JP3350685B2 - 微細部品の収納トレーとこれを用いた微細部品の検査方法 - Google Patents

微細部品の収納トレーとこれを用いた微細部品の検査方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばICチップなど
の半導体を搭載したチップキャリア、ピングリッドアレ
イ、ボールグリッドアレイ等、主に樹脂でICを封止し
たパッケージなどの微細部品を多数収納して、輸送・保
管・検査するのに有用な微細部品の収納トレー(以下、
収納トレーとする)と、これを用いた微細部品の検査方
法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、生産された微細部品を、工程内で
搬送したり熱処理したり保管したり検査したり客先へ出
荷したりするときは、図9に示すような微細部品aを個
別に載置・収納する周囲に突起bを備えた収納部cが多
数縦横方向に設けられている収納トレーdが広く用いら
れてきた。この収納トレーdに各微細部品aを収納し、
これから取出す作業は、手作業によるか、自動ラインで
は取り出し治具を用いて、一つづつ行われていた。しか
し、この方法では微細部品の汚れや接触不良、破損等の
損傷を生じ易いほか、検査に多くの時間がかかった。と
ころで、最近のICは大型化が進んで信号の入出力端子
が増えてきている一方で軽薄短小化も進み、入出力端子
が細く、かつ破損し易くなってきている。また発熱も多
くなり、従来の端子からの放熱では不十分なことから、
図8(a)〜(c)にそれぞれ平面図、正面図および底
面図として示すような、パッケージ1の裏面中央部に多
数のハンダボール2‥を設けたボールグリッドアレイ
(以下、BGAとする)3が使用されるようになってき
た。このBGA3では、ハンダボール2の状態を含めた
表裏両面を、これまで以上に詳細に、またハンダボール
2を傷付けないように、目視検査する必要から、手作業
で一つづつ取り出しては裏返すという方法で行うしかな
かった。そのため、ハンダボール2に手の油が付着して
接触不良や汚れなどの損傷を来す危険が一層増大するこ
とになった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
目的は、汚れ、接触不良、破損を生ずるおそれなしに、
短時間で微細部品の表裏両面の目視検査ができるほか、
輸送や保管にも利用することのできる収納トレーと、こ
れを用いた微細部品の検査方法を、提供するものであ
る。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の収納トレーは、
微細部品を個別に収容する収納部が収納トレーの骨格を
なす基板上に多数縦横方向に連設されてなる上下方向に
嵌合自在の収納トレーであって、前記収納部は、その上
面周囲に微細部品を支持するための段部を備え、この段
部上の収納部四隅に微細部品の下側隅部に添う形状で上
部と下部に傾斜面が形成される側面を有する突起を備
え、その下面に外側が微細部品の外郭形状に添って位置
する段差を有する4個以上の足を備えていることを特徴
するものであり、とくには前記各突起は、その縦断面が
重ね台形状(台形が二つ重なった形状)または三角台形
状(台形の上に三角形が重なった形状)をしていて、そ
の微細部品に面する上部斜面が型抜き方向に対して3
〜45°、下部斜面が型抜き方向に対して0〜35°の傾
斜をなし、かつ上部斜面≧下部斜面の関係にあり、
各足は、微細部品の上側周辺部の立体形状に添う外方に
一段長い段差を備え、その段差への斜面が型抜き方向
に対して3〜45°の傾斜であること、および微細部品の
長手方向の下面寸法をA、上面寸法をB、収納部の長手
方向で相対する2個の突起における上部斜面の上端間
の距離をA2、下部斜面の基部間の距離をA1、長手方
向で相対する2個の足における斜面の下端間の距離を
