JP3328124B2 - インライン走行撚り線のピッチ測定方法およびその装置 - Google Patents
インライン走行撚り線のピッチ測定方法およびその装置Info
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- JP3328124B2 JP3328124B2 JP29921095A JP29921095A JP3328124B2 JP 3328124 B2 JP3328124 B2 JP 3328124B2 JP 29921095 A JP29921095 A JP 29921095A JP 29921095 A JP29921095 A JP 29921095A JP 3328124 B2 JP3328124 B2 JP 3328124B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、電線やワイヤロ
ープ等の製造工程におけるインライン走行撚り線のピッ
チ測定方法およびその装置に関する。
ープ等の製造工程におけるインライン走行撚り線のピッ
チ測定方法およびその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】電線やワイヤロープ等の撚り線のピッチ
を測定する手段としては、図３に示す方法が採用されて
いた。撚り線より成る電線（もしくはワイヤロープ等）
１００の表面に紙１０２を固定させておき、チョーク
（もしくはカーボンブラック等）１０１によって紙１０
２を押し付けながら転がすと、紙１０２の上に電線１０
０の最外層表面の凹凸の痕跡が表示される。凹部１０３
にはチョーク１０１の色は付かず凸部１０４にのみチョ
ーク１０１の色が付くので、この凸部１０４の数もしく
は凹部１０３の数を数えることによって電線１００の撚
り線ピッチが測定できる。即ち、紙上における凸部１０
４もしくは凹部１０３の連続数が所定値になったときの
電線の長さを求めることによって、電線の撚り具合の正
否を判定していた。
を測定する手段としては、図３に示す方法が採用されて
いた。撚り線より成る電線（もしくはワイヤロープ等）
１００の表面に紙１０２を固定させておき、チョーク
（もしくはカーボンブラック等）１０１によって紙１０
２を押し付けながら転がすと、紙１０２の上に電線１０
０の最外層表面の凹凸の痕跡が表示される。凹部１０３
にはチョーク１０１の色は付かず凸部１０４にのみチョ
ーク１０１の色が付くので、この凸部１０４の数もしく
は凹部１０３の数を数えることによって電線１００の撚
り線ピッチが測定できる。即ち、紙上における凸部１０
４もしくは凹部１０３の連続数が所定値になったときの
電線の長さを求めることによって、電線の撚り具合の正
否を判定していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の撚り線
ピッチの測定方法では、測定する電線やワイヤロープは
固定した状態においてピッチ測定を行う必要があるの
で、電線やワイヤロープの製造工程においては、その都
度製造ラインを停止させて測定を行っており、また、凡
て手作業に頼っているので甚だ非効率であった。この発
明は、上述した従来技術の欠点を解消するためになされ
たものであって、製造工程中のインラインにおいて連続
的にピッチ測定ができ、しかも、測定すべき電線やワイ
ヤロープと非接触状態において計測できる撚り線ピッチ
の自動測定装置を提供しようとするものである。
ピッチの測定方法では、測定する電線やワイヤロープは
固定した状態においてピッチ測定を行う必要があるの
で、電線やワイヤロープの製造工程においては、その都
度製造ラインを停止させて測定を行っており、また、凡
て手作業に頼っているので甚だ非効率であった。この発
明は、上述した従来技術の欠点を解消するためになされ
たものであって、製造工程中のインラインにおいて連続
的にピッチ測定ができ、しかも、測定すべき電線やワイ
ヤロープと非接触状態において計測できる撚り線ピッチ
の自動測定装置を提供しようとするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この発明によるインライ
ン走行撚り線のピッチ測定方法は、インライン走行撚り
線の走行に比例したパルスを出力するロータリーエンコ
ーダの出力パルスを計測する手段と、前記インライン走
行撚り線の最外層表面における特定点を非接触式の微小
変位計からの走査光により連続走査し、前記特定点から
の反射光に対応する信号波形を前記非接触式の微小変位
計から出力させ、前記信号波形を波形整形することによ
り前記走行撚り線の最外層表面における山もしくは谷よ
