JP3312294B2 - 複数軸ガルバノスキャナを用いたレーザ加工装置及びレーザ加工方法 - Google Patents

複数軸ガルバノスキャナを用いたレーザ加工装置及びレーザ加工方法

Info

Publication number
JP3312294B2
JP3312294B2 JP12542297A JP12542297A JP3312294B2 JP 3312294 B2 JP3312294 B2 JP 3312294B2 JP 12542297 A JP12542297 A JP 12542297A JP 12542297 A JP12542297 A JP 12542297A JP 3312294 B2 JP3312294 B2 JP 3312294B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
processing
mask
laser beam
laser processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP12542297A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1058178A (ja
Inventor
圭二 礒
尚 桑原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Heavy Industries Ltd filed Critical Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority to JP12542297A priority Critical patent/JP3312294B2/ja
Priority to KR10-1998-0003656A priority patent/KR100446052B1/ko
Priority to TW087101750A priority patent/TW396080B/zh
Priority to CN98100506A priority patent/CN1126632C/zh
Priority to US09/021,377 priority patent/US6058132A/en
Publication of JPH1058178A publication Critical patent/JPH1058178A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3312294B2 publication Critical patent/JP3312294B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザ加工装置及び
レーザ加工方法に関し、特にプリント基板への微小なビ
アホールの形成に適したレーザ加工装置及びレーザ加工
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器の小形化、高機能化に伴
い、プリント配線基板に実装される実装部品の高密度
化、狭リードピッチ化が進んでいる。このような進歩に
対応するためには、プリント配線基板に形成するビアホ
ールの径も0.3(mm)以下とすることが要求され
る。
【0003】これまでのプリント配線基板に対する穴あ
け加工は、NCドリルによる機械加工や露光加工(フォ
トビア方式)により行われている。しかし、NCドリル
では、穴の径は0.2(mm)が限界で、ドリルが折れ
る場合も多い。一方、フォトビア方式では0.15(m
m)が限界で、しかも材料費が高くなる。
【0004】上記のような問題点を解消する手段とし
て、最近、レーザ光によって穴あけ加工を行うレーザ加
工装置が提供されている。このレーザ加工装置は、レー
ザ発振器でパルス状のレーザ光を発生し、一つの穴に対
するパルス個数やエネルギーを調整することで所望の深
さの穴あけ加工を行うものである。一方、穴の径につい
ては、レーザ光の導光路に径を規定するためのマスクを
配置し、このマスクでレーザ光を絞り込むことで被加工
部材に設ける穴を小さくすることができる。
【0005】しかも、レーザ加工によれば、金属にダメ
ージを与えないので、絶縁層フィルムのラミネート後の
加工やベースフィルム側からの加工においても、導体パ
ターンに損傷なく加工できるという利点がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】レーザ発振器として
は、エキシマレーザが用いられているが、エッチ速度
(パルス当たりの加工深さ)の関係上、加工処理速度が
比較的遅く、運転コストが高いという問題点がある。こ
れに対し、パルス幅が狭く高ピークパワー、高エネルギ
ー密度の得られるTEA(Transversely
Excited Atmospheric Press
ure)CO2 レーザが注目を浴びている。このTEA
CO2 レーザを使用したレーザ加工装置は、エッチ速
度がエキシマレーザに比べて1桁以上大きいので1穴当
たりの加工に必要なレーザ照射パルス数が少なくて済
み、加工速度を速くできる。
【0007】しかしながら、上記のようなTEA CO
2 レーザを使用した場合でも加工速度には制限があり、
1穴当たりの加工コストを低減するための改良が望まれ
ている。
【0008】そこで、本発明の課題は、加工速度を大幅
に向上させることのできるレーザ加工装置及びレーザ加
工方法を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、レーザ発振器
からのレーザ光を被加工部材に照射して加工を行うレー
ザ加工装置において、前記レーザ発振器からのレーザ光
を複数に分割する分割手段と、分割された複数のレーザ
光をそれぞれ振らせるための複数のガルバノスキャナ
と、当該振られたレーザ光の焦点を合わせるための複数
のfθレンズと、レーザ光のビーム径を絞り込むための
マスクとを有し、前記マスクと前記複数のfθレンズと
の間の距離を可変にし、分割された複数のレーザ光で被
加工部材に対して同時加工することを特徴とする。
【0010】
【0011】
【0012】本発明によるレーザ加工方法は、レーザ発
振器からのレーザ光を被加工部材に照射して加工を行う
レーザ加工方法において、前記レーザ発振器からのレー
ザ光を複数に分割し、分割された複数のレーザ光をそれ
ぞれ、当該レーザ光をそれぞれ振らせるための複数のガ
ルバノスキャナと、当該ガルバノスキャナで振られたレ
ーザ光の焦点を合わせるための複数のfθレンズとを通
過させ、レーザ光のビーム径を絞り込むためのマスクと
前記fθレンズとの間の距離を変えることにより縮小率
を変えて、分割された複数のレーザ光を被加工部材に照
射して同時加工を行うことを特徴とする。
【0013】
【0014】
【0015】
【作用】本発明では、レーザ発振器から出射されるレー
ザ光は、通常、一辺が十数(mm)の正方形断面を有し
ており、これがマスクで絞り込まれてから被加工部材に
照射されるという点に着目している。すなわち、レーザ
発振器で発生されたレーザ光は、その一部のみが加工用
に使用されていることになる。
【0016】本発明においては、レーザ発振器からのレ
ーザ光を、そのピークパワーあるいはエネルギー密度を
低下させることなく複数に分割できるようにし、分割さ
れたそれぞれのレーザ光で複数あるいは共通の被加工部
材に対して同時加工を行うことで、結果として加工速度
を向上させている。
【0017】
【発明の実施の形態】以下に、図面を参照して本発明の
好ましい実施の形態について説明する。図1の第1の実
施の形態において、TEA CO2 レーザによるレーザ
発振器10で発生されたパルス状のレーザ光は、45°
反射ミラー11によりその断面積に関して2分割され、
90°角度を変えてそれぞれマスク13a,13bに導
かれる。マスク13a,13bでは、ビアホール径を規
定する穴を通過することによって、分割されたレーザ光
のビーム径が絞り込まれてX−Yスキャナ14a,14
bに導かれる。X−Yスキャナ14a,14bはレーザ
光を振らせるためのものであり、振られたレーザ光は焦
点合わせ用レンズとして作用しfθレンズとも呼ばれる
加工レンズ15a,15bを通してワークステージ16
a,16b上におかれたワーク(例えば、プリント配線
基板)17a,17bに照射される。ワークステージ1
6a,16bはX軸方向の駆動機構とY軸方向の駆動機
構とを有して、ワーク17a,17bをX−Y平面上で
移動させて位置調整することができる。
【0018】図2(a)において、45°反射ミラー1
1は、90°で交差する2つの反射面11a,11bを
持つことにより、入射したレーザ光を断面積に関して2
等分することができる。例えば、図2(b)に示すよう
に、レーザ光の断面積が12×12(mm)の正方形の
場合、6×12(mm)の断面積を持つ2つのレーザ光
に等分割することができる。マスク13a,13bで
は、縮小率Mとビアホールの径に応じて決まる径の穴
(通常、直径1〜2mm)を通して分割されたレーザ光
を絞り込むが、この穴の直径は分割されたレーザ光の断
面積に比べて十分小さいので、レーザ光を分割すること
による不都合は生じない。
【0019】なお、同様な原理で、反射面を3つ有する
3角錐状、反射面を4つ有する4角錐状の反射ミラーを
用いれば、レーザ光を3等分、4等分することができ
る。
【0020】図3はレーザ光の分割手段の他の例を示
し、50%反射ミラー21を用いてレーザ光を2分割す
る例である。この50%反射ミラー21は、半分に反射
材料を塗布して反射ミラー21aとし、残りの半分は全
透過形の透明部21bとすることでレーザ光を断面積に
関して2等分することができる。
【0021】図4はレーザ光の分割手段の更に他の例を
示し、光軸に対して45°の角度で反射面31aを有す
るエッジ型ミラー31を用いてレーザ光を2分割する例
である。
【0022】本発明は、上記のような反射ミラーを用い
ることで、レーザ光のエネルギー密度を低下させること
なくレーザ光を分割できる点に特徴を有する。
【0023】図5において、X−Yスキャナ14a(1
4b)は、2つのガルバノミラー14−1,14−2を
組み合わせて成るガルバノスキャナと呼ばれるものであ
る。すなわち、2つの反射ミラーをガルバノメータの駆
動原理で独立して回動させることにより、レーザ光を加
工レンズ15を通してワーク17の所望の複数の位置に
連続して照射することができる。
【0024】図6を参照してマスクの好ましい例につい
て説明する。このマスク13は、周方向に等角度間隔を
おいて異なる径の穴(ここでは16個)H1〜H16を
有する円板状のマスク板13−1と、このマスク板13
−1よりやや大きく、マスク板13−1の各穴H1〜H
16に対応する領域に窓W1〜W8を有してマスク板1
3−1を保持するマスクホルダ13−2と、図6(c)
に示すように一体に組み合わされたマスク板13−1と
マスクホルダ13−2とを回転駆動するモータを含む駆
動部13−3とを含む。
【0025】このマスク13は、マスク板13−1が回
転した時穴H1〜H16がレーザ光の光路を通過するよ
うに配置される。言い換えれば、マスク板13−1の回
転軸がレーザ光の光路と平行であり、しかも穴H1〜H
16の中心を結ぶ仮想円がレーザ光の光路に位置するよ
うに配置される。マスク13は更に、図示していない
が、マスク板13−1とマスクホルダ13−2との組合
わせ体あるいは機構全体を、マスク板13−1の面に関
して平行に位置を微調整することで、レーザ光の光路に
対応した穴の中心位置を微調整するマスク位置2軸微調
整機構を備えている。
【0026】マスク板13−1の材料としては、SUS
等の金属材が使用され、レーザ光の反射光がレーザ導光
系の他の光学部品に影響を及ぼさないように、乱反射さ
せる必要があるので、表面にショットブラスト等の加工
を施す。マスク板13−1の穴の径は、高密度多層プリ
ント配線基板に使用されるエポキシやPI等の樹脂に対
して加工性が良く、加工面のエネルギー密度(フルエン
ス)が10J/cm2程度になるようにマスク投影法の
原理にもとづいて設計される。本例では縮小率(M値)
は10程度に設計している。この場合、マスク板13−
1の穴H10が選択されると、ビアホールの径は0.1
(mm)となる。この縮小率(M値)は、マスク板13
−1と加工レンズとの間の距離を変えることで任意に設
定できる。
【0027】現在使用されるビアホールの径は0.1
(mm)が主流であるため、マスク板13−1に設けら
れる穴H1〜H16の径は1〜2(mm)を主としてそ
れらの前後の値、すなわち、H1:8,H2:6,H
3:4,H4:3,H5:2,H6:1.8,H7:
1.6,H8:1.4,H9:1.2,H10:1.
0,H11:0.9,H12:0.8,H13:0.
7,H14:0.6,H15:0.5,H16:0.4
(いずれも単位はmm)としている。これらの穴は大き
い方から順に反時計回りに配列されている。
【0028】駆動部13−3は、図示しない主制御部の
制御下でマスク板13−1の回転駆動を行う。すなわ
ち、主制御部ではオペレータにより設定されるドリルデ
ータ、CADファイル等のマスタデータにもとづいて指
定されたビアホールの径に対応する穴を選択し、この穴
がレーザ光の光路に位置するようにマスク板13−1を
回転させる。一般に、ドリルデータ内ではTコードで穴
径が指定されている。本例では、このTコードにもとづ
いてマスク板13−1を回転させることで、所望の穴径
を設定できる。
【0029】図1に戻って、X−Yスキャナ14aと1
4bとは、45°反射ミラー11に関して線対称の関係
で配置されるのが好ましい。これは、レーザ光にはビー
ム拡がり角、すなわち光路長が長くなるにつれてビーム
径が大きくなるという性質があるからである。これに対
し、上記のようにすることでレーザ発振器10における
レーザ光の出射口からワーク17a,17bの加工面ま
での距離を同じにし易くなり、加工面でのレーザ光のエ
ネルギー密度を同一にすることができる。
【0030】いずれにしても、この実施の形態において
は、レーザ発振器10からのレーザ光をそのエネルギー
密度を低下させることなく2分割して2つのレーザ加工
系に導き、2つのワーク17a,17bに対してまった
く同じ穴あけ加工を行うことで、加工速度を2倍にする
ことができる。したがって、1穴当たりの加工コストを
大幅に低減することができる。
【0031】図7を参照して、本発明の第2の実施の形
態について説明する。この第2の実施の形態は、ワーク
ステージ16上に置かれた1つのワーク17に対してX
−Yスキャナ14a、14bにより同時に穴あけ加工を
行うようにしたものである。レーザ加工装置としての構
成は、図1と同じであり、作図上、X−Yスキャナ14
a、14bは、ワーク17の両側に加工を行うようにな
っているが、X−Yスキャナ14a、14bは接近して
配置することが可能であり、ワーク17の接近した領域
に同時加工を行うことができることは言うまでも無い。
また、2つのワーク17を加工するための加工パターン
は同じでも良いし、別の加工パターンで加工することも
できる。
【0032】なお、本発明はTEA CO2 レーザに使
用した場合に最も有効であるが、既存のCO2 レーザ、
YAGレーザ、エキシマレーザ等のどのような加工装置
にも適用可能であり、レーザ光の形態もパルス状、連続
波のいずれでも良い。また、被加工物は、特にプリント
配線基板やフレキシブルプリント配線基板に適している
が、その他の樹脂、ガラスにも適用できる。
【0033】
【発明の効果】本発明によれば、1つのレーザ発振器か
らのレーザ光をエネルギー密度の低減なしで複数に分割
して複数の加工系に導入できるようにしたことにより、
同時加工によってワークの加工速度を大幅に向上させる
ことができ、結果として加工コストを大幅に低下させる
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるレーザ加工装置の第1の実施の形
態の概略構成を示すブロック図である。
【図2】図1に示された45°反射ミラーの作用を説明
するための拡大図(図a)、レーザ光の断面形状を説明
するための図(図b)である。
【図3】図1に示された45°反射ミラーの代わりの例
を説明するための図である。
【図4】図1に示された45°反射ミラーの更に他の代
わりの例を説明するための図である。
【図5】図1に示されたX−Yスキャナの概略構成を示
した図である。
【図6】図1に示されたマスクの他の例の構成を示した
図である。
【図7】本発明によるレーザ加工装置の第2の実施の形
態の概略構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
11 45°反射ミラー 11a,11b 反射面 15,15a,15b 加工レンズ 16,16a,16b ワークステージ 17,17a,17b ワーク 21 50%反射ミラー 31 エッジ型ミラー
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平7−32183(JP,A) 特開 平8−39283(JP,A) 特開 平7−124763(JP,A) 特開 平7−294833(JP,A) 特開 平5−69170(JP,A) 特開 平10−156570(JP,A) 実開 昭60−115222(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B23K 26/06 B23K 26/08 G02B 26/10 H05K 3/00

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ発振器からのレーザ光を被加工部
    材に照射して加工を行うレーザ加工装置において、 前記レーザ発振器からのレーザ光を複数に分割する分割
    手段と、 分割された複数のレーザ光をそれぞれ振らせるための複
    数のガルバノスキャナと、 当該振られたレーザ光の焦点を合わせるための複数のf
    θレンズと、 レーザ光のビーム径を絞り込むためのマスクとを有し、 前記マスクと前記複数のfθレンズとの間の距離を可変
    にし、 分割された複数のレーザ光で被加工部材に対して同時加
    工することを特徴とするレーザ加工装置。
  2. 【請求項2】 レーザ発振器からのレーザ光を被加工部
    材に照射して加工を行うレーザ加工方法において、 前記レーザ発振器からのレーザ光を複数に分割し、 分割された複数のレーザ光をそれぞれ、当該レーザ光を
    それぞれ振らせるための複数のガルバノスキャナと、当
    該ガルバノスキャナで振られたレーザ光の焦点を合わせ
    るための複数のfθレンズとを通過させ、 レーザ光のビーム径を絞り込むためのマスクと前記fθ
    レンズとの間の距離を変えることにより縮小率を変え
    て、分割された複数のレーザ光を被加工部材に照射して
    同時加工を行うことを特徴とするレーザ加工方法。
JP12542297A 1996-05-17 1997-05-15 複数軸ガルバノスキャナを用いたレーザ加工装置及びレーザ加工方法 Expired - Fee Related JP3312294B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12542297A JP3312294B2 (ja) 1996-05-17 1997-05-15 複数軸ガルバノスキャナを用いたレーザ加工装置及びレーザ加工方法
KR10-1998-0003656A KR100446052B1 (ko) 1997-05-15 1998-02-09 다수의갈바노스캐너를사용한레이저빔가공장치
TW087101750A TW396080B (en) 1996-05-17 1998-02-10 Laser beam machining apparatus using a plurality of galvanoscanners
CN98100506A CN1126632C (zh) 1997-05-15 1998-02-10 使用多个电扫描装置的激光光束加工设备和加工方法
US09/021,377 US6058132A (en) 1997-05-15 1998-02-10 Laser beam machining apparatus using a plurality of galvanoscanners

