JP3291179B2 - 回路故障検出回路 - Google Patents
回路故障検出回路Info
- Publication number
- JP3291179B2 JP3291179B2 JP29123995A JP29123995A JP3291179B2 JP 3291179 B2 JP3291179 B2 JP 3291179B2 JP 29123995 A JP29123995 A JP 29123995A JP 29123995 A JP29123995 A JP 29123995A JP 3291179 B2 JP3291179 B2 JP 3291179B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- resistance
- voltage
- resistance bridge
- bridge circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は路故障検出回路に係
り、特に、抵抗ブリッジ回路のバランスが崩れることに
より物理量を検出するセンサ回路の回路故障検出回路に
関する。
り、特に、抵抗ブリッジ回路のバランスが崩れることに
より物理量を検出するセンサ回路の回路故障検出回路に
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、エアバッグ装置等に使用される加
速度センサでは、半導体ピエゾ抵抗効果を利用したもの
が知られている。
速度センサでは、半導体ピエゾ抵抗効果を利用したもの
が知られている。
【０００３】図４に示される如く、この加速度センサで
は、感知レバー７０Ａを有する構造をしたＮ型シリコン
基板７０上に、Ｐ型シリコン層を拡散してゲージ抵抗Ｒ
c 、Ｒs が作られている。また、Ｎ型シリコン基板７０
上には、センサ回路７２が形成されている。
は、感知レバー７０Ａを有する構造をしたＮ型シリコン
基板７０上に、Ｐ型シリコン層を拡散してゲージ抵抗Ｒ
c 、Ｒs が作られている。また、Ｎ型シリコン基板７０
上には、センサ回路７２が形成されている。
【０００４】図５に示される如く、このセンサ回路７２
は、ゲージ抵抗Ｒc 及びゲージ抵抗Ｒs で構成された抵
抗ブリッジ回路７４に接続されており、抵抗ブリッジ回
路７４の一方の出力７４Ａは、第１オペアンプ７６の一
方の入力端子７６Ａに接続されており、抵抗ブリッジ回
路７４の他方の出力７４Ｂは、第２オペアンプ７８の一
方の入力端子７８Ａに接続されている。第２オペアンプ
７８の他方の入力端子７８Ｂには、第１オペアンプ７６
の出力端子７６Ｂが抵抗Ｒ３を介して接続されており、
第２オペアンプ７８の出力端子７８Ｃと第２オペアンプ
７８の入力端子７８Ｂとは抵抗Ｒ４を介して接続されて
いる。なお、第１オペアンプ７６の出力端子７６Ｂは第
１オペアンプ７６の他方の出力端子７６Ｃに接続されて
いる。
は、ゲージ抵抗Ｒc 及びゲージ抵抗Ｒs で構成された抵
抗ブリッジ回路７４に接続されており、抵抗ブリッジ回
路７４の一方の出力７４Ａは、第１オペアンプ７６の一
方の入力端子７６Ａに接続されており、抵抗ブリッジ回
路７４の他方の出力７４Ｂは、第２オペアンプ７８の一
方の入力端子７８Ａに接続されている。第２オペアンプ
７８の他方の入力端子７８Ｂには、第１オペアンプ７６
の出力端子７６Ｂが抵抗Ｒ３を介して接続されており、
第２オペアンプ７８の出力端子７８Ｃと第２オペアンプ
７８の入力端子７８Ｂとは抵抗Ｒ４を介して接続されて
いる。なお、第１オペアンプ７６の出力端子７６Ｂは第
１オペアンプ７６の他方の出力端子７６Ｃに接続されて
いる。
【０００５】このため、感知レバ−７０Ａに加速度が加
わり、感知レバ−７０Ａが図４の矢印Ｇ方向に撓むと、
ゲージ抵抗Ｒc 及びゲージ抵抗Ｒs が変化して、抵抗ブ
リッジ回路７４の出力７４Ａ、７４Ｂの電圧が変化して
第２オペアンプ７８の出力端子７８Ｃの電圧が変化する
ようになっている。
わり、感知レバ−７０Ａが図４の矢印Ｇ方向に撓むと、
ゲージ抵抗Ｒc 及びゲージ抵抗Ｒs が変化して、抵抗ブ
リッジ回路７４の出力７４Ａ、７４Ｂの電圧が変化して
第２オペアンプ７８の出力端子７８Ｃの電圧が変化する
