JP3280122B2 - Ａｅ発生箇所標定装置 - Google Patents
Ａｅ発生箇所標定装置Info
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- JP3280122B2 JP3280122B2 JP16126593A JP16126593A JP3280122B2 JP 3280122 B2 JP3280122 B2 JP 3280122B2 JP 16126593 A JP16126593 A JP 16126593A JP 16126593 A JP16126593 A JP 16126593A JP 3280122 B2 JP3280122 B2 JP 3280122B2
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- sensor
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、被検体から発生する
ＡＥの発生箇所を標定することができ、たとえば、軸受
等の回転部品の損傷箇所を検出することができるＡＥ発
生箇所標定装置に関する。
ＡＥの発生箇所を標定することができ、たとえば、軸受
等の回転部品の損傷箇所を検出することができるＡＥ発
生箇所標定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、この種のＡＥ発生箇所標定装置
は、被検体に取り付けられた２つのＡＥセンサが発生し
たＡＥ信号の発生時刻差に基づいて、被検体のＡＥ発生
箇所を検出するようになっている。
は、被検体に取り付けられた２つのＡＥセンサが発生し
たＡＥ信号の発生時刻差に基づいて、被検体のＡＥ発生
箇所を検出するようになっている。
【０００３】従来、ＡＥ発生箇所標定装置は、図５に示
すように、ＡＥセンサが発生したＡＥ信号が、第１しき
い値ＶHを越えた後に第２しきい値ＶLを下回ったとき
に、上記ＡＥ信号が有意であると判断する。一方、上記
ＡＥ信号が、上記第１しきい値ＶHを越えなかった時に
は、上記ＡＥ信号が有意ではないと判断する。そして、
上記有意であると判断したＡＥ信号のみに基づいて、Ａ
Ｅ発生箇所を検出するようにしている。
すように、ＡＥセンサが発生したＡＥ信号が、第１しき
い値ＶHを越えた後に第２しきい値ＶLを下回ったとき
に、上記ＡＥ信号が有意であると判断する。一方、上記
ＡＥ信号が、上記第１しきい値ＶHを越えなかった時に
は、上記ＡＥ信号が有意ではないと判断する。そして、
上記有意であると判断したＡＥ信号のみに基づいて、Ａ
Ｅ発生箇所を検出するようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
ＡＥ発生箇所標定装置では、図４に示すように、被検体
の或る箇所で発生したＡＥが、ＡチャネルのＡＥセンサ
に達したときには、第１しきい値ＶHを越える値を有し
ている一方、ＢチャネルのＡＥセンサに達したときに
は、伝達経路における減衰によって第１しきい値ＶHを
越える値を有していない場合に問題がある。つまり、こ
の場合、上記ＡチャネルのＡＥセンサが発生したＡＥ信
号が有意である一方、上記ＢチャネルのＡＥセンサが発
生したＡＥ信号を有意ではないとして無視してしまうか
ら、ＡＥ発生箇所を標定できないという問題がある。
ＡＥ発生箇所標定装置では、図４に示すように、被検体
の或る箇所で発生したＡＥが、ＡチャネルのＡＥセンサ
に達したときには、第１しきい値ＶHを越える値を有し
ている一方、ＢチャネルのＡＥセンサに達したときに
は、伝達経路における減衰によって第１しきい値ＶHを
越える値を有していない場合に問題がある。つまり、こ
の場合、上記ＡチャネルのＡＥセンサが発生したＡＥ信
号が有意である一方、上記ＢチャネルのＡＥセンサが発
生したＡＥ信号を有意ではないとして無視してしまうか
ら、ＡＥ発生箇所を標定できないという問題がある。
【０００５】そこで、本発明の目的は、被検体が発生す
るＡＥが比較的小さくて、伝搬経路での減衰によって、
