JP3331183B2 - Ａｔｍ試験セルの送出方法 - Google Patents
Ａｔｍ試験セルの送出方法Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＡＴＭセルを伝送
するネットワークに回線品質の測定等を目的として送出
されるＡＴＭ試験セルの送出方法に関する。
するネットワークに回線品質の測定等を目的として送出
されるＡＴＭ試験セルの送出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＡＴＭ試験セル発生装置は、送出
装置から与えられたパラメータｋ，ｊ，ｍ，ｎに基づい
て算出された平均セルレート＝ｋ／ｊ（ｊセル区間中ｋ
セル）とピークセルレート＝ｎ／ｍ（ｍセル区間中ｎセ
ル）とを算出し、これら平均セルレート及びピークセル
レートに基づいてＡＴＭ試験セルの送出タイミングを設
定してネットワークに送出している。また、ＡＴＭ試験
セル発生装置は、ＡＴＭ試験セルをネットワークに送出
する際、ＡＴＭ試験セルよりも伝達優先度の高い他のセ
ルが伝送路上に存在する場合には、この他のセルのトラ
ヒックに影響を与えないように、ＡＴＭ試験セルの送出
（挿入）を見合わせる。
装置から与えられたパラメータｋ，ｊ，ｍ，ｎに基づい
て算出された平均セルレート＝ｋ／ｊ（ｊセル区間中ｋ
セル）とピークセルレート＝ｎ／ｍ（ｍセル区間中ｎセ
ル）とを算出し、これら平均セルレート及びピークセル
レートに基づいてＡＴＭ試験セルの送出タイミングを設
定してネットワークに送出している。また、ＡＴＭ試験
セル発生装置は、ＡＴＭ試験セルをネットワークに送出
する際、ＡＴＭ試験セルよりも伝達優先度の高い他のセ
ルが伝送路上に存在する場合には、この他のセルのトラ
ヒックに影響を与えないように、ＡＴＭ試験セルの送出
（挿入）を見合わせる。
【０００３】この場合、従来のＡＴＭ試験セル発生装置
は、上記ｍセル区間にｎセル全てを挿入できなかったと
きには、図５に示すように、次段のピークセルレートの
ｍセル区間中に、前段に挿入を見合わせたＡＴＭ試験セ
ルを挿入せず、ｍセル区間中ｎセルを超えないように
し、本来挿入しないｍセル区に新たに挿入する。こうす
ることにより，部分的にＡＴＭ試験セルが過剰に送出さ
れること抑制し、ネットワーク上のスイッチ部の負荷が
過大となることを防止する。
は、上記ｍセル区間にｎセル全てを挿入できなかったと
きには、図５に示すように、次段のピークセルレートの
ｍセル区間中に、前段に挿入を見合わせたＡＴＭ試験セ
ルを挿入せず、ｍセル区間中ｎセルを超えないように
し、本来挿入しないｍセル区に新たに挿入する。こうす
ることにより，部分的にＡＴＭ試験セルが過剰に送出さ
れること抑制し、ネットワーク上のスイッチ部の負荷が
過大となることを防止する。
【０００４】ここで、他のセルが多量に存在し、平均セ
ルレートにおけるｊセル区間の最後のｍセル区間にも、
他のｍセル区間に挿入を見合わせたＡＴＭ試験セルを全
て挿入することができず、平均セルレートであるｊセル
区間中ｋセルのＡＴＭ試験セルの送出ができなかった場
合、ＡＴＭ試験セル発生装置は、平均セルレートのＡＴ
Ｍ試験セルの挿入ができなかったとみなし、その旨をア
ラームとして保守システムに通知するようになってい
る。
ルレートにおけるｊセル区間の最後のｍセル区間にも、
他のｍセル区間に挿入を見合わせたＡＴＭ試験セルを全
て挿入することができず、平均セルレートであるｊセル
区間中ｋセルのＡＴＭ試験セルの送出ができなかった場
合、ＡＴＭ試験セル発生装置は、平均セルレートのＡＴ
Ｍ試験セルの挿入ができなかったとみなし、その旨をア
ラームとして保守システムに通知するようになってい
る。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このような従来技術で
は、ピークセルレートではｍセル区間中ｎセルのレート
で送出するが、ｎセルを連続で送出するために最大物理
速度のセル間隔１となり、ピークセルレートでのセル間
隔を任意に設定するＶＢＲトラヒックの送出ができな
い。また、ＣＢＲトラヒックを送出するには、平均セル
レートｋ／ｊ＝ピークセルレートｎ／ｍ＝１／ｘ（ｘは
任意）とすればよいが、分子のｎは１である必要があ
り、任意の速度でのＣＢＲトラヒックの送出が不可能で
ある。
は、ピークセルレートではｍセル区間中ｎセルのレート
で送出するが、ｎセルを連続で送出するために最大物理
速度のセル間隔１となり、ピークセルレートでのセル間
隔を任意に設定するＶＢＲトラヒックの送出ができな
