JP3250203B2 - 距離計測装置 - Google Patents
距離計測装置Info
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- JP3250203B2 JP3250203B2 JP18778393A JP18778393A JP3250203B2 JP 3250203 B2 JP3250203 B2 JP 3250203B2 JP 18778393 A JP18778393 A JP 18778393A JP 18778393 A JP18778393 A JP 18778393A JP 3250203 B2 JP3250203 B2 JP 3250203B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光または電磁波
を用いて対象物までの距離を計測する距離計測装置に関
し、特に装置の安全性の向上に関する。
を用いて対象物までの距離を計測する距離計測装置に関
し、特に装置の安全性の向上に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のレーザ光を用いた距離計測装置に
ついて説明する。図１１にこの距離計測装置を構成ブロ
ック図でを示す。
ついて説明する。図１１にこの距離計測装置を構成ブロ
ック図でを示す。
【０００３】制御回路７のクロックに従って、レーザダ
イオード（ＬＤ）駆動回路３がレーザダイオード（Ｌ
Ｄ）２を発光させる。電磁波の一つであるこのレーザ光
は、制御回路７に基づき順次スキャナ１により所定の走
査方向に変えられる。この様に照射された光のうちある
光は対象物（図示せず）に反射する。その後、その反射
光はフォトダイオード（ＰＤ）５により受光され、受光
回路６を介して制御回路７に入力される。なお、走査位
置検出装置４は、スキャナ１の走査方向および走査角速
度を検出し、制御回路７に出力する。
イオード（ＬＤ）駆動回路３がレーザダイオード（Ｌ
Ｄ）２を発光させる。電磁波の一つであるこのレーザ光
は、制御回路７に基づき順次スキャナ１により所定の走
査方向に変えられる。この様に照射された光のうちある
光は対象物（図示せず）に反射する。その後、その反射
光はフォトダイオード（ＰＤ）５により受光され、受光
回路６を介して制御回路７に入力される。なお、走査位
置検出装置４は、スキャナ１の走査方向および走査角速
度を検出し、制御回路７に出力する。
【０００４】ここで、発光された光を順次所定の走査方
向に変えるスキャナ１についてさらに詳しく説明する。
図１２にスキャナ１の構成図を示す。
向に変えるスキャナ１についてさらに詳しく説明する。
図１２にスキャナ１の構成図を示す。
【０００５】図１２を参照して、レイザーダイオード２
から照射された光は、コリメートレンズ９により平行光
Ｐに変換される。この平行光Ｐが、固定ミラー１１と走
査用ミラー１３を介して所定方向に変えられ、照射され
る。この際、走査用ミラー１３はモータ（図示せず）で
制御されており、順次走査方向を変える事ができる。な
お、照射された平行光Ｐの走査方向は、走査位置検出装
置であるスキャン制御用ＬＤ１５および位置検出素子
（ＰＳＤ）１７により検出する事ができる。具体的に
は、スキャン制御用ＬＤ１５から発した光が、両面鏡で
ある走査用ミラー１３に介してＰＳＤ１７のどの位置で
受光されるかにより走査方向は求められる。
から照射された光は、コリメートレンズ９により平行光
Ｐに変換される。この平行光Ｐが、固定ミラー１１と走
査用ミラー１３を介して所定方向に変えられ、照射され
る。この際、走査用ミラー１３はモータ（図示せず）で
制御されており、順次走査方向を変える事ができる。な
お、照射された平行光Ｐの走査方向は、走査位置検出装
置であるスキャン制御用ＬＤ１５および位置検出素子
（ＰＳＤ）１７により検出する事ができる。具体的に
は、スキャン制御用ＬＤ１５から発した光が、両面鏡で
ある走査用ミラー１３に介してＰＳＤ１７のどの位置で
受光されるかにより走査方向は求められる。
【０００６】上述の様に、発光された光が対象物１９に
反射し、その反射光が受光された後、制御回路７におい
て発光から受光までの経過時間Ｔ１が演算される。ま
た、その光の走査方向（ここでは走査角度）が検出され
る。これらの情報に基づいて距離算出回路８により以下
の距離が算出される。具体的には、対象物との直線距離
Ｄは、Ｄ＝ Ｔ１×２９９７９２４５８／２ ［ｍ／
ｓ］の式に示すように光速に経過時間を乗じて二分の一
する事により求められる。さらに、垂直距離Ｄｃおよび
平行距離Ｄｓが以下の式により求められる（図１３参
照）。
反射し、その反射光が受光された後、制御回路７におい
て発光から受光までの経過時間Ｔ１が演算される。ま
た、その光の走査方向（ここでは走査角度）が検出され
る。これらの情報に基づいて距離算出回路８により以下
の距離が算出される。具体的には、対象物との直線距離
Ｄは、Ｄ＝ Ｔ１×２９９７９２４５８／２ ［ｍ／
ｓ］の式に示すように光速に経過時間を乗じて二分の一
する事により求められる。さらに、垂直距離Ｄｃおよび
平行距離Ｄｓが以下の式により求められる（図１３参
照）。
【０００７】Ｄｃ＝ Ｄ×ＣＯＳθ［ｍ／ｓ］ Ｄｓ＝ Ｄ×ＳＩＮθ［ｍ／ｓ］ この様にして、発光部であるスキャナ１から対象物１９
までの各種距離を得る事ができる。
までの各種距離を得る事ができる。
【０００８】なお、このような距離計測装置は、レーダ
や車等に用いられる。具体的には、車両のバンパーあた
りに取り付ける事により、自車両から周囲の車両までの
距離を求める事ができ、垂直距離Ｄｃより車間距離を把
握する事ができたり、平行距離Ｄｓから他車線の車両の
有無や車両間隔を把握する事ができる。
や車等に用いられる。具体的には、車両のバンパーあた
りに取り付ける事により、自車両から周囲の車両までの
距離を求める事ができ、垂直距離Ｄｃより車間距離を把
握する事ができたり、平行距離Ｄｓから他車線の車両の
有無や車両間隔を把握する事ができる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
距離計測装置には、次の様な問題点があった。
距離計測装置には、次の様な問題点があった。
【００１０】上述の距離計測装置において、発光した光
は、順次スキャナ１により異なった所定の走査方向に照
射される。走査開始点から走査終点までの範囲２７を図
１４に示す。ところが、この走査方向の変更はモータを
用いた走査用ミラーの回転により行われることから、走
査開始点付近２１および走査終点付近２３における走査
用ミラーの角速度においてそれぞれ加速と減速を伴うも
のであった。すなわち、この走査開始点付近２１および
走査終点付近２３では走査用ミラーの角速度は、他の走
査領域２５における各速度に比べ低速となっていた。
は、順次スキャナ１により異なった所定の走査方向に照
射される。走査開始点から走査終点までの範囲２７を図
１４に示す。ところが、この走査方向の変更はモータを
用いた走査用ミラーの回転により行われることから、走
査開始点付近２１および走査終点付近２３における走査
用ミラーの角速度においてそれぞれ加速と減速を伴うも
のであった。すなわち、この走査開始点付近２１および
走査終点付近２３では走査用ミラーの角速度は、他の走
査領域２５における各速度に比べ低速となっていた。
【００１１】発光は連続して行われることから、走査用
ミラーの角速度が低速になると単位面積あたりの光量が
大きくなる事となる。
ミラーの角速度が低速になると単位面積あたりの光量が
大きくなる事となる。
【００１２】この様な場合、この光が人間の目等に当た
ると安全面から考えて問題となる恐れがあった。
ると安全面から考えて問題となる恐れがあった。
【００１３】よって、本発明は、上記の問題点を解決
し、より安全性において優れた電磁波等を用いた距離計
測装置を提供することを目的とする。
し、より安全性において優れた電磁波等を用いた距離計
測装置を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】請求項１に係る距離計測
装置では、走査開始点付近及び走査終点付近における電
磁波の照射を減衰させる照射減衰手段を備えたことを特
徴としている。
装置では、走査開始点付近及び走査終点付近における電
磁波の照射を減衰させる照射減衰手段を備えたことを特
徴としている。
【００１５】請求項２に係る距離計測装置では、照射減
衰手段により電磁波の照射を停止させることを特徴とし
ている。
衰手段により電磁波の照射を停止させることを特徴とし
ている。
【００１６】請求項３に係る距離計測装置では、測定用
電磁波走査手段からの漏れ光を受光して、該漏れ光のレ
ベルから前記測定用電磁波走査手段の機能が正常かどう
か判断することを特徴としている。
電磁波走査手段からの漏れ光を受光して、該漏れ光のレ
ベルから前記測定用電磁波走査手段の機能が正常かどう
か判断することを特徴としている。
【００１７】請求項４に係る距離計測装置では、測定用
電磁波走査手段は測定用電磁波の軌道内に設けられた第
一透光窓を備えるとともに、出力された測定用電磁波が
第一透光窓で反射した反射光を受光して、該反射光のレ
ベルから第一透光窓の汚れを検知し、汚れの程度に基づ
いて前記測定用電磁波走査手段の照射出力を調整するこ
とを特徴としている。
電磁波走査手段は測定用電磁波の軌道内に設けられた第
一透光窓を備えるとともに、出力された測定用電磁波が
第一透光窓で反射した反射光を受光して、該反射光のレ
ベルから第一透光窓の汚れを検知し、汚れの程度に基づ
いて前記測定用電磁波走査手段の照射出力を調整するこ
とを特徴としている。
【００１８】請求項５に係る距離計測装置では、電磁波
検出手段は前記測定用電磁波の軌道内に設けられた第二
透光窓を備えており、走査開始点付近および走査終点付
近における測定用電磁波の照射停止期間に検査用電磁波
を出力する検査用電磁波出力手段を設けるとともに、前
記電磁波検出手段は、検査用電磁波出力手段から出力さ
れ第二透光窓で反射された検査用電磁波を受光し、該受
光された検査用電磁波のレベルに基づいて、第二透光窓
の汚れを検知する動作を測定用電磁波の照射停止期間に
行うことを特徴としている。
検出手段は前記測定用電磁波の軌道内に設けられた第二
透光窓を備えており、走査開始点付近および走査終点付
近における測定用電磁波の照射停止期間に検査用電磁波
を出力する検査用電磁波出力手段を設けるとともに、前
記電磁波検出手段は、検査用電磁波出力手段から出力さ
れ第二透光窓で反射された検査用電磁波を受光し、該受
光された検査用電磁波のレベルに基づいて、第二透光窓
の汚れを検知する動作を測定用電磁波の照射停止期間に
行うことを特徴としている。
【００１９】請求項６に係る距離計測装置では、電磁波
検出手段は前記測定用電磁波の軌道内に設けられた第二
透光窓を備えており、走査開始点付近および走査終点付
近における測定用電磁波の照射停止期間に検査用電磁波
を出力する検査用電磁波出力手段を設けるとともに、前
記電磁波検出手段は、検査用電磁波出力手段から出力さ
れ第二透光窓で反射された検査用電磁波を受光し、該受
光された検査用電磁波のレベルに基づいて、前記電磁波
検出手段の機能が正常かどうか判断することを特徴とし
ている。
検出手段は前記測定用電磁波の軌道内に設けられた第二
透光窓を備えており、走査開始点付近および走査終点付
近における測定用電磁波の照射停止期間に検査用電磁波
を出力する検査用電磁波出力手段を設けるとともに、前
記電磁波検出手段は、検査用電磁波出力手段から出力さ
れ第二透光窓で反射された検査用電磁波を受光し、該受
光された検査用電磁波のレベルに基づいて、前記電磁波
検出手段の機能が正常かどうか判断することを特徴とし
ている。
【００２０】請求項７に係る距離計測装置では、電磁波
照射手段による照射のレベルを走査角速度の絶対値に比
例するように制御する照射レベル制御手段を備えたこと
を特徴としている。
照射手段による照射のレベルを走査角速度の絶対値に比
例するように制御する照射レベル制御手段を備えたこと
を特徴としている。
【００２１】
【作用】請求項１に係る距離計測装置では、前記照射減
衰手段によって走査開始点付近および走査終点付近での
危険性を有する電磁波の光量を制御できる。
衰手段によって走査開始点付近および走査終点付近での
危険性を有する電磁波の光量を制御できる。
【００２２】請求項２に係る距離計測装置では、前記照
射減衰手段によって走査開始点付近および走査終点付近
での危険性を有する電磁波の光量を停止できる。
射減衰手段によって走査開始点付近および走査終点付近
での危険性を有する電磁波の光量を停止できる。
【００２３】請求項３に係る距離計測装置では、測定用
電磁波走査手段の照射レベルを判断することができる。
電磁波走査手段の照射レベルを判断することができる。
【００２４】請求項４に係る距離計測装置では、第一透
光窓からの反射光のレベルから第一透光窓の汚れを検知
し、汚れの程度に基づいて前記測定用電磁波走査手段の
