JP3407142B2 - 電子レベル及び電子レベル用標尺 - Google Patents
電子レベル及び電子レベル用標尺Info
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Description
ル用標尺に係わり、特に、電子レベルから電子レベル用
標尺に対して、電子レベル側の各種データを送信するこ
とができ、更に電子レベル用標尺から電子レベルに対し
て、電子レベル用標尺側の各種データを送信することが
できる電子レベル及び電子レベル用標尺に関するもので
ある。
は、レベル(水準儀)と標尺が使用されていた。即ち、
測量者が、標尺の目盛りをレベルを使用して目視するこ
とにより高低差を測定していた。この古典的なレベルに
よる測量は、測量者による読み誤りが発生していた。こ
の読み誤りを解消するために、標尺の目盛り作業を電子
的に行う電子レベルが開発された。この電子レベルは例
えば、標尺側から所定信号を包含させた光を発光させ、
この光を電子レベル側で受光して識別し、標尺の目盛り
を読み取る様に構成されていた。
とのできる電子レベルを開発した。この電子レベル1
は、図2に示す様に、第1のパターンAと第2のパター
ンBと第3のパターンRが等間隔(p)で繰り返し配置
されている電子レベル用標尺2を使用している。即ち、
3種のパターンを1組として各ブロックが連続して形成
されており、最も左側に配置されたブロックを、0ブロ
ックと定義し、R(0)、A(0)、B(0)と記載す
れば、R(1)、A(1)、B(1)、R(2)、A
(2)、B(2)、・・・・・・・・と繰り返し配置さ
れている。なお、全てのパターンが等間隔pで繰り返さ
れているので、この間隔に対応した信号を基準信号とす
ることができる。
mmで固定幅となっており、第1のパターンAは、60
0mmで1周期となる様に黒部分の幅を変調しており、
第2のパターンBは、570mmで1周期となる様に黒
部分の幅を変調している。
める原理を説明すると、電子レベル用標尺2の第1のパ
ターンAは、600mmで1周期となる様に黒部分の幅
を変調しているので、変調幅を0〜10mmとすれば、
第1のパターンの幅DAは、以下の式で与えられる。
m、70mm・・・・・・である)。
ーンBは、570mmで1周期となる様に黒部分の幅を
変調しているので、第2のパターンの幅DBは、以下の
式で与えられる。
m、80mm・・・・・・である)。
Bとは、周期が僅かに異なっているため、両者の最小公
倍数である距離で同様のパターンが現れる。この例では
600mmと570mmの最小公倍数である11400
mmで同様のパターンが現れる。従って第1のパターン
Aによる信号と、第2のパターンBによる信号との位相
差は、0〜11400mmの範囲で0〜2πまで変化す
ることになる。
による信号の位相をφAとし、水平位置における第2の
パターンBによる信号の位相をφBとすれば、電子レベ
ル用標尺2における水平位置Hは、
との距離を演算する必要がある。
読み取り、フーリエ変換を施せば、図4のパワースペク
トルに示す様に、第1のパターンAの周期成分と、第2
のパターンBの周期成分と、第3のパターンRと第1の
パターンAと第2のパターンBの1組(1ブロック)と
した周期成分(基準信号の3倍の周期となる)と、基準
信号(パターンの等間隔ピッチ(p)に対応するもの)
の周期成分とが得られる。そしてスペクトル群で最も周
期の小さいものは、基準信号(パターンの等間隔ピッチ
(p)に対応するもの)であり、この等間隔ピッチは既
知であるからレンズの結像公式により、電子レベル1と
電子レベル用標尺2との距離を演算することができる。
の場合を説明する。
標尺2の像を、リニアセンサで電気信号に変換し、この
信号をフーリエ変換すれば、等間隔ピッチpに相当する
信号を得ることができる。ここで、高速フーリエ変換で
求められた位相をθとし、水平位置に相当するリニアセ
ンサのアドレス位置(第mビット目)の位相をθmとす
れば、
水平位置H1を測定することができる(精測定)。
ル用標尺2に形成された等間隔ピッチpのパターン開始
位置からの概略位置を求める必要がある。そこでリニア
