JP3346818B2 - ダスト放射線モニタ - Google Patents
ダスト放射線モニタInfo
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- JP3346818B2 JP3346818B2 JP5436893A JP5436893A JP3346818B2 JP 3346818 B2 JP3346818 B2 JP 3346818B2 JP 5436893 A JP5436893 A JP 5436893A JP 5436893 A JP5436893 A JP 5436893A JP 3346818 B2 JP3346818 B2 JP 3346818B2
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- Japan
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- sampling
- line
- flow
- period
- gas
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、原子力施設等において
空気中のダストを捕集して放射能濃度を監視するダスト
放射線モニタに係り、特にバイパスラインからサンプリ
ングラインへ切替える過渡期に生じる流量変動に対する
技術の改良に関する。
空気中のダストを捕集して放射能濃度を監視するダスト
放射線モニタに係り、特にバイパスラインからサンプリ
ングラインへ切替える過渡期に生じる流量変動に対する
技術の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般的なダスト放射線モニタは、施設建
屋内の大気をサンプリングして捕集容器にサンプリング
ラインを介して導入し連続測定を行うと共に、バックグ
ラウンド測定時、或いはろ紙交換時にサンプリングガス
をバイパスラインへ流して一時的に捕集容器をバイパス
している。
屋内の大気をサンプリングして捕集容器にサンプリング
ラインを介して導入し連続測定を行うと共に、バックグ
ラウンド測定時、或いはろ紙交換時にサンプリングガス
をバイパスラインへ流して一時的に捕集容器をバイパス
している。
【０００３】かかるダスト放射線モニタの構成例が図５
に示されている。
に示されている。
【０００４】このダスト放射線モニタは、サンプリング
ガスをサンプリング配管１により装置内に引込んでい
る。サンプリング配管１はサンプリングライン２とバイ
パスライン３とに分岐しており、各々のラインにサンプ
リング弁４，バイパス弁５が設けられている。
ガスをサンプリング配管１により装置内に引込んでい
る。サンプリング配管１はサンプリングライン２とバイ
パスライン３とに分岐しており、各々のラインにサンプ
リング弁４，バイパス弁５が設けられている。
【０００５】サンプリングライン２の途中には捕集容器
６が設けられている。捕集容器６の内部に、サンプリン
グガスの流路を遮るようにしてろ紙７が配置され、その
ろ紙７の集塵面に対し放射線検出器８が対向配置されて
いる。
６が設けられている。捕集容器６の内部に、サンプリン
グガスの流路を遮るようにしてろ紙７が配置され、その
ろ紙７の集塵面に対し放射線検出器８が対向配置されて
いる。
【０００６】サンプリングライン２及びバイパスライン
３は、一端分岐した後に再び合流し排出系へと接続して
いる。合流後の配管には排出ポンプ９及び流量計１０が
設けられている。
３は、一端分岐した後に再び合流し排出系へと接続して
いる。合流後の配管には排出ポンプ９及び流量計１０が
設けられている。
【０００７】一方、弁４，５の切替え動作、ろ紙７に捕
集されたダストの放射線量の測定、ろ紙７の自動送り動
作などはモニタ本体の中枢機能を形成するＣＰＵ１１に
よって制御されている。
集されたダストの放射線量の測定、ろ紙７の自動送り動
作などはモニタ本体の中枢機能を形成するＣＰＵ１１に
よって制御されている。
【０００８】この様に構成されるダスト放射線モニタで
は、ＣＰＵ１１の管理下で次のように動作する。先ず、
ＣＰＵ１１からサンプリングライン２のサンプリング弁
４へ閉指令を与えると共に、バイパスライン３のバイパ
ス弁５へ開指令を与え、この状態で放射線検出器８から
出力される放射線検出信号を一定時間測定し、バックグ
