JP3248720B2 - 半導体レーザダイオードのバイアス制御方法とコントローラ - Google Patents

半導体レーザダイオードのバイアス制御方法とコントローラ

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JP3248720B2 JP51447191A JP51447191A JP3248720B2 JP 3248720 B2 JP3248720 B2 JP 3248720B2 JP 51447191 A JP51447191 A JP 51447191A JP 51447191 A JP51447191 A JP 51447191A JP 3248720 B2 JP3248720 B2 JP 3248720B2
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は一般的に半導体レーザダイオードに関し、さ
らに具体的にはレーザダイオードにバイアスを施し駆動
するための制御法法とコントローラに関するものであ
る。
発明の背景 図１において、100はレーザダイオード、102は従来技
術によるアナログレーザダイオードコントローラであ
る。レーザダイオード100は前面ファセット110を有して
おり、そこからコヒーレント光が放射され、この放射さ
れた光は通常は光ファイバー112などの光学部品に伝達
される。また114は後面ファセットである。後面ファセ
ット114から放射された光はフォトダイオード116によっ
て受光され、レーザダイオード110から放射された光パ
ワーの大きさが連続的にモニタされる。一般に前面ファ
セット110から放出されか光パワーの大きさは後方ファ
セット114から放出される光パワーの大きさと直接的に
比例関係がある。
パワー(前面ファセット)＝パワー(後面ファセット)/K 多くの場合、Ｋは１に等しいが、フォトダイオード11
6が後面ファセットから実際に受け取るパワーはパッケ
ージごとにいろいろ異なった値となる。従って、それぞ
れのレーザダイオードごとに個々に較正を行う必要があ
る。
通常はレーザダイオード100、後面ファセットフォト
ダイオード116、および出力光ファイバー112（または出
力光ファイバーを保持するための機構）は共通の基板あ
るいはハウジング118に一緒に取り付けられる。場合に
よっては、レーザダイオード100を指定された温度に維
持するためにハウジング118に固体電子冷却装置を備え
るようにすることもある。
図２に示されているように、レーザダイオードの光出
力パワーはレーザダイオードの駆動電流に対して非線形
な関数となっている。具体的には、順方向バイアス電流
を半導体レーザに流すとき、最初の低電流領域において
は発光ダイオード（LED）に類似の発光特性を示す。こ
のときに発光される光は自然放出光として知られている
種類のものであり、光はレーザダイオード共振器の励起
された原子からランダムに放出される。このような光放
出の型は通常LEDモードと呼ばれている。
駆動電流がしきい電流と呼ばれるある値ITHになる
と、レーザダイオードの電流が光に変換される変換効率
は劇的に増加する。この電流値を境にしてレーザダイオ
ードはLEDモード動作からレーザモードに変わる。
非常に大ざっぱに言えばいろいろな種類のレーザダイ
オードのしきい電流は、同じ程度の値の範囲内にあると
いえるが、同じ型のレーザダイオードであっても、その
しきい電流はレーザダイオードごとに違った値を有して
おり、また温度によって変化する。またしきい電流は使
用しているうちに次第に変化する。例えば、あるレーザ
ダイオードのしきい電流は温度によって50％あるいはそ
れ以上に変わる。レーザダイオードはこのように温度に
対して敏感であるために、ある駆動電流が与えられたと
き、ある温度においては所望のレベル以上の動作を行う
ものの、別の温度ではレーザ動作さえしなくなってしま
う。
レーザダイオードがレーザモードで動作しているとき
すなわちしきい電流以上の駆動電流で動作していると
き、レーザダイオードの効率を示す微分特性値を定義す
ることができる。さらに具体的に言えばレーザダイオー
ドの微分効率は、レーザダイオードがレーザモードで動
作しているとき、レーザの光出力パワーの変化分の駆動
電流変化分に対する比に等しい。微分効率はレーザダイ
オードごとに違った値を有し、また温度とともに変化す
る。また、経時変化を示す。
レーザダイオードの「動作点」すなわちバイアス電流
IOPはレーザダイオードを使用するユーザによって、レ
ーザ動作をする電流範囲内でしかも入力信号で電流を変
調したときにもレーザモードを維持できる値に設定され
る。従って、もし入力信号の最大変化が動作点よりもΜ
Ｖだけ低い点まで及ぶものとすると、動作点はITH＋Μ
Ｖよりも大きくなければならない。さらに、動作点は、
受光フォトダイオードが伝送された光を受光するのに十
分なだけ大きな値に設定されなければならない。かつ、
動作点はレーザダイオードが焼損してしまうほど高く設
定されていてはならない。
図１に戻って、従来技術によるダイオードコントロー
ラ102は通常はポテンショメータ122あるいはその他の類
似の回路に結合されたアナログフィードバックループ12
0を有しており、これによってマニュアルでレーザの動
作点の調節を行う。通常、ユーザはレーザダイオードコ
ントローラの電源を投入する前にフィードバックループ
120の利得をあらかじめ０に設定しておき、光出力パワ
ーが所望の値に達するまでマニュアルで利得を増加して
いく。光出力パワーは通常は前方ファセットに光ファイ
バー112で結合されたもう１つのフォトダイオードを用
いて測定されるか、あるいはこれと類似のやり方で行わ
れる（図示せず）。レーザダイオードコントローラ102
のキャリブレーションがポテンショメータ112を用いて
行われた後に、伝送すべき信号がキャパシター124を介
してレーザダイオードの動作電流IOPに対して重畳さ
れ、かくしてレーザダイオード110の出力パワーが変調
される。
場合によって、アナログコントローラは多数のポテン
ショメータを用いてしきい電流、動作バイアス電流、後
面ファセットフォトダイオードフィードバック制御を別
個に設定するようになされるが、このような構成はアナ
ログコントローラの調整を困難にし、また高価なものに