ようになっている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この様
なセンサ回路の故障を検出する回路故障検出回路８０
は、チェクパルスが入力されるトランジスタＴr1のコレ
クタＣが抵抗Ｒ５を介して第１オペアンプ７６の入力端
子７６Ａに接続されている。従って、トランジスタＴr1
のベースＢにチェクパルスを入力し、トランジスタＴr1
をオンすると、抵抗ブリッジ回路７４のブリッジバラン
スが崩れ第２オペアンプ７８の出力を診断することがで
きるが、抵抗ブリッジ回路７４の電流、即ち、加速度セ
ンサの電流にも影響を与えるため、抵抗Ｒ５の設定が難
しく、センサ回路７２自体の故障検出精度が低下するこ
とが考えられる。
なセンサ回路の故障を検出する回路故障検出回路８０
は、チェクパルスが入力されるトランジスタＴr1のコレ
クタＣが抵抗Ｒ５を介して第１オペアンプ７６の入力端
子７６Ａに接続されている。従って、トランジスタＴr1
のベースＢにチェクパルスを入力し、トランジスタＴr1
をオンすると、抵抗ブリッジ回路７４のブリッジバラン
スが崩れ第２オペアンプ７８の出力を診断することがで
きるが、抵抗ブリッジ回路７４の電流、即ち、加速度セ
ンサの電流にも影響を与えるため、抵抗Ｒ５の設定が難
しく、センサ回路７２自体の故障検出精度が低下するこ
とが考えられる。
【０００７】本発明は上記事実を考慮し、センサ回路自
体の故障検出精度を向上することができる回路故障検出
回路を得ることが目的である。
体の故障検出精度を向上することができる回路故障検出
回路を得ることが目的である。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の本発明
は、抵抗ブリッジ回路のバランスが崩れることにより物
理量を検出するセンサ回路に接続される回路故障検出回
路であって、前記抵抗ブリッジ回路の一方の出力電圧と
規準電圧とを比較する比較手段と、チェックパルスが入
力されると前記抵抗ブリッジ回路のバランスを維持した
まま前記規準電圧を変化させ前記比較手段を反転させる
検出回路と、を有すると共に、前記規準電圧を前記比較
手段に接続された増幅手段のゲインを決めている抵抗比
に基づいて所定の電圧に設定したことを特徴としてい
る。
は、抵抗ブリッジ回路のバランスが崩れることにより物
理量を検出するセンサ回路に接続される回路故障検出回
路であって、前記抵抗ブリッジ回路の一方の出力電圧と
規準電圧とを比較する比較手段と、チェックパルスが入
力されると前記抵抗ブリッジ回路のバランスを維持した
まま前記規準電圧を変化させ前記比較手段を反転させる
検出回路と、を有すると共に、前記規準電圧を前記比較
手段に接続された増幅手段のゲインを決めている抵抗比
に基づいて所定の電圧に設定したことを特徴としてい
る。
【０００９】従って、検出回路にチェックパルスが入力
されると、検出回路は、抵抗ブリッジ回路のバランスを
維持したまま比較手段の規準電圧を変化させる。このた
め、センサ回路が故障していなければ比較手段の出力が
反転する。また、抵抗ブリッジ回路のバランスを崩して
いないため、ブリッジ回路の電流に影響を与えることも
無い。また、規準電圧を比較手段に接続された増幅手段
のゲインを決めている抵抗比に基づいて所定の電圧に設
定したため、規準電圧を決める抵抗のうちの一つが変化
しても動作チエック時の出力が変化する。
されると、検出回路は、抵抗ブリッジ回路のバランスを
維持したまま比較手段の規準電圧を変化させる。このた
め、センサ回路が故障していなければ比較手段の出力が
反転する。また、抵抗ブリッジ回路のバランスを崩して
いないため、ブリッジ回路の電流に影響を与えることも
無い。また、規準電圧を比較手段に接続された増幅手段
のゲインを決めている抵抗比に基づいて所定の電圧に設
定したため、規準電圧を決める抵抗のうちの一つが変化
しても動作チエック時の出力が変化する。
【００１０】請求項２に記載の本発明は、抵抗ブリッジ
回路のバランスが崩れることにより物理量を検出するセ
ンサ回路に接続される回路故障検出回路であって、前記
抵抗ブリッジ回路の一方の出力電圧と規準電圧とを比較
する比較手段と、チェックパルスが入力されると前記抵
抗ブリッジ回路のバランスを維持したまま前記規準電圧
を変化させ前記比較手段を反転させる検出回路と、を有