ラウンドを測定する。
は、ＣＰＵ１１の管理下で次のように動作する。先ず、
ＣＰＵ１１からサンプリングライン２のサンプリング弁
４へ閉指令を与えると共に、バイパスライン３のバイパ
ス弁５へ開指令を与え、この状態で放射線検出器８から
出力される放射線検出信号を一定時間測定し、バックグ
ラウンドを測定する。
【０００９】その後にＣＰＵ１１からサンプリングライ
ン２のサンプリング弁４へ開指令を与えると共に、バイ
パスライン３のバイパス弁５へ閉指令を与えて捕集容器
６へサンプリングガスを導入し、ろ紙７に捕集されるダ
ストの放射線量を測定する。それと共に流量計１０で測
定される流量を一定時間間隔で取込み、測定された放射
線量と流量とから放射能濃度を演算して求める。
ン２のサンプリング弁４へ開指令を与えると共に、バイ
パスライン３のバイパス弁５へ閉指令を与えて捕集容器
６へサンプリングガスを導入し、ろ紙７に捕集されるダ
ストの放射線量を測定する。それと共に流量計１０で測
定される流量を一定時間間隔で取込み、測定された放射
線量と流量とから放射能濃度を演算して求める。
【００１０】ところで、サンプリングガスの流路をバイ
パスライン３からサンプリングライン２へ切替えた直後
は、サンプリングガスの流量が大きく変動する。この流
量変動は、弁４，５へ与える開指令及び閉指令のタイミ
ングが正確に一致しないために両弁開，或いは両弁閉の
状態が生じるために発生するものである。
パスライン３からサンプリングライン２へ切替えた直後
は、サンプリングガスの流量が大きく変動する。この流
量変動は、弁４，５へ与える開指令及び閉指令のタイミ
ングが正確に一致しないために両弁開，或いは両弁閉の
状態が生じるために発生するものである。
【００１１】この様に流量が変動すると、ＣＰＵ１１で
放射能濃度の演算に使用する流量の誤差が大きくなるた
め、開閉弁の切替え後は流量の変動が小さくなってから
測定を開始していた。
放射能濃度の演算に使用する流量の誤差が大きくなるた
め、開閉弁の切替え後は流量の変動が小さくなってから
測定を開始していた。
【００１２】図６は開閉弁を切替えた際の流量の変動状
態と測定タイミングとを示しいる。同図に示すように、
流路がサンプリングライン２に切替えられた直後には、
流量が不安定なため、切替え時から一定時間Ｔａ経過後
に１回目の測定、すなわち流量計１０からの流量測定値
の取込み、その流量値を使用しての放射能濃度の演算を
行っている。その後は一定の間隔Ｔｂで流量計１０から
流量値を取込んで放射能濃度の演算を実施している。
態と測定タイミングとを示しいる。同図に示すように、
流路がサンプリングライン２に切替えられた直後には、
流量が不安定なため、切替え時から一定時間Ｔａ経過後
に１回目の測定、すなわち流量計１０からの流量測定値
の取込み、その流量値を使用しての放射能濃度の演算を
行っている。その後は一定の間隔Ｔｂで流量計１０から
流量値を取込んで放射能濃度の演算を実施している。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来のダ
スト放射線モニタでは、弁切替え直後の流量変動による
測定精度の低下を防ぐため、弁切替え後から一定期間は
欠測扱いとなり、その間のデータが得られていなかっ
た。
スト放射線モニタでは、弁切替え直後の流量変動による
測定精度の低下を防ぐため、弁切替え後から一定期間は
欠測扱いとなり、その間のデータが得られていなかっ
た。
【００１４】本発明は以上のような実情に鑑みてなされ
たもので、サンプリングガスの流路がバイパスラインか
らサンプリングラインへ切替えられる際の過渡期におい
ても誤差の小さい流量値を用いた信頼性の高い放射能濃
度演算を実施でき、流路切替え直後の欠測を無くし得る
ダスト放射線モニタを提供することを目的とする。
たもので、サンプリングガスの流路がバイパスラインか
らサンプリングラインへ切替えられる際の過渡期におい
ても誤差の小さい流量値を用いた信頼性の高い放射能濃
度演算を実施でき、流路切替え直後の欠測を無くし得る
ダスト放射線モニタを提供することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明のダスト放射線モニタは、集塵部材を備えた捕
集容器と、サンプリングガスを前記捕集容器へ導入する
と共に前記捕集容器を通過したガスを排出系へ導くサン
