JPH06232480A - 光増幅器のゲインチルト測定器 - Google Patents
光増幅器のゲインチルト測定器Info
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- JPH06232480A JPH06232480A JP1656793A JP1656793A JPH06232480A JP H06232480 A JPH06232480 A JP H06232480A JP 1656793 A JP1656793 A JP 1656793A JP 1656793 A JP1656793 A JP 1656793A JP H06232480 A JPH06232480 A JP H06232480A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 被測定光増幅器の入力光波長が変動する状態
でもその光増幅器のゲインチルトを測定できるようにす
る。 【構成】 被測定光増幅器に入力される複数の波長の光
を時間的に重ならないように発光させるか、あるいは波
長の異なる複数の光を光スイッチにより切り替えること
により、波長を変動させる。出力光については、波長に
より分波して別々に光パワーを測定する。
でもその光増幅器のゲインチルトを測定できるようにす
る。 【構成】 被測定光増幅器に入力される複数の波長の光
を時間的に重ならないように発光させるか、あるいは波
長の異なる複数の光を光スイッチにより切り替えること
により、波長を変動させる。出力光については、波長に
より分波して別々に光パワーを測定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光信号を光のままで増
幅することのできる光増幅器、例えばファイバ光増幅器
あるいは半導体レーザ光増幅器の試験に利用する。特に
入力波長に対する利得の変化、すなわちゲインチルトの
測定に関する。
幅することのできる光増幅器、例えばファイバ光増幅器
あるいは半導体レーザ光増幅器の試験に利用する。特に
入力波長に対する利得の変化、すなわちゲインチルトの
測定に関する。
【０００２】
【従来の技術】図５は光増幅器のゲインチルトを測定す
る従来の測定方法を示すブロック構成図である。
る従来の測定方法を示すブロック構成図である。
【０００３】この従来の方法では、まず、波長λ１で発
光する分布帰還型半導体レーザ４３を直流電源４１によ
り一定の光パワーＰ１ｉｎで発光させ、その出力光をコ
ネクタ４５を介して被測定光増幅器４０に入力する。そ
の一方で、光パワーメータ４７により被測定光増幅器４
０の出力光パワーＰ１ｏｕｔを測定すると、被測定光増
幅器４０の利得Ｇ１が、 Ｇ１＝Ｐ１ｏｕｔ／Ｐ１ｉｎ により算出される。
光する分布帰還型半導体レーザ４３を直流電源４１によ
り一定の光パワーＰ１ｉｎで発光させ、その出力光をコ
ネクタ４５を介して被測定光増幅器４０に入力する。そ
の一方で、光パワーメータ４７により被測定光増幅器４
０の出力光パワーＰ１ｏｕｔを測定すると、被測定光増
幅器４０の利得Ｇ１が、 Ｇ１＝Ｐ１ｏｕｔ／Ｐ１ｉｎ により算出される。
【０００４】次に、被測定光増幅器４０の入力をコネク
タ４６に接続替えし、波長λ２で発光する分布帰還型半
導体レーザ４４を直流電源４１により一定の光パワーＰ
２ｉｎで発光させる。これにより、波長λ２、光パワー
Ｐ２ｉｎの光が被測定光増幅器４０に入力される。光パ
ワーメータ４７により被測定光増幅器４０の出力光パワ
ーＰ２ｏｕｔを測定すると、被測定光増幅器４０の利得
Ｇ２が、 Ｇ２＝Ｐ２ｏｕｔ／Ｐ２ｉｎ により求められる。
タ４６に接続替えし、波長λ２で発光する分布帰還型半
導体レーザ４４を直流電源４１により一定の光パワーＰ
２ｉｎで発光させる。これにより、波長λ２、光パワー
Ｐ２ｉｎの光が被測定光増幅器４０に入力される。光パ