1、同斜面の上端間の距離をB2としたとき、相互の
関係がA1−A≦B1−Bで、A2−A≧B2−Bとなる構
造としたことを好適とするものである。
【0005】また、この収納トレーを用いた微細部品の
検査方法は、収納トレーの各収納部に微細部品を個別に
収納し、各微細部品の表面を検査した後、同様の別の収
納トレーを同じ方向に積み重ねて反転し、各微細部品を
最初の収納トレーの上面側から別の収納トレーの底面側
に移し、最初の収納トレーを取り外して各微細部品の裏
面を検査した後、再びその上に最初の収納トレーを積み
重ねて反転し、各微細部品を別の収納トレーの底面側か
ら最初の収納トレーの上面側へ移すことを特徴とするも
のである。
【0006】以下、本発明の詳細を、微細部品の一例と
して図8に示したBGAを収納するための収納トレーに
ついて、例示した図1〜図7に基づいて説明する。図1
は収納トレー全体を概括的に示す平面図、図2は図1に
示した収納トレーの底面図、図3は収納トレーに微細部
品Pを収納した後、別の収納トレーを積み重ねたときの
状態を拡大して示す、図1のC−C線での縦断面図、図
4は図3と同様の状態における図1のD−D線での縦断
面図、図5(a)、(b)はそれぞれ図3と同様の状態
での、微細部品、突起および足の相互の位置関係を示す
異なる態様の平面説明図、図6(a)は突起および足の
形状の詳細を示す、図1のC−C線での縦断面説明図、
図6(b)は微細部品の寸法と収納部を挟んで相対する
2個の突起および足間の距離との関係を示す、同様の縦
断面説明図、図7(a)、(b)はそれぞれ収納トレー
に微細部品を収納して検査に供するときの状態を作業順
に示す、図3の要部についての縦断面説明図である。
【0007】上記各図において、11は収納トレー10の骨
格をなす基板で、各微細部品P‥を個別に収納する収納
部12‥が多数、縦横方向に連設・一体化されたものから
なっている。収納トレー10はまた、その周縁部13、14に
おいて別の収納トレー10bの周縁部13b、14bとそれぞ
れ上下方向に嵌合・積重できる構造になっている。各収
納部12‥の周囲、すなわち隣接する別の収納部との各境
界部には、基板11より一段高くなった段部15‥があっ
て、その内の一方、図では短手方向の両側は幅広に形成
されていて、ここで微細部品Pをその下面両側で支持す
る。この段部15‥上の各収納部12‥の四隅には、収納す
る微細部品Pの下側隅部16‥に添う平面形状の側面を有
し、これに隣接する4個の収納部分全体としては十字状
を呈する、4個の突起17‥が設けられている。なお、こ
の突起17‥の平面形状は、例えば図5(b)に示すよう
に、微細部品Pの外郭形状に応じて任意に変えることが
できる。各収納部12‥の底面には、それぞれの外側が微
細部品Pの外郭形状に添って位置する、4個以上の足18
‥を備えている。この足18‥の配置または個数も、図5
(a)、(b)に示すように任意に変更することができ
る。また、各収納部12‥の中央部には、必要に応じて適
宜の形状または個数の貫通孔19を設けてもよい。
【0008】このような構成からなる本発明の収納トレ
ー10は、各収納部12‥に微細部品Pを個別に収納し、そ
の状態で工場内等の移送に供するほか、この状態の微細
部品Pについて、それぞれの表面状態をまとめて目視検
査した後、その上に同じ構造の別の収納トレー10bを同
じ上下方向に積み重ねて〔図7(a)参照〕反転し、各
微細部品Pを収納トレー10の収納部上面側から収納トレ
ー10bの底面側、足18bの底面に移し〔図7(b)参
照〕、収納トレー10を取り外して各微細部品Pの裏面状
態をまとめて目視検査した後、再びその上に収納トレー
10を積み重ねて反転し、各微細部品Pを収納トレー10b
の底面側から収納トレー10の収納部上面側へ移して旧に
復する、という要領で微細部品の検査に供するのである
が、各収納部12‥への微細部品Pの収納や収納後の移送
が円滑に行われ、検査時の反転に際して各微細部品が両
収納トレー10、10bの間を円滑に移動できるように、以
下の構造にするのが望ましい。
【0009】すなわち、図6(a)に示されるように、
各突起17‥は、その縦断面が重ね台形状または三角台形
状をしていて、その微細部品Pに面する上部斜面が型
抜き方向に対して3〜45°、また下部斜面が型抜き方
向に対して0〜35°の傾斜で、上部斜面≧下部斜面
の関係にあり、各足18‥は、微細部品Pの上側周辺部の
立体形状に添う、外方に一段長い段差20を備え、その段
差20への斜面が型抜き方向に対して3〜45°の傾斜で
あること、また図6(b)に示されるように、微細部品
Pの長手方向の下面寸法をA、上面寸法をB、収納部12
の長手方向で相対する2個の突起17、17における、上部
斜面の上端間の距離をA2 、下部斜面の基部間の距
離をA1 、また長手方向で相対する2個の足18、18にお
ける、斜面の下端間の距離をB1 、同斜面の上端間
の距離をB2 としたとき、相互の関係がA1 −A≦B1
−Bで、A2 −A≧B2 −Bとなるものである。
【0010】ここで、斜面およびが45°を超える
と、収納した微細部品Pが移送のときなどに収納部12か
ら飛び出すおそれがあり、3°未満では収納時に微細部
品Pが入りにくくなる。また斜面が35°を超えると、
収納した微細部品Pが、移送のときなどに収納部12から
飛び出すおそれがある。さらに斜面≧斜面としたこ
とで、微細部品Pは収納部12に確実に収納されるが、斜
面<斜面では入りにくくなってしまう。とくに斜面
を0〜5°とすることで、移送時の微細部品Pの飛び
出しがなくなり安定して輸送できる。また、A1 −A≦
1 −Bとしたことで、最初の反転の際に微細部品Pは
収納トレー10の収納部上面側より収納トレー10bの底面
側、足18bの底面に円滑に移動することができ、A2
A≧B2 −Bとしたことで、微細部品Pの裏面検査後の
反転において、再び元の収納トレー10の上面に円滑に戻
すことができる。この際、突起17および足18が上記の形
状をしていることで、さらによい結果がもたらされる。
【0011】本発明の収納トレーは、ポリエチレン、ポ
リプロピレン、ポリスチレン、AS樹脂、ABS樹脂、
ポリカーボネート、ポリエチレンテレフタレート、ポリ
ブチレンテレフタレート、ポリアミド、変性ポリフェニ
レンオキシド、ポリアセタールおよびPPS樹脂等の熱
可塑性樹脂またはフェノール樹脂、ユリア樹脂、メラミ
ン樹脂、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂に、カーボンブ
ラック、カーボンファイバー、ステンレスファイバーま
たは銅、アルミニウム、金、銀、ニッケル等の金属の粉
末、繊維およびフレーク状物等の導電性フィラーや帯電
防止剤を含有させた表面抵抗値が1012Ω以下の導電材料
を用いて、射出成形、コンプレッション成形、トランス
ファー成形することで得られる。
【0012】
【作用】本発明の収納トレーは、各収納部に微細部品を
個別に収納し、その状態で工場内等の移送に供するほ
か、この状態の微細部品について、それぞれの表面状態
をまとめて目視検査した後、その上に同じ構造の別の収
納トレーを同じ上下方向に積み重ねて反転し、各微細部
品を最初の収納トレーの収納部上面側から別の収納トレ
ーの底面側、足の底面に移し、最初の収納トレーを取り
外して各微細部品の裏面状態をまとめて目視検査した
後、再びその上に最初の収納トレーを積み重ねて反転
し、各微細部品を別の収納トレーの底面側から最初の収
納トレーの収納部上面側へ移して旧に復する、という要
領で微細部品の検査に供する。その際、各収納部への微
細部品の収納、収納済みの収納トレーの移送、検査時の
反転に際しての微細部品の収納トレー間の移動等が円滑
に行われる。なお、反転のときの収納トレー間の移動に