プリングラインと、前記サンプリングガスを前記捕集容
器をバイパスして前記排出系へ導くバイパスラインと、
前記集塵部材に対向配置される放射線検出器と、前記捕
集容器へ導入されたサンプリングガスの流量を測定する
流量計と、前記サンプリングガスの流路を前記サンプリ
ングラインとバイパスラインの相互間で切替えるライン
切替手段と、前記サンプリングガスの流路が前記サンプ
リングラインへ切替えられるとその切替え直後から流量
が不安定となる一定期間に亙り当該期間よりも短くかつ
放射能濃度の演算周期より短い一定の周期で前記流量計
の流量測定値をサンプリングする過渡期流量サンプリン
グ手段と、前記過渡期流量サンプリング手段でサンプリ
ングした各流量測定値の平均値と前記放射線検出器から
出力される放射線検出信号の前記一定期間に計数された
全計数率とを用いて放射能濃度を求める放射能濃度演算
手段とを具備して構成した。
に本発明のダスト放射線モニタは、集塵部材を備えた捕
集容器と、サンプリングガスを前記捕集容器へ導入する
と共に前記捕集容器を通過したガスを排出系へ導くサン
プリングラインと、前記サンプリングガスを前記捕集容
器をバイパスして前記排出系へ導くバイパスラインと、
前記集塵部材に対向配置される放射線検出器と、前記捕
集容器へ導入されたサンプリングガスの流量を測定する
流量計と、前記サンプリングガスの流路を前記サンプリ
ングラインとバイパスラインの相互間で切替えるライン
切替手段と、前記サンプリングガスの流路が前記サンプ
リングラインへ切替えられるとその切替え直後から流量
が不安定となる一定期間に亙り当該期間よりも短くかつ
放射能濃度の演算周期より短い一定の周期で前記流量計
の流量測定値をサンプリングする過渡期流量サンプリン
グ手段と、前記過渡期流量サンプリング手段でサンプリ
ングした各流量測定値の平均値と前記放射線検出器から
出力される放射線検出信号の前記一定期間に計数された
全計数率とを用いて放射能濃度を求める放射能濃度演算
手段とを具備して構成した。
【００１６】
【作用】本発明のダスト放射線モニタでは、サンプリン
グガスの流路がライン切替手段によってバイパスライン
からサンプリングラインへ切替えられると、過渡期流量
サンプリング手段により少なくとも切替え直後から流量
が不安定となる一定期間に亙り当該期間よりも短くかつ
放射能濃度の演算周期より短い一定の周期で流量計の流
量測定値がサンプリングされる。そしてサンプリングし
た各流量測定値と放射線検出器から出力される放射線検
出信号とが放射能濃度演算手段に入力され、流量測定値
の平均値と放射線検出信号の前記一定期間に計数された
全計数率とから放射能濃度が求められる。
グガスの流路がライン切替手段によってバイパスライン
からサンプリングラインへ切替えられると、過渡期流量
サンプリング手段により少なくとも切替え直後から流量
が不安定となる一定期間に亙り当該期間よりも短くかつ
放射能濃度の演算周期より短い一定の周期で流量計の流
量測定値がサンプリングされる。そしてサンプリングし
た各流量測定値と放射線検出器から出力される放射線検
出信号とが放射能濃度演算手段に入力され、流量測定値
の平均値と放射線検出信号の前記一定期間に計数された
全計数率とから放射能濃度が求められる。
【００１７】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。
【００１８】図１には本発明の一実施例に係るダスト放
射線モニタの構成が示されている。なお上述した図５に
示すモニタと同一機能の部分には同一符号を付してい
る。
射線モニタの構成が示されている。なお上述した図５に
示すモニタと同一機能の部分には同一符号を付してい
る。
【００１９】本実施例のダスト放射線モニタは、モニタ
本体２０に制御装置２１とデータ処理装置２２とを備え
ている。
本体２０に制御装置２１とデータ処理装置２２とを備え
ている。
【００２０】制御装置２１は、バックグラウンド処理期
間に対応するバイパス弁５の開時間を定めた第１のタイ
マーと、放射能測定期間に対応するサンプリング弁４の
開時間を定めた第２のタイマーとを内蔵しており、その
タイマーの設定時間に基づいて弁４，５の切替タイミン
グを得ている。制御装置２１は、弁４，５の切替え動作
に連動してろ紙７の交換作業を実施するように設定され
ている。さらに開閉弁の切替タイミング信号を制御装置
