JP3303784B2 - 制御装置 - Google Patents

制御装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、制御対象の動作状
態を検出して、その動作状態が目標状態となるように制
御対象をフィードバック制御する制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、この種の制御装置では、制御
対象の動作状態をセンサ等を用いて検出し、その検出し
た実動作状態と目標状態との偏差及び予め設定された制
御ゲイン(所謂フィードバックゲイン)を用いて制御対
象の制御量を算出し、その算出した制御量にて制御対象
を制御するようにされている。
【0003】また、こうした制御装置では、制御ゲイン
を大きくすれば、制御対象の実動作状態と目標状態との
偏差が大きいときに、制御対象を目標状態に向けて速や
かに変化させることができ、制御の応答性を向上するこ
とはできるが、実動作状態が目標状態に近付いた際に、
実動作状態が目標状態を横切るオーバシュートやアンダ
シュート(以下、オーバシュート及びアンダシュートを
総称してオーバシュートという)が発生し、その後、制
御対象の動作状態を目標状態に収束させるのに時間がか
かるといった問題があり、逆に、制御ゲインを小さくす
れば、こうしたオーバシュートの問題を防止して、制御
の安定性を向上することはできるものの、制御の応答性
が低下する、といった問題がある。
【0004】そこで、従来より、こうした制御の応答性
と安定性とを両立するために、様々の提案がなされてい
る。例えば、車両の走行速度を目標速度にフィードバッ
ク制御する定速走行装置においては、制御対象である車
両の加速度等から走行抵抗(換言すれば制御対象に加わ
る外部負荷)を求め、この走行抵抗の値で制御ゲインを
補正することにより、オーバシュートを防止するとか
(特開平6−64461号公報参照)、オーバシュート
の初期発生時に制御ゲインを変更して、オーバシュート
発生後の制御の収束性を向上するとか(特開平3−22
734号参照)、或いは、制御開始時の車両の加速度に
応じて制御ゲインを設定することにより、オーバシュー
トを防止する(特開昭60−71341号公報参照)、
といったことが提案されている。
【0005】また、定速走行装置以外の制御でも、例え
ば、内燃機関のアイドル回転数を目標回転数に制御する
アイドル回転制御等では、目標状態(目標回転数)と実
動作状態(実アイドル回転数)との偏差に応じて制御ゲ
インを設定することにより、オーバシュートを防止する
ことが行われている。
【0006】つまり、従来の制御装置では、制御の応答
性を確保しつつ、オーバシュートを防止するために、制
御対象に加わる外部負荷や制御開始時の制御対象の挙
動、或いは、制御中の目標状態と実動作状態との偏差等
に基づき、制御ゲインを設定するようにしている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、こうした従来
の対策は、制御ゲインを制御対象の動作状態等から一義
的に設定するものであり、制御ゲイン設定後の制御対象
の挙動を予測することはしていないので、オーバシュー
トを確実に防止することは困難であり、オーバシュート
を確実に防止するには、制御ゲインをある程度小さな値
に設定する必要があった。つまり、上記従来の対策で
は、制御の応答性と安定性という相反する要求を充分満
足することはできず、オーバシュートを確実に防止する
には、制御の応答性をある程度犠牲にしなければならな
いという問題があった。
【0008】本発明は、こうした問題に鑑みなされたも
のであり、制御対象を目標状態にフィードバック制御す
る制御装置において、制御の応答性を確保しつつ、オー
バシュートの発生をより確実に防止できるようにするこ
とを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めになされた請求項1に記載の制御装置においては、検
出手段が、制御対象の実動作状態を検出し、制御量算出
手段が、その検出された実動作状態と目標状態との偏差
及び制御ゲインに基づき、制御対象を目標状態に制御す
るための制御量を算出する。また、推定手段が、検出手
段にて検出された実動作状態の過去から現在迄の変化に
基づき、制御対象の所定時間後の動作状態を推定し、判
定手段が、その推定された推定動作状態が現在の実動作
状態から目標状態を横切ったオーバシュート状態となる
か否かを判断する。そして、判定手段にて推定動作状態
がオーバシュート状態になると判断されると、補正手段
が、制御ゲインを通常よりも小さい値に補正する。
【0010】つまり、本発明の制御装置においては、制
御量算出手段にて算出された制御量に従い制御対象をフ
ィードバック制御しているときに、制御対象の現在から
所定時間後の動作状態を予測し、その予測した動作状態
(推定動作状態)が目標状態を横切り、オーバシュート
(詳しくは、オーバシュート又はアンダシュート)する
場合には、制御ゲインを小さい値に補正する。
【0011】このため、本発明によれば、制御の応答性
を確保するために制御ゲインに大きな値を設定したとし
ても、オーバシュートの発生が予測されると、制御ゲイ
ンが自動的に小さな値に補正されることになり、制御量
の算出に用いる制御ゲインには、オーバシュートの発生
を防止し得る範囲内で、できるだけ大きな値を設定する
ことが可能になる。よって、本発明によれば、従来の制
御装置では達成できなかった、制御の応答性及び安定性
を共に向上するという要求を、満足することが可能にな
る。
【0012】ここで、推定手段としては、例えば、検出
手段にて検出された過去から現在に至る実動作状態の変
化を時間の関数として求め、その関数から所定時間後の
