JP3312359B2 - 光増幅器のゲインチルト測定器 - Google Patents
光増幅器のゲインチルト測定器Info
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Description
幅することのできる光増幅器、例えばファイバ光増幅器
あるいは半導体レーザ光増幅器の試験に利用する。特に
入力波長に対する利得の変化、すなわちゲインチルトの
測定に関する。
る従来の測定方法を示すブロック構成図である。
光する分布帰還型半導体レーザ43を直流電源41によ
り一定の光パワーP1inで発光させ、その出力光をコ
ネクタ45を介して被測定光増幅器40に入力する。そ
の一方で、光パワーメータ47により被測定光増幅器4
0の出力光パワーP1outを測定すると、被測定光増
幅器40の利得G1が、 G1=P1out/P1in により算出される。
タ46に接続替えし、波長λ2で発光する分布帰還型半
導体レーザ44を直流電源41により一定の光パワーP
2inで発光させる。これにより、波長λ2、光パワー
P2inの光が被測定光増幅器40に入力される。光パ
ワーメータ47により被測定光増幅器40の出力光パワ
ーP2outを測定すると、被測定光増幅器40の利得
G2が、 G2=P2out/P2in により求められる。
定光増幅器40のゲインチルトΔG/Δλが、 ΔG/Δλ=(G2−G1)/(λ2−λ1) として求められる。
定光増幅器40の入力端においてあらかじめ測定しても
よく、分布帰還型半導体レーザ43、44の後方光を検
出した値からコネクタ45、46による挿入損失を補正
した値を用いてもよく、被測定光増幅器40の入力端に
おいてその入力光を一定の割合で分岐してもよい。
示す。ゲインチルトΔG/Δλは、波長に対する利得で
表される利得特性の傾きを示す。
法では、被測定光増幅器の入力光波長が変動しない状態
ではゲインチルトを測定できるものの、入力光波長が変
動する状態ではゲインチルトを測定できなかった。
定光増幅器の入力光波長が交流的に高い周波数で変動す
る状態でもその光増幅器のゲインチルトを測定すること
のできるゲインチルト測定器を提供することを目的とす
る。
ると、互いに異なる波長で発光する二つの光源と、この
二つの光源を高周波信号の周期で別々に互いに時間的に
重ならないように交互に発光させる手段と、この二つの
光源からのそれぞれの出力光を被測定光増幅器に導く光
導波手段と、被測定光増幅器の出力光を波長毎に分波す
る光分波手段と、この光分波手段により分波されたそれ
ぞれの光の強度を測定する手段とを備えたことを特徴と
する光増幅器のゲインチルト測定器が提供される。
る波長で発光する二つの光源と、この二つの光源をそれ
ぞれ連続的に発光させる手段と、この二つの光源の出力
光を高周波信号の周期で時間的に交互に切り替えて被測
定光増幅器に導く光導波手段と、被測定光増幅器の出力
光を波長毎に分波する光分波手段と、この光分波手段に
より分波された光のそれぞれの強度を測定する手段とを
備えたことを特徴とする光増幅器のゲインチルト測定器
が提供される。
で発光してその出力光を被測定光増幅器に入射する光源
と、この光源の発光波長を高周波信号の周期で時間的に
交互に切り替える手段と、被測定光増幅器の出力光を波
長毎に分波する光分波手段と、この光分波手段により分
波されたそれぞれの光パワーを測定する手段とを備えた
ことを特徴とする光増幅器のゲインチルト測定器が提供
される。
周波信号の周期で時間的に重ならないように交互に発光
させるか、波長の異なる二つの光を高周波信号により制
御される光スイッチにより交互に切り替えて被測定光増
幅器に入力する。したがって、二つの波長を高速に切り
替えることができる。出力光については、波長により分
波して波長毎に別々に光パワーを測定する。これによ
り、被測定光増幅器の入力光波長が変動する状態におい
てそれぞれの波長の利得を測定でき、そのような状態に
おける被測定光増幅器のゲインチルトを測定できる。
成図である。
入射する光波長の差に対するその被測定光増幅器10の
利得の差を測定する光増幅器のゲインチルト測定器であ
り、互いに異なる波長で発光する複数の光源として分布
帰還型半導体レーザ25、26を備え、この二つの分布
帰還型半導体レーザ25、26を別々に互いに時間的に
重ならないように発光させる手段として一つの直流電源
21、電気スイッチ23および高周波制御回路24を備
え、二つの分布帰還型半導体レーザ25、26からのそ
れぞれの出力光を被測定光増幅器10に導く光導波手段