片方のＡＥセンサが発生するＡＥ信号がしきい値を下回
っている場合にも、ＡＥ発生箇所の位置を標定すること
ができるＡＥ発生箇所標定装置を提供することにある。
るＡＥが比較的小さくて、伝搬経路での減衰によって、
片方のＡＥセンサが発生するＡＥ信号がしきい値を下回
っている場合にも、ＡＥ発生箇所の位置を標定すること
ができるＡＥ発生箇所標定装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明のＡＥ発生箇所標定装置は、被検体が発生
するＡＥを検出してＡＥ信号を出力する第１ＡＥセンサ
および第２ＡＥセンサと、上記第１および第２ＡＥセン
サからのＡＥ信号を受けて、一方のＡＥセンサが出力し
たＡＥ信号が、第１しきい値を越えてから第１しきい値
よりも低い第２しきい値を下回ったときに、一方のＡＥ
センサに対応するイベント信号を出力し、かつ、上記一
方のＡＥセンサが出力したＡＥ信号が第１しきい値を越
えたときには、他方のＡＥセンサからのＡＥ信号が上記
第１しきい値よりも低い第２しきい値を越えたときに他
方のＡＥセンサに対応するイベント信号を出力するイベ
ント信号出力手段と、上記イベント信号出力手段から上
記一方のイベント信号と他方のイベント信号を受けて、
上記一方のイベント信号を受けた時刻と、上記他方のイ
ベント信号を受けた時刻との時刻差に基づいて上記被検
体のＡＥ発生箇所を標定する標定手段とを備えたことを
特徴としている。
め、この発明のＡＥ発生箇所標定装置は、被検体が発生
するＡＥを検出してＡＥ信号を出力する第１ＡＥセンサ
および第２ＡＥセンサと、上記第１および第２ＡＥセン
サからのＡＥ信号を受けて、一方のＡＥセンサが出力し
たＡＥ信号が、第１しきい値を越えてから第１しきい値
よりも低い第２しきい値を下回ったときに、一方のＡＥ
センサに対応するイベント信号を出力し、かつ、上記一
方のＡＥセンサが出力したＡＥ信号が第１しきい値を越
えたときには、他方のＡＥセンサからのＡＥ信号が上記
第１しきい値よりも低い第２しきい値を越えたときに他
方のＡＥセンサに対応するイベント信号を出力するイベ
ント信号出力手段と、上記イベント信号出力手段から上
記一方のイベント信号と他方のイベント信号を受けて、
上記一方のイベント信号を受けた時刻と、上記他方のイ
ベント信号を受けた時刻との時刻差に基づいて上記被検
体のＡＥ発生箇所を標定する標定手段とを備えたことを
特徴としている。
【０００７】
【作用】上記イベント信号出力手段は、上記一方のＡＥ
センサが出力したＡＥ信号が第１しきい値を越えたとき
には、他方のＡＥセンサからのＡＥ信号が上記第１しき
い値よりも低い第２しきい値を越えたときに他方のＡＥ
センサに対応するイベント信号を出力する。そして、上
記標定手段は、上記イベント信号出力手段から上記一方
のＡＥセンサに対応するイベント信号と他方のＡＥセン
サに対応するイベント信号を受けて、上記一方のイベン
ト信号を受けた時刻と、上記他方のイベント信号を受け
た時刻との時刻差に基づいて上記被検体のＡＥ発生箇所
を標定する。
センサが出力したＡＥ信号が第１しきい値を越えたとき
には、他方のＡＥセンサからのＡＥ信号が上記第１しき
い値よりも低い第２しきい値を越えたときに他方のＡＥ
センサに対応するイベント信号を出力する。そして、上
記標定手段は、上記イベント信号出力手段から上記一方
のＡＥセンサに対応するイベント信号と他方のＡＥセン
サに対応するイベント信号を受けて、上記一方のイベン
ト信号を受けた時刻と、上記他方のイベント信号を受け
た時刻との時刻差に基づいて上記被検体のＡＥ発生箇所
を標定する。
【０００８】したがって、この発明によれば、被検体が
発生するＡＥが比較的小さくて、ＡＥが伝搬する伝搬経
路での減衰によって、片方のＡＥセンサが発生するＡＥ
信号が第１しきい値を下回っている場合にも、このＡＥ
信号が第１しきい値よりも低い第２しきい値を越えてい
るときには、ＡＥ発生箇所の位置が標定される。したが
って、この発明によれば、ＡＥ発生箇所の位置標定能力
が向上される。
発生するＡＥが比較的小さくて、ＡＥが伝搬する伝搬経
路での減衰によって、片方のＡＥセンサが発生するＡＥ
信号が第１しきい値を下回っている場合にも、このＡＥ
信号が第１しきい値よりも低い第２しきい値を越えてい
るときには、ＡＥ発生箇所の位置が標定される。したが
って、この発明によれば、ＡＥ発生箇所の位置標定能力
が向上される。
【０００９】
【実施例】以下、この発明を図示の実施例により詳細に
説明する。
説明する。
【００１０】図１に、この発明のＡＥ発生箇所標定装置
の実施例の構成を示す。図１に示すように、この実施例
は、第１ＡＥセンサ１と第２ＡＥセンサ２と、プリアン
プ３,４と、バンドパスフィルタ５，６と、メインアン
プ７,８と、包絡線検波回路９,１０と、イベント信号発
生回路１１と、コンピュータ１２とを有している。上記
第１ＡＥセンサ１と第２ＡＥセンサ２とは、所定の距離
だけ離隔して被検体に取り付けられている。
の実施例の構成を示す。図１に示すように、この実施例
は、第１ＡＥセンサ１と第２ＡＥセンサ２と、プリアン
プ３,４と、バンドパスフィルタ５，６と、メインアン
プ７,８と、包絡線検波回路９,１０と、イベント信号発
生回路１１と、コンピュータ１２とを有している。上記
第１ＡＥセンサ１と第２ＡＥセンサ２とは、所定の距離
だけ離隔して被検体に取り付けられている。
【００１１】上記イベント信号発生回路１１は、図２に
示すように、ＡチャネルからのＡＥ信号と、しきい値発
生器２１からの第１しきい値ＶHとが入力される比較器
２２を有している。上記比較器２２は、上記ＡＥ信号が
上記第１しきい値ＶHを越えたときに、高レベル信号を
出力する。上記比較器２２の出力端子は、スリーステイ
トバッファ２３に接続されている。このスリーステイト
バッファ２３は、制御入力に高レベル信号が入力される
と入力端子と出力端子との間のインピーダンスが高イン
ピーダンスになって、入力端子と出力端子とが電気的に
切り離された状態になる。一方、上記制御入力に低レベ
ル信号が入力されると入力端子と出力端子が電気的に接
続された状態になる。
示すように、ＡチャネルからのＡＥ信号と、しきい値発
生器２１からの第１しきい値ＶHとが入力される比較器
２２を有している。上記比較器２２は、上記ＡＥ信号が
上記第１しきい値ＶHを越えたときに、高レベル信号を
出力する。上記比較器２２の出力端子は、スリーステイ
トバッファ２３に接続されている。このスリーステイト
バッファ２３は、制御入力に高レベル信号が入力される
と入力端子と出力端子との間のインピーダンスが高イン
ピーダンスになって、入力端子と出力端子とが電気的に
切り離された状態になる。一方、上記制御入力に低レベ
ル信号が入力されると入力端子と出力端子が電気的に接
続された状態になる。
【００１２】上記スリーステイトバッファ２３は、オア
回路２５に接続されている。また、上記オア回路２５
は、ラッチ回路２６に接続されている。このラッチ回路
２６は、上記オア回路２５の出力信号を受けて、この出
力信号を一時的に保持する。ラッチ回路２６は、上記出
力信号を、アナログスイッチ２７の制御端子とインバー
タ３０の出力端子に出力するようになっている。
回路２５に接続されている。また、上記オア回路２５
は、ラッチ回路２６に接続されている。このラッチ回路
２６は、上記オア回路２５の出力信号を受けて、この出
力信号を一時的に保持する。ラッチ回路２６は、上記出
力信号を、アナログスイッチ２７の制御端子とインバー
タ３０の出力端子に出力するようになっている。
【００１３】また、アナログスイッチ２７は、上記ラッ
チ回路２６から高レベル信号を受けたときにオンになり
接続状態になる一方、上記ラッチ回路２６から低レベル
信号を受けたときにオフになり出力と入力とが切り離さ
れる。
チ回路２６から高レベル信号を受けたときにオンになり
接続状態になる一方、上記ラッチ回路２６から低レベル
信号を受けたときにオフになり出力と入力とが切り離さ
れる。
【００１４】上記アナログスイッチ２７の出力信号は、
比較器２９に入力されるようになっている。また、上記
比較器２９には、しきい値発生器２８が発生する第２し