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12301596 1996-05-17
JP8-123015 1996-05-17
JP12542297A JP3312294B2 (ja) 1996-05-17 1997-05-15 複数軸ガルバノスキャナを用いたレーザ加工装置及びレーザ加工方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1058178A JPH1058178A (ja) 1998-03-03
JP3312294B2 true JP3312294B2 (ja) 2002-08-05

Family

ID=26460035

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12542297A Expired - Fee Related JP3312294B2 (ja) 1996-05-17 1997-05-15 複数軸ガルバノスキャナを用いたレーザ加工装置及びレーザ加工方法

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP3312294B2 (ja)
TW (1) TW396080B (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6888096B1 (en) 1999-09-28 2005-05-03 Sumitomo Heavy Industries, Ltd. Laser drilling method and laser drilling device
JP2001105164A (ja) 1999-10-07 2001-04-17 Sumitomo Heavy Ind Ltd レーザ穴あけ加工方法及び加工装置
JP6783165B2 (ja) * 2017-02-28 2020-11-11 ビアメカニクス株式会社 レーザ加工装置及びレーザ加工方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW396080B (en) 2000-07-01
JPH1058178A (ja) 1998-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100446052B1 (ko) 다수의갈바노스캐너를사용한레이저빔가공장치
US6888096B1 (en) Laser drilling method and laser drilling device
KR100691924B1 (ko) 재료 가공 장치 및 방법
US6720524B1 (en) Method and apparatus for laser drilling
JP3213882B2 (ja) レーザ加工装置及び加工方法
JP3194250B2 (ja) 2軸レーザ加工機
JP3257157B2 (ja) Co2レーザ穴加工装置及び方法
JPH09308983A (ja) レーザ加工装置
JP3323987B2 (ja) レーザ加工装置
JP3312294B2 (ja) 複数軸ガルバノスキャナを用いたレーザ加工装置及びレーザ加工方法
JP3463281B2 (ja) 多軸レーザ加工装置及びレーザ加工方法
JPH11103150A (ja) レーザ加工装置
JP2023552942A (ja) レーザ加工システムおよび方法
JPH10314972A (ja) レーザ加工装置
JP2785666B2 (ja) レーザ加工方法
JP2002346775A (ja) レーザ加工装置及び方法
JP3605722B2 (ja) レーザ穴あけ加工方法及び加工装置
JP3341114B2 (ja) レーザ加工装置及びレーザ加工方法
JPH09271972A (ja) レーザ加工装置
JP2002120081A (ja) レーザ加工方法および装置
JPH11226772A (ja) レーザ加工方法及び装置
JP2534819B2 (ja) レ―ザ加工装置
JPH04313477A (ja) レーザ孔加工装置
JP3180806B2 (ja) レーザ加工方法
JP4505854B2 (ja) レーザ加工装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20020501

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080531

Year of fee payment: 6

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080531

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090531

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100531

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110531

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120531

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120531

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130531

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130531

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees