JP3366657B2 - 光磁気ディスク再生装置 - Google Patents
光磁気ディスク再生装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光磁気ディスク再生装置
に係り、特にピットエッジ記録方式で情報が記録された
光磁気ディスクから既記録情報を再生する光磁気ディス
ク再生装置に関する。
に係り、特にピットエッジ記録方式で情報が記録された
光磁気ディスクから既記録情報を再生する光磁気ディス
ク再生装置に関する。
【０００２】光磁気ディスクの記録再生装置は、大容
量、可換性、高信頼性等により、イメージ情報の記録再
生からコンピュータ用のコード記録可能なものまで急速
に普及している。かかる光磁気ディスクのより一層の大
容量化及び転送速度の向上を図るための技術の一つとし
て、近年、ピットエッジ記録方式（又は単にエッジ記録
方式）が提案されている。
量、可換性、高信頼性等により、イメージ情報の記録再
生からコンピュータ用のコード記録可能なものまで急速
に普及している。かかる光磁気ディスクのより一層の大
容量化及び転送速度の向上を図るための技術の一つとし
て、近年、ピットエッジ記録方式（又は単にエッジ記録
方式）が提案されている。
【０００３】
【従来の技術】図８は光磁気ディスクの書き換え原理を
示す。同図（Ａ）に示す如く、まず外部磁界発生器１は
光磁気ディスク媒体２に対して例えばＮ極側が光磁気デ
ィスク２の媒体面に近接する方向の磁界を与える。この
状態で回転する光磁気ディスク２の媒体面に対物レンズ
３を介して消去光ビーム４を絞って入射すると、消去光
ビーム４が照射されている局部位置の温度が上昇し、磁
化反転が行なわれ、図８（Ａ）に下向きの矢印で示す如
く磁化方向が一方向に揃えられる。これにより光磁気デ
ィスク２の媒体部分５が消去される。
示す。同図（Ａ）に示す如く、まず外部磁界発生器１は
光磁気ディスク媒体２に対して例えばＮ極側が光磁気デ
ィスク２の媒体面に近接する方向の磁界を与える。この
状態で回転する光磁気ディスク２の媒体面に対物レンズ
３を介して消去光ビーム４を絞って入射すると、消去光
ビーム４が照射されている局部位置の温度が上昇し、磁
化反転が行なわれ、図８（Ａ）に下向きの矢印で示す如
く磁化方向が一方向に揃えられる。これにより光磁気デ
ィスク２の媒体部分５が消去される。
【０００４】次に光磁気ディスク２の消去部分に対して
図８（Ｂ）に示す如く外部磁界発生器１の印加磁界の方
向を消去時と反対にし、記録しようとする情報で光強度
が大又は小に変調された記録光ビーム６を対物レンズ３
で絞って光磁気ディスク２の媒体面上に照射する。この
とき、記録光ビームの光強度が大のときは、当該記録光
ビームが照射された局部位置の温度が上昇し、磁化反転
か行なわれ、消去のときとは反対方向に磁化される。
図８（Ｂ）に示す如く外部磁界発生器１の印加磁界の方
向を消去時と反対にし、記録しようとする情報で光強度
が大又は小に変調された記録光ビーム６を対物レンズ３
で絞って光磁気ディスク２の媒体面上に照射する。この
とき、記録光ビームの光強度が大のときは、当該記録光
ビームが照射された局部位置の温度が上昇し、磁化反転
か行なわれ、消去のときとは反対方向に磁化される。
【０００５】一方、記録光ビームの光強度が小のときは
光磁気ディスク２の光ビーム照射位置が加熱されること
はないため、磁化反転は行なわれず、光磁気ディスク２
の磁化方向は消去時のものがそのまま残る。これによ
り、図８（Ｂ）の７に示す光磁気ディスク媒体面に記録
したい情報が書き込まれる。
光磁気ディスク２の光ビーム照射位置が加熱されること
はないため、磁化反転は行なわれず、光磁気ディスク２
の磁化方向は消去時のものがそのまま残る。これによ
り、図８（Ｂ）の７に示す光磁気ディスク媒体面に記録
したい情報が書き込まれる。
【０００６】ここで、前記したピットエッジ記録方式で
は記録データが図９（Ａ）に示す如き２値符号列である
場合、値“１”のビット位置でのみ光強度が反転する、
同図（Ｂ）に示す記録光ビーム発光パターンを作成し、
これを前記記録光ビーム６として光磁気ディスク２上に
照射する。これにより、光磁気ディスク２の媒体平面上
の１本のトラックの記録ピット（磁区）は図９（Ｃ）に
示す如くになる。
は記録データが図９（Ａ）に示す如き２値符号列である
場合、値“１”のビット位置でのみ光強度が反転する、
同図（Ｂ）に示す記録光ビーム発光パターンを作成し、
これを前記記録光ビーム６として光磁気ディスク２上に
照射する。これにより、光磁気ディスク２の媒体平面上
の１本のトラックの記録ピット（磁区）は図９（Ｃ）に
示す如くになる。
【０００７】このようにして光磁気ディスク２に記録さ
れたデータの再生は、既記録データが光磁気ディスク２
に磁化方向の変化として記録されているので、磁気カー
効果を利用して行なう。すなわち、光磁気ディスク２の