センサの出力信号を、基準信号(等間隔ピッチpに相当
する信号)の前後半ピッチ分で積分する。更にこの積分
値を3つ毎に間引けば(プロダクト検波)、第1のパタ
ーンAに相当する信号1と、第2のパターンBに相当す
る信号2と、第3のパターンRに相当する信号3とが得
られる。しかしながら第3のパターンRは、幅が変調さ
れていない上、第1のパターンAと第2のパターンBの
最大変調幅が10mmに対して、第3のパターンRは8
mmしかないので、第3のパターンRに相当する信号3
は、積分値が略一定であり、信号1や信号2に比較して
約80%の値となる。
ーンAと、第2のパターンBとは、定められた順番に繰
り返して配置されているので、間引かれた信号が、第3
のパターンR、第1のパターンA、第2のパターンBの
何れであるか、決定することができる。そして、(A−
R)と(B−R)の水平位置における位相を求め、第3
式に代入すれば、電子レベル用標尺2の何れの位置の、
第1のパターンA、第2のパターンB、第3のパターン
Rの組合せであるか決定することができ、電子レベル用
標尺2における水平位置を求めることができる。(粗測
定)
基準信号の位相を求め(精測定)、また、水平位置に相
当する基準信号が、電子レベル用標尺2のパターン開始
位置を基準に何れの位置にあるかを、第1のパターン
A、第2のパターンBの位相差より求め(粗測定)、こ
れら精測定H1と粗測定H2を桁合わせすることにより求
めることができる。
がり、立ち下がりエッジを求めるため出力信号を微分す
る。これらのエッジにより、黒部分のエッジ間の間隔を
求めることができる。更に、黒部分の中心に相当するビ
ットを求める。このビットの間隔が、第1のパターン
A、第2のパターンB、第3のパターンRの等間隔ピッ
チpである基準信号となる。
(第mビット)の前後の基準信号の位置を求めると、基
準信号の幅は、電子レベル用標尺2上で10mmに相当
するため、前後の基準信号をそれぞれNf(第Nf ビッ
ト)、Nb(第Nbビット)とすれば、
終位置をNs とし、個数をnとすれば、各基準信号の間
隔の平均は、
レベル用標尺2との概略距離を求めることができる。
き、一定幅である第3のパターンRを認識し、第3のパ
ターンR、第1のパターンA、第2のパターンBの順に
配置されていることから、第3のパターンR、第1のパ
ターンA、第2のパターンBの対応が決定される。
のアドレス位置(第mビット目)を含む基準信号が、第
3のパターンR、第1のパターンA、第2のパターンB
の何れに属するかを定めると共に、この何番目ブロック
に該当するかを決定する。即ち、R(n)、A(n)、
B(n)であれば、n番目のブロックということにな
る。
とができる。そして2個のnから条件に合致したnaを
選択し、更に周期からnを求め、第2のパターンBの幅
DBを算出する。更に第2式に代入した後、DBを比較
し、一致した時のnが求めるブロック番号となる。この
ブロック番号から、概略水準高H2(粗測定)を、各パ
ターン毎に求めることができる。
ンA、第2のパターンBに相当する信号の黒部分の幅よ
り基準信号を求め、水平位置に相当するアドレス位置の
基準信号を定めることにより精測定を行い、第1のパタ
ーンA、第2のパターンBに相当する信号の位相差によ
り粗測定を行い、これら精測定H1と粗測定H2を桁合わ
せすることにより、水準高を求めることができる。
子レベルは、高低差を自動的に求めることができるが、
電子レベル用の標尺が傾いたり、温度変化があると正確
な高低差を求めることができないという問題点があっ
た。更に標尺の設置完了等の合図も、作業者の声やトラ
ンシーバー等で連絡しなければならないという問題点が
あった。
を行う場合には、各種データと、電子レベルの測定デー
タとを対応させ、その都度、補正演算をしなければなら
ないという深刻な問題点があった。
当たって、前視用標尺と後視用標尺の間隔を等距離にす
る必要があるが、標尺の設置に手間がかかるという問題
点があった。
案出されたもので、測長方向に等ピッチで配列され、か
つ測長方向のパターンの幅に所定の変調がなされている
パターンを有する標尺を視準し高低差及び該標尺までの