い。また、ＣＢＲトラヒックを送出するには、平均セル
レートｋ／ｊ＝ピークセルレートｎ／ｍ＝１／ｘ（ｘは
任意）とすればよいが、分子のｎは１である必要があ
り、任意の速度でのＣＢＲトラヒックの送出が不可能で
ある。
【０００６】本発明は、上述する問題点に鑑みてなされ
たもので、他のセルのトラヒックに影響を与えることな
く、またスイッチ部への負荷を与えることなく、ＣＢＲ
トラヒックあるいはＶＢＲトラヒックにおいて任意の速
度でＡＴＭ試験セルを送出することを目的としている。
たもので、他のセルのトラヒックに影響を与えることな
く、またスイッチ部への負荷を与えることなく、ＣＢＲ
トラヒックあるいはＶＢＲトラヒックにおいて任意の速
度でＡＴＭ試験セルを送出することを目的としている。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、第１の手段として、ＡＴＭ試験セル発
生手段からＡＴＭ試験セルをネットワークに送出するＡ
ＴＭセル送出手段に対してＡＴＭ試験セルを送出する際
の送出方法であって、ＡＴＭ試験セル発生手段内におけ
るＡＴＭ試験セルのセル長ａとトラヒック速度Ｔ、及び
ネットワーク上のＡＴＭセルの平均セルレートＳＣＲか
らなる第１の演算式に基づいて平均セルレート用セル送
出時刻Ｔsを算出し、この平均セルレート用セル送出時
刻Ｔsを整数化して得られた値をＡＴＭ試験セル発生手
段におけるＡＴＭ試験セルの平均セルレート用セル送出
時刻Ｔsfに設定し、前記セル長ａとトラヒック速度Ｔ、
及びネットワーク上のＡＴＭセルのピークセルレートＰ
ＣＲからなる第２の演算式に基づいてピークセルレート
用セル送出時刻Ｔpを算出し、該ピークセルレート用セ
ル送出時刻Ｔpを整数化して得られた値をＡＴＭ試験セ
ルのピークセルレート用セル送出時刻Ｔpfに設定し、か
つ、ＡＴＭ試験セルのセル数によって最大バースト長を
規定して、該最大バースト長のセル数だけピークセルレ
ートの送出タイミングでＡＴＭ試験セルをバースト送信
すると、ＡＴＭ試験セルの送出レートが平均セルレート
となるようにＡＴＭ試験セルの送出を一定時間停止する
という手段を採用する。
に、本発明では、第１の手段として、ＡＴＭ試験セル発
生手段からＡＴＭ試験セルをネットワークに送出するＡ
ＴＭセル送出手段に対してＡＴＭ試験セルを送出する際
の送出方法であって、ＡＴＭ試験セル発生手段内におけ
るＡＴＭ試験セルのセル長ａとトラヒック速度Ｔ、及び
ネットワーク上のＡＴＭセルの平均セルレートＳＣＲか
らなる第１の演算式に基づいて平均セルレート用セル送
出時刻Ｔsを算出し、この平均セルレート用セル送出時
刻Ｔsを整数化して得られた値をＡＴＭ試験セル発生手
段におけるＡＴＭ試験セルの平均セルレート用セル送出
時刻Ｔsfに設定し、前記セル長ａとトラヒック速度Ｔ、
及びネットワーク上のＡＴＭセルのピークセルレートＰ
ＣＲからなる第２の演算式に基づいてピークセルレート
用セル送出時刻Ｔpを算出し、該ピークセルレート用セ
ル送出時刻Ｔpを整数化して得られた値をＡＴＭ試験セ
ルのピークセルレート用セル送出時刻Ｔpfに設定し、か
つ、ＡＴＭ試験セルのセル数によって最大バースト長を
規定して、該最大バースト長のセル数だけピークセルレ
ートの送出タイミングでＡＴＭ試験セルをバースト送信
すると、ＡＴＭ試験セルの送出レートが平均セルレート
となるようにＡＴＭ試験セルの送出を一定時間停止する
という手段を採用する。
【０００８】第２の手段として、上記第１の手段におい
て、ＡＴＭ試験セルよりも伝達優先度の高い他のセルが
伝送路上に存在した場合にはＡＴＭ試験セルの送出を待
ち合わせ、前記他のセルが無くなってアイドルセルが伝
達されてきた時点で、アイドルセルのセル位置に待ち合
わせてＡＴＭ試験セルを送信するという手段を採用す
る。
て、ＡＴＭ試験セルよりも伝達優先度の高い他のセルが
伝送路上に存在した場合にはＡＴＭ試験セルの送出を待
ち合わせ、前記他のセルが無くなってアイドルセルが伝
達されてきた時点で、アイドルセルのセル位置に待ち合
わせてＡＴＭ試験セルを送信するという手段を採用す
る。
【０００９】第３の手段として、上記第２の手段におい
て、送出条件として新たに許容ＣＤＶ値を設定し、ＡＴ
Ｍ試験セルに生じたＣＤＶが前記許容ＣＤＶ値を越えた
場合には、該許容ＣＤＶ値を越えて揺らいだＡＴＭ試験
セルを基準としてＡＴＭ試験セル送出基準時刻を変更
し、その後、この変更されたＡＴＭ試験セル送出基準時
刻に基づいてＡＴＭ試験セルを送出するという手段を採
用する。
て、送出条件として新たに許容ＣＤＶ値を設定し、ＡＴ