際して、微細部品は一側を次の収納トレーの突起の斜面
に当ててから所定の位置に収まるので、損傷を防止す
ることができる。さらに、収納トレーの各収納部に微細
部品を個別に収納したものを2枚以上積み重ね、その上
に別の収納トレーを積み重ねることで、輸送・保管の用
にも供することができる。
【0013】
【実施例】次に本発明の収納トレーの具体的態様を実施
例および比較例により説明する。 実施例 ポリプロピレンにステンレスファイバーを含有させた表
面抵抗値が1012Ω以下の導電材料と変性ポリフェニレン
オキシドにカーボンブラックを含有させた導電材料とを
用いて、射出成形により本発明の収納トレーを作製し
た。収納する微細部品は図8に示した形状のBGAで、
長手方向の下面寸法Aが22mm、上面寸法Bが18.7mm、短
手方向の下面寸法Aが14mm、上面寸法Bが10.7mmのもの
のため、上記収納トレーは図1〜図4および図5(a)
に示した形状で、各収納部周りの斜面の傾斜および寸法
を下記の値とした。 ・長手方向および短手方向での微細部品に面する各突起
の上部斜面:30°、同下部斜面:5°、各足の段差
への斜面:25°。 ・収納部の長手方向で相対する2個の突起における、下
部斜面の基部間の距離A1 :22.2mm、上部斜面の上
端間の距離A2 :23.4mm、同様に相対する2個の足にお
ける斜面の下端間の距離B1 :20.1mm、同斜面の上
端間の距離B2 :19.5mm。 ・収納部の短手方向で相対する2個の突起における、下
部斜面の基部間の距離A1 :14.2mm、上部斜面の上
端間の距離A2 :15.4mm、同様に相対する2個の足にお
ける斜面の下端間の距離B1 :12.1mm、同斜面の上
端間の距離B2 :11.5mm。
【0014】上記の微細部品をこの収納トレーの各収納
部に収納して、全部の微細部品の表面の目視検査をまと
めて行った後、この上に別の収納トレーを重ね合わせて
反転し、内部の微細部品を最初の収納トレーの収納部上
面側から別の収納トレーの底面側、足の底面に移した。
次に、最初の収納トレーを取り外して全部の微細部品の
裏面の目視検査をまとめて行った。検査終了後、再びそ
の上に最初の収納トレーを積み重ねて反転し、各微細部
品を別の収納トレーの底面側から最初の収納トレーの収
納部上面側へ移して旧に復した。以上の各作業におい
て、各微細部品は収納トレーの所定の場所に常に簡単に
収納されたので、収納トレー1枚当り(パッケージ96
個)の検査時間は30秒で済み、検査の際に微細部品に手
が触れることもなく、微細部品の汚れ、接触不良、破損
等もなかった。
【0015】比較例 図9に示した従来の収納トレーを用いて微細部品96個を
一つづつ取り出しながら、表裏の目視検査を行ったとこ
ろ、汚れ、端子曲がり等が発生したほか、収納トレー1
枚当りの検査時間が 480秒かかった。
【0016】
【発明の効果】
1)本発明の収納トレーは、各収納部への微細部品の収納
や、収納済みの収納トレーの移送、さらには検査時の反
転に際しての微細部品の収納トレー間の移動等を円滑に
行うことができる。 2)収納された多数の微細部品に直接手を触れることな
く、まとめて表裏の目視検査ができるため、微細部品に
手の油や汚れが付いたり、微細部品が接触不良や破損し
たりするおそれもない。また微細部品の検査に要する時
間を大幅に短縮することができる。 3)本発明の収納トレーは、ICチップなどの半導体を搭
載したチップキャリアまたはピングリッドアレイ等、主
に樹脂でICを封止したパッケージなどの微細部品を収
納し、輸送・保管・検査に供するのに有用である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の収納トレーの全体を概括的に示す平面
図である。
【図2】図1に示した収納トレーの底面図である。
【図3】収納トレーに微細部品を収納した後、別の収納
トレーを積み重ねたときの状態を拡大して示す、図1の
C−C線での縦断面図である。
【図4】図3と同様の状態における図1のD−D線での
縦断面図である。
【図5】(a)、(b)はそれぞれ、図3と同様の状態
での、微細部品、突起および足の相互の位置関係を示
す、異なる態様の平面説明図である。
【図6】いずれも図1のC−C線での縦断面説明図で、
(a)は突起および足の形状の詳細を示し、(b)は微
細部品の寸法と収納部を挟んで相対する2個の突起およ
び足間の距離との関係を示すものである。
【図7】(a)、(b)はそれぞれ、収納トレーに微細
部品を収納して検査に供するときの状態を作業順に示
す、図3の要部についての縦断面説明図である。
【図8】本発明の収納トレーで用いられる微細部品の一
例としてのBGAの詳細を示すもので、(a)〜(c)
はそれぞれその平面図、正面図および底面図である。
【図9】従来の収納トレーの縦断面説明図である。
【符号の説明】
1‥パッケージ、 2‥ハンダボール、 3‥ボール
グリッドアレイ、10、10b‥収納トレー、 11‥基
板、 12‥収納部、13、14、13b、14b‥周縁部、
15‥段部、 16‥下側隅部、17‥突起、 1
8、18b‥足、 19‥貫通孔、 20‥段差、
P‥微細部品。a‥微細部品、 b‥突起、
c‥収納部、 d‥収納トレー。
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B65D 85/86 B65D 21/02

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 微細部品を個別に収容する収納部が収納
    トレーの骨格をなす基板上に多数縦横方向に連設されて
    なる上下方向に嵌合自在の収納トレーであって、前記収
    納部は、その上面周囲に微細部品を支持するための段部
    を備え、この段部上の収納部四隅に微細部品の下側隅部
    に添う形状で上部と下部に傾斜面が形成される側面を有
    する突起を備え、その下面に外側が微細部品の外郭形状
    に添って位置する段差を有する4個以上の足を備えてい
    ることを特徴する微細部品の収納トレー。
  2. 【請求項2】 前記各突起は、その縦断面が重ね台形状
    または三角台形状をしていて、その微細部品に面する上
    部斜面が型抜き方向に対して3〜45°、下部斜面が
    型抜き方向に対して0〜35°の傾斜をなし、かつ上部斜
    面≧下部斜面の関係にあり、各足は、微細部品の上
    側周辺部の立体形状に添う外方に一段長い段差を備え、
    その段差への斜面が型抜き方向に対して3〜45°の傾
    斜であること、および微細部品の長手方向の下面寸法を
    A、上面寸法をB、収納部の長手方向で相対する2個の
    突起における上部斜面の上端間の距離をA2、下部斜
    面の基部間の距離をA1、長手方向で相対する2個の
    足における斜面の下端間の距離をB1、同斜面の上
    端間の距離をB2としたとき、相互の関係がA1−A≦B
    1−Bで、A2−A≧B2−Bとなる構造をしている請求
    項1記載の微細部品の収納トレー。
  3. 【請求項3】 収納トレーの各収納部に微細部品を個別
    に収納し、各微細部品の表面を検査した後、同様の別の
    収納トレーを積み重ねて反転し、各微細部品を最初の収
    納トレーの上面側から別の収納トレーの底面側に移し、
    最初の収納トレーを取り外して各微細部品の裏面を検査
    した後、再びその上に最初の収納トレーを積み重ねて反
    転し、各微細部品を別の収納トレーの底面側から最初の
    収納トレーの上面側へ移すことを特徴とする請求項1記
    載の収納トレーを用いた微細部品の検査方法。
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