水平距離を自動的に求める電子レベルにおいて、該標尺
パターンの信号を形成するための光電変換器を有する測
定光学系を含む望遠鏡光学系と、この光電変換器の出力
信号にフーリエ変換処理を含む信号処理を施して、前記
標尺までの水平距離を計測すると共に、前記高低差を算
出するための信号処理部と、前記光電変換器の動作と同
期して前記電子レベルが測定中であることを、前記標尺
側から認識可能とするための測定表示手段と、標尺の設
置完了又は該標尺により得られたデータを、標尺から受
信するための受信部とから構成されている。
され、かつ測長方向のパターンの幅に所定の変調がなさ
れているパターンを有する標尺を視準し高低差及び該標
尺までの水平距離を自動的に求める電子レベルにおい
て、該標尺パターンの信号を形成するための光電変換器
を有する測定光学系を含む望遠鏡光学系と、この光電変
換器の出力信号にフーリエ変換処理を含む信号処理を施
して、前記標尺までの水平距離を計測すると共に、前記
高低差を算出するための信号処理部と、測定状況や前記
標尺までの水平距離、前記高低差等の測定データ、及び
作業指示を前記標尺に送信するための送信手段と、標尺
の設置完了又は該標尺により得られたデータを、標尺か
ら受信するための受信部とから構成されている。
1又は請求項2に記載した電子レベルに使用する電子レ
ベル用標尺であって、測長方向に等ピッチで配列され、
かつ測長方向のパターンの幅に所定の変調がなされてい
るパターンを有し、電子レベルに使用される標尺におい
て、該電子レベルで計測された高低差又は標尺までの水
平距離等のデータを受信するための受信部と、この受信
手段からの受信データを演算処理するための演算処理部
と、この演算処理部で処理された信号を表示するための
表示部と、この標尺の設置完了又は該標尺により得られ
たデータを電子レベルに送信するための送信部と、この
送信部を制御するための演算処理手段と、測定者の操作
により、前記送信部の送信を開始させるための測定開始
スイッチ手段とから構成されている。
測長方向に等ピッチで配列され、かつ測長方向のパター
ンの幅に所定の変調がなされているパターンを有する標
尺を視準し高低差及び該標尺までの水平距離を自動的に
求める電子レベルであって、光電変換器を有する測定光
学系を含む望遠鏡光学系が、標尺パターンの信号を形成
し、信号処理部が、光電変換器の出力信号にフーリエ変
換処理を含む信号処理を施して、標尺までの水平距離を
計測すると共に、高低差を算出し、測定表示手段が、光
電変換器の動作と同期して電子レベルが測定中であるこ
とを、標尺側から認識可能とし、受信部が、標尺の設置
完了又は標尺により得られたデータを、標尺から受信す
ることができる。
尺までの水平距離、高低差等の測定データ、及び作業指
示を標尺に送信し、受信部が、標尺の設置完了又は標尺
により得られたデータを、標尺から受信することができ
る。
向に等ピッチで配列され、かつ測長方向のパターンの幅
に所定の変調がなされているパターンを有し、電子レベ
ルに使用される標尺であって、受信部が、電子レベルで
計測された高低差又は標尺までの水平距離等のデータを
受信し、演算処理部が、受信手段からの受信データを演
算処理し、表示部が、演算処理部で処理された信号を表
示し、送信部が、標尺の設置完了又は標尺により得られ
たデータを電子レベルに送信し、演算処理手段が送信部
を制御し、測定開始スイッチ手段が、測定者の操作によ
り、送信部の送信を開始させることができる。
る。
置は、電子レベル1と、電子レベル用標尺2とからなっ
ている。電子レベル1は、図3に示す様に整準装置10
0上に載置されており、図1に示す様に、対物レンズ部
11と、コンペンセータ12と、ビームスプリッタ13
と、接眼レンズ部14と、リニアセンサ15と、演算処
理手段16と、測定表示手段1000とから構成されて
いる。
の電子的読取用パターンの像を形成するためのものであ
る。本実施例の対物レンズ部11は、対物レンズとイン
ターナルレンズとから構成されており、インターナルレ
ンズを移動させることにより、電子レベル用標尺2のパ
ターンの像に対するピント合わせを行うことができる。