り成る信号波形に変換する手段と、前記変換手段におけ
る信号波形の山もしくは谷を連続して計測すると共に山
もしくは谷の数が所定のピッチ数になる度ごとにサンプ
リング指令信号を送出する手段と、このサンプリング指
令信号を入力する期間ごとに、前記ロータリーエンコー
ダからの出力パルス数に比例する前記インライン走行撚
り線の走行距離を演算する手段とによって構成し、前記
走行撚り線の山もしくは谷に関する所定のピッチ数に対
応する走行撚り線の走行距離を連続して測定・表示させ
るものである。また、この発明によるインライン走行撚
り線のピッチ測定装置は、請求項１に記載の方法を実施
するための装置であって、インライン走行撚り線の走行
に対応して回転するロールの回転数に比例するパルスを
出力するロータリーエンコーダと、前記ロータリーエン
コーダの出力パルスを連続して計測する計尺パルス計数
器と、前記インライン走行撚り線の最外層表面を連続走
査してその最外層表面の形状に対応した信号波形を出力
する非接触式の微小変位計と、この非接触式の微小変位
計の出力する信号波形を波形整形して前記走行撚り線の
最外層表面における山もしくは谷のみに対応する信号波
形を出力するようにした波形整形器および比較器と、こ
の比較器の出力する山もしくは谷の数を連続して計測す
ると共に、この計測値が所定のピッチ数になる度ごとに
サンプリング指令信号を演算器に送出するピッチ計数器
と、前記サンプリング指令信号を入力する期間ごとに前
記計尺パルス計数器により計測した前記ロータリーエン
コーダの出力パルス数に比例するインライン走行撚り線
の走行距離を演算する演算器と、この演算器の出力信号
を入力して、前記インライン走行撚り線の最外層表面に
おける山もしくは谷に関する所定のピッチ数に対応する
走行撚り線の走行距離を連続して測定・表示するピッチ
表示器とによって構成した。
ン走行撚り線のピッチ測定方法は、インライン走行撚り
線の走行に比例したパルスを出力するロータリーエンコ
ーダの出力パルスを計測する手段と、前記インライン走
行撚り線の最外層表面における特定点を非接触式の微小
変位計からの走査光により連続走査し、前記特定点から
の反射光に対応する信号波形を前記非接触式の微小変位
計から出力させ、前記信号波形を波形整形することによ
り前記走行撚り線の最外層表面における山もしくは谷よ
り成る信号波形に変換する手段と、前記変換手段におけ
る信号波形の山もしくは谷を連続して計測すると共に山
もしくは谷の数が所定のピッチ数になる度ごとにサンプ
リング指令信号を送出する手段と、このサンプリング指
令信号を入力する期間ごとに、前記ロータリーエンコー
ダからの出力パルス数に比例する前記インライン走行撚
り線の走行距離を演算する手段とによって構成し、前記
走行撚り線の山もしくは谷に関する所定のピッチ数に対
応する走行撚り線の走行距離を連続して測定・表示させ
るものである。また、この発明によるインライン走行撚
り線のピッチ測定装置は、請求項１に記載の方法を実施
するための装置であって、インライン走行撚り線の走行
に対応して回転するロールの回転数に比例するパルスを
出力するロータリーエンコーダと、前記ロータリーエン
コーダの出力パルスを連続して計測する計尺パルス計数
器と、前記インライン走行撚り線の最外層表面を連続走
査してその最外層表面の形状に対応した信号波形を出力
する非接触式の微小変位計と、この非接触式の微小変位
計の出力する信号波形を波形整形して前記走行撚り線の
最外層表面における山もしくは谷のみに対応する信号波
形を出力するようにした波形整形器および比較器と、こ
の比較器の出力する山もしくは谷の数を連続して計測す
ると共に、この計測値が所定のピッチ数になる度ごとに
サンプリング指令信号を演算器に送出するピッチ計数器
と、前記サンプリング指令信号を入力する期間ごとに前
記計尺パルス計数器により計測した前記ロータリーエン
コーダの出力パルス数に比例するインライン走行撚り線
の走行距離を演算する演算器と、この演算器の出力信号
を入力して、前記インライン走行撚り線の最外層表面に
おける山もしくは谷に関する所定のピッチ数に対応する
走行撚り線の走行距離を連続して測定・表示するピッチ
表示器とによって構成した。
【０００５】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面を参照しながら説明する。図１は、この発明によるイ
ンライン走行撚り線のピッチ測定装置のブロック図であ
る。図１において、インライン走行撚り線１はロール１
５1 と１５2 および線抑え１６と１７によって保持され
ており、ロール１５1 と１５2 は走行撚り線１の走行に
