JP3219912B2 - 試し書き記録制御方法および試し書き記録制御装置 - Google Patents
試し書き記録制御方法および試し書き記録制御装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ビームにより情報が
記録される光磁気ディスク等の光記録媒体に対し、最適
な記録条件を求めるための試し書き記録制御方法および
試し書き記録制御装置に関するものである。
記録される光磁気ディスク等の光記録媒体に対し、最適
な記録条件を求めるための試し書き記録制御方法および
試し書き記録制御装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】試し書き記録制御方法とは、光磁気ディ
スクに所定のデータを仮に記録し、記録されたデータを
読み出すことにより最適なレーザーパワーを設定する方
法のことである。電子情報通信学会技報ＭＲ９２−６２
（１９９１−１１），ｐ．１３〜１８あるいは１９９２
年電子情報通信学会秋季大会予稿ｃ−３４２，ｐ．５〜
２１に開示された光磁気ディスクの試し書き記録制御方
法を図７に基づいて説明する。
スクに所定のデータを仮に記録し、記録されたデータを
読み出すことにより最適なレーザーパワーを設定する方
法のことである。電子情報通信学会技報ＭＲ９２−６２
（１９９１−１１），ｐ．１３〜１８あるいは１９９２
年電子情報通信学会秋季大会予稿ｃ−３４２，ｐ．５〜
２１に開示された光磁気ディスクの試し書き記録制御方
法を図７に基づいて説明する。
【０００３】この方法では、まず、光磁気ディスクに最
短マーク繰り返しパターンＸの記録マーク１６と、最長
マーク繰り返しパターンＹの記録マーク１７を記録す
る。それから、記録マーク１６、１７を読み出し、最短
マーク繰り返しパターンＸに対応した再生信号Ｗの平均
電圧Ｖ１と、最長マーク繰り返しパターンＹに対応した
再生信号Ｗの平均電圧Ｖ２との電圧差ΔＶを求める。
短マーク繰り返しパターンＸの記録マーク１６と、最長
マーク繰り返しパターンＹの記録マーク１７を記録す
る。それから、記録マーク１６、１７を読み出し、最短
マーク繰り返しパターンＸに対応した再生信号Ｗの平均
電圧Ｖ１と、最長マーク繰り返しパターンＹに対応した
再生信号Ｗの平均電圧Ｖ２との電圧差ΔＶを求める。
【０００４】この電圧差ΔＶがゼロになるように、光ビ
ームのパワーを制御して記録を行うことにより、記録マ
ーク１６と１６の間、記録マーク１６と１７の間、記録
マーク１７と１７の間、あるいはその他の記録マーク間
の熱干渉が一定になる。したがって、正確な記録を行う
ことができる。
ームのパワーを制御して記録を行うことにより、記録マ
ーク１６と１６の間、記録マーク１６と１７の間、記録
マーク１７と１７の間、あるいはその他の記録マーク間
の熱干渉が一定になる。したがって、正確な記録を行う
ことができる。
【０００５】ここで、熱干渉とは、ある記録マークを記
録したときの熱が次の記録マークを記録するときに影響
を与えることである。
録したときの熱が次の記録マークを記録するときに影響
を与えることである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
構成では、正確に熱干渉を一定にすることは困難である
という問題点を有している。
構成では、正確に熱干渉を一定にすることは困難である
という問題点を有している。
【０００７】つまり、最短マーク繰り返しパターンＸの
記録マーク１６・１６間における熱干渉は、再生信号Ｗ
の上下変動（レベル変動）を引き起こし、もう一方の最
長マーク繰り返しパターンＹの記録マーク１７・１７間
における熱干渉は、再生信号Ｗの横方向の変動（時間変
動）を引き起こす。このため、熱干渉によって生じる平
均電圧Ｖ１の変動量と、平均電圧Ｖ２の変動量とは異な
る。したがって、これらの電圧差ΔＶから熱干渉を正確
に知ることは困難であり、電圧差ΔＶがゼロになって
も、熱干渉が一定になるとは限らないという問題点を有
している。
記録マーク１６・１６間における熱干渉は、再生信号Ｗ
の上下変動（レベル変動）を引き起こし、もう一方の最
長マーク繰り返しパターンＹの記録マーク１７・１７間
における熱干渉は、再生信号Ｗの横方向の変動（時間変
動）を引き起こす。このため、熱干渉によって生じる平
均電圧Ｖ１の変動量と、平均電圧Ｖ２の変動量とは異な
る。したがって、これらの電圧差ΔＶから熱干渉を正確
に知ることは困難であり、電圧差ΔＶがゼロになって
も、熱干渉が一定になるとは限らないという問題点を有
している。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明に係る試
し書き記録制御方法は、上記の課題を解決するために、
光ビームにより情報が記録される光記録媒体から繰り返
しマークパターンに対応する再生信号の部分の第１のピ
ークレベルと、孤立マークパターンに対応する再生信号
の部分の第２のピークレベルを検出し、上記第１のピー
クレベルと上記第２のピークレベルとのレベル差が最小
となるように、記録条件を設定することを特徴としてい
る。
し書き記録制御方法は、上記の課題を解決するために、
光ビームにより情報が記録される光記録媒体から繰り返
しマークパターンに対応する再生信号の部分の第１のピ
ークレベルと、孤立マークパターンに対応する再生信号
の部分の第２のピークレベルを検出し、上記第１のピー
クレベルと上記第２のピークレベルとのレベル差が最小
となるように、記録条件を設定することを特徴としてい
る。