２１からデータ処理装置２２へ与えている。
間に対応するバイパス弁５の開時間を定めた第１のタイ
マーと、放射能測定期間に対応するサンプリング弁４の
開時間を定めた第２のタイマーとを内蔵しており、その
タイマーの設定時間に基づいて弁４，５の切替タイミン
グを得ている。制御装置２１は、弁４，５の切替え動作
に連動してろ紙７の交換作業を実施するように設定され
ている。さらに開閉弁の切替タイミング信号を制御装置
２１からデータ処理装置２２へ与えている。
【００２１】データ処理装置２２は、バックグラウンド
処理，流量サンプリング処理，放射線検出信号の入力処
理、放射能濃度演算処理を、図２に示すフローチャート
に従って実行する。
処理，流量サンプリング処理，放射線検出信号の入力処
理、放射能濃度演算処理を、図２に示すフローチャート
に従って実行する。
【００２２】次に、本実施例の動作について図２を参照
して説明する。
して説明する。
【００２３】初期状態として、サンプリングライン２の
サンプリング弁４が閉じていて、バイパスライン３のバ
イパス弁５が開いているものとする。この状態ではサン
プリングガスがバイパスライン３を通って排出系へ導か
れるため、サンプリングガスが捕集容器６に導入される
ことはなく、ろ紙７にサンプリングガスのダストが集塵
されることはない。
サンプリング弁４が閉じていて、バイパスライン３のバ
イパス弁５が開いているものとする。この状態ではサン
プリングガスがバイパスライン３を通って排出系へ導か
れるため、サンプリングガスが捕集容器６に導入される
ことはなく、ろ紙７にサンプリングガスのダストが集塵
されることはない。
【００２４】制御装置２１は、弁４，５の切替えと同時
にバックグラウンド処理期間を定めた第１のタイマーを
スタートさせる（Ｓ１）。タイマーが設定時限となった
時点で、切替タイミング信号をデータ処理装置２２へ送
出すると共に、開指令をサンプリング弁４へ与え、閉指
令をバイパス弁５へ与えて、サンプリングガスの流路を
バイパスライン３からサンプリングライン２へ切替える
（Ｓ２）。
にバックグラウンド処理期間を定めた第１のタイマーを
スタートさせる（Ｓ１）。タイマーが設定時限となった
時点で、切替タイミング信号をデータ処理装置２２へ送
出すると共に、開指令をサンプリング弁４へ与え、閉指
令をバイパス弁５へ与えて、サンプリングガスの流路を
バイパスライン３からサンプリングライン２へ切替える
（Ｓ２）。
【００２５】サンプリングガスの流路がサンプリングラ
イン２へ切替えられると、サンプリングガスが捕集容器
６へ導入される。サンプリングガスが捕集容器６を通過
する際にサンプリングガス中のダストがろ紙７にて捕集
される。ろ紙７に捕集されたダストの中に放射性核種が
存在していれば、その核種から放出される放射線が放射
線検出器８にて計数され、その計数値が放射線検出信号
としてデータ処理装置２２へ送出される。
イン２へ切替えられると、サンプリングガスが捕集容器
６へ導入される。サンプリングガスが捕集容器６を通過
する際にサンプリングガス中のダストがろ紙７にて捕集
される。ろ紙７に捕集されたダストの中に放射性核種が
存在していれば、その核種から放出される放射線が放射
線検出器８にて計数され、その計数値が放射線検出信号
としてデータ処理装置２２へ送出される。
【００２６】また制御装置２１は、第１のタイマーの設
定時限となった時点で、第２のタイマーをスタートさせ
る。そのタイマーが設定時限となったところで、切替タ
イミング信号をデータ処理装置へ送出すると共に、開指
令をバイパス弁５へ与え、閉指令をサンプリング弁４へ
与えて、サンプリングガスの流路をサンプリングライン
２からバイパスライン３へ切替える。それと共にろ紙７
の給紙機構を制御しろ紙７を交換する（Ｓ３）。このよ
うなＳ１〜Ｓ３の動作を繰り返す。
定時限となった時点で、第２のタイマーをスタートさせ
る。そのタイマーが設定時限となったところで、切替タ
イミング信号をデータ処理装置へ送出すると共に、開指
令をバイパス弁５へ与え、閉指令をサンプリング弁４へ
与えて、サンプリングガスの流路をサンプリングライン
２からバイパスライン３へ切替える。それと共にろ紙７
の給紙機構を制御しろ紙７を交換する（Ｓ３）。このよ
うなＳ１〜Ｓ３の動作を繰り返す。
【００２７】一方、データ処理装置２２は、制御装置２
１から切替タイミング信号が与えられると、バイパス弁
５が開いているか否か判断し（Ｔ１）、開いていれば放
射線検出器８の放射線検出信号を取込んでバックグラン
ドを求める（Ｔ２）。なおバイパス弁５が開いている期
間は、前述した動作により集塵前の交換されたろ紙７が
配置されているため正確なバックグランウンドを測定す
ることができる。
１から切替タイミング信号が与えられると、バイパス弁
５が開いているか否か判断し（Ｔ１）、開いていれば放
射線検出器８の放射線検出信号を取込んでバックグラン
ドを求める（Ｔ２）。なおバイパス弁５が開いている期
間は、前述した動作により集塵前の交換されたろ紙７が
配置されているため正確なバックグランウンドを測定す
ることができる。
【００２８】次に、サンプリンガスの流路をサンプリン
グライン２へ切替えた際に切替タイミング信号がデータ
処理装置２２に与えられると、図３に示すサンプリング
周期Δｔで流量計１０の流量測定値をサンプリングし
（Ｔ３）、放射線検出器８の放射線検出信号を取込む
（Ｔ４）。
グライン２へ切替えた際に切替タイミング信号がデータ
処理装置２２に与えられると、図３に示すサンプリング
周期Δｔで流量計１０の流量測定値をサンプリングし
（Ｔ３）、放射線検出器８の放射線検出信号を取込む
（Ｔ４）。
【００２９】ここで、サンプリング周期Δｔは、弁切替
え動作により変動した流量が安定化するのに要する期間
よりも十分に小さい時間に設定する。
え動作により変動した流量が安定化するのに要する期間
よりも十分に小さい時間に設定する。
【００３０】そして１分間単位で流量の平均値を求め、
かつその間に計数された全計数率から放射能濃度演算を
実施する（Ｔ８）。流量の平均は、サンプリング周期Δ
ｔ毎に積算していき、一分間経過後に積算した流量をサ
ンプリング回数で割ることにより求める。積算開始のタ
イミングは、バイパスライン３からサンプリングライン
２へ切替えられた直後から１分毎に開始される。またサ
ンプリング周期Δｔ毎に放射線検出信号をサンプリング
することにより１分間における全計数率を求めている。
データ処理装置２２では、一分毎に上記流量平均値と全
計数率を使用し、下式に基づいて放射能濃度Ｃを求めて
いる。
かつその間に計数された全計数率から放射能濃度演算を
実施する（Ｔ８）。流量の平均は、サンプリング周期Δ
ｔ毎に積算していき、一分間経過後に積算した流量をサ
ンプリング回数で割ることにより求める。積算開始のタ
イミングは、バイパスライン３からサンプリングライン
２へ切替えられた直後から１分毎に開始される。またサ
ンプリング周期Δｔ毎に放射線検出信号をサンプリング
することにより１分間における全計数率を求めている。
データ処理装置２２では、一分毎に上記流量平均値と全
計数率を使用し、下式に基づいて放射能濃度Ｃを求めて
いる。
【００３１】Ｃ＝（Ｄλ／ηＱ）・｛Ｎ−ＢＧ（ｔ２−
ｔ１）｝÷｛（ｔ２−ｔ１）−（ｅ−λｔ１−ｅ
−λｔ２）／λ｝ ただし、λ：崩壊定数（0.693/核種半減期(min) Ｄ：沈着補正値 Ｑ：サンプリング流量（cm3 /min) ＢＧ：バックグラウンド計数率(cpm) ｔ１：計数開始時刻 ｔ２：計数終了時刻 η：検出効率(cpm/Bq) Ｎ：ｔ１からｔ２までの全計数率（カウント数） なお、データ処理装置２２は流量測定値からサンプリン
グ期間中の流量変動を監視し（Ｔ５）、流量の急激な変
動を検出した場合にはアラームを出力する（Ｔ６）。こ
れによりサンプリング周期Δｔによるサンプリングでも
誤差が大きくなるような場合を知ることができる。
ｔ１）｝÷｛（ｔ２−ｔ１）−（ｅ−λｔ１−ｅ
−λｔ２）／λ｝ ただし、λ：崩壊定数（0.693/核種半減期(min) Ｄ：沈着補正値 Ｑ：サンプリング流量（cm3 /min) ＢＧ：バックグラウンド計数率(cpm) ｔ１：計数開始時刻 ｔ２：計数終了時刻 η：検出効率(cpm/Bq) Ｎ：ｔ１からｔ２までの全計数率（カウント数） なお、データ処理装置２２は流量測定値からサンプリン
グ期間中の流量変動を監視し（Ｔ５）、流量の急激な変
動を検出した場合にはアラームを出力する（Ｔ６）。こ
れによりサンプリング周期Δｔによるサンプリングでも
誤差が大きくなるような場合を知ることができる。
【００３２】この様に本実施例によれば、バイパスライ
ン３からサンプリングライン２へ切替えた直後から、放
射能濃度の演算周期（１分間隔）よりも十分に短いサン
プリング周期Δｔで流量をサンプリングし、その平均流
量を用いて放射能濃度演算を行っているので、バイパス
ライン３からサンプリングライン２への過渡期における
流量測定誤差を小さく抑えることができ、求められる放
射能濃度の誤差を小さくでき、しかも切替え直後の欠測
期間を無くすことができる。
ン３からサンプリングライン２へ切替えた直後から、放
射能濃度の演算周期（１分間隔）よりも十分に短いサン
プリング周期Δｔで流量をサンプリングし、その平均流
量を用いて放射能濃度演算を行っているので、バイパス
ライン３からサンプリングライン２への過渡期における
流量測定誤差を小さく抑えることができ、求められる放
射能濃度の誤差を小さくでき、しかも切替え直後の欠測
期間を無くすことができる。
【００３３】なお、上記実施例ではモニタ本体２０を制
御装置２１とデータ処理装置２２の別々のハードウエア
で構成したが、図４に示すように制御装置２１とデータ
処理装置２２とをソフトウエア２４，２５で構成して１
つの装置で実現することもできる。
御装置２１とデータ処理装置２２の別々のハードウエア
で構成したが、図４に示すように制御装置２１とデータ
処理装置２２とをソフトウエア２４，２５で構成して１
つの装置で実現することもできる。
【００３４】またバイパスライン３からサンプリングラ
イン２へ切替えた直後の１分間だけサンプリング周期Δ
ｔによる流量サンプリングを実施し、その後は従来と同
様に１分間隔で流量測定を行うようにしてもよい。切替
え直後を除いては流量は安定化しているためそれほど精
度が低下することはない。
イン２へ切替えた直後の１分間だけサンプリング周期Δ
ｔによる流量サンプリングを実施し、その後は従来と同
様に１分間隔で流量測定を行うようにしてもよい。切替
え直後を除いては流量は安定化しているためそれほど精
度が低下することはない。
【００３５】本発明は上記実施例に限定されるものでは
なく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々変形実施
可能である。
なく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々変形実施
可能である。
【００３６】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、サ
ンプリングガスの流路がバイパスラインからサンプリン
グラインへ切替えられる際の過渡期においても誤差の小
さい流量値を用いた信頼性の高い放射能濃度演算を実施
でき、流路切替え直後の欠測を無くし得るダスト放射線
モニタを提供できる。
ンプリングガスの流路がバイパスラインからサンプリン
グラインへ切替えられる際の過渡期においても誤差の小
さい流量値を用いた信頼性の高い放射能濃度演算を実施
でき、流路切替え直後の欠測を無くし得るダスト放射線
モニタを提供できる。
【図１】本発明の一実施例に係るダスト放射線モニタの
構成図である。
構成図である。
【図２】図１に示す一実施例の動作説明図である。
【図３】図１に示す一実施例における流量変動とサンプ
リング時間との関係を示す図である。
リング時間との関係を示す図である。
【図４】図１に示す一実施例の変形例を示す図である。
【図５】従来のダスト放射線モニタの構成図である。
【図６】図５に示すダスト放射線モニタの動作説明図で
ある。
ある。
１…サンプリング配管、２…サンプリングライン、３…
バイパスライン、４…サンプリング弁、５…バイパス
弁、６…捕集容器、７…ろ紙、８…放射線検出器、９…
排出ポンプ、１０…流量計、２０…モニタ本体、２１…
制御装置、２２…データ処理装置。
バイパスライン、４…サンプリング弁、５…バイパス
弁、６…捕集容器、７…ろ紙、８…放射線検出器、９…
排出ポンプ、１０…流量計、２０…モニタ本体、２１…
制御装置、２２…データ処理装置。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−309827（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−35484（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−225376（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−122984（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−45466（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−157844（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−58079（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−43246（ＪＰ，Ａ) 特開 昭55−134372（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01T 1/167 G01T 7/02
Claims (1)
- 【請求項１】 集塵部材を備えた捕集容器と、 サンプリングガスを前記捕集容器へ導入すると共に前記
捕集容器を通過したガスを排出系へ導くサンプリングラ
インと、 前記サンプリングガスを前記捕集容器をバイパスして前
記排出系へ導くバイパスラインと、 前記集塵部材に対向配置される放射線検出器と、 前記捕集容器へ導入されたサンプリングガスの流量を測
定する流量計と、 前記サンプリングガスの流路を前記サンプリングライン
とバイパスラインの相互間で切替えるライン切替手段
と、 前記サンプリングガスの流路が前記サンプリングライン
へ切替えられるとその切替え直後から流量が不安定とな
る一定期間に亙り当該期間よりも短くかつ放射能濃度の
演算周期より短い一定の周期で前記流量計の流量測定値
をサンプリングする過渡期流量サンプリング手段と、 前記過渡期流量サンプリング手段でサンプリングした各
流量測定値の平均値と前記放射線検出器から出力される
放射線検出信号の前記一定期間に計数された全計数率と
を用いて放射能濃度を求める放射能濃度演算手段とを具
備したことを特徴とするダスト放射線モニタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5436893A JP3346818B2 (ja) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | ダスト放射線モニタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5436893A JP3346818B2 (ja) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | ダスト放射線モニタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06265638A JPH06265638A (ja) | 1994-09-22 |
| JP3346818B2 true JP3346818B2 (ja) | 2002-11-18 |
Family
ID=12968722
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5436893A Expired - Fee Related JP3346818B2 (ja) | 1993-03-15 | 1993-03-15 | ダスト放射線モニタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3346818B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009210398A (ja) * | 2008-03-04 | 2009-09-17 | Fuji Electric Systems Co Ltd | ダスト・よう素モニタ |
| JP5728309B2 (ja) * | 2011-06-30 | 2015-06-03 | 株式会社東芝 | 放射性ガス漏洩量測定装置および放射性ガス漏洩量測定方法 |
-
1993
- 1993-03-15 JP JP5436893A patent/JP3346818B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06265638A (ja) | 1994-09-22 |
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