きい値ＶLが入力される。上記第２しきい値ＶLは、上記
第１しきい値ＶHよりも小さい値である。上記比較器２
９は、上記アナログスイッチ２７からの出力信号と上記
第２しきい値ＶLとを比較して、上記出力信号が上記第
２しきい値ＶLを越えたときに、高レベル信号を出力す
る一方、上記出力信号が上記第２しきい値ＶL以下であ
るときに、低レベル信号を出力する。
比較器２９に入力されるようになっている。また、上記
比較器２９には、しきい値発生器２８が発生する第２し
きい値ＶLが入力される。上記第２しきい値ＶLは、上記
第１しきい値ＶHよりも小さい値である。上記比較器２
９は、上記アナログスイッチ２７からの出力信号と上記
第２しきい値ＶLとを比較して、上記出力信号が上記第
２しきい値ＶLを越えたときに、高レベル信号を出力す
る一方、上記出力信号が上記第２しきい値ＶL以下であ
るときに、低レベル信号を出力する。
【００１５】一方、ＢチャネルからのＡＥ信号は、比較
器３２とアナログスイッチ３７に入力されるようになっ
ている。上記比較器３２は、上記ＢチャネルからのＡＥ
信号が、しきい値発生器３１からの第１しきい値ＶHを
越えたときに、高レベル信号を出力するようになってい
る。上記比較器３２の出力端子は、スリーステイトバッ
ファ３３に接続されている。スリーステイトバッファ３
３の制御端子には、上記スリーステイトバッファ２３の
出力端子が接続されている。また、上記スリーステイト
バッファ３３の出力端子は、オア回路３５と、スリース
テイトバッファ３４の制御端子とに接続されている。そ
して、バッファ３４の制御端子と、バッファ３３の出力
端子との接続線５２は、接続線５３によって、上記バッ
ファ２３の制御端子に接続されている。そして、この接
続線５３と、オア回路２５との間に、バッファ２４が接
続されている。
器３２とアナログスイッチ３７に入力されるようになっ
ている。上記比較器３２は、上記ＢチャネルからのＡＥ
信号が、しきい値発生器３１からの第１しきい値ＶHを
越えたときに、高レベル信号を出力するようになってい
る。上記比較器３２の出力端子は、スリーステイトバッ
ファ３３に接続されている。スリーステイトバッファ３
３の制御端子には、上記スリーステイトバッファ２３の
出力端子が接続されている。また、上記スリーステイト
バッファ３３の出力端子は、オア回路３５と、スリース
テイトバッファ３４の制御端子とに接続されている。そ
して、バッファ３４の制御端子と、バッファ３３の出力
端子との接続線５２は、接続線５３によって、上記バッ
ファ２３の制御端子に接続されている。そして、この接
続線５３と、オア回路２５との間に、バッファ２４が接
続されている。
【００１６】上記バッファ３４の入力端子は、バッファ
３３の制御端子とバッファ２３の出力端子との接続線５
１に接続されている。バッファ３４の出力端子は上記オ
ア回路３５に接続されている。上記オア回路３５は、ラ
ッチ回路３６に接続されている。
３３の制御端子とバッファ２３の出力端子との接続線５
１に接続されている。バッファ３４の出力端子は上記オ
ア回路３５に接続されている。上記オア回路３５は、ラ
ッチ回路３６に接続されている。
【００１７】ラッチ回路３６の出力端子は、アナログス
イッチ３７の制御端子に接続されている。また、ラッチ
回路３６のもうひとつの出力端子は、インバータ４０の
出力端子に接続されている。
イッチ３７の制御端子に接続されている。また、ラッチ
回路３６のもうひとつの出力端子は、インバータ４０の
出力端子に接続されている。
【００１８】上記アナログスイッチ３７は比較器３９に
接続されており、この比較器３９の出力端子は上記イン
バータ４０に接続されている。また、上記比較器３９に
は、しきい値発生器３９から、第１しきい値ＶHよりも
低い第２しきい値ＶLが入力されるようになっている。
接続されており、この比較器３９の出力端子は上記イン
バータ４０に接続されている。また、上記比較器３９に
は、しきい値発生器３９から、第１しきい値ＶHよりも
低い第２しきい値ＶLが入力されるようになっている。
【００１９】上記第１ＡＥセンサ１は、被検体が発生す
るＡＥを検出して、ＡＥ信号を発生する。このＡＥ信号
は、順に、プリアンプ３によって増幅され、バンドパス
フィルタ５によって所定の周波数帯域の成分が通過させ
られ、メインアンプ７によってさらに増幅され、包絡線
検波回路９によって包絡線検波される。この包絡線検波
回路９からのＡＥ信号は、ＡチャネルからのＡＥ信号と
して、イベント信号発生回路１１に入力される。
るＡＥを検出して、ＡＥ信号を発生する。このＡＥ信号
は、順に、プリアンプ３によって増幅され、バンドパス
フィルタ５によって所定の周波数帯域の成分が通過させ
られ、メインアンプ７によってさらに増幅され、包絡線
検波回路９によって包絡線検波される。この包絡線検波
回路９からのＡＥ信号は、ＡチャネルからのＡＥ信号と
して、イベント信号発生回路１１に入力される。
【００２０】一方、第２ＡＥセンサ２が、上記被検体の
ＡＥを検出して出力したＡＥ信号も、順にプリアンプ
４，バンドパスフィルタ６，メインアンプ８，包絡線検
出回路１０を順に介して、上述と同様に信号処理され
て、ＢチャネルからのＡＥ信号として、イベント信号発
生回路１１に入力される。
ＡＥを検出して出力したＡＥ信号も、順にプリアンプ
４，バンドパスフィルタ６，メインアンプ８，包絡線検
出回路１０を順に介して、上述と同様に信号処理され
て、ＢチャネルからのＡＥ信号として、イベント信号発
生回路１１に入力される。
【００２１】ここで、上記ＡチャネルからのＡＥ信号
が、図３（Ａ）に示すように、第１しきい値ＶHよりも
大きく、かつ、上記Ｂチャネルからの信号が、図３
（Ｂ）に示すように、第１しきい値ＶHよりも小さくて
第２しきい値ＶLよりも大きい場合における、上記イベ
ント信号発生回路１１の動作を説明する。
が、図３（Ａ）に示すように、第１しきい値ＶHよりも
大きく、かつ、上記Ｂチャネルからの信号が、図３
（Ｂ）に示すように、第１しきい値ＶHよりも小さくて
第２しきい値ＶLよりも大きい場合における、上記イベ
ント信号発生回路１１の動作を説明する。
【００２２】まず、ＡチャネルからのＡＥ信号は、比較
器２２で第１しきい値ＶHと比較され、上記ＡＥ信号が
第１しきい値ＶHを越えると、比較器２２は高レベル信
号を出力する。このとき、図３(Ｂ)に示すように、Ｂチ
ャネルからのＡＥ信号は、第１しきい値ＶHより小さい
から、バッファ２３は、信号線５２,５３を介して、制
御端子に低レベル信号を受けて導通状態になっている。
したがって、上記高レベル信号は、バッファ２３を通過
してオア回路２５に入力され、さらに、オア回路２５を
通過してラッチ回路２６に入力される。すると、ラッチ
回路２６は、アナログスイッチ２７をオンにする。する
と、ＡチャネルからのＡＥ信号は、アナログスイッチ２
７を通過して、比較器２９に入力される。すると、上記
比較器２９は、しきい値発生器２８からの第２しきい値
ＶLと上記ＡＥ信号とを比較し、上記ＡＥ信号が第２し
きい値ＶLを越えたときに高レベル信号を出力する一
方、上記ＡＥ信号が第２しきい値ＶL以下になったとき
に低レベル信号を出力する。そして、インバータ３０
は、図３（Ａ）に示すように、上記比較器２９から受け
た信号を反転させた信号を出力する。
器２２で第１しきい値ＶHと比較され、上記ＡＥ信号が
第１しきい値ＶHを越えると、比較器２２は高レベル信
号を出力する。このとき、図３(Ｂ)に示すように、Ｂチ
ャネルからのＡＥ信号は、第１しきい値ＶHより小さい
から、バッファ２３は、信号線５２,５３を介して、制
御端子に低レベル信号を受けて導通状態になっている。
したがって、上記高レベル信号は、バッファ２３を通過
してオア回路２５に入力され、さらに、オア回路２５を
通過してラッチ回路２６に入力される。すると、ラッチ
回路２６は、アナログスイッチ２７をオンにする。する
と、ＡチャネルからのＡＥ信号は、アナログスイッチ２
７を通過して、比較器２９に入力される。すると、上記
比較器２９は、しきい値発生器２８からの第２しきい値
ＶLと上記ＡＥ信号とを比較し、上記ＡＥ信号が第２し
きい値ＶLを越えたときに高レベル信号を出力する一
方、上記ＡＥ信号が第２しきい値ＶL以下になったとき
に低レベル信号を出力する。そして、インバータ３０
は、図３（Ａ）に示すように、上記比較器２９から受け
た信号を反転させた信号を出力する。
【００２３】一方、ＢチャネルからのＡＥ信号を受けた
比較器３２は、図３（Ｂ)に示すように上記ＡＥ信号が
第１しきい値ＶHよりも小さいから、低レベル信号を出
力する。そして、バッファ３３は、その制御端子にＡチ
ャネル側のバッファ２３から高レベル信号を受けたとき
に、非導通状態になって、上記低レベル信号は上記バッ
ファ２３に阻止される。このとき、上記バッファ２３か
ら高レベル信号を受けたバッファ３４は、この高レベル
信号をオア回路３５に出力する。すると、オア回路３５
は、ラッチ回路３６に高レベル信号を出力し、ラッチ回
路３６は、アナログスイッチ３７をオンにする。する
と、上記ＢチャネルからのＡＥ信号は、上記アナログス
イッチ３７を通過して、比較器３９に入力され、この比
較器３９で第２しきい値ＶLと比較される。そして、上
記比較器３９は、上記ＢチャネルからのＡＥ信号が第２
しきい値ＶLを越えたときに、高レベル信号を出力する
一方、ＢチャネルからのＡＥ信号が第２しきい値ＶL以
下になったときに低レベル信号を出力する。そして、イ
ンバータ４０は、図３(Ｂ)に示すように、上記比較器３
９からの信号を反転させた信号を出力する。
比較器３２は、図３（Ｂ)に示すように上記ＡＥ信号が
第１しきい値ＶHよりも小さいから、低レベル信号を出
力する。そして、バッファ３３は、その制御端子にＡチ
ャネル側のバッファ２３から高レベル信号を受けたとき
に、非導通状態になって、上記低レベル信号は上記バッ
ファ２３に阻止される。このとき、上記バッファ２３か
ら高レベル信号を受けたバッファ３４は、この高レベル
信号をオア回路３５に出力する。すると、オア回路３５
は、ラッチ回路３６に高レベル信号を出力し、ラッチ回
路３６は、アナログスイッチ３７をオンにする。する
と、上記ＢチャネルからのＡＥ信号は、上記アナログス
イッチ３７を通過して、比較器３９に入力され、この比
較器３９で第２しきい値ＶLと比較される。そして、上
記比較器３９は、上記ＢチャネルからのＡＥ信号が第２
しきい値ＶLを越えたときに、高レベル信号を出力する
一方、ＢチャネルからのＡＥ信号が第２しきい値ＶL以
下になったときに低レベル信号を出力する。そして、イ
ンバータ４０は、図３(Ｂ)に示すように、上記比較器３
９からの信号を反転させた信号を出力する。
【００２４】このようにして、イベント信号出力回路１
１の出力端子Ａからは、ＡチャネルからのＡＥ信号に基
づいたパルス信号が出力され、出力端子Ｂからは、Ｂチ
ャネルからのＡＥ信号に基づいたパルス信号が出力され
る。
１の出力端子Ａからは、ＡチャネルからのＡＥ信号に基
づいたパルス信号が出力され、出力端子Ｂからは、Ｂチ
ャネルからのＡＥ信号に基づいたパルス信号が出力され
る。
【００２５】また、ＡチャネルからのＡＥ信号が第１し
きい値ＶＨを下回っており、ＢチャネルからのＡＥ信号
が第１しきい値ＶＨを越えている場合には、図２に示し
た上記イベント信号出力回路１１は、Ａチャネルからの
ＡＥ信号が第２しきい値ＶＬを越えたときにパルス信号
を出力し、ＢチャネルからのＡＥ信号が第１しきい値Ｖ
Ｈを越えてから第１しきい値Ｖ Ｈ よりも低い第２しきい
値を下回ったときにパルス信号を出力する。
きい値ＶＨを下回っており、ＢチャネルからのＡＥ信号
が第１しきい値ＶＨを越えている場合には、図２に示し
た上記イベント信号出力回路１１は、Ａチャネルからの
ＡＥ信号が第２しきい値ＶＬを越えたときにパルス信号
を出力し、ＢチャネルからのＡＥ信号が第１しきい値Ｖ
Ｈを越えてから第１しきい値Ｖ Ｈ よりも低い第２しきい
値を下回ったときにパルス信号を出力する。
【００２６】そして、コンピュータ１２は、上記イベン
ト信号出力回路１１からの２つのパルス信号間の時間差
に基づいて、被検体のＡＥ発生箇所の位置を標定する。
ト信号出力回路１１からの２つのパルス信号間の時間差
に基づいて、被検体のＡＥ発生箇所の位置を標定する。
【００２７】したがって、この実施例によれば、被検体
が発生するＡＥが比較的小さくて、ＡＥが伝搬する伝搬
経路での減衰によって、片方のＡＥセンサが発生するＡ
Ｅ信号が第１しきい値ＶHを下回っている場合にも、こ
のＡＥ信号が第１しきい値ＶHよりも低い第２しきい値
ＶLを越えているときには、ＡＥ発生箇所の位置を標定
することができる。
が発生するＡＥが比較的小さくて、ＡＥが伝搬する伝搬
経路での減衰によって、片方のＡＥセンサが発生するＡ
Ｅ信号が第１しきい値ＶHを下回っている場合にも、こ
のＡＥ信号が第１しきい値ＶHよりも低い第２しきい値
ＶLを越えているときには、ＡＥ発生箇所の位置を標定
することができる。
【００２８】
【発明の効果】以上より明らかなように、この発明のＡ
Ｅ発生箇所標定装置は、第１及び第２ＡＥセンサからの
ＡＥ信号を受けて、一方のＡＥセンサが出力したＡＥ信
号が、第１しきい値を越えてから第１しきい値よりも低
い第２しきい値を下回ったときに、一方のＡＥセンサに
対応するイベント信号を出力し、かつ、上記一方のＡＥ
センサが出力したＡＥ信号が第１しきい値を越えたとき
には、他方のＡＥセンサからのＡＥ信号が上記第１しき
い値よりも低い第２しきい値を越えたときに他方のＡＥ
センサに対応するイベント信号を出力するイベント信号
出力手段を備えている。
Ｅ発生箇所標定装置は、第１及び第２ＡＥセンサからの
ＡＥ信号を受けて、一方のＡＥセンサが出力したＡＥ信
号が、第１しきい値を越えてから第１しきい値よりも低
い第２しきい値を下回ったときに、一方のＡＥセンサに
対応するイベント信号を出力し、かつ、上記一方のＡＥ
センサが出力したＡＥ信号が第１しきい値を越えたとき
には、他方のＡＥセンサからのＡＥ信号が上記第１しき
い値よりも低い第２しきい値を越えたときに他方のＡＥ
センサに対応するイベント信号を出力するイベント信号
出力手段を備えている。
【００２９】したがって、この発明によれば、一方のＡ
Ｅセンサが出力したＡＥ信号が第１しきい値を越えた場
合には、他方のＡＥセンサが出力したＡＥ信号が第２し
きい値を越えたときに、イベント信号出力手段は上記他
方のＡＥセンサに対応するイベント信号を出力する。し
たがって、この発明によれば、一方のＡＥセンサが出力
したＡＥ信号が第１しきい値を越えた場合には、他方の
ＡＥセンサが出力したＡＥ信号が第１しきい値よりも低
い第２しきい値を越えたならば、ＡＥ発生箇所の位置を
標定できる。したがって、この発明によれば、ＡＥが他
方のＡＥセンサに達するまでの伝搬経路で減衰し、他方
のＡＥセンサが出力したＡＥ信号が第１しきい値を下回
っていてもＡＥ発生箇所を標定できるから、ＡＥ発生箇
所の位置標定能力を向上できる。
Ｅセンサが出力したＡＥ信号が第１しきい値を越えた場
合には、他方のＡＥセンサが出力したＡＥ信号が第２し
きい値を越えたときに、イベント信号出力手段は上記他
方のＡＥセンサに対応するイベント信号を出力する。し
たがって、この発明によれば、一方のＡＥセンサが出力
したＡＥ信号が第１しきい値を越えた場合には、他方の
ＡＥセンサが出力したＡＥ信号が第１しきい値よりも低
い第２しきい値を越えたならば、ＡＥ発生箇所の位置を
標定できる。したがって、この発明によれば、ＡＥが他
方のＡＥセンサに達するまでの伝搬経路で減衰し、他方
のＡＥセンサが出力したＡＥ信号が第１しきい値を下回
っていてもＡＥ発生箇所を標定できるから、ＡＥ発生箇
所の位置標定能力を向上できる。
【図１】 この発明のＡＥ発生箇所標定装置の実施例の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】 上記実施例のイベント信号発生回路の回路図
である。
である。
【図３】 上記実施例のイベント信号発生回路の各部の
信号波形を示す信号波形図である。
信号波形を示す信号波形図である。
【図４】 ＡチャネルのＡＥ信号が第１しきい値ＶHを
越えた一方、ＢチャネルのＡＥ信号が第１しきい値ＶH
を下回った場合の波形図である。
越えた一方、ＢチャネルのＡＥ信号が第１しきい値ＶH
を下回った場合の波形図である。
【図５】 ＡチャネルのＡＥ信号とＢチャネルのＡＥ信
号が共に第１しきい値ＶHを越えた場合の波形図であ
る。
号が共に第１しきい値ＶHを越えた場合の波形図であ
る。
１，２…ＡＥセンサ、３，４…プリアンプ、５，６…バ
ンドパスフィルタ、７，８…メインアンプ、９，１０…
包絡線検波回路、１１…イベント信号発生回路、１２…
コンピュータ、２１，３１，２８，３８…しきい値発生
器、２３，２４，３３，３４…スリーステイトバッフ
ァ、２７，３７…アナログスイッチ、２２，３２，２
９，３９…比較器。
ンドパスフィルタ、７，８…メインアンプ、９，１０…
包絡線検波回路、１１…イベント信号発生回路、１２…
コンピュータ、２１，３１，２８，３８…しきい値発生
器、２３，２４，３３，３４…スリーステイトバッフ
ァ、２７，３７…アナログスイッチ、２２，３２，２
９，３９…比較器。
Claims (1)
- 【請求項１】 被検体が発生するＡＥを検出してＡＥ信
号を出力する第１ＡＥセンサおよび第２ＡＥセンサと、 上記第１および第２ＡＥセンサからのＡＥ信号を受け
て、一方のＡＥセンサが出力したＡＥ信号が、第１しき
い値を越えてから第１しきい値よりも低い第２しきい値
を下回ったときに、一方のＡＥセンサに対応するイベン
ト信号を出力し、かつ、上記一方のＡＥセンサが出力し
たＡＥ信号が第１しきい値を越えたときには、他方のＡ
ＥセンサからのＡＥ信号が上記第１しきい値よりも低い
第２しきい値を越えたときに他方のＡＥセンサに対応す
るイベント信号を出力するイベント信号出力手段と、 上記イベント信号出力手段から上記一方のイベント信号
と他方のイベント信号を受けて、上記一方のイベント信
号を受けた時刻と、上記他方のイベント信号を受けた時
刻との時刻差に基づいて上記被検体のＡＥ発生箇所を標
定する標定手段とを備えたことを特徴とするＡＥ発生箇
所標定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16126593A JP3280122B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | Ａｅ発生箇所標定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16126593A JP3280122B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | Ａｅ発生箇所標定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0720098A JPH0720098A (ja) | 1995-01-24 |
| JP3280122B2 true JP3280122B2 (ja) | 2002-04-30 |
Family
ID=15731822
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16126593A Expired - Fee Related JP3280122B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | Ａｅ発生箇所標定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3280122B2 (ja) |
-
1993
- 1993-06-30 JP JP16126593A patent/JP3280122B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0720098A (ja) | 1995-01-24 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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