JP3370595B2 - プリセット型自動等化装置 - Google Patents

プリセット型自動等化装置

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JP3370595B2
JP3370595B2 JP05381398A JP5381398A JP3370595B2 JP 3370595 B2 JP3370595 B2 JP 3370595B2 JP 05381398 A JP05381398 A JP 05381398A JP 5381398 A JP5381398 A JP 5381398A JP 3370595 B2 JP3370595 B2 JP 3370595B2
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昭一郎 桑原
明秀 佐野
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  • Cable Transmission Systems, Equalization Of Radio And Reduction Of Echo (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光通信システムに
おいて、システム導入時に伝送路の総分散量を等化する
プリセット型自動等化装置に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、光伝送システムの通信容量とし
て、実験レベルで40Gbit/s が報告されている(参考文
献:M.Yoneyama et al.,"A 40-Gbit/s Optical Repeate
r Circuits using InAlAs/InGaAs HTMT Digital IC Chi
p Set", IEEE MTT-S Digest, WE1D-2,1997)。また、実
用レベルで10Gbit/s の伝送容量を有する超高速光伝送
システムが運用されている。今後、加入者系の光化、マ
ルチメディアサービスの展開などにより、高速広帯域通
信サービスの発展が予想されている。このようなサービ
スを経済的かつ効率的に提供するにはさらに高速化が必
要であり、そのためには光ファイバの波長分散による再
生中継距離の制限の克服が重要課題になっている。
【0003】ここで、波長分散について説明する。波長
分散は、光パルスを形成している異なる波長成分が屈折
率の周波数依存性により異なる速度で伝搬する現象であ
り、伝送速度や伝送距離に大きな制約を与える。ビット
レートBと許容分散量Dの関係は、信号光波長をλ、光
速をc、光ファイバ損失をα、カー定数をn2 、有効コ
ア面積をSeff 、再生中継距離をL、線形中継距離をZ
a 、各線形中継器の送信出力をPout とすると、
【0004】
【数1】
【0005】と表される(参考文献:A.Naka et al.,"I
n-Line Amplifier Transmission Distance Determined
by Self-Phase Modulation and Group-Velocity Disper
tion",J.Lightwave Technol., vol.12, no.2, p.280, 1
994) 。
【0006】式(1) に示すように、許容分散量Dは、ビ
ットレートBの2乗に比例して減少する。すなわち、許
容分散量Dは超高速光伝送システムで特に影響が大きい
ので、システム導入時に伝送路ごとに分散特性を測定し
て自動等化する技術が不可欠になる。
【0007】従来の自動等化装置としては、伝送後のデ
ータ信号から抽出したクロック成分の強度をモニタし、
それが最大になるように等化器を最適化するプリセット
等化方式が報告されている(参考文献:A.Sano et a
l.,"Automatic dispertion equalization by monitorin
g extracted-clod power level in a 40-Gbit/s, 200-k
mtransmission line", ECOC'96, TuD.3.5,2.207, 199
6)。この方式は構成が簡単であるとともに、自己位相変
調(SPM)による最適分散シフト量を検出できるなど
の利点がある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のプリ
セット等化方式では、クロック成分強度の分散量に対す
る周期性により極大値が周期的に存在し、ビットレート
の増加に伴って極大値が現れる分散の周期が狭くなる。
そのため、最大強度を検索するには、測定する分散量幅
を小さく変化させて測定しなければならない問題があ
る。例えば、上記の報告で40Gbit/s のRZ信号におい
て、プリセット等化できる分散量幅は75ps/nm程度
となり、測定する分散量幅を1000ps/nm程度とすれ
ば複数の極大値が存在することになる。また、伝送後の
データ信号から抽出したクロックをプリセット等化用試
験信号として用いるので、試験信号の周波数はデータ信
号のビットレートに依存する。
【0009】本発明は、特定の変調周波数に対してプリ
セット等化できる分散量幅を拡大し、測定する分散量範
囲内では極大値が1つしか存在しないようにして最大強
度の検索を容易にし、さらにデータ信号のビットレート
に依存しないプリセット型自動等化装置を提供すること
を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明のプリセット型自
動等化装置の送信部は、プリセット等化用の試験信号と
データ信号を切り替える測定・データ伝送切替回路と、
データ伝送時にはデータ信号で変調されたデータ信号光
を生成し、分散測定時には試験信号を用いてパルスごと
にチャープパラメータの符号が変化する交番チャープ信
号光を生成する光変調回路とを備える。受信部は、分散
量を変化させて分散補償を行う可変分散補償器と、分散
補償された交番チャープ信号光を受光して入力変調周波
数の2逓倍周波数成分強度を測定する周波数成分強度測
定回路と、その測定強度が最大になるように可変分散補
償器の分散量を制御する補償器制御回路と、測定・デー
タ伝送のモード切替通知、可変分散補償器の分散量や測
定強度などの情報を送信部に送信する制御信号送信回路
とを備える。この交番チャープ信号光を用い、入力変調
周波数の2逓倍周波数成分強度を測定して分散量等化を
行うので、プリセット等化できる分散量幅が拡大し、最
大強度の検索を容易にすることができる。
【0011】光変調回路は、変調器の挿入損失が最大と
なるバイアス電圧を設定することにより、入力された変
調周波数の2倍に逓倍された周波数成分をもつ交番チャ
ープ信号光を生成することができる。
【0012】また、光変調回路は、変調器のバイアス電
圧をAM変調し、変調器の出力光のAM変調成分を測定
し、そのAM変調成分が0となるようにバイアス電圧の
直流成分を調整することにより、安定した交番チャープ
信号光を生成することができる。
【0013】測定・データ伝送切替回路は、交番チャー
プ信号光を生成するための試験信号として、周波数が異
なる複数の分周クロックを切り替えて出力することによ
り、検出に要求される分散量幅に対して最適な変調周波
数をもつ交番チャープ信号を一意に決定することができ
る。これにより、データ信号の変調周波数に依存せず
に、プリセット等化できる分散量幅を拡大することがで
きる。
【0014】また、測定・データ伝送切替回路は、交番
チャープ信号光を生成するための試験信号として、デー
タ信号を識別する識別回路の識別電圧を調整して異なる
変調周波数の1,0固定パターンを生成することによ
り、検出に要求される分散量幅に対して最適な変調周波
数をもつ交番チャープ信号を一意に決定することができ
る。これにより、データ信号の変調周波数に依存せず
に、プリセット等化できる分散量幅を拡大することがで
きる。さらに、プリセット等化時の試験信号への切り替
え操作が不要になるので、構成が簡単になる。
【0015】
【発明の実施の形態】図1は、本発明のプリセット型自
動等化装置の実施形態を示す。送信部は、プリセット等
化用の試験信号とデータ信号を切り替える測定・データ
伝送切替回路1と、データ伝送時にはデータ信号で変調
されたデータ信号光を生成し、分散測定時には試験信号
を用いて交番チャープ信号光を生成する光変調回路2
と、送信用および受信用の光増幅器3とを備える。送信
部からの信号光は伝送用光ファイバ4を介して受信部に
伝送される。
【0016】受信部は、分散量を変化させて分散補償を
行う可変分散補償器5と、光電気変換器6と、等化増幅
器7と、分岐器8と、識別回路9と、入力変調周波数の
2逓倍周波数成分強度を測定する周波数成分強度測定回
路10と、測定結果をモニタして可変分散補償器5の分
散量を制御する補償器制御回路11と、測定・データ伝
送のモード切替通知、可変分散補償器5の分散量や測定
強度などの情報を含む制御光を生成する制御信号送信回
路12と、送信用および受信用の光増幅器3とを備え
る。受信部からの制御光は伝送用光ファイバ13を介し
て受信部に伝送される。
【0017】以上の構成において、プリセット等化は次
のように行う。プリセット等化時に、受信部の制御信号
送信回路12は、測定・データ伝送切替回路1に対して
試験信号に切り替える通知を送信する。この通知を受け
た測定・データ伝送切替回路1は、試験信号を光変調回
路2に送り、測定を開始する。光変調回路2は、この試
験信号を用いて交番チャープ信号光を生成し、光増幅器
3で増幅して伝送用光ファイバ4に出力する。
【0018】受信部に受信した交番チャープ信号光は、
光増幅器3で増幅され、可変分散補償器5で分散補償さ
れ、光電気変換器6で電気信号に変換される。この電気
信号は、等化増幅器7で増幅されて分岐器8に入力さ
れ、識別回路9と周波数成分強度測定回路10に分岐さ
れる。周波数成分強度測定回路10は、入力変調周波数
の2逓倍周波数成分強度を測定する。
【0019】本発明の特徴である交番チャープ信号は、
パルスごとにチャープパラメータの符号が変化する信号
である。そのため、伝送路の分散量の変化に対して同符
号のチャープを持つパルス(入力変調周波数の1周期間
隔ごとに存在するパルス)が同様の分散の影響を受け、
分散量の変化に対して、入力変調周波数の2逓倍周波数
成分強度が変化する。ここで、20GHz交番チャープパル
スを用いて分散量を変化させたときに、伝送後のパルス
波形の変化を測定した結果を図2に示す。図に示すよう
に、同符号のチャープを持つパルスが、分散に対して同
様に変化し、分散量の増加に伴い10GHz繰り返しパルス
のようになる。
【0020】補償器制御回路11は可変分散補償器5の
分散量を変化させ、周波数成分強度測定回路10は分散
量の変化に対する入力変調周波数の2逓倍周波数成分の
強度変化を測定する。補償器制御回路11は測定結果を
モニタし、測定強度が最大となる分散量を可変分散補償
器8に設定し、等化を行う。等化完了後に制御信号送信
回路12は、測定・データ伝送切替回路1に対してデー
タ信号に切り替える通知を送信する。これにより、プリ
セット自動等化が完了し、データ信号に切り替えてデー
タ伝送を開始する。
【0021】図1に示す実施形態では、受信部におい
て、伝送後の信号光を光電気変換後に分岐して強度を測
定するが、図3に示す他の実施形態のように、分岐する
方法として可変分散補償器5を通過後に光分岐器14で
分岐し、光電気変換器6−2で電気信号に変換して周波
数成分強度測定回路10に入力するようにしてもよい。
【0022】(光変調回路2の第1の実施例)図4は、
本発明のプリセット型自動等化装置における光変調回路
2の第1の実施例を示す。
【0023】光変調回路2は、光源21、変調器22、
増幅器23、分岐器24、光パワー測定回路25、バイ
アス電圧制御回路26により構成される。測定・データ
伝送切替回路1で選択された試験信号またはデータ信号
は、増幅器23を介して変調器22を駆動し、光源21
から出力されるCW光を変調する。変調後の信号光の一
部は、分岐器24で分岐して光パワー測定回路25で光
パワーが測定され、その光パワーが最小となるようにバ
イアス電圧制御回路26で変調器22のバイアス電圧を
設定する。変調器22には、例えばマッハツェンダ型L
N変調器が用いられる。本実施形態における交番チャー
プ信号光の生成については、原理確認実験の結果を用い
て説明する。
【0024】図5は、変調器22の消光比の静特性を示
す。図6は、変調器22の入力信号波形と、出力光信号
波形およびチャープ変化を示す。図5に示すように、変
調器22のバイアス電圧を変調器22の挿入損失が最大
となる電圧に設定する。このとき、入力電圧と出力光パ
ワーの関係は偶関数として表され、入力された変調周波
数(図6(a))の2倍に逓倍された周波数成分をもつ光信
号が出力される(図6(b))。この光信号は、パルスごと
にチャープパラメータの符号が変化する交番チャープ信
号光となる。本実施形態では、この交番チャープ信号光
をプリセット等化用に用いる。
【0025】光パワー測定回路25には、例えば光パワ
ーメータが用いられる。伝送用光ファイバ4には、例え
ば分散シフトファイバが用いられる。可変分散補償器5
は、例えば分散量が異なる複数の分散補償ファイバを光
スイッチを用いて切り替えることにより実現される。そ
の他の可変分散補償器としては、複数のファイバグレー
ティングを光スイッチにより切り替えてもよいし、チャ
ープドグレーティングに温度または張力を加えてもよい
し、PLCの温度を変化させて分散量を変化させるよう
にしてもよい。周波数成分強度測定回路10には、例え
ば所定の周波数が通過する帯域通過フィルタを用いてフ
ィルタリングした信号強度をRFパワーメータで測定す
る方法が用いられる。
【0026】本実施例の交番チャープ信号光の効果を確
認するために、10GHzの試験信号により生成した20GHz
交番チャープ信号光を用いて分散量の変化に対する20G
Hz成分の強度変化を測定した結果を図7に示す。測定結
果から、プリセット等化できる分散量幅は 566ps/n
mに拡大できたことが確認された。また、本実施形態で
は、変調器入力周波数を出力信号の1/2に低減できる
ので、駆動回路や光変調器の所要特性を緩和することが
できる。
【0027】(光変調回路2の第2の実施例)図8は、
本発明のプリセット型自動等化装置における光変調回路
2の第2の実施例を示す。
【0028】図4に示す第1の実施例では変調器22の
出力パワーをモニタし、出力パワーが最小となるバイア
ス電圧を設定して交番チャープ信号光を生成する構成で
あった。本実施例では、さらに変調器22のバイアス電
圧をAM変調し、変調器22の出力光のAM変調成分を
測定し、そのAM変調成分が0となるようにバイアス電
圧の直流成分を調整することを特徴とする。
【0029】バイアス電圧AM変調制御回路27は、バ
イアス電圧制御回路26を制御して変調器22のバイア
ス電圧をAM変調する。AM変調成分測定回路28は、
変調器22の出力パワーのAM変調成分を測定し、バイ
アス電圧制御回路26はそのAM変調成分が0となるよ
うにバイアス電圧の直流成分を調整する。これにより、
交番チャープ信号光を安定して生成することができる。
【0030】(測定・データ伝送切替回路1の第1の実
施例)図9は、本発明のプリセット型自動等化装置にお
ける測定・データ伝送切替回路1の第1の実施例を示
す。
【0031】本実施例の特徴は、プリセット等化用に交
番チャープ信号光を生成するための試験信号として、周
波数が異なる複数の分周クロックを切り替えて用いると
ころにある。なお、光変調回路2は、図4の第1の実施
例のものを示すが、図8に示す第2の実施例のものを用
いてもよい。
【0032】データ信号を生成する多重化部31は多段
接続の多重化回路MUXで構成され、各多重化回路はそ
れぞれ対応する周波数の分周クロック32により駆動さ
れる。クロック選択回路33は、周波数が異なる複数の
分周クロック32の1つを試験信号として選択する。ス
イッチ34は、この試験信号または多重化部31から出
力されるデータ信号を選択して光変調回路2に出力す
る。クロック選択回路33およびスイッチ34は、入力
信号制御回路35により制御される。
【0033】試験信号の変調周波数が高い場合には、プ
リセット等化できる分散量幅は減少する。一方、試験信
号の変調周波数が低い場合には、プリセット等化できる
分散量幅は増加するが、最大強度付近において分散量の
変化に対する強度変化が小さく、最大強度の測定が困難
になる。すなわち、プリセット等化できる分散量幅と分
散量の変化に対する強度変化は、オレードオフの関係に
なっている。そこで、交番チャープ信号光を生成するた
めの試験信号として、周波数が異なる複数の分周クロッ
クを切り替えて用いる。
【0034】第一段階は、低い周波数の分周クロックを
用いて測定する。この場合には、特定の強度になる分散
量を測定し、分散量幅を最大強度付近の分散量まで狭め
ることが目的となる。第二段階は、高い周波数の分周ク
ロックに切り替えて最大強度になる分散量を検出し、等
化する。このような構成により、データ信号の変調周波
数に依存せずに、プリセット等化できる分散量幅を拡大
し、強度が最大となる分散量の検出を容易にして等化す
ることができる。
【0035】(測定・データ伝送切替回路1の第2の実
施例)図10は、本発明のプリセット型自動等化装置に
おける測定・データ伝送切替回路1の第2の実施例を示
す。
【0036】本実施例の特徴は、プリセット等化用に交
番チャープ信号光を生成するための試験信号として、多
重化部の入力信号から異なる変調周波数の1,0固定パ
ターンを生成するところにある。なお、光変調回路2
は、図4の第1の実施例のものを示すが、図8に示す第
2の実施例のものを用いてもよい。
【0037】データ信号を生成する多重化部41は、入
力信号を識別回路DECで識別して多重化回路MUXで
多重化する構成である。識別回路DECは、入力信号の
識別電圧を設定することにより出力値を変化させること
ができる。入力信号制御回路42は、各識別回路DEC
の識別電圧を制御することにより、多重化部41で入力
信号から異なる変調周波数の1,0固定パターンを生成
することができる。すなわち、本構成においても、図9
の構成と同様に試験信号の変調周波数を変化させること
ができる。したがって、データ信号の変調周波数に依存
せずに、プリセット等化できる分散量幅を拡大し、強度
が最大となる分散量の検出を容易にして等化することが
できる。さらに、プリセット等化時の試験信号への切り
替え操作が不要になるので、構成が簡単になる。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のプリセッ
ト型自動等化装置は、パルスごとにチャープパラメータ
の符号が変化する交番チャープ信号光を用いてプリセッ
ト等化処理を行うことにより、分散量の変化に対する入
力変調周波数の2逓倍周波数成分の強度変化を測定する
ことができる。これにより、プリセット等化できる分散
量幅を拡大することができる。また、変調器入力周波数
を出力信号の1/2に低減できるので、駆動回路や光変
調器の所要特性を緩和することができる。
【0039】また、検出に要求される分散量幅に対して
最適な変調周波数をもつ交番チャープ信号を一意に決定
することができるので、データ信号のビットレートに依
存しない構成が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のプリセット型自動等化装置の実施形態
を示すブロック図。
【図2】分散量の変化に対する交番チャープ信号光の伝
送後のパルス波形を示す図。
【図3】本発明のプリセット型自動等化装置の他の実施
形態を示すブロック図。
【図4】光変調回路2の第1の実施例を示すブロック
図。
【図5】変調器22の消光比の静特性を示す図。
【図6】変調器22への入力信号波形、出力光信号波形
およびチャープ変化を示す図。
【図7】分散量の変化に対する20GHz成分の強度変化の
測定結果を示す図。
【図8】光変調回路2の第2の実施例を示すブロック
図。
【図9】測定・データ伝送切替回路1の第1の実施例を
示すブロック図。
【図10】測定・データ伝送切替回路1の第2の実施例
を示すブロック図。
【符号の説明】
1 測定・データ伝送切替回路 2 光変調回路 3 光増幅器 4,13 伝送用光ファイバ 5 可変分散補償器 6 光電気変換器 7 等化増幅器 8 分岐器 9 識別回路 10 周波数成分強度測定回路 11 補償器制御回路 12 制御信号送信回路 14 光分岐器 21 光源 22 変調器 23 増幅器 24 分岐器 25 光パワー測定回路 26 バイアス電圧制御回路 27 バイアス電圧AM変調制御回路 28 AM変調成分測定回路 31 多重化部 32 分周クロック 33 クロック選択回路 34 スイッチ 35 入力信号制御回路 41 多重化部 42 入力信号制御回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平9−326755(JP,A) 特開 平5−183511(JP,A) 特開 平9−284218(JP,A) 特開 平9−107335(JP,A) 桑原 昭一郎,佐野 明秀,宮本 裕,“交番チャープ信号を用いたプリセ ット型自動分散等化方式の一検討”, 1998年電子情報通信学会総合大会 通信 2,1998年3月6日,p.587,(B− 10−125) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04B 10/00 H04B 3/00 H04B 17/00 INSPEC(DIALOG) JICSTファイル(JOIS)

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 伝送用光ファイバを介して接続された送
    信部と受信部との間で、伝送用光ファイバの総分散量を
    等化するプリセット型自動等化装置において、 前記送信部は、プリセット等化用の試験信号とデータ信
    号を切り替える測定・データ伝送切替回路と、データ伝
    送時にはデータ信号で変調されたデータ信号光を生成
    し、分散測定時には試験信号を用いてパルスごとにチャ
    ープパラメータの符号が変化する交番チャープ信号光を
    生成する光変調回路とを備え、 前記受信部は、分散量を変化させて分散補償を行う可変
    分散補償器と、分散補償された交番チャープ信号光を受
    光して入力変調周波数の2逓倍周波数成分強度を測定す
    る周波数成分強度測定回路と、その測定強度が最大にな
    るように前記可変分散補償器の分散量を制御する補償器
    制御回路と、測定・データ伝送のモード切替通知、前記
    可変分散補償器の分散量や測定強度などの情報を前記送
    信部に送信する制御信号送信回路とを備えたことを特徴
    とするプリセット型自動等化装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のプリセット型自動等化
    装置において、 光変調回路は、変調器の挿入損失が最大となるバイアス
    電圧を設定し、入力された変調周波数の2倍に逓倍され
    た周波数成分をもつ交番チャープ信号光を生成する手段
    を備えたことを特徴とするプリセット型自動等化装置。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載のプリセット型自動等化
    装置において、 光変調回路は、変調器のバイアス電圧をAM変調し、変
    調器の出力光のAM変調成分を測定し、そのAM変調成
    分が0となるようにバイアス電圧の直流成分を調整する
    手段を備えたことを特徴とするプリセット型自動等化装
    置。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載のプリセット型自動等化
    装置において、 測定・データ伝送切替回路は、交番チャープ信号光を生
    成するための試験信号として、周波数が異なる複数の分
    周クロックを切り替えて出力する手段を備えたことを特
    徴とするプリセット型自動等化装置。
  5. 【請求項5】 請求項1に記載のプリセット型自動等化
    装置において、 測定・データ伝送切替回路は、交番チャープ信号光を生
    成するための試験信号として、データ信号を識別する識
    別回路の識別電圧を調整して異なる変調周波数の1,0
    固定パターンを生成する手段を備えたことを特徴とする
    プリセット型自動等化装置。
JP05381398A 1998-03-05 1998-03-05 プリセット型自動等化装置 Expired - Fee Related JP3370595B2 (ja)

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