Ｍ試験セルに生じたＣＤＶが前記許容ＣＤＶ値を越えた
場合には、該許容ＣＤＶ値を越えて揺らいだＡＴＭ試験
セルを基準としてＡＴＭ試験セル送出基準時刻を変更
し、その後、この変更されたＡＴＭ試験セル送出基準時
刻に基づいてＡＴＭ試験セルを送出するという手段を採
用する。
【００１０】第４の手段として、上記第２の手段におい
て、送出条件として新たに許容ＣＤＶ値を設定し、この
許容ＣＤＶ値を越えて揺らいだＡＴＭ試験セルを廃棄
し、この廃棄したＡＴＭ試験セルの送出時刻を基準とし
てＡＴＭ試験セル送出基準時刻を変更し、ＡＴＭ試験セ
ルの送出時刻からバースト送信とバースト送信との間の
停止区間だけＡＴＭ試験セルの送出を停止させた後、新
たなバースト送信を行うという手段を採用する。
て、送出条件として新たに許容ＣＤＶ値を設定し、この
許容ＣＤＶ値を越えて揺らいだＡＴＭ試験セルを廃棄
し、この廃棄したＡＴＭ試験セルの送出時刻を基準とし
てＡＴＭ試験セル送出基準時刻を変更し、ＡＴＭ試験セ
ルの送出時刻からバースト送信とバースト送信との間の
停止区間だけＡＴＭ試験セルの送出を停止させた後、新
たなバースト送信を行うという手段を採用する。
【００１１】第５の手段として、上記第１〜第２いずれ
かの手段において、第１の演算式を下式（１）、かつ第
２の演算式を下式（２）とするという手段を採用する。 Ｔs＝Ｔ×１０6／（ａ×８×ＳＣＲ） （１） Ｔp＝Ｔ×１０6／（ａ×８×ＰＣＲ） （２）
かの手段において、第１の演算式を下式（１）、かつ第
２の演算式を下式（２）とするという手段を採用する。 Ｔs＝Ｔ×１０6／（ａ×８×ＳＣＲ） （１） Ｔp＝Ｔ×１０6／（ａ×８×ＰＣＲ） （２）
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明に
係わるＡＴＭ試験セルの送出方法の一実施形態について
説明する。
係わるＡＴＭ試験セルの送出方法の一実施形態について
説明する。
【００１３】 〔第１実施形態〕本実施形態では、ＡＴ
Ｍ試験セルの送出タイミシグを決定する第１の条件とし
て、平均セルレートＳＣＲ（cell/s）をＡＴＭ試験セル
発生装置（ＡＴＭ試験セル発生手段）に入力し、この平
均セルレートＳＣＲ、ＡＴＭ試験セル発生装置内で扱う
セルのセル長ａ（バイト）、及びＡＴＭ試験セル発生装
置内でのトラヒック速度Ｔ（Mb/s）からなる以下の演算
式（１）（第１の演算式）に基づいて平均セルレート用
セル送出時刻Ｔs（計算上のセル送出時刻）を算出す
る。 Ｔs＝Ｔ×１０6／（ａ×８×ＳＣＲ） （１）
Ｍ試験セルの送出タイミシグを決定する第１の条件とし
て、平均セルレートＳＣＲ（cell/s）をＡＴＭ試験セル
発生装置（ＡＴＭ試験セル発生手段）に入力し、この平
均セルレートＳＣＲ、ＡＴＭ試験セル発生装置内で扱う
セルのセル長ａ（バイト）、及びＡＴＭ試験セル発生装
置内でのトラヒック速度Ｔ（Mb/s）からなる以下の演算
式（１）（第１の演算式）に基づいて平均セルレート用
セル送出時刻Ｔs（計算上のセル送出時刻）を算出す
る。 Ｔs＝Ｔ×１０6／（ａ×８×ＳＣＲ） （１）
【００１４】また、ＡＴＭ試験セルの送出タイミシグを
決定する第２の条件として、ピークセルレートＰＣＲ
（cell/s）をＡＴＭ試験セル発生装置に入力し、このピ
ークセルレートＰＣＲ、ＡＴＭ試験セル発生装置内で扱
うセルのセル長ａ（バイト）、及びＡＴＭ試験セル発生
装置内でのトラヒック速度Ｔ（Mb/s）に基づいて以下の
演算式（２）（第２の演算式）によってピークセルレー
ト用セル送出時刻Ｔp（計算上のセル送出時刻）を算出
する。 Ｔp＝Ｔ×１０6／（ａ×８×ＰＣＲ） （２）
決定する第２の条件として、ピークセルレートＰＣＲ
（cell/s）をＡＴＭ試験セル発生装置に入力し、このピ
ークセルレートＰＣＲ、ＡＴＭ試験セル発生装置内で扱
うセルのセル長ａ（バイト）、及びＡＴＭ試験セル発生
装置内でのトラヒック速度Ｔ（Mb/s）に基づいて以下の
演算式（２）（第２の演算式）によってピークセルレー
ト用セル送出時刻Ｔp（計算上のセル送出時刻）を算出
する。 Ｔp＝Ｔ×１０6／（ａ×８×ＰＣＲ） （２）
【００１５】そして、上記平均セルレート用セル送出時
刻Ｔsが、単位セル時間の整数倍にならない場合には、
平均セルレート用セル送出時刻Ｔsの整数化、すなわち
少数部分を切り上げ、切り捨てあるいは四捨五入するこ
とにより得られた整数Ｔsfを、平均セルレートにおける
最終的なＡＴＭ試験セルの送出時刻つまり平均セルレー
ト用セル送出時刻とする。
刻Ｔsが、単位セル時間の整数倍にならない場合には、