すると共に、前記抵抗ブリッジ回路に電流を供給してい
る定電流回路を有し、該定電流回路中の電流値を決める
抵抗を調整可能としたことを特徴としている。
回路のバランスが崩れることにより物理量を検出するセ
ンサ回路に接続される回路故障検出回路であって、前記
抵抗ブリッジ回路の一方の出力電圧と規準電圧とを比較
する比較手段と、チェックパルスが入力されると前記抵
抗ブリッジ回路のバランスを維持したまま前記規準電圧
を変化させ前記比較手段を反転させる検出回路と、を有
すると共に、前記抵抗ブリッジ回路に電流を供給してい
る定電流回路を有し、該定電流回路中の電流値を決める
抵抗を調整可能としたことを特徴としている。
【００１１】従って、検出回路にチェックパルスが入力
されると、検出回路は、抵抗ブリッジ回路のバランスを
維持したまま比較手段の規準電圧を変化させる。このた
め、センサ回路が故障していなければ比較手段の出力が
反転する。また、抵抗ブリッジ回路のバランスを崩して
いないため、ブリッジ回路の電流に影響を与えることも
無い。また、ゲイン抵抗は固定して、定電流回路中の電
流値を決める抵抗を調整することによりセンサ感度が調
整可能である。
されると、検出回路は、抵抗ブリッジ回路のバランスを
維持したまま比較手段の規準電圧を変化させる。このた
め、センサ回路が故障していなければ比較手段の出力が
反転する。また、抵抗ブリッジ回路のバランスを崩して
いないため、ブリッジ回路の電流に影響を与えることも
無い。また、ゲイン抵抗は固定して、定電流回路中の電
流値を決める抵抗を調整することによりセンサ感度が調
整可能である。
【００１２】
【００１３】
【００１４】
【発明の実施の形態】本発明の回路故障検出回路の第１
実施形態について図１に従って説明する。図１に示され
る如く、センサ回路１０は、ゲージ抵抗Ｒc 及びゲージ
抵抗Ｒsで構成された抵抗ブリッジ回路１２に接続され
ている。抵抗ブリッジ回路１２の一方の出力１２Ａ（電
圧値ＶS1）は、比較手段としての第１オペアンプ１４の
一方の入力端子１４Ａに接続されており、抵抗ブリッジ
回路１２の他方の出力１２Ｂ（電圧値ＶS2）は、増幅手
段としての第２オペアンプ１６の一方の入力端子１６Ａ
に接続されている。第２オペアンプ１６の他方の入力端
子１６Ｂには、第１オペアンプ１４の出力端子１４Ｂが
抵抗Ｒ３を介して接続されており、第２オペアンプ１６
の出力端子１６Ｃと第２オペアンプ１６の入力端子１６
Ｂとは抵抗Ｒ４を介して接続されている。
実施形態について図１に従って説明する。図１に示され
る如く、センサ回路１０は、ゲージ抵抗Ｒc 及びゲージ
抵抗Ｒsで構成された抵抗ブリッジ回路１２に接続され
ている。抵抗ブリッジ回路１２の一方の出力１２Ａ（電
圧値ＶS1）は、比較手段としての第１オペアンプ１４の
一方の入力端子１４Ａに接続されており、抵抗ブリッジ
回路１２の他方の出力１２Ｂ（電圧値ＶS2）は、増幅手
段としての第２オペアンプ１６の一方の入力端子１６Ａ
に接続されている。第２オペアンプ１６の他方の入力端
子１６Ｂには、第１オペアンプ１４の出力端子１４Ｂが
抵抗Ｒ３を介して接続されており、第２オペアンプ１６
の出力端子１６Ｃと第２オペアンプ１６の入力端子１６
Ｂとは抵抗Ｒ４を介して接続されている。
【００１５】このため、抵抗ブリッジ回路１２のバラン
スが崩れると、ゲージ抵抗Ｒc 及びゲージ抵抗Ｒs が変
化して、抵抗ブリッジ回路１２の出力１２Ａ、１２Ｂの
各電圧が変化し第２オペアンプ１６の出力端子１６Ｃの
電圧が変化するようになっている。
スが崩れると、ゲージ抵抗Ｒc 及びゲージ抵抗Ｒs が変
化して、抵抗ブリッジ回路１２の出力１２Ａ、１２Ｂの
各電圧が変化し第２オペアンプ１６の出力端子１６Ｃの
電圧が変化するようになっている。
【００１６】このセンサ回路１０の故障を検出する検出
回路２０は、チェクパルスが入力されるチェック入力端
子２０Ａを備えており、チェック入力端子２０Ａは抵抗
Ｒ６を介してトランジスタＴr1のベースＢに接続されて
いる。トランジスタＴr1のコレクタＣは、抵抗Ｒ１を介
して第１オペアンプ１４の他方の入力端子１４Ｃに接続
されており、第１オペアンプ１４の入力端子１４Ｃは、
抵抗Ｒ２を介して第１オペアンプ１４の他方の出力端子
１４Ｂに接続されている。
回路２０は、チェクパルスが入力されるチェック入力端