ワーメータ４７により被測定光増幅器４０の出力光パワ
ーＰ２ｏｕｔを測定すると、被測定光増幅器４０の利得
Ｇ２が、 Ｇ２＝Ｐ２ｏｕｔ／Ｐ２ｉｎ により求められる。
【０００５】この二つの利得Ｇ１、Ｇ２の差から、被測
定光増幅器４０のゲインチルトΔＧ／Δλが、 ΔＧ／Δλ＝（Ｇ２−Ｇ１）／（λ２−λ１） として求められる。
定光増幅器４０のゲインチルトΔＧ／Δλが、 ΔＧ／Δλ＝（Ｇ２−Ｇ１）／（λ２−λ１） として求められる。
【０００６】Ｐ１ｉｎ、Ｐ２ｉｎの値については、被測
定光増幅器４０の入力端においてあらかじめ測定しても
よく、分布帰還型半導体レーザ４３、４４の後方光を検
出した値からコネクタ４５、４６による挿入損失を補正
した値を用いてもよく、被測定光増幅器４０の入力端に
おいてその入力光を一定の割合で分岐してもよい。
定光増幅器４０の入力端においてあらかじめ測定しても
よく、分布帰還型半導体レーザ４３、４４の後方光を検
出した値からコネクタ４５、４６による挿入損失を補正
した値を用いてもよく、被測定光増幅器４０の入力端に
おいてその入力光を一定の割合で分岐してもよい。
【０００７】図６は利得特性とゲインチルトの測定例を
示す。ゲインチルトΔＧ／Δλは、波長に対する利得で
表される利得特性の傾きを示す。
示す。ゲインチルトΔＧ／Δλは、波長に対する利得で
表される利得特性の傾きを示す。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の測定方
法では、被測定光増幅器の入力光波長が変動しない状態
ではゲインチルトを測定できるものの、入力光波長が変
動する状態ではゲインチルトを測定できなかった。
法では、被測定光増幅器の入力光波長が変動しない状態
ではゲインチルトを測定できるものの、入力光波長が変
動する状態ではゲインチルトを測定できなかった。
【０００９】本発明は、このような課題を解決し、被測
定光増幅器の入力光波長が交流的に高い周波数で変動す
る状態でもその光増幅器のゲインチルトを測定すること
のできるゲインチルト測定器を提供することを目的とす
る。
定光増幅器の入力光波長が交流的に高い周波数で変動す
る状態でもその光増幅器のゲインチルトを測定すること
のできるゲインチルト測定器を提供することを目的とす
る。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の第一の観点によ
ると、互いに異なる波長で発光する複数の光源と、この
複数の光源を別々に互いに時間的に重ならないように発
光させる手段と、この複数の光源からのそれぞれの出力
光を被測定光増幅器に導く光導波手段と、被測定光増幅
器の出力光を波長毎に分波する光分波手段と、この光分
波手段により分波されたそれぞれの光パワーを測定する
手段とを備えたことを特徴とする光増幅器のゲインチル
ト測定器が提供される。
ると、互いに異なる波長で発光する複数の光源と、この
複数の光源を別々に互いに時間的に重ならないように発
光させる手段と、この複数の光源からのそれぞれの出力
光を被測定光増幅器に導く光導波手段と、被測定光増幅
器の出力光を波長毎に分波する光分波手段と、この光分
波手段により分波されたそれぞれの光パワーを測定する
手段とを備えたことを特徴とする光増幅器のゲインチル
ト測定器が提供される。
【００１１】本発明の第二の観点によると、互いに異な
る波長で発光する複数の光源と、この複数の光源をそれ
ぞれ連続的に発光させる手段と、この複数の光源の出力
光を時間的に切り替えて被測定光増幅器に導く光導波手
段と、被測定光増幅器の出力光を波長毎に分波する光分
波手段と、この光分波手段により分波されたそれぞれの
光パワーを測定する手段とを備えたことを特徴とする光
増幅器のゲインチルト測定器が提供される。
る波長で発光する複数の光源と、この複数の光源をそれ