平均セルレート用セル送出時刻Ｔsの整数化、すなわち
少数部分を切り上げ、切り捨てあるいは四捨五入するこ
とにより得られた整数Ｔsfを、平均セルレートにおける
最終的なＡＴＭ試験セルの送出時刻つまり平均セルレー
ト用セル送出時刻とする。
【００１６】また、ピークセルレート用セル送出時刻Ｔ
pについても同様に、単位セル時間の整数倍にならない
場合には、ピークセルレート用セル送出時刻Ｔpの整数
化、すなわち少数部分を切り上げ、切り捨てあるいは四
捨五入することにより得られた整数Ｔpfを、ピークセル
レートにおける最終的なＡＴＭ試験セルの送出時刻つま
りピークセルレート用セル送出時刻とする。
pについても同様に、単位セル時間の整数倍にならない
場合には、ピークセルレート用セル送出時刻Ｔpの整数
化、すなわち少数部分を切り上げ、切り捨てあるいは四
捨五入することにより得られた整数Ｔpfを、ピークセル
レートにおける最終的なＡＴＭ試験セルの送出時刻つま
りピークセルレート用セル送出時刻とする。
【００１７】本実施形態では、ＡＴＭ試験セルの送出タ
イミシグを決定する第３の条件として、さらに最大バー
スト長をＡＴＭ試験セルのセル数によって規定し、該最
大バースト長に該当するセル数だけピークセルレートの
送出タイミングでＡＴＭ試験セルをバースト送出する。
そして、このバースト送出の後、ＡＴＭ試験セルの送出
を一定時間停止し、全体としてのＡＴＭ試験セルの送出
レートが平均セルレートとなるよう制御する。
イミシグを決定する第３の条件として、さらに最大バー
スト長をＡＴＭ試験セルのセル数によって規定し、該最
大バースト長に該当するセル数だけピークセルレートの
送出タイミングでＡＴＭ試験セルをバースト送出する。
そして、このバースト送出の後、ＡＴＭ試験セルの送出
を一定時間停止し、全体としてのＡＴＭ試験セルの送出
レートが平均セルレートとなるよう制御する。
【００１８】例えば、図１は、最大バースト長を３セル
に設定した場合におけるＡＴＭ試験セル１の送出タイミ
シグを示している。３つのＡＴＭ試験セル１をピークセ
ルレートの送出タイミングで送出した後、ＡＴＭ試験セ
ル１の送出を１１セル分停止し、ＡＴＭ試験セル１の全
体的な送出レートが平均セルレートとなるよう制御して
いる。
に設定した場合におけるＡＴＭ試験セル１の送出タイミ
シグを示している。３つのＡＴＭ試験セル１をピークセ
ルレートの送出タイミングで送出した後、ＡＴＭ試験セ
ル１の送出を１１セル分停止し、ＡＴＭ試験セル１の全
体的な送出レートが平均セルレートとなるよう制御して
いる。
【００１９】このような方法により、任意の平均セルレ
ート、ピークセルレート及び最大パースト長をパラメー
タとするＶＢＲトラヒックを送出することが可能となる
と共に、平均セルレートとピークセルレートを同じ値に
することにより、任意の速度でＣＢＲトラヒックを送出
することが可能となる。
ート、ピークセルレート及び最大パースト長をパラメー
タとするＶＢＲトラヒックを送出することが可能となる
と共に、平均セルレートとピークセルレートを同じ値に
することにより、任意の速度でＣＢＲトラヒックを送出
することが可能となる。
【００２０】〔第２実施形態〕本実施形態では、図２に
示すように、上記第１実施形態において、ＡＴＭ試験セ
ル１よりも伝達優先度の高い他のセルが伝送路上に存在
した場合に、この他のセルのトラヒックに影響を与えな
いようにＡＴＭ試験セル１の送出を待ち合わせる。そし
て、他のセルが無くなり、アイドルセルが伝達されてき
た時点で、アイドルセルのセル位置に待ち合わせてＡＴ
Ｍ試験セルを挿入する。
示すように、上記第１実施形態において、ＡＴＭ試験セ
ル１よりも伝達優先度の高い他のセルが伝送路上に存在
した場合に、この他のセルのトラヒックに影響を与えな
いようにＡＴＭ試験セル１の送出を待ち合わせる。そし
て、他のセルが無くなり、アイドルセルが伝達されてき
た時点で、アイドルセルのセル位置に待ち合わせてＡＴ
Ｍ試験セルを挿入する。
【００２１】このようにすることにより、任意のピーク
セルレート、平均セルレート及び最大バースト長をパラ
メータとするＶＢＲトラヒックを送出することが可能と
なると共に、他のセル２のトラヒックに影響を与えずに
ＡＴＭ試験セル１を送出することが可能となる。
セルレート、平均セルレート及び最大バースト長をパラ
メータとするＶＢＲトラヒックを送出することが可能と
なると共に、他のセル２のトラヒックに影響を与えずに
ＡＴＭ試験セル１を送出することが可能となる。
【００２２】〔第３実施形態〕本実施形態では、上記第
