JP3361225B2 - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の技術分野】本発明は、自動焦点カメラ等に使用
される光学的三角測量方式の測距装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】従来、測距装置には種々の方式のものが
あるが、このうち光束を投光素子から投光レンズを通し
て被写体に向けて射出し、被写体からの反射光を受光レ
ンズを通して受光素子で受光して、被写体までの距離の
変化による受光素子上の結像位置の変化を演算し三角測
量方式によって被写体までの距離を測定する光学的三角
測量方式の測距装置がある。 【０００３】このような従来の光学的三角測量方式の測
距装置として、実開平４−６１０１３号公報の第２図に
記載されている測距装置がある。この実開平４−６１０
１３号公報記載の測距装置では、ＡＦホルダ１の発光側
１１には発光（投光）素子が設けられ、受光側１２には
受光素子が設けられているが、受光素子２はＡＦホルダ
１から分離して形成された剛性のプリント板（基板）５
に固定されている。そして、プリント板５に半田付けに
より接続されたリード線６により図示されていない制御
基板との導通をとるようにしている。また、プリント板
５のＡＦホルダ１への取り付け及び位置調整のための構
成として、プリント板５に水平方向と平行な長穴５ａ，
５ｂ、止ネジ３が挿通する挿通穴５ｃ、偏心ピン４の頭
部４ａが嵌合する嵌合溝５ｄを形成してある。そして、
プリント板５の長穴５ａ，５ｂにＡＦホルダ１のガイド
ピン１ａ，１ｂを嵌合させ、止ネジ３をＡＦホルダ１の
ネジ穴１ｃに締め付けることにより、プリント板５をＡ
Ｆホルダ１に取り付けると共に、偏心ピン４のピン部４
ｂをＡＦホルダ１の圧入穴１ｄに圧入してその頭部４ａ
を嵌合溝５ｄ内で回動させることにより、プリント板５
とＡＦホルダ１との相対的位置関係を調整して、受光素
子と図示しない受光レンズ間の位置合わせを行なうよう
にしている。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の測距装置では、リード線によって受光素子のプリン
ト板と制御基板を接続しているためにスペース効率が悪
く、コスト高になるという問題点があった。また、プリ
ント板とＡＦホルダとの位置関係の調整においても上記
したようにプリント板やＡＦホルダに長穴、ガイドピン
を設ける必要があり、かつ偏心ピン等を使用しているの
で、コスト高であるという問題点があった。 【０００５】 【課題を解決するための手段】上記問題点を解決する手
段として、本発明はより簡易な機構で低コストの測距装
置を提供するために、投光素子または受光素子を搭載し
た回路基板と制御基板を直接接続することとし、この接
続に当っては制御基板に回路基板が嵌合かつスライド可
能な長孔を設けている。これにより、前記の長孔に嵌合
された回路基板をスライドさせることにより、回路基板
と制御基板の相対的位置関係を調整して、レンズと投光
素子または受光素子の位置合わせを容易に行なうことが
できる。そして回路基板と制御基板を半田付け等により
直接に接続かつ固定して導通をとることができる。 【０００６】 【発明の実施の形態】本発明は、投光レンズを通して光
束を被写体に向けて射出するための投光素子と、被写体
からの反射光を受光レンズを通して受光する受光素子
と、投光素子および受光素子を設けたホルダ部と、制御
基板とを備えた三角測距方式の測距装置である。そし
て、投光素子と受光素子の少なくともいずれか一方を搭
載した回路基板を有し、制御基板には回路基板が嵌合可
能な長孔が形成してある。長孔は嵌合された回路基板を
スライドさせることによって制御基板と回路基板の相対
位置を調節可能な長さに形成してある。制御基板には接
続パターンが設けてあり、回路基板には接続パターンと
導通可能でかつ半田ブリッジにより固着可能な配線パタ
ーンが設けてある。そして接続パターンと配線パターン
とは、制御基板と回路基板の相対位置の変化によっても
導通可能なようにそのいずれか一方を他方より幅広に形
成してある。 【０００７】三角測距方式の測距装置では、受光側の受
光レンズと受光素子の位置合わせが重要であるので、少
なくとも受光素子を回路基板に搭載して、制御基板には
受光側の回路基板が嵌合可能な長孔を形成するのが望ま
しい。そして、回路基板の設置方向は、回路基板の面方
向が投光素子または受光素子の光の照射または反射方向
の中心線に直交する方向となるように設置するのが好ま
しく、これに対応して制御基板の設置方向はその面方向
が上記中心線に平行な方向となるようにに設置するのが
好ましい。したがって、回路基板は制御基板に形成され
