JP3343858B2 - 樹脂封止装置 - Google Patents

樹脂封止装置

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JP3343858B2
JP3343858B2 JP24399898A JP24399898A JP3343858B2 JP 3343858 B2 JP3343858 B2 JP 3343858B2 JP 24399898 A JP24399898 A JP 24399898A JP 24399898 A JP24399898 A JP 24399898A JP 3343858 B2 JP3343858 B2 JP 3343858B2
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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フレームに搭載さ
れた被樹脂封止体を樹脂封止する樹脂封止装置に係り、
特に、フレームに搭載された半導体素子を樹脂封止する
のに適した樹脂封止装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、フレームに搭載された半導体素
子は、耐湿性を付与するとともに機械的強度を向上さ
せ、さらに取扱いを容易にするため、例えば硬化性樹脂
により樹脂封止されている。
【0003】図6(a)、図6(b)は、フレームにワ
イヤボンディング接続された半導体素子を樹脂封止する
ための従来の半導体樹脂封止装置を示している。
【0004】図6(a)に示すように、この半導体樹脂
封止装置1は、固定金型2と可動金型3とから構成され
ている。
【0005】固定金型2は、キャビティ4を有するキャ
ビティブロック5と、このキャビティブロック5に設け
られたドライブピン6、エジェクタピン7及びキャビテ
ィブロック5の背面側でこれらドライブピン6とエジェ
クタピン7とを共通に固定するエジェクタプレート8と
から構成されている。エジェクタプレート8はバネ9に
より常時押圧され、金型開放時にはドライブピン6とエ
ジェクタピン7の先端がそれぞれ略等長だけキャビティ
4の縁部とキャビティ4面から突出される。
【0006】可動金型3は、半導体素子が搭載されたフ
レームを遊嵌可能な筒状の凹部10が形成されたフレー
ムブロック11と、凹部10に遊嵌されたフレームが載
置されたフレームホルダ12と、凹部10の底面とフレ
ームホルダ12との間に介挿されたバネ13と、フレー
ムブロック11とフレームホルダ12を貫通して挿通さ
れた複数本のエジェクタピン14と、フレームブロック
11の背面側でエジェクタピン14を共通に固定するエ
ジェクタプレート15とを備えている。
【0007】このような半導体樹脂封止装置1では、金
型開放状態において、半導体素子16をワイヤ17で接
続したフレーム18を可動金型3のフレームホルダ12
上に載置し、可動金型3を駆動装置により上昇させて、
型締めし、図示を省略した硬化性樹脂をキャビティ4内
に注入して硬化させ半導体素子16とワイヤ17の樹脂
封止が行われる。
【0008】このとき、エジェクタピン7は、ドライブ
ピン6とエジェクタプレート8により共通に固定されて
いるため、可動金型3が上昇してドライブピン6がフレ
ームブロック11の縁部に当接するまで(図6(a)の
状態まで)は一定の長さだけキャビティ4面から突き出
ているが、可動金型3がさらに上昇するとそれに応じて
ドライブピン6がバネ9の弾発力に抗して上昇し、これ
に伴いエジェクタピン7も上昇して両金型が接触しキャ
ビティが閉鎖される(図6(b)の状態)。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、キャビティ
4の高さは、当然ながら樹脂封止される半導体素子16
の高さよりも高くされているが、半導体素子16がワイ
ヤボンディング接続されたフレーム18に搭載した場合
には、ワイヤ17が半導体素子16のパッドとフレーム
18間に半導体素子16の高さよりも高く弓なりに架張
されるため、往々にして図6(a)の状態でワイヤ17
がエジェクタピン7の先端部に接触して、ワイヤ17に
変形や断線が発生したり、半導体素子16が破損したり
するという問題があった。
【0010】また、エジェクタピン7とワイヤ17との
接触を防止するためには、フレーム18の厚さを制限す