２実施形態において、送出条件として新たに許容ＣＤＶ
値を設定する。他のセルが連続で存在した場合にＡＴＭ
試験セルに大きなＣＤＶが生じることがある。このよう
な場合にＡＴＭ試験セルを送出し続けると、後続のＡＴ
Ｍ試験セルとの間隔が接近し、結果としてネットワーク
上のスイッチ部に負荷を与えることが考えられる。
２実施形態において、送出条件として新たに許容ＣＤＶ
値を設定する。他のセルが連続で存在した場合にＡＴＭ
試験セルに大きなＣＤＶが生じることがある。このよう
な場合にＡＴＭ試験セルを送出し続けると、後続のＡＴ
Ｍ試験セルとの間隔が接近し、結果としてネットワーク
上のスイッチ部に負荷を与えることが考えられる。
【００２３】このようなＡＴＭ試験セルの送出によるス
イッチ部への負荷を抑制するために、図３に示すよう
に、ＡＴＭ試験セル１に生じたＣＤＶが許容ＣＤＶ値
（＝８）を越えた場合に、当該許容ＣＤＶ値を越えて揺
らいだＡＴＭ試験セル１Ａを基準としてＡＴＭ試験セル
送出基準時刻を変更し、その後のＡＴＭ試験セル１の送
出時刻をこの新しいＡＴＭ試験セル送出基準時刻に基づ
いて算出し直して送出することにより、ＡＴＭ試験セル
１のトラヒックを調整する。
イッチ部への負荷を抑制するために、図３に示すよう
に、ＡＴＭ試験セル１に生じたＣＤＶが許容ＣＤＶ値
（＝８）を越えた場合に、当該許容ＣＤＶ値を越えて揺
らいだＡＴＭ試験セル１Ａを基準としてＡＴＭ試験セル
送出基準時刻を変更し、その後のＡＴＭ試験セル１の送
出時刻をこの新しいＡＴＭ試験セル送出基準時刻に基づ
いて算出し直して送出することにより、ＡＴＭ試験セル
１のトラヒックを調整する。
【００２４】このような方法により、任意の平均セルレ
ート、ピークセルレート及び最大バースト長をパラメー
タとするＶＢＲトラヒックを送出することが可能となる
と共に、他のセルのトラヒツクに影響を与えることなく
ＡＴＭ試験セル１を送出することができる。また、ネッ
トワーク上のスイッチ部への負荷を抑制することも可能
である。
ート、ピークセルレート及び最大バースト長をパラメー
タとするＶＢＲトラヒックを送出することが可能となる
と共に、他のセルのトラヒツクに影響を与えることなく
ＡＴＭ試験セル１を送出することができる。また、ネッ
トワーク上のスイッチ部への負荷を抑制することも可能
である。
【００２５】〔第４実施形態〕本実施形態では、ＡＴＭ
試験セルのトラヒックの別の調整法として、図４に示す
ように許容ＣＤＶ値を越えて揺らいだＡＴＭ試験セル１
Ａを廃棄し、この廃棄したＡＴＭ試験セル１Ａの送出時
刻を基準としてＡＴＭ試験セル送出基準時刻を変更し、
上記ＡＴＭ試験セル１Ａの送出時刻から本来のバースト
とバーストの間のＡＴＭ試験セルの停止区間だけＡＴＭ
試験セルの送出を停止させた後、新たなバーストを送出
することにより、ＡＴＭ試験セルのトラヒックを調整す
る。
試験セルのトラヒックの別の調整法として、図４に示す
ように許容ＣＤＶ値を越えて揺らいだＡＴＭ試験セル１
Ａを廃棄し、この廃棄したＡＴＭ試験セル１Ａの送出時
刻を基準としてＡＴＭ試験セル送出基準時刻を変更し、
上記ＡＴＭ試験セル１Ａの送出時刻から本来のバースト
とバーストの間のＡＴＭ試験セルの停止区間だけＡＴＭ
試験セルの送出を停止させた後、新たなバーストを送出
することにより、ＡＴＭ試験セルのトラヒックを調整す
る。
【００２６】このような方法によっても、任意の平均セ
ルレート、ピークセルレート及び最大パースト長をパラ
メータとするＶＢＲトラヒックを送出することが可能で
あると共に、他のセルのトラヒックに影響を与えること
なく、ＡＴＭ試験セルを送出することが可能である。ま
た、ネットワーク上のスイッチ部への負荷を抑制するこ
とも可能である。
ルレート、ピークセルレート及び最大パースト長をパラ
メータとするＶＢＲトラヒックを送出することが可能で
あると共に、他のセルのトラヒックに影響を与えること
なく、ＡＴＭ試験セルを送出することが可能である。ま
た、ネットワーク上のスイッチ部への負荷を抑制するこ
とも可能である。
【００２７】なお、上述した第３あるいは第４実施形態
において、ＡＴＭ試験セルのＣＤＶが許容ＣＤＶ値を上
回ってＡＴＭ試験セルのトラヒツクの調整が行われた場
合に、所定のレートでのＡＴＭ試験セルの送出が不可と
なったとみなし、その旨をアラームもしくは性能情報と
して保守システムに通知するようにしても良い。
において、ＡＴＭ試験セルのＣＤＶが許容ＣＤＶ値を上
回ってＡＴＭ試験セルのトラヒツクの調整が行われた場
合に、所定のレートでのＡＴＭ試験セルの送出が不可と