子２０Ａを備えており、チェック入力端子２０Ａは抵抗
Ｒ６を介してトランジスタＴr1のベースＢに接続されて
いる。トランジスタＴr1のコレクタＣは、抵抗Ｒ１を介
して第１オペアンプ１４の他方の入力端子１４Ｃに接続
されており、第１オペアンプ１４の入力端子１４Ｃは、
抵抗Ｒ２を介して第１オペアンプ１４の他方の出力端子
１４Ｂに接続されている。
【００１７】次に、本第１実施形態の作用を説明する。
本第１実施形態では、検出回路２０のチェック入力端子
２０Ａにチェックパルスが入力されると、トランジスタ
Ｔr1が、飽和領域でオンする（コレクタ、エミッタ間電
圧値ＶCE）。これによって、第１オペアンプ１４の入力
端子１４Ｃの規準電圧が、抵抗Ｒ１、Ｒ２によって決ま
り、第１オペアンプ１４の出力端子１４Ｂの電圧は、
（ＶS1−ＶCE）×（１＋Ｒ２／Ｒ１）となる。このた
め、出力を設定する際も、抵抗Ｒ１、Ｒ２の抵抗比で簡
単に決まり、トリミングの条件出しが容易になる。
本第１実施形態では、検出回路２０のチェック入力端子
２０Ａにチェックパルスが入力されると、トランジスタ
Ｔr1が、飽和領域でオンする（コレクタ、エミッタ間電
圧値ＶCE）。これによって、第１オペアンプ１４の入力
端子１４Ｃの規準電圧が、抵抗Ｒ１、Ｒ２によって決ま
り、第１オペアンプ１４の出力端子１４Ｂの電圧は、
（ＶS1−ＶCE）×（１＋Ｒ２／Ｒ１）となる。このた
め、出力を設定する際も、抵抗Ｒ１、Ｒ２の抵抗比で簡
単に決まり、トリミングの条件出しが容易になる。
【００１８】なお、この電圧（ＶS1−ＶCE）×（Ｒ２／
Ｒ１）は、抵抗ブリッジ回路１２を備えた加速度セン
サ、圧力センサ等のセンサに作用する加速度、圧力等の
所定の物理量に相当する定数に設定する。
Ｒ１）は、抵抗ブリッジ回路１２を備えた加速度セン
サ、圧力センサ等のセンサに作用する加速度、圧力等の
所定の物理量に相当する定数に設定する。
【００１９】従って、検出回路２０は、抵抗ブリッジ回
路１２のバランスを維持したまま第１オペアンプ１４の
規準電圧を変化させる。このため、センサ回路１０が故
障していなければ第１オペアンプ１４の出力が反転し、
第２オペアンプ１６により、所定の増幅率で増幅され、
出力端子１６Ｃに所定の出力電圧が出力される。
路１２のバランスを維持したまま第１オペアンプ１４の
規準電圧を変化させる。このため、センサ回路１０が故
障していなければ第１オペアンプ１４の出力が反転し、
第２オペアンプ１６により、所定の増幅率で増幅され、
出力端子１６Ｃに所定の出力電圧が出力される。
【００２０】このように、本第１実施形態の回路故障検
出回路では、抵抗ブリッジ回路１２のバランスを崩して
いないため、抵抗ブリッジ回路１２の電流に影響を与え
ることも無い。従って、センサ回路１０自体の故障検出
精度を向上することができる。
出回路では、抵抗ブリッジ回路１２のバランスを崩して
いないため、抵抗ブリッジ回路１２の電流に影響を与え
ることも無い。従って、センサ回路１０自体の故障検出
精度を向上することができる。
【００２１】次に、本発明の回路故障検出回路の第２実
施形態について図２に従って説明する。
施形態について図２に従って説明する。
【００２２】なお、第１実施形態と同一部材について
は、同一符号を付してその説明を省略する。
は、同一符号を付してその説明を省略する。
【００２３】図２に示される如く、本第２実施形態で
は、検出回路２０の抵抗Ｒ１と第１オペアンプ１４の入
力端子１４Ｃとの間に抵抗Ｒ０が接続されており、この
抵抗Ｒ０と抵抗Ｒ１との連結点Ｐ１には、電源電圧ＶCC
とグランド間に直列に接続された抵抗Ｒ５と抵抗Ｒ６と
の連結点Ｐ２が接続されている。また、Ｒ０＝Ｒ４、Ｒ
２＝Ｒ３とする。
は、検出回路２０の抵抗Ｒ１と第１オペアンプ１４の入
力端子１４Ｃとの間に抵抗Ｒ０が接続されており、この
抵抗Ｒ０と抵抗Ｒ１との連結点Ｐ１には、電源電圧ＶCC
とグランド間に直列に接続された抵抗Ｒ５と抵抗Ｒ６と
の連結点Ｐ２が接続されている。また、Ｒ０＝Ｒ４、Ｒ
２＝Ｒ３とする。
【００２４】従って、本第２実施形態は、抵抗ブリッジ
回路１２の出力１２Ａ（電圧値ＶS1）と出力１２Ｂ（電
圧値ＶS2）の電圧差を増幅して、電源電圧ＶCCを抵抗Ｒ
５と抵抗Ｒ６とで分割した電圧ＶR を中心として出力す
る回路になっている。
