JP2899477B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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- JP2899477B2 JP2899477B2 JP4139128A JP13912892A JP2899477B2 JP 2899477 B2 JP2899477 B2 JP 2899477B2 JP 4139128 A JP4139128 A JP 4139128A JP 13912892 A JP13912892 A JP 13912892A JP 2899477 B2 JP2899477 B2 JP 2899477B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光磁気ディスク再生装置
に係り、特にエッジ記録方式により情報が記録された光
磁気ディスクの既記録情報を再生する装置に関する。
に係り、特にエッジ記録方式により情報が記録された光
磁気ディスクの既記録情報を再生する装置に関する。
【０００２】光磁気ディスクの記録再生装置は、大容
量、可換性、高信頼性等により、イメージ情報の記録再
生からコンピュータ用のコード記録可能なものまで急速
に普及している。かかる光磁気ディスクは近年、急速に
発展するマルチメディア化の中で、中核となるメモリと
して、更に小型でより一層の大容量化及び転送速度の向
上を図ることが要望されており、そのための一つの手段
としてエッジ記録方式が提案されている。
量、可換性、高信頼性等により、イメージ情報の記録再
生からコンピュータ用のコード記録可能なものまで急速
に普及している。かかる光磁気ディスクは近年、急速に
発展するマルチメディア化の中で、中核となるメモリと
して、更に小型でより一層の大容量化及び転送速度の向
上を図ることが要望されており、そのための一つの手段
としてエッジ記録方式が提案されている。
【０００３】
【従来の技術】図７に、エッジ記録再生の原理を説明す
るための図を示す。図７において、記録したいデータが
２値符号列である場合（図７（Ａ））、媒体上へのレー
ザ光の発光パターンが、記録データの値「１」のビット
位置でのみ光強度を反転するように作成される（図７
（Ｂ））。この発光パターンに従って記録光ビームを媒
体上に照射して磁化すると、媒体平面上の１本のトラッ
クに、図７（Ｃ）に示すような記録マークの記録ピット
（磁区）が形成される。
るための図を示す。図７において、記録したいデータが
２値符号列である場合（図７（Ａ））、媒体上へのレー
ザ光の発光パターンが、記録データの値「１」のビット
位置でのみ光強度を反転するように作成される（図７
（Ｂ））。この発光パターンに従って記録光ビームを媒
体上に照射して磁化すると、媒体平面上の１本のトラッ
クに、図７（Ｃ）に示すような記録マークの記録ピット
（磁区）が形成される。
【０００４】この磁区列に、再生光スポットを照射し
て、磁気カー効果を利用して磁化の向きに応じた再生波
形を得る（図７（Ｄ））。そして、再生波形の反転から
エッジ位置を検出し、同期クロックに基づいてエッジが
あれば「１」，なければ「０」として再生データを得る
ものである（図７（Ｅ））。
て、磁気カー効果を利用して磁化の向きに応じた再生波
形を得る（図７（Ｄ））。そして、再生波形の反転から
エッジ位置を検出し、同期クロックに基づいてエッジが
あれば「１」，なければ「０」として再生データを得る
ものである（図７（Ｅ））。
【０００５】再生波形の反転からエッジ位置を検出する
エッジ検出方式の例としては、再生波形のピークとボト
ムをそれぞれ検出して保持しておいてその中点をスライ
スレベルとして、エッジ位置を検出する方式がある。
エッジ検出方式の例としては、再生波形のピークとボト
ムをそれぞれ検出して保持しておいてその中点をスライ
スレベルとして、エッジ位置を検出する方式がある。
【０００６】一般に、光磁気ディスクではレーザ光スポ
ット照射加熱による熱磁気記録を行うため、環境温度変
化、媒体感度バラツキにより記録磁区長が変動する。こ
れらの原因によるエッジの位置変動は、変動が小さい範
囲ではデータのパターンに依らず、また、これらの変動
は、変動の仕方が緩やかであり１セクタの記録を行う間
の変動は無視することができる。従って、記録磁区長の
変動が比較的大きい場合には、これらを補正して再生す
る必要がある。
ット照射加熱による熱磁気記録を行うため、環境温度変
化、媒体感度バラツキにより記録磁区長が変動する。こ
れらの原因によるエッジの位置変動は、変動が小さい範
囲ではデータのパターンに依らず、また、これらの変動
は、変動の仕方が緩やかであり１セクタの記録を行う間
の変動は無視することができる。従って、記録磁区長の
変動が比較的大きい場合には、これらを補正して再生す
る必要がある。
【０００７】ここで、図８に、従来の光磁気ディスク再
生装置の構成図を示す。図８において、光磁気ディスク
再生装置１１は、端子１２から入力される再生波形がエ
ッジ検出回路１３に入力されると共に、ピーク・ボトム
中点検出回路１４で該再生波形のピーク値とボトム値と
の中点が検出される。
生装置の構成図を示す。図８において、光磁気ディスク
再生装置１１は、端子１２から入力される再生波形がエ