なったとみなし、その旨をアラームもしくは性能情報と
して保守システムに通知するようにしても良い。
【００２８】また、上記実施形態では、ＡＴＭ試験セル
発生装置内で扱うセルのセル長ａ（バイト）、及びＡＴ
Ｍ試験セル発生装置内でのトラヒック速度Ｔ（Mb/s）を
考慮してＡＴＭ試験セルの送出タイミングを設定してい
るが、ＡＴＭセル送出装置がＡＴＭ試験セル発生装置の
機能、つまりＡＴＭ試験セルを発生する機能（ＡＴＭ試
験セル発生手段）を備える場合が考えられる。
発生装置内で扱うセルのセル長ａ（バイト）、及びＡＴ
Ｍ試験セル発生装置内でのトラヒック速度Ｔ（Mb/s）を
考慮してＡＴＭ試験セルの送出タイミングを設定してい
るが、ＡＴＭセル送出装置がＡＴＭ試験セル発生装置の
機能、つまりＡＴＭ試験セルを発生する機能（ＡＴＭ試
験セル発生手段）を備える場合が考えられる。
【００２９】このような場合、ＡＴＭ試験セル発生手段
において発生されたＡＴＭ試験セルは、ＡＴＭ送出手段
（機能）を介してネットワークに送出される。この場合
にも、ＡＴＭ試験セル発生手段で扱うセルのセル長ａ
（バイト）、及びＡＴＭ試験セル発生装置内でのトラヒ
ック速度Ｔ（Mb/s）が装置ベンダーによって異なること
が考えられる。本発明は、このような場合にも適用し得
るものである。
において発生されたＡＴＭ試験セルは、ＡＴＭ送出手段
（機能）を介してネットワークに送出される。この場合
にも、ＡＴＭ試験セル発生手段で扱うセルのセル長ａ
（バイト）、及びＡＴＭ試験セル発生装置内でのトラヒ
ック速度Ｔ（Mb/s）が装置ベンダーによって異なること
が考えられる。本発明は、このような場合にも適用し得
るものである。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係わるＡ
ＴＭ試験セルの送出方法は、以下のような効果を奏す
る。
ＴＭ試験セルの送出方法は、以下のような効果を奏す
る。
【００３１】（１）ＡＴＭ試験セル発生手段からＡＴＭ
試験セルをネットワークに送出するＡＴＭセル送出手段
に対してＡＴＭ試験セルを送出する際の送出タイミング
の設定方法において、ＡＴＭ試験セル発生手段内におけ
るＡＴＭ試験セルのセル長ａとトラヒック速度Ｔ、及び
ネットワーク上のＡＴＭセルの平均セルレートＳＣＲか
らなる第１の演算式に基づいて平均セルレート用セル送
出時刻Ｔsを算出し、この平均セルレート用セル送出時
刻Ｔsを整数化して得られた値をＡＴＭ試験セル発生手
段におけるＡＴＭ試験セルの平均セルレート用セル送出
時刻Ｔsfに設定し、セル長ａとトラヒック速度Ｔ、及び
ネットワーク上のＡＴＭセルのピークセルレートＰＣＲ
からなる第２の演算式に基づいてピークセルレート用セ
ル送出時刻Ｔpを算出し、該ピークセルレート用セル送
出時刻Ｔpを整数化して得られた値をＡＴＭ試験セルの
ピークセルレート用セル送出時刻Ｔpfに設定し、かつ、
ＡＴＭ試験セルのセル数によって最大バースト長を規定
して、該最大バースト長のセル数だけピークセルレート
の送出タイミングでＡＴＭ試験セルをバースト送信する
と、ＡＴＭ試験セルの送出レートが平均セルレートとな
るようにＡＴＭ試験セルの送出を一定時間停止するの
で、任意の平均セルレート、ピークセルレート及び最大
パースト長をパラメータとするＶＢＲトラヒックを送出
することが可能となると共に、平均セルレートとピーク
セルレートを同じ値にすることにより、任意の速度でＣ
ＢＲトラヒックを送出することが可能となる。
試験セルをネットワークに送出するＡＴＭセル送出手段
に対してＡＴＭ試験セルを送出する際の送出タイミング
の設定方法において、ＡＴＭ試験セル発生手段内におけ
るＡＴＭ試験セルのセル長ａとトラヒック速度Ｔ、及び
ネットワーク上のＡＴＭセルの平均セルレートＳＣＲか
らなる第１の演算式に基づいて平均セルレート用セル送
出時刻Ｔsを算出し、この平均セルレート用セル送出時
刻Ｔsを整数化して得られた値をＡＴＭ試験セル発生手
段におけるＡＴＭ試験セルの平均セルレート用セル送出
時刻Ｔsfに設定し、セル長ａとトラヒック速度Ｔ、及び
ネットワーク上のＡＴＭセルのピークセルレートＰＣＲ
からなる第２の演算式に基づいてピークセルレート用セ
ル送出時刻Ｔpを算出し、該ピークセルレート用セル送
出時刻Ｔpを整数化して得られた値をＡＴＭ試験セルの
ピークセルレート用セル送出時刻Ｔpfに設定し、かつ、
ＡＴＭ試験セルのセル数によって最大バースト長を規定
して、該最大バースト長のセル数だけピークセルレート
の送出タイミングでＡＴＭ試験セルをバースト送信する
と、ＡＴＭ試験セルの送出レートが平均セルレートとな