回路１２の出力１２Ａ（電圧値ＶS1）と出力１２Ｂ（電
圧値ＶS2）の電圧差を増幅して、電源電圧ＶCCを抵抗Ｒ
５と抵抗Ｒ６とで分割した電圧ＶR を中心として出力す
る回路になっている。
【００２５】即ち、第２オペアンプ１６の出力端子１６
Ｃの電圧ＶOUT は、ＶOUT ＝（ＶS2−ＶS1）×（Ｒ４／
Ｒ３＋１）＋ＶR となる。
Ｃの電圧ＶOUT は、ＶOUT ＝（ＶS2−ＶS1）×（Ｒ４／
Ｒ３＋１）＋ＶR となる。
【００２６】次に、本第２実施形態の作用を説明する。
本第２実施形態では、検出回路２０のチェック入力端子
２０Ａにチェックパルスが入力されると、トランジスタ
Ｔr1が、飽和領域でオンする（コレクタ、エミッタ間電
圧値ＶCE≒０とする）。これによって、電圧ＶR ≒（Ｒ
６とＲ１との並列抵抗値）／｛Ｒ５＋（Ｒ６とＲ１との
並列抵抗値）｝ＶCCとなる。
本第２実施形態では、検出回路２０のチェック入力端子
２０Ａにチェックパルスが入力されると、トランジスタ
Ｔr1が、飽和領域でオンする（コレクタ、エミッタ間電
圧値ＶCE≒０とする）。これによって、電圧ＶR ≒（Ｒ
６とＲ１との並列抵抗値）／｛Ｒ５＋（Ｒ６とＲ１との
並列抵抗値）｝ＶCCとなる。
【００２７】従って、所定の出力電圧ＶOUT が出るよう
に抵抗Ｒ１を設定すれば、センサ回路１０のチエックが
可能である。例えば、抵抗Ｒ４等のゲイン抵抗が劣化等
により変化した場合やオペアンプが故障の場合には出力
電圧ＶOUT も変化する。
に抵抗Ｒ１を設定すれば、センサ回路１０のチエックが
可能である。例えば、抵抗Ｒ４等のゲイン抵抗が劣化等
により変化した場合やオペアンプが故障の場合には出力
電圧ＶOUT も変化する。
【００２８】このように、本第２実施形態では、抵抗ブ
リッジ回路１２の出力１２Ａ（電圧値ＶS1）と出力１２
Ｂ（電圧値ＶS2）の電圧差を増幅して、電源電圧ＶCCを
抵抗Ｒ５と抵抗Ｒ６とで分割した電圧ＶR を中心として
出力する回路になっていると共に、規準電圧ＶR を第２
オペアンプ１６のゲインを決めている抵抗比Ｒ０＝Ｒ
４、Ｒ２＝Ｒ３に基づいて所定の電圧に設定しているた
め、ゲイン及び抵抗ブリッジ回路１２の中点電位に関係
なく、一定の検出出力を出すことができ、温度特性や、
センサの中点電位の初期のばらつきに影響されないで、
センサ回路１０自体の故障検出精度を向上することがで
きる。
リッジ回路１２の出力１２Ａ（電圧値ＶS1）と出力１２
Ｂ（電圧値ＶS2）の電圧差を増幅して、電源電圧ＶCCを
抵抗Ｒ５と抵抗Ｒ６とで分割した電圧ＶR を中心として
出力する回路になっていると共に、規準電圧ＶR を第２
オペアンプ１６のゲインを決めている抵抗比Ｒ０＝Ｒ
４、Ｒ２＝Ｒ３に基づいて所定の電圧に設定しているた
め、ゲイン及び抵抗ブリッジ回路１２の中点電位に関係
なく、一定の検出出力を出すことができ、温度特性や、
センサの中点電位の初期のばらつきに影響されないで、
センサ回路１０自体の故障検出精度を向上することがで
きる。
【００２９】次に、本発明の回路故障検出回路の第３実
施形態について図３に従って説明する。
施形態について図３に従って説明する。
【００３０】なお、第１実施形態及び第２実施形態と同
一部材については、同一符号を付してその説明を省略す
る。
一部材については、同一符号を付してその説明を省略す
る。
【００３１】図３に示される如く、本第３実施形態で
は、抵抗ブリッジ回路１２に電流を供給する定電流回路
３０が設けられており、この定電流回路３０はオペアン
プ３２を備えている。また、定電流回路３０は、電源電
圧ＶCCとグランド間に直列に接続された可変抵抗Ｒ１１
と抵抗Ｒ１２とを備えており、可変抵抗Ｒ１１と抵抗Ｒ
１２との連結点Ｐ３がオペアンプ３２の一方の入力端子
３２Ａに接続されている。オペアンプ３２の他方の入力
端子３２Ｂは、抵抗ブリッジ回路１２のゲージ抵抗Ｒc
、Ｒs の接地側に接続されており、抵抗Ｒ１３を介し
て接地されている。また、オペアンプ３２の出力端子３
２Ｃは、抵抗ブリッジ回路１２のゲージ抵抗Ｒc 、Ｒs
の電源側に接続されている。
は、抵抗ブリッジ回路１２に電流を供給する定電流回路
３０が設けられており、この定電流回路３０はオペアン
プ３２を備えている。また、定電流回路３０は、電源電
圧ＶCCとグランド間に直列に接続された可変抵抗Ｒ１１
と抵抗Ｒ１２とを備えており、可変抵抗Ｒ１１と抵抗Ｒ
１２との連結点Ｐ３がオペアンプ３２の一方の入力端子
３２Ａに接続されている。オペアンプ３２の他方の入力
端子３２Ｂは、抵抗ブリッジ回路１２のゲージ抵抗Ｒc
、Ｒs の接地側に接続されており、抵抗Ｒ１３を介し
て接地されている。また、オペアンプ３２の出力端子３
２Ｃは、抵抗ブリッジ回路１２のゲージ抵抗Ｒc 、Ｒs
の電源側に接続されている。
【００３２】なお、第２オペアンプ１６の出力端子１６
Ｃの電圧ＶOUT は、ＶOUT ＝（ＶS2−ＶS1）×（Ｒ４／
Ｒ３＋１）＋ＶR となる。なお、Ｒ０＝Ｒ４、Ｒ２＝Ｒ
３とする。
Ｃの電圧ＶOUT は、ＶOUT ＝（ＶS2−ＶS1）×（Ｒ４／
Ｒ３＋１）＋ＶR となる。なお、Ｒ０＝Ｒ４、Ｒ２＝Ｒ
３とする。
【００３３】次に、本第３実施形態の作用を説明する。
本第３実施形態では、定電流回路３０において、可変抵
抗Ｒ１１と抵抗Ｒ１２とで電源電圧ＶCCを分割した電圧
Ｖ3 を、抵抗ブリッジ回路１２のゲージ抵抗Ｒc 、Ｒs
と抵抗Ｒ１３との間の電圧Ｖ4 と同電位にすると、抵抗
ブリッジ回路１２に流れる電流ＩS が、ＩS ＝Ｖ4 ／Ｒ
１３となる。
本第３実施形態では、定電流回路３０において、可変抵
抗Ｒ１１と抵抗Ｒ１２とで電源電圧ＶCCを分割した電圧
Ｖ3 を、抵抗ブリッジ回路１２のゲージ抵抗Ｒc 、Ｒs
と抵抗Ｒ１３との間の電圧Ｖ4 と同電位にすると、抵抗
ブリッジ回路１２に流れる電流ＩS が、ＩS ＝Ｖ4 ／Ｒ
１３となる。
【００３４】従って、抵抗ブリッジ回路１２に流れる電
流値と、センサ感度との関係が変化していなければ、所
定の感度になるように可変抵抗Ｒ１１を調整することが
できる。また、可変抵抗Ｒ１１を抵抗値が小さい状態か
ら、抵抗値が大きくなる方向へ調整するとによって、大
信号で調整条件を出すことになり、誤差を小さくでき感
度調整精度が向上する。
流値と、センサ感度との関係が変化していなければ、所
定の感度になるように可変抵抗Ｒ１１を調整することが
できる。また、可変抵抗Ｒ１１を抵抗値が小さい状態か
ら、抵抗値が大きくなる方向へ調整するとによって、大
信号で調整条件を出すことになり、誤差を小さくでき感
度調整精度が向上する。
【００３５】
【発明の効果】請求項１に記載の本発明は、抵抗ブリッ
ジ回路のバランスが崩れることにより物理量を検出する
センサ回路に接続される回路故障検出回路であって、抵
抗ブリッジ回路の一方の出力電圧と規準電圧とを比較す
る比較手段と、チェックパルスが入力されると抵抗ブリ
ッジ回路のバランスを維持したまま規準電圧を変化させ
比較手段を反転させる検出回路と、を有すると共に、規
準電圧を前記比較手段に接続された増幅手段のゲインを
決めている抵抗比に基づいて所定の電圧に設定した構成
としたので、センサ回路自体の故障検出精度を向上する
ことができるという優れた効果を有する。
ジ回路のバランスが崩れることにより物理量を検出する
センサ回路に接続される回路故障検出回路であって、抵
抗ブリッジ回路の一方の出力電圧と規準電圧とを比較す
る比較手段と、チェックパルスが入力されると抵抗ブリ
ッジ回路のバランスを維持したまま規準電圧を変化させ
比較手段を反転させる検出回路と、を有すると共に、規
準電圧を前記比較手段に接続された増幅手段のゲインを
決めている抵抗比に基づいて所定の電圧に設定した構成
としたので、センサ回路自体の故障検出精度を向上する
ことができるという優れた効果を有する。
【００３６】請求項２に記載の本発明は、抵抗ブリッジ
回路のバランスが崩れることにより物理量を検出するセ
ンサ回路に接続される回路故障検出回路であって、抵抗
ブリッジ回路の一方の出力電圧と規準電圧とを比較する
比較手段と、チェックパルスが入力されると抵抗ブリッ
ジ回路のバランスを維持したまま規準電圧を変化させ比
較手段を反転させる検出回路と、を有すると共に、抵抗
ブリッジ回路に電流を供給している定電流回路を有し、
定電流回路中の電流値を決める抵抗を調整可能としたの
で、センサ回路自体の故障検出精度を向上することがで
きるという優れた効果を有する。
回路のバランスが崩れることにより物理量を検出するセ
ンサ回路に接続される回路故障検出回路であって、抵抗
ブリッジ回路の一方の出力電圧と規準電圧とを比較する
比較手段と、チェックパルスが入力されると抵抗ブリッ
ジ回路のバランスを維持したまま規準電圧を変化させ比
較手段を反転させる検出回路と、を有すると共に、抵抗
ブリッジ回路に電流を供給している定電流回路を有し、
定電流回路中の電流値を決める抵抗を調整可能としたの
で、センサ回路自体の故障検出精度を向上することがで
きるという優れた効果を有する。
【００３７】
【図１】本発明の第１実施形態の回路故障検出回路を示
す回路図である。
す回路図である。
【図２】本発明の第２実施形態の回路故障検出回路を示
す回路図である。
す回路図である。
【図３】本発明の第３実施形態の回路故障検出回路を示
す回路図である。
す回路図である。
【図４】加速度センサを示す斜視図である。
【図５】従来例の回路故障検出回路を示す回路図であ
る。
る。
１０ センサ回路 １２ 抵抗ブリッジ回路 １４ 第１オペアンプ（比較手段） １６ 第２オペアンプ（増幅手段） ２０ 検出回路 ３０ 定電流回路 ３２ オペアンプ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松居 和人 愛知県丹羽郡大口町大字豊田字野田１番 地 株式会社東海理化電機製作所内 (56)参考文献 特開 昭63−255664（ＪＰ，Ａ) 特公 平５−9747（ＪＰ，Ｂ２) 特公 平６−64085（ＪＰ，Ｂ２) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01D 21/00 G01R 31/00 G01L G01K G01B G01D 5/00 G01G
Claims (2)
- 【請求項１】 抵抗ブリッジ回路のバランスが崩れるこ
とにより物理量を検出するセンサ回路に接続される回路
故障検出回路であって、前記抵抗ブリッジ回路の一方の
出力電圧と規準電圧とを比較する比較手段と、チェック
パルスが入力されると前記抵抗ブリッジ回路のバランス
を維持したまま前記規準電圧を変化させ前記比較手段を
反転させる検出回路と、を有すると共に、前記規準電圧
を前記比較手段に接続された増幅手段のゲインを決めて
いる抵抗比に基づいて所定の電圧に設定したことを特徴
とする回路故障検出回路。 - 【請求項２】 抵抗ブリッジ回路のバランスが崩れるこ
とにより物理量を検出するセンサ回路に接続される回路
故障検出回路であって、前記抵抗ブリッジ回路の一方の
出力電圧と規準電圧とを比較する比較手段と、チェック
パルスが入力されると前記抵抗ブリッジ回路のバランス
を維持したまま前記規準電圧を変化させ前記比較手段を
反転させる検出回路と、を有すると共に、前記抵抗ブリ
ッジ回路に電流を供給している定電流回路を有し、該定
電流回路中の電流値を決める抵抗を調整可能としたこと
を特徴とする回路故障検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29123995A JP3291179B2 (ja) | 1995-02-22 | 1995-11-09 | 回路故障検出回路 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3399295 | 1995-02-22 | ||
| JP7-33992 | 1995-02-22 | ||
| JP29123995A JP3291179B2 (ja) | 1995-02-22 | 1995-11-09 | 回路故障検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08292074A JPH08292074A (ja) | 1996-11-05 |
| JP3291179B2 true JP3291179B2 (ja) | 2002-06-10 |
Family
ID=26372777
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29123995A Expired - Lifetime JP3291179B2 (ja) | 1995-02-22 | 1995-11-09 | 回路故障検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3291179B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5084067B2 (ja) * | 2011-07-07 | 2012-11-28 | アズビル株式会社 | サーボ型センサ |
| CN113049987B (zh) * | 2021-06-01 | 2021-08-03 | 北京博科测试系统股份有限公司 | 一种实时监测传感器在线状态的监测模块 |
-
1995
- 1995-11-09 JP JP29123995A patent/JP3291179B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08292074A (ja) | 1996-11-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7098799B2 (en) | Unit for sensing physical quantity | |
| JPH08201490A (ja) | センサｉｃ | |
| US5631602A (en) | Wheatstone bridge amplifier circuit with integrated diagnostic testing | |
| JP2002148131A (ja) | 物理量検出装置 | |
| JP4438222B2 (ja) | 物理量検出装置 | |
| JP2000266776A (ja) | 圧電式加速度センサ用増幅回路 | |
| JP3019550B2 (ja) | 半導体センサの自己診断回路 | |
| JP3274034B2 (ja) | 半導体加速度検出装置 | |
| JP5278114B2 (ja) | センサ装置 | |
| JP3291179B2 (ja) | 回路故障検出回路 | |
| US6011422A (en) | Integrated differential voltage amplifier with programmable gain and input offset voltage | |
| JP4893053B2 (ja) | 物理量検出装置 | |
| JP3335516B2 (ja) | 半導体センサ | |
| JP2001183254A (ja) | 圧力センサ | |
| JP4617545B2 (ja) | センサの異常検出回路及び物理量検出装置 | |
| JP2737481B2 (ja) | 半導体加速度センサー | |
| JP2002174651A (ja) | 物理量検出装置 | |
| JP4309668B2 (ja) | 熱式空気流量測定装置及びその診断方法 | |
| JP2003194598A (ja) | センサの異常検出方法及びセンサの異常検出装置 | |
| JPH08226862A (ja) | センサおよび該センサにおける測定範囲変動を温度補償する方法 | |
| JP2001194256A (ja) | センサ装置 | |
| EP0500631A1 (en) | Transducer power supply | |
| JP3937951B2 (ja) | センサ回路 | |
| JP2001201413A (ja) | 圧力センサ | |
| JP3149292B2 (ja) | 湿度検知装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090322 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100322 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100322 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110322 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110322 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120322 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130322 Year of fee payment: 11 |