ることが考えられる。例えば図6(a)に示すフレーム
ブロック11の上端からワイヤ17の上端までの高さA
を、エジェクタピン7の下端からドライブピン6の下端
までの高さBより低くすれば、エジェクタピン7とワイ
ヤ17との接触を防止することができる。
【0011】しかしながら、このようにフレーム18の
厚さを制限したのでは半導体樹脂封止装置1の汎用性が
損なわれるという問題があった。
【0012】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的は、フレームの厚さに拘ら
ず、エジェクタピンと被樹脂封止体とが接触しない樹脂
封止装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、本発明の樹脂封止装置は、キャビティブロックと、
前記キャビティブロックに該キャビティブロックを貫通
してキャビティから外れた縁部に出没可能に挿設された
ドライブピンと、前記キャビティブロックに該キャビテ
ィブロックを貫通して前記キャビティ内に出没可能に挿
設されたエジェクタピンと、前記キャビティブロックの
背面側にあって前記ドライブピンと前記エジェクタピン
の先端をそれぞれ前記キャビティブロックの縁部又はキ
ャビティから略等長露出させて共に固定するエジェクタ
プレートとを備えた固定金型と、被樹脂封止体を搭載し
たフレームが遊嵌可能な筒状の凹部を有し該凹部を前記
固定金型に対向させて進退自在に保持されたフレームブ
ロックと、前記フレームブロックの凹部に遊嵌された前
記フレームを載置するフレームホルダと、前記フレーム
ブロックと前記フレームホルダ間に介挿された弾性体と
を備えた可動金型と、前記可動金型を前記固定金型に対
して進退させる駆動装置とを有する樹脂封止装置におい
て、前記固定金型のドライブピンを、その先端が、前記
可動金型のフレームブロックと前記フレームホルダに載
置されたフレームに共に当接可能な位置に配置したこと
を特徴とする。
【0014】本発明におけるフレームは、導電金属板を
打ち抜いたリードフレームであってもよく、絶縁基板に
導電パターンを形成したプリント積層板やフレキシブル
プリント基板であってもよい。また、被樹脂封止体は、
一般的には半導体素子であるが、その他のものであって
もよい。
【0015】固定金型のエジェクタプレートは、通常、
弾性体を介してキャビティブロック側に押圧されている
が、これに限られるものではない。
【0016】可動金型のフレームブロックとフレームホ
ルダ間に介挿された弾性体は、無負荷時、前記フレーム
ブロックに搭載されたフレームの下部が凹部に嵌合さ
れ、上部が凹部の縁よりやや上方に位置するような状態
となるよう設定されていることが好ましいが、フレーム
の下部は必ずしもフレームブロックの凹部に嵌合されて
いる必要はない。
【0017】また、例えば、本発明の樹脂封止装置をキ
ャビティが並列となるように複数配置し、キャビティに
樹脂を導入する樹脂導入路を連結すると、一度に複数の
被樹脂封止体の樹脂封止をすることができる。
【0018】本発明の樹脂封止装置では、まずフレーム
ブロックがキャビティブロック方向に移動され、ドライ
ブピンの先端がフレームの縁に接触する。そして、ドラ
イブピンがフレームに押圧されて、エジェクタプレート
に接続された弾性体の弾発力に抗してキャビティブロッ
ク内に収容されるように移動する。このドライブピンの
移動により、エジェクタピンが連動してキャビティブロ
ック内に収容されるように移動する。ドライブピンがキ
ャビティブロック内に収容されると、フレームとキャビ
ティブロックとが接触する。そして、フレームがキャビ
ティブロックに押圧され、フレームブロックの凹部内の
弾性体の弾発力に抗して凹部内に移動する。この結果、
フレームブロックとキャビティブロックとが接触して樹
脂封止装置が型締めされる。このように、フレームに接
触した状態でドライブピンが移動し、またエジェクタピ
ンはドライブピンに連動しているので、フレームの上面
からエジェクタピンまでの高さが同じ高さに保たれた状
態で型締めが行われる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体化する一実施
の形態について図面を参照して説明する。
【0020】本実施の形態では、樹脂封止装置として半
導体樹脂封止装置を用いた場合について説明するが、本
発明は半導体樹脂封止装置に限定されるものではない。
【0021】図1〜図3は半導体樹脂封止装置の概略断
面図を示している。
【0022】図1(a)に示すように、半導体樹脂封止
装置21は可動金型22と固定金型23とを備えてい
る。
【0023】可動金型22のフレームブロック24には
固定金型23側を開放させた筒状の凹部24aが形成さ
れている。凹部24a内にはフレームホルダ25が遊挿
され、凹部24aとフレームホルダ25間には弾性体と
してのバネ26が介挿されている。
【0024】フレームホルダ25上には、半導体素子2
8をワイヤ27で接続したフレーム29が載置されてい
る。このワイヤ27及び半導体素子28が本実施の形態
における被樹脂封止体を構成する。本実施の形態では、
ワイヤ27が半導体素子28の上面とフレーム29間を
弓なりに湾曲した状態で接続しており、ワイヤ27が半
導体素子28よりも高い位置とされている。
【0025】バネ26は、無負荷時、即ちフレームホル
ダ25にフレーム29が載置され固定金型23からの力
が加わっていない状態で、フレーム29の上部が凹部2
4aの縁よりやや上方に位置するとともに下部が凹部2
4aに嵌合する弾発力に設定されている。また、バネ2
6は、ワイヤ27及び半導体素子28を樹脂封止する際
の樹脂圧により収縮してフレームホルダ25を下降させ
ることがない弾発力に設定されている。
【0026】また、可動金型22には、フレームブロッ
ク24及びフレームホルダ25を貫通する可動側エジェ
クタピン30が摺動可能に嵌挿されている。可動側エジ
ェクタピン30の基端側は支持部材31に保持され、支
持部材31は移動部材32に保持されている。そして、
移動部材32の移動に伴って支持部材31を介して可動
側エジェクタピン30が上下動される。
【0027】なお、この移動部材32及びフレームブロ
ック24は図示しない駆動装置に取り付けられており、
この駆動装置により移動部材32及びフレームブロック
24の上下動が行われる。
【0028】固定金型23のキャビティブロック33内
にはキャビティ34が形成されている。キャビティ34
は樹脂封止体に対応した形状に形成されている。
【0029】固定金型23には、キャビティブロック3
3を貫通してキャビティ34に通じる固定側エジェクタ
ピン35がキャビティ34内に出没可能に挿設されてい
る。固定側エジェクタピン35の基端側はエジェクタプ
レート36に保持され、エジェクタプレート36は弾性
体としてのバネ37により押圧されている。本実施の形
態では、このバネ37はエジェクタプレート36をキャ
ビティブロック33側に押圧させる弾発力であって、バ
ネ26より小さな弾発力に設定されている。
【0030】また、固定金型23には、キャビティブロ
ック33を貫通してキャビティ34から外れた縁部であ
って、フレームブロック24とフレーム29に共に当接
可能な位置にドライブピン39が出没可能に挿設されて
いる。ドライブピン39の基端側はエジェクタプレート
36に保持されている。このため、固定側エジェクタピ
ン35とドライブピン39とはエジェクタプレート36
を介して連動され、ドライブピン39と固定側エジェク
タピン35の先端がそれぞれキャビティブロック33の
縁部又はキャビティ34から略等長露出される。ここで
略等長とは、等長又は固定側エジェクタピン35の方が
若干長いことをいい、型締め時に固定側エジェクタピン
35がキャビティブロック33内に収容された状態でキ
ャビティ34の上面からワイヤ27に接触しない範囲で
露出してもよく、この場合には固定側エジェクタピン3
5の方が若干長く露出する。
【0031】次に、以上のように構成された半導体樹脂
封止装置21の動作を図面を参照して説明する。なお、
半導体樹脂封止装置21は図1(a)〜図3(b)の順
に動作して、ワイヤ27及び半導体素子28を樹脂封止
する。また、この実施の形態の半導体樹脂封止装置21
はフレーム29の半導体素子28を有する面のみを樹脂
封止する金型である。
【0032】図1(a)に示すように、まず、可動金型
22と固定金型23とを離し、半導体樹脂封止装置21
を型開きした状態で、フレームホルダ25に半導体素子
28をワイヤ27で接続したフレーム29を載置する。
このフレームホルダ25はバネ26を介してフレームブ
ロック24の凹部24a内に配置され、フレームホルダ
25は凹部24a内を摺動可能に収容されている。この
バネ26はフレームホルダ25にフレーム29が載置さ
れた状態で、フレーム29の上面が凹部24aの縁より