るようにＡＴＭ試験セルの送出を一定時間停止するの
で、任意の平均セルレート、ピークセルレート及び最大
パースト長をパラメータとするＶＢＲトラヒックを送出
することが可能となると共に、平均セルレートとピーク
セルレートを同じ値にすることにより、任意の速度でＣ
ＢＲトラヒックを送出することが可能となる。
【００３２】（２）ＡＴＭ試験セルよりも伝達優先度の
高い他のセルが伝送路上に存在した場合にはＡＴＭ試験
セルの送出を待ち合わせ、前記他のセルが無くなってア
イドルセルが伝達されてきた時点で、アイドルセルのセ
ル位置に待ち合わせてＡＴＭ試験セルを送信するので、
他のセル２のトラヒックに影響を与えることなくＡＴＭ
試験セルを送出することができる。
高い他のセルが伝送路上に存在した場合にはＡＴＭ試験
セルの送出を待ち合わせ、前記他のセルが無くなってア
イドルセルが伝達されてきた時点で、アイドルセルのセ
ル位置に待ち合わせてＡＴＭ試験セルを送信するので、
他のセル２のトラヒックに影響を与えることなくＡＴＭ
試験セルを送出することができる。
【００３３】（３）送出条件として新たに許容ＣＤＶ値
を設定し、ＡＴＭ試験セルに生じたＣＤＶが前記許容Ｃ
ＤＶ値を越えた場合には、該許容ＣＤＶ値を越えて揺ら
いだＡＴＭ試験セルを基準としてＡＴＭ試験セル送出基
準時刻を変更し、その後、この変更されたＡＴＭ試験セ
ル送出基準時刻に基づいてＡＴＭ試験セルを送出するの
で、他のセルのトラヒックに影響を与えることなくＡＴ
Ｍ試験セル１を送出することができると共に、ネットワ
ーク上のスイッチ部への負荷を抑制することができる。
を設定し、ＡＴＭ試験セルに生じたＣＤＶが前記許容Ｃ
ＤＶ値を越えた場合には、該許容ＣＤＶ値を越えて揺ら
いだＡＴＭ試験セルを基準としてＡＴＭ試験セル送出基
準時刻を変更し、その後、この変更されたＡＴＭ試験セ
ル送出基準時刻に基づいてＡＴＭ試験セルを送出するの
で、他のセルのトラヒックに影響を与えることなくＡＴ
Ｍ試験セル１を送出することができると共に、ネットワ
ーク上のスイッチ部への負荷を抑制することができる。
【００３４】（４）送出条件として新たに許容ＣＤＶ値
を設定し、この許容ＣＤＶ値を越えて揺らいだＡＴＭ試
験セルを廃棄し、この廃棄したＡＴＭ試験セルの送出時
刻を基準としてＡＴＭ試験セル送出基準時刻を変更し、
ＡＴＭ試験セルの送出時刻からバースト送信とバースト
送信との間の停止区間だけＡＴＭ試験セルの送出を停止
させた後、新たなバースト送信を行うので、他のセルの
トラヒックに影響を与えることなくＡＴＭ試験セル１を
送出することができると共に、ネットワーク上のスイッ
チ部への負荷を抑制することができる。
を設定し、この許容ＣＤＶ値を越えて揺らいだＡＴＭ試
験セルを廃棄し、この廃棄したＡＴＭ試験セルの送出時
刻を基準としてＡＴＭ試験セル送出基準時刻を変更し、
ＡＴＭ試験セルの送出時刻からバースト送信とバースト
送信との間の停止区間だけＡＴＭ試験セルの送出を停止
させた後、新たなバースト送信を行うので、他のセルの
トラヒックに影響を与えることなくＡＴＭ試験セル１を
送出することができると共に、ネットワーク上のスイッ
チ部への負荷を抑制することができる。
【図１】 本発明の第１実施形態を示す説明図である。
【図２】 本発明の第２実施形態を示す説明図である。
【図３】 本発明の第３実施形態を示す説明図である。
【図４】 本発明の第４実施形態を示す説明図である。
【図５】 従来のＡＴＭ試験セルの送出方法を説明する
説明図である。
説明図である。
１，１Ａ……ＡＴＭ試験セル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 丸山秀一・黒川 修・平松太一・上松 仁，ＶＢＲトラヒックを生成可能な導 通特性試験セル送出方法の提案，電子情 報通信学会総合大会，日本，電子情報通 信学会，1999年 ３月 ８日，’99−春 −通信２−Ｂ−８−13，ｐ．290 (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04L 12/56 400
Claims (5)
- 【請求項１】 ＡＴＭ試験セル発生手段からＡＴＭ試験
セルをネットワークに送出するＡＴＭセル送出手段に対
してＡＴＭ試験セルを送出する際の送出方法であって、 ＡＴＭ試験セル発生手段内におけるＡＴＭ試験セルのセ
ル長ａとトラヒック速度Ｔ、及びネットワーク上のＡＴ
Ｍセルの平均セルレートＳＣＲからなる第１の演算式に
基づいて平均セルレート用セル送出時刻Ｔsを算出し、
この平均セルレート用セル送出時刻Ｔsを整数化して得
られた値をＡＴＭ試験セル発生手段におけるＡＴＭ試験
セルの平均セルレート用セル送出時刻Ｔsfに設定し、 前記セル長ａとトラヒック速度Ｔ、及びネットワーク上
のＡＴＭセルのピークセルレートＰＣＲからなる第２の
演算式に基づいてピークセルレート用セル送出時刻Ｔp
を算出し、該ピークセルレート用セル送出時刻Ｔpを整
数化して得られた値をＡＴＭ試験セルのピークセルレー
ト用セル送出時刻Ｔpfに設定し、 かつ、ＡＴＭ試験セルのセル数によって最大バースト長
を規定して、該最大バースト長のセル数だけピークセル
レートの送出タイミングでＡＴＭ試験セルをバースト送
信すると、ＡＴＭ試験セルの送出レートが平均セルレー
トとなるようにＡＴＭ試験セルの送出を一定時間停止す
る、 ことを特徴とするＡＴＭ試験セルの送出方法。 - 【請求項２】 ＡＴＭ試験セルよりも伝達優先度の高い
他のセルが伝送路上に存在した場合にはＡＴＭ試験セル
の送出を待ち合わせ、前記他のセルが無くなってアイド
ルセルが伝達されてきた時点で、アイドルセルのセル位
置に待ち合わせてＡＴＭ試験セルを送信することを特徴
とする請求項１記載のＡＴＭ試験セルの送出方法。 - 【請求項３】 送出条件として新たに許容ＣＤＶ値を設
定し、ＡＴＭ試験セルに生じたＣＤＶが前記許容ＣＤＶ
値を越えた場合には、該許容ＣＤＶ値を越えて揺らいだ
ＡＴＭ試験セルを基準としてＡＴＭ試験セル送出基準時
刻を変更し、その後、この変更されたＡＴＭ試験セル送
出基準時刻に基づいてＡＴＭ試験セルを送出することを
特徴とする請求項２記載のＡＴＭ試験セルの送出方法。 - 【請求項４】 送出条件として新たに許容ＣＤＶ値を設
定し、この許容ＣＤＶ値を越えて揺らいだＡＴＭ試験セ
ルを廃棄し、この廃棄したＡＴＭ試験セルの送出時刻を
基準としてＡＴＭ試験セル送出基準時刻を変更し、ＡＴ
Ｍ試験セルの送出時刻からバースト送信とバースト送信
との間の停止区間だけＡＴＭ試験セルの送出を停止させ
た後、新たなバースト送信を行うことを特徴とする請求
項２記載のＡＴＭ試験セルの送出方法。 - 【請求項５】 第１の演算式を下式（１）、かつ第２の
演算式を下式（２）とすることを特徴とする請求項１〜
４いずれかに記載のＡＴＭ試験セルの送出方法。 Ｔs＝Ｔ×１０6／（ａ×８×ＳＣＲ） （１） Ｔp＝Ｔ×１０6／（ａ×８×ＰＣＲ） （２）
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5766299A JP3331183B2 (ja) | 1999-03-04 | 1999-03-04 | Ａｔｍ試験セルの送出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5766299A JP3331183B2 (ja) | 1999-03-04 | 1999-03-04 | Ａｔｍ試験セルの送出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000261443A JP2000261443A (ja) | 2000-09-22 |
| JP3331183B2 true JP3331183B2 (ja) | 2002-10-07 |
Family
ID=13062126
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5766299A Expired - Fee Related JP3331183B2 (ja) | 1999-03-04 | 1999-03-04 | Ａｔｍ試験セルの送出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3331183B2 (ja) |
-
1999
- 1999-03-04 JP JP5766299A patent/JP3331183B2/ja not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 丸山秀一・黒川 修・平松太一・上松 仁，ＶＢＲトラヒックを生成可能な導通特性試験セル送出方法の提案，電子情報通信学会総合大会，日本，電子情報通信学会，１９９９年 ３月 ８日，’９９−春−通信２−Ｂ−８−１３，ｐ．２９０ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000261443A (ja) | 2000-09-22 |
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