ッジ検出回路１３に入力されると共に、ピーク・ボトム
中点検出回路１４で該再生波形のピーク値とボトム値と
の中点が検出される。
【０００８】この検出された中点はＬＰＦ（ローパスフ
ィルタ）１５を介してサンプルホールド回路１６でホー
ルドされ、このホールドされた値をスライスレベル発生
回路１７がスライスレベルとしてエッジ検出回路１３に
送出する。エッジ検出回路１３は、スライスレベルに基
づいて再生波形の前縁と後縁を検出する。
ィルタ）１５を介してサンプルホールド回路１６でホー
ルドされ、このホールドされた値をスライスレベル発生
回路１７がスライスレベルとしてエッジ検出回路１３に
送出する。エッジ検出回路１３は、スライスレベルに基
づいて再生波形の前縁と後縁を検出する。
【０００９】一方、エッジ検出回路１３により、スライ
スレベルで再生波形を２値化した信号を、積分回路１８
において積分してデューティ比ずれの検出を行い、サン
プルホールド回路１９でホールドする。
スレベルで再生波形を２値化した信号を、積分回路１８
において積分してデューティ比ずれの検出を行い、サン
プルホールド回路１９でホールドする。
【００１０】そして、エッジ検出回路１３で検出された
前縁の前縁パルスは固定遅延回路２０で一定時間遅延さ
れ、後縁の後縁パルスは可変遅延回路２１で遅延され
る。可変遅延回路２１における遅延量はサンプルホール
ド回路１９でホールドされたデューティ比ずれに基づい
て適宜変動する。すなわち、再生波形を積分回路１８で
積分して前縁パルスと後縁パルスの位相差を検出し、可
変遅延回路２１でその位相差を補正するものである。ま
た、前縁パルスと後縁パルスが合成回路２２で合成され
る。
前縁の前縁パルスは固定遅延回路２０で一定時間遅延さ
れ、後縁の後縁パルスは可変遅延回路２１で遅延され
る。可変遅延回路２１における遅延量はサンプルホール
ド回路１９でホールドされたデューティ比ずれに基づい
て適宜変動する。すなわち、再生波形を積分回路１８で
積分して前縁パルスと後縁パルスの位相差を検出し、可
変遅延回路２１でその位相差を補正するものである。ま
た、前縁パルスと後縁パルスが合成回路２２で合成され
る。
【００１１】一方、再生波形の固定遅延回路２０を経由
した前縁パルスにより、位相比較回路２３，ＬＰＦ２
４，ＶＣＯ（電圧制御発振器）２５で構成されるＰＬＬ
（フェーズ・ロック・ループ回路）で同期クロックが抽
出される。
した前縁パルスにより、位相比較回路２３，ＬＰＦ２
４，ＶＣＯ（電圧制御発振器）２５で構成されるＰＬＬ
（フェーズ・ロック・ループ回路）で同期クロックが抽
出される。
【００１２】そして、合成回路２２で合成された合成波
形は、データ弁別回路２６で、同期クロックを用いて分
離され、データ信号が再生される。
形は、データ弁別回路２６で、同期クロックを用いて分
離され、データ信号が再生される。
【００１３】すなわち、可変遅延回路２１の遅延量をホ
ールドし、その後の再生で、その補正値のままでデータ
弁別が行われるものである。
ールドし、その後の再生で、その補正値のままでデータ
弁別が行われるものである。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、光磁気ディ
スク媒体がガラス基板の場合には基板の複屈折は殆どな
く、媒体円周方向の複屈折ムラもないが、ポリカーボ基
板では複屈折ムラのために再生波形のエンベロープが変
動する。
スク媒体がガラス基板の場合には基板の複屈折は殆どな
く、媒体円周方向の複屈折ムラもないが、ポリカーボ基
板では複屈折ムラのために再生波形のエンベロープが変
動する。
【００１５】ここで、図９に、光磁気ディスク媒体がポ
リカーボ基板の場合の再生波形を説明するための図を示
す。図９（Ａ）は再生波形のエンベロープであり、図９
（Ｂ）はスライスレベルの追従を示したものである。
リカーボ基板の場合の再生波形を説明するための図を示
す。図９（Ａ）は再生波形のエンベロープであり、図９
（Ｂ）はスライスレベルの追従を示したものである。
【００１６】図９（Ａ）のように再生波形のエンベロー
プが変動すると、１セクタ再生中のエンベロープ変動が
無視することができなくなる。すなわち、サンプルホー
ルド回路１６でホールドしたスライスレベルでパルス検
出すると、エンベロープの変動に伴い前縁パルスと後縁
パルスの位相にずれが生じて同期クロックと位相が合わ
なくなり、正確な再生ができないという問題がある。
プが変動すると、１セクタ再生中のエンベロープ変動が
無視することができなくなる。すなわち、サンプルホー
ルド回路１６でホールドしたスライスレベルでパルス検
出すると、エンベロープの変動に伴い前縁パルスと後縁
パルスの位相にずれが生じて同期クロックと位相が合わ
なくなり、正確な再生ができないという問題がある。
【００１７】また、スライスレベルをホールドせずに、
エンベロープ変動に追従させると、図９（Ｂ）に示すよ
うに、データパターンにより振幅変動があるときに、こ
の振幅変動にもスライスレベル２７が追従し、同じ長さ
のデータでもパターンにより長さが変わり（ａ≠ｂ）、
正確な再生ができないという問題がある。
エンベロープ変動に追従させると、図９（Ｂ）に示すよ
うに、データパターンにより振幅変動があるときに、こ
の振幅変動にもスライスレベル２７が追従し、同じ長さ
のデータでもパターンにより長さが変わり（ａ≠ｂ）、