対応して回転し、この回転に伴ってロータリーエンコー
ダ２からロール１５1 と１５2 の回転数に比例したパル
スが出力される。この出力パルス数は計尺パルス計数器
３によって計測される。ロータリーエンコーダ２の出力
パルスのパルス幅は既知（例えば１mm／１パルス）であ
るので、パルス数を計測することによって走行撚り線１
の走行距離を求めることができる。
面を参照しながら説明する。図１は、この発明によるイ
ンライン走行撚り線のピッチ測定装置のブロック図であ
る。図１において、インライン走行撚り線１はロール１
５1 と１５2 および線抑え１６と１７によって保持され
ており、ロール１５1 と１５2 は走行撚り線１の走行に
対応して回転し、この回転に伴ってロータリーエンコー
ダ２からロール１５1 と１５2 の回転数に比例したパル
スが出力される。この出力パルス数は計尺パルス計数器
３によって計測される。ロータリーエンコーダ２の出力
パルスのパルス幅は既知（例えば１mm／１パルス）であ
るので、パルス数を計測することによって走行撚り線１
の走行距離を求めることができる。
【０００６】非接触式の微小変位計の１例としてレーザ
式変位計を使用する場合について説明すると、レーザ式
変位計９に内蔵するレーザ発生源からのレーザを走行撚
り線１の最外層表面の特定点に連続して照射させ、その
反射光を受光してその往復に要する時間を計測すると、
走行撚り線１の最外層表面の形状に対応した信号波形が
得られ、図２（ａ）に示す通りである。上述したレーザ
式変位計９からの出力信号波形を波形整形器１０によっ
て波形整形すると、図２（ｂ）に示す山および谷より成
る方形波信号が得られる。さらに、前記方形波を比較器
１１に入力させ、予め設定してあるスレッショルド電圧
と比較することにより、図２（ｃ）に示す方形波が得ら
れる。図２（ｃ）は走行撚り線の最外層表面における谷
の数を表示しているが、スレッショルド電圧を調整する
ことにより山の数のみを表示させることも可能である。
式変位計を使用する場合について説明すると、レーザ式
変位計９に内蔵するレーザ発生源からのレーザを走行撚
り線１の最外層表面の特定点に連続して照射させ、その
反射光を受光してその往復に要する時間を計測すると、
走行撚り線１の最外層表面の形状に対応した信号波形が
得られ、図２（ａ）に示す通りである。上述したレーザ
式変位計９からの出力信号波形を波形整形器１０によっ
て波形整形すると、図２（ｂ）に示す山および谷より成
る方形波信号が得られる。さらに、前記方形波を比較器
１１に入力させ、予め設定してあるスレッショルド電圧
と比較することにより、図２（ｃ）に示す方形波が得ら
れる。図２（ｃ）は走行撚り線の最外層表面における谷
の数を表示しているが、スレッショルド電圧を調整する
ことにより山の数のみを表示させることも可能である。
【０００７】比較器１１からの出力信号はピッチ計数器
１２を構成する計数器１３に入力して山もしくは谷の数
Ｎが計測される。このピッチ計数器１２には所定のピッ
チ数Ｎ0 が予め設定してあり、計数器１３の計測値Ｎと
所定のピッチ数Ｎ0 が比較され、Ｎ＝Ｎ0 になるとサン
プリング指令信号が演算器４に送出される。Ｎ＜Ｎ0 の
場合には、計数器１３における計測は継続され、Ｎ＝Ｎ
0 まで続けられる。
１２を構成する計数器１３に入力して山もしくは谷の数
Ｎが計測される。このピッチ計数器１２には所定のピッ
チ数Ｎ0 が予め設定してあり、計数器１３の計測値Ｎと
所定のピッチ数Ｎ0 が比較され、Ｎ＝Ｎ0 になるとサン
プリング指令信号が演算器４に送出される。Ｎ＜Ｎ0 の
場合には、計数器１３における計測は継続され、Ｎ＝Ｎ
0 まで続けられる。
【０００８】実際のピッチ測定においては、ロータリー
エンコーダ２と計尺パルス計数器３による出力パルス数
の積算（走行撚り線の走行距離）と、レーザ式変位計
９、波形整形器１０、比較器１１、計数器１３による走
行撚り線の最外層表面における山もしくは谷よりなるピ
ッチ数の計測とは同時に進行しているので、最初の計測
の終了が次の計測の開始となる。従って、所定のピッチ
数に対応する走行撚り線の走行距離がサンプリング周期
ごとにピッチ表示器５に表示されるので、製造工程中に
おける走行撚り線のピッチの変動を常時監視することが
できる。
エンコーダ２と計尺パルス計数器３による出力パルス数
の積算（走行撚り線の走行距離）と、レーザ式変位計
９、波形整形器１０、比較器１１、計数器１３による走
行撚り線の最外層表面における山もしくは谷よりなるピ
ッチ数の計測とは同時に進行しているので、最初の計測
の終了が次の計測の開始となる。従って、所定のピッチ
数に対応する走行撚り線の走行距離がサンプリング周期
