JP3288538B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクに光ビ−ム
を照射することにより情報の記録および再生を行う光デ
ィスク装置に係り、特に２ビ−ム フィードバック記録
制御系による記録波形制御により、記録制御の高精度化
と高密度記録を実現する記録情報の大容量化に好適な構
造の光ディスク装置に関する。
を照射することにより情報の記録および再生を行う光デ
ィスク装置に係り、特に２ビ−ム フィードバック記録
制御系による記録波形制御により、記録制御の高精度化
と高密度記録を実現する記録情報の大容量化に好適な構
造の光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】高記録密度の回転記録媒体である光ディ
スクを用いて、情報の記録および再生を行う情報記憶装
置として光ディスク装置が開発されている。光ディスク
への記録は、光ビ−ムの照射により光ディスク上の所定
の場所を局部的に高温化させ、形状、組成あるいは磁性
の変化をマ−クとすることにより行われている。光ディ
スクからの再生は、光ビ−ムを照射し、光ディスクから
の反射光に含まれるマ−クの情報をフォトディテクタに
て再生信号に変換することにより行われている。本発明
の光ディスク装置の構成と最も類似していると思われ
る、従来の記録および再生を行う光ディスク装置を、図
１５を用いて説明する。図において、記録情報生成手段
２０２により生成された記録情報をもとに、記録パタ−
ン生成回路２０４は、記録用半導体レ−ザ２０６を駆動
する。記録用半導体レ−ザ２０６より出射された記録用
光ビ−ム２０８は、コリメ−トレンズ２２０、ビ−ムス
プリッタ２２２、対物レンズ２２４を通り、光ディスク
２２８上のトラック２２９に集光する。集光した記録用
光ビ−ム２０８は、光ディスク２２８上を加熱し記録情
報に応じたマ−クを形成する。一方、再生用光ビ−ム照
射手段２１４、例えば再生用半導体レ−ザ２１６から出
射された再生用光ビ−ム２１８は、コリメ−トレンズ２
２０、ビ−ムスプリッタ２２２、対物レンズ２２４を通
り、記録用光ビ−ム２０８が記録している同一トラック
２２９に集光する。反射した再生用光ビ−ム２１８は、
再び対物レンズ２２４を通り、ビ−ムスプリッタ２２２
にて光路を変更され、検出レンズ２２６を通り、再生用
光ビ−ム検出手段２３０、例えばフォトディテクタに集
光する。光ディスク２２８は、図に示す矢印の回転方向
に回転するため、光ディスク２２８から反射された再生
用光ビ−ム２１８には、記録用光ビ−ム２０８が記録し
たマ−クの情報が含まれており、フォトディテクタ２３
０の出力は再生信号となる。この再生信号は、記録情報
確認手段２３２にて記録情報と比較され、記録の成功が
確認される。記録が失敗した場合には、光ディスクが１
回転した後、再び記録を行う。
スクを用いて、情報の記録および再生を行う情報記憶装
置として光ディスク装置が開発されている。光ディスク
への記録は、光ビ−ムの照射により光ディスク上の所定
の場所を局部的に高温化させ、形状、組成あるいは磁性
の変化をマ−クとすることにより行われている。光ディ
スクからの再生は、光ビ−ムを照射し、光ディスクから
の反射光に含まれるマ−クの情報をフォトディテクタに
て再生信号に変換することにより行われている。本発明
の光ディスク装置の構成と最も類似していると思われ
る、従来の記録および再生を行う光ディスク装置を、図
１５を用いて説明する。図において、記録情報生成手段
２０２により生成された記録情報をもとに、記録パタ−
ン生成回路２０４は、記録用半導体レ−ザ２０６を駆動
する。記録用半導体レ−ザ２０６より出射された記録用
光ビ−ム２０８は、コリメ−トレンズ２２０、ビ−ムス
プリッタ２２２、対物レンズ２２４を通り、光ディスク
２２８上のトラック２２９に集光する。集光した記録用
光ビ−ム２０８は、光ディスク２２８上を加熱し記録情
報に応じたマ−クを形成する。一方、再生用光ビ−ム照
射手段２１４、例えば再生用半導体レ−ザ２１６から出
射された再生用光ビ−ム２１８は、コリメ−トレンズ２
２０、ビ−ムスプリッタ２２２、対物レンズ２２４を通
り、記録用光ビ−ム２０８が記録している同一トラック
２２９に集光する。反射した再生用光ビ−ム２１８は、
再び対物レンズ２２４を通り、ビ−ムスプリッタ２２２
にて光路を変更され、検出レンズ２２６を通り、再生用
光ビ−ム検出手段２３０、例えばフォトディテクタに集
光する。光ディスク２２８は、図に示す矢印の回転方向
に回転するため、光ディスク２２８から反射された再生
用光ビ−ム２１８には、記録用光ビ−ム２０８が記録し
たマ−クの情報が含まれており、フォトディテクタ２３
０の出力は再生信号となる。この再生信号は、記録情報
確認手段２３２にて記録情報と比較され、記録の成功が
確認される。記録が失敗した場合には、光ディスクが１
回転した後、再び記録を行う。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の光ディスク
装置では、フォ−カシングおよびトラッキングサ−ボ変
動、環境変動、経時変動、製造不良、調整不良などが生
じた場合に、記録用光ビ−ムの出力が変動するため、記
録制御系としては記録用光ビ−ムの出力に外乱Ａが加わ
っていると解釈される。さらに、光ディスクの媒体感度
のバラツキ、環境変動、製造不良などにより、マ−ク径
あるいはマ−ク長が変動するため、記録制御系としては
マ−ク形成プロセスに外乱Ｂが加わっていると解釈され
る。これらの外乱Ａ、Ｂにより、マ−ク径あるいはマ−
ク長が変動するため、マ−ク径あるいはマ−ク長を縮小
した高密度記録を行うことが困難となっていた。
装置では、フォ−カシングおよびトラッキングサ−ボ変
動、環境変動、経時変動、製造不良、調整不良などが生
じた場合に、記録用光ビ−ムの出力が変動するため、記
録制御系としては記録用光ビ−ムの出力に外乱Ａが加わ
っていると解釈される。さらに、光ディスクの媒体感度
のバラツキ、環境変動、製造不良などにより、マ−ク径
あるいはマ−ク長が変動するため、記録制御系としては
マ−ク形成プロセスに外乱Ｂが加わっていると解釈され
る。これらの外乱Ａ、Ｂにより、マ−ク径あるいはマ−
ク長が変動するため、マ−ク径あるいはマ−ク長を縮小
した高密度記録を行うことが困難となっていた。
【０００４】本発明の目的は、上記従来技術における問
題点を解決し、光ディスク装置のフォ−カシングおよび
トラッキングサ−ボ変動、媒体感度のバラツキ、環境変
動、経時変動、製造不良、調整不良などに依存すること
なく安定して微小なマ−クを高精度に形成することが可
能な記録制御系を提案し、記録情報の大容量化に好適な
構造の光ディスク装置を提供することにある。
題点を解決し、光ディスク装置のフォ−カシングおよび
トラッキングサ−ボ変動、媒体感度のバラツキ、環境変
動、経時変動、製造不良、調整不良などに依存すること
なく安定して微小なマ−クを高精度に形成することが可
能な記録制御系を提案し、記録情報の大容量化に好適な
構造の光ディスク装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記本発明の目的は、基
本的に記録制御系をフィ−ドバック制御系とすることに
より達成される。特に、２ビ−ム フィードバック記録
制御系による記録波形制御により、記録制御の高精度化
と高密度記録を実現し、記録情報の大容量化に適した構
造の光ディスク装置とするものである。すなわち、本発
明においては、請求項１に記載のように、光ディスク上
の同一トラックに少なくとも記録用光ビ−ムと再生用光
ビ−ムの２ビ−ムを照射する。情報の記録を行う際に
は、記録用光ビ−ムで記録を行い、再生用光ビ−ムで記
録した情報を再生すると共に、再生された信号をもと
に、記録用光ビ−ムの強度を制御しながら記録を行うも
のである。このための手段として、情報の記録および再
生が可能な光ディスク上のトラックに記録する記録情報
を生成する記録情報生成手段と、記録情報に応じて光デ
ィスク上のトラックに少なくとも１つの記録用光ビ−ム
を照射する記録用光ビ−ム照射手段と、光ディスク上の
同一トラックに少なくとも１つの再生用光ビ−ムを照射
する再生用光ビ−ム照射手段と、光ディスクから反射さ
れた再生用光ビ−ムを検出する再生用光ビ−ム検出手段
と、少なくとも情報の記録を行う際に、再生用光ビ−ム
検出手段が生成する再生信号に応じて記録用光ビ−ム照
射手段を制御する記録用光ビ−ム制御手段を設けるもの
である。上記記録用光ビ−ム制御手段は、具体的には、
記録情報に応じて再生用光ビ−ム検出手段の出力信号を
模擬するモデルを有し、再生用光ビ−ム検出手段が生成
する再生信号とモデルの出力信号との振幅差、あるいは
位相差、あるいは振幅差および位相差に応じて記録用光
ビ−ム照射手段を制御する制御信号を生成する機能を有
するものであって、請求項４に記載のように、記録用光
ビ−ム照射手段の照射強度、あるいは照射時間、あるい
は照射強度および照射時間を制御するものである。ある
いは、請求項２に記載のように、記録用光ビ−ム制御手
段は、再生用光ビ−ム検出手段が生成する再生信号と記
録情報との位相差に応じて記録用光ビ−ム照射手段を制
御する制御信号を生成する機能を有するものであって、
請求項４に記載のように、記録用光ビ−ム照射手段の照
射強度、あるいは照射時間、あるいは照射強度および照
射時間を制御するものである。あるいは、請求項３に記
載のように、記録用光ビ−ム制御手段は、再生用光ビ−
ム検出手段が生成する再生信号と、該再生信号に同期す
る同期信号との位相差に応じて記録用光ビ−ム照射手段
を制御する制御信号を生成する機能を有するものであっ
て、請求項４に記載のように、記録用光ビ−ム制御手段
は、記録用光ビ−ム照射手段の照射強度、あるいは照射
時間、あるいは照射強度および照射時間を制御するもの
である。
本的に記録制御系をフィ−ドバック制御系とすることに
より達成される。特に、２ビ−ム フィードバック記録
制御系による記録波形制御により、記録制御の高精度化
と高密度記録を実現し、記録情報の大容量化に適した構
造の光ディスク装置とするものである。すなわち、本発
明においては、請求項１に記載のように、光ディスク上
の同一トラックに少なくとも記録用光ビ−ムと再生用光
ビ−ムの２ビ−ムを照射する。情報の記録を行う際に
は、記録用光ビ−ムで記録を行い、再生用光ビ−ムで記
録した情報を再生すると共に、再生された信号をもと
に、記録用光ビ−ムの強度を制御しながら記録を行うも
のである。このための手段として、情報の記録および再
生が可能な光ディスク上のトラックに記録する記録情報
を生成する記録情報生成手段と、記録情報に応じて光デ
ィスク上のトラックに少なくとも１つの記録用光ビ−ム
を照射する記録用光ビ−ム照射手段と、光ディスク上の
同一トラックに少なくとも１つの再生用光ビ−ムを照射
する再生用光ビ−ム照射手段と、光ディスクから反射さ
れた再生用光ビ−ムを検出する再生用光ビ−ム検出手段
と、少なくとも情報の記録を行う際に、再生用光ビ−ム
検出手段が生成する再生信号に応じて記録用光ビ−ム照
射手段を制御する記録用光ビ−ム制御手段を設けるもの
である。上記記録用光ビ−ム制御手段は、具体的には、
記録情報に応じて再生用光ビ−ム検出手段の出力信号を
模擬するモデルを有し、再生用光ビ−ム検出手段が生成
する再生信号とモデルの出力信号との振幅差、あるいは
位相差、あるいは振幅差および位相差に応じて記録用光
ビ−ム照射手段を制御する制御信号を生成する機能を有
するものであって、請求項４に記載のように、記録用光
ビ−ム照射手段の照射強度、あるいは照射時間、あるい
は照射強度および照射時間を制御するものである。ある
いは、請求項２に記載のように、記録用光ビ−ム制御手
段は、再生用光ビ−ム検出手段が生成する再生信号と記
録情報との位相差に応じて記録用光ビ−ム照射手段を制
御する制御信号を生成する機能を有するものであって、
請求項４に記載のように、記録用光ビ−ム照射手段の照
射強度、あるいは照射時間、あるいは照射強度および照
射時間を制御するものである。あるいは、請求項３に記
載のように、記録用光ビ−ム制御手段は、再生用光ビ−
ム検出手段が生成する再生信号と、該再生信号に同期す
る同期信号との位相差に応じて記録用光ビ−ム照射手段
を制御する制御信号を生成する機能を有するものであっ
て、請求項４に記載のように、記録用光ビ−ム制御手段
は、記録用光ビ−ム照射手段の照射強度、あるいは照射
時間、あるいは照射強度および照射時間を制御するもの
である。
【０００６】
【作用】本発明の光ディスク装置によれば、請求項１に
記載のように、光ディスク上の同一のトラックに少なく
とも記録用光ビ−ムと再生用光ビ−ムの２ビ−ムを照射
するため、記録用光ビ−ムが記録したマ−クを、再生用
光ビ−ムにより短時間で再生することが可能となる。再
生された再生信号をもとに、すぐさま記録用光ビ−ム制
御手段は制御信号を生成し、記録用光ビ−ム照射手段を