コンペンセータ12は、電子レベル1の光軸が多少傾い
ても、視準線を自動的に水平にするための自動補償機構
であり、水平光線を上下に変化させて結像させるもので
ある。ビームスプリッタ13は、光を接眼レンズ部14
方向と、リニアセンサ15方向に分割させるためのもの
である。接眼レンズ部14は、測量者が、電子レベル用
標尺2を目視するためのものである。なお対物レンズ部
11と接眼レンズ部14とが、電子レベル用標尺2を観
察するための視準光学系に該当し、また、対物レンズ部
11とリニアセンサ15とが測定光学系に該当してい
る。
よって形成された電子レベル用標尺2のパターン像を電
気信号に変換するためのものである。本実施例では、C
CDリニアセンサが使用されている。このリニアセンサ
15は、ホトダイオードを少なくとも1次元的に配置し
たリニアイメージセンサであれば、何れのセンサを採用
することができる。
もので、アンプ161と、サンプルホールド162と、
A/D変換器163と、RAM164と、クロックドラ
イバ165と、マイクロコンピュータ166とから構成
されている。この演算処理手段16には、表示器167
が接続されている。
5の動作と同期して電子レベル1が測定中であること
を、電子レベル用標尺2側から認識可能とするためのも
のである。本実施例の測定表示手段1000は、発光ダ
イオードドライバー1100と発光ダイオード1200
と送光光学系1300とから構成されている。電子レベ
ル1が測定中には、演算処理手段16のクロックドライ
バ165が、発光ダイオードドライバー1100をリニ
アセンサ15の動作と同期して駆動する様になってい
る。従って電子レベル用標尺2側の使用者は、図6に示
す様に、発光ダイオード1200の発光を確認すること
により、電子レベル1が測定中であることを知ることが
できる。
ド1200に限ることなく、電子レベル1が測定中であ
ることを確認することができれば、何れの手段を採用す
ることができる。
に、第1のパターンAと第2のパターンBと第3のパタ
ーンRから構成される電子的読取用パターンが等間隔
(p)で繰り返し配置されている。
た演算処理手段16を詳細に説明する。アンプ161
は、リニアセンサ15からの電気信号を増幅するもので
あり、サンプルホールド162は、増幅された電気信号
をクロックドライバ165からのタイミング信号でサン
プルホールドするものである。A/D変換器163は、
サンプルホールドされた電気信号をA/D変換するため
のものである。そしてRAM164は、A/D変換され
たデジタル信号を記憶するためのものである。またマイ
クロコンピュータ166は、各種演算処理を行うもので
ある。
タ12とビームスプリッタ13と接眼レンズ部14と
は、望遠鏡光学系に該当するものであり、リニアセンサ
15は光電変換器に該当するものである。
す機能を図5に基づいて説明すると、演算処理手段16
は、基準信号形成部1661と、パターン信号形成部1
662と、ブロック検出部1663と、算出部1664
と、補正高低差算出部1669と、発光ダイオード制御
部1671と、送信手段制御部1672と、受信手段制
御部1673とからなっている。基準信号形成部166
1は、リニアセンサ15から得られた電気信号から、遠
距離測定の場合には、高速フーリエ変換により等間隔ピ
ッチpに相当する基準信号を形成し、近距離測定の場合
には、リニアセンサ15の出力信号を微分し、立ち上が
り、立ち下がりエッジから基準信号を形成する。
定の場合には、基準信号の前後半ピッチ分で積分し、こ
の積分値を3つ毎に間引く(プロダクト検波)ことによ
り、第1のパターン信号と第2のパターン信号を形成
し、近距離測定の場合には、間引き動作により、第1の
パターン信号と第2のパターン信号を形成する。
場合に、第1のパターンAの幅DA及び第2のパターン
Bの幅DBを比較することにより、水平位置に相当する
ブロックが何番目のブロックであるかを決定する。
は、視準線付近の第1のパターン信号と第2のパターン
信号の位相から高低差を算出し、近距離測定の場合に
は、特定されたブロックに基づき高低差を算出する様に
なっている。