【０００９】請求項２の発明に係る試し書き記録制御装
置は、上記の課題を解決するために、光ビームにより情
報が記録される光記録媒体から繰り返しマークパターン
に対応する再生信号の部分の第１のピークレベルを検出
する第１のレベル検出手段と、孤立マークパターンに対
応する再生信号の部分の第２のピークレベルを検出する
第２のレベル検出手段と、上記第１のピークレベルと上
記第２のピークレベルとを比較する比較手段とが備えら
れており、上記第１のピークレベルと上記第２のピーク
レベルとのレベル差が最小となるように記録条件が設定
されることを特徴としている。
置は、上記の課題を解決するために、光ビームにより情
報が記録される光記録媒体から繰り返しマークパターン
に対応する再生信号の部分の第１のピークレベルを検出
する第１のレベル検出手段と、孤立マークパターンに対
応する再生信号の部分の第２のピークレベルを検出する
第２のレベル検出手段と、上記第１のピークレベルと上
記第２のピークレベルとを比較する比較手段とが備えら
れており、上記第１のピークレベルと上記第２のピーク
レベルとのレベル差が最小となるように記録条件が設定
されることを特徴としている。
【００１０】請求項３の発明に係る試し書き記録制御装
置は、上記の課題を解決するために、請求項２の試し書
き記録制御装置であって、第１のレベル検出手段は繰り
返しマークパターンに対応する再生信号の部分のピーク
レベルを検出するエンベロープ検波手段からなり、第２
のレベル検出手段は孤立マークパターンに対応する再生
信号の部分のピークレベルを検出するエンベロープ検波
手段からなり、比較手段はピークレベル間のレベル差を
出力する減算器からなり、レベル差が最小になるように
記録条件が設定されることを特徴としている。
置は、上記の課題を解決するために、請求項２の試し書
き記録制御装置であって、第１のレベル検出手段は繰り
返しマークパターンに対応する再生信号の部分のピーク
レベルを検出するエンベロープ検波手段からなり、第２
のレベル検出手段は孤立マークパターンに対応する再生
信号の部分のピークレベルを検出するエンベロープ検波
手段からなり、比較手段はピークレベル間のレベル差を
出力する減算器からなり、レベル差が最小になるように
記録条件が設定されることを特徴としている。
【００１１】請求項４の発明に係る試し書き記録制御装
置は、上記の課題を解決するために、請求項２の試し書
き記録制御装置であって、第１および第２のレベル検出
手段は、再生信号のピーク毎にタイミング信号を発生す
るタイミング発生手段と、タイミング信号に基づいて再
生信号をＡ／Ｄ（アナログ／ディジタル）変換すること
により、再生信号のピークレベルを取り出すＡ／Ｄコン
バーターとからなり、比較手段はピークレベル間のレベ
ル差を出力するプロセッサーからなり、レベル差が最小
になるように記録条件が設定されることを特徴としてい
る。
置は、上記の課題を解決するために、請求項２の試し書
き記録制御装置であって、第１および第２のレベル検出
手段は、再生信号のピーク毎にタイミング信号を発生す
るタイミング発生手段と、タイミング信号に基づいて再
生信号をＡ／Ｄ（アナログ／ディジタル）変換すること
により、再生信号のピークレベルを取り出すＡ／Ｄコン
バーターとからなり、比較手段はピークレベル間のレベ
ル差を出力するプロセッサーからなり、レベル差が最小
になるように記録条件が設定されることを特徴としてい
る。
【００１２】
【作用】請求項１の構成によれば、繰り返しマークパタ
ーンに対応した記録マークの間の熱干渉も、孤立マーク
パターンに対応した記録マークの間の熱干渉も、再生信
号にはレベル変動となって現れる。このため、繰り返し
マークパターンに対応する再生信号の部分の第１のピー
クレベルと、孤立マークパターンに対応する再生信号の
部分の第２のピークレベルを検出し、上記レベルを比較
することにより、正確に熱干渉の違いを知ることができ
る。そして、上記第１のピークレベルと上記第２のピー
クレベルとのレベル差が最小となるように記録条件を設
定することにより、異なるマークパターンに対応した記
録マークの間の熱干渉を同じにすることができる。これ
により、熱干渉に影響されない正確な記録条件を設定す
ることが可能となる。
ーンに対応した記録マークの間の熱干渉も、孤立マーク
パターンに対応した記録マークの間の熱干渉も、再生信
号にはレベル変動となって現れる。このため、繰り返し
マークパターンに対応する再生信号の部分の第１のピー
クレベルと、孤立マークパターンに対応する再生信号の
部分の第２のピークレベルを検出し、上記レベルを比較
することにより、正確に熱干渉の違いを知ることができ
る。そして、上記第１のピークレベルと上記第２のピー
クレベルとのレベル差が最小となるように記録条件を設
定することにより、異なるマークパターンに対応した記
録マークの間の熱干渉を同じにすることができる。これ
により、熱干渉に影響されない正確な記録条件を設定す
ることが可能となる。
【００１３】請求項２の構成によれば、請求項１の試し
書き記録制御方法を採用した試し書き記録制御装置を実
現できる。
書き記録制御方法を採用した試し書き記録制御装置を実
現できる。
【００１４】請求項３および４の構成によれば、請求項
２の試し書き記録制御装置を簡単な構成で実現できる。
２の試し書き記録制御装置を簡単な構成で実現できる。
【００１５】
【実施例】本発明の第１の実施例について図１ないし図
５に基づいて説明すれば、以下の通りである。
５に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００１６】本実施例の試し書き記録制御装置は、図１
に示すように、半導体レーザー２３と、レベル差Δｖ
（後述する）が最小になるように、孤立マークパターン
ｘ及び繰り返しマークパターンｙに対応した記録信号ｚ
を半導体レーザー２３に出力する繰り返し・孤立パター
ン発生手段４とを備えている。
に示すように、半導体レーザー２３と、レベル差Δｖ
（後述する）が最小になるように、孤立マークパターン
ｘ及び繰り返しマークパターンｙに対応した記録信号ｚ
を半導体レーザー２３に出力する繰り返し・孤立パター
ン発生手段４とを備えている。
【００１７】半導体レーザー２３は、記録信号ｚに応じ
た強度およびパルス長の光ビームａを光磁気ディスク２
４（光記録媒体）に照射し、これにより、図２に示すよ
うに、孤立マークパターンｘの記録マーク５…および繰
り返しマークパターンｙの記録マーク６…を光磁気ディ
スクに記録する。ここで、孤立マークパターンｘとは、
互いに離れた記録マーク５…のように、熱干渉に影響さ
れにくいパターンであり、繰り返しマークパターンｙと
は、互いに近接した記録マーク６…のように、熱干渉に
影響されやすいパターンである。
た強度およびパルス長の光ビームａを光磁気ディスク２
４（光記録媒体）に照射し、これにより、図２に示すよ
うに、孤立マークパターンｘの記録マーク５…および繰
り返しマークパターンｙの記録マーク６…を光磁気ディ
スクに記録する。ここで、孤立マークパターンｘとは、
互いに離れた記録マーク５…のように、熱干渉に影響さ
れにくいパターンであり、繰り返しマークパターンｙと
は、互いに近接した記録マーク６…のように、熱干渉に
影響されやすいパターンである。
【００１８】試し書き記録制御装置は、さらに、光磁気
ディスク２４からの反射光ｂを受光し、光電変換するこ
とにより、再生信号ｗを出力するフォトディテクター２
２と、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗ
の部分のピークレベルｖ１を検出する繰り返しパターン
レベル検出手段１（第１のレベル検出手段）と、孤立マ
ークパターンｘに対応する再生信号ｗの部分のピークレ
ベルｖ２を検出する孤立パターンレベル検出手段２（第
２のレベル検出手段）と、ピークレベルｖ１とｖ２との
レベル差Δｖを上記の繰り返し・孤立パターン発生手段
４に出力する比較手段３とを備えている。
ディスク２４からの反射光ｂを受光し、光電変換するこ
とにより、再生信号ｗを出力するフォトディテクター２
２と、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗ
の部分のピークレベルｖ１を検出する繰り返しパターン
レベル検出手段１（第１のレベル検出手段）と、孤立マ
ークパターンｘに対応する再生信号ｗの部分のピークレ
ベルｖ２を検出する孤立パターンレベル検出手段２（第
２のレベル検出手段）と、ピークレベルｖ１とｖ２との
レベル差Δｖを上記の繰り返し・孤立パターン発生手段
４に出力する比較手段３とを備えている。
【００１９】上記の構成において、同一強度および同一
パルス長の光ビームａを光磁気ディスク２４に照射する
ことにより、記録マーク５…および記録マーク６…を記
録した場合、熱干渉を受けやすい記録マーク６…は、図
２に実線で示されているように、熱干渉を受けにくい記
録マーク５…より大きくなる。このため、繰り返しマー
クパターンｙに対応する再生信号ｗの部分のピークレベ
ルｖ１は、孤立マークパターンｘに対応する再生信号ｗ
の部分のピークレベルｖ２よりも大きくなる。したがっ
て、レベル差Δｖが発生する。
パルス長の光ビームａを光磁気ディスク２４に照射する
ことにより、記録マーク５…および記録マーク６…を記
録した場合、熱干渉を受けやすい記録マーク６…は、図
２に実線で示されているように、熱干渉を受けにくい記
録マーク５…より大きくなる。このため、繰り返しマー
クパターンｙに対応する再生信号ｗの部分のピークレベ
ルｖ１は、孤立マークパターンｘに対応する再生信号ｗ
の部分のピークレベルｖ２よりも大きくなる。したがっ
て、レベル差Δｖが発生する。
【００２０】これに対し、記録マーク５…および記録マ
ーク６…を記録したとき、記録マーク５・５間の熱干渉
と、記録マーク６・６間の熱干渉とが同一であったか、
あるいは、いずれの熱干渉も発生しなかった場合、記録
マーク６…は、図２に破線で示されているように、記録
マーク５…と同じ大きさになる。このため、ピークレベ
ルｖ１とｖ２は等しくなる。したがって、レベル差Δｖ
はゼロとなる。
ーク６…を記録したとき、記録マーク５・５間の熱干渉
と、記録マーク６・６間の熱干渉とが同一であったか、
あるいは、いずれの熱干渉も発生しなかった場合、記録
マーク６…は、図２に破線で示されているように、記録
マーク５…と同じ大きさになる。このため、ピークレベ
ルｖ１とｖ２は等しくなる。したがって、レベル差Δｖ
はゼロとなる。
【００２１】以上より、繰り返し・孤立パターン発生手
段４によって、レベル差Δｖが最小となるように、光ビ
ームの強度およびパルス長を設定することにより、同一
熱干渉の下で情報を記録するための記録条件を設定でき
る。これにより、情報を正確に記録することが可能にな
る。
段４によって、レベル差Δｖが最小となるように、光ビ
ームの強度およびパルス長を設定することにより、同一
熱干渉の下で情報を記録するための記録条件を設定でき
る。これにより、情報を正確に記録することが可能にな
る。
【００２２】ＣＰＵ（ Central Processing Unit）を用
いると、記録条件を変化させながら、上記Δｖの変化を
測定し、自動的に試し書き記録制御を行うことが可能で
ある。
いると、記録条件を変化させながら、上記Δｖの変化を
測定し、自動的に試し書き記録制御を行うことが可能で
ある。
【００２３】なお、レベル差Δｖは、熱干渉によるだけ
でなく、光学伝達特性（ＯＴＦ）によっても発生するこ
とがある。この場合、トータルのレベル差Δｖは次式で
表される。
でなく、光学伝達特性（ＯＴＦ）によっても発生するこ
とがある。この場合、トータルのレベル差Δｖは次式で
表される。
【００２４】 Δｖ＝Δｖ（ＯＴＦ）＋Δｖ（ thermal ) ここで、Δｖ（ＯＴＦ）は光学伝達特性によるレベル差
であり、Δｖ（ thermal)は熱干渉によるレベル差であ
る。
であり、Δｖ（ thermal)は熱干渉によるレベル差であ
る。
【００２５】Δｖ（ＯＴＦ）がある場合、レベル差Δｖ
はゼロとはならないが、レベル差Δｖが最小になると
き、上記の場合と同様に、熱干渉が同一になる。つま
り、本実施例の試し書き記録制御装置によれば、Δｖ
（ＯＴＦ）の有無に関わらず、同一熱干渉の下で情報を
記録するための記録条件を設定できる。これにより、情
報を正確に記録することが可能になる。
はゼロとはならないが、レベル差Δｖが最小になると
き、上記の場合と同様に、熱干渉が同一になる。つま
り、本実施例の試し書き記録制御装置によれば、Δｖ
（ＯＴＦ）の有無に関わらず、同一熱干渉の下で情報を
記録するための記録条件を設定できる。これにより、情
報を正確に記録することが可能になる。
【００２６】以上の実施例では、ピークレベルｖ１とｖ
２とのレベル差Δｖが最小になるに記録条件を設定した
が、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗの
部分の極小レベルｖ３と、ピークレベルｖ２とのレベル
差（＝ｖ２−ｖ３）が最大となるように記録条件を設定
することもできる。
２とのレベル差Δｖが最小になるに記録条件を設定した
が、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗの
部分の極小レベルｖ３と、ピークレベルｖ２とのレベル
差（＝ｖ２−ｖ３）が最大となるように記録条件を設定
することもできる。
【００２７】上記の試し書き記録制御装置の繰り返しパ
ターンレベル検出手段１、孤立パターンレベル検出手段
２には、具体的には例えば、図３に示すように、エンベ
ロープ検波手段７、エンベロープ検波手段８を用いるこ
とができ、比較手段３には、減算器９を用いることがで
きる。
ターンレベル検出手段１、孤立パターンレベル検出手段
２には、具体的には例えば、図３に示すように、エンベ
ロープ検波手段７、エンベロープ検波手段８を用いるこ
とができ、比較手段３には、減算器９を用いることがで
きる。
【００２８】エンベロープ検波手段７、８は、詳細には
例えば、図４に示すように、ピークホールド回路２５と
サンプルホールド回路２６とにより構成される。ピーク
ホールド回路２５は、抵抗２７、ダイオード２８、コン
デンサー２９およびバッファ３０からなっており、サン
プルホールド回路２６は、スイッチ３１、コンデンサー
３２およびバッファ３３からなっている。ピークホール
ド回路２５で得られたピークレベルｖ１、ｖ２は、タイ
ミング信号ｈでスイッチ３１をオン・オフ制御すること
により取り出され得る。
例えば、図４に示すように、ピークホールド回路２５と
サンプルホールド回路２６とにより構成される。ピーク
ホールド回路２５は、抵抗２７、ダイオード２８、コン
デンサー２９およびバッファ３０からなっており、サン
プルホールド回路２６は、スイッチ３１、コンデンサー
３２およびバッファ３３からなっている。ピークホール
ド回路２５で得られたピークレベルｖ１、ｖ２は、タイ
ミング信号ｈでスイッチ３１をオン・オフ制御すること
により取り出され得る。
【００２９】また、上記の試し書き記録制御装置の繰り
返しパターンレベル検出手段１、孤立パターンレベル検
出手段２には、図５に示すように、再生信号ｗのピーク
毎にタイミング信号ｔを発生するタイミング発生手段１
０と、タイミング信号ｔに基づいて再生信号ｗをＡ／Ｄ
（アナログ／ディジタル）変換することにより、再生信
号ｗのピークレベルｖ１、ｖ２を取り出すＡ／Ｄコンバ
ーター１１とを用いることができ、比較手段３には、タ
イミング信号ｔに基づいてピークレベルｖ１、ｖ２から
レベル差Δｖ（＝ｖ１−ｖ２）を算出して出力するプロ
セッサー１２を用いることができる。
返しパターンレベル検出手段１、孤立パターンレベル検
出手段２には、図５に示すように、再生信号ｗのピーク
毎にタイミング信号ｔを発生するタイミング発生手段１
０と、タイミング信号ｔに基づいて再生信号ｗをＡ／Ｄ
（アナログ／ディジタル）変換することにより、再生信
号ｗのピークレベルｖ１、ｖ２を取り出すＡ／Ｄコンバ
ーター１１とを用いることができ、比較手段３には、タ
イミング信号ｔに基づいてピークレベルｖ１、ｖ２から
レベル差Δｖ（＝ｖ１−ｖ２）を算出して出力するプロ
セッサー１２を用いることができる。
【００３０】タイミング発生手段１０は、例えば、ＰＬ
Ｌ（フェーズ・ロックト・ループ）と復調器とで容易に
構成され得る。
Ｌ（フェーズ・ロックト・ループ）と復調器とで容易に
構成され得る。
【００３１】本発明に関連する参考例について図６に基
づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便
宜上、前記の実施例の図面に示した部材と同一の機能を
有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略
する。
づいて説明すれば、以下の通りである。なお、説明の便
宜上、前記の実施例の図面に示した部材と同一の機能を
有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略
する。
【００３２】本参考例の試し書き記録制御装置は、図６
に示すように、繰り返しマークパターンｙに対応する再
生信号ｗの部分の平均レベルｖ１’を検出する平均化手
段１３（第１のレベル検出手段）と、孤立マークパター
ンｘに対応する再生信号ｗの部分の平均レベルｖ２’を
検出する平均化手段１４（第２のレベル検出手段）と、
平均レベルｖ１’、ｖ２’からレベル差Δｖ’（＝ｖ
１’−ｖ２’）を求め出力する減算器１５（比較手段）
とを備えている。
に示すように、繰り返しマークパターンｙに対応する再
生信号ｗの部分の平均レベルｖ１’を検出する平均化手
段１３（第１のレベル検出手段）と、孤立マークパター
ンｘに対応する再生信号ｗの部分の平均レベルｖ２’を
検出する平均化手段１４（第２のレベル検出手段）と、
平均レベルｖ１’、ｖ２’からレベル差Δｖ’（＝ｖ
１’−ｖ２’）を求め出力する減算器１５（比較手段）
とを備えている。
【００３３】上記の構成において、レベル差Δｖ’が最
小となるように、光ビームａの強度およびパルス長を設
定することにより、同一熱干渉の下で情報を記録するた
めの記録条件を設定できる。これにより、情報を正確に
記録することが可能になる。
小となるように、光ビームａの強度およびパルス長を設
定することにより、同一熱干渉の下で情報を記録するた
めの記録条件を設定できる。これにより、情報を正確に
記録することが可能になる。
【００３４】以上の実施例において、光磁気ディスク２
４には情報記録領域とは別に試し書き専用の記録領域を
設けることが好ましい。この試し書き専用の記録領域を
用いて記録条件の設定を行えば、情報記録領域の情報を
破壊する恐れがなくなる。
４には情報記録領域とは別に試し書き専用の記録領域を
設けることが好ましい。この試し書き専用の記録領域を
用いて記録条件の設定を行えば、情報記録領域の情報を
破壊する恐れがなくなる。
【００３５】また、以上の実施例では、光記録媒体とし
て光磁気ディスク２４を挙げて本発明の試し書き記録制
御装置および試し書き記録制御方法を説明したが、これ
に限定されることなく、相変化型の光ディスクや追記型
の光ディスク等、光ビームａを照射したときに発生する
熱を利用して情報の記録を行う光記録媒体あるいは情報
記録再生装置に対し、本発明を広く応用できる。
て光磁気ディスク２４を挙げて本発明の試し書き記録制
御装置および試し書き記録制御方法を説明したが、これ
に限定されることなく、相変化型の光ディスクや追記型
の光ディスク等、光ビームａを照射したときに発生する
熱を利用して情報の記録を行う光記録媒体あるいは情報
記録再生装置に対し、本発明を広く応用できる。
【００３６】請求項１の発明に対応する試し書き記録制
御方法は、光ビームａにより情報が記録される光磁気デ
ィスク２４から繰り返しマークパターンｙに対応する再
生信号ｗの部分の第１のピークレベルと、孤立マークパ
ターンｘに対応する再生信号ｗの部分の第２のピークレ
ベルを検出し、上記第１のピークレベルと上記第２のピ
ークレベルとのレベル差が最小となるように、記録条件
を設定する構成である。
御方法は、光ビームａにより情報が記録される光磁気デ
ィスク２４から繰り返しマークパターンｙに対応する再
生信号ｗの部分の第１のピークレベルと、孤立マークパ
ターンｘに対応する再生信号ｗの部分の第２のピークレ
ベルを検出し、上記第１のピークレベルと上記第２のピ
ークレベルとのレベル差が最小となるように、記録条件
を設定する構成である。
【００３７】これによれば、繰り返しマークパターンｙ
に対応した記録マーク６・６の間の熱干渉も、孤立マー
クパターンｘに対応した記録マーク５・５の間の熱干渉
も、再生信号ｗにはレベル変動となって現れる。このた
め、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗの
部分の第１のピークレベルと、孤立マークパターンｘに
対応する再生信号ｗの部分の第２のピークレベルを検出
し、上記レベルを比較することにより、正確に熱干渉の
違いを知ることができる。そして、上記第１のピークレ
ベルと上記第２のピークレベルとのレベル差が最小とな
るように記録条件を設定することにより、異なるマーク
パターンに対応した記録マークの間の熱干渉を同じにす
ることができる。これにより、熱干渉に影響されない正
確な記録条件を設定することが可能となる。
に対応した記録マーク６・６の間の熱干渉も、孤立マー
クパターンｘに対応した記録マーク５・５の間の熱干渉
も、再生信号ｗにはレベル変動となって現れる。このた
め、繰り返しマークパターンｙに対応する再生信号ｗの
部分の第１のピークレベルと、孤立マークパターンｘに
対応する再生信号ｗの部分の第２のピークレベルを検出
し、上記レベルを比較することにより、正確に熱干渉の
違いを知ることができる。そして、上記第１のピークレ
ベルと上記第２のピークレベルとのレベル差が最小とな
るように記録条件を設定することにより、異なるマーク
パターンに対応した記録マークの間の熱干渉を同じにす
ることができる。これにより、熱干渉に影響されない正
確な記録条件を設定することが可能となる。
【００３８】請求項２の発明に対応する試し書き記録制
御装置は、光ビームａにより情報が記録される光磁気デ
ィスク２４から繰り返しマークパターンｙに対応する再
生信号ｗの部分の第１のピークレベルを検出する繰り返
しパターンレベル検出手段１と、孤立マークパターンｘ
に対応する再生信号ｗの部分の第２のピークレベルを検
出する孤立パターンレベル検出手段２と、上記第１のピ
ークレベルと上記第２のピークレベルとを比較する比較
手段３とが備えられており、上記第１のピークレベルと
上記第２のピークレベルとのレベル差が最小となるよう
に記録条件が設定される構成である。
御装置は、光ビームａにより情報が記録される光磁気デ
ィスク２４から繰り返しマークパターンｙに対応する再
生信号ｗの部分の第１のピークレベルを検出する繰り返
しパターンレベル検出手段１と、孤立マークパターンｘ
に対応する再生信号ｗの部分の第２のピークレベルを検
出する孤立パターンレベル検出手段２と、上記第１のピ
ークレベルと上記第２のピークレベルとを比較する比較
手段３とが備えられており、上記第１のピークレベルと
上記第２のピークレベルとのレベル差が最小となるよう
に記録条件が設定される構成である。
【００３９】これによれば、請求項１の試し書き記録制
御方法を採用した試し書き記録制御装置を実現できる。
御方法を採用した試し書き記録制御装置を実現できる。
【００４０】請求項３の発明に対応する試し書き記録制
御装置は、請求項２の試し書き記録制御装置であって、
繰り返しパターンレベル検出手段１は繰り返しマークパ
ターンｙに対応する再生信号ｗの部分のピークレベルｖ
１を検出するエンベロープ検波手段７からなり、孤立パ
ターンレベル検出手段２は孤立マークパターンｘに対応
する再生信号ｗの部分のピークレベルｖ２を検出するエ
ンベロープ検波手段８からなり、比較手段３はピークレ
ベルｖ１、ｖ２間のレベル差Δｖを出力する減算器９か
らなり、レベル差Δｖが最小になるように記録条件が設
定される構成である。
御装置は、請求項２の試し書き記録制御装置であって、
繰り返しパターンレベル検出手段１は繰り返しマークパ
ターンｙに対応する再生信号ｗの部分のピークレベルｖ
１を検出するエンベロープ検波手段７からなり、孤立パ
ターンレベル検出手段２は孤立マークパターンｘに対応
する再生信号ｗの部分のピークレベルｖ２を検出するエ
ンベロープ検波手段８からなり、比較手段３はピークレ
ベルｖ１、ｖ２間のレベル差Δｖを出力する減算器９か
らなり、レベル差Δｖが最小になるように記録条件が設
定される構成である。
【００４１】これによれば、請求項２の試し書き記録制
御装置を簡単な構成で実現することができる。
御装置を簡単な構成で実現することができる。
【００４２】請求項４の発明に対応する試し書き記録制
御装置は、請求項２の試し書き記録制御装置であって、
繰り返しパターンレベル検出手段１および孤立パターン
レベル検出手段２は、再生信号ｗのピーク毎にタイミン
グ信号ｔを発生するタイミング発生手段１０と、タイミ
ング信号ｔに基づいて再生信号ｗをＡ／Ｄ変換すること
により、再生信号ｗのピークレベルｖ１、ｖ２を取り出
すＡ／Ｄコンバーター１１とからなり、比較手段３はピ
ークレベルｖ１、ｖ２間のレベル差Δｖを出力するプロ
セッサー１２からなり、レベル差Δｖが最小になるよう
に記録条件が設定される構成である。
御装置は、請求項２の試し書き記録制御装置であって、
繰り返しパターンレベル検出手段１および孤立パターン
レベル検出手段２は、再生信号ｗのピーク毎にタイミン
グ信号ｔを発生するタイミング発生手段１０と、タイミ
ング信号ｔに基づいて再生信号ｗをＡ／Ｄ変換すること
により、再生信号ｗのピークレベルｖ１、ｖ２を取り出
すＡ／Ｄコンバーター１１とからなり、比較手段３はピ
ークレベルｖ１、ｖ２間のレベル差Δｖを出力するプロ
セッサー１２からなり、レベル差Δｖが最小になるよう
に記録条件が設定される構成である。
【００４３】これによれば、請求項２の試し書き記録制
御装置を簡単な構成で実現することができる。
御装置を簡単な構成で実現することができる。
【００４４】
【発明の効果】請求項１の発明に係る試し書き記録制御
方法は、以上のように、光ビームにより情報が記録され
る光記録媒体から繰り返しマークパターンに対応する再
生信号の部分の第１のピークレベルと、孤立マークパタ
ーンに対応する再生信号の部分の第２のピークレベルを
検出し、上記第１のピークレベルと上記第２のピークレ
ベルとのレベル差が最小となるように、記録条件を設定
するので、繰り返しマークパターンに対応した記録マー
クの間の熱干渉も、孤立マークパターンに対応した記録
マークの間の熱干渉も、再生信号にはレベル変動となっ
て現れる。このため、繰り返しマークパターンに対応す
る再生信号の部分のレベルと、孤立マークパターンに対
応する再生信号の部分のレベルを検出し、上記レベルを
比較することにより、正確に熱干渉の違いを知ることが
できる。そして、上記第１のピークレベルと上記第２の
ピークレベルとのレベル差が最小となるように記録条件
を設定することにより、異なるマークパターンに対応し
た記録マークの間の熱干渉を同じにすることができる。
これにより、熱干渉に影響されない正確な記録条件を設
定することが可能となるという効果を奏する。
方法は、以上のように、光ビームにより情報が記録され
る光記録媒体から繰り返しマークパターンに対応する再
生信号の部分の第１のピークレベルと、孤立マークパタ
ーンに対応する再生信号の部分の第２のピークレベルを
検出し、上記第１のピークレベルと上記第２のピークレ
ベルとのレベル差が最小となるように、記録条件を設定
するので、繰り返しマークパターンに対応した記録マー
クの間の熱干渉も、孤立マークパターンに対応した記録
マークの間の熱干渉も、再生信号にはレベル変動となっ
て現れる。このため、繰り返しマークパターンに対応す
る再生信号の部分のレベルと、孤立マークパターンに対
応する再生信号の部分のレベルを検出し、上記レベルを
比較することにより、正確に熱干渉の違いを知ることが
できる。そして、上記第１のピークレベルと上記第２の
ピークレベルとのレベル差が最小となるように記録条件
を設定することにより、異なるマークパターンに対応し
た記録マークの間の熱干渉を同じにすることができる。
これにより、熱干渉に影響されない正確な記録条件を設
定することが可能となるという効果を奏する。
【００４５】請求項２の発明に係る試し書き記録制御装
置は、以上のように、光ビームにより情報が記録される
光記録媒体から繰り返しマークパターンに対応する再生
信号の部分の第１のピークレベルを検出する第１のレベ
ル検出手段と、孤立マークパターンに対応する再生信号
の部分の第２のピークレベルを検出する第２のレベル検
出手段と、上記第１のピークレベルと上記第２のピーク
レベルとを比較する比較手段とが備えられており、上記
第１のピークレベルと上記第２のピークレベルとのレベ
ル差が最小となるように記録条件が設定されるので、請
求項１の試し書き記録制御方法を採用した試し書き記録
制御装置を実現できるという効果を奏する。
置は、以上のように、光ビームにより情報が記録される
光記録媒体から繰り返しマークパターンに対応する再生
信号の部分の第１のピークレベルを検出する第１のレベ
ル検出手段と、孤立マークパターンに対応する再生信号
の部分の第２のピークレベルを検出する第２のレベル検
出手段と、上記第１のピークレベルと上記第２のピーク
レベルとを比較する比較手段とが備えられており、上記
第１のピークレベルと上記第２のピークレベルとのレベ
ル差が最小となるように記録条件が設定されるので、請
求項１の試し書き記録制御方法を採用した試し書き記録
制御装置を実現できるという効果を奏する。
【００４６】請求項３の発明に係る試し書き記録制御装
置は、以上のように、請求項２の試し書き記録制御装置
であって、第１のレベル検出手段は繰り返しマークパタ
ーンに対応する再生信号の部分のピークレベルを検出す
るエンベロープ検波手段からなり、第２のレベル検出手
段は孤立マークパターンに対応する再生信号の部分のピ
ークレベルを検出するエンベロープ検波手段からなり、
比較手段はピークレベル間のレベル差を出力する減算器
からなり、レベル差が最小になるように記録条件が設定
されるので、請求項２の試し書き記録制御装置を簡単な
構成で実現できるという効果を奏する。
置は、以上のように、請求項２の試し書き記録制御装置
であって、第１のレベル検出手段は繰り返しマークパタ
ーンに対応する再生信号の部分のピークレベルを検出す
るエンベロープ検波手段からなり、第２のレベル検出手
段は孤立マークパターンに対応する再生信号の部分のピ
ークレベルを検出するエンベロープ検波手段からなり、
比較手段はピークレベル間のレベル差を出力する減算器
からなり、レベル差が最小になるように記録条件が設定
されるので、請求項２の試し書き記録制御装置を簡単な
構成で実現できるという効果を奏する。
【００４７】請求項４の発明に係る試し書き記録制御装
置は、以上のように、請求項２の試し書き記録制御装置
であって、第１および第２のレベル検出手段は、再生信
号のピーク毎にタイミング信号を発生するタイミング発
生手段と、タイミング信号に基づいて再生信号をＡ／Ｄ
変換することにより、再生信号のピークレベルを取り出
すＡ／Ｄコンバーターとからなり、比較手段はピークレ
ベル間のレベル差を出力するプロセッサーからなり、レ
ベル差が最小になるように記録条件が設定されるので、
請求項２の試し書き記録制御装置を簡単な構成で実現で
きるという効果を奏する。
置は、以上のように、請求項２の試し書き記録制御装置
であって、第１および第２のレベル検出手段は、再生信
号のピーク毎にタイミング信号を発生するタイミング発
生手段と、タイミング信号に基づいて再生信号をＡ／Ｄ
変換することにより、再生信号のピークレベルを取り出
すＡ／Ｄコンバーターとからなり、比較手段はピークレ
ベル間のレベル差を出力するプロセッサーからなり、レ
ベル差が最小になるように記録条件が設定されるので、
請求項２の試し書き記録制御装置を簡単な構成で実現で
きるという効果を奏する。
【図１】本発明の第１の実施例を示すものであり、試し
書き記録制御装置を示す概略の構成図である。
書き記録制御装置を示す概略の構成図である。
【図２】図１の試し書き記録制御装置の動作を示すため
の説明図である。
の説明図である。
【図３】図１の試し書き記録制御装置の具体例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図４】図３の試し書き記録制御装置の詳細を示す回路
図である。
図である。
【図５】図１の試し書き記録制御装置の他の具体例を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図６】本発明の第２の実施例を示すものであり、試し
書き記録制御装置を示す概略の構成図である。
書き記録制御装置を示す概略の構成図である。
【図７】従来の試し書き記録制御装置の動作を示すため
の説明図である。
の説明図である。
１ 繰り返しパターンレベル検出手段（第１のレベル
検出手段） ２ 孤立パターンレベル検出手段（第２のレベル検出
手段） ３ 比較手段 ４ 繰り返し・孤立パターン発生手段 ５ 記録マーク ６ 記録マーク ７ エンベロープ検波手段 ８ エンベロープ検波手段 ９ 減算器 １０ タイミング発生手段 １１ Ａ／Ｄコンバーター １２ プロセッサー １３ 平均化手段（第１のレベル検出手段） １４ 平均化手段（第２のレベル検出手段） １５ 減算器（比較手段） ２４ 光磁気ディスク（光記録媒体）
検出手段） ２ 孤立パターンレベル検出手段（第２のレベル検出
手段） ３ 比較手段 ４ 繰り返し・孤立パターン発生手段 ５ 記録マーク ６ 記録マーク ７ エンベロープ検波手段 ８ エンベロープ検波手段 ９ 減算器 １０ タイミング発生手段 １１ Ａ／Ｄコンバーター １２ プロセッサー １３ 平均化手段（第１のレベル検出手段） １４ 平均化手段（第２のレベル検出手段） １５ 減算器（比較手段） ２４ 光磁気ディスク（光記録媒体）
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/013 G11B 7/125 G11B 11/105
Claims (4)
- 【請求項１】光ビームにより情報が記録される光記録媒
体から繰り返しマークパターンに対応する再生信号の部
分の第１のピークレベルと、孤立マークパターンに対応
する再生信号の部分の第２のピークレベルを検出し、上
記第１のピークレベルと上記第２のピークレベルとのレ
ベル差が最小となるように、記録条件を設定することを
特徴とする試し書き記録制御方法。 - 【請求項２】光ビームにより情報が記録される光記録媒
体から繰り返しマークパターンに対応する再生信号の部
分の第１のピークレベルを検出する第１のレベル検出手
段と、孤立マークパターンに対応する再生信号の部分の
第２のピークレベルを検出する第２のレベル検出手段
と、上記第１のピークレベルと上記第２のピークレベル
とを比較する比較手段とが備えられており、上記第１の
ピークレベルと上記第２のピークレベルとのレベル差が
最小となるように記録条件が設定されることを特徴とす
る試し書き記録制御装置。 - 【請求項３】第１のレベル検出手段は繰り返しマークパ
ターンに対応する再生信号の部分のピークレベルを検出
するエンベロープ検波手段からなり、第２のレベル検出
手段は孤立マークパターンに対応する再生信号の部分の
ピークレベルを検出するエンベロープ検波手段からな
り、比較手段はピークレベル間のレベル差を出力する減
算器からなり、レベル差が最小になるように記録条件が
設定されることを特徴とする請求項２記載の試し書き記
録制御装置。 - 【請求項４】第１および第２のレベル検出手段は、再生
信号のピーク毎にタイミング信号を発生するタイミング
発生手段と、タイミング信号に基づいて再生信号をアナ
ログ／ディジタル変換することにより、再生信号のピー
クレベルを取り出すアナログ／ディジタルコンバーター
とからなり、比較手段はピークレベル間のレベル差を出
力するプロセッサーからなり、レベル差が最小になるよ
うに記録条件が設定されることを特徴とする請求項２記
載の試し書き記録制御装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21879193A JP3219912B2 (ja) | 1993-09-02 | 1993-09-02 | 試し書き記録制御方法および試し書き記録制御装置 |
| US08/299,848 US5537381A (en) | 1993-09-02 | 1994-09-01 | Test-writing recording control method and test-writing recording control apparatus and optical recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21879193A JP3219912B2 (ja) | 1993-09-02 | 1993-09-02 | 試し書き記録制御方法および試し書き記録制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0773468A JPH0773468A (ja) | 1995-03-17 |
| JP3219912B2 true JP3219912B2 (ja) | 2001-10-15 |
Family
ID=16725430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21879193A Expired - Fee Related JP3219912B2 (ja) | 1993-09-02 | 1993-09-02 | 試し書き記録制御方法および試し書き記録制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3219912B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09330519A (ja) * | 1996-06-10 | 1997-12-22 | Hitachi Ltd | 光ディスク記録再生装置 |
-
1993
- 1993-09-02 JP JP21879193A patent/JP3219912B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0773468A (ja) | 1995-03-17 |
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