ごとにピッチ表示器５に表示されるので、製造工程中に
おける走行撚り線のピッチの変動を常時監視することが
できる。
【０００９】演算器４の出力信号はピッチ表示器５に表
示されるばかりでなく、Ｄ／Ａ変換器７によってＤ／Ａ
変換されたうえでレコーダ８に記録・表示されると共
に、走行撚り線の走行距離が規定値より外れたときには
アラーム送出器６によって警報する。
示されるばかりでなく、Ｄ／Ａ変換器７によってＤ／Ａ
変換されたうえでレコーダ８に記録・表示されると共
に、走行撚り線の走行距離が規定値より外れたときには
アラーム送出器６によって警報する。
【００１０】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によるイ
ンライン走行撚り線のピッチ測定方法およびその装置
は、走行撚り線の走査距離をロータリーエンコーダの出
力パルスを計測することによって測定すると共に、走行
撚り線の最外層表面の形状を非接触式の微小変位計によ
り走査した信号波形を波形整形して走行撚り線の山もし
くは谷より成る信号波形に変換してピッチ数を計測し、
所定のピッチ数になったときにサンプリング指令信号を
送出させてサンプリング周期における走行撚り線の走行
距離を測定表示させるものである。従って、所定のピッ
チ数に対応する走行撚り線の走行距離、即ち、サンプリ
ング周期に対応する走行撚り線の線長が常時表示される
ので、製造工程中における撚り線のピッチが連続して監
視できる。また、走行撚り線の最外層表面における山も
しくは谷は非接触で計測できるので製造工程を中断させ
ることなしに連続計測でき、かつ、自動的にピッチ測定
が可能であるので省力化の効果もある。
ンライン走行撚り線のピッチ測定方法およびその装置
は、走行撚り線の走査距離をロータリーエンコーダの出
力パルスを計測することによって測定すると共に、走行
撚り線の最外層表面の形状を非接触式の微小変位計によ
り走査した信号波形を波形整形して走行撚り線の山もし
くは谷より成る信号波形に変換してピッチ数を計測し、
所定のピッチ数になったときにサンプリング指令信号を
送出させてサンプリング周期における走行撚り線の走行
距離を測定表示させるものである。従って、所定のピッ
チ数に対応する走行撚り線の走行距離、即ち、サンプリ
ング周期に対応する走行撚り線の線長が常時表示される
ので、製造工程中における撚り線のピッチが連続して監
視できる。また、走行撚り線の最外層表面における山も
しくは谷は非接触で計測できるので製造工程を中断させ
ることなしに連続計測でき、かつ、自動的にピッチ測定
が可能であるので省力化の効果もある。
【図１】この発明の実施例を示すブロック図。
【図２】波形図。
【図３】従来技術の説明図。
１ 走行撚り線 ２ ロータリーエンコーダ ３ 計尺パルス計数器 ４ 演算器 ５ ピッチ表示器 ６ アラーム送出器 ７ Ｄ／Ａ変換器 ８ レコーダ ９ レーザ式変位計 １０ 波形整形器 １１ 比較器 １２ ピッチ計数器 １５1 ，１５2 ロール １６，１７ 線抑え
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H01B 13/02 D07B 1/00 - 9/00 H01B 13/00
Claims (3)
- 【請求項１】 インライン走行撚り線の走行に対応して
回転するロールの回転数をロータリーエンコーダの出力
パルスに変換させると共に前記出力パルス数を計測する
手段と、 前記インライン走行撚り線の最外層表面における特定点
を非接触式の微小変位計からの走査光により連続走査
し、前記特定点からの反射光に対応する信号波形を前記
非接触式の微小変位計から出力させ、前記信号波形を波
形整形することにより前記インライン走行撚り線の最外
層表面における山もしくは谷より成る信号波形に変換す
る手段と、 前記インライン走行撚り線の最外層表面における山もし
くは谷の数を連続して計測すると共に、前記山もしくは
谷の数が所定のピッチ数になる度ごとにサンプリング指
令信号を送出する手段と、 前記サンプリング指令信号を入力する期間ごとに、前記
ロータリーエンコーダからの出力パルス数に比例する前
記インライン走行撚り線の走行距離を演算する手段と、 によって構成し、前記インライン走行撚り線の山もしく
は谷に関する所定のピッチ数に対応する前記走行撚り線
の走行距離を連続して測定・表示することを特徴とする
インライン走行撚り線のピッチ測定方法。 - 【請求項２】 インライン走行撚り線の走行に対応して
回転するロールの回転数に比例する所定パルス幅のパル
スを連続して出力するロータリーエンコーダと、 前記ロータリーエンコーダの出力パルスを連続して計測
する計尺パルス計数器と、 前記インライン走行撚り線の最外層表面における特定点
を走査光により連続走査させ、前記特定点からの反射光
に基づく前記走行撚り線の最外層表面の形状に対応した
信号波形を出力する非接触式の微小変位計と、 前記非接触式の変位計の出力する信号波形を波形整形し
て前記走行撚り線の最外層表面における山および谷より
成る信号波形に変換する波形整形器と、 前記波形整形器の出力信号波形を設定電圧と比較するこ
とにより山もしくは谷のみより成る信号波形を出力する
比較器と、 前記比較器の出力する信号波形の山もしくは谷の数を連
続して計測すると共に、この計測値が所定のピッチ数に
なる度ごとにサンプリング指令信号を演算器に送出する
ピッチ計数器と、 前記サンプリング指令信号を入力する期間ごとに、前記
計尺パルス計数器により計測した前記ロータリーエンコ
ーダの出力パルス数に比例する前記インライン走行撚り
線の走行距離を演算する演算器と、 前記演算器の出力信号を入力して、前記インライン走行
撚り線の最外層表面における山もしくは谷に関する所定
のピッチ数に対応する前記走行撚り線の走行距離を連続
して測定・表示するピッチ表示器と、 によって構成したことを特徴とするインライン走行撚り
線のピッチ測定装置。 - 【請求項３】 演算器の出力する所定のピッチ数に対応
する走行撚り線の走行距離をＤ／Ａ変換して表示・記録
するレコーダを設けると共に、インライン走行撚り線の
走行距離が規定値より外れたときに警報するアラーム送
出器を設けたことを特徴とする請求項２に記載のインラ
イン走行撚り線のピッチ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29921095A JP3328124B2 (ja) | 1995-10-23 | 1995-10-23 | インライン走行撚り線のピッチ測定方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29921095A JP3328124B2 (ja) | 1995-10-23 | 1995-10-23 | インライン走行撚り線のピッチ測定方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09115361A JPH09115361A (ja) | 1997-05-02 |
| JP3328124B2 true JP3328124B2 (ja) | 2002-09-24 |
Family
ID=17869582
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29921095A Expired - Fee Related JP3328124B2 (ja) | 1995-10-23 | 1995-10-23 | インライン走行撚り線のピッチ測定方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3328124B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11298909B2 (en) | 2015-07-24 | 2022-04-12 | Totani Corporation | Plastic bag making apparatus and method |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011108173A1 (ja) * | 2010-03-03 | 2011-09-09 | 三菱電機株式会社 | ロープ検査装置 |
-
1995
- 1995-10-23 JP JP29921095A patent/JP3328124B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11298909B2 (en) | 2015-07-24 | 2022-04-12 | Totani Corporation | Plastic bag making apparatus and method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH09115361A (ja) | 1997-05-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080712 Year of fee payment: 6 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |