透明膜
で補うようにしていること、 (6) 位相制御膜部分を透過した光線と位相制御膜部分
以外の部分を透過した光線との位相差が、目的の値に適
合すること、等を考慮した膜構成としては、例えば、本
願人の出願に係る特開昭56−8107によって開示さ
れた技術が知られている。
としての特公昭52−29935は、Tiとインコネル
を用いて、膜の分光透過率を制御するようにしたことを
特徴としているが、この先行技術においては、膜の分光
透過率を制御する手段の記述はあっても、分光位相差,
及び分光反射率を制御する手段についての言及がなく、
極めて当然なことではあるが、これを位相制御膜として
用いた場合、位相変調ができず、且つ膜の反射によるフ
レアーのために良好な像を得にくい。
膜と光吸収膜とを交互に配して、膜の分光反射率を制御
するようにしたことを特徴としており、光吸収膜には、
TiとCrとを用いているが、この先行技術において
は、膜の分光反射率を制御する手段の記述こそあって
も、分光位相差の制御に関する記載がなく、各波長での
分光位相差を制御できない。
−8107は、金属膜と誘電体膜とを交互に用い、光吸
収膜の反射防止をなすようにしたことを特徴としている
が、この既提案による技術の場合には、分光位相差の制
御を意図していないために、その記述が改めてはなされ
ておらず、同様に、各波長での分光位相差を制御できな
い。
過率を制御する手段とか、当該光吸収膜の反射防止に関
する手段等が知られているが、膜を透過する光線の分光
位相差と分光透過率,分光反射率を同時に制御するもの
は、未だ全く知られてはおらず、このために、例えば、
分光透過率が十分に制御された位相制御膜を用い、振
幅,及び位相の各変調を行った場合には、光学設計時に
適用した主波長においてこそ良好な像を得られはして
も、主波長以外の波長では、膜から射出される光線の位
相がずれて了い、必ずしも良好な像が得られないという
課題がある。
のには、次のような条件を考慮する必要がある。先ず、
位相制御膜の分光位相差は、光吸収膜の屈折率,分光吸
収係数,及び透明膜の厚さ,屈折率によって変化するか
ら、特に、1種類の物質で位相制御を行なおうとする
と、その位相差Δλは、 Δλ=λx となる。つまり、例えば、波長λ=550nmにおい
て、位相x=1/4としたときには、Δλ=137.5
となるが、この膜を可視域全体(400〜700nm)
で使用する場合、Δλ=100〜175となるために、
透明膜に比較して分光吸収係数,及び分光屈折率の変化
の大きい光吸収膜のn(λ)の値を用い、Δλを各波長
で1/4λにできるように補正しなければならない。
又、位相制御膜の分光透過率は、光吸収膜の分光吸収係
数によって変化する場合が多く、このために、分光透過
率を目的値にし得るような分光吸収係数をもった金属を
用いることにより、当該分光透過率が最適になるような
解を求めなければならない。
善について、これを1種類の光吸収膜と1層の透明膜と
で満足させるのは、極めて困難なことである。例えば、
1種類の金属による光吸収膜と1層の透明膜とで位相制
御膜を光学設計する場合には、ここでの金属膜としてA
gを用い、且つ透明膜としてMgF2を用いることによ
り、分光位相差,及び分光透過率に関しては、最適な解
が得られるのであるが、分光反射率については、金属膜
としてのAgの光学定数上,反射防止を行うことができ
ない。又、分光位相差が十分に制御され、且つ分光透過
率についても十分に制御された位相制御膜を用いて、振
幅,及び位相の各変調を行った場合にも、当該位相制御
膜が、反射防止を含む光学設計になっていなければ、膜
の反射でフレアーが発生するために良好な像を得られな
い。更に、その他の物質を用いても、1種類の金属によ
る光吸収膜と1層の透明膜とによって、分光位相差,及
び分光透過率,分光反射率を補正することは、この種の
位相制御膜の光学設計に最適な材料が知られていない以
上、極めて困難なものであった。
するためになされたもので、その目的とするところは、
膜を透過する光線の分光位相差と、分光透過率,及び分
光反射率とを制御して、その振幅変調と位相変調とを可
能にした,この種の位相制御膜構造体を提供することで
ある。
するために、本第1の発明に係る位相制御膜構造体は、
光の透過率,反射率,及び位相を夫々に制御する位相制
御膜構造体であって、光吸収物質としてNiのみを用い
てなる光吸収膜と、MgF2を含む透明膜とを交互に少
なくとも2層づつ有して位相制御膜を構成し、前記位相
制御膜部分を透過した光線の分光位相と、位相制御膜部
分以外の接合剤部分を透過した光線の分光位相との差
を、当該位相制御膜の光学性能,及び接合剤の屈折率に
よって制御させ、当該分光位相差を略可視域の全範囲に
亘って約90度程度にすることを特徴とするものであ
る。
体は、光の透過率,反射率,及び位相を夫々に制御する
位相制御膜構造体であって、光吸収物質としてNiのみ
を用いてなる光吸収膜と、MgF2を含む透明膜とを交
互に少なくとも2層づつ有して位相制御膜を構成し、前
記位相制御膜部分を透過した光線の分光位相と、位相制
御膜部分以外の接合剤部分を透過した光線の分光位相と
の差を、当該位相制御膜の光学性能,及び接合剤の屈折
率によって制御させ、当該分光位相差を略可視域の全範
囲に亘って約0度程度にすることを特徴とするものであ
る。
体は、本第1又は第2の発明に係る位相制御膜構造体に
おいて、形成する各膜の総膜数が奇数層にされると共
に、当該各膜の構成物質が、入射面側と射出面側とで対
称的に配置されていることを特徴とするものである。
は、以上の各特徴に加えて、次の各項に挙げる特徴をも
含むものとする。
造体,又は第1の発明に付加される位相制御膜構造体,
ないしは、前記(A)項に記載の位相制御膜構造体におい
て、前記光吸収膜にNiのみからなる金属膜を用い、当
該金属膜を酸化させて、その光学定数を制御することを
特徴とする位相制御膜構造体である。
造体,又は第1の発明に付加される位相制御膜構造体,
ないしは、前記(A)項に記載の位相制御膜構造体におい
て、前記光吸収膜として、所要のガラス面,又はレンズ
面の所定部分にNiを直接,コートさせることにより、
当該ガラス面,又はレンズ面とNiとを接触させて構成
することを特徴とする位相制御膜構造体である。
造体,又は第1の発明に付加される位相制御膜構造体,
ないしは、前記(A),又は(B)の各項に記載の位相制御膜
構造体において、前記光吸収膜にNiのみからなる金属
膜を用い、当該金属膜に接合剤を接触させて構成するこ
とを特徴とする位相制御膜構造体である。
造体,又は第1の発明に付加される位相制御膜構造体,
ないしは、前記(A),又は(B)の各項に記載の位相制御膜
構造体において、所要のガラス面,又はレンズ面での所
定接合部に位相制御膜を設け、当該位相制御膜部分を透
過した光線の分光位相と、位相制御膜部分の周辺接合剤
部分を透過した光線の分光位相との差を制御することを
特徴とする位相制御膜構造体である。
造体,又は第1の発明に付加される位相制御膜構造体,
ないしは、前記(A),又は(B)の各項に記載の位相制御膜
構造体において、前記接合剤として、シリコン,又はア
クリルを主成分とする屈折率n=1.4〜1.6程度の
材料を用い、当該接合剤によって、位相制御膜部分にお
ける歪み,又は紫外線を照射したときの位相制御膜部分
における自家蛍光に対処させることを特徴とする位相制
御膜構造体である。
造体,又は第1の発明に付加される位相制御膜構造体,
ないしは、前記(A),又は(B)の各項に記載の位相制御膜
構造体において、前記位相制御膜部分を光学系,又は対
物レンズの瞳位置の近傍に配置させることを特徴とする
位相制御膜構造体である。
構成において、位相制御膜の片面の分光反射率を補正す
ることにより、分光位相差,及び分光透過率を最適な値
に設定しようとすると、この場合、少なくとも2層の光
吸収膜と2層の透明膜とが必要である。即ち、前記分光
透過率,及び片面の分光反射率を制御するのには、2層
からなる光吸収膜の間に透明膜を有し、且つ金属膜での
反射を打ち消し得る膜構成にされていることであり、
又、前記光の位相差を制御するのには、これに加えて、
更に、1層の透明膜,つまり、2層からなる透明膜を有
する膜構成にされて、位相差を調整できるようにするこ
とである。このためには、少なくとも1種類以上の金属
を、光吸収物質として用いると共に、光吸収膜を2層以
上,及び透明膜を2層以上に亘って配置させた膜構成に
することにより、所期通りの分光位相差,及び分光透過
率,片面の分光反射率の制御が可能になるもので、この
とき、2層からなる金属膜においては、分光透過率の制
御がなされ、且つこれらの各金属膜間での透明膜におい
ては、反射防止の機能,その他の透明膜においては、分
光位相差の制御を約90度程度に行うことにより、目的
とする所要の性能が得られる。なお、この場合の分光位
相差とは、例えば、図1に示すように、所要の一方,こ
の場合、位相制御膜形成側のガラス基板,又はレンズ1
1における所定の接合面11a部に対して、本発明での
位相制御膜12を形成すると共に、接合剤13を介して
他方,この場合、非位相制御膜形成側のガラス基板,又
はレンズ14を接合させた構成において、当該位相制御
膜12の部分を透過した光線Aの分光位相と、位相制御
膜12の部分以外の周辺接合剤13の部分を透過した光
線Bの分光位相との差を云う。
用いると、前記分光位相差を略可視域の全範囲に亘って
約90度程度にすることができる。Niのように、分光
吸収係数の波長毎の値が、短波長側で小さく、且つ長波
長側で大きい物質を用いると、分光透過率15%程度の
位相制御膜の場合、90度近辺で波長毎の分光位相差を
小さくし得る。
質としての金属には、Niを光吸収膜として用いると、
分光透過率の青が僅かに高い光吸収膜を形成できる。
を用いた場合には、Niの酸化量によって、NiとNi
の酸化物との光学定数の中間の値をとることが可能であ
る。このように光吸収膜に用いる金属の酸化量を制御す
ることにより、最適な位相制御膜を形成し得るのであ
る。
にする場合には、膜構造体の総膜数を奇数層にすると共
に、各膜の構成物質が入射面側と射出面側とで対称構造
にされていることが重要である。このように膜構造を入
射面側と射出面側とで対称にするときは、極めて簡単に
両面反射防止作用が得られるもので、何れの面側からの
光線入射であっても、像にフレアーが発生したりせず、
略同一の光学特性を与えることができる。
合、一般的には、ガラス基板とか接合剤に対して直接,
金属膜を接触させると、当該金属膜が酸化されて性能劣
化を生ずる惧れがあるので、通常、このようには構成し
ない。しかし、性能上の面では、金属膜をガラス基板等
に直接コートすることで、位相差量を最適にできる場合
があり、同様に、金属膜が接合剤と接するときにも、位
相差量を最適にできる場合がある。この場合、当該金属
膜として、化学的に安定な酸化しにくい金属であるNi
を用いると、ガラスとか接合剤から当該金属に与える影
響が少なくされ、これによって性能劣化を防止し得るの
である。
制御膜を設計する場合には、ガラス基板上に金属膜を直
接コートし、且つその膜構成として、ここでも亦、入射
面側と射出面側とで対称的になるようにした方が、良好
な性能を得られて有利である。即ち、今、分光位相差が
90度程度,分光透過率が15%程度での位相制御膜を
NiとMgF2とで設計しようとすると、この場合、用
いられるNiの分光吸収係数が大きく、且つ分光屈折率
が低いために、金属膜と金属膜間での透明膜の光学的厚
さが可視光の1/4λ程度になって、ガラス基板上に金
属膜を直接コートする構成にしなければ、両面反射防止
の設計が困難になる。
トして、ガラス基板,又はレンズの表面で使用すること
も可能であるが、これらのガラス基板面,又はレンズ面
での接合部に設ける設計にするときは、当該膜の加工精
度が、表面で使用する場合に比較して向上させ得るので
あり、更に、その光学性能上も、空気の波長分散に対し
て、MgF2と接合剤のアッベ数が近い値であるため
に、この位相制御膜は、接合部に設ける構成にした方が
有利である。又、化学的に耐久性の弱い膜についても、
このようにガラス基板面,又はレンズ面での接合部に設
ける構成にすることにより、良好な耐久性を与え得る。
例えば、屈折率n=1.4〜1.6の接合剤で行う方
が、当該位相制御膜の設計上,より一層容易な構成にす
ることができる。ここで、屈折率n=1.4以下の接合
剤は、樹脂の場合,殆んど存在せず、又、屈折率n=
1.6以上の接合剤は、その分光透過率に色付けがあっ
て問題となる。又、当該位相制御膜について、これを蛍
光用位相差対物レンズとか、蛍光用変調コントラスト対
物レンズ等に用いた場合、その接合剤が自家蛍光を発生
することがあり、更に、蛍光用対物レンズ,微分干渉用
対物レンズ,偏光用対物レンズ等に用いた場合、その接
合剤による硝材歪みを発生することがある。この点に対
処するためには、主成分がシリコン系樹脂,又はアクリ
ル系樹脂からなる接合剤を用いるようにすればよく、こ
れによって自家蛍光,硝材歪みを小さくし得るのであ
る。
を0度の設計にするときは、振幅のみの変調が可能にな
る。そして、この場合は、変調コントラスト(ホフマ
ン)用瞳変調器として用いることができる。
を、位相差顕微鏡,変調コントラスト顕微鏡,及び瞳変
調に用いる場合、像の中心部から周辺部までを均一に変
調しようとすると、対物レンズ瞳に変調器を入れる必要
がある。又、対物レンズ瞳と共益な位置であるリレー系
の瞳でも、その瞳変調が可能である。又、位相差顕微鏡
とか変調コントラスト顕微鏡の場合は、更に、照明系の
対物レンズ瞳と共益な位置に開口を有する構成になる。
示すように、ガラス基板上で光軸中心の輪帯状に形成さ
せると、位相差顕微鏡用モジュレータとして有効であ
る。
示すように、ガラス基板上で光軸中心を除く部分に、当
該光軸に対して非対称に形成させると、変調コントラス
ト顕微鏡用モジュレータとして有効である。
を、参考例とともに説明する。 第1参考例. 第1参考例は、ガラス基板(BK7)上にあって、屈折
率n=1.56の接合剤を用い、2層の光吸収膜(T
i,インコネル)と2層の透明膜(MgF2)とを交互
に積層させると共に、光吸収膜には、夫々に異なるTi
とインコネルとの2種の金属を用いて分光透過率を制御
した場合の片面反射防止による位相制御膜構造体の具体
例である。このように順次に積層された各層2乃至5の
成分,厚さd(nm),及び波長550nmの光の透過
率Tは、下記の通りである。 層 成 分 d(nm) T(%) 1 BK7 2 MgF2 545.00000 3 Ti 37 4 MgF2 106.00000 5 インコネル 2.17321 68 又、分光位相差特性は、図4に示す通りであり、分光透
過率(T)特性,及び分光反射率(R)特性は、図5に
示す通りである。
率n=1.54の接合剤を用い、前記第1参考例におけ
る膜構成を入射側と射出側とで対称的に積層させた場合
の両面反射防止による位相制御膜構造体の具体例であ
る。このように順次に積層された各層2乃至10の成
分,厚さd(nm),及び波長550nmの光の透過率
Tは、下記の通りである。 層 成 分 d(nm) T(%) 1 BK7 2 MgF2 220.40000 3 Ti 64.5 4 MgF2 73.90000 5 インコネル 55.4 6 MgF2 93.90000 7 インコネル 55.4 8 MgF2 73.90000 9 Ti 64.5 10 MgF2 220.40000 11 BK7 又、分光位相差特性は、図6に示す通りであり、分光透
過率(T)特性,及び分光反射率(R)特性は、図7に
示す通りである。
率n=1.56の接合剤を用い、前記第1参考例におけ
る光吸収膜として、AgとTiとの2種の金属を用いる
と共に、膜構成を入射側と射出側とで対称的に積層させ
た場合の両面反射防止による位相制御膜構造体の具体例
である。このように順次に積層された各層2乃至12の
成分,厚さd(nm),及び波長550nmの光の透過
率Tは、下記の通りである。 層 成 分 d(nm) T(%) 1 BK7 2 MgF2 180.50000 3 Ti 67.3 4 MgF2 95.20000 5 Ti 57.6 6 SiO2 58.90000 7 Ag 86.4 8 SiO2 58.90000 9 Ti 57.6 10 MgF2 95.20000 11 Ti 67.3 12 MgF2 180.50000 13 BK7 又、分光位相差特性は、図8に示す通りであり、分光透
過率(T)特性,及び分光反射率(R)特性は、図9に
示す通りである。
例であって、ガラス基板(BK7)間にあって、屈折率
n=1.56の接合剤を用い、前記第1参考例における
光吸収膜として、Niのみの金属を用いると共に、膜構
成を入射側と射出側とで対称的に積層させた場合の両面
反射防止による位相制御膜構造体の具体例である。この
ように順次に積層された各層2乃至8の成分,厚さd
(nm),及び波長550nmの光の透過率Tは、下記
の通りである。 層 成 分 d(nm) T(%) 1 BK7 2 Ni 4.09705 64 3 MgF2 107.50100 4 Ni 8.62926 43 5 MgF2 100.76992 6 Ni 8.62926 43 7 MgF2 107.50100 8 Ni 4.09705 64 9 BK7 又、分光位相差特性は、図10に示す通りであり、分光
透過率(T)特性,及び分光反射率(R)特性は、図1
1に示す通りである。
率n=1.56の接合剤を用い、前記第1参考例におけ
る光吸収膜にとして、Ptとインコネルとの2種の金属
を用いると共に、膜構成を入射側と射出側とで対称的に
積層させた場合の両面反射防止による位相制御膜構造体
の具体例である。このように順次に積層された各層2乃
至10の成分,厚さd(nm),及び波長550nmの
光の透過率Tは、下記の通りである。 層 成 分 d(nm) T(%) 1 BK7 2 Pt 3.40572 71.2 3 MgF2 111.25928 4 Pt 5.44509 59.6 5 MgF2 59.83930 6 インコネル 1.64042 72 7 MgF2 59.83930 8 Pt 5.44509 59.6 9 MgF2 111.25928 10 Pt 3.40572 71.2 11 BK7 又、分光位相差特性は、図12に示す通りであり、分光
透過率(T)特性,及び分光反射率(R)特性は、図1
3に示す通りである。
折率n=1.56の接合剤を用い、前記第1参考例にお
ける光吸収膜として、Alとインコネルとの2種の金属
を用いると共に、膜構成を入射側と射出側とで対称的に
積層させた場合の両面反射防止による位相制御膜構造体
の具体例である。このように順次に積層された各層2乃
至12の成分,厚さd(nm),及び波長550nmの
光の透過率Tは、下記の通りである。 層 成 分 d(nm) T(%) 1 BK7 2 MgF2 163.01880 3 インコネル 2.19433 66 4 MgF2 55.17596 5 Pt 3.91660 68 6 MgF2 71.69156 7 インコネル 2.17321 66 8 MgF2 71.69156 9 Pt 3.91660 68 10 MgF2 55.17596 11 インコネル 2.19433 66 12 MgF2 163.01880 13 BK7 又、分光位相差特性は、図14に示す通りであり、分光
透過率(T)特性,及び分光反射率(R)特性は、図1
5に示す通りである。
本発明によれば、光吸収物質としてNiのみを用いてな
る光吸収膜と、MgF2を含む透明膜とを交互に少なく
とも2層づつ有して位相制御膜を構成すると共に、位相
制御膜部分を透過した光線の分光位相と、位相制御膜部
分以外の接合剤部分を透過した光線の分光位相との差
を、この位相制御膜の光学性能,及び接合剤の屈折率に
よって制御させるようにしたから、光線の位相と振幅と
を比較的広い波長域で制御し得るのである。
体構成を模式的に示す部分断面図である。
状の一例を示す平面説明図である。
状の他例を示す平面説明図である。
した場合の分光位相差特性を示すグラフである。
性,及び分光反射率特性を示すグラフである。
した場合の分光位相差特性を示すグラフである。
性,及び分光反射率特性を示すグラフである。
した場合の分光位相差特性を示すグラフである。
性,及び分光反射率特性を示すグラフである。
を具体的に適用した場合の分光位相差特性を示すグラフ
である。
特性,及び分光反射率特性を示すグラフである。
用した場合の分光位相差特性を示すグラフである。
特性,及び分光反射率特性を示すグラフである。
用した場合の分光位相差特性を示すグラフである。
特性,及び分光反射率特性を示すグラフである。
ズ
Claims (3)
- 【請求項1】 光の透過率,反射率,及び位相を夫々に
制御する位相制御膜構造体であって、 光吸収物質としてNiのみを用いてなる光吸収膜と、M
gF2を含む透明膜とを交互に少なくとも2層づつ有し
て位相制御膜を構成し、 前記位相制御膜部分を透過した光線の分光位相と、位相
制御膜部分以外の接合剤部分を透過した光線の分光位相
との差を、当該位相制御膜の光学性能,及び接合剤の屈
折率によって制御させ、 当該分光位相差を略可視域の全範囲に亘って約90度程
度にすることを特徴とする位相制御膜構造体。 - 【請求項2】 光の透過率,反射率,及び位相を夫々に
制御する位相制御膜構造体であって、 光吸収物質としてNiのみを用いてなる光吸収膜と、M
gF2を含む透明膜とを交互に少なくとも2層づつ有し
て位相制御膜を構成し、 前記位相制御膜部分を透過した光線の分光位相と、位相
制御膜部分以外の接合剤部分を透過した光線の分光位相
との差を、当該位相制御膜の光学性能,及び接合剤の屈
折率によって制御させ、 当該分光位相差を略可視域の全範囲に亘って約0度程度
にすることを特徴とする位相制御膜構造体。 - 【請求項3】 前記請求項1に記載の位相制御膜構造体
において、 形成する各膜の総膜数が奇数層にされると共に、当該各
膜の構成物質が、入射面側と射出面側とで対称的に配置
されていることを特徴とする位相制御膜構造体。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07446393A JP3413238B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | 位相制御膜構造体 |
US08/118,241 US5461516A (en) | 1993-03-31 | 1993-09-09 | Multilayer film structure |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07446393A JP3413238B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | 位相制御膜構造体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06289438A JPH06289438A (ja) | 1994-10-18 |
JP3413238B2 true JP3413238B2 (ja) | 2003-06-03 |
Family
ID=13547978
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP07446393A Expired - Fee Related JP3413238B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | 位相制御膜構造体 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5461516A (ja) |
JP (1) | JP3413238B2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0933959A (ja) * | 1995-07-14 | 1997-02-07 | Olympus Optical Co Ltd | 位相制御膜構造体 |
EE03902B1 (et) * | 1996-05-20 | 2002-12-16 | Janssen Pharmaceutica N.V. | Osakesed, nende valmistamismeetod ja kasutamine, farmatseutiline doseerimisvorm ja selle valmistamismeetod, tahke dispersioon ning farmatseutiline pakend |