動作状態(推定動作状態)を予測するように構成しても
よいが、このようにすると、推定動作状態の予測演算に
時間がかかり、制御の応答性が悪化するとか、或いは、
予測演算を高速に行うために高価な演算装置(CPU
等)を用いなければならず、制御装置を安価に実現する
ことができない、といった問題が生じる。
【0013】そこで、こうした問題を発生させることな
く、推定手段を実現するには、推定手段を、現在の実動
作状態と所定時間前の実動作状態との偏差Aに基づき、
動作状態が経過時間に対して一定の比率で変化するもの
として、所定時間経過後の動作状態を推定するように構
成するとよい。
【0014】つまり、この場合、推定手段を、例えば、
現在の動作状態と所定時間Ta前の実動作状態との偏差
Aと、その偏差Aの時間間隔Taとの比A/Taに、現
在から推定すべき動作状態までの時間間隔Toを乗じる
ことにより、推定動作状態(=To×A/Ta)を求め
るように構成すればよく、高速演算可能な高価な演算装
置を用いることなく、推定動作状態を速やかに求めるこ
とが可能になる。また、例えば、偏差Aを求めた現在か
ら過去までの時間間隔Taと、現在から推定する未来の
動作状態までの時間間隔Toとを同一にすれば、推定手
段としては、現在の実動作状態に偏差Aを加算(又は減
算)するよう構成すればよく、推定動作状態をより簡単
に求めることが可能になる。
【0015】次に、補正手段としては、例えば、現在の
制御ゲインに予め設定された定数(1より小さい値)を
乗じることによって、制御ゲインを小さい値に補正する
ようにしてもよいが、この場合、制御ゲインの補正割合
が固定されてしまい、推定動作状態のオーバシュートの
程度に応じて制御ゲインを補正することができず、制御
ゲインの補正の結果得られる制御対象の目標状態への収
束状況にばらつきが生じ、制御精度が低下することが考
えられる。
【0016】従って、制御対象をより速やかに目標状態
に収束させるには、請求項に記載のように、補正手段
を、現在の実動作状態と目標状態との偏差B及び現在の
実動作状態と推定動作状態との偏差Cを各々算出し、各
偏差B,Cの比B/Cを現在の制御ゲインに乗じること
で、制御ゲインを補正するように構成することが望まし
い。つまり、補正手段をこのように構成すれば、推定動
作状態の目標状態からのオーバシュートの程度に応じ
て、制御ゲインを補正することが可能になり、制御対象
をより速やかに目標状態に収束させることが可能にな
る。
【0017】また次に、制御に用いる制御ゲインとして
は、予め設定された固定値を用い、推定動作状態のオー
バシュートを判定した際には、その固定値を通常よりも
小さな値に補正するようにしてもよいが、より好ましく
は、請求項に記載のように、検出手段にて検出された
制御対象の実動作状態と目標状態との偏差に基づき、そ
の偏差が大きいほど大きくなるように制御ゲインを設定
する設定手段を設け、制御量算出手段が制御量を算出す
る際には、その設定手段にて設定された制御ゲインを用
いるようにするとよい。
【0018】つまり、このようにすれば、実動作状態と
目標状態との偏差が大きい場合には、制御ゲインに大き
い値を設定して、制御対象を目標状態に速やかに近付け
ることができ、実動作状態と目標状態との偏差が小さい
場合には、制御ゲインを小さくして、制御対象が目標状
態からオーバシュートするのを抑制できる。そして、こ
の場合にも、推定動作状態がオーバシュートする場合に
は、補正手段が、設定手段にて設定された制御ゲインを
小さい値に補正するので、オーバシュートをより確実に
防止することが可能になる。
【0019】ところで、本発明(請求項1〜)によれ
ば、制御対象の未来の動作状態を推定して、その推定動
作状態が目標状態からオーバシュートする場合には、制
御ゲインを小さい値に補正するので、従来装置に比べ、
制御対象の目標状態からのオーバシュートをより確実に
抑制することはできるが、制御対象の動作条件等によっ
ては、制御対象が目標状態からオーバシュートすること
も考えられる。
【0020】そして、実際にオーバシュートが発生して
しまった場合、補正手段による制御ゲインの補正動作を
そのまま実行させていると、オーバシュート後、制御対
象を目標状態に戻すために、今までとは逆方向に制御す
る際の制御ゲインも小さい値に補正されることになり、
制御の収束性が却って悪化してしまうことも考えられ
る。
【0021】そこで、本発明(請求項1〜)において
は、更に、請求項に記載のように、補正禁止手段を設
け、フィードバック制御実行中に制御対象が目標状態か
らオーバシュートした場合には、その後、目標状態が所
定値以上変化するか、又は、制御対象に加わる外部負荷
の変化によって実動作状態と目標状態との偏差が所定値
以上に増大するまで、補正手段による制御ゲインの補正
を禁止するように構成することが望ましい。
【0022】つまり、このように構成すれば、制御ゲイ
ンを補正したにもかかわらず、オーバシュートが発生し
てしまった際には、制御を通常の制御ゲインに基づく制
御に戻して、制御対象を目標状態により速やかに収束さ
せることが可能になる。また、補正禁止手段としては、
請求項に記載のように、フィードバック制御の結果、
オーバシュートが発生した場合だけでなく、実動作状態
と目標状態との偏差が所定値以下になった際にも、その
後、目標状態が所定値以上変化するか、又は、制御対象
に加わる外部負荷の変化によって実動作状態と目標状態
との偏差が所定値以上に増大するまで、補正手段による
制御ゲインの補正を禁止するようにしてもよい。
【0023】そして、このようにすれば、制御対象が目
標状態付近に制御されている条件下で、制御ゲインを小
さい値に補正してしまい、制御の収束性が低下するよう
になる、といったことを防止でき、制御性能をより向上