照射出力を調整することができる。
光窓からの反射光のレベルから第一透光窓の汚れを検知
し、汚れの程度に基づいて前記測定用電磁波走査手段の
照射出力を調整することができる。
【００２５】請求項５に係る距離計測装置では、検査用
電磁波出力手段により検査用電磁波出力手段から出力さ
れ第二透光窓で反射された検査用電磁波のレベルから第
二透光窓の汚れを検知する動作を測定用電磁波の照射停
止期間に行うことができる。請求項６に係る距離計測装
置では、検査用電磁波出力手段により検査用電磁波出力
手段から出力され第二透光窓で反射された検査用電磁波
のレベルから前記電磁波検出手段の機能が正常かどうか
判断することできる。
電磁波出力手段により検査用電磁波出力手段から出力さ
れ第二透光窓で反射された検査用電磁波のレベルから第
二透光窓の汚れを検知する動作を測定用電磁波の照射停
止期間に行うことができる。請求項６に係る距離計測装
置では、検査用電磁波出力手段により検査用電磁波出力
手段から出力され第二透光窓で反射された検査用電磁波
のレベルから前記電磁波検出手段の機能が正常かどうか
判断することできる。
【００２６】請求項７に係る距離計測装置では、前記照
射レベル制御手段によって危険性を有する照射点での電
磁波のレベルを制御できる。
射レベル制御手段によって危険性を有する照射点での電
磁波のレベルを制御できる。
【００２７】
【実施例】本願発明の一実施例による距離計測装置につ
いて以下に説明する。図１にこの距離計測装置を構成ブ
ロック図で示す。
いて以下に説明する。図１にこの距離計測装置を構成ブ
ロック図で示す。
【００２８】制御回路２９のクロックに従って、レーザ
ダイオード（ＬＤ）駆動回路３がレーザダイオード（Ｌ
Ｄ）２を発光させる。測定用電磁波の一つであるこのレ
ーザ光は、制御回路２９に基づき順次測定用電磁波走査
手段であるスキャナ１により所定の走査方向に変えられ
る。この様に照射された光のうちある光は対象物（図示
せず）に反射する。その後、その反射光は電磁波検出手
段であるフォトダイオード（ＰＤ）５により受光され、
受光回路６を介して制御回路２９に入力される。また、
走査位置検出装置４は、スキャナ１の走査方向および走
査角速度を検出し、照射減衰手段である開始・終点検出
回路２８に出力する。開始・終点検出回路２８は、この
情報に基づいて発光に関する情報を制御回路２９に出力
する。さらに制御回路２９はこの情報に基づきＬＤ駆動
回路３を制御する。
ダイオード（ＬＤ）駆動回路３がレーザダイオード（Ｌ
Ｄ）２を発光させる。測定用電磁波の一つであるこのレ
ーザ光は、制御回路２９に基づき順次測定用電磁波走査
手段であるスキャナ１により所定の走査方向に変えられ
る。この様に照射された光のうちある光は対象物（図示
せず）に反射する。その後、その反射光は電磁波検出手
段であるフォトダイオード（ＰＤ）５により受光され、
受光回路６を介して制御回路２９に入力される。また、
走査位置検出装置４は、スキャナ１の走査方向および走
査角速度を検出し、照射減衰手段である開始・終点検出
回路２８に出力する。開始・終点検出回路２８は、この
情報に基づいて発光に関する情報を制御回路２９に出力
する。さらに制御回路２９はこの情報に基づきＬＤ駆動
回路３を制御する。
【００２９】ここで、発光された光を順次所定の走査方
向に変えるスキャナ１についてさらに詳しく説明する。
図２にスキャナ１の構成図を示す。また、図３に走査範
囲２７を示す。
向に変えるスキャナ１についてさらに詳しく説明する。
図２にスキャナ１の構成図を示す。また、図３に走査範
囲２７を示す。
【００３０】図２に示すように、レイザーダイオード２
から照射された光は、コリメートレンズ９により平行光
Ｐに変換される。この平行光Ｐが、固定ミラー１１と走
査用ミラー１３を介して所定方向に変えられ、照射され
る。この際、走査用ミラー１３はモータ（図示せず）で
制御されており、順次走査方向を変える事ができる。例
えば、走査開始点から走査終点までの走査範囲２７は、
図３に示すようになる。
から照射された光は、コリメートレンズ９により平行光
Ｐに変換される。この平行光Ｐが、固定ミラー１１と走
査用ミラー１３を介して所定方向に変えられ、照射され
る。この際、走査用ミラー１３はモータ（図示せず）で
制御されており、順次走査方向を変える事ができる。例
えば、走査開始点から走査終点までの走査範囲２７は、
図３に示すようになる。
【００３１】なお、上記の様に走査方向の変更はモータ
を用いた走査用ミラーの回転により行われることから、
走査開始点付近２１および走査終点付近２３における走
査用ミラーの角速度においてそれぞれ加速と減速を伴
う。すなわち、この走査開始点付近２１および走査終点
付近２３では走査用ミラーの角速度は、他の走査領域２
５における各速度に比べ低速である。
を用いた走査用ミラーの回転により行われることから、
走査開始点付近２１および走査終点付近２３における走
査用ミラーの角速度においてそれぞれ加速と減速を伴
う。すなわち、この走査開始点付近２１および走査終点
付近２３では走査用ミラーの角速度は、他の走査領域２
５における各速度に比べ低速である。
【００３２】なお、照射された平行光Ｐの走査方向は、
走査位置検出装置であるスキャン制御用ＬＤ１５および
位置検出素子（ＰＳＤ）１７により検出する事ができ
る。具体的には、スキャン制御用ＬＤ１５から発した光
が、両面鏡である走査用ミラー１３に介してＰＳＤ１７
のどの位置で受光されるかにより走査方向は求められ
る。
走査位置検出装置であるスキャン制御用ＬＤ１５および
位置検出素子（ＰＳＤ）１７により検出する事ができ
る。具体的には、スキャン制御用ＬＤ１５から発した光
が、両面鏡である走査用ミラー１３に介してＰＳＤ１７
のどの位置で受光されるかにより走査方向は求められ
る。
【００３３】次に、開始・終点検出回路２８について、
図１参照して図４のフローチャートに基づいて説明す
る。
図１参照して図４のフローチャートに基づいて説明す
る。
【００３４】走査位置検出回路４からの走査方向に関す
る入力情報を用いて、走査方向が予め決められた走査開
始点付近２１および走査終点付近２３（図３参照）を向
いているかどうか判断する（ステップＳ１）。Ｙｅｓの
場合はＬＤ発光停止情報を出力し（ステップＳ２）、一
方Ｎｏの場合はＬＤ発光継続情報を出力する（ステップ
Ｓ３）。なお、これらの情報は制御回路２９に送られた
後、その情報に基づき制御回路２９によりＬＤ駆動回路
３が制御される。
る入力情報を用いて、走査方向が予め決められた走査開
始点付近２１および走査終点付近２３（図３参照）を向
いているかどうか判断する（ステップＳ１）。Ｙｅｓの
場合はＬＤ発光停止情報を出力し（ステップＳ２）、一
方Ｎｏの場合はＬＤ発光継続情報を出力する（ステップ
Ｓ３）。なお、これらの情報は制御回路２９に送られた
後、その情報に基づき制御回路２９によりＬＤ駆動回路
３が制御される。
【００３５】このようにして、安全面から考えて問題と
なる走査開始点２１および終点付近２３での照射を停止
するようにしている。
なる走査開始点２１および終点付近２３での照射を停止
するようにしている。
【００３６】上記において説明したように、発光された
光が対象物１９に反射し、その反射光がを受光された
後、演算手段である制御回路２９において発光から受光
までの経過時間Ｔ１が演算される。また、その光の走査
方向（ここでは走査角度）が検出される。これらの情報
に基づいて距離算出回路８により以下の距離が算出され
る。具体的には、対象物との直線距離Ｄは、Ｄ＝ Ｔ１
×２９９７９２４５８／２ ［ｍ／ｓ］の式に示すよう
に光速に経過時間を乗じて二分の一する事により求めら
れる。さらに、垂直距離Ｄｃおよび平行距離Ｄｓが以下
の式により求められる（図５参照）。
光が対象物１９に反射し、その反射光がを受光された
後、演算手段である制御回路２９において発光から受光
までの経過時間Ｔ１が演算される。また、その光の走査
方向（ここでは走査角度）が検出される。これらの情報
に基づいて距離算出回路８により以下の距離が算出され
る。具体的には、対象物との直線距離Ｄは、Ｄ＝ Ｔ１
×２９９７９２４５８／２ ［ｍ／ｓ］の式に示すよう
に光速に経過時間を乗じて二分の一する事により求めら
れる。さらに、垂直距離Ｄｃおよび平行距離Ｄｓが以下
の式により求められる（図５参照）。
【００３７】Ｄｃ＝ Ｄ×ＣＯＳθ［ｍ／ｓ］ Ｄｓ＝ Ｄ×ＳＩＮθ［ｍ／ｓ］ この様にして、発光部であるスキャナ１から対象物１９
までの各種距離を得る事ができる。
までの各種距離を得る事ができる。
【００３８】上述の距離測定検査装置にはフェールセー
フ（ＦＳ）機能が備えられている。このフェールセーフ
機能について以下に説明する。
フ（ＦＳ）機能が備えられている。このフェールセーフ
機能について以下に説明する。
【００３９】まず、距離計測装置の投光側ＦＳ機能に関
連するブロック図である図６に基づいて、透光側につい
て説明する。なお、第一透光窓である投光窓３２がスキ
ャナ１の測定用レーザ光の軌道内に設けられている。
連するブロック図である図６に基づいて、透光側につい
て説明する。なお、第一透光窓である投光窓３２がスキ
ャナ１の測定用レーザ光の軌道内に設けられている。
【００４０】レーザダイオード２は、制御回路２９のク
ロックに基づいたイネーブル信号に従ってＬＤ駆動回路
３により駆動されて発光させられる。このレーザ光は、
投光レンズ９を介して投光窓３２から照射される。この
際、ＬＤパワー検知用ＰＤ３４は、このレーザ光の若干
の漏れ光を受光することができる。この漏れ光を利用し
て投光機能を検査するようにしている。
ロックに基づいたイネーブル信号に従ってＬＤ駆動回路
３により駆動されて発光させられる。このレーザ光は、
投光レンズ９を介して投光窓３２から照射される。この
際、ＬＤパワー検知用ＰＤ３４は、このレーザ光の若干
の漏れ光を受光することができる。この漏れ光を利用し
て投光機能を検査するようにしている。
【００４１】ＰＤ３４により受光された信号は、Ｉ／Ｖ
変換器３６より電流・電圧変換され、アンプ３８により
増幅され受光信号としてコンパレータ４０に入力され
る。コンパレータ４０は、予め設定された閾値と受光信
号との比較を行いデータ（受光レベル）として制御回路
２９に出力する。
変換器３６より電流・電圧変換され、アンプ３８により
増幅され受光信号としてコンパレータ４０に入力され
る。コンパレータ４０は、予め設定された閾値と受光信
号との比較を行いデータ（受光レベル）として制御回路
２９に出力する。
【００４２】一方、投光窓３２が汚れていると、レーザ
光は投光窓３２で一部反射されることになる。このこと
を利用して投光窓３２の汚れを検知するようにしてい
る。投光窓３２の汚れによる反射光は、汚れ検知用ＰＤ
４２により受光される。ＰＤ４２により受光された信号
は、Ｉ／Ｖ変換器４４より電流・電圧変換され、アンプ
４６により増幅され受光信号としてコンパレータ４８に
入力される。コンパレータ４８は、予め設定された閾値
と受光信号との比較を行いデータ（受光レベル）として
制御回路２９に出力する。
光は投光窓３２で一部反射されることになる。このこと
を利用して投光窓３２の汚れを検知するようにしてい
る。投光窓３２の汚れによる反射光は、汚れ検知用ＰＤ
４２により受光される。ＰＤ４２により受光された信号
は、Ｉ／Ｖ変換器４４より電流・電圧変換され、アンプ
４６により増幅され受光信号としてコンパレータ４８に
入力される。コンパレータ４８は、予め設定された閾値
と受光信号との比較を行いデータ（受光レベル）として
制御回路２９に出力する。
【００４３】次に、距離計測装置の受光側ＦＳ機能に関
連するブロック図を図７に示す。図７に基づいて、受光
側ＦＳ機能について説明する。なお、第二透光窓である
受光窓５６が測定用レーザ光の軌道内に設けられてい
る。
連するブロック図を図７に示す。図７に基づいて、受光
側ＦＳ機能について説明する。なお、第二透光窓である
受光窓５６が測定用レーザ光の軌道内に設けられてい
る。
【００４４】受光側には検査用電磁波出力手段である検
査用ＬＥＤ５０が設けられている。この検査用ＬＥＤ５
０は、制御回路２９からのＥＤイネーブル信号に従った
タイミング生成器５２からのタイミングに基づいてＬＥ
Ｄ駆動回路５４により駆動されて検査用電磁波の一つで
ある検査用光を発光させる。この検査用光は、受光窓５
６に向けて送出される。この検査用光を利用して受光機
能を検査するようにしている。この際、タイミング生成
器５２は発光と同じタイミングでカウンタ５８に対して
もスタート信号を送る。なお、送出された検査用光は、
透光窓５６に到達し、大部分は透過するが若干は反射す
る。
査用ＬＥＤ５０が設けられている。この検査用ＬＥＤ５
０は、制御回路２９からのＥＤイネーブル信号に従った
タイミング生成器５２からのタイミングに基づいてＬＥ
Ｄ駆動回路５４により駆動されて検査用電磁波の一つで
ある検査用光を発光させる。この検査用光は、受光窓５
６に向けて送出される。この検査用光を利用して受光機
能を検査するようにしている。この際、タイミング生成
器５２は発光と同じタイミングでカウンタ５８に対して
もスタート信号を送る。なお、送出された検査用光は、
透光窓５６に到達し、大部分は透過するが若干は反射す
る。
【００４５】距離計測用と共用のＰＤ５は、この反射光
を受光レンズ６２を介して受光することができる。ＰＤ
５により受光された信号は、Ｉ／Ｖ変換器６ａにより電
流・電圧変換され、アンプ６ｂにより増幅され受光信号
としてコンパレータ６ｃに入力される。コンパレータ６
ｃは、予め設定された複数の閾値と受光信号との比較を
行い、「その受光量の大きさに相当する受光レベルデー
タ」を制御回路２９に出力する。同時に、カウンタ５８
に対してストップ信号が送出されカウントがストップ
し、カウントデータとして制御回路２９に送出される。
なお、前述の受光回路６が、Ｉ／Ｖ変換器６ａ、アンプ
６ｂ、コンパレータ６ｃに対応する。
を受光レンズ６２を介して受光することができる。ＰＤ
５により受光された信号は、Ｉ／Ｖ変換器６ａにより電
流・電圧変換され、アンプ６ｂにより増幅され受光信号
としてコンパレータ６ｃに入力される。コンパレータ６
ｃは、予め設定された複数の閾値と受光信号との比較を
行い、「その受光量の大きさに相当する受光レベルデー
タ」を制御回路２９に出力する。同時に、カウンタ５８
に対してストップ信号が送出されカウントがストップ
し、カウントデータとして制御回路２９に送出される。
なお、前述の受光回路６が、Ｉ／Ｖ変換器６ａ、アンプ
６ｂ、コンパレータ６ｃに対応する。
【００４６】また、ＰＤ５が受光した量から、受光窓５
６の汚れを検知する事ができる。受光窓５６からの反射
光は、汚れ検知用モードにおいてＰＤ５により受光され
る。ＰＤ５により受光された信号は、Ｉ／Ｖ変換器６ａ
により電流・電圧変換され、アンプ６ｂにより増幅され
受光信号としてコンパレータ６ｃに入力される。コンパ
レータ６ｃは、予め設定された閾値と受光信号との比較
を行いデータとして制御回路２９に出力する。
６の汚れを検知する事ができる。受光窓５６からの反射
光は、汚れ検知用モードにおいてＰＤ５により受光され
る。ＰＤ５により受光された信号は、Ｉ／Ｖ変換器６ａ
により電流・電圧変換され、アンプ６ｂにより増幅され
受光信号としてコンパレータ６ｃに入力される。コンパ
レータ６ｃは、予め設定された閾値と受光信号との比較
を行いデータとして制御回路２９に出力する。
【００４７】ところで、上述のように受光側の装置を検
査する為には、測定用ＬＤ２の発光停止中に行うことが
必要であるが、上記一実施例に係る距離計測装置は、走
査開始点付近および走査終点付近における測定用電磁波
の照射を停止させるようにしている。従って、この発光
停止期間に、受光側のＦＳ機能を作動させることができ
る。ＦＳ機能を説明する為のフローチャートを図８およ
び図９に示す。図８、９に基づいて、ＦＳ機能の処理の
流れについて説明する。
査する為には、測定用ＬＤ２の発光停止中に行うことが
必要であるが、上記一実施例に係る距離計測装置は、走
査開始点付近および走査終点付近における測定用電磁波
の照射を停止させるようにしている。従って、この発光
停止期間に、受光側のＦＳ機能を作動させることができ
る。ＦＳ機能を説明する為のフローチャートを図８およ
び図９に示す。図８、９に基づいて、ＦＳ機能の処理の
流れについて説明する。
【００４８】まず、通常の距離計測動作が開始される
（Ｐ１）。この距離計測動作中に定期的に（例えば１０
０ｍｓに一回）に以下のＦＳ処理が行われる。
（Ｐ１）。この距離計測動作中に定期的に（例えば１０
０ｍｓに一回）に以下のＦＳ処理が行われる。
【００４９】初めに、投光部パワー検知モードに切り替
えられる（Ｐ２）。このモードでは、ＬＤパワー検知用
ＰＤ３４でＬＤ２の漏れを受光し、その受光レベルを制
御回路２９に取込む。この際、取込んだ受光レベルのパ
ワー判定（Ｐ４）を行い、予め設定されたレベル以上で
あれば正常に発光していると判断され、次のステップへ
進む。一方、そのパワーが設定レベルより以下の場合、
何等かの異常でＬＤ２が正常に発光していないと判断さ
れ異常処理（Ｐ５）が行われる。この様にして、ＬＤ２
のパワーチャック、ＬＤ２の異常チェック、ＬＤ駆動回
路３の異常チェックを行い、投光部のＦＳ機能として作
用させている。
えられる（Ｐ２）。このモードでは、ＬＤパワー検知用
ＰＤ３４でＬＤ２の漏れを受光し、その受光レベルを制
御回路２９に取込む。この際、取込んだ受光レベルのパ
ワー判定（Ｐ４）を行い、予め設定されたレベル以上で
あれば正常に発光していると判断され、次のステップへ
進む。一方、そのパワーが設定レベルより以下の場合、
何等かの異常でＬＤ２が正常に発光していないと判断さ
れ異常処理（Ｐ５）が行われる。この様にして、ＬＤ２
のパワーチャック、ＬＤ２の異常チェック、ＬＤ駆動回
路３の異常チェックを行い、投光部のＦＳ機能として作
用させている。
【００５０】次に、投光部汚れ検知モードに切り替えら
れる（Ｐ６）。このモードでは、投光部汚れ検知用ＰＤ
４２で投光窓３２からの反射光を受光し、その受光レベ
ルをコンパレータ４６に通し、設定された複数の閾値レ
ベルと比較する事により受光レベルに対応した閾値レベ
ルを得ることができる（Ｐ７）。この閾値レベルは、投
光窓３２の汚れを示していることになり、ある設定閾値
レベル以上になると距離計測動作が正常に行えなくなる
ことから、この正常に動作できなくなる閾値レベルを投
光部汚れ限界レベルと呼ぶこととする。
れる（Ｐ６）。このモードでは、投光部汚れ検知用ＰＤ
４２で投光窓３２からの反射光を受光し、その受光レベ
ルをコンパレータ４６に通し、設定された複数の閾値レ
ベルと比較する事により受光レベルに対応した閾値レベ
ルを得ることができる（Ｐ７）。この閾値レベルは、投
光窓３２の汚れを示していることになり、ある設定閾値
レベル以上になると距離計測動作が正常に行えなくなる
ことから、この正常に動作できなくなる閾値レベルを投
光部汚れ限界レベルと呼ぶこととする。
【００５１】制御回路２９では、入力された閾値レベル
が投光部汚れ限界レベル以上の場合には異常１と判断す
る（Ｐ８）。この場合異常処理が行われる（Ｐ９）。ま
た、投光部汚れ限界レベルほど大きくないが通常の反射
レベルより少し大きいレベル（パワーアップレベルと呼
ぶ）では異常２と判断する（Ｐ８）。すなわち、投光部
が少し汚れている場合にはＬＤ２の発光パワーを上げる
よう行われる（Ｐ１０）。
が投光部汚れ限界レベル以上の場合には異常１と判断す
る（Ｐ８）。この場合異常処理が行われる（Ｐ９）。ま
た、投光部汚れ限界レベルほど大きくないが通常の反射
レベルより少し大きいレベル（パワーアップレベルと呼
ぶ）では異常２と判断する（Ｐ８）。すなわち、投光部
が少し汚れている場合にはＬＤ２の発光パワーを上げる
よう行われる（Ｐ１０）。
【００５２】すなわち、投光部が少しぐらい汚れていて
も測定性能を劣化させないようにしている。
も測定性能を劣化させないようにしている。
【００５３】次に、受光側の検査を行う為に上述したよ
うにＬＤ２の発光が停止される（Ｐ１１）。なお、この
ＬＤの発光停止時期は、距離計測中の走査開始点付近お
よび走査終点付近になるようにしている。
うにＬＤ２の発光が停止される（Ｐ１１）。なお、この
ＬＤの発光停止時期は、距離計測中の走査開始点付近お
よび走査終点付近になるようにしている。
【００５４】次に、受光部汚れ検知モードに切り替えら
れる（Ｐ１２）。このモードでは、まずＬＥＤ発光の為
のタイミングを生成する（Ｐ１３）。このタイミングに
従って、ＬＥＤ５０を発光する（Ｐ１４）。ＬＥＤ５０
により発光されたれ光は、受光窓５６で若干反射され
る。この反射光を距離計測用のＰＤ５で受光され、受光
量に対応した受光レベルが得られる。この受光レベル
は、受光データとして取込まれる（Ｐ１５）。この受光
レベルは、受光窓５６の汚れを示していることになり、
ある設定受光レベル以上になると距離計測動作が正常に
行えなくなることから、この正常に動作できなくなる受
光レベルを受光部汚れ限界レベルと呼ぶこととする。
れる（Ｐ１２）。このモードでは、まずＬＥＤ発光の為
のタイミングを生成する（Ｐ１３）。このタイミングに
従って、ＬＥＤ５０を発光する（Ｐ１４）。ＬＥＤ５０
により発光されたれ光は、受光窓５６で若干反射され
る。この反射光を距離計測用のＰＤ５で受光され、受光
量に対応した受光レベルが得られる。この受光レベル
は、受光データとして取込まれる（Ｐ１５）。この受光
レベルは、受光窓５６の汚れを示していることになり、
ある設定受光レベル以上になると距離計測動作が正常に
行えなくなることから、この正常に動作できなくなる受
光レベルを受光部汚れ限界レベルと呼ぶこととする。
【００５５】制御回路２９では、入力された受光レベル
を判断し（Ｐ１６）、受光部汚れ限界レベル以上の場
合、異常処理（Ｐ１７）が行われる。
を判断し（Ｐ１６）、受光部汚れ限界レベル以上の場
合、異常処理（Ｐ１７）が行われる。
【００５６】次に、受光部ＦＳモードに切り替えられる
（Ｐ１８）。このモードでも、まずＬＥＤ発光の為のタ
イミングを生成する（Ｐ１３）。このタイミングに従っ
て、ＬＥＤ５０を発光する（Ｐ２０）。同時に、カウン
タ５８をスタートさせる。ＬＥＤ５０により発光された
レーザ光は、受光窓５６で若干反射される。距離計測用
のＰＤ５が、この反射光を受光するとともに、受光量に
対応した受光レベルを得、受光データとして取込まれる
（Ｐ２１）。同時に、カウントをストップするととも
に、その受光データを制御回路２９に送出する（Ｐ２
２）。
（Ｐ１８）。このモードでも、まずＬＥＤ発光の為のタ
イミングを生成する（Ｐ１３）。このタイミングに従っ
て、ＬＥＤ５０を発光する（Ｐ２０）。同時に、カウン
タ５８をスタートさせる。ＬＥＤ５０により発光された
レーザ光は、受光窓５６で若干反射される。距離計測用
のＰＤ５が、この反射光を受光するとともに、受光量に
対応した受光レベルを得、受光データとして取込まれる
（Ｐ２１）。同時に、カウントをストップするととも
に、その受光データを制御回路２９に送出する（Ｐ２
２）。
【００５７】制御回路２９では、取込んだ受光レベルお
よびカウント値が予め設定されたレベルと比較され、設
定値外である場合には受光部レンズ、受光素子、受光回
路等のどこかに異常があると判断される（Ｐ２３）。異
常であると判断した場合には制御回路２９により異常処
理が行われる（Ｐ２４）。
よびカウント値が予め設定されたレベルと比較され、設
定値外である場合には受光部レンズ、受光素子、受光回
路等のどこかに異常があると判断される（Ｐ２３）。異
常であると判断した場合には制御回路２９により異常処
理が行われる（Ｐ２４）。
【００５８】なお、発光タイミングを変えて（すなわち
検出するカウントデータの変更を行い）、上述の受光側
ＦＳ処理を数回繰り返して行い（Ｐ２５）、検出精度を
向上させるようにしている。
検出するカウントデータの変更を行い）、上述の受光側
ＦＳ処理を数回繰り返して行い（Ｐ２５）、検出精度を
向上させるようにしている。
【００５９】この様にして、レンズのチェック、取り付
け位置のチェック、ＰＤのチェック、受光回路の異常チ
ェック等を行い、受光部のＦＳ機能として作用させてい
る。上述の一連のＦＳ処理を行って、異常がなけらばさ
らに通常の距離計測動作を継続する為にＬＤ発光ステッ
プ（Ｐ２６）に進むことになる。
け位置のチェック、ＰＤのチェック、受光回路の異常チ
ェック等を行い、受光部のＦＳ機能として作用させてい
る。上述の一連のＦＳ処理を行って、異常がなけらばさ
らに通常の距離計測動作を継続する為にＬＤ発光ステッ
プ（Ｐ２６）に進むことになる。
【００６０】上記の様にして、距離計測装置のＦＳ機能
を測定動作ととに作動させることができる。
を測定動作ととに作動させることができる。
【００６１】なお、このような距離計測装置は、レーダ
や車等に用いられる。具体的には、車両のバンパーあた
りに取り付ける事により、自車両から周囲の車両までの
距離を求める事ができ、垂直距離Ｄｃより車間距離を把
握する事ができたり、平行距離Ｄｓから他車線の車両の
有無や車両間隔を把握する事ができる。
や車等に用いられる。具体的には、車両のバンパーあた
りに取り付ける事により、自車両から周囲の車両までの
距離を求める事ができ、垂直距離Ｄｃより車間距離を把
握する事ができたり、平行距離Ｄｓから他車線の車両の
有無や車両間隔を把握する事ができる。
【００６２】上記の実施例では、照射減衰手段により走
査開始点２１および終点付近２３での照射を停止させて
いるが、他の実施例として照射減衰手段により走査開始
点２１および終点付近２３での照射のレベルを減衰させ
てもえよい。
査開始点２１および終点付近２３での照射を停止させて
いるが、他の実施例として照射減衰手段により走査開始
点２１および終点付近２３での照射のレベルを減衰させ
てもえよい。
【００６３】上記の実施例では、走査位置検出回路４か
らの走査方向の情報に基づいて開始・終点検出回路２８
により照射の停止を制御するようにしているが、他の実
施例として照射レベル制御手段により走査角速度の絶対
値に比例するように照射のレベルを制御する様にしても
よい。具体的には、図１０示すように上記の実施例の開
始・終点検出回路２８の代りに、照射レベル制御手段で
ある照射レベル制御装置３０を設け、照射レベル制御装
置３０により走査位置検出回路４からの走査角速度の情
報に基づき走査角速度の絶対値に比例するようにＬＤ駆
動回路３が制御される。
らの走査方向の情報に基づいて開始・終点検出回路２８
により照射の停止を制御するようにしているが、他の実
施例として照射レベル制御手段により走査角速度の絶対
値に比例するように照射のレベルを制御する様にしても
よい。具体的には、図１０示すように上記の実施例の開
始・終点検出回路２８の代りに、照射レベル制御手段で
ある照射レベル制御装置３０を設け、照射レベル制御装
置３０により走査位置検出回路４からの走査角速度の情
報に基づき走査角速度の絶対値に比例するようにＬＤ駆
動回路３が制御される。
【００６４】
【発明の効果】請求項１に係る距離計測装置では、前記
照射減衰手段によって走査開始点付近および走査終点付
近での危険性を有する電磁波の光量を制御できる。
照射減衰手段によって走査開始点付近および走査終点付
近での危険性を有する電磁波の光量を制御できる。
【００６５】従って、走査開始点付近および走査終点付
近での走査角速度の減速に伴う光量増加に起因する危険
を回避する事ができる。
近での走査角速度の減速に伴う光量増加に起因する危険
を回避する事ができる。
【００６６】請求項２に係る距離計測装置では、前記照
射減衰手段によって走査開始点付近および走査終点付近
での危険性を有する電磁波の光量を停止できる。
射減衰手段によって走査開始点付近および走査終点付近
での危険性を有する電磁波の光量を停止できる。
【００６７】従って、走査開始点付近および走査終点付
近での走査角速度の減速に伴う光量の増加に起因する危
険を回避する事ができる。
近での走査角速度の減速に伴う光量の増加に起因する危
険を回避する事ができる。
【００６８】請求項３に係る距離計測装置では、測定用
電磁波走査手段の照射レベルを判断することができる。
電磁波走査手段の照射レベルを判断することができる。
【００６９】請求項４に係る距離計測装置では、第一透
光窓からの反射光のレベルから第一透光窓の汚れを検知
し、汚れの程度に基づいて前記測定用電磁波走査手段の
照射出力を調整することができる。
光窓からの反射光のレベルから第一透光窓の汚れを検知
し、汚れの程度に基づいて前記測定用電磁波走査手段の
照射出力を調整することができる。
【００７０】請求項５に係る距離計測装置では、検査用
電磁波出力手段により検査用電磁波出力手段から出力さ
れ第二透光窓で反射された検査用電磁波のレベルから第
二透光窓の汚れを検知する動作を測定用電磁波の照射停
止期間に行うことができる。請求項６に係る距離計測装
置では、検査用電磁波出力手段により検査用電磁波出力
手段から出力され第二透光窓で反射された検査用電磁波
のレベルから前記電磁波検出手段の機能が正常かどうか
判断することできる。
電磁波出力手段により検査用電磁波出力手段から出力さ
れ第二透光窓で反射された検査用電磁波のレベルから第
二透光窓の汚れを検知する動作を測定用電磁波の照射停
止期間に行うことができる。請求項６に係る距離計測装
置では、検査用電磁波出力手段により検査用電磁波出力
手段から出力され第二透光窓で反射された検査用電磁波
のレベルから前記電磁波検出手段の機能が正常かどうか
判断することできる。
【００７１】請求項７に係る距離計測装置では、前記照
射レベル制御手段によって危険性を有する照射点での電
磁波のレベルを制御できる。
射レベル制御手段によって危険性を有する照射点での電
磁波のレベルを制御できる。
【００７２】従って、走査角速度の減速にともなう光量
の増加に起因する危険を回避する事ができる。
の増加に起因する危険を回避する事ができる。
【図１】本発明の一実施例に係る距離計測装置を示す構
成ブロック図である。
成ブロック図である。
【図２】スキャナの構成を説明する為の図である。
【図３】スキャナの走査範囲を示す為の図である。
【図４】開始・終点検出装置の機能を示すフローチャー
トである。
トである。
【図５】スキャナと対象物との距離を示す為の図であ
る。
る。
【図６】距離計測装置の投光側ＦＳ機能に関連するブロ
ック図である。
ック図である。
【図７】距離計測装置の受光側ＦＳ機能に関連するブロ
ック図である。
ック図である。
【図８】ＦＳ機能の処理の流れを示すフローチャートで
ある。
ある。
【図９】ＦＳ機能の処理の流れを示すフローチャートで
ある。
ある。
【図１０】本発明の他の実施例に係る距離計測装置を示
す構成ブロック図である。
す構成ブロック図である。
【図１１】従来の距離計測装置を示す構成ブロック図で
ある。
ある。
【図１２】スキャナの構成を説明する為の図である。
【図１３】スキャナと対象物との距離を示す為の図であ
る。
る。
【図１４】スキャナの走査範囲を示す為の図である。
１・・・スキャナ ２・・・レザーダイオード ５・・・フォトダイオード ６・・・受光回路 ４・・・走査位置検出装置 ２８・・・開始・終点検出装置 ２９・・・制御回路 ８・・・距離算出回路 ３０・・・照射レベル制御装置 ３２・・・投光窓 ５６・・・受光窓 ５０・・・検査用ＬＥＤ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮崎 秀徳 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オムロン株式会社内 (56)参考文献 特開 平５−196736（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−205198（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−148883（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−16484（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−63871（ＪＰ，Ａ) 特開 昭53−20789（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01S 7/48 G01S 17/00 - 17/88
Claims (7)
- 【請求項１】走査開始点から走査終点にわたり測定用電
磁波を走査しつつ照射する測定用電磁波走査手段と、 前記照射された測定用電磁波が被検出物体の反射点にお
いて反射した測定用電磁波を検出する電磁波検出手段
と、 前記測定用電磁波が出力されてから検出されるまでに要
する時間を測定するとともに該時間に基づいて前記測定
用電磁波走査手段と前記反射点との距離を求める演算手
段と、 を備えた距離計測装置において、 走査開始点付近および走査終点付近における測定用電磁
波の照射を減衰させる照射減衰手段を備えたことを特徴
とする距離計測装置。 - 【請求項２】請求項１に係る距離計測装置において、 照射減衰手段により測定用電磁波の照射を停止させるこ
とを特徴とする距離計測装置。 - 【請求項３】請求項１に係る距離計測装置において、 測定用電磁波走査手段からの漏れ光を受光して、該漏れ
光のレベルから前記測定用電磁波走査手段の機能が正常
かどうか判断することを特徴とする距離計測装置。 - 【請求項４】請求項１に係る距離計測装置において、 測定用電磁波走査手段は測定用電磁波の軌道内に設けら
れた第一透光窓を備えるとともに、出力された測定用電
磁波が第一透光窓で反射した反射光を受光して、該反射
光のレベルから第一透光窓の汚れを検知し、汚れの程度
に基づいて前記測定用電磁波走査手段の照射出力を調整
することを特徴とする距離計測装置。 - 【請求項５】請求項２に係る距離計測装置において、 電磁波検出手段は前記測定用電磁波の軌道内に設けられ
た第二透光窓を備えており、 走査開始点付近および走査終点付近における測定用電磁
波の照射停止期間に検査用電磁波を出力する検査用電磁
波出力手段を設けるとともに、 前記電磁波検出手段は、検査用電磁波出力手段から出力
され第二透光窓で反射された検査用電磁波を受光し、該
受光された検査用電磁波のレベルに基づいて、第二透光
窓の汚れを検知する動作を測定用電磁波の照射停止期間
に行うこと、 を特徴とする距離計測装置。 - 【請求項６】請求項２に係る距離計測装置において、 電磁波検出手段は前記測定用電磁波の軌道内に設けられ
た第二透光窓を備えており、 走査開始点付近および走査終点付近における測定用電磁
波の照射停止期間に検査用電磁波を出力する検査用電磁
波出力手段を設けるとともに、 前記電磁波検出手段は、検査用電磁波出力手段から出力
され第二透光窓で反射された検査用電磁波を受光し、該
受光された検査用電磁波のレベルに基づいて、前記電磁
波検出手段の機能が正常かどうか判断することを特徴と
する距離計測装置。 - 【請求項７】走査角度を変える事により走査開始点から
走査終点にわたり測定用電磁波を走査しつつ照射する測
定用電磁波走査手段と、 前記照射された測定用電磁波が被検出物体の反射点にお
いて反射した測定用電磁波を検出する電磁波検出手段
と、 前記測定用電磁波が出力されてから検出されるまでに要
する時間を測定するとともに該時間に基づいて前記測定
用電磁波走査手段と前記反射点との距離を求める演算手
段と、 を備えた距離計測装置において、 電磁波照射手段による照射のレベルを走査角速度の絶対
値に比例するように制御する照射レベル制御手段を備え
た事を特徴とする距離計測装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18778393A JP3250203B2 (ja) | 1993-05-25 | 1993-07-29 | 距離計測装置 |
| US08/279,428 US5515156A (en) | 1993-07-29 | 1994-07-25 | Electromagentic wave generating device and a distance measuring device |
| EP94111591A EP0636903B1 (en) | 1993-07-29 | 1994-07-25 | An electromagnetic wave generating device and a distance measuring device |
| DE69413761T DE69413761T2 (de) | 1993-07-29 | 1994-07-25 | Sender für elektromagnetische Wellen und Entfernungsmesser |
| KR1019940019019A KR0142634B1 (ko) | 1993-07-29 | 1994-07-29 | 전자파 출력 장치 및 거리 계측 장치 |
| CN94114980A CN1109968A (zh) | 1993-07-29 | 1994-07-29 | 电磁波输出装置和距离测量装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5-122599 | 1993-05-25 | ||
| JP12259993 | 1993-05-25 | ||
| JP18778393A JP3250203B2 (ja) | 1993-05-25 | 1993-07-29 | 距離計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0743466A JPH0743466A (ja) | 1995-02-14 |
| JP3250203B2 true JP3250203B2 (ja) | 2002-01-28 |
Family
ID=26459690
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18778393A Expired - Lifetime JP3250203B2 (ja) | 1993-05-25 | 1993-07-29 | 距離計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3250203B2 (ja) |
Cited By (1)
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-
1993
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| EP3367135A1 (de) * | 2017-02-28 | 2018-08-29 | Leuze electronic GmbH + Co. KG | Optischer sensor |
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