DE19743027A1 (de) * | 1997-09-29 | 1999-05-12 | Leica Microsystems | Phasenring zur Realisierung eines positiven Phasenkontrastes |
JP4830183B2 (ja) * | 2000-07-19 | 2011-12-07 | ソニー株式会社 | 光学多層構造体および光スイッチング素子、並びに画像表示装置 |
US6741377B2 (en) * | 2002-07-02 | 2004-05-25 | Iridigm Display Corporation | Device having a light-absorbing mask and a method for fabricating same |
US7420725B2 (en) | 2004-09-27 | 2008-09-02 | Idc, Llc | Device having a conductive light absorbing mask and method for fabricating same |
US7289259B2 (en) | 2004-09-27 | 2007-10-30 | Idc, Llc | Conductive bus structure for interferometric modulator array |
JP4862829B2 (ja) * | 2008-01-22 | 2012-01-25 | 住友金属鉱山株式会社 | 吸収型多層膜ndフィルター |
JP5285306B2 (ja) * | 2008-03-06 | 2013-09-11 | 豊 末永 | 光学部品及び光学部品を用いた位相差顕微鏡 |
DE102011050674A1 (de) | 2011-05-27 | 2012-11-29 | Hseb Dresden Gmbh | Anordnung zur Erzeugung eines Differentialinterferenzkontrastbildes |
CN106094092B (zh) * | 2016-07-28 | 2018-05-11 | 宁波永新光学股份有限公司 | 一种用于相差显微镜的相位板 |
JP7031740B2 (ja) * | 2018-06-05 | 2022-03-08 | 株式会社ニコン | 位相板、対物レンズ、及び観察装置 |
CN113267925B (zh) * | 2021-05-13 | 2023-02-17 | 杭州科汀光学技术有限公司 | 一种具有多重防眩光功能的显示面板 |
CN113534300B (zh) * | 2021-08-26 | 2024-09-20 | 湖北科技学院 | 一种可实现反射率定向调控的反pt对称光子多层 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3499697A (en) * | 1965-01-04 | 1970-03-10 | Monsanto Co | Pellucid laminate with interference filter multilayer and monolayer |
US3846152A (en) * | 1972-05-12 | 1974-11-05 | Ppg Industries Inc | Selective reflecting metal/metal oxide coatings |
US3897140A (en) * | 1972-12-22 | 1975-07-29 | Roger W Tuthill | Multilayer solar filter reducing distortive diffraction |
US3847585A (en) * | 1973-01-08 | 1974-11-12 | Dow Chemical Co | Method for the preparation of multilayer optical filters |
JPS5845263B2 (ja) * | 1975-09-02 | 1983-10-07 | 三菱電機株式会社 | カイヘイソウチ |
JPS5547361A (en) * | 1978-09-28 | 1980-04-03 | Hitachi Metals Ltd | Magnetic alloy for dental surgery |
JPS568107A (en) * | 1979-07-03 | 1981-01-27 | Olympus Optical Co Ltd | Light absorbing film applied with antireflection |
JPS57195207A (en) * | 1981-05-26 | 1982-11-30 | Olympus Optical Co Ltd | Light absorbing film |