として光カプラ29を備え、被測定光増幅器10の出力
光を波長毎に分波する光分波手段として光分波器31を
備え、分波されたそれぞれの光の強度を測定する手段と
して光パワーメータ32、33を備える。
を介して半導体分布帰還型半導体レーザ25、26の一
方に供給される。電気スイッチ23を高周波制御回路2
4により交流的に高い周波数で切り替えると、分布帰還
型半導体レーザ25、26が交流的に交互に発光する。
分布帰還型半導体レーザ25、26の発光波長はそれぞ
れλ1、λ2であり、その出力光路を光カプラ29で合
流させることにより、波長λ1、λ2が交互に交流的に
切り替わる光が得られる。この光を被測定光増幅器10
に入力する。ここで、被測定光増幅器10に入力される
光波長λ1、λ2の平均入力光パワーをそれぞれP1i
n′、P2in′とする。
力光は、光分波器31により波長λ1、λ2に分波さ
れ、それぞれ光パワーメータ32、33に入射する。こ
れらの光パワーメータ32、33でそれぞれの光パワー
を測定することにより、波長λ1、λ2についての平均
出力光パワーがわかる。これらをそれぞれP1ou
t′、P2out′とする。
における利得G1′、G2′が、それぞれの波長の光の
平均入力光パワーP1in′、P2in′と、平均出力
光パワーP1out′、P2out′とにより求められ
る。さらに、波長λ1、λ2と、そのときの利得G
1′、G2′とから、ゲインチルトΔG′/Δλが算出
される。これらの算出式は、 G1′=P1out′/P1in′ G2′=P2out′/P2in′ ΔG′/Δλ=(G2′−G1′)/(λ2−λ1) である。
構成図である。
ザ25、26を交互に発光させるのではなく、それぞれ
については連続的に発光させ、その出力光を時間的に切
り替えて被測定光増幅器10に導くことが第一実施例と
異なる。
数の光源として分布帰還型半導体レーザ25、26を備
え、この二つの光源を分布帰還型半導体レーザ25、2
6をそれぞれ連続的に発光させる手段として直流電源2
1、22を備え、この二つの分布帰還型半導体レーザ2
5、26の出力光を時間的に切り替えて被測定光増幅器
10に導く光導波手段として光スイッチ27および高周
波制御回路28を備え、被測定光増幅器10の出力光を
波長毎に分波する光分波手段として光分波器31を備
え、この光分波器31により分波された光のそれぞれの
強度を測定する手段として光パワーメータ32、33を
備える。
O3 により形成された2入力1出力のものを用いる。こ
の光スイッチ27を高周波制御回路28により交流的に
高い周波数で切り替えることにより、波長λ1、λ2が
交互に交流的に切り替わる光が得られる。この光を被測
定光増幅器10に入力する。
ルトΔG′/Δλを求めることができる。
構成図である。
長を発光させるのではなく、発光波長が可変な一個のチ
ューナブルレーザにより二つの波長を交互に発生するこ
とが第一実施例および第二実施例と異なる。
光を被測定光増幅器10に入射する光源としてチューナ
ブルレーザ210および直流電源211を備え、このチ
ューナブルレーザ210の発光波長を時間的に切り替え
る手段として高周波電流源212を備え、被測定光増幅
器の出力光を波長毎に分波する光分波手段として光分波
器31を備え、この光分波器31により分波されたそれ
ぞれの光パワーを測定する手段として光パワーメータ3
2、33を備える。
は直流電源211から電源を注入し、一定のパワーで発
光させる。さらに、チューナブルレーザ210のもう一
方の電極に注入される電流の値を高周波電流源212に
より変化させることにより、チューナブルレーザ210
の発光波長がλ1とλ2とで交流的に高い周波数で変化
する。これを被測定光増幅器10に入力する。以下、第
一実施例および第二実施例と同様にして、ゲインチルト
ΔG′/Δλを求めることができる。
0の平均入力光パワーP1in′、P2in′について
は、分布帰還型半導体レーザ25、26またはチューナ
ブルレーザ210の平均出力光パワーに基づいて求めて
もよく、被測定光増幅器40の入力端においてその入力
光を一定の割合で分岐し、それを波長分波してそれぞれ
測定してもよい。
この測定は図6に示した測定例と同一の被測定光増幅器
について測定したものであり、被測定光増幅器の入力光
波長を100MHzの周期で交流的に変動させた場合の
測定結果を示す。この測定結果を図6に示したものと比
較すると、入力光波長が変動しないときにはゲインチル
トが0.032dB/nmであったのに対し、入力光波
長を変動させたときには1.0dB/nmと31倍大き
くなっていたことがわかる。このように、入力光波長が