制御するため、記録制御系がフィ−ドバック制御系とな
り、その結果、外乱に依存することなく、マ−ク径、あ
るいはマ−ク長の精度が向上し、マ−ク径、あるいはマ
−ク長を縮小した高密度記録を行うことが可能となる。
具体的には、記録用光ビ−ム制御手段が再生信号とモデ
ルの出力信号との振幅差、あるいは位相差、あるいは振
幅差および位相差に応じて、請求項４に記載のように、
記録用光ビ−ム照射手段の照射強度、あるいは照射時
間、あるいは照射強度および照射時間を制御する場合に
は、フィ−ドバック制御系の構成要素として、目標値が
記録情報に対応するモデルの出力信号、制御対象が記録
用光ビ−ム照射手段、被制御量が再生信号、センサが再
生用光ビ−ムと再生用光ビ−ム検出手段となり、外乱に
依存することなく、マ−ク径、あるいはマ−ク長を縮小
した高密度記録を行うことができる。あるいは、請求項
２に記載のように、記録用光ビ−ム制御手段が再生信号
と記録情報との位相差に応じて、請求項４に記載のよう
に、記録用光ビ−ム照射手段の照射強度、あるいは照射
時間、あるいは照射強度および照射時間を制御する場合
には、フィ−ドバック制御系の構成要素は、目標値が記
録情報、制御対象が記録用光ビ−ム照射手段、被制御量
が再生信号、センサが再生用光ビ−ムと再生用光ビ−ム
検出手段となり、外乱に依存することなく、マ−ク径、
あるいはマ−ク長を縮小した高密度記録を行うことが可
能となる。あるいは、請求項３に記載のように、記録用
光ビ−ム制御手段が再生信号と再生信号に同期する同期
信号との位相差に応じて、請求項４に記載のように、記
録用光ビ−ム照射手段の照射強度、あるいは照射時間、
あるいは照射強度および射時間を制御する場合には、フ
ィ−ドバック制御系は２つの制御対象を持つ２段サ−ボ
系となり、フィ−ドバック制御系の構成要素は、制御対
象が記録用光ビ−ム照射手段および同期信号生成器、被
制御量が再生信号と同期信号の位相差、センサが再生用
光ビ−ムと再生用光ビ−ム検出手段となり、外乱に依存
することなく、マ−ク径、あるいはマ−ク長を縮小した
高密度記録を行うことが可能となる。外乱は、フォ−カ
シングおよびトラッキングサ−ボ変動、環境変動、経時
変動、製造不良、調整不良などによる記録用光ビ−ムの
強度変動、そして光ディスクの媒体感度のバラツキ、環
境変動、製造不良などによるマ−ク形成プロセスの変動
が挙げられる。フィ−ドバック制御系が外乱を抑圧する
能力は、その帯域幅に大きく依存する。本発明の光ディ
スク装置によれば、再生された再生信号をもとに、すぐ
さま記録用光ビ−ム制御手段により制御信号を生成する
ことができるため、むだ時間が小さく制御信号の位相遅
れは小さくなる。そのため、フィ−ドバック制御系の帯
域幅を広くすることが可能となり、被制御量である再生
信号は外乱の影響を受けにくくなる。その結果、マ−ク
径、あるいはマ−ク長の精度が向上し、マ−ク径、ある
いはマ−ク長を縮小した高密度記録を実現することがで
きる。
記載のように、光ディスク上の同一のトラックに少なく
とも記録用光ビ−ムと再生用光ビ−ムの２ビ−ムを照射
するため、記録用光ビ−ムが記録したマ−クを、再生用
光ビ−ムにより短時間で再生することが可能となる。再
生された再生信号をもとに、すぐさま記録用光ビ−ム制
御手段は制御信号を生成し、記録用光ビ−ム照射手段を
制御するため、記録制御系がフィ−ドバック制御系とな
り、その結果、外乱に依存することなく、マ−ク径、あ
るいはマ−ク長の精度が向上し、マ−ク径、あるいはマ
−ク長を縮小した高密度記録を行うことが可能となる。
具体的には、記録用光ビ−ム制御手段が再生信号とモデ
ルの出力信号との振幅差、あるいは位相差、あるいは振
幅差および位相差に応じて、請求項４に記載のように、
記録用光ビ−ム照射手段の照射強度、あるいは照射時
間、あるいは照射強度および照射時間を制御する場合に
は、フィ−ドバック制御系の構成要素として、目標値が
記録情報に対応するモデルの出力信号、制御対象が記録
用光ビ−ム照射手段、被制御量が再生信号、センサが再
生用光ビ−ムと再生用光ビ−ム検出手段となり、外乱に
依存することなく、マ−ク径、あるいはマ−ク長を縮小
した高密度記録を行うことができる。あるいは、請求項
２に記載のように、記録用光ビ−ム制御手段が再生信号
と記録情報との位相差に応じて、請求項４に記載のよう
に、記録用光ビ−ム照射手段の照射強度、あるいは照射
時間、あるいは照射強度および照射時間を制御する場合
には、フィ−ドバック制御系の構成要素は、目標値が記
録情報、制御対象が記録用光ビ−ム照射手段、被制御量
が再生信号、センサが再生用光ビ−ムと再生用光ビ−ム
検出手段となり、外乱に依存することなく、マ−ク径、
あるいはマ−ク長を縮小した高密度記録を行うことが可
能となる。あるいは、請求項３に記載のように、記録用
光ビ−ム制御手段が再生信号と再生信号に同期する同期
信号との位相差に応じて、請求項４に記載のように、記
録用光ビ−ム照射手段の照射強度、あるいは照射時間、
あるいは照射強度および射時間を制御する場合には、フ
ィ−ドバック制御系は２つの制御対象を持つ２段サ−ボ
系となり、フィ−ドバック制御系の構成要素は、制御対
象が記録用光ビ−ム照射手段および同期信号生成器、被
制御量が再生信号と同期信号の位相差、センサが再生用
光ビ−ムと再生用光ビ−ム検出手段となり、外乱に依存
することなく、マ−ク径、あるいはマ−ク長を縮小した
高密度記録を行うことが可能となる。外乱は、フォ−カ
シングおよびトラッキングサ−ボ変動、環境変動、経時
変動、製造不良、調整不良などによる記録用光ビ−ムの
強度変動、そして光ディスクの媒体感度のバラツキ、環
境変動、製造不良などによるマ−ク形成プロセスの変動
が挙げられる。フィ−ドバック制御系が外乱を抑圧する
能力は、その帯域幅に大きく依存する。本発明の光ディ
スク装置によれば、再生された再生信号をもとに、すぐ
さま記録用光ビ−ム制御手段により制御信号を生成する
ことができるため、むだ時間が小さく制御信号の位相遅
れは小さくなる。そのため、フィ−ドバック制御系の帯
域幅を広くすることが可能となり、被制御量である再生
信号は外乱の影響を受けにくくなる。その結果、マ−ク
径、あるいはマ−ク長の精度が向上し、マ−ク径、ある
いはマ−ク長を縮小した高密度記録を実現することがで
きる。
【０００７】
【実施例】以下に本発明の一実施例を挙げ、図面を用い
てさらに詳細に説明する。 〈実施例１〉図１は、本実施例において例示する光ディ
スク装置の構成を示す模式図であり、図２は、図１の光
ディスク装置の制御系の構成を示すのブロック線図であ
る。まず、図１に示す光ディスク装置の記録および再生
の動作について説明する。図において、記録情報生成手
段１０２により生成された記録情報をもとに、記録用光
ビ−ム照射手段１０４は、フィ−ドフォワ−ドパタ−ン
生成回路１０５にてフィ−ドフォワ−ドパタ−ンを生成
し、記録用半導体レ−ザ１０６を駆動する。記録用半導
体レ−ザ１０６より出射された記録用光ビ−ム１０８
は、コリメ−トレンズ１２０、ビ−ムスプリッタ１２
２、対物レンズ１２４を通り、光ディスク１２８上のト
ラック１２９に集光する。集光した記録用光ビ−ム１０
８は、光ディスク１２８を加熱し記録情報に応じたマ−
クを形成する。一方、再生用光ビ−ム照射手段１１４、
例えば再生用半導体レ−ザ１１６から出射された再生用
光ビ−ム１１８は、コリメ−トレンズ１２０、ビ−ムス
プリッタ１２２、対物レンズ１２４を通り、記録用光ビ
−ム１０８が記録している同一のトラック１２９に集光
する。反射した再生用光ビ−ム１１８は、再び対物レン
ズ１２４を通り、ビ−ムスプリッタ１２２にて光路を変
更され、検出レンズ１２６を通り、再生用光ビ−ム検出
手段１３０、例えばフォトディテクタに集光する。光デ
ィスク１２８は図１の矢印で示す回転方向に回転するた
め、光ディスク１２８から反射された再生用光ビ−ム１
１８には、記録用光ビ−ム１０８が記録したマ−クの情
報が含まれており、フォトディテクタ１３０の出力は再
生信号となる。記録用光ビ−ム制御手段１４０は、記録
情報と再生信号をもとに制御信号を生成し、記録用光ビ
−ム照射手段１０４を制御する。再生信号は、記録情報
確認手段１３２にて記録情報と比較され、記録の成功が
確認される。記録が失敗した場合には、光ディスク１２
８が１回転した後、再び記録を行う。本発明の光ディス
ク装置では、記録用光ビ−ム１０８が記録したマ−ク
を、再生用光ビ−ム１１８により短時間で再生すること
が可能である。再生された再生信号をもとに、すぐさま
記録用光ビ−ム制御手段１４０は制御信号を生成し、記
録用光ビ−ム照射手段１０４を制御するため、記録制御
系がフィ−ドバック制御されることになる。外乱Ａは、
フォ−カシングおよびトラッキングサ−ボ変動、環境変
動、経時変動、製造不良、調整不良などによる記録用光
ビ−ムの強度変動、そして外乱Ｂは、光ディスク１２８
の媒体感度のバラツキ、環境変動、製造不良などによる
マ−ク形成プロセスの変動である。図２は、図１の光デ
ィスク装置の制御系の構成を示すブロック線図である。
記録用光ビ−ム制御手段１４０は、記録情報を遅延器１
４２により遅延させ、再生信号を模擬する模擬再生信号
をモデル１４４にて生成する。生成された模擬再生信号
は、再生信号と振幅、あるいは位相を振幅位相比較器１
４７にて比較され、制御要素１４８、例えば位相補償回
路を通して制御信号となる。その結果、１つのフィ−ド
フォワ−ド入力を有するフィ−ドバック制御系が構成さ
れる。その構成要素は、目標値が記録情報に対応するモ
デル１４４の出力信号、制御対象が記録用光ビ−ム照射
手段１０４、被制御量が再生信号、センサが再生用光ビ
−ム１１８と再生用光ビ−ム検出手段１３０である。外
乱Ａは、記録用光ビ−ム１０８の強度変動、外乱Ｂは、
マ−ク形成プロセス１８０の変動である。次に、モデル
１４４の構成および動作について、図３、図４および図
５を用いて説明する。図３はモデルを示す図、図４はモ
デルの入力信号を示す図、図５はモデルの出力信号を示
す図である。図４に示される記録情報がモデル１４４に
入力されると、パタ−ン識別回路１４５は、それぞれの
パタ−ンが発生したことを示すパタ−ン発生信号を生成
する。本実施例ではパタ−ンを３種類としているが、１
種類あるいは４種類以上であっても構わない。パタ−ン
生成器１４６、例えばＲＯＭを有するシンセサイザ、あ
るいはデジタルフィルタ、あるいはアナログフィルタ
は、パタ−ン発生信号に応じて再生信号を模擬したパタ
−ン出力信号を生成する。各パタ−ン出力信号を加算す
ることにより記録情報に対応し、再生信号を模擬した模
擬再生信号を生成することが可能である。次に、振幅位
相比較器１４７の動作について、図６を用いて説明す
る。図６は、振幅位相比較器の動作を説明する図であ
る。図６（ａ）は再生信号と模擬再生信号の振幅比較を
行っており、振幅差はマ−クの位置にてサンプルする。
このため、模擬再生信号はサンプリング周期と同じ時間
分解能が必要である。図６（ｂ）は再生信号と模擬再生
信号の位相比較を行っており、位相差は所定の強度信号
に対し、立上りエッジで比較した前位相差、および立下
りエッジで比較した後位相差を検出している。次に、制
御信号および記録用半導体レ−ザ駆動信号について、図
７および図８を用いて説明する。図７は単パルス制御の
波形を示す図、図８は複数パルス制御の波形を示す図で
ある。図７に（ａ）、（ｂ）および（ｃ）の３通りの単
パルス制御方式を示す。それぞれ、単パルスのフィ−ド
フォワ−ドパタ−ンに制御信号を加えることにより記録
用半導体レ−ザ駆動信号を生成する。図７（ａ）はパル
スの波高値、図７（ｂ）は直流値、図７（ｃ）はパルス
時間を制御信号としている。すべて、マ−ク径を大きく
し、再生信号の振幅を大きくする傾向に制御している。
マ−ク径を小さくし、再生信号の振幅を小さくする傾向
に制御するためには、制御信号の極性を反転すればよ
い。図８に（ａ）、（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）の４通
りの複数パルス制御方式を示す。それぞれ、複数パルス
のフィ−ドフォワ−ドパタ−ンに制御信号を加えること
により記録用半導体レ−ザ駆動信号を生成する。図８
（ａ）は先頭パルスおよび最後尾パルスの波高値、図８
（ｂ）は先頭パルスおよび直流値、図８（ｃ）は先頭パ
ルス時間および最後尾パルス時間、図８（ｄ）は先頭パ
ルスおよび最後尾パルスの波高値およびパルス時間を制
御信号としている。すべてマ−ク長をその両端に長く
し、再生信号の立上りエッジを進め、立下りエッジを遅
らせる傾向に制御している。マ−ク長を短くし、再生信
号の立上りエッジを遅らせ、立下りエッジを進める傾向
に制御するためには、制御信号の極性を反転すればよ
い。最後に、本発明の実施例の効果を図９を用いて説明
する。図９は、再生信号検出遅れ時間（μｓ）に対する
フィ−ドバック制御系の帯域幅（Ｈｚ）を示す図であ
る。条件は、帯域幅にてフィ−ドバック制御系の位相遅
れを１８度としている。例えば、記録用光ビ−ムと再生
用光ビ−ムとの光ディスク上での距離を１０μｍ、光ビ
−ムが位置するトラックの線速度を１０ｍ／ｓとした場
合に、再生信号検出遅れ時間は１μｓである。 このと
き、フィ−ドバック制御系の帯域幅は５０ ｋＨｚとす
ることが可能である。フィ−ドバック制御系が外乱を抑
圧する能力は、その帯域幅に大きく依存する。 本実施
例によれば、被制御量である再生信号は５０ｋＨｚ以下
にて生じる外乱の影響を受けにくくなる。すなわち、光
ディスク装置のフォ−カシングおよびトラッキングサ−
ボ変動、媒体感度バラツキ、環境変動、経時変動、製造
不良、調整不良などに依存することなく安定して微小な
マ−クを形成することが可能となる。その結果、マ−ク
径、あるいはマ−ク長を縮小した高密度記録を行うこと
ができるである。
てさらに詳細に説明する。 〈実施例１〉図１は、本実施例において例示する光ディ
スク装置の構成を示す模式図であり、図２は、図１の光
ディスク装置の制御系の構成を示すのブロック線図であ
る。まず、図１に示す光ディスク装置の記録および再生
の動作について説明する。図において、記録情報生成手
段１０２により生成された記録情報をもとに、記録用光
ビ−ム照射手段１０４は、フィ−ドフォワ−ドパタ−ン
生成回路１０５にてフィ−ドフォワ−ドパタ−ンを生成
し、記録用半導体レ−ザ１０６を駆動する。記録用半導
体レ−ザ１０６より出射された記録用光ビ−ム１０８
は、コリメ−トレンズ１２０、ビ−ムスプリッタ１２
２、対物レンズ１２４を通り、光ディスク１２８上のト
ラック１２９に集光する。集光した記録用光ビ−ム１０
８は、光ディスク１２８を加熱し記録情報に応じたマ−
クを形成する。一方、再生用光ビ−ム照射手段１１４、
例えば再生用半導体レ−ザ１１６から出射された再生用
光ビ−ム１１８は、コリメ−トレンズ１２０、ビ−ムス
プリッタ１２２、対物レンズ１２４を通り、記録用光ビ
−ム１０８が記録している同一のトラック１２９に集光
する。反射した再生用光ビ−ム１１８は、再び対物レン
ズ１２４を通り、ビ−ムスプリッタ１２２にて光路を変
更され、検出レンズ１２６を通り、再生用光ビ−ム検出
手段１３０、例えばフォトディテクタに集光する。光デ
ィスク１２８は図１の矢印で示す回転方向に回転するた
め、光ディスク１２８から反射された再生用光ビ−ム１
１８には、記録用光ビ−ム１０８が記録したマ−クの情
報が含まれており、フォトディテクタ１３０の出力は再
生信号となる。記録用光ビ−ム制御手段１４０は、記録
情報と再生信号をもとに制御信号を生成し、記録用光ビ
−ム照射手段１０４を制御する。再生信号は、記録情報
確認手段１３２にて記録情報と比較され、記録の成功が
確認される。記録が失敗した場合には、光ディスク１２
８が１回転した後、再び記録を行う。本発明の光ディス
ク装置では、記録用光ビ−ム１０８が記録したマ−ク
を、再生用光ビ−ム１１８により短時間で再生すること
が可能である。再生された再生信号をもとに、すぐさま
記録用光ビ−ム制御手段１４０は制御信号を生成し、記
録用光ビ−ム照射手段１０４を制御するため、記録制御
系がフィ−ドバック制御されることになる。外乱Ａは、
フォ−カシングおよびトラッキングサ−ボ変動、環境変
動、経時変動、製造不良、調整不良などによる記録用光
ビ−ムの強度変動、そして外乱Ｂは、光ディスク１２８
の媒体感度のバラツキ、環境変動、製造不良などによる
マ−ク形成プロセスの変動である。図２は、図１の光デ
ィスク装置の制御系の構成を示すブロック線図である。
記録用光ビ−ム制御手段１４０は、記録情報を遅延器１
４２により遅延させ、再生信号を模擬する模擬再生信号
をモデル１４４にて生成する。生成された模擬再生信号
は、再生信号と振幅、あるいは位相を振幅位相比較器１
４７にて比較され、制御要素１４８、例えば位相補償回
路を通して制御信号となる。その結果、１つのフィ−ド
フォワ−ド入力を有するフィ−ドバック制御系が構成さ
れる。その構成要素は、目標値が記録情報に対応するモ
デル１４４の出力信号、制御対象が記録用光ビ−ム照射
手段１０４、被制御量が再生信号、センサが再生用光ビ
−ム１１８と再生用光ビ−ム検出手段１３０である。外
乱Ａは、記録用光ビ−ム１０８の強度変動、外乱Ｂは、
マ−ク形成プロセス１８０の変動である。次に、モデル
１４４の構成および動作について、図３、図４および図
５を用いて説明する。図３はモデルを示す図、図４はモ
デルの入力信号を示す図、図５はモデルの出力信号を示
す図である。図４に示される記録情報がモデル１４４に
入力されると、パタ−ン識別回路１４５は、それぞれの
パタ−ンが発生したことを示すパタ−ン発生信号を生成
する。本実施例ではパタ−ンを３種類としているが、１
種類あるいは４種類以上であっても構わない。パタ−ン
生成器１４６、例えばＲＯＭを有するシンセサイザ、あ
るいはデジタルフィルタ、あるいはアナログフィルタ
は、パタ−ン発生信号に応じて再生信号を模擬したパタ
−ン出力信号を生成する。各パタ−ン出力信号を加算す
ることにより記録情報に対応し、再生信号を模擬した模
擬再生信号を生成することが可能である。次に、振幅位
相比較器１４７の動作について、図６を用いて説明す
る。図６は、振幅位相比較器の動作を説明する図であ
る。図６（ａ）は再生信号と模擬再生信号の振幅比較を
行っており、振幅差はマ−クの位置にてサンプルする。
このため、模擬再生信号はサンプリング周期と同じ時間
分解能が必要である。図６（ｂ）は再生信号と模擬再生
信号の位相比較を行っており、位相差は所定の強度信号
に対し、立上りエッジで比較した前位相差、および立下
りエッジで比較した後位相差を検出している。次に、制
御信号および記録用半導体レ−ザ駆動信号について、図
７および図８を用いて説明する。図７は単パルス制御の
波形を示す図、図８は複数パルス制御の波形を示す図で
ある。図７に（ａ）、（ｂ）および（ｃ）の３通りの単
パルス制御方式を示す。それぞれ、単パルスのフィ−ド
フォワ−ドパタ−ンに制御信号を加えることにより記録
用半導体レ−ザ駆動信号を生成する。図７（ａ）はパル
スの波高値、図７（ｂ）は直流値、図７（ｃ）はパルス
時間を制御信号としている。すべて、マ−ク径を大きく
し、再生信号の振幅を大きくする傾向に制御している。
マ−ク径を小さくし、再生信号の振幅を小さくする傾向
に制御するためには、制御信号の極性を反転すればよ
い。図８に（ａ）、（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）の４通
りの複数パルス制御方式を示す。それぞれ、複数パルス
のフィ−ドフォワ−ドパタ−ンに制御信号を加えること
により記録用半導体レ−ザ駆動信号を生成する。図８
（ａ）は先頭パルスおよび最後尾パルスの波高値、図８
（ｂ）は先頭パルスおよび直流値、図８（ｃ）は先頭パ
ルス時間および最後尾パルス時間、図８（ｄ）は先頭パ
ルスおよび最後尾パルスの波高値およびパルス時間を制
御信号としている。すべてマ−ク長をその両端に長く
し、再生信号の立上りエッジを進め、立下りエッジを遅
らせる傾向に制御している。マ−ク長を短くし、再生信
号の立上りエッジを遅らせ、立下りエッジを進める傾向
に制御するためには、制御信号の極性を反転すればよ
い。最後に、本発明の実施例の効果を図９を用いて説明
する。図９は、再生信号検出遅れ時間（μｓ）に対する
フィ−ドバック制御系の帯域幅（Ｈｚ）を示す図であ
る。条件は、帯域幅にてフィ−ドバック制御系の位相遅
れを１８度としている。例えば、記録用光ビ−ムと再生
用光ビ−ムとの光ディスク上での距離を１０μｍ、光ビ
−ムが位置するトラックの線速度を１０ｍ／ｓとした場
合に、再生信号検出遅れ時間は１μｓである。 このと
き、フィ−ドバック制御系の帯域幅は５０ ｋＨｚとす
ることが可能である。フィ−ドバック制御系が外乱を抑
圧する能力は、その帯域幅に大きく依存する。 本実施
例によれば、被制御量である再生信号は５０ｋＨｚ以下
にて生じる外乱の影響を受けにくくなる。すなわち、光
ディスク装置のフォ−カシングおよびトラッキングサ−
ボ変動、媒体感度バラツキ、環境変動、経時変動、製造
不良、調整不良などに依存することなく安定して微小な
マ−クを形成することが可能となる。その結果、マ−ク
径、あるいはマ−ク長を縮小した高密度記録を行うこと
ができるである。
【０００８】〈実施例２〉本実施例で例示する光ディス
ク装置は、図１０に示すように、上記実施例１で説明し
たものと比較して、記録用光ビ−ム制御手段１５０を除
き、他は同一であるため、説明は記録用光ビ−ム制御手
段１５０のみに限定する。図１０は、本実施例の光ディ
スク装置の制御系の構成を示すブロック線図である。図
において、記録用光ビ−ム制御手段１５０は、記録情報
を遅延器１５２により遅延させ、２値化回路１５６によ
り ２値化された再生信号と位相比較器１５４にて比較
し、制御要素１５８、例えば位相補償回路を通して制御
信号を生成する。その結果、１つのフィ−ドフォワ−ド
入力を有するフィ−ドバック制御系が構成される。目標
値が記録情報、制御対象が記録用光ビ−ム照射手段１０
４、被制御量が再生信号、センサが再生用光ビ−ム１１
８と再生用光ビ−ム検出手段１３０である。次に、位相
比較器１５４の動作を図１１を用いて説明する。図１１
は、位相比較器の動作を説明する図である。遅延された
記録信号と、２値化された再生信号の位相差は立上りエ
ッジに対応する前位相差、および立下りエッジに対応す
る後位相差を検出している。
ク装置は、図１０に示すように、上記実施例１で説明し
たものと比較して、記録用光ビ−ム制御手段１５０を除
き、他は同一であるため、説明は記録用光ビ−ム制御手
段１５０のみに限定する。図１０は、本実施例の光ディ
スク装置の制御系の構成を示すブロック線図である。図
において、記録用光ビ−ム制御手段１５０は、記録情報
を遅延器１５２により遅延させ、２値化回路１５６によ
り ２値化された再生信号と位相比較器１５４にて比較
し、制御要素１５８、例えば位相補償回路を通して制御
信号を生成する。その結果、１つのフィ−ドフォワ−ド
入力を有するフィ−ドバック制御系が構成される。目標
値が記録情報、制御対象が記録用光ビ−ム照射手段１０
４、被制御量が再生信号、センサが再生用光ビ−ム１１
８と再生用光ビ−ム検出手段１３０である。次に、位相
比較器１５４の動作を図１１を用いて説明する。図１１
は、位相比較器の動作を説明する図である。遅延された
記録信号と、２値化された再生信号の位相差は立上りエ
ッジに対応する前位相差、および立下りエッジに対応す
る後位相差を検出している。
【０００９】〈実施例３〉本実施例で例示する光ディス
ク装置は、図１２に示すように、上記実施例１で説明し
たものと比較して、記録用光ビ−ム制御手段１６０を除
き、他は同一であるため、説明を記録用光ビ−ム制御手
段１６０に限定する。なお、図１２は本実施例で例示す
る光ディスク装置の制御系の構成を示すブロック線図で
ある。記録用光ビ−ム制御手段１６０は、２値化回路１
６６により２値化された再生信号と、再生信号をもとに
同期信号生成回路１６２により生成され、再生信号に同
期する同期信号とを位相比較器１６４にて比較し、制御
要素１６８、例えば位相補償回路を通して制御信号を生
成する。制御信号に応じて記録用光ビ−ム照射手段１０
４および同期信号生成回路１６２を制御するため、１つ
のフィ−ドフォワ−ド入力を有する２つのフィ−ドバッ
ク制御系である。制御対象が記録用光ビ−ム照射手段１
０４および同期信号生成回路１６２、被制御量が再生信
号と同期信号の位相差、センサが再生用光ビ−ム１１８
と再生用光ビ−ム検出手段１３０である。次に、位相比
較器の動作を図１３を用いて説明する。図１３は位相比
較器の動作を説明する図である。再生信号に同期する同
期信号と、２値化された再生信号の位相差は立上りエッ
ジに対応する前位相差、および立下りエッジに対応する
後位相差を検出している。
ク装置は、図１２に示すように、上記実施例１で説明し
たものと比較して、記録用光ビ−ム制御手段１６０を除
き、他は同一であるため、説明を記録用光ビ−ム制御手
段１６０に限定する。なお、図１２は本実施例で例示す
る光ディスク装置の制御系の構成を示すブロック線図で
ある。記録用光ビ−ム制御手段１６０は、２値化回路１
６６により２値化された再生信号と、再生信号をもとに
同期信号生成回路１６２により生成され、再生信号に同
期する同期信号とを位相比較器１６４にて比較し、制御
要素１６８、例えば位相補償回路を通して制御信号を生
成する。制御信号に応じて記録用光ビ−ム照射手段１０
４および同期信号生成回路１６２を制御するため、１つ
のフィ−ドフォワ−ド入力を有する２つのフィ−ドバッ
ク制御系である。制御対象が記録用光ビ−ム照射手段１
０４および同期信号生成回路１６２、被制御量が再生信
号と同期信号の位相差、センサが再生用光ビ−ム１１８
と再生用光ビ−ム検出手段１３０である。次に、位相比
較器の動作を図１３を用いて説明する。図１３は位相比
較器の動作を説明する図である。再生信号に同期する同
期信号と、２値化された再生信号の位相差は立上りエッ
ジに対応する前位相差、および立下りエッジに対応する
後位相差を検出している。
【００１０】〈実施例４〉本実施例で例示する光ディス
ク装置の構成を図１４に示す。なお、光ディスク装置は
実施例１で示したものと比較して光学系を除き、他は同
一であるため、説明を光学系に限定する。図において、
記録情報生成手段１０２により生成された記録情報をも
とに、記録用光ビ−ム照射手段１０４は、フィ−ドフォ
ワ−ドパタ−ン生成回路１０５にてフィ−ドフォワ−ド
パタ−ンを生成し、記録用半導体レ−ザ１０６を駆動す
る。記録用半導体レ−ザ１０６より出射された記録用光
ビ−ム１０８は、分光手段１７０、例えば回析格子、コ
リメ−トレンズ１２０、ビ−ムスプリッタ１２２、対物
レンズ１２４を通り、光ディスク１２８上のトラック１
２９に３つの光ビ−ムを集光する。１つの光ビ−ムは記
録用光ビ−ム１０８として用いられ、他の１つの光ビ−
ムは再生用光ビ−ム１１８として用いられる。反射した
再生用光ビ−ム１１８は、再び、対物レンズ１２４を通
り、ビ−ムスプリッタ１２２にて光路を変更され、検出
レンズ１２６を通り、再生用光ビ−ム検出手段１３０、
例えばフォトディテクタに集光する。光ディスク１２８
は図に矢印で示す回転方向に回転するため、光ディスク
１２８から反射された再生用光ビ−ム１１８には、記録
用光ビ−ム１０８が記録したマ−クの情報が含まれてお
り、フォトディテクタ１３０の出力は再生信号となる。
再生信号は記録用光ビ−ム照射手段１０４によって、強
度変調されているため、ゲイン制御手段１７２、例えば
半導体レ−ザ駆動信号を分母とした割算回路により正規
化されている。記録用光ビ−ム制御手段１４０は記録情
報と再生信号をもとに制御信号を生成し、記録用光ビ−
ム照射手段１０４を制御する。再生信号は記録情報確認
手段１３２にて記録情報と比較され、記録の成功を確認
する。記録が失敗した場合には、光ディスク１２８が１
回転した後、再び記録を行う。
ク装置の構成を図１４に示す。なお、光ディスク装置は
実施例１で示したものと比較して光学系を除き、他は同
一であるため、説明を光学系に限定する。図において、
記録情報生成手段１０２により生成された記録情報をも
とに、記録用光ビ−ム照射手段１０４は、フィ−ドフォ
ワ−ドパタ−ン生成回路１０５にてフィ−ドフォワ−ド
パタ−ンを生成し、記録用半導体レ−ザ１０６を駆動す
る。記録用半導体レ−ザ１０６より出射された記録用光
ビ−ム１０８は、分光手段１７０、例えば回析格子、コ
リメ−トレンズ１２０、ビ−ムスプリッタ１２２、対物
レンズ１２４を通り、光ディスク１２８上のトラック１
２９に３つの光ビ−ムを集光する。１つの光ビ−ムは記
録用光ビ−ム１０８として用いられ、他の１つの光ビ−
ムは再生用光ビ−ム１１８として用いられる。反射した
再生用光ビ−ム１１８は、再び、対物レンズ１２４を通
り、ビ−ムスプリッタ１２２にて光路を変更され、検出
レンズ１２６を通り、再生用光ビ−ム検出手段１３０、
例えばフォトディテクタに集光する。光ディスク１２８
は図に矢印で示す回転方向に回転するため、光ディスク
１２８から反射された再生用光ビ−ム１１８には、記録
用光ビ−ム１０８が記録したマ−クの情報が含まれてお
り、フォトディテクタ１３０の出力は再生信号となる。
再生信号は記録用光ビ−ム照射手段１０４によって、強
度変調されているため、ゲイン制御手段１７２、例えば
半導体レ−ザ駆動信号を分母とした割算回路により正規
化されている。記録用光ビ−ム制御手段１４０は記録情
報と再生信号をもとに制御信号を生成し、記録用光ビ−
ム照射手段１０４を制御する。再生信号は記録情報確認
手段１３２にて記録情報と比較され、記録の成功を確認
する。記録が失敗した場合には、光ディスク１２８が１
回転した後、再び記録を行う。
【００１１】
【発明の効果】本発明の光ディスク装置によれば、記録
制御系がフィ−ドバック制御系となるため、外乱に依存
することなく、マ−ク形状を高精度に記録することが可
能となり、マ−ク径あるいはマ−ク長を縮小した高密度
記録を行うことが可能となる。
制御系がフィ−ドバック制御系となるため、外乱に依存
することなく、マ−ク形状を高精度に記録することが可
能となり、マ−ク径あるいはマ−ク長を縮小した高密度
記録を行うことが可能となる。
【図１】本発明の実施例１で例示した光ディスク装置の
構成を示す模式図。
構成を示す模式図。
【図２】本発明の実施例１で例示した光ディスク装置の
制御系の構成を示すブロック線図。
制御系の構成を示すブロック線図。
【図３】本発明の実施例１で例示した光ディスク装置の
制御系のモデルの構成を示す図。
制御系のモデルの構成を示す図。
【図４】本発明の実施例１で例示した光ディスク装置の
制御系のモデルの入力信号を示す図。
制御系のモデルの入力信号を示す図。
【図５】本発明の実施例１で例示した光ディスク装置の
制御系のモデルの出力信号を示す図。
制御系のモデルの出力信号を示す図。
【図６】本発明の実施例１で例示した光ディスク装置の
振幅位相比較器の動作を説明する図。
振幅位相比較器の動作を説明する図。
【図７】本発明の実施例１で例示した光ディスク装置の
単パルス制御の波形を示す図。
単パルス制御の波形を示す図。
【図８】本発明の実施例１で例示した光ディスク装置の
複数パルス制御の波形を示す図。
複数パルス制御の波形を示す図。
【図９】本発明の実施例１で例示した光ディスク装置の
再生信号検出遅れ時間に対するフィ−ドバック制御系の
帯域幅を示す図。
再生信号検出遅れ時間に対するフィ−ドバック制御系の
帯域幅を示す図。
【図１０】本発明の実施例２で例示した光ディスク装置
の制御系の構成を示すブロック線図。
の制御系の構成を示すブロック線図。
【図１１】本発明の実施例２で例示した光ディスク装置
の位相比較器の動作の説明図。
の位相比較器の動作の説明図。
【図１２】本発明の実施例３で例示した光ディスク装置
の制御系の構成を示すブロック線図。
の制御系の構成を示すブロック線図。
【図１３】本発明の実施例３で例示した光ディスク装置
の位相比較器の動作の説明図。
の位相比較器の動作の説明図。
【図１４】本発明の実施例４で例示した光ディスク装置
の構成を示す模式図。
の構成を示す模式図。
【図１５】従来の光ディスク装置の構成を示す模式図。
１０２…記録情報生成手段 １０４…記録用光ビ−ム照射手段 １０５…フィ−ドフォワ−ドパタ−ン生成回路 １０６…記録用半導体レ−ザ １０８…記録用光ビ−ム １１４…再生用光ビ−ム照射手段 １１６…再生用半導体レ−ザ １１８…再生用光ビ−ム １２０…コリメ−トレンズ １２２…ビ−ムスプリッタ １２４…対物レンズ １２６…検出レンズ １２８…光ディスク １２９…トラック １３０…再生用光ビ−ム検出手段 １３２…記録情報確認手段 １４０…記録用光ビ−ム制御手段 １４２…遅延器 １４４…モデル １４５…パタ−ン識別回路 １４６…パタ−ン生成器 １４７…振幅位相比較器 １４８…制御要素 １５０…記録用光ビ−ム制御手段 １５２…遅延器 １５４…位相比較器 １５６…２値化回路 １５８…制御要素 １６０…記録用光ビ−ム制御手段 １６２…同期信号生成回路 １６４…位相比較器 １６６…２値化回路 １６８…制御要素 １７０…分光手段 １７２…ゲイン制御手段 １８０…マ−ク形成プロセス ２０２…記録情報生成手段 ２０４…記録パタ−ン生成回路 ２０６…記録用半導体レ−ザ ２０８…記録用光ビ−ム ２１４…再生用光ビ−ム照射手段 ２１６…再生用半導体レ−ザ ２１８…再生用光ビ−ム ２２０…コリメ−トレンズ ２２２…ビ−ムスプリッタ ２２４…対物レンズ ２２６…検出レンズ ２２８…光ディスク ２２９…トラック ２３０…再生用光ビ−ム検出手段 ２３２…記録情報確認手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 戸田 剛 東京都国分寺市東恋ケ窪１丁目280番地 株式会社日立製作所 中央研究所内 (72)発明者 若林 康一郎 東京都国分寺市東恋ケ窪１丁目280番地 株式会社日立製作所 中央研究所内 (72)発明者 前田 武志 東京都国分寺市東恋ケ窪１丁目280番地 株式会社日立製作所 中央研究所内 (56)参考文献 特開 平６−131732（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−122435（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−122433（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−68469（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/013 G11B 7/125
Claims (4)
- 【請求項１】情報の記録および再生が可能な光ディスク
上のトラックに記録する記録情報を生成する記録情報生
成手段と、上記記録情報に応じて上記光ディスク上のト
ラックに、少なくとも１つの記録用光ビ−ムを照射する
記録用光ビ−ム照射手段と、上記光ディスク上の同一ト
ラックに、少なくとも１つの再生用光ビ−ムを照射する
再生用光ビ−ム照射手段と、上記光ディスクから反射さ
れた再生用光ビ−ムを検出する再生用光ビ−ム検出手段
と、少なくとも情報の記録を行う際に、上記再生用光ビ
−ム検出手段が生成する再生信号に応じて、上記記録用
光ビ−ム照射手段を制御する記録用光ビ−ム制御手段を
備え、かつ上記記録用光ビ−ム制御手段は、記録情報に
応じて再生用光ビ−ム検出手段の出力信号を模擬するモ
デルを有し、上記再生用光ビ−ム検出手段が生成する再
生信号と、上記モデルの出力信号との振幅差、または位
相差、もしくは振幅差および位相差に応じて、記録用光
ビ−ム照射手段を制御する制御信号を生成する機能を具
備することを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項２】請求項１に記載の光ディスク装置におい
て、記録用光ビ−ム制御手段は、再生用光ビ−ム検出手
段が生成する再生信号と、記録情報生成手段により生成
される記録情報との位相差に応じて、記録用光ビ−ム照
射手段を制御する制御信号を生成する機能を有すること
を特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項３】請求項１に記載の光ディスク装置におい
て、記録用光ビ−ム制御手段は、再生用光ビ−ム検出手
段が生成する再生信号と、該再生信号に同期する同期信
号との位相差に応じて、上記記録用光ビ−ム照射手段を
制御する制御信号を生成する機能を有することを特徴と
する光ディスク装置。 - 【請求項４】請求項１ないし請求項３のいずれか１項に
記載の光ディスク装置において、記録用光ビ−ム制御手
段は、記録用光ビ−ム照射手段の照射強度、または照射
時間、もしくは照射強度および照射時間を制御する機能
を有することを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16127194A JP3288538B2 (ja) | 1994-07-13 | 1994-07-13 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16127194A JP3288538B2 (ja) | 1994-07-13 | 1994-07-13 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
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| JPH0830973A JPH0830973A (ja) | 1996-02-02 |
| JP3288538B2 true JP3288538B2 (ja) | 2002-06-04 |
Family
ID=15731939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16127194A Expired - Fee Related JP3288538B2 (ja) | 1994-07-13 | 1994-07-13 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
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-
1994
- 1994-07-13 JP JP16127194A patent/JP3288538B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0830973A (ja) | 1996-02-02 |
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