DE3889025T2 (de) * | 1987-01-28 | 1994-07-21 | Nissha Printing | Farbfilter und verfahren zur herstellung. |
US5173811A (en) * | 1991-10-11 | 1992-12-22 | Gumbs Associates, Inc. | Nonlinear optical shield |
-
1993
- 1993-03-31 JP JP07446393A patent/JP3413238B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1993-09-09 US US08/118,241 patent/US5461516A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06289438A (ja) | 1994-10-18 |
US5461516A (en) | 1995-10-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3413238B2 (ja) | 位相制御膜構造体 | |
JP3359114B2 (ja) | 薄膜型ndフィルター及びその製造方法 | |
AU758933B2 (en) | Partial reflector | |
US5337191A (en) | Broad band pass filter including metal layers and dielectric layers of alternating refractive index | |
US3914023A (en) | Wide-band multilayer interference filter | |
US20100188737A1 (en) | Dielectric multilayer filter | |
JPH0690045A (ja) | コーティングされた鏡を有するファブリ‐ペロ | |
JP2000255321A (ja) | モニター装置内蔵の車両用ミラー | |
US5808714A (en) | Low reflection shadow mask | |
GB2054195A (en) | Colour Selective Directional Mirrors | |
JP2000329933A (ja) | 多層膜フィルター | |
JPH0593811A (ja) | 光吸収膜 | |
JP3177318B2 (ja) | 液晶表示装置 | |
JPH0679092B2 (ja) | 着色鏡 | |
JP2003131011A (ja) | 多層膜およびそれを用いた多層膜付き基体 | |
JP3224316B2 (ja) | 二波長反射防止膜 | |
JP2005031297A (ja) | 液晶表示装置の反射防止膜付き透明基板 | |
JPH07281024A (ja) | 偏光ビームスプリッタ | |
JP2002267801A (ja) | 反射防止膜及びそれを用いた光学部材 | |
JP2835535B2 (ja) | 光学部品の反射防止膜 | |
US6627304B1 (en) | Absorbent thin-film system consisting of metal and dielectric films | |
JP2002277606A (ja) | 反射防止膜及び光学素子 | |
JP2001074904A (ja) | 二波長反射防止膜 | |
JP3531444B2 (ja) | プリズム式ビームスプリッタ | |
JPS61249018A (ja) | 空間光変調装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20030304 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090328 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090328 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100328 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110328 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110328 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120328 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |