JP3402883B2 - Substrate edge processing equipment - Google Patents

Substrate edge processing equipment

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JP3402883B2
JP3402883B2 JP31837895A JP31837895A JP3402883B2 JP 3402883 B2 JP3402883 B2 JP 3402883B2 JP 31837895 A JP31837895 A JP 31837895A JP 31837895 A JP31837895 A JP 31837895A JP 3402883 B2 JP3402883 B2 JP 3402883B2
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scraping
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droplet
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幸治 木▲崎▼
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05CAPPARATUS FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05C11/00Component parts, details or accessories not specifically provided for in groups B05C1/00 - B05C9/00
    • B05C11/02Apparatus for spreading or distributing liquids or other fluent materials already applied to a surface ; Controlling means therefor; Control of the thickness of a coating by spreading or distributing liquids or other fluent materials already applied to the coated surface
    • B05C11/08Spreading liquid or other fluent material by manipulating the work, e.g. tilting

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、フォトレジスト塗
布液、感光性ポリイミド樹脂、カラーフィルター用の染
色剤などの薄膜が表面に形成された液晶用のガラス基
板、フォトマスク用のガラス基板、あるいは半導体ウェ
ハなどの基板を対象とし、これら基板の端縁に形成され
た薄膜を取り除くための基板端縁処理装置に関するもの
である。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a glass substrate for a liquid crystal, a glass substrate for a photomask, or a glass substrate for a photomask, on the surface of which a thin film such as a photoresist coating solution, a photosensitive polyimide resin, or a dyeing agent for a color filter is formed. The present invention relates to a substrate edge processing apparatus for substrates such as semiconductor wafers and for removing thin films formed on the edges of these substrates.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、例えば液晶表示器の製造工程にお
いて、表面にレジストの塗布された角形基板に対し、そ
の端縁に形成された不要薄膜を溶剤で溶解して除去する
処理が施される。不要薄膜を溶解除去する装置(基板端
縁処理装置)としては、例えば特開平6−349729
号公報に開示されたものが知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a manufacturing process of a liquid crystal display, for example, a rectangular substrate having a surface coated with a resist is subjected to a treatment for dissolving and removing an unnecessary thin film formed on an edge thereof with a solvent. . As an apparatus (substrate edge processing apparatus) for dissolving and removing the unnecessary thin film, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 6-349729.
The one disclosed in Japanese Patent Publication is known.

【0003】この公報に記載された装置は、水平姿勢で
保持された基板表面または表裏面の側端縁に溶剤を供給
する溶剤吐出ノズルと、これら溶剤吐出ノズルに対応し
て設けられた溶剤を外方に吹き飛ばすガス吐出ノズル
と、吹き飛ばされた溶剤を捕捉して吸引する吸引手段
と、上記各溶剤吐出ノズルおよびガス吐出ノズルを基板
端縁に沿って揺動させる移動機構とを備えて形成されて
いる。
The apparatus described in this publication includes a solvent discharge nozzle for supplying a solvent to the side edges of the front surface or front and back surfaces of a substrate held in a horizontal posture, and a solvent provided corresponding to these solvent discharge nozzles. A gas discharge nozzle for blowing outward, a suction means for capturing and sucking the blown solvent, and a moving mechanism for swinging the solvent discharge nozzle and the gas discharge nozzle along the substrate edge are formed. ing.

【0004】かかる装置によれば、基板の端縁部を溶剤
吐出ノズルおよびガス吐出ノズルに対向させた状態で溶
剤およびガスを供給しながらこれらノズルを基板端縁に
沿って揺動させることにより、端縁部に形成された不要
薄膜は溶剤に順次溶解され、ガス吐出ノズルからの気流
によって溶解物を含む溶剤が吹き飛ばされ、しかも吹き
飛ばされた溶剤が吸引手段に吸引されることによって基
板の端縁は薄膜除去処理が施された状態になる。
According to such an apparatus, the nozzles are swung along the edge of the substrate while supplying the solvent and the gas with the edge of the substrate facing the solvent discharge nozzle and the gas discharge nozzle. The unnecessary thin film formed on the edge is sequentially dissolved in the solvent, the solvent containing the dissolved matter is blown off by the air flow from the gas discharge nozzle, and the blown off solvent is sucked by the suction means, so that the edge of the substrate Is in a state of being subjected to thin film removal processing.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記従来の
基板端縁処理装置においては、基板の側端縁に供給され
た溶剤はガス吐出ノズルからの噴射気流によって吹き飛
ばされるが、端縁の垂直面は上記気流の陰になってお
り、この部分に廻り込んだ溶剤は気流によって吹き飛ば
され難くなる。従って、端縁処理を終了し、ガス吐出ノ
ズルからの気体噴射を止めた際に、基板の裏面側端縁に
液滴となって残留するという問題点を有していた。かか
る液滴が残留すると、それが乾燥してシミとなり、この
シミがパーティクル発生の原因になるという不都合が生
じる。
By the way, in the above-mentioned conventional substrate edge processing apparatus, the solvent supplied to the side edge of the substrate is blown off by the jet air stream from the gas discharge nozzle, but the vertical surface of the edge is removed. Is behind the air flow, and the solvent that has flown into this part is less likely to be blown off by the air flow. Therefore, when the edge treatment is completed and the gas injection from the gas discharge nozzle is stopped, there is a problem that the droplets remain on the edge on the back surface side of the substrate. When such droplets remain, they are dried and become spots, and this spot causes the generation of particles.

【0006】そこで、上記陰の部分の溶剤を取り除くた
めに上記吸引手段の吸引能力を大きくすることが考えら
れるが、このようにすると吸引手段による強力な気流の
形成によって不要薄膜に隣接した有効薄膜までもが吸引
され、これによって有効薄膜の膜厚が薄くなったり、有
効薄膜が引張られて基板の表面側側端縁に複数本の筋状
の線が現われたりするという新たな問題点が発生する。
Therefore, it is conceivable to increase the suction capacity of the suction means in order to remove the solvent in the shadow portion. In this case, the effective thin film adjacent to the unnecessary thin film due to the formation of a strong air flow by the suction means. Even a small amount is sucked, which causes a thinning of the effective thin film, or a new problem that the effective thin film is pulled and multiple streak lines appear at the edge on the front surface side of the substrate. To do.

【0007】また、上記ガス吐出ノズルから噴射される
気流が基板に衝突することによって気流に乱れが生じ、
この気流の乱れによって一旦吹き飛ばされた溶剤が基板
の有効薄膜に再付着し、基板を汚染するという問題点を
有していた。この問題点を解消するためにはガス吐出ノ
ズルからの気体噴射を止めればよいが、そうすると、基
板端縁に供給された溶剤の除去が確実に行い得なくなる
という新たな問題点が発生する。
Further, the air flow jetted from the gas discharge nozzle collides with the substrate to cause turbulence in the air flow.
The turbulence of the air flow causes a problem that the solvent once blown off reattaches to the effective thin film of the substrate and contaminates the substrate. In order to solve this problem, it is sufficient to stop the gas injection from the gas discharge nozzle, but this causes a new problem that the solvent supplied to the edge of the substrate cannot be reliably removed.

【0008】本発明は、上記のような問題点を解決する
ためになされたものであり、基板端縁に溶剤が残留する
ことのない基板端縁処理装置を提供することを目的とし
ている。
The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a substrate edge processing apparatus in which a solvent does not remain on the substrate edge.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
表面に薄膜が形成された基板の端縁の不要薄膜を除去す
る基板端縁処理装置において、基板を水平に保持する基
板保持手段と、基板保持手段に保持された基板の表面側
端縁に上記不要薄膜を溶解する溶剤を供給する溶剤供給
ノズルと、上記溶剤供給ノズルにより供給され基板の裏
面側端縁に残留した溶剤の液滴を掻き寄せる液滴掻き寄
せ手段と、上記液滴掻き寄せ手段により掻き寄せられた
集合液滴を吸引して裏面側端縁から除去する吸引除去手
段と、を有することを特徴とするものである。
The invention according to claim 1 is
In a substrate edge processing apparatus for removing an unnecessary thin film on an edge of a substrate on which a thin film is formed, a substrate holding means for horizontally holding the substrate and a front surface side edge of the substrate held by the substrate holding means A solvent supply nozzle that supplies a solvent that dissolves the unnecessary thin film, a droplet scraping unit that scrapes the droplets of the solvent that are supplied by the solvent supply nozzle and remain on the rear side edge of the substrate, and the droplet scraping unit. Suction removing means for sucking the aggregated droplets scraped by and removing from the rear surface side edge.

【0010】この発明によれば、基板を基板保持手段に
保持させた状態で溶剤供給ノズルの吐出口から溶剤を基
板の表面側端縁に吐出することにより、基板端縁に形成
された不要薄膜は溶剤に溶解し、溶解物を含む溶剤は吸
引除去手段に吸引され、基板端縁の不溶薄膜は除去され
る。そして、基板の裏面から垂下するように形成された
液滴は、液滴掻き寄せ手段によって掻き寄せられ、集合
液滴となって気流に対する抵抗が増加し、吸引除去手段
によって確実に吸引除去される。
According to the present invention, the unnecessary thin film formed on the edge of the substrate is discharged by discharging the solvent from the discharge port of the solvent supply nozzle to the edge on the front surface side of the substrate while the substrate is held by the substrate holding means. Dissolves in the solvent, the solvent containing the dissolved substance is sucked by the suction removing means, and the insoluble thin film on the edge of the substrate is removed. Then, the droplets formed so as to hang down from the back surface of the substrate are scraped by the droplet scraping means, become aggregated droplets, and the resistance to the airflow increases, and are reliably sucked and removed by the suction removing means. .

【0011】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、上記液滴掻き寄せ手段は、基板の裏面側端
縁に対向する頂部を有する掻き寄せ部材を備えているこ
とを特徴とするものである。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the liquid droplet scraping means includes a scraping member having a top portion facing the rear surface side edge of the substrate. To do.

【0012】この発明によれば、基板の裏面に形成され
ている液滴は、基板の裏面側端縁に対向して設けられた
掻き寄せ部材によって掻き寄せられ、これによって複数
の液滴が集合して集合液滴になり、容積が大きくなった
分、気流に対する抵抗が増大し、気流によって引き剥が
されるようにして吸引除去手段に吸引される。
According to the present invention, the droplets formed on the back surface of the substrate are scraped by the scraping member provided so as to face the rear surface side edge of the substrate, whereby a plurality of droplets are collected. Then, the droplets become aggregated droplets, and the volume of the droplets increases, so that the resistance to the air flow increases, and the droplets are peeled off by the air flow and sucked by the suction removing means.

【0013】請求項3記載の発明は、請求項2記載の発
明において、上記掻き寄せ部材が基板の裏面側端縁のほ
ぼ全長に亘って設けられ、上記液滴掻き寄せ手段が上記
掻き寄せ部材を上記吸引除去手段とともに基板に対して
進退させる進退手段を有することを特徴とするものであ
る。
According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the scraping member is provided over substantially the entire length of the rear side edge of the substrate, and the droplet scraping means is the scraping member. Is provided with an advancing / retreating means for advancing / retreating with respect to the substrate together with the suction removing means.

【0014】この発明によれば、進退手段を後退させる
ことにより、基板の裏面に垂下した液滴は掻き寄せ部材
によって基板の中心から離間する方向に掻き寄せられ
る。
According to the present invention, by retracting the advancing / retreating means, the droplets drooping on the back surface of the substrate are scraped by the scraping member in the direction away from the center of the substrate.

【0015】請求項4記載の発明は、請求項2記載の発
明において、上記掻き寄せ手段が上記掻き寄せ部材を上
記吸引手段とともに基板の端縁に沿って移動させる移動
手段を有することを特徴とするものである。
According to a fourth aspect of the invention, in the second aspect of the invention, the scraping means has a moving means for moving the scraping member together with the suction means along the edge of the substrate. To do.

【0016】この発明によれば、移動手段の移動によっ
て掻き寄せ部材を吸引手段とともに基板の端縁に沿って
移動させることにより、基板の裏面に垂下した液滴は掻
き寄せ部材によって掻き寄せられる。
According to the present invention, by moving the scraping member along with the suction means along the edge of the substrate by the movement of the moving means, the liquid droplets hanging on the back surface of the substrate are scraped by the scraping member.

【0017】請求項5記載の発明は、請求項2乃至4の
いずれかに記載の発明において、上記液滴掻き寄せ手段
が上記掻き寄せ部材をその頂部が基板の裏面に近接する
位置と、離間する位置との間で昇降させる昇降手段を有
することを特徴とするものである。
According to a fifth aspect of the invention, in the invention according to any one of the second to fourth aspects, the liquid droplet scraping means separates the scraping member from a position where the top of the scraping member is close to the back surface of the substrate. It is characterized in that it has an elevating means for elevating and lowering to and from the position.

【0018】この発明によれば、進退手段の後退または
移動手段の移動に同期して液滴掻き寄せ部材の頂部を基
板の裏面に近接させることにより、基板の裏面に垂下し
た液滴は掻き寄せ部材によって掻き寄せられる。
According to the present invention, the top of the liquid droplet scraping member is brought close to the back surface of the substrate in synchronization with the retreat of the advancing / retreating means or the movement of the moving means, so that the liquid droplet drooping on the back surface of the substrate is scraped up. It is scraped by the member.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】図1は、本発明に係る基板端縁処
理装置の適用された基板処理装置の一例を示す略平面図
であり、図2は、図1の基板処理装置の断面図である。
これらの図に示すように、基板処理装置1は、基板Bの
外周を囲繞する環状フード2、この環状フード2内で基
板Bを支持して回転させ、かつ、必要に応じて昇降させ
る基板支持機構3、この基板支持機構3に支持された基
板Bの表面に塗布液を供給する塗布液供給手段4、およ
び基板端縁処理装置5を備えた基本構成を有している。
1 is a schematic plan view showing an example of a substrate processing apparatus to which a substrate edge processing apparatus according to the present invention is applied, and FIG. 2 is a sectional view of the substrate processing apparatus of FIG. Is.
As shown in these figures, the substrate processing apparatus 1 includes an annular hood 2 that surrounds the outer periphery of a substrate B, a substrate support that supports and rotates the substrate B within the annular hood 2, and raises and lowers it as necessary. It has a basic configuration including a mechanism 3, a coating liquid supply means 4 for supplying a coating liquid to the surface of the substrate B supported by the substrate support mechanism 3, and a substrate edge processing device 5.

【0020】上記基板Bとしては、液晶用のガラス基
板、フォトマスク用のガラス基板、あるいは半導体ウェ
ハなどを挙げることができる。また、塗布液としては、
フォトレジスト液、感光性ポリイミド樹脂、カラーフィ
ルター用の染色剤が用いられる。そして、上記基板端縁
処理装置5は、基板B表面の端縁に形成された上記塗布
液に起因する不要薄膜を除去するものである。
Examples of the substrate B include a glass substrate for liquid crystal, a glass substrate for photomask, a semiconductor wafer and the like. Further, as the coating liquid,
A photoresist solution, a photosensitive polyimide resin, and a dye for a color filter are used. Then, the substrate edge processing device 5 removes the unnecessary thin film formed on the edge of the surface of the substrate B due to the coating liquid.

【0021】上記環状フード2は、上方が開放した偏平
な容器からなり、円形の底板21、この底板21の外周
縁部に径方向に延設された環状溝部22、この環状溝部
22の外周縁部から上窄みで斜め上方に突設された環状
堰部23を具備している。上記環状溝部22の底部は底
板21より低位に位置設定されているとともに、上記環
状堰部23の上縁部は底板21よりも高位に位置設定さ
れている。そして、底板21の上部にはこの環状堰部2
3に囲繞された基板収納空間20が形成され、この基板
収納空間20に処理すべき基板Bが収容されるようにな
っている。
The annular hood 2 is composed of a flat container having an open upper side, and has a circular bottom plate 21, an annular groove portion 22 radially extending on an outer peripheral edge portion of the bottom plate 21, and an outer peripheral edge portion of the annular groove portion 22. An annular weir portion 23 is provided so as to project obliquely upward from the above portion with an upper constriction. The bottom portion of the annular groove portion 22 is positioned lower than the bottom plate 21, and the upper edge portion of the annular dam portion 23 is positioned higher than the bottom plate 21. The annular weir 2 is formed on the bottom plate 21.
A substrate housing space 20 surrounded by 3 is formed, and the substrate B to be processed is housed in the substrate housing space 20.

【0022】上記環状溝部22の適所にはドレンパイプ
221が接続されている。塗布液は、上記塗布液供給手
段4から基板Bに供給され、基板Bの回転で飛ばされた
余剰分が環状堰部23に捕捉され、環状溝部22に捕集
されたのち、上記ドレンパイプ221を通って系外に排
出されるようになっている。
A drain pipe 221 is connected to an appropriate position of the annular groove portion 22. The coating liquid is supplied from the coating liquid supply means 4 to the substrate B, and the excess amount of the substrate B rotated by the rotation is captured by the annular weir portion 23 and collected in the annular groove portion 22, and then the drain pipe 221. It is designed to be discharged to the outside of the system through the.

【0023】上記基板支持機構3は、環状フード2の底
板21の中心部分を上下方向に貫通した支持軸31、こ
の支持軸31の上端部に固定された水平姿勢の回転支持
板32、および上記支持軸31の下部に設けられた回転
昇降機構33(図2)を具備している。上記回転昇降機
構33は、図略の駆動手段が内装され、この駆動手段の
駆動によって上記支持軸31を回転させたり昇降させた
りするものである。
The substrate support mechanism 3 includes a support shaft 31 that vertically penetrates the center portion of the bottom plate 21 of the annular hood 2, a horizontal rotation support plate 32 fixed to the upper end of the support shaft 31, and the above-mentioned structure. It is provided with a rotary lifting mechanism 33 (FIG. 2) provided below the support shaft 31. The rotation elevating mechanism 33 has a drive means (not shown) incorporated therein, and drives the drive means to rotate or elevate the support shaft 31.

【0024】また、上記回転支持板32は、その表面に
載置された基板Bを、周方向の移動が規制された状態、
例えば、基板Bを回転支持板32に真空吸着させた状態
で支持するものであり、基板Bをこの回転支持板32に
対して給排するときには、図2に実線で示すように上記
回転昇降機構33の駆動による支持軸31の上昇によっ
て上方位置に押し上げられ、基板Bを回転させるときに
は図2に二点鎖線で示すように基板収納空間20内の下
部に引き下げられるようになっている。そして、基板B
は、回転支持板32の下降により基板収納空間20内に
装填された状態で回転昇降機構33の回転駆動によって
回転するようになっている。
The rotation support plate 32 has the substrate B placed on the surface thereof in a state in which the movement in the circumferential direction is restricted,
For example, the substrate B is supported by the rotary support plate 32 in a state of being vacuum-adsorbed, and when the substrate B is supplied to or discharged from the rotary support plate 32, the rotary lifting mechanism as shown by the solid line in FIG. When the substrate B is rotated, it is pushed up to the upper position by the rise of the support shaft 31 by driving 33, and when the substrate B is rotated, it is pulled down to the lower part in the substrate storage space 20 as shown by the two-dot chain line in FIG. And board B
Is rotated by the rotary drive of the rotary elevating mechanism 33 while being loaded in the substrate storage space 20 by the lowering of the rotary support plate 32.

【0025】上記塗布液供給手段4は、環状フード2の
近傍に立設された垂直軸41、この垂直軸41回りに回
動自在に軸支された回動アーム42、および、この回動
アーム42の先端部に設けられた塗布液吐出ノズル43
を備えている。この塗布液吐出ノズル43の吐出口は下
方に向けられている。上記回動アーム42は、塗布液吐
出ノズル43が回転支持板32上の基板Bの中心部分に
対向した塗布液供給位置と、環状フード2の脇にそれた
待機位置とに切り換え可能になっている。また、上記塗
布液吐出ノズル43には、塗布液タンク44に貯留され
ている塗布液が塗布液ポンプ45の駆動によって供給さ
れる。
The coating liquid supply means 4 is provided with a vertical shaft 41 provided upright in the vicinity of the annular hood 2, a rotary arm 42 rotatably supported around the vertical shaft 41, and the rotary arm. Coating liquid discharge nozzle 43 provided at the tip of 42
Is equipped with. The discharge port of the coating liquid discharge nozzle 43 is directed downward. The rotating arm 42 is switchable between a coating liquid supply position where the coating liquid discharge nozzle 43 faces the central portion of the substrate B on the rotation support plate 32 and a standby position which is deviated to the side of the annular hood 2. There is. Further, the coating liquid stored in the coating liquid tank 44 is supplied to the coating liquid discharge nozzle 43 by driving the coating liquid pump 45.

【0026】上記基板処理装置1の構成によれば、先の
工程で所定の処理が施された基板Bを上方位置にある回
転支持板32にセッティングし、その後、回転昇降機構
33の駆動により回転支持板32を下降させることによ
って回転支持板32は図2に二点鎖線で示す下方位置に
下降し、これによって基板Bは基板収納空間20内に装
填された状態になる。
According to the configuration of the substrate processing apparatus 1, the substrate B, which has been subjected to the predetermined processing in the previous step, is set on the rotation support plate 32 located at the upper position, and then rotated by the rotation lifting mechanism 33. By lowering the support plate 32, the rotary support plate 32 is lowered to the lower position shown by the chain double-dashed line in FIG. 2, whereby the substrate B is loaded in the substrate storage space 20.

【0027】この状態で塗布液供給手段4(図1)の回
動アーム42を垂直軸41回りに時計方向に回動し、塗
布液吐出ノズル43を基板Bの中心部分に対向させた
後、塗布液ポンプ45を駆動して塗布液吐出ノズル43
から塗布液を吐出させ、それを基板Bの表面の中心部分
に供給する。ついで回転昇降機構33の駆動によって支
持軸31を回転させる。そうすると、基板Bの表面に吐
出された塗布液は、遠心力によって基板B径方向に拡散
し、これによって基板Bの表面に塗布液の塗布による均
一な薄膜が形成された状態になる。
In this state, the rotating arm 42 of the coating liquid supply means 4 (FIG. 1) is rotated clockwise about the vertical axis 41 so that the coating liquid discharge nozzle 43 faces the central portion of the substrate B, and The coating liquid discharge nozzle 43 is driven by driving the coating liquid pump 45.
The coating liquid is discharged from the substrate and is supplied to the central portion of the surface of the substrate B. Then, the support shaft 31 is rotated by driving the rotary elevating mechanism 33. Then, the coating liquid discharged onto the surface of the substrate B diffuses in the radial direction of the substrate B due to the centrifugal force, whereby a uniform thin film is formed on the surface of the substrate B by the coating of the coating liquid.