ぞれ連続的に発光させる手段と、この複数の光源の出力
光を時間的に切り替えて被測定光増幅器に導く光導波手
段と、被測定光増幅器の出力光を波長毎に分波する光分
波手段と、この光分波手段により分波されたそれぞれの
光パワーを測定する手段とを備えたことを特徴とする光
増幅器のゲインチルト測定器が提供される。
【００１２】本発明の第三の観点によると、複数の波長
で発光してその出力光を上記被測定光増幅器に入射する
光源と、この光源の発光波長を時間的に切り替える手段
と、被測定光増幅器の出力光を波長毎に分波する光分波
手段と、この光分波手段により分波されたそれぞれの光
パワーを測定する手段とを備えたことを特徴とする光増
幅器のゲインチルト測定器が提供される。
で発光してその出力光を上記被測定光増幅器に入射する
光源と、この光源の発光波長を時間的に切り替える手段
と、被測定光増幅器の出力光を波長毎に分波する光分波
手段と、この光分波手段により分波されたそれぞれの光
パワーを測定する手段とを備えたことを特徴とする光増
幅器のゲインチルト測定器が提供される。
【００１３】
【作用】被測定光増幅器に入力する複数の波長の光を時
間的に重ならないように発光させるか、波長の異なる複
数の光を光スイッチにより切り替えて被測定光増幅器に
入力する。したがって、複数の波長を高速に切り替える
ことができ、特に二つの波長の光を交流的に高い周波数
で変動させることができる。出力光については、波長に
より分波して波長毎に別々に光パワーを測定する。これ
により、被測定光増幅器の入力光波長が変動する状態に
おいてそれぞれの波長の利得を測定でき、そのような状
態における被測定光増幅器のゲインチルトを測定でき
る。
間的に重ならないように発光させるか、波長の異なる複
数の光を光スイッチにより切り替えて被測定光増幅器に
入力する。したがって、複数の波長を高速に切り替える
ことができ、特に二つの波長の光を交流的に高い周波数
で変動させることができる。出力光については、波長に
より分波して波長毎に別々に光パワーを測定する。これ
により、被測定光増幅器の入力光波長が変動する状態に
おいてそれぞれの波長の利得を測定でき、そのような状
態における被測定光増幅器のゲインチルトを測定でき
る。
【００１４】
【実施例】図１は本発明の第一実施例を示すブロック構
成図である。
成図である。
【００１５】この実施例装置は、被測定光増幅器１０に
入射する光波長の差に対するその被測定光増幅器１０の
利得の差を測定する光増幅器のゲインチルト測定器であ
り、互いに異なる波長で発光する複数の光源として分布
帰還型半導体レーザ２５、２６を備え、この二つの分布
帰還型半導体レーザ２５、２６を別々に互いに時間的に
重ならないように発光させる手段として一つの直流電源
２１、電気スイッチ２３および高周波制御回路２４を備
え、二つの分布帰還型半導体レーザ２５、２６からのそ
れぞれの出力光を被測定光増幅器１０に導く光導波手段
として光カプラ２９を備え、被測定光増幅器１０の出力
光を波長毎に分波する光分波手段として光分波器３１を
備え、分波されたそれぞれの光の強度を測定する手段と
して光パワーメータ３２、３３を備える。
入射する光波長の差に対するその被測定光増幅器１０の
利得の差を測定する光増幅器のゲインチルト測定器であ
り、互いに異なる波長で発光する複数の光源として分布
帰還型半導体レーザ２５、２６を備え、この二つの分布
帰還型半導体レーザ２５、２６を別々に互いに時間的に
重ならないように発光させる手段として一つの直流電源
２１、電気スイッチ２３および高周波制御回路２４を備
え、二つの分布帰還型半導体レーザ２５、２６からのそ
れぞれの出力光を被測定光増幅器１０に導く光導波手段
として光カプラ２９を備え、被測定光増幅器１０の出力
光を波長毎に分波する光分波手段として光分波器３１を
備え、分波されたそれぞれの光の強度を測定する手段と