することが可能になる。尚、請求項又はにおいて、
補正禁止手段は、補正手段による制御ゲインの補正を禁
止すると、その後、目標状態が所定値以上変化するか、
又は、制御対象に加わる外部負荷の変化によって実動作
状態と目標状態との偏差が所定値以上に増大した際に、
制御ゲインの補正の禁止を解除するが、これは、制御目
標が変化する制御装置では、目標状態が所定値以上変化
すると、その目標状態に向けた新たなフィードバック制
御を開始することになり、また、制御目標が一定の制御
装置では、外部負荷の変化によって実動作状態と目標状
態との偏差が増大すると、その変化した負荷条件の下で
新たなフィードバック制御を開始することになるためで
ある。
【0024】つまり、補正禁止手段は、制御開始後、制
御対象の動作状態が目標状態に一旦近付き、目標状態か
らオーバシュートしてしまったときや、或いは、制御対
象を略目標状態に制御できた際には、その後、制御対象
の実動作状態が目標状態に収束するまでの間、補正手段
による補正動作を禁止することにより、制御対象の実動
作状態を目標状態に速やかに収束させるためのものであ
り、目標状態の変化或いは外部負荷の変化によって実動
作状態と目標状態との偏差が増大して、今までとは異な
る条件下でのフィードバック制御を開始する際には、補
正手段による補正動作を再開させて、制御対象が目標状
態からオーバシュートするのを防止できるようにしてい
るのである。
【0025】また、補正禁止手段は、上記条件下で、補
正手段による補正動作を禁止させるものであるが、その
動作を禁止させるに当たっては、補正手段の動作のみを
禁止させるようにしてもよく、制御ゲインの補正を行う
のに必要な手段(つまり、推定手段,判定手段,及び補
正手段)の動作を全て停止させるようにしてもよい。そ
して、このように推定手段,判定手段,及び補正手段の
動作を停止させるようにすれば、制御装置をマイクロコ
ンピュータにて実現した場合に、これら各手段としての
機能を実現する演算処理を全て停止すればよいため、マ
イクロコンピュータの処理の負担を軽減できる。
【0026】また次に、本発明(請求項1〜請求項
の制御装置は、制御対象をフィードバック制御する装置
であれば、どのような制御装置にも適用できるが、例え
ば、請求項に記載のように、制御対象が、通電経路に
設けられたスイッチング素子のPWM制御(パルス幅変
調制御)によって通電電流量が制御される誘導性負荷で
ある場合には、上記効果をより有効に発揮することがで
きる。尚、誘導性負荷としては、例えば、後述実施例の
ソレノイド等、電磁弁や電磁アクチュエータに設けられ
るソレノイドが挙げられる。
【0027】即ち、請求項に記載の制御装置では、ま
ず、検出手段が、誘導性負荷への通電電流量を検出す
る。ところが、この検出手段からの検出信号は、誘導性
負荷の通電電流量がPWM制御されることから、脈動し
てしまう。そこで、制御量算出手段は、検出手段からの
検出信号を、この検出信号を平滑化する平滑化手段を介
して取り込み、その取り込んだ平滑化後の検出信号の値
が、誘導性負荷に流すべき目標電流に対応した目標値と
なるように、スイッチング素子をPWM制御するための
制御量(具体的には、スイッチング素子をオン・オフさ
せるパルス幅変調信号のデューティ比やそのパルス幅
等)を算出する。そして、このような制御装置では、制
御量算出手段で制御量の算出に使用する検出信号値が、
平滑化手段によって平滑化されているので、誘導性負荷
に実際に流れた電流の変化に対して遅れることになり、
制御の応答性が低下する。
【0028】しかし、本発明(請求項1〜請求項)に
よれば、制御ゲインを、オーバシュートを抑制し得る範
囲内で最大に設定することができることから、検出信号
のフィードバック系で生じる遅れを、制御ゲインを大き
くすることにより補うことができる。このため、請求項
に記載の制御装置によれば、従来、誘導性負荷の通電
電流量をPWM制御する装置において問題となっていた
制御の遅れを抑制することが可能となり、上述した本発
明の効果を極めて有効に発揮することができるようにな
る。
【0029】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施例を図面と
共に説明する。図1は、本発明が適用された自動車用電
子制御装置(以下ECUという)2の概略構成を表す構
成図である。
【0030】ECU2は、自動車に搭載された自動変速
機の変速段やロックアップ等を制御する自動変速機制御
(AT制御)用の制御装置であり、AT制御のための各
種演算処理を実行する制御回路10として、CPU,R
OM,RAM等からなるマイクロコンピュータを備えて
いる。この制御回路10には、車速センサ,シフト位置
センサ等の各種センサからの検出信号やエンジン制御装
置からのエンジン状態信号(回転数,スロットル開度等
を表す信号)が入力される。そして、制御回路10は、
予めROMに記憶された制御プログラムに従い、これら
入力信号に基づきAT制御のための各種演算処理を実行
し、その演算結果に基づき自動変速機に設けられたソレ
ノイド等の各種アクチュエータを制御する。
【0031】そこで、本実施例では、本発明を具体化し
たフィードバック制御の一例として、制御回路10が、
自動変速機のライン圧(油圧)制御のために、誘導性負
荷であるライン圧制御用ソレノイド(以下単にソレノイ
ドという)12に流れるソレノイド電流ismをフィード
バック制御する場合について説明する。
【0032】図1に示す如く、制御対象であるソレノイ
ド12の一端には、バッテリ電圧VBTが印加されてお
り、ECU2には、ソレノイド12の他端をグランドラ
インに接地するか否かを切り換えるスイッチング用のト
ランジスタ14が設けられている。
【0033】トランジスタ14は、コレクタがソレノイ
ド12に接続され、エミッタが抵抗16を介して、グラ
ンドラインに接地されたNPNトランジスタにて構成さ
れている。このため、トランジスタ14のオン時には、
トランジスタ14,抵抗16の経路で、ソレノイド12
に電流(ソレノイド電流)ismが流れる。尚、抵抗16
は、このとき(つまりトランジスタのオン時)に流れる
ソレノイド電流ismを電圧値として検出するためのもの
である。
【0034】また、トランジスタ14のコレクタには、
ダイオードDのアノードが接続され、ダイオードDのカ
ソードは、抵抗17を介して、バッテリ電圧VBTが印加
されているソレノイド12の一端に接続されている。ダ
イオードDは、トランジスタ14がオンからオフに変化
(ターンオフ)したとき、ソレノイド12に蓄積された
エネルギにより、トランジスタ14のコレクタ側に高電
圧が発生するのを防止するためのものであり、トランジ
スタ14のターンオフ後は、ソレノイド12に蓄積され
たエネルギが放出されるまで、ソレノイド電流ismを流
し続ける。また、抵抗17は、このとき(つまりトラン
ジスタ14のオフ時)に流れるソレノイド電流ismを電
流値として検出するためのものであり、上記抵抗16と
共に、検出手段として機能する。
【0035】そして、この抵抗16及び抵抗17の両端
電圧は、オペアンプからなる差動増幅器18にて増幅さ
れ、更に、積分器等からなる平滑化手段としての平滑回
路20にて平滑された後、制御回路10に入力される。
また、制御回路10は、平滑回路20から入力されるソ
レノイド電流ismの検出電圧VsmをA/D変換するA/
D変換器を内蔵しており、A/D変換器を介して入力さ
れた電圧値(検出電圧Vsm)からソレノイド電流ismを
検知して、このソレノイド電流ismがライン圧制御に必
要な目標電流itgt となるように、トランジスタ14を
オン・オフさせる。
【0036】即ち、制御回路10は、図2に示すよう
に、自動変速機のライン圧を目標油圧に制御するのに必
要な目標電流itgt から、検出電圧Vsmに対応した目標
電圧Vtgt を設定し、これら各電圧の偏差に基づき、検
出電圧Vsmを目標電圧Vtgt に制御するためのパルス幅
変調信号(PWM信号)を生成し、このPWM信号をト
ランジスタ14のベースに出力することにより、トラン
ジスタ14をオン・オフさせて、検出電圧Vsm (延い
てはソレノイド電流ism)を目標電圧Vtgt (延いては
目標電流itgt )に制御する。
【0037】尚、図2において、ソレノイド電流ismに
おけるの領域は、PWM信号がHighレベルで、トラン
ジスタ14がオン状態であるときに、抵抗16を介して
検出されるソレノイド電流ismを表し、の領域は、P
WM信号がLow レベルで、トランジスタ14がオフ状態
であるときに、抵抗17を介して検出されるソレノイド
電流ismを表す。
【0038】ところで、このようなフィードバック制御
系では、検出値(検出電圧Vsm)は、制御の結果得られ
る値であり、実際値(ソレノイド12に実際に流れた電
流値ism)に対して遅れを有する。また、特に本実施例
では、PWM制御によってソレノイド電流ismが脈動す
るため、制御回路10に検出値として入力される検出電
圧Vsmが脈動することのないよう、検出電圧Vsmを、平
滑回路20で平滑した後制御回路10に入力しているこ
とから、その遅れはより大きくなる。
【0039】このため、ソレノイド12に実際に流れた
ソレノイド電流(実電流)と、制御回路10側で検知可
能なソレノイド電流(検出電流)とは、ソレノイド電流
ismが目標電流itgt 付近で安定している際には、図3
(a)に示すように、略一対一で対応するものの、ソレ
ノイド電流ismを目標電流itgt に追従させているフィ
ードバック制御の過渡時には、図3(b)に示すよう
に、検出電流と実電流とが対応せず、検出遅れが生じて
しまう。
【0040】そして、このような検出遅れは、各種制御
条件によって変化し、一義的に決まるものではないた
め、制御量としてPWM信号のデューティ比を設定する
際の制御ゲイン(フィードバックゲイン)を、前述の従
来装置のように、検出値と目標値との偏差等に基づき設
定するようにしただけでは、上記検出遅れによって生じ
るオーバシュートを良好に抑制することができず、図2
に示すように、目標電圧Vtgt が設定されてフィードバ
ック制御を開始した時点t1から、検出電圧Vsmが目標
電圧Vtgt に一旦達した後も、オーバシュートによって
検出電圧Vsmが変動し、検出電圧Vsmが目標電圧Vtgt
に収束するのに時間がかかる、といった問題が生じる。
尚、オーバシュートを防止するには、フィードバックゲ
インを小さくすればよいが、フィードバックゲインを小
さくすると制御の応答性が低下するため、本実施例のよ
うな制御の応答性が要求されるシステムでは採用できな
い。
【0041】そこで本実施例では、例えば、ソレノイド
12に流す目標電流itgt が0mAから1000mAに
変化した際に、ソレノイド電流ismが目標電流itgt の
90%に達するまでの時間が40msec.になるようにし
(換言すれば、制御の応答性を確保し)、しかも、ソレ
ノイド電流ismが目標電流itgt を横切るオーバシュー
トを防止できるようにするために、検出電圧Vsmの過去
からの変化に基づき、未来の検出電圧を予測し、その予
測結果から検出電圧Vsmがオーバシュートするか否かを
判定して、予測結果がオーバシュートする際には、制御
に用いるフィードバックゲインを小さい値に補正するよ
うにしている。
【0042】以下、このように自動変速機のライン圧を
目標油圧に制御するために制御回路10にて実行される
制御処理を、図4に示すフローチャートを用いて詳しく
説明する。図4に示す如く、制御回路10は、トランジ
スタ14へのPWM信号(Highレベル)の出力時間(つ
まり制御量)を演算するための制御量演算処理(図4
(a)参照)を、例えば5msec.毎の割り込み処理にて
実行し、平滑回路20から入力される平滑後の検出電圧
VsmをA/D変換器を介して取り込む検出処理(図4
(b)参照)を、例えば1msec.毎の割り込み処理にて
実行し、AT制御のために図示しない制御目標設定処理
にて演算された目標油圧(目標ライン圧)に基づき、図
5に例示する目標電流算出用マップを用いて、ソレノイ
ド12に流す目標電流itgt を算出する目標電流算出処
理(図4(c)参照)を、例えば25msec.毎の割り込
み処理にて実行する。
【0043】また、制御量演算処理では、まずS110
(Sはステップを表す)にて、上記目標電流算出処理に
て算出された目標油圧に対応した目標電流itgt を、検
出処理にて取り込まれる検出電圧Vsmに対応した電圧値
(目標電圧Vtgt )に変換する目標電圧算出処理を実行
する。そして、続くS120では、この算出された目標
電圧Vtgt と検出電圧Vsmとの偏差(Vtgt −Vsm)を
求め、この電圧偏差から、フィードバック制御のための
フィードバックゲイン△Tを算出する、制御ゲイン設定
手段としての処理を実行する。
【0044】このフィードバックゲイン△Tの算出に
は、図6に示す如き特性のフィードバックゲイン算出用
マップが使用され、フィードバックゲイン△Tは、この
マップを用いた選択又は補間により、上記偏差(Vtgt
−Vsm)が小さい程小さく、偏差(Vtgt −Vsm)が大
きくなるに従い大きくなるように設定される。尚、上記
マップから明らかなように、本実施例では、電圧偏差が
所定の上限値を越えたときには、フィードバックゲイン
△Tは最大値に固定される。
【0045】また、後述するが、本実施例では、フィー
ドバックゲイン△TをそのままPWM信号の出力時間
(Highレベル時間)に加えることにより、ソレノイド電
流をPWM制御する際のPWM信号のデューティ比を決
定することから、フィードバックゲイン△Tは、目標電
圧Vtgt が検出電圧Vsmよりも大きく、偏差(Vtgt −
Vsm)が正となる場合には、PWM信号のデューティ比
(延いてはソレノイド電流)を増加させるために、偏差
と同じ正の値に設定され、逆に、偏差(Vtgt −Vsm)
が負の場合には、ソレノイド電流を減少させるために、
偏差と同じ負の値に設定される。
【0046】次に、このようにフィードバックゲイン△
Tが設定されると、今度は、S130にて、検出処理に
て所定時間前(詳しくは所定サンプリング周期前)に取
り込まれた過去の検出電圧Vsm(i-n) から現在の検出電
圧Vsm(i) 迄の検出電圧Vsmの変化から、所定時間後の
検出電圧Vsm(i+m) を予測する、推定手段としての処理
を実行する。
【0047】尚、上記各検出電圧Vsmに付与した添え字
(i) は、検出電圧Vsmが検出処理で求められた最新の値
であることを表し、添え字(i-n) は、検出電圧Vsmが検
出処理でn回前に検出された値であることを表し、添え
字(i+m) は、検出電圧Vsmが、現在のフィードバック制
御をそのまま続けた場合に、電圧検出処理を現時点から
m回実行した際に得られると推定される予測値であるこ
とを表す。
【0048】そして、本実施例では、例えば、図7に示
す如く、現時点t(i) の検出電圧Vsm(i) と、検出処理
をn回前(n=2)に実行した時(時点t(i-n) ;例え
ば10msec.前)に得られた検出電圧Vsm(i-n) との偏
差Aを、検出電圧Vsm(i) に加えることにより、検出処
理を更にm回(m=2)に実行した際(時点t(i+m);
例えば10msec.後) に得られるであろう検出電圧Vs
m(i+m) を推定する。
【0049】こうして、検出電圧Vsmの予測値Vsm(i+
m) が求められると、今度は、S140に移行して、そ
の予測値Vsm(i+m) が、現在の検出電圧Vsm(i) から目
標電圧Vtgt を横切って、オーバシュート(詳しくはオ
ーバシュート又はアンダシュート)した、オーバシュー
ト状態となるか否かを判断する、判定手段としての処理
を実行する。
【0050】そして、S140にて、予測結果がオーバ
シュート状態になると判断されると、S150にて、そ
の予測結果に基づき、フィードバックゲイン△Tを小さ
い値に補正した後、S160に移行し、S140にて、
予測結果はオーバシュート状態にならないと判断される
と、そのままS160に移行する。
【0051】尚、このS150は、本発明の補正手段と
して機能し、本実施例では、図7に示す如く、現時点t
(i) の検出電圧Vsm(i) と目標電圧Vtgt との偏差B
(=Vtgt −Vsm(i) )、及び、現時点t(i) の検出電
圧Vsm(i) と予測値Vsm(i+m)との偏差C(=Vsm(i+m)
−Vsm(i) )を夫々求め、これら各偏差B,Cの比B
/Cをフィードバックゲイン△Tに乗じることで、フィ
ードバックゲイン△Tを通常より小さい値に補正する。
【0052】そして、S160では、前回求めたPMW
信号の出力時間T(i-1) に上記フィードバックゲイン△
Tを加算することにより、PWM信号の出力時間T(i)
を求め、時間T(i) をライン圧制御用の制御量として記
憶する、制御量算出手段としての処理を実行し、当該処
理を一旦終了する。
【0053】尚、この出力時間T(i) は、PWM信号の
出力周期(例えば、3msec.)に同期して、PWM信号
出力用のタイマにセットされ、タイマからは、そのセッ
トされた出力時間T(i) だけHighレベルとなる信号が出
力される。この結果、トランジスタ14は、タイマから
周期的に出力されるPWM信号に従いオン・オフし、ソ
レノイド電流ismを目標電流itgt に制御することにな
る。
【0054】以上説明したように、本実施例では、制御
対象であるソレノイド12の動作状態として、ソレノイ
ド電流ismを電圧値に変換した検出電圧Vsmを取り込
み、この検出電圧Vsmが、制御対象の目標状態である目
標電圧Vtgt となるように、ソレノイド電流ismを決定
するトランジスタ14をフィードバック制御する。そし
て、このフィードバック制御を実行するに当たっては、
まず、フィードバックゲイン△Tを、検出電圧Vsmと目
標電圧Vtgt との偏差に応じて、その偏差が大きいほど
大きくなるように設定し、更に、検出電圧Vsmの過去か
らの変化に基づき、所定時間経過後の検出電圧を予測し
て、その予測値(特許請求の範囲に記載の推定動作状
態)が現在の検出電圧Vsmから目標電圧Vtgt を横切っ
たオーバシュート状態になるか否かを判定して、オーバ
シュート状態になる場合には、現在の検出電圧Vsmと目
標電圧Vtgt との偏差B、及び現在の検出電圧Vsmと予
測値との偏差Cとの比B/Cを、フィードバックゲイン
△Tに乗じることで、フィードバックゲイン△Tを小さ
い値に補正する。
【0055】このため、図8に示すように、制御の応答
性を確保しつつオーバシュートを防止するために、単に
フィードバックゲイン△Tを検出電圧Vsmと目標電圧V
tgtとの偏差に応じて設定するようにした場合に比べ
て、オーバシュートをより確実に防止することができ
る。
【0056】つまり、フィードバックゲイン△Tを検出
電圧Vsmと目標電圧Vtgt との偏差に応じて設定するよ
うにした場合、その偏差が大きい場合には、フィードバ
ックゲイン△Tを大きくして、検出電圧Vsmを目標電圧
Vtgt に向けて速やかに変位させ、偏差が小さくなる
と、フィードバックゲイン△Tを小さくして、検出電圧
Vsmを目標電圧Vtgt に向けてゆっくりと変化させるこ
とができるので、フィードバックゲイン△Tを固定した
場合に比べて、オーバシュートの発生をある程度抑制す
ることはできるが、本実施例のように、未来の検出電圧
Vsmを予測してオーバシュートの有無を判定しなけれ
ば、図8に点線で示すように、検出電圧Vsmが目標電圧
Vtgt に近付いた際のフィードバックゲイン△Tが大き
くなりすぎ、これに伴い、制御量であるPWM信号(Hi
ghレベル)の出力時間も長くなって、検出電圧Vsmが目
標電圧Vtgt からオーバシュートしてしまうことがあ
る。
【0057】しかし、本実施例では、未来の検出電圧V
smを予測して、その予測値がオーバシュートする場合に
は、その予測値のオーバシュートの程度(つまり前述の
比B/C)に応じて、フィードバックゲイン△Tを小さ
い値に補正するため、オーバシュートの発生をより良好
に抑制することができるようになるのである。
【0058】よって本実施例によれば、検出電圧Vsmを
目標電圧Vtgt に速やかに近付けるといった制御の応答
性と、検出電圧Vsmが目標電圧Vtgt に近付いた際に、
検出電圧を目標電圧Vtgt に速やかに収束させるといっ
た制御の安定性とを、共に満足することができ、自動変
速機のライン圧を目標油圧により速やかにしかも高精度
に制御することが可能になる。
【0059】ところで、このように本実施例では、検出
電圧Vsmの目標電圧Vtgt からのオーバシュートを極め
て良好に抑制することができるが、既述したように、オ
ーバシュートは、検出値の実際値からの検出遅れ等、フ
ィードバック制御系の遅れによって生じるものであり、
またこの遅れは各種制御条件によって変化することか
ら、上記のように、制御結果を予測してフィードバック
ゲインを補正するようにしても、オーバシュートを完全
に防止することは困難であり、制御条件によっては、オ
ーバシュートが発生することも考えられる。そして、実
際にオーバシュートが発生してしまった場合にも、上記
のようにフィードバックゲイン△Tの補正を行うように
すると、図9に実線で示すように、オーバシュート後の
制御に遅れが生じ、制御の収束性が却って悪化してしま
うことも考えられる。
【0060】そこで、このような問題が発生する場合に
は、図4(a)に示した制御量演算処理を、例えば、図
10に示すように実行するようにすればよい。即ち、図
10に示す制御量演算処理においては、S210で、目
標電流itgtから目標電圧Vtgt を算出した後、S22
0にて、検出電圧Vsmが目標電圧Vtgt からオーバシュ
ートしてしまったか否かを判断し、検出電圧Vsmがオー
バシュートしてしまった場合には、S260にて、予測
許可フラグFをリセット(値0)することにより、その
後、フィードバックゲインの補正のために実行される処
理(つまり、未来の検出電圧の予測,予測値のオーバシ
ュート判定,フィードバックゲインの補正を行う処理)
を禁止する。
【0061】また、S220にて、検出電圧Vsmが目標
電圧Vtgt からオーバシュートしていないと判断された
場合には、S230に移行し、S210にて今回設定さ
れた目標電圧Vtgt(i) と前回設定された目標電圧Vtgt
(i-1) との偏差の絶対値が所定値K1以上か否かを判断
し、その偏差が所定値K1以上であれば、目標電圧Vtg
t が大きく変化しており、検出電圧Vsmをこの目標電圧
Vtgt に向けて制御する新たなフィードバック制御を開
始する必要があるので、S240にて、予測許可フラグ
Fをセット(値1)することにより、その後、フィード
バックゲインの補正のために実行される処理を許可す
る。
【0062】一方、S230にて、目標電圧Vtgt(i)
と目標電圧Vtgt(i-1) との偏差の絶対値が所定値K1
未満であると判断されると、目標電圧Vtgt は大きく変
化していない(換言すれば前回と同じか変化していても
略同じである)ことから、S250に移行して、現在の
検出電圧Vsmと目標電圧Vtgt との偏差の絶対値が所定
値K2以下であるか否かを判断する。そして、検出電圧
Vsmと目標電圧Vtgt との偏差の絶対値が所定値K2以
下であり、検出電圧Vsm(延いてはソレノイド電流is
m)を、略目標電圧Vtgt (延いては目標電流itgt )
に制御できている場合にも、S260に移行して、予測
許可フラグFをリセットする。そして、このようにS2
40又はS260にて、予測許可フラグFがセット又は
リセットされるか、S250にて、検出電圧Vsmと目標
電圧Vtgt との偏差の絶対値が所定値K2を越えている
と判断されると、S270に移行して、上記実施例のS
120と同様に、目標電圧Vtgt と検出電圧Vsmとの偏
差(Vtgt −Vsm)から、フィードバックゲイン△Tを
算出する。
【0063】またS270でフィードバックゲイン△T
が算出されると、今度は、S280に移行して、予測許
可フラグFがセットされているか否かを判断する。そし
て、予測許可フラグFがセットされていれば、記実施例
のS130〜S150と同様に、S290にて、現在の
検出電圧Vsm(i) と過去の検出電圧Vsm(i-n) とに基づ
き所定時間後の検出電圧Vsm(i+m) を予測し、S300
にて、その予測結果は目標電圧Vtgt からオーバシュー
トするか否かを判定し、オーバシュートする場合には、
S310にて、フィードバックゲイン△Tを小さい値に
補正する、フィードバックゲイン△T補正のための一連
の処理を実行した後、S320に移行する。
【0064】また逆に、S280にて、予測許可フラグ
Fがリセット状態であると判断されると、フィードバッ
クゲイン△Tの補正は禁止されていることから、S29
0〜S310の一連の処理は実行せず、そのままS32
0に移行する。そして、S320では、上記実施例のS
160と同様、前回求めたPMW信号の出力時間T(i-
1) にフィードバックゲイン△Tを加算することによ
り、PWM信号の出力時間T(i) を求め、この出力時間
T(i) をライン圧制御用の制御量として記憶し、当該処
理を一旦終了する。
【0065】このように、図10に示した制御量演算処
理では、検出電圧Vsmが目標電圧Vtgt からオーバシュ
ートしてしまった場合には、予測許可フラグFをリセッ
トすることにより、その後、目標電圧Vtgt が所定値K
1以上変化するまで、フィードバックゲイン△Tの補正
を禁止する。このため、図9に点線で示すように、検出
電圧Vsmがオーバシュートした後、検出電圧Vsmが目標
電圧Vtgt に収束する時間を短縮でき、制御性能を向上
できる。
【0066】また、目標電圧Vtgt が所定値K1以上変
化した際には、予測許可フラグFをセットして、フィー
ドバックゲイン△Tの補正の禁止を解除するので、検出
電圧Vsmを新たな目標電圧Vtgt に向けて大きく変化さ
せる必要がある場合には、検出電圧Vsmが目標電圧Vtg
t からオーバシュートするのを抑制しつつ、検出電圧V
smを目標電圧Vtgt に向けて速やかに変化させることが
できる。
【0067】また更に、図10に示した制御量演算処理
では、目標電圧Vtgt が所定値K1以上変化していなけ
れば、目標電圧Vtgt と検出電圧Vsmとの偏差の絶対値
が所定値K2以下であるか否か(つまり検出電圧Vsmは
略目標電圧Vtgt に制御できているか否か)を判断し、
検出電圧Vsmを略目標電圧Vtgt に制御できている場合
にも、予測許可フラグFをリセットすることにより、そ
の後、目標電圧Vtgtが所定値以上変化するまで、フィ
ードバックゲイン△Tの補正を禁止する。このため、検
出電圧Vsmを目標電圧Vtgt 付近に制御できているにも
かかわらず、フィードバックゲイン△Tが小さい値に補
正されて、制御の収束性が低下してしまう、といったこ
とも防止できる。
【0068】尚、図10に示した制御量演算処理におい
て、予測許可フラグFをセット・リセットするために実
行されるS220〜S260の一連の処理、及び、予測
許可フラグFに従いフィードバックゲイン△Tの補正を
許可するか否かを切り換えるS280の処理は、本発明
(請求項5,6)の補正禁止手段として機能する。
【0069】以上、本発明を、自動変速機のライン圧制
御用のソレノイド12を通電制御する装置に適用した場
合の一実施例について説明したが、本発明は、上記実施
例に限定されるものではなく、種々の態様を採ることが
できる。例えば、上記実施例では、制御対象であるソレ
ノイド12に流す電流量(ソレノイド電流)をフィード
バック制御するために、目標値と実際値との偏差に応じ
て設定したフィードバックゲイン△Tを、前回の制御量
であるPWM信号の出力時間に加えることで、制御量を
更新するものとして説明したが、目標値と実際値との偏
差に制御ゲイン(フィードバックゲイン)を乗じること
により、制御量を算出する装置であっても、本発明を適
用すれば、上記実施例と同様の効果を得ることができ
る。また、上記実施例では、フィードバックゲイン△T
は、目標値と実際値との偏差に応じて設定するものとし
て説明したが、フィードバックゲイン△Tが予め設定さ
れた固定値に固定された制御装置であっても、本発明を
適用することにより、制御の応答性を低下させることな
く、オーバシュートの発生を防止して、制御の安定性を
向上することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例のECUの概略構成を表す構成図であ
る。
【図2】 実施例の制御回路にて実行されるフィードバ
ック制御の基本動作を説明するタイムチャートである。
【図3】 ソレノイドの実電流と検出電流との関係を説