媒体面の反射光の偏光面は記録磁化の方向に応じて回転
するので、この反射光の偏光面の回転方向を弁別するこ
とで既記録データを再生する。
れたデータの再生は、既記録データが光磁気ディスク２
に磁化方向の変化として記録されているので、磁気カー
効果を利用して行なう。すなわち、光磁気ディスク２の
媒体面の反射光の偏光面は記録磁化の方向に応じて回転
するので、この反射光の偏光面の回転方向を弁別するこ
とで既記録データを再生する。
【０００８】従って、再生時は図１０（Ａ）に示す各ト
ラック上に対物レンズで光ビームを絞って再生光スポッ
ト７を形成走査し、これにより得られる反射光の偏光面
の回転方向を弁別して同図（Ｂ）に示す如き再生波形を
得る。この再生波形から再生波形のセンターレベルを横
切る時点が値“１”で、他は“０”である、図１０
（Ｃ）に示す如き再生データが復調される。
ラック上に対物レンズで光ビームを絞って再生光スポッ
ト７を形成走査し、これにより得られる反射光の偏光面
の回転方向を弁別して同図（Ｂ）に示す如き再生波形を
得る。この再生波形から再生波形のセンターレベルを横
切る時点が値“１”で、他は“０”である、図１０
（Ｃ）に示す如き再生データが復調される。
【０００９】上記の基本原理に基づいて記録され、か
つ、再生されるピットエッジ記録方式の光ディスクの再
生装置においては、磁区のエッジの位置が重要であるの
で、光磁気ディスクに記録された磁区列の磁区のエッジ
位置間隔の変化の影響を受けずに再生することが必要と
される。
つ、再生されるピットエッジ記録方式の光ディスクの再
生装置においては、磁区のエッジの位置が重要であるの
で、光磁気ディスクに記録された磁区列の磁区のエッジ
位置間隔の変化の影響を受けずに再生することが必要と
される。
【００１０】図１１は本出願人が先に特願平３−５７３
２８号にて提案した光磁気ディスク再生装置の一例のブ
ロック図を示す。同図中、光学ヘッド８は前記したピッ
トエッジ記録方式で記録された光磁気ディスクから再生
信号を得るための公知の光学系及び回路系を備えた装置
で、この光学ヘッド８は再生信号をエッジ検出回路９へ
供給する。
２８号にて提案した光磁気ディスク再生装置の一例のブ
ロック図を示す。同図中、光学ヘッド８は前記したピッ
トエッジ記録方式で記録された光磁気ディスクから再生
信号を得るための公知の光学系及び回路系を備えた装置
で、この光学ヘッド８は再生信号をエッジ検出回路９へ
供給する。
【００１１】エッジ検出回路９は前記した記録ドメイン
の前縁と後縁の夫々に相当する再生信号のエッジを別々
に検出し、前縁のエッジ検出信号をディレイライン１０
及びカウンタ１１に供給し、後縁のエッジ検出信号をリ
セットパルスとしてカウンタ１１及びラッチ回路１２に
夫々供給すると共に合成回路１３に供給する。
の前縁と後縁の夫々に相当する再生信号のエッジを別々
に検出し、前縁のエッジ検出信号をディレイライン１０
及びカウンタ１１に供給し、後縁のエッジ検出信号をリ
セットパルスとしてカウンタ１１及びラッチ回路１２に
夫々供給すると共に合成回路１３に供給する。
【００１２】ディレイライン１０は前縁のエッジ検出信
号を供給されて、これをカウンタクロック周期の整数倍
だけ遅延して出力する。すなわち、ディレイライン１０
の複数の出力端子からはカウンタクロックの最小１周期
から最大ｎ＋１周期まで夫々遅延された、互いに遅延時
間の異なる遅延信号が並列に出力される。この並列出力
遅延信号はマルチプレクサ１４に夫々供給される。
号を供給されて、これをカウンタクロック周期の整数倍
だけ遅延して出力する。すなわち、ディレイライン１０
の複数の出力端子からはカウンタクロックの最小１周期
から最大ｎ＋１周期まで夫々遅延された、互いに遅延時
間の異なる遅延信号が並列に出力される。この並列出力
遅延信号はマルチプレクサ１４に夫々供給される。
【００１３】カウンタ１１はｎ＋１（ｎは自然数）進の
カウンタであり、後述のＰＬＬ１５よりデータのビット
周期当りｎ＋１個のパルスのカウントクロックを供給さ
れており、後縁のエッジ検出信号の立下がり時にリセッ
トされた後、カウントクロックによってカウントアップ
し、そのカウント値をラッチ回路１２に供給する。ラッ
チ回路１２は後縁のエッジ検出信号の立下がり時にリセ
ットされ、前縁のエッジ検出信号の立下がり時にカウン
タ１１よりのカウント値をラッチしてマルチプレクサ１
２にセレクト信号を供給する。
カウンタであり、後述のＰＬＬ１５よりデータのビット
周期当りｎ＋１個のパルスのカウントクロックを供給さ
れており、後縁のエッジ検出信号の立下がり時にリセッ
トされた後、カウントクロックによってカウントアップ
し、そのカウント値をラッチ回路１２に供給する。ラッ
チ回路１２は後縁のエッジ検出信号の立下がり時にリセ
ットされ、前縁のエッジ検出信号の立下がり時にカウン
タ１１よりのカウント値をラッチしてマルチプレクサ１
２にセレクト信号を供給する。
【００１４】マルチプレクサ１４はラッチ回路１２より
供給されるカウント値ｉで指示される遅延信号入力端子
を選択してその遅延信号を合成回路１３に供給する。
供給されるカウント値ｉで指示される遅延信号入力端子
を選択してその遅延信号を合成回路１３に供給する。
【００１５】つまり、前縁のエッジ検出信号を遅延する
ことにより、前縁のエッジ検出信号を後縁のエッジ検出
信号に対して同期させている。
ことにより、前縁のエッジ検出信号を後縁のエッジ検出
信号に対して同期させている。
【００１６】ＰＬＬ１５は合成信号の立上がり及び立下
がりに同期したクロック（カウントクロックはこのクロ
ックを分周したものである）を生成してデータセパレー
タ１６に供給する。データセパレータ１６は上記クロッ
クを用いてデータを分離し、分離したデータをクロック
と共に復調回路１７に供給する。復調回路１７は走長制
限符号（ＲＬＬＣ）である分離したデータからＮＲＺ
（ノン・リターン・ツウ・ゼロ）符号の信号に復調す
る。
がりに同期したクロック（カウントクロックはこのクロ
ックを分周したものである）を生成してデータセパレー
タ１６に供給する。データセパレータ１６は上記クロッ
クを用いてデータを分離し、分離したデータをクロック
と共に復調回路１７に供給する。復調回路１７は走長制
限符号（ＲＬＬＣ）である分離したデータからＮＲＺ
（ノン・リターン・ツウ・ゼロ）符号の信号に復調す
る。
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、記録に際し
ては、記録光ビームにより選択的に加熱して記録磁区を
形成する熱磁気書込みである。従って、まず、環境温度
が変化すると同一パワーで記録光ビームを照射しても温
度分布は同一にならず形成される磁区の大きさが変化し
エッジの位置間隔が変化して正しい記録ができない。ま
た、光磁気ディスク媒体の媒体内での感度バラツキある
いは媒体間での感度バラツキにより、温度分布が同一で
あっても形成される磁区の大きさにバラツキが生じる。
更に、形成される磁区は図９（Ｃ）に示した如く涙滴形
状と呼ばれる形状をしており、磁区の前縁の形状と後縁
の形状とで検出位置にずれが生じる。
ては、記録光ビームにより選択的に加熱して記録磁区を
形成する熱磁気書込みである。従って、まず、環境温度
が変化すると同一パワーで記録光ビームを照射しても温
度分布は同一にならず形成される磁区の大きさが変化し
エッジの位置間隔が変化して正しい記録ができない。ま
た、光磁気ディスク媒体の媒体内での感度バラツキある
いは媒体間での感度バラツキにより、温度分布が同一で
あっても形成される磁区の大きさにバラツキが生じる。
更に、形成される磁区は図９（Ｃ）に示した如く涙滴形
状と呼ばれる形状をしており、磁区の前縁の形状と後縁
の形状とで検出位置にずれが生じる。
【００１８】しかし、前記した本出願人の提案になる再
生装置によれば、ディレイライン１０で複数の遅延時間
が得られるように構成して、ＰＬＬ１５に同期したカウ
ンタ１１でデータ間を数え、そのカウンタ値から最適な
ディレイラインの遅延時間を選択するようにしているた
め、上記の問題が解決できる。
生装置によれば、ディレイライン１０で複数の遅延時間
が得られるように構成して、ＰＬＬ１５に同期したカウ
ンタ１１でデータ間を数え、そのカウンタ値から最適な
ディレイラインの遅延時間を選択するようにしているた
め、上記の問題が解決できる。
【００１９】しかし、上記の提案装置は複雑な計測をす
ることに加えて正確な遅延量を与えるためには数多くの
遅延時間が必要で数多くのディレイラインが必要であ
る。また、上記の提案装置ではドメインの前縁のエッジ
検出信号をドメインの後縁のエッジ検出信号を基準にし
て遅延しているため、ドメインの大きさが標準より大な
る場合には補正できるが、極低温下での記録時のように
ドメインの大きさが標準より小さくなるような変化に対
しては補正できない。
ることに加えて正確な遅延量を与えるためには数多くの
遅延時間が必要で数多くのディレイラインが必要であ
る。また、上記の提案装置ではドメインの前縁のエッジ
検出信号をドメインの後縁のエッジ検出信号を基準にし
て遅延しているため、ドメインの大きさが標準より大な
る場合には補正できるが、極低温下での記録時のように
ドメインの大きさが標準より小さくなるような変化に対
しては補正できない。
【００２０】本発明は以上の点に鑑みなされたもので、
少ないディレイラインでエッジ位置間隔がどのように変
化しても、その変化の影響を補正して再生できる光磁気
ディスク再生装置を提供することを目的とする。
少ないディレイラインでエッジ位置間隔がどのように変
化しても、その変化の影響を補正して再生できる光磁気
ディスク再生装置を提供することを目的とする。
【００２１】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理ブロ
ック図を示す。同図中、再生手段１８は、記録ピットの
エッジ位置がデータと対応するよう形成した光磁気ディ
スク１９を再生する。
ック図を示す。同図中、再生手段１８は、記録ピットの
エッジ位置がデータと対応するよう形成した光磁気ディ
スク１９を再生する。
【００２２】エッジ検出手段２０は前記再生手段１８の
出力再生信号に基づき前記記録ピットの前縁に対応した
前縁検出信号と、前記記録ピットの後縁に対応した後縁
検出信号とを夫々生成出力する。
出力再生信号に基づき前記記録ピットの前縁に対応した
前縁検出信号と、前記記録ピットの後縁に対応した後縁
検出信号とを夫々生成出力する。
【００２３】ピーク値検出手段２１は、前記再生手段１
８の出力再生信号のピーク値を検出する。
８の出力再生信号のピーク値を検出する。
【００２４】ボトム値検出手段２２は、前記再生手段１
８の出力再生信号のボトム値を検出する。
８の出力再生信号のボトム値を検出する。
【００２５】第１の演算手段２３は、前記ピーク値検出
手段２１により検出した前記ピーク値に基づいて前記後
縁位置の補正値を演算する。
手段２１により検出した前記ピーク値に基づいて前記後
縁位置の補正値を演算する。
【００２６】第２の演算手段２４は前記ボトム値検出手
段２２により検出したボトム値及び前記ピーク値検知手
段２１により検出したピーク値に基づいて前記前縁位置
の補正値を演算する。
段２２により検出したボトム値及び前記ピーク値検知手
段２１により検出したピーク値に基づいて前記前縁位置
の補正値を演算する。
【００２７】第１の補正手段２５は、前記第１の演算手
段２３で生成された補正値に応じて前記後縁位置を補正
する。
段２３で生成された補正値に応じて前記後縁位置を補正
する。
【００２８】第２の補正手段２６は、前記第２の演算手
段２４で生成された補正値に応じて前記前縁位置を補正
する。
段２４で生成された補正値に応じて前記前縁位置を補正
する。
【００２９】
【作用】図１において、再生手段から得られた再生信号
はエッジ検出手段、ピーク検出手段、ボトム検出手段に
供給される。再生信号からエッジ検出手段でエッジを検
出し、記録ピットの前縁にあたるエッジ信号と後縁にあ
たるエッジ信号をそれぞれ別に検出する。また、再生信
号をピーク検出手段とボトム検出手段へ送り、再生信号
の波高値すなわちピーク電圧値とボトム電圧値をそれぞ
れ逐次保持する。ピーク検出手段より得られる再生信号
のピーク値から第１の演算手段で演算を行い演算結果を
第１の補正手段へ送り後縁再生パルスを補正する。ま
た、ピーク検出手段から得たピーク値とボトム検出手段
から得たボトム値を第２の演算手段へ供給し演算を行い
演算結果を第２の補正手段へ供給し前縁再生パルスを補
正する。
はエッジ検出手段、ピーク検出手段、ボトム検出手段に
供給される。再生信号からエッジ検出手段でエッジを検
出し、記録ピットの前縁にあたるエッジ信号と後縁にあ
たるエッジ信号をそれぞれ別に検出する。また、再生信
号をピーク検出手段とボトム検出手段へ送り、再生信号
の波高値すなわちピーク電圧値とボトム電圧値をそれぞ
れ逐次保持する。ピーク検出手段より得られる再生信号
のピーク値から第１の演算手段で演算を行い演算結果を
第１の補正手段へ送り後縁再生パルスを補正する。ま
た、ピーク検出手段から得たピーク値とボトム検出手段
から得たボトム値を第２の演算手段へ供給し演算を行い
演算結果を第２の補正手段へ供給し前縁再生パルスを補
正する。
【００３０】図２（Ａ）に示すように後縁のずれ量ｄｔ
ｐとピーク値Ｖｐの関係は、一次関数的に決まるため第
１の演算手段による演算は、 ｄｔｐ＝Ｋｐ1 ×Ｖｐ＋Ｃｐ1 …（１） ［ただし、Ｋｐ1 は傾き、Ｃｐ1 は定数］と表わすこと
ができる。
ｐとピーク値Ｖｐの関係は、一次関数的に決まるため第
１の演算手段による演算は、 ｄｔｐ＝Ｋｐ1 ×Ｖｐ＋Ｃｐ1 …（１） ［ただし、Ｋｐ1 は傾き、Ｃｐ1 は定数］と表わすこと
ができる。
【００３１】また、図２（Ｂ）に示すピット長（磁区の
長さ）ｔｐとＶｐとの関係、及び図３（Ａ）に示すｔｐ
と前縁のずれ量ｄｔｂが零となるときのボトム値Ｖｂ0
との関係はそれぞれ、 ｔｐ＝Ｋｐ2 ×Ｖｐ＋Ｃｐ2 …（２） ｔｐ＝Ｋｂ1 ×Ｖｂ0 ＋Ｃｂ1 …（３） ［ただし、Ｋｐ2 とＫｂ1 は傾き、Ｃｐ2 とＣｂ1 は定
数］ と一次関数的に決まる。前縁のずれ量ｄｔｂは図３
（Ｂ）に示す特性よりボトム値Ｖｂに対応して決まって
いる。
長さ）ｔｐとＶｐとの関係、及び図３（Ａ）に示すｔｐ
と前縁のずれ量ｄｔｂが零となるときのボトム値Ｖｂ0
との関係はそれぞれ、 ｔｐ＝Ｋｐ2 ×Ｖｐ＋Ｃｐ2 …（２） ｔｐ＝Ｋｂ1 ×Ｖｂ0 ＋Ｃｂ1 …（３） ［ただし、Ｋｐ2 とＫｂ1 は傾き、Ｃｐ2 とＣｂ1 は定
数］ と一次関数的に決まる。前縁のずれ量ｄｔｂは図３
（Ｂ）に示す特性よりボトム値Ｖｂに対応して決まって
いる。
【００３２】ｄｔｂとＶｂの関係を式に示すと、
【００３３】
【数１】
【００３４】したがって、図３（Ｂ）に示す関係を求め
ると、以上のように第２の演算手段は、
ると、以上のように第２の演算手段は、
【００３５】
【数２】
【００３６】と表わすことができる。
【００３７】よって、式（１）に再生信号のピーク値Ｖ
ｐを入力することにより補正しなければならない後縁の
ずれ量ｄｔｐを求めることができ、式（１０）に再生信
号のピーク値Ｖｐとボトム値Ｖｂを入力することにより
補正しなければならない前縁のずれ量ｄｔｂを求めるこ
とができる。後縁のずれ量ｄｔｐ及び前縁のずれ量ｄｔ
ｂに応じて補正手段を制御することにより前縁及び後縁
を両方とも補正することができる。
ｐを入力することにより補正しなければならない後縁の
ずれ量ｄｔｐを求めることができ、式（１０）に再生信
号のピーク値Ｖｐとボトム値Ｖｂを入力することにより
補正しなければならない前縁のずれ量ｄｔｂを求めるこ
とができる。後縁のずれ量ｄｔｐ及び前縁のずれ量ｄｔ
ｂに応じて補正手段を制御することにより前縁及び後縁
を両方とも補正することができる。
【００３８】
【実施例】図４は本発明の一実施例のブロック図、図５
は本発明の一実施例の動作を説明するための波形図を示
す。
は本発明の一実施例の動作を説明するための波形図を示
す。
【００３９】同図中、２７は光学ヘッドを示す。光学ヘ
ッド２７は図５（Ａ）に示すような記録パルスに対応し
て光磁気ディスク上に形成された図５（Ｂ）に示すよう
な記録ピットを走査して再生信号を得る。光学ヘッド２
７で生成された再生信号はアンプ２８に供給される。
ッド２７は図５（Ａ）に示すような記録パルスに対応し
て光磁気ディスク上に形成された図５（Ｂ）に示すよう
な記録ピットを走査して再生信号を得る。光学ヘッド２
７で生成された再生信号はアンプ２８に供給される。
【００４０】なお、光学ヘッド２７、アンプ２８により
再生手段１８が構成されている。
再生手段１８が構成されている。
【００４１】アンプ２８は光学ヘッド２７からの再生信
号を増幅して出力する。アンプ２８の出力再生信号は図
５（Ｂ）に示すような記録ピットに対して例えば図５
（Ｃ）に示すような波形を示す。
号を増幅して出力する。アンプ２８の出力再生信号は図
５（Ｂ）に示すような記録ピットに対して例えば図５
（Ｃ）に示すような波形を示す。
【００４２】アンプ２８の出力再生信号はピーク検出手
段２１となるピークホールド回路２９、ボトム検出手段
２２となるボトムホールド回路３０、スライスレベル生
成回路３４と共に、エッジ検出手段２０を構成するコン
パレータ３１に供給される。ピークホールド回路２９は
アンプ２８の出力再生信号のピーク値を検出し、ホール
ドする。ピークホールド回路２９でホールドされたピー
ク値は第１の演算手段２３となる演算回路３２、第２の
演算手段２４となる演算回路３３、スライスレベル生成
回路３４に供給される。ここで、スライスレベル再生回
路３４及びボトムホールド回路３０はアンプ２８の出力
再生信号のボトム値を検出し、ホールドする。ボトムホ
ールド回路３０でホールドされたボトム値は演算回路３
３、スライスレベル生成回路３４に供給される。
段２１となるピークホールド回路２９、ボトム検出手段
２２となるボトムホールド回路３０、スライスレベル生
成回路３４と共に、エッジ検出手段２０を構成するコン
パレータ３１に供給される。ピークホールド回路２９は
アンプ２８の出力再生信号のピーク値を検出し、ホール
ドする。ピークホールド回路２９でホールドされたピー
ク値は第１の演算手段２３となる演算回路３２、第２の
演算手段２４となる演算回路３３、スライスレベル生成
回路３４に供給される。ここで、スライスレベル再生回
路３４及びボトムホールド回路３０はアンプ２８の出力
再生信号のボトム値を検出し、ホールドする。ボトムホ
ールド回路３０でホールドされたボトム値は演算回路３
３、スライスレベル生成回路３４に供給される。
【００４３】演算回路３２は入力されたピーク値から式
（１）に基づいて演算を行ない、前縁の補正値を算出す
る。演算回路３３は入力されたピーク値及びボトム値に
基づいて式（１０）の演算を行ない後縁の補正値を算出
する。
（１）に基づいて演算を行ない、前縁の補正値を算出す
る。演算回路３３は入力されたピーク値及びボトム値に
基づいて式（１０）の演算を行ない後縁の補正値を算出
する。
【００４４】スライスレベル生成回路３４はピークホー
ルド回路２９で検出されたピーク値及びボトムホールド
回路３０で検出されたボトム値との略中間レベルとなる
スライスレベルを生成し、コンパレータ３１に供給す
る。
ルド回路２９で検出されたピーク値及びボトムホールド
回路３０で検出されたボトム値との略中間レベルとなる
スライスレベルを生成し、コンパレータ３１に供給す
る。
【００４５】コンパレータ３１はアンプ２８の出力再生
信号レベルとスライスレベル生成回路３４の出力スライ
スレベルとを比較する。コンパレータ３１は再生信号が
スライスレベル以上になると図５（Ｅ）に示すように一
定パルス幅の前縁再生パルスを生成し、再生信号がスラ
イスレベル以下になると図５（Ｄ）に示すように一定パ
ルス幅の後縁再生パルスを生成し、前縁再生パルス及び
後縁再生パルスを夫々別々に出力する。
信号レベルとスライスレベル生成回路３４の出力スライ
スレベルとを比較する。コンパレータ３１は再生信号が
スライスレベル以上になると図５（Ｅ）に示すように一
定パルス幅の前縁再生パルスを生成し、再生信号がスラ
イスレベル以下になると図５（Ｄ）に示すように一定パ
ルス幅の後縁再生パルスを生成し、前縁再生パルス及び
後縁再生パルスを夫々別々に出力する。
【００４６】コンパレータ３１の出力前縁再生パルスは
第１の補正手段２５となる可変遅延回路３５に供給され
る。また、コンパレータ３１の出力後縁再生パルスは第
２の補正手段２６となる可変遅延回路３６に供給され
る。
第１の補正手段２５となる可変遅延回路３５に供給され
る。また、コンパレータ３１の出力後縁再生パルスは第
２の補正手段２６となる可変遅延回路３６に供給され
る。
【００４７】可変遅延回路３５は演算回路３２からの補
正値に応じて遅延量を可変し、可変遅延回路３６は演算
回路３３からの補正値に応じて遅延量を可変する。
正値に応じて遅延量を可変し、可変遅延回路３６は演算
回路３３からの補正値に応じて遅延量を可変する。
【００４８】可変遅延回路３５，３６により夫々遅延さ
れた前縁再生パルス及び後縁再生パルスは合成手段２７
を構成する合成回路３７に供給され、ＰＬＬ３８を経て
データセパレータ３９でデータ及びクロックを生成し、
合成手段２７を構成する復調回路４０に供給される。
れた前縁再生パルス及び後縁再生パルスは合成手段２７
を構成する合成回路３７に供給され、ＰＬＬ３８を経て
データセパレータ３９でデータ及びクロックを生成し、
合成手段２７を構成する復調回路４０に供給される。
【００４９】復調回路４０は走長制限符号（ＲＬＬＣ）
であるデータからＮＲＺ（ノン・リターン・ゼロ）符号
のデータに復調して、データを出力する。
であるデータからＮＲＺ（ノン・リターン・ゼロ）符号
のデータに復調して、データを出力する。
【００５０】次に演算回路３２の演算方法について説明
する。
する。
【００５１】図６（Ａ）はピーク電圧Ｖｐと後縁のずれ
量ｄｔｐの関係図を示す。図６（Ａ）は実際の測定結果
から求められた関係で、 ｄｔｐ＝Ｖｐ／５−１２５ …（１１） となる。図５に示すように記録パルスの後縁より式（１
１）で求められたずれ量ｄｔｐだけ送れて後縁再生パル
スが生成されている。
量ｄｔｐの関係図を示す。図６（Ａ）は実際の測定結果
から求められた関係で、 ｄｔｐ＝Ｖｐ／５−１２５ …（１１） となる。図５に示すように記録パルスの後縁より式（１
１）で求められたずれ量ｄｔｐだけ送れて後縁再生パル
スが生成されている。
【００５２】このため、演算回路３２では式（１１）に
基づいてｄｔｐを算出し、−ｄｔｐを補正量として可変
遅延回路３５に供給する。可変遅延回路３５は演算回路
３５から供給された補正量−ｄｔｐに応じて後縁再生パ
ルスを−ｄｔｐだけ遅延させる（または、ｄｔｐだけ進
める）。後縁再生パルスを−ｄｔｐだけ遅延させること
により図５（Ａ）に示す記録パルスの立ち下がりと図５
（Ｄ）の後縁再生パルスとを一致させることができる。
基づいてｄｔｐを算出し、−ｄｔｐを補正量として可変
遅延回路３５に供給する。可変遅延回路３５は演算回路
３５から供給された補正量−ｄｔｐに応じて後縁再生パ
ルスを−ｄｔｐだけ遅延させる（または、ｄｔｐだけ進
める）。後縁再生パルスを−ｄｔｐだけ遅延させること
により図５（Ａ）に示す記録パルスの立ち下がりと図５
（Ｄ）の後縁再生パルスとを一致させることができる。
【００５３】次に演算回路３３の演算方法について説明
する。図６（Ｂ）は図５に示す記録ピット長ｔｐとピー
ク電圧Ｖｐとの関係を実際の測定結果に基づいて求めた
特性図を示している。図６（Ｂ）の特性を式に表わす
と、 ｔｐ＝（Ｖｐ−４２０）／１．５ …（１２） で表わされる。したがって、まず、ピークホールド回路
２９で求めたピーク電圧Ｖｐよりｔｐを求めることがで
きる。
する。図６（Ｂ）は図５に示す記録ピット長ｔｐとピー
ク電圧Ｖｐとの関係を実際の測定結果に基づいて求めた
特性図を示している。図６（Ｂ）の特性を式に表わす
と、 ｔｐ＝（Ｖｐ−４２０）／１．５ …（１２） で表わされる。したがって、まず、ピークホールド回路
２９で求めたピーク電圧Ｖｐよりｔｐを求めることがで
きる。
【００５４】また、図７（Ａ）は記録ピット長ｔｐと記
録データとのずれ量ｄｔｂが０となるためのボトム電圧
Ｖｂ0との関係を示す特性図である。図７（Ａ）は実際
の計測に基づいて作成されている。この特性を数式に表
わすと、 Ｖｂ0＝−３.８５ｔｐ−２１５ …（１３） で表される。
録データとのずれ量ｄｔｂが０となるためのボトム電圧
Ｖｂ0との関係を示す特性図である。図７（Ａ）は実際
の計測に基づいて作成されている。この特性を数式に表
わすと、 Ｖｂ0＝−３.８５ｔｐ−２１５ …（１３） で表される。
【００５５】図７（Ｂ）はボトム電圧Ｖｂと前縁のずれ
量ｄｔｐとの関係を示す特性図である。図７（Ｂ）は実
際の計測に基づいて作成されている。図７（Ｂ）に示す
ようにずれ量ｄｔｂは例えばＶｂ0 をパラメータとして
ボトム電圧Ｖｂに対して実線で示すような一次関数的な
特性を示している。
量ｄｔｐとの関係を示す特性図である。図７（Ｂ）は実
際の計測に基づいて作成されている。図７（Ｂ）に示す
ようにずれ量ｄｔｂは例えばＶｂ0 をパラメータとして
ボトム電圧Ｖｂに対して実線で示すような一次関数的な
特性を示している。
【００５６】したがって、式（１２）及び式（１３）を
用いて図７（Ｂ）に示す特性を数式に表わすと、 ｄｔｂ＝（Ｖｂ＋２.５７Ｖｐ）／３.３３−２５９ …（１４） で表わされる。このため、ピーク電圧Ｖｐ及びボトム電
圧Ｖｂより前縁のずれ量ｄｔｂを求めることができる。
用いて図７（Ｂ）に示す特性を数式に表わすと、 ｄｔｂ＝（Ｖｂ＋２.５７Ｖｐ）／３.３３−２５９ …（１４） で表わされる。このため、ピーク電圧Ｖｐ及びボトム電
圧Ｖｂより前縁のずれ量ｄｔｂを求めることができる。
【００５７】演算回路３３は入力されたピーク電圧Ｖｐ
及びボトム電圧Ｖｂより式（１４）に基づいてずれ量ｄ
ｔｂを算出し、−ｄｔｂを補正量として可変遅延回路３
５に供給する。
及びボトム電圧Ｖｂより式（１４）に基づいてずれ量ｄ
ｔｂを算出し、−ｄｔｂを補正量として可変遅延回路３
５に供給する。
【００５８】可変遅延回路３６は演算回路３３からの補
正量−ｄｔｂに応じて前縁パルスを−ｄｔｂだけ遅延さ
せる（またはｄｔｂだけ進める）ことにより図５（Ａ）
に示す記録パルスの立ち上がりと図５（Ｅ）の前縁再生
パルスとを一致させることができる。
正量−ｄｔｂに応じて前縁パルスを−ｄｔｂだけ遅延さ
せる（またはｄｔｂだけ進める）ことにより図５（Ａ）
に示す記録パルスの立ち上がりと図５（Ｅ）の前縁再生
パルスとを一致させることができる。
【００５９】このように、再生信号のピーク値及びボト
ム値より補正値を演算し、演算して補正値に応じて前縁
再生パルス及び後縁再生パルスの両縁を夫々遅延させる
ことにより、位置補正を行なえるため記録ピットのＬＤ
（レーザダイオード）の劣化等によるライトパワーの変
化とバラツキ、環境温度の変化、媒体間のバラツキ、磁
区形状の前後縁での相違などによるエッジ位置間隔変動
の影響を受けないエッジ再生が可能となり、正確な再生
が行なえる。
ム値より補正値を演算し、演算して補正値に応じて前縁
再生パルス及び後縁再生パルスの両縁を夫々遅延させる
ことにより、位置補正を行なえるため記録ピットのＬＤ
（レーザダイオード）の劣化等によるライトパワーの変
化とバラツキ、環境温度の変化、媒体間のバラツキ、磁
区形状の前後縁での相違などによるエッジ位置間隔変動
の影響を受けないエッジ再生が可能となり、正確な再生
が行なえる。
【００６０】また、本実施例ではエッジ検出に必要とな
るスライスレベル生成時に必要となるピーク値及びボト
ム値とより補正値の演算を行っている。このため、回路
規模が小さく構成できる。
るスライスレベル生成時に必要となるピーク値及びボト
ム値とより補正値の演算を行っている。このため、回路
規模が小さく構成できる。
【００６１】
【発明の効果】上述の如く、本発明によれば波高値を用
いて補正量を演算し、演算結果に基づいてエッジ位置を
補正することにより、データ記録時の環境温度の変化、
媒体毎に記録温度のバラツキ、磁区前後縁形状の相違等
の影響を受けないエッジ再生が可能となるため、小さい
回路規模で安定したデータ再生を行なうことができる等
の特長を有する。
いて補正量を演算し、演算結果に基づいてエッジ位置を
補正することにより、データ記録時の環境温度の変化、
媒体毎に記録温度のバラツキ、磁区前後縁形状の相違等
の影響を受けないエッジ再生が可能となるため、小さい
回路規模で安定したデータ再生を行なうことができる等
の特長を有する。
【図１】本発明の原理ブロック図である。
【図２】本発明の演算方法を説明するための特性図であ
る。
る。
【図３】本発明の演算方法を説明するための図である。
【図４】本発明の一実施例のブロック図である。
【図５】本発明の一実施例の動作を説明するための波形
図である。
図である。
【図６】本発明の一実施例の演算方法を説明するための
特性図である。
特性図である。
【図７】本発明の一実施例の演算方法を説明するための
特性図である。
特性図である。
【図８】光磁気ディスクの書換え原理を示す図である。
【図９】光磁気ディスクの記録原理を示す図である。
【図１０】光磁気ディスクの再生原理を示す図である。
【図１１】従来の例のブロック図である。
１８ 再生手段
１９ 光磁気ディスク
２０ エッジ検出手段
２１ ピーク検出手段
２２ ボトム検出手段
２３ 第１の演算手段
２４ 第２の演算手段
２５ 第１の補正手段
２６ 第２の補正手段
２７ 合成手段
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平３−134839（ＪＰ，Ａ)
特開 平２−46544（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G11B 11/10 - 11/105
G11B 7/00 - 7/0065
Claims (2)
- 【請求項１】 記録ピットのエッジ位置がデータと対応
するよう形成した光磁気ディスク（１９）を再生手段
（１８）により再生し、該再生手段（１８）の出力再生
信号から各記録ピットのエッジ位置を夫々検出し合成手
段（２７）で該エッジ位置より該データを合成する光磁
気ディスク再生装置において、 前記再生手段の出力再生信号に基づき前記記録ピットの
前縁に対応した前縁検出信号と、前記記録ピットの後縁
に対応した後縁検出信号とを夫々生成出力するエッジ検
出手段（２０）と、 前記再生手段（１８）の出力再生信号のピーク値を検出
するピーク値検出手段（２１）と、 前記再生手段（１８）の出力再生信号のボトム値を検出
するボトム値検出手段（２２）と、 前記ピーク値検出手段（２１）により検出した前記ピー
ク値に基づいて前記後縁位置の補正値を演算する第１の
演算手段（２３）と、 前記ボトム値検出手段（２２）により検出したボトム値
及び前記ピーク値検知手段（２１）により検出したピー
ク値に基づいて前記前縁位置の補正値を演算する第２の
演算手段（２４）と、 前記第１の演算手段（２３）で生成された補正値に応じ
て前記後縁位置を補正する第１の補正手段（２５）と、 前記第２の演算手段（２４）で生成された補正値に応じ
て前記前縁位置を補正する第２の補正手段（２６）とを
有したことを特徴とする光磁気ディスク再生装置。 - 【請求項２】 前記エッジ検出手段（２０）にピークボ
トムスライス検出装置を用い、前記ピークボトムスライ
ス検出手段で検出したピーク値及びボトム値を前記第１
の演算手段（２３）及び前記第２の演算手段（２４）に
供給することを特徴とする請求項１記載の光磁気ディス
ク再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27571291A JP3366657B2 (ja) | 1991-10-23 | 1991-10-23 | 光磁気ディスク再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27571291A JP3366657B2 (ja) | 1991-10-23 | 1991-10-23 | 光磁気ディスク再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05114188A JPH05114188A (ja) | 1993-05-07 |
| JP3366657B2 true JP3366657B2 (ja) | 2003-01-14 |
Family
ID=17559324
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27571291A Expired - Fee Related JP3366657B2 (ja) | 1991-10-23 | 1991-10-23 | 光磁気ディスク再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3366657B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5631891A (en) * | 1994-01-05 | 1997-05-20 | Fujitsu Limited | Disk reproducing circuit with automatic gain control |
| US7082566B2 (en) * | 2001-11-09 | 2006-07-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Signal quality evaluation method, information recording/reproducing system, and recording compensation method |
-
1991
- 1991-10-23 JP JP27571291A patent/JP3366657B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05114188A (ja) | 1993-05-07 |
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