レベル用標尺2で検出された傾斜角や温度等のデータに
基づき、高低差を補正算出するためのものである。
イオードドライバー1100を制御するためのものであ
り、送信手段制御部1672と受信手段制御部1673
とは、後に説明する送信手段2000及び受信手段30
00を制御するためのものである。
された高低差を表示するもので、液晶表示等の表示手段
を採用してもよく、更に、外部記憶手段等に出力させる
構成としてもよい。また本実施例では、算出部1669
で演算した高さhに電子レベル用標尺2で検出された傾
斜角θ、温度tを使用して、補正後の高さh’を求めて
表示することもできる。
づいて説明する。第1変形例は、対物レンズ部11と、
コンペンセータ12と、ビームスプリッタ13と、接眼
レンズ部14と、リニアセンサ15と、演算処理手段1
6と、送信手段2000と、受信手段3000とから構
成されている。
ル用標尺2までの水平距離、高低差等の測定データ、又
は作業指示を電子レベル用標尺2に送信するためのもの
である。本変形例の送信手段2000は、マイクロコン
ピュータ166の命令で駆動される変調器2100と、
変調波を増幅するためのドライバー2200とからなっ
ている。マイクロコンピュータ166は、測定状況や水
平距離、高低差等の測定データ、又は作業指示を、予め
定められた変調方式で変調し、送信転送させる様になっ
ている。
とは、例えば、測定中、測定完了、測定不良等の状況を
示すものであり、作業指示とは、標尺設置位置の移動等
の指示である。
から送られて来る標尺2の設置完了又は電子レベル用標
尺2により得られたデータを受信するためのものであ
る。本変形例の受信手段3000は、アンプ3100と
復調器3200とからなっており、電子レベル用標尺2
から送られた変調波をアンプ3100で増幅し、復調器
3200した後、マイクロコンピュータ166に入力す
る様になっている。
とは、高周波により送受信してもよいが、赤外線により
送受信するシステムを採用することもできる。
実施例と同様であるから説明を省略する。
用する電子レベル用標尺2を図8及び図9に基づいて説
明する。
第1のパターンAと第2のパターンBと第3のパターン
Rから構成される電子的読取用パターン21が等間隔
(p)で繰り返し配置されている。電子レベル用標尺2
には図1及び図2に示す様に、温度センサ510と、傾
斜センサー520と、起動スイッチ530と、演算処理
部610と、表示器540と、送信部4000と、受信
部5000とから構成されている。
の周囲の温度を測定するためのもので、本実施例ではサ
ーミスタが採用されている。温度センサ510はサーミ
スタに限らず、温度測定が可能なセンサであれば何れの
ものを採用することができる。また本実施例の温度セン
サ510は、第1の温度センサ511と第2の温度セン
サ512とから構成されており、第1の温度センサ51
1は電子レベル用標尺2の上部の温度を計測し、第2の
温度センサ512は電子レベル用標尺2の下部の温度を
計測する様になっており、2つの温度センサの平均値を
取ることにより、電子レベル用標尺2の周囲の平均的温
度を得ることができる。
2の傾斜角を測定するためのものである。本実施例の傾
斜センサー520を図10及び図12に基づいて説明す
ると、傾斜センサー520は、ガラス等の絶縁材料から
構成された容器401と、この容器401に充填された
低粘性の液体402と、この液体402に封入された気
泡403とから構成された気泡管を備えている。容器4
01の上方内面は、長手方向に曲率を有する湾曲面が形
成されており、容器401は、脚部材404a、404
bにより支持されてシールドケース405内に載置され
る。
の外面には長手方向全長の約2/3に対応する中央部分
の下側約170゜の範囲に第1の電極406を設け、こ
の第1の電極406と対向する上側約170゜の範囲に
相互に分離した第2の電極407と第3の電極408と
が形成されている。また第1の電極406と第2の電極
407と第3の電極408とを取り囲むためのガード電
極409が形成されており、各電極間の漏れ抵抗をなく
し、浮遊容量を極めて微小にさせることができる。そし
て、第1の電極406とガード電極409とを等電位と
し、第1の電極406と第2の電極407との間、又は
第1の電極406と第3の電極408との間に電流を流
し、それらの充電量の変化を検出して傾斜角を求めるこ
とができる。
段に該当するもので、測定者の操作により、演算処理部
610に対して測定開始の命令を送出し、送信部400
0の送信を開始させることができる。尚、この測定スイ
ッチ530を電子レベル用標尺2ではなく電子レベル1
に設け、その信号を伝送することにより、電子レベル1
の側にいる測量者が主導で測定を行える。
の電気的構成全体の制御を司るものである。演算処理部
610は、温度センサ510や傾斜センサー520、起
動スイッチ530からの信号を取り込み、データ内容を
表示器540に表示すると共に、送信部4000を介し
て各種データを電子レベル1に転送送信する様になって
いる。なお演算処理部610は受信部5000を制御
し、電子レベル1からの信号を取り込み、更に表示器5
40に表示する等の機能を有している。ここで表示器5
40は、表示部に該当するものである。
設置完了又は電子レベル用標尺2により得られたデータ
を電子レベル1に送信するためのものである。本変形例
の送信部4000は、演算処理部610の命令で駆動さ
れる変調器4100と、変調波を増幅するためのドライ
バー4200とからなっている。演算処理部610は、
電子レベル用標尺2の設置完了又は電子レベル用標尺2
により得られたデータを予め定められた変調方式で変調
し、電子レベル1に向けて送信転送させる様になってい
る。ここで電子レベル用標尺2の設置完了とは、例え
ば、設置完了により電子レベル1に対して測定開始を要
求等が該当する。更に電子レベル用標尺2により得られ
たデータとは、温度センサ510による周囲の温度デー
タや傾斜センサー520による電子レベル用標尺2の傾
斜角データ、標尺の認識番号等が該当する。
えている場合には、測定時刻等をデータとして送信する
ことも可能である。また演算処理部610が、各種デー
タを外部記憶手段700に出力することも可能である。
段1000から送信されて来た高低差又は水平距離等の
データを受信するためのものである。本変形例の受信部
5000は、アンプ5100と復調器5200とからな
っており、電子レベル1の送信手段100から送られた
変調波をアンプ5100で増幅し、復調器5200した
後、演算処理部610に入力する様になっている。
形例の作用を図13及び図14に基づいて説明する。
り、まず電子レベル1を設置し、ステップ1(以下、S
1と略する)でリニアセンサ15による光電変換を開始
する。次にS2では、発光ダイオードドライバー110
0を駆動して発光ダイオード1200を発光させる。そ
してS3で光電変換が終了すると、S4で発光ダイオー
ドドライバー1100の駆動が停止され、発光ダイオー
ド1300が消灯して測定表示部1000の表示が消滅
する。
した場合を説明したが、電子レベル1の送信手段200
0から電子レベル用標尺2の受信部5000に向けて、
「測定中」の信号を送信する第1変形例の方式を採用す
ることもできる。
気信号を取り込み、算出部1664が高低差、及び電子
レベル用標尺2までの水平距離を測定する。
法を説明すると、電子レベル用標尺2の等間隔ピッチp
が、電子レベル1のレンズにより像wとなるので、レン
ズから電子レベル用標尺2までの距離をL、レンズから
像までの距離をdとすれば、
ら(fはレンズの焦点距離)
像wは、リニアセンサ15の1画素の長さをCとし、リ
ニアセンサ15で得られた等間隔ピッチpに相当する周
波数(サイクル)の一波長をkとすれば、w=Ckとな
る。従って、電子レベル1と電子レベル用標尺2との距
離Lは、
2との水平距離を求めることができる。
30を押すと、電子レベル用標尺2の送信部4000か
ら電子レベル1の受信手段3000に向けて、電子レベ
ル用標尺2の周囲の温度データや電子レベル用標尺2の
傾斜角データが送られる。
669が、電子レベル用標尺2の周囲の温度及び傾斜角
から、高低差の補正演算を行う。
ベル用標尺2の倒れ補正を説明する。ここで電子レベル
用標尺2の傾斜角をθとし、電子レベル1の算出部16
64で計測された高さをh、補正後の高さをh’とすれ
ば、
標尺2の温度補正を説明する。ここで電子レベル用標尺
2の周囲温度をt(℃)とし、基準温度をt0 (℃)、
標尺熱膨張係数をp(ppm)、電子レベル1の算出部
1664で計測された高さをh、補正後の高さをh’と
すれば、
669が、第7式及び第8式を演算すれば、補正後の高
さh’を求めることができる。
に進み、補正後の高さh’と電子レベル1と電子レベル
用標尺2との水平距離Lを表示器167に表示する。
であり、まずS1で電子レベル用標尺2を設置し、S2
では、電子レベル1の測定表示部1000の表示が消滅
して測定が完了したか否かを判断する。S2で、電子レ
ベル1の測定表示部1000の表示が消滅した場合に
は、S3に進んで、電子レベル用標尺2を次の測定位置
に移動させる。またS2で、電子レベル1の測定表示部
1000の表示が消滅しない場合には、S1に戻る様に
なっている。
した場合を説明したが、電子レベル1の送信手段100
0から電子レベル用標尺2の受信部5000に向けて、
「測定中」の信号を送信する第1変形例の方式を採用す
ることもできる。
ピッチで配列され、かつ測長方向のパターンの幅に所定
の変調がなされているパターンを有する標尺を視準し高
低差及び該標尺までの水平距離を自動的に求める電子レ
ベルにおいて、該標尺パターンの信号を形成するための
光電変換器を有する測定光学系を含む望遠鏡光学系と、
この光電変換器の出力信号にフーリエ変換処理を含む信
号処理を施して、前記標尺までの水平距離を計測すると
共に、前記高低差を算出するための信号処理部と、前記
光電変換器の動作と同期して前記電子レベルが測定中で
あることを、前記標尺側から認識可能とするための測定
表示手段と、標尺の設置完了又は該標尺により得られた
データを、標尺から受信するための受信部とからなるの
で、標尺側の作業者は、電子レベルが測定中であること
を確実、簡便に知ることができるという効果がある。
水平距離、前記高低差等の測定データ、又は作業指示を
前記標尺に送信するための送信手段を備えることもでき
るので、水準測量を行う場合でも簡便に、前視用標尺又
は後視用標尺とレベルとの間隔を等距離にすることがで
き、標尺の移動もスムーズに行え、作業効率が上がると
いう卓越した効果がある。
尺は、該電子レベルで計測された高低差又は標尺までの
水平距離等のデータを受信するための受信部と、この標
尺の設置完了又は該標尺により得られたデータを電子レ
ベルに送信するための送信部とを備えており、本発明の
電子レベルは、測定状況や標尺までの水平距離、高低差
等の測定データ、又は作業指示を標尺に送信するための
送信手段と、前記標尺から送られて来る該標尺の設置完
了又は該標尺により得られたデータを受信するための受
信手段とを備えているので、標尺の倒れ補正や温度補正
等を、電子レベル側で集中的に行うことができ、測量作
業が極めて効率的に行うことができるという卓越した効
果がある。
示す図である。
ある。
ある。
る。
構成を示す図である。
ある。
る。
る図である。
説明する図である。
である。
である。
である。
る。
図である。
Claims (3)
- 【請求項1】測長方向に等ピッチで配列され、かつ測長
方向のパターンの幅に所定の変調がなされているパター
ンを有する標尺を視準し高低差及び該標尺までの水平距
離を自動的に求める電子レベルにおいて、該標尺パター
ンの信号を形成するための光電変換器を有する測定光学
系を含む望遠鏡光学系と、この光電変換器の出力信号に
フーリエ変換処理を含む信号処理を施して、前記標尺ま
での水平距離を計測すると共に、前記高低差を算出する
ための信号処理部と、前記光電変換器の動作と同期して
前記電子レベルが測定中であることを、前記標尺側から
認識可能とするための測定表示手段と、標尺の設置完了
又は該標尺により得られたデータを、標尺から受信する
ための受信部とから構成されていることを特徴とする電
子レベル。 - 【請求項2】測長方向に等ピッチで配列され、かつ測長
方向のパターンの幅に所定の変調がなされているパター
ンを有する標尺を視準し高低差及び該標尺までの水平距
離を自動的に求める電子レベルにおいて、該標尺パター
ンの信号を形成するための光電変換器を有する測定光学
系を含む望遠鏡光学系と、この光電変換器の出力信号に
フーリエ変換処理を含む信号処理を施して、前記標尺ま
での水平距離を計測すると共に、前記高低差を算出する
ための信号処理部と、測定状況や前記標尺までの水平距
離、前記高低差等の測定データ、及び作業指示を前記標
尺に送信するための送信手段と、標尺の設置完了又は該
標尺により得られたデータを、標尺から受信するための
受信部とから構成されていることを特徴とする電子レベ
ル。 - 【請求項3】請求項1又は請求項2に記載した電子レベ
ルに使用する電子レベル用標尺であって、測長方向に等
ピッチで配列され、かつ測長方向のパターンの幅に所定
の変調がなされているパターンを有し、電子レベルに使
用される標尺において、該電子レベルで計測された高低
差又は標尺までの水平距離等のデータを受信するための
受信部と、この受信手段からの受信データを演算処理す
るための演算処理部と、この演算処理部で処理された信
号を表示するための表示部と、この標尺の設置完了又は
該標尺により得られたデータを電子レベルに送信するた
めの送信部と、この送信部を制御するための演算処理手
段と、測定者の操作により、前記送信部の送信を開始さ
せるための測定開始スイッチ手段とからなる電子レベル
用標尺。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05134193A JP3407142B2 (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | 電子レベル及び電子レベル用標尺 |
US08/197,075 US5537201A (en) | 1993-02-16 | 1994-02-16 | Electronic leveling system, electronic leveling apparatus and leveling staff |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05134193A JP3407142B2 (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | 電子レベル及び電子レベル用標尺 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06241790A JPH06241790A (ja) | 1994-09-02 |
JP3407142B2 true JP3407142B2 (ja) | 2003-05-19 |
Family
ID=12884233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP05134193A Expired - Fee Related JP3407142B2 (ja) | 1993-02-16 | 1993-02-16 | 電子レベル及び電子レベル用標尺 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3407142B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5688300B2 (ja) | 2011-01-13 | 2015-03-25 | 株式会社トプコン | 電子レベル装置及びこの電子レベル装置に用いる標尺 |
JP6994971B2 (ja) * | 2018-02-09 | 2022-01-14 | 株式会社トプコン | 電子レベル |
-
1993
- 1993-02-16 JP JP05134193A patent/JP3407142B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06241790A (ja) | 1994-09-02 |
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