正確な再生ができないという問題がある。
【００１８】そこで、本発明は上記課題に鑑みなされた
もので、データパターンにより再生信号波形に振幅変化
が生じてもデータを正確に検出する光磁気ディスク再生
装置を提供することを目的とする。
もので、データパターンにより再生信号波形に振幅変化
が生じてもデータを正確に検出する光磁気ディスク再生
装置を提供することを目的とする。
【００１９】
【課題を解決するための手段】本願発明は上記課題を解
決するために、データがエッジの位置間隔で２値により
記録された磁区列に光ビームを照射して得られる再生波
形から、該磁区の前縁及び後縁を検出して前縁パルス及
び後縁パルスを作成し、該前縁パルス及び該後縁パルス
から記録された該データを再生する光磁気ディスク再生
装置において、前記再生波形から作成されるスライスレ
ベルにより、前記前縁及び前記後縁を検出して前記前縁
パルス及び前記後縁パルスを作成するエッジ検出手段
と、前記前縁パルス又は前記後縁パルスの一方と同期ク
ロックとの位相差を検出する第１の位相比較手段と、前
記第１の位相比較手段で検出された位相差に基づいて前
記前縁パルス又は前記後縁パルスの一方に同期する前記
同期クロックを抽出するクロック抽出手段と、前記前縁
パルス又は前記後縁パルスの他方と同期クロックとの位
相差を検出する第２の位相比較手段と、前記第２の位相
比較手段で検出された位相差に基づいて前記前縁パルス
又は前記後縁パルスの他方の位相を補正する補正手段
と、前記補正手段における補正後に、前記前縁パルスと
前記後縁パルスとを合成し、前記同期クロックによりデ
ータ信号を弁別して前記データを再生する再生手段とを
有する構成としてなる。
決するために、データがエッジの位置間隔で２値により
記録された磁区列に光ビームを照射して得られる再生波
形から、該磁区の前縁及び後縁を検出して前縁パルス及
び後縁パルスを作成し、該前縁パルス及び該後縁パルス
から記録された該データを再生する光磁気ディスク再生
装置において、前記再生波形から作成されるスライスレ
ベルにより、前記前縁及び前記後縁を検出して前記前縁
パルス及び前記後縁パルスを作成するエッジ検出手段
と、前記前縁パルス又は前記後縁パルスの一方と同期ク
ロックとの位相差を検出する第１の位相比較手段と、前
記第１の位相比較手段で検出された位相差に基づいて前
記前縁パルス又は前記後縁パルスの一方に同期する前記
同期クロックを抽出するクロック抽出手段と、前記前縁
パルス又は前記後縁パルスの他方と同期クロックとの位
相差を検出する第２の位相比較手段と、前記第２の位相
比較手段で検出された位相差に基づいて前記前縁パルス
又は前記後縁パルスの他方の位相を補正する補正手段
と、前記補正手段における補正後に、前記前縁パルスと
前記後縁パルスとを合成し、前記同期クロックによりデ
ータ信号を弁別して前記データを再生する再生手段とを
有する構成としてなる。
【００２０】
【作用】上述のように、前縁パルス又は後縁パルスより
抽出した同期クロックと、同期クロック抽出に関与しな
い前縁パルス又は後縁パルスとの位相差を検出する。そ
して、この位相差に基づいて、該位相差を有する前縁パ
ルス又は後縁パルスの位相を制御して補正する。
抽出した同期クロックと、同期クロック抽出に関与しな
い前縁パルス又は後縁パルスとの位相差を検出する。そ
して、この位相差に基づいて、該位相差を有する前縁パ
ルス又は後縁パルスの位相を制御して補正する。
【００２１】
【作用】これにより、本発明によれば、第１の位相差検
出手段により前縁パルス又は後縁パルスの一方と同期ク
ロックとの位相差を検出し、その検出結果に基づいて同
期クロックの位相を制御し、同期クロックとデータ信号
との同期をとり、さらに、第２の位相差検出手段により
前縁パルス又は後縁パルスの他方と同期クロックとの位
相差をそれぞれ別々に検出し、その検出結果に基づいて
データ信号の位相を補正することにより、前縁パルス及
び後縁パルスと同期クロックとの位相差が共に補正さ
れ、エンベロープ変動が生じても位相差が吸収されるこ
ととなり、データ信号を正確に再生することが可能とな
る。
出手段により前縁パルス又は後縁パルスの一方と同期ク
ロックとの位相差を検出し、その検出結果に基づいて同
期クロックの位相を制御し、同期クロックとデータ信号
との同期をとり、さらに、第２の位相差検出手段により
前縁パルス又は後縁パルスの他方と同期クロックとの位
相差をそれぞれ別々に検出し、その検出結果に基づいて
データ信号の位相を補正することにより、前縁パルス及
び後縁パルスと同期クロックとの位相差が共に補正さ
れ、エンベロープ変動が生じても位相差が吸収されるこ
ととなり、データ信号を正確に再生することが可能とな
る。
【００２２】
【実施例】図１に、本発明の第１の実施例の構成図を示
す。図１において、光磁気ディスク再生装置３１は、端
子３２からの再生波形が、エッジ検出回路３３に入力さ
れると共に、ピーク・ボトム中点検出回路３４でピーク
値とボトム値の中点の値が検出され、ＬＰＦ３５を介し
てスライスレベル発生回路３６により、該中点の値に基
づいてスライスレベルがエッジ検出回路３３に送出され
る。これらによりエッジ検出手段が構成される。
す。図１において、光磁気ディスク再生装置３１は、端
子３２からの再生波形が、エッジ検出回路３３に入力さ
れると共に、ピーク・ボトム中点検出回路３４でピーク
値とボトム値の中点の値が検出され、ＬＰＦ３５を介し
てスライスレベル発生回路３６により、該中点の値に基
づいてスライスレベルがエッジ検出回路３３に送出され
る。これらによりエッジ検出手段が構成される。
【００２３】エッジ検出回路３３は、スライスレベルに
基づいて再生波形の前縁パルスと後縁パルスを検出す
る。前縁パルスは固定遅延回路３７を介して、また、後
縁パルスは可変遅延回路３８を介して合成回路３９に入
力される。
基づいて再生波形の前縁パルスと後縁パルスを検出す
る。前縁パルスは固定遅延回路３７を介して、また、後
縁パルスは可変遅延回路３８を介して合成回路３９に入
力される。
【００２４】また、固定遅延回路３７で遅延された前縁
パルスから、位相比較回路４０，ＬＰＦ４１，ＶＣＯ４
２で構成されるクロック抽出手段であるＰＬＬにより、
同期クロックが抽出される。 一方、可変遅延回路３８
で遅延された後縁パルスと同期クロックとから位相比較
回路４３が位相ずれ量を検出し、この位置ずれ量に基づ
いてＬＰＦ４４を介して可変遅延回路３８の遅延量をフ
ィードバック制御する。これらにより補正手段が構成さ
れる。
パルスから、位相比較回路４０，ＬＰＦ４１，ＶＣＯ４
２で構成されるクロック抽出手段であるＰＬＬにより、
同期クロックが抽出される。 一方、可変遅延回路３８
で遅延された後縁パルスと同期クロックとから位相比較
回路４３が位相ずれ量を検出し、この位置ずれ量に基づ
いてＬＰＦ４４を介して可変遅延回路３８の遅延量をフ
ィードバック制御する。これらにより補正手段が構成さ
れる。
【００２５】そして、再生手段として、合成回路３９で
合成された前縁パルスと後縁パルスの合成信号は、デー
タ弁別回路４５で同期クロックを用いて分離され、デー
タ信号が再生される構成である。
合成された前縁パルスと後縁パルスの合成信号は、デー
タ弁別回路４５で同期クロックを用いて分離され、デー
タ信号が再生される構成である。
【００２６】そこで、図２に、図１の動作タイムチャー
トを示し、データ検出について説明する。この場合、ピ
ーク・ボトム中点検出回路３４，ＬＰＦ３５，スライス
レベル発生回路３６により、再生波形から作成されるス
ライスレベルは、エンベロープ変動に追従する程度の帯
域を持たせてパルスを検出する。
トを示し、データ検出について説明する。この場合、ピ
ーク・ボトム中点検出回路３４，ＬＰＦ３５，スライス
レベル発生回路３６により、再生波形から作成されるス
ライスレベルは、エンベロープ変動に追従する程度の帯
域を持たせてパルスを検出する。
【００２７】図２において、光磁気ディスクの１トラッ
クに記録されている記録ピットから、光学ヘッドが記録
マークを読み取り（図２（Ａ））、記録マークにおける
再生波形が検出される（図２（Ｂ））。この再生波形か
ら、ピーク・ボトム中点検出回路３４，ＬＰＦ３５，ス
ライスレベル発生回路３６により、スライスレベルＳＬ
が設定される（図２（Ｂ））。
クに記録されている記録ピットから、光学ヘッドが記録
マークを読み取り（図２（Ａ））、記録マークにおける
再生波形が検出される（図２（Ｂ））。この再生波形か
ら、ピーク・ボトム中点検出回路３４，ＬＰＦ３５，ス
ライスレベル発生回路３６により、スライスレベルＳＬ
が設定される（図２（Ｂ））。
【００２８】エッジ検出回路３３は、スライスレベルＳ
Ｌを基準に前縁と後縁を検出し、前縁パルスと後縁パル
スを作成する。前縁パルスは固定遅延回路３７に一定時
間ｔ 0 遅延され（図２（Ｃ））、これをもとに、位相比
較回路４０，ＬＰＦ４１，ＶＣＯ４２のＰＬＬが同期ク
ロックを抽出する（図２（Ｄ））。
Ｌを基準に前縁と後縁を検出し、前縁パルスと後縁パル
スを作成する。前縁パルスは固定遅延回路３７に一定時
間ｔ 0 遅延され（図２（Ｃ））、これをもとに、位相比
較回路４０，ＬＰＦ４１，ＶＣＯ４２のＰＬＬが同期ク
ロックを抽出する（図２（Ｄ））。
【００２９】一方、後縁パルスは、可変遅延回路３８で
時間ｄ1 だけ遅延され（図２（Ｅ））、同期クロックの
位相差ｘを位相比較回路４３で検出される。この位相差
ｘによりＬＰＦ４４を介して可変遅延回路３８の遅延時
間をｄ1 からｄ2 に変化させることにより、同期クロッ
クに同期した、すなわち前縁パルスに同期した後縁パル
スが得られる（図２（Ｆ））。
時間ｄ1 だけ遅延され（図２（Ｅ））、同期クロックの
位相差ｘを位相比較回路４３で検出される。この位相差
ｘによりＬＰＦ４４を介して可変遅延回路３８の遅延時
間をｄ1 からｄ2 に変化させることにより、同期クロッ
クに同期した、すなわち前縁パルスに同期した後縁パル
スが得られる（図２（Ｆ））。
【００３０】そして、図２（Ｃ）の前縁パルスと図２
（Ｆ）の後縁パルスを合成回路３９で合成し（図２
（Ｇ））、データ弁別回路４５で同期クロックに基づい
てデータ信号（図２（Ｈ））を得るものである。
（Ｆ）の後縁パルスを合成回路３９で合成し（図２
（Ｇ））、データ弁別回路４５で同期クロックに基づい
てデータ信号（図２（Ｈ））を得るものである。
【００３１】このように、後縁パルスを、同期クロック
と同期させることで、再生波形の振幅変化によるエンベ
ロープ変動によりスライスレベルが変動しても位相差を
吸収することができる。すなわち、複屈折ムラのある光
磁気ディスク媒体に対しても正確にエッジを検出し、正
確にデータを再生することができる。
と同期させることで、再生波形の振幅変化によるエンベ
ロープ変動によりスライスレベルが変動しても位相差を
吸収することができる。すなわち、複屈折ムラのある光
磁気ディスク媒体に対しても正確にエッジを検出し、正
確にデータを再生することができる。
【００３２】次に、図３に、本発明の第２の実施例の構
成図を示す。なお、図１と同一回路には同一の符号を付
す。図３における光磁気ディスク再生装置５１は、端子
３２からの再生波形が、前縁検出手段及び後縁検出手段
である前縁検出回路５２及び後縁検出回路５３に入力さ
れると共に、ピーク・ボトム中点検出回路３４でピーク
値とボトム値の中点の値が検出され、ＬＰＦ３５を介し
てスライスレベル発生回路３６ａにより、該中点の値に
基づいて作成されたスライスレベルＳＬ1 が前縁検出回
路５２に送出される。
成図を示す。なお、図１と同一回路には同一の符号を付
す。図３における光磁気ディスク再生装置５１は、端子
３２からの再生波形が、前縁検出手段及び後縁検出手段
である前縁検出回路５２及び後縁検出回路５３に入力さ
れると共に、ピーク・ボトム中点検出回路３４でピーク
値とボトム値の中点の値が検出され、ＬＰＦ３５を介し
てスライスレベル発生回路３６ａにより、該中点の値に
基づいて作成されたスライスレベルＳＬ1 が前縁検出回
路５２に送出される。
【００３３】また、この中点の値は、切換部Ｓを介し
て、ＬＰＦ４４に入力され、さらにスライスレベル発生
回路３６ｂにより作成されたスライスレベルＳＬ2 が後
縁検出回路５３に送出される。
て、ＬＰＦ４４に入力され、さらにスライスレベル発生
回路３６ｂにより作成されたスライスレベルＳＬ2 が後
縁検出回路５３に送出される。
【００３４】前縁検出回路５２が、スライスレベルＳＬ
1 に基づいて再生波形の前縁パルスを検出して前縁パル
スを作成し、後縁検出回路５３がスライスレベルＳＬ2
に基づいて再生波形の後縁パルスを検出する。前縁パル
ス及び後縁パルスは合成回路３９に入力される。なお、
合成回路３９の前段にそれぞれ遅延回路を介在させても
よい。
1 に基づいて再生波形の前縁パルスを検出して前縁パル
スを作成し、後縁検出回路５３がスライスレベルＳＬ2
に基づいて再生波形の後縁パルスを検出する。前縁パル
ス及び後縁パルスは合成回路３９に入力される。なお、
合成回路３９の前段にそれぞれ遅延回路を介在させても
よい。
【００３５】また、前縁パルスから、位相比較回路４
０，ＬＰＦ４１，ＶＣＯ４２で構成されるクロック抽出
手段であるＰＬＬにより、同期クロックが抽出される。
０，ＬＰＦ４１，ＶＣＯ４２で構成されるクロック抽出
手段であるＰＬＬにより、同期クロックが抽出される。
【００３６】一方、後縁パルスと同期クロックとから補
正手段として位相比較回路４３が位相ずれ量を検出す
る。この位置ずれ量に基づいて、切換えられる切換部Ｓ
からＬＰＦ４４を介してスライスレベル発生回路３６ｂ
のスライスレベルＳＬ2 をフィードバック制御して、後
縁検出回路５３に送出する。
正手段として位相比較回路４３が位相ずれ量を検出す
る。この位置ずれ量に基づいて、切換えられる切換部Ｓ
からＬＰＦ４４を介してスライスレベル発生回路３６ｂ
のスライスレベルＳＬ2 をフィードバック制御して、後
縁検出回路５３に送出する。
【００３７】そして、再生手段として合成回路３９で合
成された前縁パルスと後縁パルスの合成信号は、データ
弁別回路４５で同期クロックを用いて分離され、データ
信号が再生される構成である。
成された前縁パルスと後縁パルスの合成信号は、データ
弁別回路４５で同期クロックを用いて分離され、データ
信号が再生される構成である。
【００３８】そこで、図４に、図３の動作タイムチャー
トを示し、データ検出について説明する。この場合、前
縁パルスは、エンベロープ変動に追従する程度の帯域を
持たせて検出される。
トを示し、データ検出について説明する。この場合、前
縁パルスは、エンベロープ変動に追従する程度の帯域を
持たせて検出される。
【００３９】図４において、図２（Ａ）と同様に、図４
（Ａ）の記録マークにおける再生波形が検出される（図
４（Ｂ））。この再生波形から、ピーク・ボトム中点検
出回路３４で中点の値が検出され、この中点の値に基づ
いて、スライスレベル発生回路３６ａでスライスレベル
ＳＬ1 を作成し、スライスレベル発生回路３６ｂでスラ
イスレベルＳＬ2 を作成する（図４（Ｂ））。この場
合、切換部Ｓは接点Ｓ1に接続されている。
（Ａ）の記録マークにおける再生波形が検出される（図
４（Ｂ））。この再生波形から、ピーク・ボトム中点検
出回路３４で中点の値が検出され、この中点の値に基づ
いて、スライスレベル発生回路３６ａでスライスレベル
ＳＬ1 を作成し、スライスレベル発生回路３６ｂでスラ
イスレベルＳＬ2 を作成する（図４（Ｂ））。この場
合、切換部Ｓは接点Ｓ1に接続されている。
【００４０】前縁検出回路５２は、スライスレベルＳＬ
1 を基準に前縁を検出して前縁パルスを作成し（図４
（Ｃ））、後縁検出回路５３はスライスレベルＳＬ2 を
基準に後縁を検出して後縁パルスを作成する（図４
（Ｅ））。そして、前縁パルスから位相比較回路４０，
ＬＰＦ４１，ＶＣＯ４２のＰＬＬにより同期クロックが
抽出される（図４（Ｄ））。
1 を基準に前縁を検出して前縁パルスを作成し（図４
（Ｃ））、後縁検出回路５３はスライスレベルＳＬ2 を
基準に後縁を検出して後縁パルスを作成する（図４
（Ｅ））。そして、前縁パルスから位相比較回路４０，
ＬＰＦ４１，ＶＣＯ４２のＰＬＬにより同期クロックが
抽出される（図４（Ｄ））。
【００４１】一方、後縁検出回路５３で検出された後縁
パルスは、位相比較回路４３で同期クロックとの位相差
ｙが検出される（図４（Ｅ））。そこで、切換部Ｓを接
点Ｓ 2 に切換え、位相差ｙに基づく信号をＬＰＦ４４を
介してスライスレベル発生回路３６ｂに送出する。スラ
イスレベル発生回路３６ｂは位相差ｙに基づいてスライ
スレベルＳＬ2 を変化させて後縁パルスを同期クロック
に同期させる（図４（Ｆ））。
パルスは、位相比較回路４３で同期クロックとの位相差
ｙが検出される（図４（Ｅ））。そこで、切換部Ｓを接
点Ｓ 2 に切換え、位相差ｙに基づく信号をＬＰＦ４４を
介してスライスレベル発生回路３６ｂに送出する。スラ
イスレベル発生回路３６ｂは位相差ｙに基づいてスライ
スレベルＳＬ2 を変化させて後縁パルスを同期クロック
に同期させる（図４（Ｆ））。
【００４２】そして、図４（Ｃ）の前縁パルスと図４
（Ｆ）の後縁パルスを合成回路３９で合成し（図４
（Ｇ））、データ弁別回路４５で同期クロックに基づい
てデータ信号（図４（Ｈ））を得るものである。
（Ｆ）の後縁パルスを合成回路３９で合成し（図４
（Ｇ））、データ弁別回路４５で同期クロックに基づい
てデータ信号（図４（Ｈ））を得るものである。
【００４３】このように、後縁パルスを、後縁検出段階
で同期クロック（前縁パルス）と同期させて位相差を吸
収していることから、複屈折ムラのある光磁気ディスク
媒体に対しても正確にエッジを検出し、正確にデータを
再生することができる。
で同期クロック（前縁パルス）と同期させて位相差を吸
収していることから、複屈折ムラのある光磁気ディスク
媒体に対しても正確にエッジを検出し、正確にデータを
再生することができる。
【００４４】次に、図５に、本発明の第３の実施例の構
成図を示す。なお、図１と同一回路には同一の符号を付
し、説明を省略する。図５における光磁気ディスク再生
装置６１は、エッジ検出回路１３により２値化された２
値化パルスを積分回路６２で積分して検出したデューテ
ィ比ずれ量を、サンプルホールド回路６３でホールド
し、この値を基準に図１における可変遅延回路３８の可
変量を、設定するものである。
成図を示す。なお、図１と同一回路には同一の符号を付
し、説明を省略する。図５における光磁気ディスク再生
装置６１は、エッジ検出回路１３により２値化された２
値化パルスを積分回路６２で積分して検出したデューテ
ィ比ずれ量を、サンプルホールド回路６３でホールド
し、この値を基準に図１における可変遅延回路３８の可
変量を、設定するものである。
【００４５】そして、位相比較回路４０，ＬＰＦ４１，
ＶＣＯ４２で構成されるクロック抽出手段であるＰＬＬ
で抽出された同期クロックをホールド部であるサンプル
ホールド回路６４でホールドして固定させ、位相比較回
路４０による前縁パルスと同期クロックとの位相差を、
切換部Ｓを介してＬＰＦ３５に入力させ、スライスレベ
ル発生回路３６で生成したスライスレベルＳＬ0 をエッ
ジ検出回路３３に入力させるものである。
ＶＣＯ４２で構成されるクロック抽出手段であるＰＬＬ
で抽出された同期クロックをホールド部であるサンプル
ホールド回路６４でホールドして固定させ、位相比較回
路４０による前縁パルスと同期クロックとの位相差を、
切換部Ｓを介してＬＰＦ３５に入力させ、スライスレベ
ル発生回路３６で生成したスライスレベルＳＬ0 をエッ
ジ検出回路３３に入力させるものである。
【００４６】そこで、図６に、図５の動作タイムチャー
トを示し、説明する。図６において、図２（Ａ）と同様
に、図６（Ａ）の記録マークにおける再生波形が検出さ
れる（図６（Ｂ））。この再生波形から、ピーク・ボト
ム中点検出回路３４，ＬＰＦ３５，スライスレベル３６
によりスライスレベルＳＬ11が設定される（図６
（Ｂ））。なお、切換部Ｓは、接点Ｓ1 に接続されてい
る。
トを示し、説明する。図６において、図２（Ａ）と同様
に、図６（Ａ）の記録マークにおける再生波形が検出さ
れる（図６（Ｂ））。この再生波形から、ピーク・ボト
ム中点検出回路３４，ＬＰＦ３５，スライスレベル３６
によりスライスレベルＳＬ11が設定される（図６
（Ｂ））。なお、切換部Ｓは、接点Ｓ1 に接続されてい
る。
【００４７】エッジ検出回路３３は、スライスレベルＳ
Ｌ11を基準に前縁と後縁を検出して前縁パルス及び後縁
パルスを作成する。前縁パルスは固定遅延回路３７に一
定時間ｔ0 遅延され（図６（Ｃ））、これをもとに、位
相比較回路４０，ＬＰＦ４１，ＶＣＯ４２のＰＬＬが同
期クロックを抽出する（図６（Ｅ））。この同期クロッ
クは、サンプルホールド回路６４によりＶＣＯ４２の制
御電圧をホールドすることで固定される。
Ｌ11を基準に前縁と後縁を検出して前縁パルス及び後縁
パルスを作成する。前縁パルスは固定遅延回路３７に一
定時間ｔ0 遅延され（図６（Ｃ））、これをもとに、位
相比較回路４０，ＬＰＦ４１，ＶＣＯ４２のＰＬＬが同
期クロックを抽出する（図６（Ｅ））。この同期クロッ
クは、サンプルホールド回路６４によりＶＣＯ４２の制
御電圧をホールドすることで固定される。
【００４８】一方、後縁パルスは、積分回路６２で、ま
ず最初の補正量が設定されてサンプルホールド回路６３
でホールドした該補正量で、可変遅延回路３８でｄ1 だ
け遅延される（図６（Ｄ））。
ず最初の補正量が設定されてサンプルホールド回路６３
でホールドした該補正量で、可変遅延回路３８でｄ1 だ
け遅延される（図６（Ｄ））。
【００４９】同期クロックは、サンプルホールド回路６
４により固定されていることから、位相比較回路４０に
より該同期クロックと前縁パルスとの位相差ｚが検出さ
れる。この場合、切換部Ｓを接点Ｓ2 に接続すると、位
相差ｚに基づいて、スライスレベル発生回路３６がスラ
イスレベルＳＬ12に変化させる。
４により固定されていることから、位相比較回路４０に
より該同期クロックと前縁パルスとの位相差ｚが検出さ
れる。この場合、切換部Ｓを接点Ｓ2 に接続すると、位
相差ｚに基づいて、スライスレベル発生回路３６がスラ
イスレベルＳＬ12に変化させる。
【００５０】これにより、前縁パルスが同期クロックに
同期し（図６（Ｆ））、これに伴って後縁パルスも同期
クロックに同期する（図６（Ｇ））。
同期し（図６（Ｆ））、これに伴って後縁パルスも同期
クロックに同期する（図６（Ｇ））。
【００５１】そして、図６（Ｆ）の前縁パルスと図６
（Ｇ）の後縁パルスを合成回路３９で合成し（図６
（Ｈ））、データ弁別回路４５で同期クロックに基づい
てデータ信号（図６（Ｉ））を得るものである。
（Ｇ）の後縁パルスを合成回路３９で合成し（図６
（Ｈ））、データ弁別回路４５で同期クロックに基づい
てデータ信号（図６（Ｉ））を得るものである。
【００５２】このように、前縁パルスを、同期クロック
と同期させることで、後縁パルスも同期クロックと同期
し、再生波形の振幅変化によるエンベロープ変動により
スライスレベルが変動しても位相差を吸収することがで
きる。すなわち、複屈折ムラのある光磁気ディスク媒体
に対しても正確にエッジを検出し、正確にデータを再生
することができる。
と同期させることで、後縁パルスも同期クロックと同期
し、再生波形の振幅変化によるエンベロープ変動により
スライスレベルが変動しても位相差を吸収することがで
きる。すなわち、複屈折ムラのある光磁気ディスク媒体
に対しても正確にエッジを検出し、正確にデータを再生
することができる。
【００５３】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、第１の位
相差検出手段により前縁パルス又は後縁パルスの一方と
同期クロックとの位相差を検出し、その検出結果に基づ
いて同期クロックの位相を制御し、同期クロックとデー
タ信号との同期をとり、さらに、第２の位相差検出手段
により前縁パルス又は後縁パルスの他方と同期クロック
との位相差を検出し、その検出結果に基づいてデータ信
号の位相を補正することにより、前縁パルス及び後縁パ
ルスと同期クロックとの位相差をそれぞれ別々に検出
し、補正できるので、前縁パルス又は後縁パルスより抽
出した同期クロックと、同期クロック抽出に関与しない
前縁パルス又は後縁パルスとの位相差を検出し、該位相
差に基づいて、該位相差を有する前縁パルス又は後縁パ
ルスの位相を変化させて補正することにより、エンベロ
ープ変動が生じても位相差が吸収されることとなり、デ
ータ信号を正確に再生することができる等の特長を有す
る。
相差検出手段により前縁パルス又は後縁パルスの一方と
同期クロックとの位相差を検出し、その検出結果に基づ
いて同期クロックの位相を制御し、同期クロックとデー
タ信号との同期をとり、さらに、第２の位相差検出手段
により前縁パルス又は後縁パルスの他方と同期クロック
との位相差を検出し、その検出結果に基づいてデータ信
号の位相を補正することにより、前縁パルス及び後縁パ
ルスと同期クロックとの位相差をそれぞれ別々に検出
し、補正できるので、前縁パルス又は後縁パルスより抽
出した同期クロックと、同期クロック抽出に関与しない
前縁パルス又は後縁パルスとの位相差を検出し、該位相
差に基づいて、該位相差を有する前縁パルス又は後縁パ
ルスの位相を変化させて補正することにより、エンベロ
ープ変動が生じても位相差が吸収されることとなり、デ
ータ信号を正確に再生することができる等の特長を有す
る。
【図１】本発明の第１の実施例の構成図である。
【図２】図１の動作タイムチャートである。
【図３】本発明の第２の実施例の構成図である。
【図４】図３の動作タイムチャートである。
【図５】本発明の第３の実施例の構成図である。
【図６】図５の動作タイムチャートである。
【図７】エッジ記録再生の原理を説明するための図であ
る。
る。
【図８】従来の光磁気ディスク再生装置の構成図であ
る。
る。
【図９】光磁気ディスク媒体がポリカーボ基板の場合の
再生波形を説明するための図である。
再生波形を説明するための図である。
３１，５１，６１ 光磁気ディスク再生装置 ３２ 端子 ３３ エッジ検出回路 ３４ ピーク・ボトム中点検出回路 ３５，４１，４４ ＬＰＦ ３６ スライスレベル発生回路 ３７ 固定遅延回路 ３８ 可変遅延回路 ３９ 合成回路 ４０，４３ 位相比較回路 ４２ ＶＣＯ ４５ データ弁別回路 ５２ 前縁検出回路 ５３ 後縁検出回路 ６２ 積分回路 ６３，６４ サンプルホールド回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−81324（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−73920（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G11B 7/00 G11B 11/10 586 G11B 20/10 321 G11B 20/14 351
Claims (2)
- 【請求項１】 データがエッジの位置間隔で２値により
記録された磁区列に光ビームを照射して得られる再生波
形から、該磁区の前縁及び後縁を検出して前縁パルス及
び後縁パルスを作成し、該前縁パルス及び該後縁パルス
から記録された該データを再生する光磁気ディスク再生
装置において、 前記再生波形から作成されるスライスレベルにより、前
記前縁及び前記後縁を検出して前記前縁パルス及び前記
後縁パルスを作成するエッジ検出手段と、前記前縁パルス又は前記後縁パルスの一方と同期クロッ
クとの位相差を検出する第１の位相比較手段と、 前記第１の位相比較手段で検出された位相差に基づいて
前記 前縁パルス又は前記後縁パルスの一方に同期する前
記同期クロックを抽出するクロック抽出手段と、前記前縁パルス又は前記後縁パルスの他方と同期クロッ
クとの位相差を検出する第２の位相比較手段と、 前記第２の位相比較手段で検出された位相差に基づいて
前記 前縁パルス又は前記後縁パルスの他方の位相を補正
する補正手段と、前記 補正手段における補正後に、前記前縁パルスと前記
後縁パルスとを合成し、前記同期クロックによりデータ
信号を弁別して前記データを再生する再生手段とを有す
ることを特徴とする光磁気ディスク再生装置。 - 【請求項２】 データがエッジの位置間隔で２値により
記録された磁区列に光ビームを照射して得られる再生波
形から該磁区の前縁及び後縁を検出して前縁パルス及び
後縁パルスを作成し、該前縁パルス及び該後縁パルスか
ら記録された該データを再生する光磁気ディスク再生装
置において、 前記再生波形から再生されるスライスレベルにより、前
記前縁及び前記後縁を検出して前記前縁パルス及び前記
後縁パルスを作成するエッジ検出手段と、 前記前縁パルス又は前記後縁パルスから同期クロックを
抽出するクロック抽出手段と、 前記クロック抽出手段で抽出された前記同期クロックを
ホールドするホールド部と、 前記前縁パルス及び前記後縁パルスと前記ホールド部に
よりホールドされた前記同期クロックとの位相差を検出
し、該位相差に基づいて前記エッジ検出手段のスライス
レベルを変化させて前記前縁パルス又は前記後縁パルス
の位相差を補正する補正手段と、 前記補正手段による補正後に、前記前縁パルスと前記後
縁パルスと合成し、前記ホールド部によりホールドされ
た前記同期クロックによりデータ信号を弁別し、前記デ
ータを再生するデータ再生手段とを有することを特徴と
する光磁気ディスク再生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4139128A JP2899477B2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4139128A JP2899477B2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05334754A JPH05334754A (ja) | 1993-12-17 |
| JP2899477B2 true JP2899477B2 (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=15238177
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4139128A Expired - Fee Related JP2899477B2 (ja) | 1992-05-29 | 1992-05-29 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2899477B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100694039B1 (ko) * | 2000-07-20 | 2007-03-12 | 삼성전자주식회사 | 지터 검출 장치 및 그를 이용한 위상 동기 루프 |
| JP3584967B2 (ja) | 2000-08-04 | 2004-11-04 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | データの再生装置及び再生方法 |
-
1992
- 1992-05-29 JP JP4139128A patent/JP2899477B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05334754A (ja) | 1993-12-17 |
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Legal Events
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