やや上方に位置するような弾性力であり、フレーム29
はフレームブロック24の上端から突き出した状態で保
持される。
【0033】また、固定側エジェクタピン35は、バネ
37がエジェクタプレート36を押し下げているため、
キャビティ34内に突き出た状態になる。
【0034】次に、図示しない駆動装置によって可動金
型22を上昇させ、半導体樹脂封止装置21を型締めす
る。すると、図1(b)に示すように、フレームブロッ
ク24の上昇に伴ってフレーム29が上昇し、フレーム
29がドライブピン39に接触する。
【0035】この接触した状態でさらに可動金型22が
上昇すると、ドライブピン39がフレーム29に押圧さ
れ、ドライブピン39はバネ37の弾発力に抗してエジ
ェクタプレート36を押し上げる。すると、図2(a)
に示すように、ドライブピン39がキャビティブロック
33内に収容され、フレーム29がキャビティブロック
33に接触する。また、エジェクタプレート36が上昇
すると、エジェクタプレート36に一体に固定された固
定側エジェクタピン35がドライブピン39と同じ距離
だけ上昇する。このため、フレーム29の上面から固定
側エジェクタピン35までの高さが同じ高さに保たれ
る。
【0036】このように、半導体樹脂封止装置21の型
締め時、フレーム29の上面から固定側エジェクタピン
35までの高さは同じ高さに保たれている。固定側エジ
ェクタピン35はキャビティ34の上面と面一又はキャ
ビティ34の上面からワイヤ27に接触しない範囲で露
出しているので、この高さはフレーム29の上面からワ
イヤ27までの高さより高く、半導体樹脂封止装置21
の型締め時のフレーム29がキャビティブロック33と
接触する際に、固定側エジェクタピン35とワイヤ27
とは接触しない。したがって、ワイヤ27の変形又は断
線が発生したり、半導体素子28が破損するというおそ
れがなくなる。
【0037】また、フレーム29の上面から固定側エジ
ェクタピン35までの高さは同じ高さに保たれているの
で、フレームブロック24の上端からワイヤ27の上端
までの高さ(図6(a)の高さA)が、固定側エジェク
タピン35の下端からドライブピン39の下端までの高
さ(図6(a)の高さB)より大きい場合にも固定側エ
ジェクタピン35とワイヤ27とは接触しない。このた
め、フレーム29の厚さに拘らず固定側エジェクタピン
35とワイヤ27とは接触しなくなり、半導体樹脂封止
装置21の汎用性が損なわれることがなくなる。
【0038】そして、さらに可動金型22が上昇する
と、図2(b)に示すように、フレーム29がキャビテ
ィブロック33に押圧され、フレーム29はバネ26の
弾発力に抗して下降し、フレームブロック24の上面と
フレーム29の上面とが面一の状態となる。この状態で
フレームブロック24がキャビティブロック33に接触
して、半導体樹脂封止装置21が型締めされる。また、
この状態ではドライブピン39がフレームブロック24
とフレーム29との両者に接触しており、フレーム29
がバネ37の弾発力によるドライブピン39からの力を
受けても、フレーム29が下降することはなくなる。
【0039】半導体樹脂封止装置21が型締めされる
と、図示しない樹脂注入口からキャビティ34内に樹脂
が注入され、ワイヤ27及び半導体素子28が樹脂封止
される。この際、バネ26は、ワイヤ27及び半導体素
子28を樹脂封止する際の樹脂圧により収縮してフレー
ムホルダ25を下降させることがない弾発力に設定され
ているのでフレーム29は下降しない。このため、キャ
ビティ34内の密閉性は保たれ、樹脂がキャビティ34
から漏れることを防止することができる。なお、この樹
脂はワイヤ27及び半導体素子28を傷つけにくい軟質
の硬化性樹脂であることが好ましい。
【0040】封止樹脂の硬化が完了すると、図示しない
駆動装置が可動金型22を下降させる。すると、バネ2
6に加わっていた力が解除され、図3(a)に示すよう
に、バネ26の弾発力によりフレーム29がキャビティ
ブロック33に接触した状態で半導体樹脂封止装置21
が型開きされる。そして、フレーム29がキャビティブ
ロック33から離れると、バネ37に加わっていた力が
解除され、バネ37の弾発力によりエジェクタプレート
36が下降する。このエジェクタプレート36の下降に
より固定側エジェクタピン35が下降し、図3(b)に
示すように、樹脂封止体40を突き出す。
【0041】最後に、図示しない駆動装置により移動部
材32を上昇させ、支持部材31を介して可動側エジェ
クタピン30が上昇する。この可動側エジェクタピン3
0の上昇により、フレーム29が突き出される。この結
果、樹脂封止体40が接続されたフレーム29が半導体
樹脂封止装置21から取り出される。そして、新たにフ
レームホルダ25に半導体素子28をワイヤ27で接続
したフレーム29を載置して同様の操作を行い、連続し
てワイヤ27及び半導体素子28の樹脂封止が行われ
る。
【0042】本実施の形態の半導体樹脂封止装置21に
よれば、フレーム29の上面から固定側エジェクタピン
35までの高さが同じ高さに保たれた状態で型締めされ
るので、固定側エジェクタピン35とワイヤ27とは接
触しない。このため、ワイヤ27の変形又は断線が発生
したり、半導体素子28が破損するというおそれがなく
なる。
【0043】本実施の形態の半導体樹脂封止装置21に
よれば、フレーム29の上面から固定側エジェクタピン
35までの高さが同じ高さに保たれた状態で型締めされ
るので、フレーム29の厚さに拘らず固定側エジェクタ
ピン35とワイヤ27とは接触しなくなる。このため、
半導体樹脂封止装置21の汎用性が損なわれることがな
くなる。
【0044】本実施の形態の半導体樹脂封止装置21に
よれば、ドライブピン39がフレーム29とフレームブ
ロック24との両者に接触するように配置されているの
で、フレーム29がバネ37の弾発力によるドライブピ
ン39からの力を受けても、フレーム29が下降するこ
とはなくなる。
【0045】本実施の形態の半導体樹脂封止装置21に
よれば、バネ26はワイヤ27及び半導体素子28を樹
脂封止する際の樹脂圧により収縮してフレームホルダ2
5を下降させることがない弾発力に設定されているので
フレーム29は下降しない。このため、キャビティ34
内の密閉性は保たれ、樹脂がキャビティ34から漏れる
ことを防止することができる。
【0046】本実施の形態の半導体樹脂封止装置21に
よれば、ドライブピン39の設置位置を変更するだけで
固定側エジェクタピン35とワイヤ27とは接触しなく
なり、半導体樹脂封止装置21の構造が複雑にならな
い。
【0047】本実施の形態の半導体樹脂封止装置21に
よれば、固定側エジェクタピン35の位置を変更してい
ないので、樹脂封止体40を突き出す際に樹脂封止体4
0及びフレーム29に無理な力が加わることはない。
【0048】なお、実施の形態は上記に限らず、例えば
以下の場合であってもよい。
【0049】バネ37はエジェクタプレート36をキャ
ビティブロック33側に押圧させる弾発力であって、バ
ネ26より大きな弾発力に設定してもよい。この場合、
図1(b)に示すフレーム29がドライブピン39に接
触した状態から可動金型22が上昇すると、図4に示す
ように、フレーム29がドライブピン39に押圧され、
フレーム29はバネ26の弾発力に抗して下降する。す
ると、バネ26が縮んでフレームブロック24の上面と
フレーム29の上面とが面一の状態となり、ドライブピ
ン39がフレーム29とフレームブロック24との両者
に接触する。そしてこの状態を保持したままフレームブ
ロック24がキャビティブロック33に接触して、図2
(b)に示すように半導体樹脂封止装置21が型締めさ
れる。このように、ドライブピン39がフレーム29と
フレームブロック24との両者に接触する状態を保持し
たまま半導体樹脂封止装置21の型締めが行われるの
で、フレーム29のドライブピン39との接触面に無理
な力がかからなくなる。このため、フレーム29が破損
しにくくなる。一方、フレーム29がキャビティブロッ
ク33に接触した状態で半導体樹脂封止装置21の型締
めが行われていないので、フレーム29及びキャビティ
ブロック33が傷つきにくくなる。
【0050】被樹脂封止体を搭載したフレームは、半導
体素子をワイヤボンディング接続したフレームの他に、
図5に示すような半導体素子28を直接フェースダウン
状態で実装するフリップチップ接続したフレーム29で
あってもよい。この場合、キャビティ34の形状を変化
させることによって、図5(a)に示すような半導体素
子28及びバンプ41の全面を樹脂封止するいわゆるオ
ーバーコートタイプ、図5(a)に示すような半導体素
子28の裏面を露出したチップ露出タイプの双方に本発
明の半導体樹脂封止装置21を適応することができる。
【0051】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
ドライブピンの先端を可動金型のフレームブロックとフ
レームホルダに搭載されたフレームに共に当接可能な位
置に配置したので、フレームの厚さに拘らず、エジェク
タピンと被樹脂封止体との接触を防止することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施の形態の半導体樹脂封止装置の概略断面
図。
【図2】実施の形態の半導体樹脂封止装置の概略断面
図。
【図3】実施の形態の半導体樹脂封止装置の概略断面
図。
【図4】別の実施の形態の半導体樹脂封止装置の概略断
面図。
【図5】別の実施の形態の半導体樹脂体の模式図。
【図6】従来の半導体樹脂封止装置の概略断面図。
【符号の説明】
21……半導体樹脂封止装置、22……可動金型、23
……固定金型、24……フレームブロック、24a……
凹部、25……フレームホルダ、26……弾性体として
のバネ、29……フレーム、33……キャビティブロッ
ク、34……キャビティ、39……ドライブピン。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 英信 神奈川県川崎市川崎区駅前本町25番地1 東芝マイクロエレクトロニクス株式会 社内 (56)参考文献 特開 平5−29367(JP,A) 特開 平6−143379(JP,A) 特開 平9−186183(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/56 B29C 45/02 B29C 45/14 B29C 45/42 B29L 31:34

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 キャビティブロックと、前記キャビティ
    ブロックに該キャビティブロックを貫通してキャビティ
    から外れた縁部に出没可能に挿設されたドライブピン
    と、前記キャビティブロックに該キャビティブロックを
    貫通して前記キャビティ内に出没可能に挿設されたエジ
    ェクタピンと、前記キャビティブロックの背面側にあっ
    て前記ドライブピンと前記エジェクタピンの先端をそれ
    ぞれ前記キャビティブロックの縁部又はキャビティから
    略等長露出させて共に固定するエジェクタプレートとを
    備えた固定金型と、 被樹脂封止体を搭載したフレームが遊嵌可能な筒状の凹
    部を有し該凹部を前記固定金型に対向させて進退自在に
    保持されたフレームブロックと、前記フレームブロック
    の凹部に遊嵌された前記フレームを載置するフレームホ
    ルダと、前記フレームブロックと前記フレームホルダ間
    に介挿された弾性体とを備えた可動金型と、 前記可動金型を前記固定金型に対して進退させる駆動装
    置とを有する樹脂封止装置において、 前記固定金型のドライブピンを、その先端が、前記可動
    金型のフレームブロックと前記フレームホルダに載置さ
    れたフレームに共に当接可能な位置に配置したことを特
    徴とする樹脂封止装置。
  2. 【請求項2】 前記被樹脂封止体を搭載したフレーム
    は、半導体素子をワイヤボンディング接続したフレーム
    であることを特徴とする請求項1に記載の樹脂封止装
    置。
  3. 【請求項3】 前記被樹脂封止体を搭載したフレーム
    は、半導体素子をフリップチップ接続したフレームであ
    ることを特徴とする請求項1に記載の樹脂封止装置。
  4. 【請求項4】 前記固定金型のエジェクタプレートは、
    弾性体を介してキャビティブロック側に押圧されている
    ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載
    の樹脂封止装置。
  5. 【請求項5】 前記可動金型のフレームブロックと前記
    フレームホルダ間に介挿された弾性体は、無負荷時、前
    記フレームブロックに載置された前記フレームの上面を
    前記凹部の縁よりやや上方に位置せしめるものであるこ
    とを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の
    樹脂封止装置。
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