明する説明図である。
【図4】 制御回路にて実行される制御量演算処理
(a)、検出処理(b)、及び目標電流算出処理(c)
を夫々表すフローチャートである。
【図5】 目標電流算出処理の実行時に用いられる目標
電流算出用マップの特性を表す説明図である。
【図6】 制御量演算処理の実行時に用いられるフィー
ドバックゲイン算出用マップの特性を表す説明図であ
る。
【図7】 現在の検出電圧Vsm(i) と過去の検出電圧V
sm(i-n) とから未来の検出電圧Vsm(i+m) を推定する手
順を説明する説明図である。
【図8】 実施例の制御回路にて実際に実行されるフィ
ードバック制御の動作及びその効果を説明するタイムチ
ャートである。
【図9】 実施例の制御処理実行時に検出電圧がオーバ
シュートした際の電圧変化を表すタイムチャートであ
る。
【図10】 制御量演算処理の他の例を表すフローチャ
ートである。
【符号の説明】
2…ECU、10…制御回路、12…ソレノイド、14
…トランジスタ、16…抵抗、18…差動増幅器、20
…平滑回路。
フロントページの続き (72)発明者 長田 康二 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 株式 会社デンソー内 (56)参考文献 特開 平7−20907(JP,A) 特開 平5−127701(JP,A) 特開 平4−39701(JP,A) 特開 昭62−77607(JP,A) 特開 昭60−176104(JP,A) 特開 平5−66802(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G05B 13/02

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 制御対象の動作状態を検出する検出手段
    と、 該検出手段にて検出された制御対象の実動作状態と目標
    状態との偏差及び制御ゲインに基づき、前記制御対象を
    目標状態に制御するための制御量を算出する制御量算出
    手段と、 を備え、該算出された制御量に基づき前記制御対象をフ
    ィードバック制御する制御装置において、 前記検出手段により検出された実動作状態の過去から現
    在迄の変化に基づき、前記制御対象の所定時間後の動作
    状態を推定する推定手段と、 該推定手段にて推定された推定動作状態が、現在の実動
    作状態から前記目標状態を横切ったオーバシュート状態
    となるか否かを判断する判定手段と、 該判定手段にて前記推定動作状態がオーバシュート状態
    になると判断されると、前記制御ゲインを小さい値に補
    正する補正手段と、 を設け 前記推定手段は、現在の実動作状態と所定時間前の実動
    作状態との偏差Aに基づき、動作状態が経過時間に対し
    て一定の比率で変化するものとして、所定時間経過後の
    動作状態を推定する ことを特徴とする制御装置。
  2. 【請求項2】 前記補正手段は、現在の実動作状態と目
    標状態との偏差B及び現在の実動作状態と前記推定動作
    状態との偏差Cを各々算出し、各偏差B,Cの比B/C
    を前記制御ゲインに乗じることで、前記制御ゲインを補
    正することを特徴とする請求項1に記載の制御装置。
  3. 【請求項3】 前記検出手段にて検出された前記制御対
    象の実動作状態と目標状態との偏差に基づき、該偏差が
    大きいほど大きくなるように前記制御ゲインを設定する
    設定手段を備え、 前記制御量算出手段は、該設定手段にて設定された制御
    ゲインを用いて前記制御量を算出し、 前記補正手段は、前記設定手段にて設定され、前記制御
    量算出手段が前記制御量を算出するのに用いる制御ゲイ
    ンを、更に補正することを特徴とする請求項1又は請求
    2に記載の制御装置。
  4. 【請求項4】 前記制御対象を制御した結果、前記実動
    作状態が前記目標状態を横切った際には、その後、前記
    目標状態が所定値以上変化するか、又は、前記制御対象
    に加わる外部負荷の変化によって実動作状態と目標状態
    との偏差が所定値以上に増大するまで、前記補正手段に
    よる前記制御ゲインの補正を禁止する、補正禁止手段を
    備えたことを特徴とする請求項1〜請求項いずれか記
    載の制御装置。
  5. 【請求項5】 前記補正禁止手段は、前記制御手段を制
    御した結果、前記実動作状態と前記目標状態との偏差が
    所定値以下になった際にも、その後、前記目標状態が所
    定値以上変化するか、又は、前記制御対象に加わる外部
    負荷の変化によって実動作状態と目標状態との偏差が所
    定値以上に増大するまで、前記補正手段による前記制御
    ゲインの補正を禁止することを特徴とする請求項に記
    載の制御装置。
  6. 【請求項6】 前記制御対象は、通電経路に設けられた
    スイッチング素子のPWM制御によって通電電流量が制
    御される誘導性負荷であり、 前記検出手段は、前記誘導性負荷への通電電流量を検出
    し、 前記制御量算出手段は、前記検出手段からの検出信号
    を、該検出信号を平滑化する平滑化手段を介して取り込
    み、該取り込んだ検出信号の値が、前記誘導性負荷に流
    すべき目標電流に対応した目標値となるように、前記検
    出信号値と前記目標値との偏差及び制御ゲインに基づ
    き、前記スイッチング素子をPWM制御するための制御
    量を算出することを特徴とする請求項1〜請求項いず
    れか記載の制御装置。
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