【0028】そして、基板Bの縁部から外方に飛び出し
た余分な塗布液は、環状フード2の環状堰部23に捕捉
され、下方に流下して環状溝部22内を流れ、ドレンパ
イプ221から系外に導出される。そして、所定時間経
過後、基板Bの回転を停止し、回転昇降機構33の駆動
によって支持軸31を上昇させ、基板Bを上方位置に押
し上げる。このとき基板Bの表面全面に塗布液の薄膜が
形成された状態になっている。
Then, the excess coating liquid jumping outward from the edge portion of the substrate B is captured by the annular weir portion 23 of the annular hood 2, flows downward and flows in the annular groove portion 22, and from the drain pipe 221. Out of the system. Then, after a lapse of a predetermined time, the rotation of the substrate B is stopped, the support shaft 31 is raised by driving the rotation lifting mechanism 33, and the substrate B is pushed up to the upper position. At this time, a thin film of the coating liquid is formed on the entire surface of the substrate B.

【0029】図3は、基板処理装置1によって薄膜が形
成された直後の基板Bを示す一部切欠き斜視図である。
この図に示すように、基板処理装置1によって薄膜形成
処理が施された直後には、基板Bには、表面と端縁部と
裏面側縁部とに薄膜B0が形成された状態になってい
る。なお、基板Bの表面以外の端縁部および裏面側縁部
に薄膜が形成されるのは、基板Bの表面に供給された塗
布液がまわり込むからである。
FIG. 3 is a partially cutaway perspective view showing the substrate B immediately after the thin film is formed by the substrate processing apparatus 1.
As shown in this figure, immediately after the thin film forming process is performed by the substrate processing apparatus 1, the substrate B is in a state where the thin film B0 is formed on the front surface, the edge portion, and the back surface side edge portion. There is. The reason why the thin film is formed on the edge portion other than the surface of the substrate B and the edge portion on the back surface side is that the coating liquid supplied to the surface of the substrate B wraps around.

【0030】ところで、基板Bに形成される薄膜B0の
うち、実際に有効な部分は、一点鎖線で囲んだ中央部分
の有効薄膜B1だけであり、この有効薄膜B1の外方に
存在するものが、いわゆる不要薄膜B2である。
By the way, of the thin film B0 formed on the substrate B, the only effective portion is the effective thin film B1 in the central portion surrounded by the alternate long and short dash line, and the effective thin film B1 exists outside the effective thin film B1. The so-called unnecessary thin film B2.

【0031】この不要薄膜B2は、基板Bの表面側端縁
に形成された表面側不要薄膜B3と、基板Bの端縁部に
形成された端縁部不要薄膜B4と、基板Bの裏面側端縁
に形成された裏面側不要薄膜B5とからなり、いずれも
基板Bの機能には関わりはなく、逆にこのような不要薄
膜B2が存在した状態では、以後の基板Bの処理工程で
種々の不都合が生じることから、本発明に係る基板端縁
処理装置5で不要薄膜B2を洗浄除去するようにしてい
る。なお、本明細書では、上記表面側端縁と、端縁部
と、裏面側端縁とを合わせて端縁と呼んでいる。
The unnecessary thin film B2 is a surface unnecessary thin film B3 formed at the front surface side edge of the substrate B, an edge unnecessary thin film B4 formed at the edge of the substrate B, and a back surface side of the substrate B. The unnecessary thin film B5 on the back surface side formed on the edge does not relate to the function of the substrate B. On the contrary, in the state where such an unnecessary thin film B2 is present, various processes are performed in subsequent substrate B processing steps. Therefore, the unnecessary thin film B2 is cleaned and removed by the substrate edge processing apparatus 5 according to the present invention. In this specification, the front surface side edge, the edge portion, and the back surface side edge are collectively referred to as an edge.

【0032】そして、上記基板端縁処理装置5は、図1
および図2に示すように、先端側が基板Bの端縁に外嵌
される互いに対向して設けられた一対のノズルデッキ5
1、および基板Bに対してこれらノズルデッキ51を進
退させる一対のノズルデッキ進退手段55を備えてい
る。上記ノズルデッキ進退手段55は、先端側がノズル
デッキ51に接続されたリンク機構56と、このリンク
機構56を動作させ、かつ、基板Bに平行に揺動させ得
る駆動部57とから構成され、駆動部57の駆動によっ
てリンク機構56が所定のリンク運動を行うようになっ
ている。
The substrate edge processing apparatus 5 is shown in FIG.
As shown in FIG. 2 and FIG. 2, the pair of nozzle decks 5 whose front ends are externally fitted to the edge of the substrate B and which are provided to face each other
1 and a pair of nozzle deck advancing / retreating means 55 for advancing / retreating the nozzle deck 51 with respect to the substrate B. The nozzle deck advancing / retreating means 55 is composed of a link mechanism 56 whose tip side is connected to the nozzle deck 51, and a drive section 57 for operating the link mechanism 56 and swinging the board B in parallel. The link mechanism 56 is configured to perform a predetermined link motion by driving the portion 57.

【0033】上記各リンク機構56は、等長の4本のリ
ンク腕56aの2本ずつが屈折可能に軸支されて形成さ
れている。これらリンク腕56aは、2本ずつの各々の
先端側がノズルデッキ51に回動可能に軸支されている
とともに、基端側が駆動部57に連結され、駆動部57
の駆動による屈伸運動によって上方位置にある基板Bに
対して進退するようになっている。
Each of the link mechanisms 56 is formed such that two of four equal-length link arms 56a are pivotally supported so as to be bendable. Each of the link arms 56a is pivotally supported by the nozzle deck 51 on the tip side of each two links, and the base end side of the link arms 56a is connected to the drive section 57.
By the bending and stretching movements by the driving of, the substrate B is moved forward and backward with respect to the upper position.

【0034】上記ノズルデッキ51は、回転昇降機構3
3の駆動によって上方位置(溶剤供給位置)に位置した
基板Bと同一の高さに設定されている。また、ノズルデ
ッキ51は、その長さ寸法が基板Bの長辺よりも若干長
く設定され、上記ノズルデッキ進退手段55による一度
の進退操作で基板B端縁の全長に亘って対応することが
できるようになっている。
The nozzle deck 51 is a rotary lifting mechanism 3
3 is driven to set the same height as the substrate B located at the upper position (solvent supply position). Further, the length dimension of the nozzle deck 51 is set to be slightly longer than the long side of the substrate B, and it is possible to cope with the entire length of the edge of the substrate B by one advance / retreat operation by the nozzle deck advance / retreat means 55. It is like this.

【0035】図4は、液滴掻き寄せ手段9の第1実施形
態を示す斜視図である。まず、この図をもとにノズルデ
ッキ51について説明する。ノズルデッキ51は、水平
方向に延びる吸引管(吸引除去手段)52と、この吸引
管52の前方(図4の左方)上部に平行に設けられた溶
剤供給管53とから構成されている。上記吸引管52の
下部に上記溶剤供給管53に対向した状態で液滴掻き寄
せ手段9が設けられている。そして、吸引管52の前面
(基板Bに対向した面)には基板Bの端縁部に対向した
長手方向に延びる吸引口54が形成されている。
FIG. 4 is a perspective view showing a first embodiment of the liquid droplet scraping means 9. First, the nozzle deck 51 will be described with reference to this drawing. The nozzle deck 51 is composed of a suction pipe (suction removing means) 52 that extends in the horizontal direction, and a solvent supply pipe 53 that is provided in parallel to the front upper portion (left side in FIG. 4) of the suction pipe 52. Droplet scraping means 9 is provided below the suction pipe 52 so as to face the solvent supply pipe 53. A suction port 54 extending in the longitudinal direction is formed on the front surface of the suction tube 52 (the surface facing the substrate B) so as to face the edge of the substrate B.

【0036】上記吸引管52には、図1に示すように、
その両側端底部に吸引支管52aが接続され、さらにこ
れら吸引支管52aには可撓管52bが接続されてい
る。この可撓管52bの下流端は所定の配管およびバッ
ファタンク59aを介して吸引ブロワ59に接続され、
この吸引ブロワ59の駆動によって外気が上記吸引口5
4から吸引管52内に吸引され、吸引支管52a、可撓
管52b、バッファタンク59aおよび吸引ブロワ59
を通って系外に導出されるようになっている。なお、上
記バッファタンク59aは、吸引管52によって吸引さ
れた吸引物を気液分離するためのものであり、ここで分
離された溶剤は別途バッファタンク59aから抜き出さ
れ、溶剤の取り除かれた外気のみが吸引ブロワ59から
系外に排出される。
In the suction pipe 52, as shown in FIG.
Suction branch pipes 52a are connected to the bottoms of both side ends, and flexible pipes 52b are connected to the suction branch pipes 52a. The downstream end of the flexible tube 52b is connected to a suction blower 59 via a predetermined pipe and a buffer tank 59a,
By driving the suction blower 59, the outside air is sucked into the suction port 5
4, the suction branch pipe 52a, the flexible pipe 52b, the buffer tank 59a, and the suction blower 59.
It is designed to be led out of the system through. The buffer tank 59a is used for gas-liquid separation of the suctioned substance sucked by the suction pipe 52, and the solvent separated here is separately extracted from the buffer tank 59a to remove the outside air from which the solvent has been removed. Only the suction blower 59 is discharged out of the system.

【0037】上記溶剤供給管53は、その下部に長手方
向に亘って複数の吐出口53b(図8)が等ピッチで穿
設された溶剤供給ノズル53aを有しており、この溶剤
供給ノズル53aの吐出口53bからの溶剤の吐出によ
って基板Bの端縁に形成された不要薄膜B2が溶解され
るようになっている。
The solvent supply pipe 53 has a solvent supply nozzle 53a in the lower portion of which a plurality of discharge openings 53b (FIG. 8) are formed at equal pitches in the longitudinal direction. The unnecessary thin film B2 formed on the edge of the substrate B is dissolved by the discharge of the solvent from the discharge port 53b.

【0038】つぎに、基板Bの端縁処理の制御について
説明する。本実施形態においては、上記吸引ブロワ59
の直上流側には第1制御弁81(図1)が設けられてい
る。この第1制御弁81を閉止することによって、吸引
ブロワ59を駆動した状態であっても、吸引管(吸引除
去手段)52による吸引動作が停止されるようになって
いる。そして本実施形態では、基板処理装置1の稼働中
は吸引ブロワ59は常に運転され、制御装置80からの
駆動信号による第1制御弁81の開閉動作によって吸引
管52による吸引および吸引停止の切り換えを行うよう
にしている。
Next, the control of the edge processing of the substrate B will be described. In the present embodiment, the suction blower 59
A first control valve 81 (FIG. 1) is provided on the upstream side of. By closing the first control valve 81, the suction operation by the suction pipe (suction removing means) 52 is stopped even when the suction blower 59 is driven. Further, in the present embodiment, the suction blower 59 is always operated during the operation of the substrate processing apparatus 1, and the suction pipe 52 switches between suction and suction stop by the opening / closing operation of the first control valve 81 by the drive signal from the control device 80. I am trying to do it.

【0039】上記溶剤供給管53は、内部に窒素ガスN
を導入する窒素配管が設けられ、この配管を介して溶剤
タンク61内に供給される窒素ガスNの圧力によって溶
剤タンク61内の溶剤が押し出され、これによって溶剤
が塗布液吐出ノズル43から吐出されるようになってい
る。上記窒素配管にはレギュレータ62が設けられてい
るとともに、このレギュレータ62に圧力計63が設け
られ、この圧力計63によって窒素ガスNの圧力管理を
行うようにしている。また、上記溶剤タンク61には内
部が異常高圧になった場合に開弁する安全弁64が設け
られ、これによって安全を期している。
The solvent supply pipe 53 has a nitrogen gas N inside.
A nitrogen pipe for introducing the solvent is provided, and the solvent in the solvent tank 61 is pushed out by the pressure of the nitrogen gas N supplied into the solvent tank 61 via this pipe, whereby the solvent is discharged from the coating liquid discharge nozzle 43. It has become so. A regulator 62 is provided in the nitrogen pipe, and a pressure gauge 63 is provided on the regulator 62. The pressure gauge 63 controls the pressure of the nitrogen gas N. In addition, the solvent tank 61 is provided with a safety valve 64 that opens when the internal pressure becomes abnormally high, thereby ensuring safety.

【0040】本実施形態においては、溶剤タンク61の
直下流側に第2制御弁82が設けられ、この第2制御弁
82を開閉操作することによって溶剤供給管53への溶
剤の供給と供給停止との切り換え操作が行い得るように
している。そして本実施形態では、制御装置80からの
駆動信号による第2制御弁82の開閉動作によって溶剤
供給管53への溶剤の供給および供給停止の切り換えが
行われる。
In the present embodiment, a second control valve 82 is provided immediately downstream of the solvent tank 61, and by opening / closing this second control valve 82, the supply and stop of the supply of the solvent to the solvent supply pipe 53. The operation to switch between and can be performed. Then, in the present embodiment, the supply of the solvent to the solvent supply pipe 53 and the switching of the supply stop are switched by the opening / closing operation of the second control valve 82 by the drive signal from the control device 80.

【0041】従って、ノズルデッキ51の吸引口54
(図4)が基板Bの端縁に外嵌された状態で第2制御弁
82を開弁し、かつ、第1制御弁81を開弁することに
より、溶剤タンク61内の溶剤は溶剤供給管53内に供
給され、溶剤供給ノズル53aの吐出口53bから基板
Bの表面側端縁に向けて吐出され、基板Bの不要薄膜B
2を洗浄除去したのち外気に同伴して吸引管52内に吸
引され、系外に排出されることになる。
Therefore, the suction port 54 of the nozzle deck 51
By opening the second control valve 82 and the first control valve 81 with (FIG. 4) fitted on the edge of the substrate B, the solvent in the solvent tank 61 is supplied with the solvent. The unnecessary thin film B of the substrate B is supplied to the inside of the pipe 53 and is discharged from the discharge port 53b of the solvent supply nozzle 53a toward the front surface side edge of the substrate B.
After 2 is removed by washing, it is sucked into the suction pipe 52 along with the outside air and discharged to the outside of the system.

【0042】上記溶剤は、塗布液を溶解し得るものが用
いられる。塗布液がフォトレジスト液である場合は、溶
剤は、アセトン、メチルエチルケトン等のケトン類や、
酢酸エチル、酢酸ブチル等のエステル類や、トルエン、
キシレン、ベンゼン等の芳香族炭化水素や、四塩化炭
素、トリクロルエチレン等のハロゲン化炭化水素などが
用いられる。また、塗布液が染色剤である場合は、溶剤
は、30〜60℃の温湯や、メタノール、エタノール、
プロパノール等の低級アルコールや、エチルセロソブア
セテート(ECA)、エチルセロソルブ(EC)、プロ
ピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PG
MEA)、プロピレングリコールモノメチルエーテル
(PGME)等の多価アルコール、アセトンなどが用い
られる。
As the above solvent, those capable of dissolving the coating liquid are used. If the coating liquid is a photoresist liquid, the solvent is acetone, ketones such as methyl ethyl ketone,
Esters such as ethyl acetate and butyl acetate, toluene,
Aromatic hydrocarbons such as xylene and benzene and halogenated hydrocarbons such as carbon tetrachloride and trichloroethylene are used. When the coating liquid is a dyeing agent, the solvent is 30 to 60 ° C hot water, methanol, ethanol,
Lower alcohols such as propanol, ethyl cellosob acetate (ECA), ethyl cellosolve (EC), propylene glycol monomethyl ether acetate (PG
MEA), polyhydric alcohols such as propylene glycol monomethyl ether (PGME), and acetone are used.

【0043】図5は、液滴掻き寄せ手段9を用いずに溶
剤のみによって洗浄処理された直後の基板Bを斜め下か
ら見た斜視図である。この図に示すように、液滴掻き寄
せ手段9を用いないで溶剤供給管53から吐出された溶
剤のみによって基板Bの端縁を洗浄すると、基板Bの表
面側端縁に供給された溶剤は吸引管52内に向かう外気
の気流によって吸引管52内に吸引されるが、端縁の垂
直面(端縁部)は上記気流の陰になっており、この部分
に付着した溶剤は気流によって吸引され難くなっている
ため、ノズルデッキ51を後退させて端縁処理を終わら
せた際には、上記端縁部に残留した溶剤は裏面側端縁に
まわり込み、この部分で複数の液滴B6になって残留す
る。かかる液滴B6が基板Bの裏面側端縁に残留する
と、後にそれが乾燥してシミとなり、このシミがパーテ
ィクル発生の原因になるという不都合が生じる。
FIG. 5 is a perspective view of the substrate B as seen obliquely from below immediately after the cleaning process with only the solvent without using the droplet scraping means 9. As shown in this figure, when the edge of the substrate B is washed only with the solvent discharged from the solvent supply pipe 53 without using the liquid droplet scraping means 9, the solvent supplied to the edge on the front surface side of the substrate B is removed. The air flow of the outside air flowing into the suction pipe 52 is sucked into the suction pipe 52, but the vertical surface (edge portion) of the edge is behind the air flow, and the solvent attached to this portion is sucked by the air flow. Therefore, when the nozzle deck 51 is retracted to end the edge processing, the solvent remaining on the edge portion wraps around to the rear surface side edge, and a plurality of droplets B6 are formed in this portion. And remains. If such a droplet B6 remains on the back surface side edge of the substrate B, it will be dried and become a stain later, and this stain will cause the generation of particles.

【0044】そこで本発明においては、液滴掻き寄せ手
段9が採用され、これによって基板Bの裏面側端縁に形
成された液滴B6を取り除き、完全な基板端縁洗浄処理
を期すようにしている。そして、第1実施形態に係る液
滴掻き寄せ手段9は、図4に示すように、上記ノズルデ
ッキ51の吸引管52の下縁部から前方に延設された接
続板90aと、この接続板90aの前方縁部に固定され
た液滴掻き寄せロッド(掻き寄せ部材)90とから構成
されている。
Therefore, in the present invention, the liquid droplet scraping means 9 is employed to remove the liquid droplet B6 formed on the rear surface side edge of the substrate B so as to complete the substrate edge cleaning processing. There is. The droplet scraping means 9 according to the first embodiment, as shown in FIG. 4, has a connection plate 90a extending forward from the lower edge of the suction pipe 52 of the nozzle deck 51, and this connection plate. It is composed of a liquid droplet scraping rod (scraping member) 90 fixed to the front edge of 90a.

【0045】上記液滴掻き寄せロッド90は、その直径
が接続板90aの厚み寸法よりも大きく設定され、その
長手方向の全長に亘って溶接その他で接続板90aが固
定され、これによって液滴掻き寄せロッド90の頂部が
接続板90aの上面部よりも上部に突出した状態にして
いる。液滴掻き寄せロッド90の頂部と、上記溶剤供給
管53の下面部との間には基板Bが嵌挿される隙間が形
成され、しかもノズルデッキ51の前進によって基板B
の端縁が上記隙間に嵌挿された状態で、液滴掻き寄せロ
ッド90の頂部と、基板Bの裏面との間には僅かな隙間
が形成されるように液滴掻き寄せロッド90の直径や取
り付け位置が設定されている。また、上記液滴掻き寄せ
ロッド90は、基板Bの端縁に対して水平方向に若干傾
斜した状態で設けられている。
The diameter of the droplet scraping rod 90 is set larger than the thickness of the connecting plate 90a, and the connecting plate 90a is fixed by welding or the like over the entire length in the longitudinal direction, whereby the droplet scraping rod 90 is scraped. The top of the approaching rod 90 is in a state of projecting above the upper surface of the connecting plate 90a. A gap into which the substrate B is fitted is formed between the top of the droplet scraping rod 90 and the lower surface of the solvent supply pipe 53, and the substrate B is moved forward by the nozzle deck 51.
The diameter of the liquid droplet scraping rod 90 is such that a slight space is formed between the top of the liquid droplet scraping rod 90 and the back surface of the substrate B in a state where the edge of the liquid droplet scraping rod 90 is fitted into the space. And the mounting position is set. Further, the droplet scraping rod 90 is provided in a state of being slightly inclined in the horizontal direction with respect to the edge of the substrate B.

【0046】図6は、基板端縁処理装置5の作用を説明
するための説明図であり、(イ)は基板Bの端縁への溶
剤吐出が終了した直後の状態、(ロ)はノズルデッキ5
1が引き戻されつつある状態、(ハ)はノズルデッキ5
1が引き戻された状態をそれぞれ示している。なお、図
6においては、紙面の左側に液滴掻き寄せ手段9の断面
図を示し、同右側に基板Bの端縁と液滴掻き寄せロッド
90との位置関係を平面視で示している。
6A and 6B are explanatory views for explaining the operation of the substrate edge processing apparatus 5. FIG. 6A is a state immediately after the solvent discharge to the edge of the substrate B is completed, and FIG. 6B is a nozzle. Deck 5
1 is being pulled back, (C) is the nozzle deck 5
1 shows the state of being pulled back, respectively. In FIG. 6, a cross-sectional view of the droplet scraping means 9 is shown on the left side of the paper surface, and a positional relationship between the edge of the substrate B and the droplet scraping rod 90 is shown in a plan view on the right side thereof.

【0047】まず、図6の(イ)に示す状態に到るまで
には、ノズルデッキ51の前進によって基板Bの端縁が
ノズルデッキ51の吸引口54に嵌挿され、第1制御弁
81および第2制御弁82(図1)が開弁され、これら
開弁によって溶剤供給ノズル53aからの溶剤の吐出、
および吐出された溶剤の吸引管52への吸引が行われ、
これによって不要薄膜が除去され、ついで第2制御弁8
2の閉止が行われる。従って、図10の(イ)に示す状
態では、基板Bの裏面側端縁に、吸引管52内に吸引さ
れなかった溶剤が、液滴B6となって残留した状態にな
っている。
First, by the advancement of the nozzle deck 51, the edge of the substrate B is fitted into the suction port 54 of the nozzle deck 51 until the state shown in FIG. And the second control valve 82 (FIG. 1) is opened, and the solvent is discharged from the solvent supply nozzle 53a by these opening.
And the discharged solvent is sucked into the suction pipe 52,
This removes the unnecessary thin film, and then the second control valve 8
The closing of 2 is performed. Therefore, in the state shown in (a) of FIG. 10, the solvent that has not been sucked into the suction pipe 52 remains in the droplet B6 at the rear surface side edge of the substrate B.

【0048】この状態でノズルデッキ51を引き戻す
(右方に移動させる)ことにより、基板Bの裏面に形成
している液滴B6が液滴掻き寄せロッド90により掻き
寄せられる。そして、液滴掻き寄せロッド90は、基板
Bの端縁に対して僅かに傾斜させているため、各液滴B
6はこの傾斜に誘導されて一方向に向かって集められ、
大きな容量の集合液滴B6aになる。この集合液滴B6
aは、体積が大きくなっている分、気流に対する抵抗が
増大するため、吸引管52内に向かう気流(白抜き矢印
で表示)によって端縁部から引き剥がされるようにして
吸引管52内に吸引される。
In this state, by pulling back the nozzle deck 51 (moving it to the right), the droplet B6 formed on the back surface of the substrate B is scraped by the droplet scraping rod 90. Since the droplet attracting rod 90 is slightly inclined with respect to the edge of the substrate B, each droplet B
6 is guided by this inclination and collected in one direction,
The aggregated droplet B6a has a large volume. This aggregate droplet B6
Since a has a larger volume, the resistance of the a to the air flow increases, so that the air is sucked into the suction pipe 52 by being peeled off from the end edge portion by the air flow toward the inside of the suction pipe 52 (indicated by a white arrow). To be done.

【0049】従って、ノズルデッキ51が収納位置まで
引き戻された状態では、図10の(ハ)に示すように、
基板Bの裏面側端縁には液滴B6が完全に除去された状
態になっている。
Therefore, when the nozzle deck 51 is pulled back to the storage position, as shown in FIG.
The liquid droplet B6 is completely removed from the rear surface side edge of the substrate B.

【0050】つぎに、本発明の第2実施形態について説
明する。図7は、液滴掻き寄せ手段9aの第2実施形態
を示す斜視図であり、図8は、その一部切欠き部分拡大
斜視図である。また、図9は、図7のA−A線断面図で
ある。これらの図に示すように、第2実施形態の液滴掻
き寄せ手段9aは、吸引管52の下面部に固定されたケ
ーシング91、このケーシング91に内装された油圧シ
リンダからなるアクチュエータ93、およびこのアクチ
ュエータ93によって作動する液滴掻き寄せ部材96を
備えて形成されている。本実施形態では、液滴掻き寄せ
部材96はステンレススチール製のものを用いている。
上記ケーシング91は、吸引管52と略同一幅でその長
手方向の全長に亘る矩形状の箱型を呈し、この中央部に
下方に突出したアクチュエータ支持部92を有してい
る。このアクチュエータ支持部92内にアクチュエータ
93がピストンロッド93aを上方に突出させた状態で
装着されている。
Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 7 is a perspective view showing a second embodiment of the liquid droplet scraping means 9a, and FIG. 8 is a partially cutaway enlarged perspective view thereof. Further, FIG. 9 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 7. As shown in these drawings, the liquid droplet scraping means 9a of the second embodiment has a casing 91 fixed to the lower surface of the suction pipe 52, an actuator 93 composed of a hydraulic cylinder incorporated in this casing 91, and this casing 91. It is provided with a droplet scraping member 96 which is operated by the actuator 93. In this embodiment, the droplet scraping member 96 is made of stainless steel.
The casing 91 has a rectangular box shape having substantially the same width as the suction pipe 52 and extending over the entire length in the longitudinal direction thereof, and has an actuator support portion 92 protruding downward at the center thereof. The actuator 93 is mounted in the actuator support portion 92 with the piston rod 93a protruding upward.

【0051】上記液滴掻き寄せ部材96は、ケーシング
91の基板Bに対向した面から基板Bに向かって突出し
た連結板96a、この連結板96aの両端部からケーシ
ング91の方向に突出した左右一対のブラケット部96
b、および上記連結板96aの先端部で上方に向かって
長手方向に延びる状態で突設された掻き寄せ突条96c
からなっている。上記連結板96aは、溶剤供給管53
の先端部よりも基板Bの中心方向に突出するように幅寸
法が設定されている。
The droplet scraping member 96 is composed of a connecting plate 96a protruding from the surface of the casing 91 facing the substrate B toward the substrate B, and a pair of left and right protruding from both ends of the connecting plate 96a toward the casing 91. Bracket part 96
b, and the scraping ridge 96c projecting upward in the longitudinal direction at the tip of the connecting plate 96a.
It consists of The connecting plate 96a is connected to the solvent supply pipe 53.
The width dimension is set so as to project in the direction of the center of the substrate B from the tip of the substrate.

【0052】一方、ケーシング91内には、その両端部
の壁を貫通し、かつ、自軸心回りに回動可能な水平ロッ
ド95が設けられ、この水平ロッド95に上記一対のブ
ラケット部96bが固定されている。従って、液滴掻き
寄せ部材96は水平ロッド95の軸心回りに水平ロッド
95と共回りするようになっている。
On the other hand, inside the casing 91, a horizontal rod 95 is provided which penetrates the walls at both ends and is rotatable about its own axis, and the pair of bracket portions 96b is provided on the horizontal rod 95. It is fixed. Therefore, the liquid droplet scraping member 96 is adapted to rotate around the axis of the horizontal rod 95 together with the horizontal rod 95.

【0053】そして、水平ロッド95の略中央部には、
上記ピストンロッド93aに向かって延び、かつ、先端
側に水平方向に延びる連結長孔94aの穿設された連結
ロッド94が固定されている。かかる連結ロッド94
は、上記連結長孔94aに嵌め込まれるピン93bを介
してピストンロッド93aと連結されている。従って、
連結ロッド94は、ピストンロッド93aがアクチュエ
ータ93から出没するたびに水平ロッド95回りに回動
し、これによって液滴掻き寄せ部材96が水平ロッド9
5回りに回動するようになっている。
Then, in the substantially central portion of the horizontal rod 95,
A connecting rod 94 having a connecting elongated hole 94a extending toward the piston rod 93a and extending horizontally on the tip side is fixed. Such connecting rod 94
Is connected to the piston rod 93a via a pin 93b fitted in the connecting elongated hole 94a. Therefore,
The connecting rod 94 is rotated around the horizontal rod 95 every time the piston rod 93 a is retracted from the actuator 93, whereby the droplet scraping member 96 is moved by the horizontal rod 9.
It is designed to rotate about 5.

【0054】また、ケーシング91は、その連結板96
a側の端面に水平ロッド95の軸心を中心とした凸状円
弧面91aを有しているとともに、連結板96aは、上
記円弧面91aに対向した面に上記軸心を中心とし、か
つ、半径が上記凸状円弧面91aのそれより僅かに大き
い凹状円弧面96dを有しており、これによって連結板
96aは、両円弧面91a,96dが摺接状態で回動す
るようになっている。
The casing 91 has a connecting plate 96.
The end face on the a side has a convex arcuate surface 91a centered on the axis of the horizontal rod 95, and the connecting plate 96a is centered on the axis on a surface facing the arc surface 91a, and It has a concave circular arc surface 96d whose radius is slightly larger than that of the convex circular arc surface 91a, whereby the connecting plate 96a is rotated in a state where both circular arc surfaces 91a and 96d are in sliding contact. .

【0055】そして、連結板96aの表面の先端側に
は、長手方向の全長に亘る掻き寄せ突条96cが上方に
向かって突設されている。本実施形態においては、上記
掻き寄せ突条96cは、図9に示すように、断面視で半
円形状に形成され、ノズルデッキ51が基板Bに向かっ
て突出した状態でその上端縁部が基板Bの裏面に対し若
干離間した状態で対向するようにしている。また、掻き
寄せ突条96cは、本実施形態においては、上記回転支
持板32に装着された基板Bの端縁に対して若干傾斜す
るように角度設定されている。
On the front end side of the surface of the connecting plate 96a, a scraping protrusion 96c is provided so as to extend upward along the entire length in the longitudinal direction. In the present embodiment, the scraping protrusion 96c is formed in a semicircular shape in a sectional view as shown in FIG. 9, and the upper end edge of the nozzle deck 51 projects toward the substrate B. It is arranged to face the back surface of B in a state of being slightly separated. Further, in the present embodiment, the scraping protrusions 96c are set to have an angle so as to be slightly inclined with respect to the edge of the substrate B mounted on the rotation support plate 32.

【0056】また、上記ピストンロッド93aは、掻き
寄せ突条96cが、基板Bに対して離間した状態から軽
く基板Bの裏面を押圧する状態の範囲内で出没するよう
に動作量が設定されている。従って、回転支持板32に
支持された基板Bに向かってノズルデッキ51を突出さ
せることにより、基板Bの表面側端縁が溶剤供給ノズル
53aの下方に位置した状態で、掻き寄せ突条96cが
基板Bの裏面に対向し、アクチュエータ93の駆動でピ
ストンロッド93aを没入させることによる掻き寄せ突
条96cの上昇で、その上端縁部が基板Bの裏面に近接
し、この状態を維持しつつノズルデッキ51を後退させ
ることによって掻き寄せ突条96cは基板Bの裏面に近
接状態で後退するようになっている。
The operation amount of the piston rod 93a is set so that the scraping ridge 96c is retracted and retracted within a range in which the scraping ridge 96c is separated from the substrate B and lightly presses the back surface of the substrate B. There is. Therefore, by projecting the nozzle deck 51 toward the substrate B supported by the rotation support plate 32, the scraping protrusions 96c are formed in a state where the front surface side edge of the substrate B is located below the solvent supply nozzle 53a. The upper end edge of the scraping ridge 96c is moved upward by the depression of the piston rod 93a by driving the actuator 93 so as to face the back surface of the substrate B. By retracting the deck 51, the scraping protrusions 96c are retracted in a state of being close to the back surface of the substrate B.

【0057】また、第2実施形態においては、制御装置
80(図1)からノズルデッキ進退手段55の駆動部5
7および液滴掻き寄せ手段9aのアクチュエータ93に
向けて駆動信号が出力され、これによって駆動部57お
よびアクチュエータ93が駆動または駆動停止されるよ
うにしている。具体的には、溶剤吐出による基板Bの端
縁洗浄が終了し、吸引管52を後退させるときに、制御
装置80から駆動部57に向けて吸引管52後退の駆動
信号が出力されるとともに、これに同期してアクチュエ
ータ93にピストンロッド93a下降の駆動信号が出力
される。従って、ノズルデッキ51が後退するときに
は、ピストンロッド93aの下降による掻き寄せ突条9
6cの上昇によってその上部端縁が基板Bの裏面側端縁
に近接し、この近接が維持された状態で掻き寄せ突条9
6cが後退するため、この後退によって基板Bの裏面側
端縁に形成している液滴B6が掻き寄せられることにな
る。
Further, in the second embodiment, the drive unit 5 of the nozzle deck advancing / retreating means 55 is controlled from the control device 80 (FIG. 1).
7 and the drive signal is output toward the actuator 93 of the droplet scraping means 9a, whereby the drive unit 57 and the actuator 93 are driven or stopped. Specifically, when the edge cleaning of the substrate B by the solvent discharge is completed and the suction pipe 52 is retracted, the control device 80 outputs a drive signal for retracting the suction pipe 52 to the drive unit 57, and In synchronization with this, a drive signal for lowering the piston rod 93a is output to the actuator 93. Therefore, when the nozzle deck 51 retracts, the scraping protrusion 9 caused by the lowering of the piston rod 93a.
As a result of the ascending of 6c, the upper edge thereof approaches the rear surface side edge of the substrate B, and the scraping protrusion 9 is maintained in the state where this proximity is maintained.
Since 6c retreats, this retreat causes the droplet B6 formed on the back surface side edge of the substrate B to be scraped.

【0058】図10は、基板端縁処理装置5の作用を説
明するための説明図であり、(イ)は基板Bの端縁への
溶剤吐出が終了した直後の状態、(ロ)はノズルデッキ
51が引き戻されつつある状態、(ハ)はノズルデッキ
51が引き戻された状態をそれぞれ示している。なお、
図10においては、紙面の左側に液滴掻き寄せ手段9a
の断面図を示し、同右側に基板Bの端縁と掻き寄せ突条
96cとの位置関係を平面視で示している。
FIG. 10 is an explanatory view for explaining the operation of the substrate edge processing apparatus 5, where (a) is the state immediately after the end of the solvent discharge to the edge of the substrate B, and (b) is the nozzle. The state where the deck 51 is being pulled back, and (c) shows the state where the nozzle deck 51 is pulled back. In addition,
In FIG. 10, the liquid droplet scraping means 9a is arranged on the left side of the paper surface.
Is shown, and the right side of the same shows the positional relationship between the edge of the substrate B and the scraping protrusion 96c in a plan view.

【0059】まず、図10の(イ)に示す状態では、基
板Bの裏面側端縁に、吸引管52内に吸引されなかった
溶剤が、液滴B6となって残留した状態になっている。
First, in the state shown in FIG. 10A, the solvent that has not been sucked into the suction tube 52 remains as droplets B6 at the rear side edge of the substrate B. .

【0060】この状態で、アクチュエータ93が駆動さ
れ、ピストンロッド93aが下降する。そうすると、ピ
ン93bおよび連結ロッド94を介して水平ロッド95
が自軸心回りに時計方向に回動し、これによって水平ロ
ッド95と一体の液滴掻き寄せ部材96も時計方向に回
動し、図10の(イ)に示すように、掻き寄せ突条96
cの頂部端縁が基板Bの裏面側端縁に近接する。
In this state, the actuator 93 is driven and the piston rod 93a descends. Then, the horizontal rod 95 is connected via the pin 93b and the connecting rod 94.
Rotates in the clockwise direction about its own axis, whereby the droplet scraping member 96 integrated with the horizontal rod 95 also rotates in the clockwise direction, and as shown in FIG. 96
The top edge of c is close to the back side edge of the substrate B.

【0061】この状態でノズルデッキ51を引き戻す
(右方に移動させる)ことにより、基板Bの裏面に形成
している液滴B6が掻き寄せられる。そして、掻き寄せ
突条96cは、基板Bの端縁に対して僅かに傾斜させて
いるため、各液滴B6はこの傾斜に誘導されて一方向に
向かって集められ、大きな容量の集合液滴B6aにな
る。この集合液滴B6aは、体積が大きくなっている
分、気流に対する抵抗が増大するため、吸引管52内に
向かう気流(白抜き矢印で表示)によって端縁部から引
き剥がされるようにして吸引管52内に吸引される。
In this state, by pulling back the nozzle deck 51 (moving it to the right), the droplet B6 formed on the back surface of the substrate B is scraped. Since the scraping protrusions 96c are slightly inclined with respect to the edge of the substrate B, each droplet B6 is guided by this inclination and collected in one direction, and a large volume of collected droplets. It becomes B6a. Since the volume of the aggregated droplets B6a increases as the volume increases, the resistance to the air flow increases, so that the air flow toward the inside of the suction pipe 52 (indicated by a white arrow) is peeled off from the end portion of the suction pipe. Suctioned into 52.

【0062】従って、ノズルデッキ51が収納位置まで
引き戻された状態では、図10の(ハ)に示すように、
基板Bの裏面側端縁には液滴B6が完全に除去された状
態になっている。
Therefore, when the nozzle deck 51 is pulled back to the storage position, as shown in FIG.
The liquid droplet B6 is completely removed from the rear surface side edge of the substrate B.

【0063】本発明の基板端縁処理装置5は、以上詳述
したように、回転支持板32に装着された基板Bの裏面
側端縁に対向するように、ノズルデッキ51の下部に液
滴掻き寄せ部材96を設け、溶剤供給管53からの溶剤
吐出が終了した時点に液滴掻き寄せ部材96を回動させ
て先端の掻き寄せ突条96cを基板Bの裏面側端縁に近
接させるようにし、この状態でノズルデッキ51を引き
戻すようにしているため、基板Bの裏面に残留した複数
の液滴B6が掻き寄せ突条96cによって掻き寄せら
れ、これによって大容量の集合液滴B6aが形成され、
この集合液滴B6aが吸引管52内に吸引される。この
ように、本発明の基板端縁処理装置5によれば、従来、
吸引除去が困難であった基板Bの裏面に残留する液滴B
6を確実に取り除くことが可能になり、基板Bの端縁に
全く溶剤を残留させないように洗浄処理する上で極めて
有効である。
As described in detail above, the substrate edge processing apparatus 5 of the present invention drops liquid droplets on the lower portion of the nozzle deck 51 so as to face the rear edge of the substrate B mounted on the rotation support plate 32. A scraping member 96 is provided, and when the discharge of the solvent from the solvent supply pipe 53 is completed, the droplet scraping member 96 is rotated so that the scraping protrusion 96c at the leading end is brought close to the rear surface side edge of the substrate B. Since the nozzle deck 51 is pulled back in this state, the plurality of droplets B6 remaining on the back surface of the substrate B are attracted by the attracting protrusions 96c, thereby forming a large-volume aggregate droplet B6a. Is
This aggregated droplet B6a is sucked into the suction pipe 52. Thus, according to the substrate edge processing apparatus 5 of the present invention, conventionally,
Droplet B remaining on the back surface of substrate B that was difficult to remove by suction
Since 6 can be removed reliably, it is extremely effective in the cleaning process so that no solvent remains on the edge of the substrate B.

【0064】つぎに本発明の第3実施形態について説明
する。図11は、第3実施形態の液滴掻き寄せ手段9b
を示す斜視図である。この実施形態の液滴掻き寄せ手段
9bは、基本的には上記第2実施形態の液滴掻き寄せ手
段9aと同様に構成されているが、液滴掻き寄せ手段9
aより長手方向の寸法が短く設定されている。その代わ
り液滴掻き寄せ手段9aは図略の駆動機構によって基板
Bの端縁に沿って移動可能になっている。
Next, a third embodiment of the present invention will be described. FIG. 11 shows the liquid droplet scraping means 9b of the third embodiment.
FIG. The droplet scraping means 9b of this embodiment is basically configured similarly to the droplet scraping means 9a of the second embodiment, but the droplet scraping means 9 is used.
The dimension in the longitudinal direction is set shorter than a. Instead, the droplet scraping means 9a can be moved along the edge of the substrate B by a drive mechanism (not shown).

【0065】液滴掻き寄せ手段9bは、ノズルデッキ5
10と、その下面部に固定された同一長さ寸法のケーシ
ング910と、このケーシング910に内装されたアク
チュエータによって作動する液滴掻き寄せ部材960と
を備えている。また、ノズルデッキ510は第2実施形
態と同様の吸引管520と溶剤供給管530とからな
り、溶剤供給管530と液滴掻き寄せ部材960との間
に吸引管520内に連通した吸引口540が形成されて
いる。溶剤供給管530には第2実施例と同様の溶剤供
給ノズル530aが設けられている。
The droplet scraping means 9b is the nozzle deck 5
10, a casing 910 of the same length dimension fixed to the lower surface of the casing 10, and a droplet scraping member 960 operated by an actuator installed in the casing 910. Further, the nozzle deck 510 is composed of the suction pipe 520 and the solvent supply pipe 530 similar to those in the second embodiment, and the suction port 540 communicated with the inside of the suction pipe 520 between the solvent supply pipe 530 and the droplet scraping member 960. Are formed. The solvent supply pipe 530 is provided with a solvent supply nozzle 530a similar to that of the second embodiment.

【0066】上記液滴掻き寄せ部材960はアクチュエ
ータの駆動によって水平ロッド950回りに回動可能に
なっており、その機構は第2実施形態のものと同様に構
成されている。また、ケーシング910は、底面に可撓
管52bを介して吸引ブロワ59(図1)に接続された
1本の吸引支管52aを備えており、吸引ブロワ59の
駆動によって吸引口540を通して外気が吸引管520
内に吸引されるようになっている。
The droplet scraping member 960 can be rotated around the horizontal rod 950 by driving an actuator, and its mechanism is the same as that of the second embodiment. Further, the casing 910 is provided with one suction branch pipe 52a connected to the suction blower 59 (FIG. 1) through a flexible tube 52b on the bottom surface, and the suction blower 59 is driven to suck outside air through the suction port 540. Tube 520
It is designed to be sucked in.

【0067】そして液滴掻き寄せ部材960は、ケーシ
ング91の基板Bに対向した面から基板Bに向かって突
出した連結板960aと、この連結板960aの両端部
からケーシング910の方向に突出した左右一対のブラ
ケット部960bと、上記連結板960aの先端部で上
方に向かって長手方向に延びる状態で突設された掻き寄
せ突条960cとからなっている。上記連結板960a
は、溶剤供給管530の先端部よりも基板Bの中心方向
に突出するように幅寸法が設定されている。
The liquid droplet scraping member 960 includes a connecting plate 960a projecting from the surface of the casing 91 facing the substrate B toward the substrate B and left and right parts projecting from both ends of the connecting plate 960a toward the casing 910. It comprises a pair of bracket portions 960b and a scraping ridge 960c projecting upward at the tip of the connecting plate 960a so as to extend upward in the longitudinal direction. The connecting plate 960a
Has a width dimension so as to project toward the center of the substrate B from the tip of the solvent supply pipe 530.

【0068】上記ケーシング910は、逆L字形状の支
持架台58の先端上部に固定されている。この支持架台
58は、その下部に設けられた図略の駆動機構によって
基板Bの縁部に沿って移動可能になっており、この移動
により基板Bの端縁部が吸引口540に対向した状態で
吸引口540によって走査されるようになっている。ま
た、溶剤供給管530への溶剤の供給についても、上記
第2実施形態と同様に構成されている。
The casing 910 is fixed to the upper end of the inverted L-shaped support base 58. The support pedestal 58 is movable along the edge of the substrate B by a drive mechanism (not shown) provided in the lower portion thereof, and the edge of the substrate B faces the suction port 540 by this movement. And is scanned by the suction port 540. Moreover, the supply of the solvent to the solvent supply pipe 530 is also configured in the same manner as in the second embodiment.

【0069】図12は、第3実施形態の作用を説明する
ための説明図であり、(イ)はノズルデッキ510が基
板Bの端縁に沿って往復動している状態、(ロ)は基板
Bの端縁の液滴B6が掻き寄せ突条960cによって掻
き寄せられつつある状態、(ハ)は基板Bの隅部に液滴
B6が掻き寄せられたた状態、(ニ)は掻き寄せ突条9
60cによる液滴B6の除去が完了した状態をそれぞれ
示している。
FIG. 12 is an explanatory view for explaining the operation of the third embodiment. (A) shows a state in which the nozzle deck 510 is reciprocating along the edge of the substrate B, and (b) shows The liquid droplet B6 at the edge of the substrate B is being scraped by the scraping protrusions 960c, (C) is the liquid droplet B6 being scraped to the corner of the substrate B, and (D) is the scraping state. Ridge 9
The state where the removal of the droplet B6 by 60c is completed is shown.

【0070】まず、ノズルデッキ510は、当初、図1
2の(イ)に二点鎖線で示すように、掻き寄せ突条96
0cが下方に下げられた状態(図10の(イ)に示すの
と同様の状態)で待機位置に待機している。この状態か
らノズルデッキ510は基板Bの端縁の方向に移動さ
せ、溶剤供給ノズル530aから溶剤を基板Bの端縁に
供給しつつ往復動を行わせることによって基板Bの端縁
の洗浄処理が実行される。
First, the nozzle deck 510 is initially set in FIG.
As indicated by the chain double-dashed line in (a) of 2, the scraping protrusions 96
0c is lowered to the standby position (a state similar to that shown in FIG. 10A). From this state, the nozzle deck 510 is moved in the direction of the edge of the substrate B, and the solvent is supplied from the solvent supply nozzle 530a to the edge of the substrate B to reciprocate, thereby cleaning the edge of the substrate B. To be executed.

【0071】そして、所定回数のノズルデッキ510の
往復動が完了した時点で、図12の(ロ)に示すように
ノズルデッキ510を一旦洗浄開始位置Xに戻した後、
掻き寄せ突条960cを上昇させることによって図10
の(ロ)に示すのと同様の状態になる。この状態でノズ
ルデッキ510を基板Bの他方の隅部に向けて移動させ
る。こうすることによって、基板Bの裏面側端縁に形成
されている液滴B6が掻き寄せ突条960cによって掻
き寄せられ、集合液滴B6aが形成される。そして、ノ
ズルデッキ510の移動過程で所定の大きさに成長した
この集合液滴B6aは適宜吸引管520内に吸引され
る。
When the nozzle deck 510 has been reciprocated a predetermined number of times, the nozzle deck 510 is once returned to the cleaning start position X as shown in FIG.
By raising the raking ridge 960c, as shown in FIG.
The same state as shown in (b) of. In this state, the nozzle deck 510 is moved toward the other corner of the substrate B. By doing so, the droplet B6 formed on the rear surface side edge of the substrate B is scraped by the scraping protrusion 960c to form a collective droplet B6a. Then, the aggregated droplets B6a that have grown to a predetermined size during the movement of the nozzle deck 510 are appropriately sucked into the suction pipe 520.

【0072】そして、掻き寄せ突条960cが基板Bの
他方の隅部に到着した時点では、図12の(ハ)に示す
ように、成長した集合液滴B6aが上記隅部で吸引管5
20の方向に突出した除去され易い状態になっている。
ついで、図12の(ニ)に示すように、掻き寄せ突条9
60cが基板Bの隅部を通過すると、集合液滴B6aは
掻き寄せ突条960cによって掻き落されて吸引管52
0内に吸引され、基板Bの裏面側端縁に形成していた全
ての液滴B6が除去された状態になる。
At the time when the scraping ridge 960c arrives at the other corner of the substrate B, as shown in FIG. 12C, the grown aggregate droplet B6a has the suction tube 5 at the corner.
It is in a state of being easily protruded and protruding in the direction of 20.
Then, as shown in FIG.
When 60c passes through the corner of the substrate B, the aggregated droplets B6a are scraped off by the scraping protrusions 960c and the suction pipe 52
A state in which all the droplets B6 that have been sucked into 0 and formed on the edge on the back surface side of the substrate B have been removed.

【0073】本発明は、上記の実施形態に限定されるも
のではなく、以下の実施形態を採用し得るものである。
The present invention is not limited to the above embodiment, but the following embodiments can be adopted.

【0074】(1)上記の第2および第3実施形態にお
いては、液滴掻き寄せ手段9a,9bは、液滴掻き寄せ
部材96,960がアクチュエータ93によって水平ロ
ッド95回りに回動可能に接続され、これによって回転
支持板32に支持された基板Bの裏面と掻き寄せ突条9
6c,960cの頂部との間隔寸法を調整するようにし
ているが、このような液滴掻き寄せ手段9aを設ける代
わりに、吸引管52の下部に第1実施形態の液滴掻き寄
せロッド90を一体に設け、その代り基板Bの裏面と液
滴掻き寄せロッド90の頂部との間隔は、回転昇降機構
33の駆動による基板Bの高さ位置設定で調節するよう
にしてもよい。
(1) In the second and third embodiments described above, the droplet scraping means 9a, 9b are connected to the droplet scraping members 96, 960 by the actuator 93 so as to be rotatable around the horizontal rod 95. As a result, the rear surface of the substrate B supported by the rotation support plate 32 and the scraping protrusion 9
6c and 960c are adjusted in the distance between the tops of the droplets 6c and 960c. Instead of providing the droplet scraping means 9a, the droplet scraping rod 90 of the first embodiment is provided below the suction pipe 52. Alternatively, the distance between the back surface of the substrate B and the top of the droplet scraping rod 90 may be adjusted by setting the height position of the substrate B by driving the rotation lifting mechanism 33 instead.

【0075】(2)上記の実施形態においては、溶剤供
給管53は基板Bの表面側端縁にのみ溶剤を供給するよ
うにしているが、基板Bの裏面側端縁を対象とした溶剤
供給管を配設し、これによって基板Bの裏面にも溶剤を
供給するようにしてもよい。こうすることによって基板
Bの裏面にまわり込んだ塗布液による裏面側不要薄膜B
5が確実に溶解される。
(2) In the above embodiment, the solvent supply pipe 53 supplies the solvent only to the front surface side edge of the substrate B. However, the solvent supply pipe 53 targets the rear surface side edge of the substrate B. A tube may be provided so that the solvent may be supplied also to the back surface of the substrate B. By doing so, the back surface side unnecessary thin film B due to the coating liquid sneaking up on the back surface of the substrate B
5 is surely dissolved.

【0076】(3)上記の実施形態においては、ノズル
デッキ51,510には溶剤供給管53,530のみが
設けらているが、溶剤供給管53,530の他に気体供
給管および気体吐出ノズルを設け、気体吐出ノズルから
吐出される気体によって端縁に供給された溶剤を吸引管
52内に向けて吹き飛ばすようにしてもよい。
(3) In the above embodiment, only the solvent supply pipes 53, 530 are provided in the nozzle decks 51, 510, but in addition to the solvent supply pipes 53, 530, a gas supply pipe and a gas discharge nozzle. May be provided to blow off the solvent supplied to the edge by the gas discharged from the gas discharge nozzle toward the inside of the suction pipe 52.

【0077】(4)上記実施形態の基板端縁処理装置5
は、主に、フォトレジスト塗布液、感光性ポリイミド樹
脂、カラーフィルター用の染色剤などの薄膜が表面に形
成された液晶用のガラス基板、フォトマスク用のガラス
基板、あるいは半導体ウェハなどの基板Bの端縁に形成
された不要薄膜B2を取り除くために適用されるが、本
発明はこのような不要薄膜除去のみの用途に限定される
ものではなく、現像前の基板Bの端縁に供給される現像
液を溶剤とみなし、この現像液によって基板Bの端縁部
分を現像処理するいわゆる現像促進処理にも好適に適用
可能である。
(4) Substrate edge processing apparatus 5 of the above embodiment
Is mainly a glass substrate for a liquid crystal, a glass substrate for a photomask, or a substrate B such as a semiconductor wafer, on the surface of which a thin film such as a photoresist coating liquid, a photosensitive polyimide resin, a dyeing agent for a color filter is formed. It is applied to remove the unnecessary thin film B2 formed on the edge of the substrate B. However, the present invention is not limited to the use only for removing the unnecessary thin film, and is supplied to the edge of the substrate B before development. The developing solution is regarded as a solvent, and the developing solution can be suitably applied to the so-called development accelerating processing in which the edge portion of the substrate B is developed.

【0078】(5)上記の第2実施形態において、基板
Bの一方の互いに対向した一対の端縁の洗浄処理が完了
した後、ノズルデッキ51を後退させ、この状態で基板
Bを90°回転させ、その後再度ノズルデッキ51を前
進させて他方の互いに対向した一対の端縁の洗浄処理を
施すようにすることができる。こうすることによって、
基板Bの回転支持板32への一度の装着で基板Bの4辺
の端縁の洗浄処理が施されることになる。
(5) In the above-described second embodiment, after the cleaning process of the pair of opposite edges of the substrate B is completed, the nozzle deck 51 is retracted, and the substrate B is rotated 90 ° in this state. After that, the nozzle deck 51 can be advanced again to perform the cleaning process on the other pair of opposite edges. By doing this,
When the substrate B is mounted on the rotation support plate 32 once, the four edges of the substrate B are cleaned.

【0079】(6)上記の実施形態においては、液滴掻
き寄せロッド90および掻き寄せ突条96c,96cは
ステンレススチール等の金属製にしているが、金属製に
する代わりに合成樹脂製にしてもよい。また、液体吸収
性能を有する織布やスポンジを適用してもよい。かかる
液体吸収性能を有する材料を掻き寄せ突条96c,96
0cに適用すれば、液滴B6に対する払拭機能が向上す
るとともに、これに液滴B6が吸収され、液滴B6の除
去がより確実に行われるようになる。
(6) In the above embodiment, the liquid droplet scraping rod 90 and the scraping protrusions 96c, 96c are made of metal such as stainless steel. However, instead of being made of metal, they are made of synthetic resin. Good. Alternatively, a woven cloth or a sponge having a liquid absorbing performance may be applied. A material having such a liquid absorption performance is scraped off and the protrusions 96c, 96
When applied to 0c, the wiping function for the droplet B6 is improved, and the droplet B6 is absorbed by the wiping function, so that the droplet B6 can be removed more reliably.

【0080】(7)上記の実施形態においては、液滴掻
き寄せロッド90および掻き寄せ突条96c,960c
は、その頂部が角型基板Bの裏面に近接するようにして
いるが、基板Bの裏面側端縁が他のものとの接触によっ
ても支障が生じない場合には、液滴掻き寄せロッド90
等の頂部を軽く基板Bの裏面に接触させるようにしても
よい。こうすることによって液滴掻き寄せロッド90等
による液滴B6の掻き寄せ効果が向上する。
(7) In the above embodiment, the droplet scraping rod 90 and the scraping protrusions 96c, 960c.
Has its top close to the back surface of the rectangular substrate B, but if the back surface side edge of the substrate B does not interfere with contact with another object, the droplet scraping rod 90
The tops of the above may be lightly contacted with the back surface of the substrate B. By doing so, the effect of scraping the droplet B6 by the droplet scraping rod 90 or the like is improved.

【0081】[0081]

【発明の効果】上記請求項1記載の発明は、基板を水平
に保持する基板保持手段と、基板保持手段に保持された
基板の表面側端縁に上記不要薄膜を溶解する溶剤を供給
する溶剤供給ノズルと、上記溶剤供給ノズルにより供給
され基板の裏面側端縁に残留した溶剤の液滴を掻き寄せ
る液滴掻き寄せ手段と、上記液滴掻き寄せ手段により掻
き寄せられた集合液滴を吸引して裏面側端縁から除去す
る吸引除去手段とを有してなるものであるため、基板を
基板保持手段に保持させた状態で溶剤供給ノズルの吐出
口から溶剤を基板の表面側端縁に吐出することにより、
基板端縁に形成された不要薄膜は溶剤に溶解し、溶解物
を含む溶剤は吸引除去手段に吸引され、基板端縁の不溶
薄膜は除去される。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a substrate holding means for holding the substrate horizontally, and a solvent for supplying a solvent for dissolving the unnecessary thin film to the front side edge of the substrate held by the substrate holding means. A supply nozzle, a liquid droplet scraping unit that scrapes liquid droplets of the solvent that are supplied by the solvent supply nozzle and remain on the rear surface side edge of the substrate, and suction of the aggregate liquid droplets that are scraped by the liquid droplet scraping unit. Since it has a suction removing means for removing the solvent from the back side edge, the solvent is discharged from the discharge port of the solvent supply nozzle to the front side edge of the substrate while the substrate is held by the substrate holding means. By discharging,
The unnecessary thin film formed on the edge of the substrate is dissolved in the solvent, the solvent containing the dissolved substance is sucked by the suction removing means, and the insoluble thin film on the edge of the substrate is removed.

【0082】そして、基板の裏面から垂下するように形
成された液滴は、液滴掻き寄せ手段によって掻き寄せら
れるため、従来、吸引処理のみでは完全に取り除くこと
が困難であった溶剤を確実に除去することができるよう
になり、基板端縁に残留した溶剤の乾燥によるパーティ
クルの発生を確実に阻止する上で好都合である。
Since the droplets formed so as to hang down from the back surface of the substrate are scraped by the droplet scraping means, it is possible to surely remove the solvent which has been difficult to be completely removed by the suction process in the past. It becomes possible to remove it, which is convenient for surely preventing generation of particles due to drying of the solvent remaining on the edge of the substrate.

【0083】上記請求項2記載の発明によれば、液滴掻
き寄せ手段は、基板の裏面側端縁に対向する頂部を有す
る掻き寄せ部材を備えているため、基板の裏面に形成さ
れている液滴は、掻き寄せ部材によって掻き寄せられ、
これによって複数の液滴が集合して集合液滴になり、容
積が大きくなった分、気流に対する抵抗が増大し、気流
によって引き剥がされるようにして吸引除去手段に吸引
され、液滴を確実に除去する上で有効である。
According to the second aspect of the present invention, the liquid droplet scraping means is provided on the back surface of the substrate because it has the scraping member having the apex facing the back surface side edge of the substrate. The droplet is attracted by the attracting member,
As a result, a plurality of droplets are aggregated into aggregated droplets, the volume of which is increased, the resistance to the airflow is increased, and the droplets are peeled off by the airflow to be sucked by the suction removal means to ensure the droplets. Effective in removing.

【0084】上記請求項3記載の発明によれば、掻き寄
せ部材が基板の裏面側端縁のほぼ全長に亘って設けら
れ、上記液滴掻き寄せ手段が上記掻き寄せ部材を上記吸
引除去手段とともに基板に対して進退させる進退手段を
有しているため、進退手段を後退させることにより、基
板の裏面に垂下した液滴は掻き寄せ部材によって基板の
中心から離間する方向に掻き寄せられ、液滴を確実に除
去する上で有効である。
According to the third aspect of the present invention, the scraping member is provided over substantially the entire length of the rear surface side edge of the substrate, and the droplet scraping means includes the scraping member together with the suction removing means. Since there is an advancing / retreating means for advancing / retreating with respect to the substrate, by retracting the advancing / retreating means, the droplets drooping on the back surface of the substrate are scraped by the scraping member in the direction away from the center of the substrate. Is effective for surely removing.

【0085】請求項4記載の発明によれば、掻き寄せ手
段が上記掻き寄せ部材を上記吸引手段とともに基板の端
縁に沿って移動させる移動手段を有しているため、移動
手段の移動によって掻き寄せ部材を吸引手段とともに基
板の端縁に沿って移動させることにより、基板の裏面に
垂下した液滴は掻き寄せ部材によって掻き寄せられ、液
滴を確実に除去する上で有効である。
According to the fourth aspect of the invention, the scraping means has the moving means for moving the scraping member together with the suction means along the edge of the substrate. By moving the attracting member along the edge of the substrate together with the suction means, the droplets drooping on the back surface of the substrate are attracted by the attracting member, which is effective for surely removing the droplets.

【0086】請求項5記載の発明によれば、液滴掻き寄
せ手段が上記掻き寄せ部材をその頂部が基板の裏面に近
接する位置と、離間する位置との間で昇降させる昇降手
段を有しているため、進退手段の後退または移動手段の
移動に同期して液滴掻き寄せ部材の頂部を基板の裏面に
近接させることにより、基板の裏面に垂下した液滴は掻
き寄せ部材によって確実に掻き寄せ得るようになる。
According to the fifth aspect of the invention, the liquid droplet scraping means has a lifting means for moving the scraping member up and down between a position where the top of the scraping member is close to the back surface of the substrate and a position where the scraping member is separated. Therefore, by bringing the top of the liquid droplet scraping member close to the back surface of the substrate in synchronization with the retreat of the advancing / retreating means or the movement of the moving means, the liquid droplet drooping on the back surface of the substrate is surely scratched by the scraping member. You will get closer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る基板端縁処理装置の適用された基
板処理装置の一例を示す略平面図である。
FIG. 1 is a schematic plan view showing an example of a substrate processing apparatus to which a substrate edge processing apparatus according to the present invention is applied.

【図2】図1の基板処理装置の断面図である。FIG. 2 is a sectional view of the substrate processing apparatus of FIG.

【図3】基板処理装置によって薄膜が形成された直後の
基板Bを示す一部切欠き斜視図である。
FIG. 3 is a partially cutaway perspective view showing a substrate B immediately after a thin film is formed by the substrate processing apparatus.

【図4】液滴掻き寄せ手段の第1実施形態を示す斜視図
である。
FIG. 4 is a perspective view showing a first embodiment of a liquid droplet scraping unit.

【図5】液滴掻き寄せ手段を用いずに溶剤のみによって
端縁洗浄処理された直後の基板を斜め下から見た斜視図
である。
FIG. 5 is a perspective view of a substrate immediately after being subjected to edge cleaning processing with only a solvent without using a liquid droplet scraping means, as viewed from obliquely below.

【図6】基板端縁処理装置の作用を説明するための説明
図であり、(イ)は基板の端縁への溶剤吐出が終了した
直後の状態、(ロ)はノズルデッキが引き戻されつつあ
る状態、(ハ)はノズルデッキが引き戻された状態をそ
れぞれ示している。
6A and 6B are explanatory diagrams for explaining the operation of the substrate edge processing apparatus. FIG. 6A is a state immediately after the solvent discharge to the edge of the substrate is finished, and FIG. 6B is a nozzle deck being pulled back. In a certain state, (c) shows the state where the nozzle deck is pulled back.

【図7】液滴掻き寄せ手段の第2実施形態を示す斜視図
である。
FIG. 7 is a perspective view showing a second embodiment of a droplet scraping unit.

【図8】図7に示す液滴掻き寄せ手段の一部切欠き部分
拡大斜視図である。
FIG. 8 is an enlarged perspective view of a partially cutaway portion of the liquid droplet scraping means shown in FIG.

【図9】図7のA−A線断面図である。9 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.

【図10】基板端縁処理装置の作用を説明するための説
明図であり、(イ)は基板の端縁への溶剤吐出が終了し
た直後の状態、(ロ)はノズルデッキが引き戻されつつ
ある状態、(ハ)はノズルデッキが引き戻された状態を
それぞれ示している。
FIG. 10 is an explanatory diagram for explaining the operation of the substrate edge processing apparatus, where (a) is a state immediately after the solvent discharge to the edge of the substrate is finished, and (b) is a nozzle deck being pulled back. In a certain state, (c) shows the state where the nozzle deck is pulled back.

【図11】液滴掻き寄せ手段の第3実施形態を示す斜視
図である。
FIG. 11 is a perspective view showing a third embodiment of a droplet scraping unit.

【図12】第3実施形態の液滴掻き寄せ手段の作用を説
明するための説明図であり、(イ)はノズルデッキが基
板Bの端縁に沿って往復動している状態、(ロ)は基板
Bの端縁の液滴が掻き寄せ突条によって掻き寄せられつ
つある状態、(ハ)は基板の隅部に液滴が掻き寄せられ
たた状態、(ニ)は掻き寄せ突条による液滴の除去が完
了した状態をそれぞれ示している。
FIG. 12 is an explanatory diagram for explaining the operation of the droplet scraping means of the third embodiment, in which (a) shows a state in which the nozzle deck is reciprocating along the edge of the substrate B, (b) ) Is a state in which the liquid droplets at the edge of the substrate B are being scraped by the scraping ridges, (c) is a state in which the liquid droplets are being scraped to the corners of the substrate, and (d) is the scraping ridges. Each of the states shows that the removal of the droplets by is completed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板処理装置 2 環状フード 3 基板支持機構 4 塗布液供給手段 5 基板端縁処理装置 51 ノズルデッキ 52 吸引管 53 溶剤供給管 53a 溶剤供給ノズル 54 吸引口 55 ノズルデッキ進退手段 9,9a,9b 液滴掻き寄せ手段 90 液滴掻き寄せロッド(掻き寄せ部材) 91,910 ケーシング 93 アクチュエータ 94 連結ロッド 95 水平ロッド 96,960 液滴掻き寄せ部材 96a 連結板 B 基板 B2 不要薄膜 B6 液滴 1 Substrate processing equipment 2 ring hood 3 Substrate support mechanism 4 Coating liquid supply means 5 Substrate edge processing equipment 51 nozzle deck 52 Suction tube 53 Solvent supply pipe 53a Solvent supply nozzle 54 Suction port 55 Nozzle deck advance / retreat means 9,9a, 9b Droplet scraping means 90 Liquid droplet scraping rod (scraping member) 91,910 Casing 93 Actuator 94 Connecting rod 95 horizontal rod 96,960 Droplet scraping member 96a connecting plate B board B2 unnecessary thin film B6 droplet

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平7−297120(JP,A) 特開 平7−47324(JP,A) 特開 昭52−29832(JP,A) 特開 平6−163389(JP,A) 特開 平8−124819(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/027 G03F 7/16 Continuation of the front page (56) Reference JP-A-7-297120 (JP, A) JP-A-7-47324 (JP, A) JP-A-52-29832 (JP, A) JP-A-6-163389 (JP , A) JP-A-8-124819 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/027 G03F 7/16

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 表面に薄膜が形成された基板の端縁の不
要薄膜を除去する基板端縁処理装置において、 基板を水平に保持する基板保持手段と、 基板保持手段に保持された基板の表面側端縁に上記不要
薄膜を溶解する溶剤を供給する溶剤供給ノズルと、 上記溶剤供給ノズルにより供給され基板の裏面側端縁に
残留した溶剤の液滴を掻き寄せる液滴掻き寄せ手段と、 上記液滴掻き寄せ手段により掻き寄せられた集合液滴を
吸引して裏面側端縁から除去する吸引除去手段と、を有
することを特徴とする基板端縁処理装置。
1. A substrate edge processing apparatus for removing an unnecessary thin film on an edge of a substrate having a thin film formed on the surface thereof, wherein the substrate holding means holds the substrate horizontally, and the surface of the substrate held by the substrate holding means. A solvent supply nozzle for supplying a solvent for dissolving the unnecessary thin film to a side edge, and a liquid droplet scraping means for scraping a droplet of the solvent supplied by the solvent supply nozzle and remaining on the rear surface side edge of the substrate, A substrate edge processing apparatus comprising: a suction removing unit that sucks the aggregated liquid droplets scraped by the liquid droplet scraping unit and removes the collected liquid droplets from the rear surface side edge.
【請求項2】 請求項1記載の基板端縁処理装置におい
て、 上記液滴掻き寄せ手段は、基板の裏面側端縁に対向する
頂部を有する掻き寄せ部材を備えていることを特徴とす
る基板端縁処理装置。
2. The substrate edge processing apparatus according to claim 1, wherein the droplet scraping means includes a scraping member having a top portion facing a rear surface side edge of the substrate. Edge processing device.
【請求項3】 請求項2記載の基板端縁処理装置におい
て、 上記掻き寄せ部材が基板の裏面側端縁のほぼ全長に亘っ
て設けられ、上記液滴掻き寄せ手段が上記掻き寄せ部材
を上記吸引除去手段とともに基板に対して進退させる進
退手段を有することを特徴とする基板端縁処理装置。
3. The substrate edge processing apparatus according to claim 2, wherein the scraping member is provided over substantially the entire length of the rear surface side edge of the substrate, and the droplet scraping means includes the scraping member. A substrate edge processing apparatus, characterized by having advancing / retreating means for advancing / retreating with respect to a substrate together with suction / removal means.
【請求項4】 請求項2記載の基板端縁処理装置におい
て、 上記掻き寄せ手段が上記掻き寄せ部材を上記吸引手段と
ともに基板の端縁に沿って移動させる移動手段を有する
ことを特徴とする基板端縁処理装置。
4. The substrate edge processing apparatus according to claim 2, wherein the scraping unit has a moving unit that moves the scraping member along with the suction unit along the edge of the substrate. Edge processing device.
【請求項5】 請求項2乃至4のいずれかに記載の基板
端縁処理装置において、上記液滴掻き寄せ手段が上記掻
き寄せ部材をその頂部が基板の裏面に近接する位置と、
離間する位置との間で昇降させる昇降手段を有すること
を特徴とする基板端縁処理装置。
5. The substrate edge processing apparatus according to any one of claims 2 to 4, wherein the liquid droplet scraping means has a position where the top of the scraping member is close to the back surface of the substrate.
A substrate edge processing apparatus, comprising: a raising / lowering means for raising / lowering between a separated position.
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