して光パワーメータ３２、３３を備える。
【００１６】直流電源２１の出力は、電気スイッチ２３
を介して半導体分布帰還型半導体レーザ２５、２６の一
方に供給される。電気スイッチ２３を高周波制御回路２
４により交流的に高い周波数で切り替えると、分布帰還
型半導体レーザ２５、２６が交流的に交互に発光する。
分布帰還型半導体レーザ２５、２６の発光波長はそれぞ
れλ１、λ２であり、その出力光路を光カプラ２９で合
流させることにより、波長λ１、λ２が交互に交流的に
切り替わる光が得られる。この光を被測定光増幅器１０
に入力する。ここで、被測定光増幅器１０に入力される
光波長λ１、λ２の平均入力光パワーをそれぞれＰ１ｉ
ｎ′、Ｐ２ｉｎ′とする。
を介して半導体分布帰還型半導体レーザ２５、２６の一
方に供給される。電気スイッチ２３を高周波制御回路２
４により交流的に高い周波数で切り替えると、分布帰還
型半導体レーザ２５、２６が交流的に交互に発光する。
分布帰還型半導体レーザ２５、２６の発光波長はそれぞ
れλ１、λ２であり、その出力光路を光カプラ２９で合
流させることにより、波長λ１、λ２が交互に交流的に
切り替わる光が得られる。この光を被測定光増幅器１０
に入力する。ここで、被測定光増幅器１０に入力される
光波長λ１、λ２の平均入力光パワーをそれぞれＰ１ｉ
ｎ′、Ｐ２ｉｎ′とする。
【００１７】被測定光増幅器１０により光増幅された出
力光は、光分波器３１により波長λ１、λ２に分波さ
れ、それぞれ光パワーメータ３２、３３に入射する。こ
れらの光パワーメータ３２、３３でそれぞれの光パワー
を測定することにより、波長λ１、λ２についての平均
出力光パワーがわかる。これらをそれぞれＰ１ｏｕ
ｔ′、Ｐ２ｏｕｔ′とする。
力光は、光分波器３１により波長λ１、λ２に分波さ
れ、それぞれ光パワーメータ３２、３３に入射する。こ
れらの光パワーメータ３２、３３でそれぞれの光パワー
を測定することにより、波長λ１、λ２についての平均
出力光パワーがわかる。これらをそれぞれＰ１ｏｕ
ｔ′、Ｐ２ｏｕｔ′とする。
【００１８】この測定から、波長λ１、λ２のそれぞれ
における利得Ｇ１′、Ｇ２′が、それぞれの波長の光の
平均入力光パワーＰ１ｉｎ′、Ｐ２ｉｎ′と、平均出力
光パワーＰ１ｏｕｔ′、Ｐ２ｏｕｔ′とにより求められ
る。さらに、波長λ１、λ２と、そのときの利得Ｇ
１′、Ｇ２′とから、ゲインチルトΔＧ′／Δλが算出
される。これらの算出式は、 Ｇ１′＝Ｐ１ｏｕｔ′／Ｐ１ｉｎ′ Ｇ２′＝Ｐ２ｏｕｔ′／Ｐ２ｉｎ′ ΔＧ′／Δλ＝（Ｇ２′−Ｇ１′）／（λ２−λ１） である。
における利得Ｇ１′、Ｇ２′が、それぞれの波長の光の
平均入力光パワーＰ１ｉｎ′、Ｐ２ｉｎ′と、平均出力
光パワーＰ１ｏｕｔ′、Ｐ２ｏｕｔ′とにより求められ
る。さらに、波長λ１、λ２と、そのときの利得Ｇ
１′、Ｇ２′とから、ゲインチルトΔＧ′／Δλが算出
される。これらの算出式は、 Ｇ１′＝Ｐ１ｏｕｔ′／Ｐ１ｉｎ′ Ｇ２′＝Ｐ２ｏｕｔ′／Ｐ２ｉｎ′ ΔＧ′／Δλ＝（Ｇ２′−Ｇ１′）／（λ２−λ１） である。
【００１９】図２は本発明の第二実施例を示すブロック
構成図である。
構成図である。
【００２０】この実施例装置は、分布帰還型半導体レー
ザ２５、２６を交互に発光させるのではなく、それぞれ
については連続的に発光させ、その出力光を時間的に切
り替えて被測定光増幅器１０に導くことが第一実施例と
異なる。
ザ２５、２６を交互に発光させるのではなく、それぞれ
については連続的に発光させ、その出力光を時間的に切
り替えて被測定光増幅器１０に導くことが第一実施例と
異なる。
【００２１】すなわち、互いに異なる波長で発光する複
数の光源として分布帰還型半導体レーザ２５、２６を備
え、この二つの光源を分布帰還型半導体レーザ２５、２
６をそれぞれ連続的に発光させる手段として直流電源２
１、２２を備え、この二つの分布帰還型半導体レーザ２
５、２６の出力光を時間的に切り替えて被測定光増幅器
１０に導く光導波手段として光スイッチ２７および高周
波制御回路２８を備え、被測定光増幅器１０の出力光を
波長毎に分波する光分波手段として光分波器３１を備
え、この光分波器３１により分波された光のそれぞれの
強度を測定する手段として光パワーメータ３２、３３を
備える。
数の光源として分布帰還型半導体レーザ２５、２６を備
え、この二つの光源を分布帰還型半導体レーザ２５、２
６をそれぞれ連続的に発光させる手段として直流電源２
１、２２を備え、この二つの分布帰還型半導体レーザ２
５、２６の出力光を時間的に切り替えて被測定光増幅器
１０に導く光導波手段として光スイッチ２７および高周
波制御回路２８を備え、被測定光増幅器１０の出力光を
波長毎に分波する光分波手段として光分波器３１を備
え、この光分波器３１により分波された光のそれぞれの
強度を測定する手段として光パワーメータ３２、３３を
備える。
【００２２】光スイッチ２７としては、例えばＬｉＮｂ
Ｏ3 により形成された２入力１出力のものを用いる。こ
の光スイッチ２７を高周波制御回路２８により交流的に
高い周波数で切り替えることにより、波長λ１、λ２が
交互に交流的に切り替わる光が得られる。この光を被測
定光増幅器１０に入力する。
Ｏ3 により形成された２入力１出力のものを用いる。こ
の光スイッチ２７を高周波制御回路２８により交流的に
高い周波数で切り替えることにより、波長λ１、λ２が
交互に交流的に切り替わる光が得られる。この光を被測
定光増幅器１０に入力する。
【００２３】以下、第一実施例と同様にして、ゲインチ
ルトΔＧ′／Δλを求めることができる。
ルトΔＧ′／Δλを求めることができる。
【００２４】図３は本発明の第三実施例を示すブロック
構成図である。
構成図である。
【００２５】この実施例装置は、二つの光源で別々の波
長を発光させるのではなく、発光波長が可変な一個のチ
ューナブルレーザにより二つの波長を交互に発生するこ
とが第一実施例および第二実施例と異なる。
長を発光させるのではなく、発光波長が可変な一個のチ
ューナブルレーザにより二つの波長を交互に発生するこ
とが第一実施例および第二実施例と異なる。
【００２６】すなわち、複数の波長で発光してその出力
光を被測定光増幅器１０に入射する光源としてチューナ
ブルレーザ２１０および直流電源２１１を備え、このチ
ューナブルレーザ２１０の発光波長を時間的に切り替え
る手段として高周波電流源２１２を備え、被測定光増幅
器の出力光を波長毎に分波する光分波手段として光分波
器３１を備え、この光分波器３１により分波されたそれ
ぞれの光パワーを測定する手段として光パワーメータ３
２、３３を備える。
光を被測定光増幅器１０に入射する光源としてチューナ
ブルレーザ２１０および直流電源２１１を備え、このチ
ューナブルレーザ２１０の発光波長を時間的に切り替え
る手段として高周波電流源２１２を備え、被測定光増幅
器の出力光を波長毎に分波する光分波手段として光分波
器３１を備え、この光分波器３１により分波されたそれ
ぞれの光パワーを測定する手段として光パワーメータ３
２、３３を備える。
【００２７】チューナブルレーザ２１０の一方の電極に
は直流電源２１１から電源を注入し、一定のパワーで発
光させる。さらに、チューナブルレーザ２１０のもう一
方の電極に注入される電流の値を高周波電流源２１２に
より変化させることにより、チューナブルレーザ２１０
の発光波長がλ１とλ２とで交流的に高い周波数で変化
する。これを被測定光増幅器１０に入力する。以下、第
一実施例および第二実施例と同様にして、ゲインチルト
ΔＧ′／Δλを求めることができる。
は直流電源２１１から電源を注入し、一定のパワーで発
光させる。さらに、チューナブルレーザ２１０のもう一
方の電極に注入される電流の値を高周波電流源２１２に
より変化させることにより、チューナブルレーザ２１０
の発光波長がλ１とλ２とで交流的に高い周波数で変化
する。これを被測定光増幅器１０に入力する。以下、第
一実施例および第二実施例と同様にして、ゲインチルト
ΔＧ′／Δλを求めることができる。
【００２８】以上の実施例において、被測定光増幅器４
０の平均入力光パワーＰ１ｉｎ′、Ｐ２ｉｎ′について
は、分布帰還型半導体レーザ２５、２６またはチューナ
ブルレーザ２１０の平均出力光パワーに基づいて求めて
もよく、被測定光増幅器４０の入力端においてその入力
光を一定の割合で分岐し、それを波長分波してそれぞれ
測定してもよい。
０の平均入力光パワーＰ１ｉｎ′、Ｐ２ｉｎ′について
は、分布帰還型半導体レーザ２５、２６またはチューナ
ブルレーザ２１０の平均出力光パワーに基づいて求めて
もよく、被測定光増幅器４０の入力端においてその入力
光を一定の割合で分岐し、それを波長分波してそれぞれ
測定してもよい。
【００２９】図４はゲインチルトの測定結果例を示す。
この測定は図６に示した測定例と同一の被測定光増幅器
について測定したものであり、被測定光増幅器の入力光
波長を１００ＭＨｚの周期で交流的に変動させた場合の
測定結果を示す。この測定結果を図６に示したものと比
較すると、入力光波長が変動しないときにはゲインチル
トが０．０３２ｄＢ／ｎｍであったのに対し、入力光波
長を変動させたときには１．０ｄＢ／ｎｍと３１倍大き
くなっていたことがわかる。このように、入力光波長が
変動しない場合と変動する場合とでは光増幅器のゲイン
チルトが異なり、本発明によりはじめてこの違いを測定
することができた。
この測定は図６に示した測定例と同一の被測定光増幅器
について測定したものであり、被測定光増幅器の入力光
波長を１００ＭＨｚの周期で交流的に変動させた場合の
測定結果を示す。この測定結果を図６に示したものと比
較すると、入力光波長が変動しないときにはゲインチル
トが０．０３２ｄＢ／ｎｍであったのに対し、入力光波
長を変動させたときには１．０ｄＢ／ｎｍと３１倍大き
くなっていたことがわかる。このように、入力光波長が
変動しない場合と変動する場合とでは光増幅器のゲイン
チルトが異なり、本発明によりはじめてこの違いを測定
することができた。
【００３０】以上の実施例では入力光波長として二つの
波長を用いた例を示したが３以上の波長を用いてゲイン
チルトを曲線的に求めることもできる。
波長を用いた例を示したが３以上の波長を用いてゲイン
チルトを曲線的に求めることもできる。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光増幅器
のゲインチルト測定装置は、被測定光増幅器の入力光波
長が交流的に変化する状態での被測定光増幅器のゲイン
チルトを測定でき、ファイバ光増幅器あるいは半導体レ
ーザ光増幅器などの光増幅器の動作特性を検査するうえ
で効果がある。
のゲインチルト測定装置は、被測定光増幅器の入力光波
長が交流的に変化する状態での被測定光増幅器のゲイン
チルトを測定でき、ファイバ光増幅器あるいは半導体レ
ーザ光増幅器などの光増幅器の動作特性を検査するうえ
で効果がある。
【図１】本発明第一実施例のゲインチルト測定装置を示
すブロック構成図。
すブロック構成図。
【図２】本発明第二実施例のゲインチルト測定装置を示
すブロック構成図。
すブロック構成図。
【図３】本発明第三実施例のゲインチルト測定装置を示
すブロック構成図。
すブロック構成図。
【図４】被測定光増幅器の入力光波長を１００ＭＨｚの
周期で変動させた場合のゲインチルトの測定結果例を示
す図。
周期で変動させた場合のゲインチルトの測定結果例を示
す図。
【図５】従来の測定方法を示すブロック構成図。
【図６】入力光波長を変動させない場合のゲインチルト
の測定結果例を示す図。
の測定結果例を示す図。
１０、４０ 被測定光増幅器 ２１、２２、４１、４２、２１１ 直流電源 ２３ 電気スイッチ ２４、２８ 高周波制御回路 ２５、２６、４３、４４ 分布帰還型半導体レーザ ２７ 光スイッチ ２９ 光カプラ ３１ 光分波器 ３２、３３、４７ 光パワーメータ ４５、４６ コネクタ ２１０ チューナブルレーザ ２１２ 高周波電流源
Claims (3)
- 【請求項１】 被測定光増幅器に入射する光波長の差に
対するその被測定光増幅器の利得の差を測定する光増幅
器のゲインチルト測定器において、 互いに異なる波長で発光する複数の光源と、 この複数の光源を別々に互いに時間的に重ならないよう
に発光させる手段と、 この複数の光源からのそれぞれの出力光を上記被測定光
増幅器に導く光導波手段と、 上記被測定光増幅器の出力光を波長毎に分波する光分波
手段と、 この光分波手段により分波されたそれぞれの光の強度を
測定する手段とを備えたことを特徴とする光増幅器のゲ
インチルト測定器。 - 【請求項２】 被測定光増幅器に入射する光波長の差に
対するその被測定光増幅器の利得の差を測定する光増幅
器のゲインチルト測定器において、 互いに異なる波長で発光する複数の光源と、 この複数の光源をそれぞれ連続的に発光させる手段と、 この複数の光源の出力光を時間的に切り替えて上記被測
定光増幅器に導く光導波手段と、 上記被測定光増幅器の出力光を波長毎に分波する光分波
手段と、 この光分波手段により分波された光のそれぞれの強度を
測定する手段とを備えたことを特徴とする光増幅器のゲ
インチルト測定器。 - 【請求項３】 被測定光増幅器に入射する光波長の差に
対するその被測定光増幅器の利得の差を測定する光増幅
器のゲインチルト測定器において、 複数の波長で発光してその出力光を上記被測定光増幅器
に入射する光源と、 この光源の発光波長を時間的に切り替える手段と、 上記被測定光増幅器の出力光を波長毎に分波する光分波
手段と、 この光分波手段により分波されたそれぞれの光パワーを
測定する手段とを備えたことを特徴とする光増幅器のゲ
インチルト測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1656793A JP3312359B2 (ja) | 1993-02-03 | 1993-02-03 | 光増幅器のゲインチルト測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1656793A JP3312359B2 (ja) | 1993-02-03 | 1993-02-03 | 光増幅器のゲインチルト測定器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06232480A true JPH06232480A (ja) | 1994-08-19 |
| JP3312359B2 JP3312359B2 (ja) | 2002-08-05 |
Family
ID=11919872
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1656793A Expired - Lifetime JP3312359B2 (ja) | 1993-02-03 | 1993-02-03 | 光増幅器のゲインチルト測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3312359B2 (ja) |
-
1993
- 1993-02-03 JP JP1656793A patent/JP3312359B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3312359B2 (ja) | 2002-08-05 |
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