た長孔内を上下左右のいずれの方向にもスライド可能
で、レンズと投光素子または受光素子の位置合わせが可
能となる。 【０００８】また、制御基板と回路基板に導電パターン
として形成された接続パターンと配線パターンとは、回
路基板を制御基板の上記長孔に嵌合したときに互いに対
向する位置に形成する。そして接続パターンと配線パタ
ーンとのいずれか一方を他方より幅広に形成しておけ
ば、回路基板の位置決めの際に回路基板を長孔内でスラ
イドさせたときにも導通をとることが可能となる。そし
て導電パターンの幅は長孔の長さに応じて導通に十分な
幅に設定すればよい。さらに、接続パターンと配線パタ
ーンとを半田ブリッジにより固着すれば、回路基板はこ
の装置に固定されることになる。 【０００９】 【実施例】以下、図１ないし図３を参照して本発明の実
施例を説明する。図１は、本発明の一実施例に係る測距
装置の全体構成を示している。この測距装置の制御基板
１の下側にはホルダ部２が固着されている。ホルダ部２
の投光側２１には、図示しない投光素子（ＩＲＥＤ）と
投光レンズが内蔵され、ホルダ部２の受光側２２には図
２に示す受光素子（ＰＳＤ）５と受光レンズ６が内蔵さ
れている。この光学的三角測量方式の測距装置は、投光
側２１の投光素子（ＩＲＥＤ）より投光レンズを通して
被測定物である物体へ向けて赤外光を照射し、物体から
の反射光を受光レンズ６を通して受光素子（ＰＳＤ）５
上に結像させ、物体までの距離の変化による受光素子５
上の結像位置の変化を、受光素子５から出力される電流
にもとづいて演算し、三角測量方式によって物体までの
距離を測定するものである。 【００１０】ホルダ部２の背面側には、投光素子をその
内側に固着した回路基板３と受光素子５をその内側に固
着した回路基板４がそれぞれ設けてある。制御基板１に
は、回路基板３と回路基板４がそれぞれ嵌合する長孔１
ａ，１ａが形成してある。回路基板３と回路基板４のそ
れぞれは、後述するように制御基板１に半田付けで固着
されている。 【００１１】図２は、測距装置の受光側の構成を示すも
ので、ホルダ部２の背面側に取り付けられる回路基板４
には受光素子５が設けてある。受光素子５の端子ピン５
ａは回路基板４を貫通して背面側に突出し、半田５ｂに
より固着されている。ホルダ部２の前面側には図示しな
い窓部内に受光レンズ６が設けてある。回路基板４は制
御基板１の長孔１ａ内に嵌合される。この長孔１ａは図
３に示すように回路基板４の横幅よりも長く形成されて
おり、回路基板４を上下左右にスライドさせることによ
って制御基板１との相対的位置関係を調整可能になって
いる。 【００１２】また、制御基板１の裏面には長孔１ａに臨
んで制御回路（図示せず。）に接続された接続パターン
１ｂが設けてある。回路基板４にはこの接続パターン１
ｂと導通可能な配線パターン４ａが設けてあり、端子５
ａと半田５ｂにより導通可能に接続されている。接続パ
ターン１ｂと配線パターン４ａとは後述のように半田ブ
リッジにより接続される。そして、配線パターン４ａに
は接続パターン１ｂの横幅よりも広く形成された幅広部
が形成されている。したがって、回路基板４を長孔１ａ
内でスライドさせて回路基板１の位置をずらして取り付
ける場合でも、配線パターン４ａと接続パターン１ｂと
の間で十分な導通面が確保されるようになっている。 【００１３】このように構成された測距装置において、
回路基板４を制御基板１及びホルダ部２に取り付ける方
法について説明する。図２（ａ）は回路基板４を制御基
板１及びホルダ部２に取り付けて位置調整をする前の状
態を示したもので、回路基板４を長孔１ａに裏面側より
嵌入する。そして、図２（ｂ）に示すように上下方向の
位置を調整すると共に、左右方向にも位置を調整して、
受光素子６と受光レンズ６の中心線Ｓが一致するように
位置合わせをする。しかる後に図３に示す接続パターン
１ｂと配線パターン４ａとを図２（ｂ）の半田ブリッジ
７で接続する。これにより回路基板４は制御基板１に固
着される。なお、上記ではこの装置の受光側２２の構成
と受光側回路基板４の取付け方法を説明したが、投光側
２１の構成及び投光側基板４の取付けまたは位置決めも
基本的に同じである。 【００１４】 【発明の効果】以上に述べたように、本発明の測距装置
は、制御基板に回路基板が嵌合かつスライド可能な長孔
と、どちらかの基板に幅広部のある配線パターンを設け
て、投光素子または受光素子を搭載した回路基板と制御
基板を直接接続し、また長孔に嵌合された回路基板をス
ライドさせることで回路基板と制御基板の相対的位置関
係を調整して、レンズと投光素子または受光素子の位置
合わせをするようにしているので、従来のようにリード
線やケーブル等が不要であり、また位置決めの機構も簡
易であるため、スペース効率がよく低コストで組立も容
易である。
される光学的三角測量方式の測距装置に関する。 【０００２】 【従来の技術】従来、測距装置には種々の方式のものが
あるが、このうち光束を投光素子から投光レンズを通し
て被写体に向けて射出し、被写体からの反射光を受光レ
ンズを通して受光素子で受光して、被写体までの距離の
変化による受光素子上の結像位置の変化を演算し三角測
量方式によって被写体までの距離を測定する光学的三角
測量方式の測距装置がある。 【０００３】このような従来の光学的三角測量方式の測
距装置として、実開平４−６１０１３号公報の第２図に
記載されている測距装置がある。この実開平４−６１０
１３号公報記載の測距装置では、ＡＦホルダ１の発光側
１１には発光（投光）素子が設けられ、受光側１２には
受光素子が設けられているが、受光素子２はＡＦホルダ
１から分離して形成された剛性のプリント板（基板）５
に固定されている。そして、プリント板５に半田付けに
より接続されたリード線６により図示されていない制御
基板との導通をとるようにしている。また、プリント板
５のＡＦホルダ１への取り付け及び位置調整のための構
成として、プリント板５に水平方向と平行な長穴５ａ，
５ｂ、止ネジ３が挿通する挿通穴５ｃ、偏心ピン４の頭
部４ａが嵌合する嵌合溝５ｄを形成してある。そして、
プリント板５の長穴５ａ，５ｂにＡＦホルダ１のガイド
ピン１ａ，１ｂを嵌合させ、止ネジ３をＡＦホルダ１の
ネジ穴１ｃに締め付けることにより、プリント板５をＡ
Ｆホルダ１に取り付けると共に、偏心ピン４のピン部４
ｂをＡＦホルダ１の圧入穴１ｄに圧入してその頭部４ａ
を嵌合溝５ｄ内で回動させることにより、プリント板５
とＡＦホルダ１との相対的位置関係を調整して、受光素
子と図示しない受光レンズ間の位置合わせを行なうよう
にしている。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の測距装置では、リード線によって受光素子のプリン
ト板と制御基板を接続しているためにスペース効率が悪
く、コスト高になるという問題点があった。また、プリ
ント板とＡＦホルダとの位置関係の調整においても上記
したようにプリント板やＡＦホルダに長穴、ガイドピン
を設ける必要があり、かつ偏心ピン等を使用しているの
で、コスト高であるという問題点があった。 【０００５】 【課題を解決するための手段】上記問題点を解決する手
段として、本発明はより簡易な機構で低コストの測距装
置を提供するために、投光素子または受光素子を搭載し
た回路基板と制御基板を直接接続することとし、この接
続に当っては制御基板に回路基板が嵌合かつスライド可
能な長孔を設けている。これにより、前記の長孔に嵌合
された回路基板をスライドさせることにより、回路基板
と制御基板の相対的位置関係を調整して、レンズと投光
素子または受光素子の位置合わせを容易に行なうことが
できる。そして回路基板と制御基板を半田付け等により
直接に接続かつ固定して導通をとることができる。 【０００６】 【発明の実施の形態】本発明は、投光レンズを通して光
束を被写体に向けて射出するための投光素子と、被写体
からの反射光を受光レンズを通して受光する受光素子
と、投光素子および受光素子を設けたホルダ部と、制御
基板とを備えた三角測距方式の測距装置である。そし
て、投光素子と受光素子の少なくともいずれか一方を搭
載した回路基板を有し、制御基板には回路基板が嵌合可
能な長孔が形成してある。長孔は嵌合された回路基板を
スライドさせることによって制御基板と回路基板の相対
位置を調節可能な長さに形成してある。制御基板には接
続パターンが設けてあり、回路基板には接続パターンと
導通可能でかつ半田ブリッジにより固着可能な配線パタ
ーンが設けてある。そして接続パターンと配線パターン
とは、制御基板と回路基板の相対位置の変化によっても
導通可能なようにそのいずれか一方を他方より幅広に形
成してある。 【０００７】三角測距方式の測距装置では、受光側の受
光レンズと受光素子の位置合わせが重要であるので、少
なくとも受光素子を回路基板に搭載して、制御基板には
受光側の回路基板が嵌合可能な長孔を形成するのが望ま
しい。そして、回路基板の設置方向は、回路基板の面方
向が投光素子または受光素子の光の照射または反射方向
の中心線に直交する方向となるように設置するのが好ま
しく、これに対応して制御基板の設置方向はその面方向
が上記中心線に平行な方向となるようにに設置するのが
好ましい。したがって、回路基板は制御基板に形成され
た長孔内を上下左右のいずれの方向にもスライド可能
で、レンズと投光素子または受光素子の位置合わせが可
能となる。 【０００８】また、制御基板と回路基板に導電パターン
として形成された接続パターンと配線パターンとは、回
路基板を制御基板の上記長孔に嵌合したときに互いに対
向する位置に形成する。そして接続パターンと配線パタ
ーンとのいずれか一方を他方より幅広に形成しておけ
ば、回路基板の位置決めの際に回路基板を長孔内でスラ
イドさせたときにも導通をとることが可能となる。そし
て導電パターンの幅は長孔の長さに応じて導通に十分な
幅に設定すればよい。さらに、接続パターンと配線パタ
ーンとを半田ブリッジにより固着すれば、回路基板はこ
の装置に固定されることになる。 【０００９】 【実施例】以下、図１ないし図３を参照して本発明の実
施例を説明する。図１は、本発明の一実施例に係る測距
装置の全体構成を示している。この測距装置の制御基板
１の下側にはホルダ部２が固着されている。ホルダ部２
の投光側２１には、図示しない投光素子（ＩＲＥＤ）と
投光レンズが内蔵され、ホルダ部２の受光側２２には図
２に示す受光素子（ＰＳＤ）５と受光レンズ６が内蔵さ
れている。この光学的三角測量方式の測距装置は、投光
側２１の投光素子（ＩＲＥＤ）より投光レンズを通して
被測定物である物体へ向けて赤外光を照射し、物体から
の反射光を受光レンズ６を通して受光素子（ＰＳＤ）５
上に結像させ、物体までの距離の変化による受光素子５
上の結像位置の変化を、受光素子５から出力される電流
にもとづいて演算し、三角測量方式によって物体までの
距離を測定するものである。 【００１０】ホルダ部２の背面側には、投光素子をその
内側に固着した回路基板３と受光素子５をその内側に固
着した回路基板４がそれぞれ設けてある。制御基板１に
は、回路基板３と回路基板４がそれぞれ嵌合する長孔１
ａ，１ａが形成してある。回路基板３と回路基板４のそ
れぞれは、後述するように制御基板１に半田付けで固着
されている。 【００１１】図２は、測距装置の受光側の構成を示すも
ので、ホルダ部２の背面側に取り付けられる回路基板４
には受光素子５が設けてある。受光素子５の端子ピン５
ａは回路基板４を貫通して背面側に突出し、半田５ｂに
より固着されている。ホルダ部２の前面側には図示しな
い窓部内に受光レンズ６が設けてある。回路基板４は制
御基板１の長孔１ａ内に嵌合される。この長孔１ａは図
３に示すように回路基板４の横幅よりも長く形成されて
おり、回路基板４を上下左右にスライドさせることによ
って制御基板１との相対的位置関係を調整可能になって
いる。 【００１２】また、制御基板１の裏面には長孔１ａに臨
んで制御回路（図示せず。）に接続された接続パターン
１ｂが設けてある。回路基板４にはこの接続パターン１
ｂと導通可能な配線パターン４ａが設けてあり、端子５
ａと半田５ｂにより導通可能に接続されている。接続パ
ターン１ｂと配線パターン４ａとは後述のように半田ブ
リッジにより接続される。そして、配線パターン４ａに
は接続パターン１ｂの横幅よりも広く形成された幅広部
が形成されている。したがって、回路基板４を長孔１ａ
内でスライドさせて回路基板１の位置をずらして取り付
ける場合でも、配線パターン４ａと接続パターン１ｂと
の間で十分な導通面が確保されるようになっている。 【００１３】このように構成された測距装置において、
回路基板４を制御基板１及びホルダ部２に取り付ける方
法について説明する。図２（ａ）は回路基板４を制御基
板１及びホルダ部２に取り付けて位置調整をする前の状
態を示したもので、回路基板４を長孔１ａに裏面側より
嵌入する。そして、図２（ｂ）に示すように上下方向の
位置を調整すると共に、左右方向にも位置を調整して、
受光素子６と受光レンズ６の中心線Ｓが一致するように
位置合わせをする。しかる後に図３に示す接続パターン
１ｂと配線パターン４ａとを図２（ｂ）の半田ブリッジ
７で接続する。これにより回路基板４は制御基板１に固
着される。なお、上記ではこの装置の受光側２２の構成
と受光側回路基板４の取付け方法を説明したが、投光側
２１の構成及び投光側基板４の取付けまたは位置決めも
基本的に同じである。 【００１４】 【発明の効果】以上に述べたように、本発明の測距装置
は、制御基板に回路基板が嵌合かつスライド可能な長孔
と、どちらかの基板に幅広部のある配線パターンを設け
て、投光素子または受光素子を搭載した回路基板と制御
基板を直接接続し、また長孔に嵌合された回路基板をス
ライドさせることで回路基板と制御基板の相対的位置関
係を調整して、レンズと投光素子または受光素子の位置
合わせをするようにしているので、従来のようにリード
線やケーブル等が不要であり、また位置決めの機構も簡
易であるため、スペース効率がよく低コストで組立も容
易である。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施例の測距装置の背面側斜視図である。
【図２】図１の受光側の拡大断面図であり、（ａ）は回
路基板の位置決め調整前の状態を示し、（ｂ）は位置決
め調整後の状態を示すものである。 【図３】実施例の測距装置の背面拡大斜視図である。 【符号の説明】 １ 制御基板 １ａ 長孔 １ｂ 接続パターン ２ ホルダ部 ３ 投光側回路基板 ４ 受光側回路基板 ４ａ 配線パターン ５ 受光素子 ６ 受光レンズ ７ 半田ブリッジ
路基板の位置決め調整前の状態を示し、（ｂ）は位置決
め調整後の状態を示すものである。 【図３】実施例の測距装置の背面拡大斜視図である。 【符号の説明】 １ 制御基板 １ａ 長孔 １ｂ 接続パターン ２ ホルダ部 ３ 投光側回路基板 ４ 受光側回路基板 ４ａ 配線パターン ５ 受光素子 ６ 受光レンズ ７ 半田ブリッジ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(56)参考文献 特開 平２−59607（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−14888（ＪＰ，Ａ)
特開 平３−197896（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−63330（ＪＰ，Ａ)
実開 平２−29561（ＪＰ，Ｕ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01C 3/06
G02B 7/32
G03B 13/36
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 【請求項１】 投光レンズを通して光束を被写体に向け
て射出するための投光素子と、被写体からの反射光を受
光レンズを通して受光する受光素子と、上記投光素子お
よび上記受光素子を設けたホルダ部と、制御基板とを備
えた三角測距方式の測距装置において、 上記投光素子と上記受光素子の少なくともいずれか一方
を搭載した回路基板を有し、 上記制御基板には、上記回路基板が嵌合可能な長孔が形
成してあり、 上記長孔は、嵌合された上記回路基板をスライドさせる
ことによって上記制御基板と上記回路基板の相対位置を
調節可能な長さに形成してあり、 上記制御基板には、接続パターンが設けてあり、 上記回路基板には上記接続パターンと導通可能でかつ半
田ブリッジにより固着可能な配線パターンが設けてあ
り、 上記接続パターンと上記配線パターンとは、上記制御基
板と上記回路基板の相対位置の変化によっても導通可能
なようにそのいずれか一方を他方より幅広に形成してあ
ることを特徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3401496A JP3361225B2 (ja) | 1996-02-21 | 1996-02-21 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3401496A JP3361225B2 (ja) | 1996-02-21 | 1996-02-21 | 測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09229679A JPH09229679A (ja) | 1997-09-05 |
| JP3361225B2 true JP3361225B2 (ja) | 2003-01-07 |
Family
ID=12402556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3401496A Expired - Fee Related JP3361225B2 (ja) | 1996-02-21 | 1996-02-21 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3361225B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101387513B (zh) | 2008-08-28 | 2010-06-23 | 上海科勒电子科技有限公司 | 距离检测感应装置 |
| CN101393262B (zh) | 2008-11-05 | 2011-04-27 | 上海科勒电子科技有限公司 | 距离检测感应装置及其近距离检测方法 |
-
1996
- 1996-02-21 JP JP3401496A patent/JP3361225B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09229679A (ja) | 1997-09-05 |
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