変動しない場合と変動する場合とでは光増幅器のゲイン
チルトが異なり、本発明によりはじめてこの違いを測定
することができた。
波長を用いた例を示したが3以上の波長を用いてゲイン
チルトを曲線的に求めることもできる。
のゲインチルト測定装置は、被測定光増幅器の入力光波
長が交流的に変化する状態での被測定光増幅器のゲイン
チルトを測定でき、ファイバ光増幅器あるいは半導体レ
ーザ光増幅器などの光増幅器の動作特性を検査するうえ
で効果がある。
すブロック構成図。
すブロック構成図。
すブロック構成図。
周期で変動させた場合のゲインチルトの測定結果例を示
す図。
の測定結果例を示す図。
Claims (3)
- 【請求項1】 被測定光増幅器に入射する光波長の差に
対するその被測定光増幅器の利得の差を測定する光増幅
器のゲインチルト測定器において、 互いに異なる波長で発光する二つの光源と、 この二つの光源を高周波信号の周期で別々に互いに時間
的に重ならないように交互に発光させる手段と、 この二つの光源からのそれぞれの出力光を上記被測定光
増幅器に導く光導波手段と、 上記被測定光増幅器の出力光を波長毎に分波する光分波
手段と、 この光分波手段により分波されたそれぞれの光の強度を
測定する手段とを備えたことを特徴とする光増幅器のゲ
インチルト測定器。 - 【請求項2】 被測定光増幅器に入射する光波長の差に
対するその被測定光増幅器の利得の差を測定する光増幅
器のゲインチルト測定器において、 互いに異なる波長で発光する二つの光源と、 この二つの光源をそれぞれ連続的に発光させる手段と、 この二つの光源の出力光を高周波信号の周期で時間的に
交互に切り替えて上記被測定光増幅器に導く光導波手段
と、 上記被測定光増幅器の出力光を波長毎に分波する光分波
手段と、 この光分波手段により分波された光のそれぞれの強度を
測定する手段とを備えたことを特徴とする光増幅器のゲ
インチルト測定器。 - 【請求項3】 被測定光増幅器に入射する光波長の差に
対するその被測定光増幅器の利得の差を測定する光増幅
器のゲインチルト測定器において、二つ の波長で発光してその出力光を上記被測定光増幅器
に入射する光源と、 この光源の発光波長を高周波信号の周期で時間的に交互
に切り替える手段と、 上記被測定光増幅器の出力光を波長毎に分波する光分波
手段と、 この光分波手段により分波されたそれぞれの光パワーを
測定する手段とを備えたことを特徴とする光増幅器のゲ
インチルト測定器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1656793A JP3312359B2 (ja) | 1993-02-03 | 1993-02-03 | 光増幅器のゲインチルト測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1656793A JP3312359B2 (ja) | 1993-02-03 | 1993-02-03 | 光増幅器のゲインチルト測定器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06232480A JPH06232480A (ja) | 1994-08-19 |
JP3312359B2 true JP3312359B2 (ja) | 2002-08-05 |
Family
ID=11919872
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1656793A Expired - Lifetime JP3312359B2 (ja) | 1993-02-03 | 1993-02-03 | 光増幅器のゲインチルト測定器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3312359B2 (ja) |
-
1993
- 1993-02-03 JP JP1656793A patent/JP3312359B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
K.Kikushima,,Journal of Lightwave Technology,Vol.10,No.10,pp.1443−1449 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06232480A (ja) | 1994-08-19 |
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