なってしまう。
一般にどのようなレーザダイオードであっても、もし
光出力パワーがある一定の限界を越えると破壊する。レ
ーザモードで動作しているレーザダイオードの光出力は
非常に鋭い傾き特性を有しているため、一般に動作点の
設定している最中にレーザダイオードは極めて簡単に破
壊してしまう。実際に、例えば電話会社が電話信号を光
ファイバーを用いて伝送するためのレーザダイオードや
ケーブルテレビジョンなどで用いられるレーザダイオー
ドなどの非常に高価な多数のレーザダイオードがキャリ
ブレーションの最中に破壊してしまっている。このよう
な破壊はキャリブレーション用のポテンショメータを速
く回し過ぎたり、あるいはキャリブレーションを行う際
の前面ファセットの出力をモニタする装置の問題によっ
てレーザダイオードに加えられるパワーが大きくなりす
ぎたか、あるいはその他のいろいろな事故によって起こ
る。
一般にレーザダイオードのキャリブレーションを行う
作業は時間がかかり高価なものであり、また、レーザダ
イオードは作業者のいろいろな誤った処理にさらされ
る。
他の従来技術のレーザダイオードコントローラにおけ
る重要な限界は、デバイスが実際に故障する前に、コン
トローラがその故障をあらかじめ予想することができな
いということである。多くの半導体レーザダイオードが
極めて重要な通信システムに用いられており、もしその
ようなレーザが故障すると通信システム全体が機能しな
くなってしまう。もし、レーザダイオードの寿命を正確
に予想することができれば、寿命によって装置の故障が
発生する前にレーザダイオードを交換する予防保守プロ
グラムを実施することができ、システムの故障を避ける
ことが可能となる。現在のところ、そのようなレーザダ
イオードの交換は、実際にまだ使用可能かどうかにかか
わらず、単に一定の使用時間に基づいて行われているに
過ぎない。
発明の要約 本発明によるレーザダイオードコントローラは、プロ
グラムされたディジタルコントローラを用いてレーザダ
イオードの動作特性を正確に測定し、また通電開始プロ
セスの制御とレーザダイオードの動作パラメータの設定
とを行う。レーザダイオードの前面ファセットから放出
された光は伝送するための光として用いられ、一方レー
ザダイオードの後面ファセットからの光はレーザダイオ
ードが生成する光出力パワーのモニタのために用いられ
る。いったん、レーザダイオードの後面ファセットフォ
トダイオードのキャリブレーションが行われると、コン
トローラは正確にレーザダイオードの動作特性のモニタ
を行って現在の動作特性に基づいて最適な動作点電流を
選定することができる。
レーザダイオードのキャリブレーションにおいて、コ
ントローラはレーザダイオードの光出力パワーの線形性
を駆動電流の関数としてチェックし、これによってレー
ザダイオードの欠陥を検出することができる。また、独
特のトランジスタ直流電流と交流信号との接続構成を高
周波雑音を低減するために用いる。
全デュプレックス光リンクの光リンクの両端に本発明
によるディジタルコントローラを備え、リンクが完全に
結合されてから後にレーザダイオードの光出力を通常の
動作強度まで増加させるようになされている。リンクの
結合が完全な状態となってから後も、コントローラはリ
ンクの状態が完全かどうかをモニタし続け、もしリンク
が破断された場合にはレーザダイオードの出力パワーを
低減する。従って、このコントローラを用いると、ユー
ザがうっかりレーザダイオードで目を損傷してしまうこ
とを防止できる。さらに、コントローラは全デュープレ
ックスリンクを用いることによって、低い動作点駆動電
流を設定し、レーザダイオードの寿命を著しく長くする
ことができる。
レーザダイオードの動作特性はデバイスを使用してい
く間に変化していき最後に寿命が尽きるので、この変化
をコントローラが検出することによってレーザダイオー
ドがいつ故障するかを予想することができる。本発明に
よるコントローラはレーザダイオードの動作特性を不揮
発性メモリに保存してこれらの特性変化を分析し、もし
この変化量があらじめ定義された故障予想判定基準と一
致すると故障警告メッセージを発する。
図面の簡単な説明 本発明のその他の目的および特徴は以下の詳細な説明
および添付の請求の範囲と以下の図面を参照することに
より容易に理解できるであろう。
図１は従来技術によるレーザダイオードおよびコント
ローラのブロック図である。
図1Aは従来技術のレーザダイオードに適用した従来技
術の高周波チョーク回路を示している。
図２はレーザダイオードの駆動電流と動作出力パワー
との関係を示したグラフである。
図３は本発明によるレーザダイオードコントローラの
ブロック図である。
図４はレーザ後面ファセットフォトダイオードのキャ
リブレーションを行う際に、光強度計をレーザダイオー
ドとコントローラへどのように接続するかを示した図で
ある。
図５は全デュープレックス光リンクを示すブロック図
である。
図６はレーザダイオードの特性の典型的な経時変化の
例を示したグラフである。
図７はレーザダイオードコントローラの好適な実施例
における、不揮発性メモリ保存されるデータの例を示し
た図である。
図８および図９は本発明によるレーザダイオードのキ
ャリブレーションおよび立ち上げの方法を示したフロー
チャートである。
図10は全デュープレックス光リンクの各レーザダイオ
ードの立ち上げ方法を示したフローチャートである。
図11は好適な実施例によるレーザダイオードコントロ
ーラのユーザインターフェース表示図面を示したもので
ある。
図12は本発明によるマルチチャンネルレーザダイオー
ドコントローラを示したブロック図である。
好適な実施例の説明 図３は電子冷却装置150の上に取り付けられたレーザ
ダイオード100およびフォトダイオード116を示したもの
である。電子冷却装置150は、一定の温度で、すなわち
温度制御された環境においてレーザダイオード100を動
作させるようにするためのものである。さらに温度セン
サ152（例えば熱電対）がレーザダイオード100の近く、
あるいは隣接して配備されており、これによってレーザ
ダイオードの温度の測定を行うようになっている。
レーザダイオード100の動作はディジタルコントロー
ラ160によって制御される。ディジタルコントローラ160
の中心的部品は例えば68HC11あるいは68HC05（両方とも
モトローラ製品である）などのマイクロコントローラ16
2である。パワー投入シーケンス制御プログラム390や連
続動作時のデバイスモニタ・制御プログラム392など
の、マイクロコントローラ162のためのソフトウェアは
リードオンリメモリ（ROM）または（消去可能な）電気
的プログラマブルリードオンリメモリ（EPROM）164に保
存されている。レーザダイオード100のデバイス特性は
コントローラ160によって測定されてEEPROMなどの不揮
発性メモリ166に保存されるが、これについては後にさ
らに詳細に説明を行う。
マイクロコントローラはマルチチャンネルアナログ／
ディジタル（A/D）変換器170を用いて、レーザ温度セン
サ162、後面ファセットフォトダイオード116、周囲温度
センサ172から生成される出力信号のモニタを行う。マ
イクロコントローラ160は周囲温度センサ172のモニタを
行い、周囲温度が過大になったときにはレーザダイオー
ド100のパワーを切断するようになされている。周囲温
度がある一定値以上より高くなると、通常は、電子冷却
装置150はレーザダイオード100の温度を十分に低い温度
に維持し続けることがもはやできなくなる。温度が高く
なり過ぎたときには自動的にレーザダイオードのパワー
を切断することによって、高価なレーザダイオードが焼
損してしまうことを防ぐことができる。
また、マルチチャンネルA/D変換器170はコントローラ
の電源174の安定性のモニタを行うのにも使用すること
がてきる。レーザダイオードは特にサージ電流あるいは
その他の電源の変動による電気的な損傷を受けやすい。
従って、１つの好適な実施例においてはディジタルコン
トローラ160はレーザダイオード100を立ち上げる前に、
電源174の安定性を測定し、立ち上げ後も電源のモニタ
を続けて行うようにプログラムされている。
マルチチャンネルディジタル／アナログ（A/D）変換
器180は、（１）レーザダイオード100のバイアス電流を
設定するため、（２）入力信号アテネータ184の利得を
制御するため、（３）電子冷却装置150を制御するため
に用いられる。具体的には、マイクロコントローラ162
はレーザダイオードのバイアス電流のディジタル設定値
を生成し、D/A変換器180によって、この値がアナログ電
圧信号に変換される。この変換されたアナログ電圧信号
はさらに長い時定数（用いられる実施例により0.1から
0.5秒程度）を有するRCフィルタ176によって低域信号成
分だけを通過させて取り出し、このフィルタを通過した
信号がライン178を介してPNPトランジスタ182のベース
を駆動する。このトランジスタ182がさらにレーザダイ
オード100を駆動する。
コントローラ160はレーザダイオードを流れる電流
を、高精度抵抗179に生じる電圧降下をモニタすること
によって測定する。このとき、具体的には電源174から
供給される電圧VCCとトランジスタ182のエミッタのノー
ド電圧Ｂとを測定する。図３に示されているように、こ
れらの電圧は両方ともA/D変換器170を介してマイクロコ
ントローラ162によって読み取られる。次にオームの法
則を用いてレーザダイオードの電流が算出される。すな
わち、電流は抵抗の電圧降下をその抵抗の抵抗値で割っ
た値に等しいことを用いて計算される。この算出された
値からさらにベース電流の値を差引く。このベース電流
の値はエミッタ電流の1/βとなることが知られており、
これは非常に小さなものであるために、この補正は通常
は行わなくともよい。また、送信信号によってレーザダ
イオードの駆動電流が変調されることによって生じる電
流のゆらぎ効果を除去するために、マイクロコントロー
ラ162はレーザダイオードの平均動作電流の算出を行
う。
多くのレーザダイオードの製造業者および光リンク設
計業者はレーザダイオードへの交流信号の供給を図１に
示されているように、駆動トランジスタ102のベースを
介して行うか、あるいはさもなくば、図1Aに示したよう
な高周波チョーク回路構成を用いて行うことの利点を認
識するに至っている。ある製造業者は実際に図1Aに示し
たような高周波チョークをハーメチックレーザダイオー
ドパッケージ内に装着させることにより、交流信号供給
ラインのキャパシタンスを極小化させて高周波の結合に
よる問題（例えば信号の歪など）を低減させている。
トランジスタ182のコレクタをレーザダイオードの高
インピーダンス直流電源として用いることの利点は非常
に大きい。こうすると、高周波チョークは不要である。
好適には、バイポーラトランジスタ182は通常「高周波
トランジスタ」として知られている型の、コレクタキャ
パシタンスが小さく、また送信すべき交流信号の高周波
帯域の減衰が極小となるようなトランジスタが用いられ
る。このような直流電源回路構成を用いると高周波チョ
ーク回路構成を用いた市販の最適性能のリンクよりもさ
らにかなり良好な雑音特性が得られるものと信じられ
る。
「高周波」トランジスタ182は小さなキャパシタンス
を有するばかりでなく、非常に高速な応答をするので、
RCフィルタ176を配備して電流スパイクからレーザダイ
オード100を保護することが非常に重要である。一般
に、レーザダイオードは電流スパイクを受けると寿命が
著しく短くなることが知られている。後にさらに詳細に
説明するように全デュープレックスリンク応用において
はRCフィルタ176は、そのRC時定数をおよそ0.01秒とな
るように変えており、これによってリンクの直流信号レ
ベルが対のレーザダイオードコントローラの間で情報を
伝送することができる程度となるようにしている。
電子的に調整可能な（すなわち可変な）光アテネータ
184によってレーザダイオード100によって光学的に伝送
すべき入力信号の増幅度あるいは減衰度の制御が行われ
る。このように、ライン186のD/A変換器180からの制御
信号は本質的に自動利得制御信号となっている。減衰さ
れた入力信号はレーザダイオードの駆動ライン188にキ
ャパシタンス190を介して交流的に結合される。
入力信号の高周波ディジタルあるいはアナログ信号は
通常は外部で生成されてレーザダイオードコントローラ
160に印加される。
しかしながら、本発明の１つの実施例においてはマル
チプレクサ192が入力信号経路に配備されており、マイ
クロコントローラ162からのデータを光リンクを介して
伝送することが可能なようになされている。この目的の
ためには、マイクロコントローラ162は入力選択信号を
ライン194を介してマルチプレクサ192に送ってその制御
を行う一方で、伝送すべきデータをライン196を介して
マルチプレクサの入力ポートの１つに送る。このような
機能は本発明におけるある実施例において、対の全デュ
ープレックスリンクコントローラによって、光リンクを
介して情報を伝送するために用いられる光のパワーを可
能な限り小さくするために用いられている。これについ
ては後により詳細に説明する。
電子冷却装置150の冷却量ｙは冷却装置150を流れる電
流に依存する。この冷却装置を流れる電流の制御は、マ
イクロコントローラ162からディジタル制御信号をD/A変
換器180に送り、さらにD/A変換器180はこの制御信号を
アナログ信号に変換してライン196を介して冷却装置150
に送ることによって行われる。
また、固定電子冷却装置（TEC）150の制御は、レーザ
ダイオードのハウジング（図示せず）の中に配備された
サーミスタ152またはその他の温度検出装置からのフィ
ードバック信号を用いてコントローラユニットによって
行われる。レーザダイオードの寿命が尽きるまでの間、
レーザダイオードをある特定の温度に保持し続けるよう
にコントローラの設定はさられる。
アナログコントローラを用いた場合には、一般には動
作温度を指定するのに困難である。さらに、アナログコ
ントローラは、温度をもはや維持することができないよ
うな条件下となった場合でさえも、なお設定された温度
を維持しようとして過大な駆動を行いTEC150を焼損させ
てしまうことが知られている。
本発明によるディジタルコントローラは従来技術の焼
損に関するこのような問題を次のように解決している。
すなわち（１）TECの動作が最低限で済むように、また
全体を連続して冷却し続けることよりも、安定化を行う
ようにレーザダイオードの動作温度を決定指定する。
（２）ソフトウェアによって、レーザダイオードの通常
動作と、パワー節減モード動作（すなわち、レーザダイ
オードをより低い出力パワーで動作させる）との温度境
界を指定し、動作条件が通常動作の仕様範囲から逸脱し
てしまったときには、パワー節減モードで動作させ、レ
ーザが劣化したり寿命が縮まってしまうのを防ぐ。さら
にTECの駆動電流は、あらかじめ決められたTECが暴走を
起こさない最大値以内に制限されてTECが焼損しないよ
うになされている。
ASCII端末あるいはデスクトップコンピュータ202など
の外部デバイスへマイクロコントローラ162を接続する
ために、RS232入出力ポート200が備えられている。コン
ピュータ202はEEPROM166に保存されているデータを読み
取り、レーザダイオードの設定目標温度、目標光出力パ
ワーなどのパラメータをコントローラ160に設定するこ
とができる。また、RS232ポート200は後面ファセットフ
ォトダイオード116の初期キャリブレーションを行う際
に用いられる。これについては後にさらに詳細に説明を
行う。
ディジタルコントローラはしばしば、ある種のホスト
コンピュータの光ファイバーデータリンクを駆動するた
めに用いられる。このような場合においては、リンクは
ホストコンピュータのサブシステムと考えることができ
る。また、RS232ポートはホストコンピュータシステム
がデータリンクサブシステムと通信を行うのにも用いる
ことができる。リンクの状態、レーザダイオードの経時
変化などの情報はホストコンピュータシステムにおいて
走行しているモニタソフトウェアルーチンに集められ
る。また、ホストコンピュータはリンクに対してセルフ
テスト、自動利得制御などの各種の機能の実施をするよ
うに指示することもできる。
フロントパネルのLEDの組204がマイクロコントローラ
162に接続されており、コンピュータ202をマイクロコン
トローラの通信ポート200に接続しなくとも、これらのL
EDによってレーザダイオード100の状態がわかるように
なっている。具体的には、緑のLEDは正常の動作状態を
表し、また黄色のLEDはコントローラ162がレーザダイオ
ードの立ち上げ処理を行っている最中であることを、ま
た赤のLEDはレーザダイオードが故障したか、あるいは
交換する必要がある状態となっていることを表す。
受信チャンネル 本発明の１つの好適な実施例は全デュープレックス光
チャンネルへのコントローラの適用である。この場合に
はコントローラ160は次に説明する受信チャンネル220に
も接続される。しかしながら、本発明の多くの特徴は１
方向レーザチャンネルに対しても適用できるものであ
る。
受信チャンネル220は通常は標準的な構造の光ファイ
バーを用いた入力用光リンク222を有している。光リン
ク222によって伝送されてきた光はフォトダイオード224
によって電気信号に変換される。この電気信号に変換さ
れた信号は直流成分と交流成分の両方を含んでおり、ラ
イン226に送られる。受信信号の中に交流成分はキャパ
シタ230によって直流成分から分離され、さらに可変増
幅器232によって増幅されてから、その後どのような信
号処理が必要であるにしろ、ライン234を介してコント
ローラ160の外部デバイスへ伝送される。
交流信号増幅器232の利得はマイクロプロセッサ162に
よってD/A変換器180を介して制御される。具体的には交
流信号増幅器232の利得はマイクロプロセッサ162にあら
かじめ定義・設定されたディジタル設定値に対応した公
称標準設定値に設定される。その後、もし受信信号の交
流成分（後に議論するピークディテクタ242で測定され
る）が正常値より小さいことが判明したときには増幅器
の利得が増大され、また受信した信号が正常値よりも大
きいときには利得は減少される。
受信した光信号の直流成分は演算増幅器240を用いて
モニタされる。こうして、ライン220の直流信号レベル
が測定される。この測定された値はマイクロコントロー
ラ226へA/D変換器170を介して送られる、ライン232の交
流出力信号の大きさはピークディテクタ242を用いてモ
ニタされ、交流信号の大きさが測定される。
レーザダイオードの自動立ち上げおよび後面ファセット
フォトダイオードの初期キャリブレーション 図３、４、５に関連して、レーザダイオードコントロ
ーラの電源を投入してレーザダイオードを立ち上げる際
に考慮すべき物理的状況がある。
第１の考慮すべき状況は図３に示されているように、
レーザダイオード100がその出力を送ろうとしている出
力先についての情報がないということである。従って、
後面ファセットフォトダイオード116からのフィードバ
ックがあるのみで、それ以外にはレーザダイオード100
の動作をフィードバックするものがない。このような状
態においては、コントローラの制御ソフトウェアは後面
ファセットフォトダイオードの特性と、そのレーザダイ
オードとの結合特性がどのようなものであるのかを先験
的に知っている必要がある。
第２の考慮すべき状況は、図４に示されているよう
に、コントローラ160およびレーザダイオード100を初め
て電源投入しようとする際に起こる問題である。この状
況下では、光強度計250が、通常、光ファイバー112を介
してレーザダイオードの前面ファセットに結合されてい
る。レーザダイオードのキャリブレーションを行う間、
光強度計はレーザダイオード100の出力に結合されてい
るとともに、コンピュータワークステーション202にも
結合されている。コンピュータ202はさらにコントロー
ラの通信ポート200に結合されている。
好適な態様においては、光強度計250でレーザダイオ
ード100の光出力をモニタしながら、光出力パワーを指
定されたレベルに達するまで上昇させる。好適には、こ
のレベルは1mWである。光出力パワーの測定値がこのレ
ベルに達すると光強度計から信号がコンピュータ202へ
送られる。するとコンピュータ202は対応するメッセー
ジをコントローラのマイクロコントローラに通信ポート
200を介して送る。こうして、コントローラ160は前面フ
ァセットからの光出力パワーがあらかじめ定義された一
定レベルになったときに、後面ファセットフォトダイオ
ードの読みがどのようになるかを求める。
後面ファセットと前面ファセットの光出力パワーの比
は個々のレーザダイオードごとにかなり異なっている。
しかしながら、この比は１つの特定のレーザダイオード
に対しては定数となるので、レーザダイオードの後面フ
ァセットフォトダイオードのただ１点の測定を行うのみ
で、レーザダイオードのすべての線形的な応答を求める
ことができる。測定されたキャリブレーションの値、す
なわち前面ファセットからの光出力パワーが1mWとなっ
たときの後面ファセットフォトダイオードの対応する測
定値はコントローラの不揮発性メモリ166に記憶され
る。この測定値を基にして、コントローラはフォトダイ
オードの前面ファセットからの光出力パワーを以下のよ
うに求めることができる。
パワー(前面ファセット)＝パワー(後面ファセット)/K ただし、パワー（前面ファセット）の単位はmWであり、
またパワー（後面ファセット）はフォトダイオード116
を流れる電流の値をA/D変換器170によってディジタル値
に変換した値であり、Ｋは不揮発性メモリ166に記憶さ
れたレーザダイオードの後面ファセットに対するキャリ
ブレーション値である。
レーザダイオードパッケージによってはレーザダイオ
ードの光出力に対して後面ファセットフォトダイオード
が線形的な応答を示さないものもある。この場合にはコ
ントローラはフォトダイオードの測定値とレーザダイオ
ードの出力パワーとの関係を表すさらに複雑は数学的方
程式、例えば２次あるいは３次多孔式を用いてプログラ
ムされる。このような方程式の係数を決定するには後面
ファセットフォトダイオードの測定値と前面光出力パワ
ーとの間の関係は、予想される動作範囲にわたる数点
（通常は８点から12点）についてキャリブレーションを
行うことが必要である。
第３の考慮すべき状況は図５に示されているように、
２つの互いに接続されたレーザダイオード300、310を有
する全デュープレックス光リンクに関するものである。
すなわち、各々のレーザダイオードはそれぞれのディジ
タルコントローラ302、312を有しており、レーザダイオ
ードのそれぞれの光出力ポート304、314は他方のレーザ
ダイオードの受信ポート306、310に光ファイバー308、3
18を介して結合されている。
これらの３つの状態の各々に対する制御機能について
の議論を図８、９、10に示したフローチャートを参照し
ながら以下に行う。
レーザダイオードの重要な特徴は、たとえばデバイス
に過大な電流を流したり、あるいは過大な温度にさらし
たりしなくとも、デバイスの特性が使用している間に時
間とともに変化していき、結局最後には故障してしまう
ということである。図６はレーザダイオードの典型的な
経時変化を対数表示で示したものである。すなわち、動
作温度を一定として駆動電流の測定値を時間の関数とし
て示したものである。図からわかるように、一定のレベ
ル（例えば1mW）の光出力パワーを発生するために必要
な駆動電流は、レーザダイオードを使用した時間が長く
なるにつれて増大する。通常は、最初の1000時間のレー
ザダイオードの動作期間においては、必要駆動電流の増
加は非常にわずかである。また、数万時間の動作までは
許容範囲内の増加が見られるに過ぎない。一方、故障直
前においては必要駆動電流は急激な増加を示す。
測定データは図７に示されているようにコントローラ
160の不揮発性メモリ166に保存され、これによってレー
ザダイオードコントローラの好適な実施例においては、
レーザダイオードがいつ故障するかを予想し、デバイス
が実際に故障する前にホストコンピュータに対してレー
ザダイオードを交換する必要があることの警告を発する
ことができる。具体的にはあらかじめ定義されたレベル
の光出力パワーを発生するのに必要な駆動電流がデバイ
スが新しい最初のときに必要とした駆動電流のレベルよ
りも、比較する測定点間の温度差に関する補正を行った
後の補正値に関して、あらかじめ定義された割合（例え
ば10％）以上に増大したとコントローラが判定したとき
には、デバイスの故障が差し迫ってきており、コントロ
ーラ162は警告メッセージを発する。
図７に示されているように、不揮発性メモリのメモリ
ロケーションはマイクロコントローラ162によって構成
され、レーザダイオード３の後面ファセットキャリブレ
ーション係数（スロット330）、レーザダイオードを最
初に電源投入した時のレーザダイオードのデバイス特性
測定値（スロット332）、動作時間がそれぞれ10、100、
1000、10000時間経過したときのデバイス特性測定値
（スロット334、336、338、340）、レーザダイオードの
動作時間数（スロット344）を記録するのに用いられ
る。さらに、レーザダイオードを動作させている間、デ
バイス特性の測定がコントローラによって周期的に（例
えば動作時間10時間ごとに１回）行われ、このデバイス
特性の最後の測定値は不揮発性メモリ166のスロット346
に保存される。デバイス特性の測定値はレーザダイオー
ドのしきい電流値の測定値、1mWの光出力パワーを発生
するのに必要な駆動電流、およびその測定が実施された
時のレーザダイオードの動作温度の一連の測定値から成
る。また不揮発性メモリのスロット348にはレーザダイ
オードの駆動電流、動作温度および高周波パワーについ
ての設定値が記録されている。
レーザダイオード100が製造されたばかりの最初にお
いてはEEPROM166はまた何のデータも有していない。
図８および９において、レーザダイオードコントロー
ラは、その電源が投入される度に、レーザダイオードに
パワーを印加する前に電源投入シーケンスプログラム39
0に基づいて自動立ち上げ処理シーケンスを実行する。
この立ち上げシーケンスの間、フロントパネルのLEDが
点灯し、レーザダイオードの立ち上げ処理が行われてい
ることを示すようになっている。
コントローラは、電源から供給される電圧を測定する
ことによって電源174の安定性をチェックし、その値が
落ち着くまで、それ以後の処理を行わずに待機する（ス
テップ400）。
もし、レーザダイオードが電子冷却装置（ステップ40
2）を具備した高性能レーザダイオードである場合に
は、コントローラは電子冷却装置の電源を投入し、レー
ザダイオード温度センサの測定温度が、そのレーザダイ
オードに対して指定された目標温度に安定するまで待機
する（404）。次に、コントローラは背景温度制御ルー
チン404を実行して、レーザダイオードの温度が指定さ
れた値を維持するようにTECの駆動電流を変える。好適
な態様においては、温度制御ルーチンはTECの駆動電流
が、あらかじめ定められたTECが焼損することなしにい
つまでも動作することが可能なレベルよりも過大となら
ないように制御して、TECの焼損を防ぐ。もし、TECがレ
ーザダイオードの温度を指定された目標温度近くに維持
することができない場合には温度制御ルーチンによって
コントローラは強制的に光出力パワーをあらかじめ決め
られた割合、例えば25％だけ低減させ、それによって熱
の発生量を少なくして、レーザダイオードの寿命が縮ま
ってしまうのを防止する。あるいは、温度制御ルーチン
は、より適した動作条件が再ストアされるまで単純にレ
ーザダイオードサブシステムの作動を停止させる。
次にマイクロコントローラは不揮発性メモリ（EEPRO
M）166にアクセスしてそのメモリにキャリブレーション
値が記録されているかどうかを調べる（ステップ40
6）。もし、キャリブレーション値が記録されていない
とすれば、それはレーザダイオードを初めて電源投入す
ることを意味するので、次のステップに進んで光強度計
が図４に示されたような物理的接続構成によってレーザ
ダイオードの出力に結合されているかどうかを判定する
（ステップ408）。この、光強度計が結合されているか
どうかの判定は通信ポート200を介してメッセージを送
ることによって行われる。もし、光強度計が正しく結合
されている時には、コンピュータ202から対応するメッ
セージが送られてくる。
もし、光強度計がレーザダイオードに結合されていな
い場合には、電源投入制御プログラムは後面ファセット
フォトダイオードのキャリブレーション値としてデフォ
ルト値を用い、キャリブレーションステップ410は飛び
越される。デフォルトとして用いられるキャリブレーシ
ョン値としては同じ種類のレーザダイオードおよびフォ
トダイオードに対する「平均値」が採用される（41
2）。このようなことは許容できることではあるが、本
発明のいくつかの実施例においては、もしレーザダイオ
ードがまだキャリブレーションされていない場合には、
光強度計が結合されてキャリブレーションが可能となる
までレーザダイオードの動作を行わないように、コント
ローラの立ち上げシーケンスプログラムが組まれてい
る。
キャリブレーション（ステップ410）においては、光
強度計の指示が光出力パワーがあらかじめ定められたレ
ベル、例えば1mWに達するまでゆっくりとレーザダイオ
ードの駆動電流を増加していく。典型的には、駆動電流
は例えば10mAのような低レベルから開始して非常にゆっ
くりと例えば１秒間当たり1mAずる増加していく。その
際、駆動電流の最大上限を例えば50mAというように定め
ておく（もし必要ならば、温度補正を行った最大値を用
いる）。光強度計からの信号が受信されると、駆動電流
を一定値に保持し、その間に後面ファセットフォトダイ
オードの電流値を測定し、この測定値を不揮発性メモリ
166のロケーション330にキャリブレーション値として保
存する。こうして、後面ファセットフォトダイオード電
流と前面ファセット光出力パワーとの比が求められる。
もし、後面ファセットフォトダイオードが非線形である
場合には、さらに測定を行って、後面ファセットフォト
ダイオード電流と前面光出力パワーとの間の関係を定義
する非線形方程式の係数を計算する。
次に、レーザダイオードのデバイス特性を測定するた
めのルーチンが呼び出される（ステップ414）、このル
ーチンを図９に示し、以下に議論を行う。このルーチン
はレーザダイオードの光出力パワーを駆動電流のある範
囲にわたって測定し、レーザダイオードの微分効率、し
きい電流、およびあらかじめ定められた例えば1mWの光
出力パワーを得るための動作電流を算出する。
電源投入立ち上げシーケンスルーチンのステップ416
において、レーザダイオードのしきい電流、あらかじめ
定められた光出力パワーレベルに必要な動作電源が、現
在の動作温度とともにEEPROMの適当なロケーションに記
憶される。もし、これがこのレーザダイオードの電源投
入をする最初であれば（これは、ロケーション332が空
であるかどうかを調べることによって判定できる）、こ
れらの値はロケーション332に記憶される。そうでない
場合にはEEPROMのロケーション346に記憶される。
次に、ステップ418において、ステップ414で測定され
たデバイス特性があらかじめ定められた１連のデバイス
故障判定基準と比較される。例えば、１つの好適な実施
態様においては、デバイスの故障判定基準はあらかじめ
定められた光出力パワーを得るのに必要な駆動電流が、
必要な温度補正を考慮に入れて当初（デバイスが新しか
ったとき）の駆動電流よりも10％以上大きくなったこと
と定義される。この判定基準が成立した時には、デバイ
スの故障が差し迫っていると考えられるので、コントロ
ーラのフロントパネルの故障表示LED204が点灯し、また
故障予想メッセージがコントローラの出力ポート200を
介して送られる。
レーザダイオードがまだ故障していないものと仮定す
ると、コントローラによってレーザダイオードの駆動電
流が通常の動作に必要なレベルまで増大される（ステッ
プ420）。このレベルは通常はある特定の直流出力パワ
ーレベルとして指定される。この必要駆動電流は、すで
にステップ414において求められたレーザダイオードの
しきい電流と微分効率とを用いて算出される。さらに、
後面ファセットフォトダイオードを流れる電流を測定し
てその測定値をそのレーザダイオードに対するキャリブ
レーション値を用いてスケーリングすることによって出
力パワーがチェックされ、その結果もし必要ならば駆動
電流を調節する。すると、フロントパネルの「正常動
作」を示すLEDが点灯し、「送信準備完了」メッセージ
がホストコンピュータ202に通信ポートを介して送られ
る。この「送信準備完了」メッセージによってホストコ
ンピュータは、レーザダイオードに結合された光リンク
が通常動作を行う準備ができたことを知ることができ
る。
レーザダイオードが通常動作を開始した後、ステップ
414から418が周期的に（例えば動作時間10時間ごとに１
回）反復実行されて（ステップ422）コントローラはレ
ーザダイオードの動作性のモニタを行う。これらの周期
的な保守チェックデータはEEPROM216の適当なロケーシ
ョンに保存し、ホストコンピュータ202が、この保存さ
れた保守データを検索・解析することができるようにす
る。
図９を参照する。レーザダイオードのデバイス特性測
定ルーチン（図８に示されたプログラムのステップ414
において呼び出される）がステップ440において実行さ
れて、LEDモードにおけるレーザダイオードの光出力パ
ワーの微分特性の測定が行われる。これを行うために、
レーザダイオードの駆動電流は、最初の例えば5mAの低
い値からゆっくりと増加されて1mA増加するごとに光出
力パワーが測定されて、光出力パワーの微分（傾き）が
算出される。また、光出力パワーはすでに述べたように
後面ファセットフォトダイオードを用いて測定される。
このシーケンスは、光出力パワーの微分値がレーザダイ
オードがレーザモードに入ったことを示すまで続けられ
る。
ステップ442において、レーザダイオードの駆動電流
は光出力パワーの測定を行いながら、小さなきざみ幅で
ゆっくりと増大され、４点あるいはそれ以上の測定点に
おいて、確かにレーザダイオードがレーザ動作を行って
いることを示す光出力パワーの微分値が測定値として得
られるまでこの電流増加が続けられる。このときの光出
力パワーの微分量はすなわち現在の動作温度におけるレ
ーザダイオードの微分効率を表している。
次に、ステップ444において、LEDモードにおける光出
力パワーラインとレーザモードにおける光出力パワーラ
インとの交点を求めることによってレーザダイオードの
しきい値が求められる。さらに、レーザモードにおける
レーザダイオードの微分効率を用いて、あらかじめ定め
られた光出力パワー、例えば1mWを得るのに必要な動作
電流が算出される。
コントローラを用いてさらにレーザダイオードのバッ
チについて製造業者が完全には行っていない品質保証検
査を実行するようにすることも可能である。通常はレー
ザダイオードが初めて電源投入されるときにのみ、さら
に３つの品質保証検査が実施される。
もし、さらに品質保証検査が可能であれば（ステップ
446）、ルーチンは、まず最初にすでに測定されたすべ
てのパラメータがあらかじめ定められた正常動作範囲内
に入っていることをチェックする（ステップ448）。も
し、正常範囲内に入っていない場合には「デバイス故
障」のメッセージがホストコンピュータ202に送られ、
フロントパネルにデバイス故障を示すLEDが点灯する
（ステップ450）。
もし、最初の品質保証検査が通過した場合には（ステ
ップ446）、ルーチンは次にレーザダイオードの線形性
のチェックを行う。これはすでに測定された微分効率値
を用いて、通常動作範囲のすべてにわたる、例えば0.5m
Wから4.0mWの光出力パワーを発生するのに必要な電流範
囲内で、レーザダイオードの駆動電流を段階的に増加す
ることによって行われる。各々の駆動電流に対して光出
力パワーが後面ファセットフォトダイオードを用いて測
定され、次にこれらの測定値のすべてが１本の線上に乗
るかどうかをチェックする（ステップ454）。この線形
性のチェックは、最小自乗法を測定データに対して適用
して測定データと最もよく合致する線を求め、さらにこ
の線から各測定点までの距離を求めることによって行わ
れる。もし、この線から測定点までの距離があらかじめ
定められた値よりも大きくなったときは、特に最大正常
出力パワーにおいてそうなったときは、ダイオードが損
傷（例えばダークライン欠陥）を受けている可能性があ
り、デバイス故障メッセージがホストコンピュータ202
に対して送られる（ステップ450）。もし、レーザダイ
オードの測定結果が線形性テストを通過したことを示し
ていれば（454）、「デバイス良好」メッセージがホス
トコンピュータに対して送られる。
図８のステップ422に従ってレーザダイオードの特性
の再測定を行う際に、レーザダイオードのLED動作モー
ド特性はそのレーザダイオードの寿命の間ほとんど変化
しないのでステップ440は省略される。さらに、好適な
実施態様においては、光リンクへのデータ伝送の邪魔に
ならないように、直流駆動電流の測定は狭い範囲内での
み実施される。この測定点の範囲は特流駆動電流をわず
かに、例えばすでに選定されているバイアス点に対して
10％だけ変化させるだけで済み、これによってコントロ
ーラはレーザダイオードの微分効率を再計算することが
できる。またレーザモード特性と以前に測定されたLED
モードの特性曲線との交点を求めることによってしきい
値を決定することができる（図２を参照）。あるいはさ
もなければ、他の実施態様では、定期的なセルフテスト
を実施する直前にコントローラからメッセージをRS232
ポート200を介してホストコンピュータ202に送り、デー
タ伝送をセルフテストが終了するまで中断するように伝
える。
全デュープレックスリンクの立ち上げ 全デュープレックスリンク（図５の全デュープレック
スリンクを参照）に対する電源投入立ち上げシーケンス
は少々異なっている。具体的には、レーザダイオードの
駆動電流を初期動作電流まで増加させるステップである
図８のステップ420が、全デュープレックスリンクの場
合には図10に示したシーケンスステップに置き換えられ
る。
レーザダイオードは通常人間の目には見えない非常に
高輝度のコヒーレント放射エネルギー放出する。もしレ
ーザダイオードの出力が誤って人間の目に向けられてい
ると、このエネルギーによって人間の目が傷つけられ
る。全デュープレックスリンクでは、レーザダイオード
の通常の動作を開始する前にリンクが完全な状態にある
ことを本発明のディジタルコントローラを用いて保証す
ることができる。
具体的には、立ち上げデバイス測定が実施され、さら
に図８のステップ418が実行されたところで全デュープ
レックスリンクの電源投入立ち上げシーケンスプログラ
ムは図10のステップ470に進む。ステップ470において
は、レーザダイオードのデバイス電流は、最初は出力が
通常動作時のパワーもりもずっと小さくなるように、例
えば通常動作パワーの10％（例えば、2.0mWの通常出力
に対して0.2mW）に設定される。この最初の出力レベル
は、図５に示されている２つのコントローラ302、312が
全デュープレックスリンクの完全性テストを行うのに十
分な大きさになるように選定される。ここで指摘してお
くべきことは、リンクは、たとえ数kmもの長い距離のも
のであってさえ、その光損失量を予言可能な非常に小さ
な値とする（すなわち、発生された光が光ファイバー30
8または318を伝送するときに生じるパワーの損失を小さ
くする）ことが可能であるということである。また、図
５のコントローラ302、312は両方ともが同じ電源投入立
ち上げシーケンスルーチンを実行する。すなわち、図10
のステップが２つのコントローラによってほぼ平行して
実行される。
レーザダイオードを低光出力レベルでパワー投入を行
った後に、コントローラは受信ポート306で受信される
光パワーの直流成分の測定を行う（ステップ472）。も
し、リンクが完全なものであって、また他の一方のレー
ザダイオードの電源投入がなされていれば、完全なリン
クに対応した十分に大きな光パワーが受信される（ステ
ップ474）。もし、受信された光パワーが必要なレベル
に達していないならば、このことはリンクが完全な状態
ではないか、あるいは他の一方のレーザダイオードがま
だ電源投入されていないかのどちらかであることを意味
する。どちらの場合であっても、ルーチンは短時間待機
した後（ステップ475）、ステップ472および474を光リ
ンクの状態が完全となるまで反復繰り返し実行する。
リンクが完全な状態となってから、レーザダイオード
の駆動電流が通常動作に必要なレベルに達するまで増大
される。短時間待機した後、コントローラはさらに受信
ポート306で受信される光パワーの直流成分を再度測定
する。リンクの両方のデバイスが動作しているものと仮
定し、もし、どちらかの受信機が相当の時間内の（典型
的には100ms以内に）動作全パワーを検出できないとき
にはシステムはステップ470にリセットされて、リンク
の立ち上げ処理を再び開始する。
あるいは他の態様においては全デュープレックスリン
クの最初の送信の際には全パワーの５％で出力リンクに
送信を行い、入力リンクに基準レベル以上の信号が受信
されると、次に最初のレベルからはわずかに高く、かつ
全パワーよりはずっと小さい例えば全パワーの10％のレ
ベルまで増大される。このとき、もし入力リンクの受信
光強度も同様の量だけ増大したならば、出力リンクは完
全な状態になっているので出力リンクを全パワーまで増
大してデータ伝送を行うことが可能である。この実施態
様による手法では全デュープレックスリンクの両方のリ
ンクの完全性か確実に確立されるまでは全パワーでの送
信は行われない。
またコントローラは、あらかじめ定められた「理想的
な」受信光パワーレベルと実際に受信された直流光パワ
ーレベルとの比を算出する。ここで留意すべきことは、
通常動作時の光出力パワーを半減させると、レーザダイ
オードの有効寿命はおよそ倍に長くなるということであ
る。従って、「理想的な」受信光パワーは典型的には比
較的低パワーレベル例えば0.75mWに設定される。いずれ
にせよ、算出された比はコントローラによって光リンク
を介して送信される。このようなメッセージを送信する
ことの目的は、リンクの他の一方の側のコントローラに
そのレーザダイオードの光出力をどのように変更すべき
かを知らせるためである。ほとんどの状況においては、
こうすることによってコントローラはこのような手法を
用いなかった場合と比較して非常に低い光出力パワーで
伝送することが可能になる。従って、使用するレーザダ
イオードの寿命を非常に長くすることができる。この手
法を用いるとこの手法を用いないときと比較して光出力
パワーが小さく済む理由は、このようなパワー調整を行
わないシステムでは「最悪の場合」においても対応する
ことができるようにしておかねばならない点にある。従
って、そのようなシステムでは、通常のほとんどの場合
においてリンクが実際にはもっと低い光出力レベルで正
しく機能できるとしても、いろいろな幅広い環境条件下
においてリンクが動作できるように、十分に大きな光出
力パワーを発生しておく必要がある。
１つの好適な実施態様においては、このような伝送は
レーザダイオードの直流レベルを10あるいは20ビット／
秒のような比較的遅い速度で変調する（すなわち、図３
に示されたライン178の信号を変調する）ことによって
実施される。すべてのメッセージは高々16ビット程度の
長さしか必要でないので（例えば５ビットの同期ビット
と、８ビットの比の値、それに３ビットのエラー補正符
号）、このように遅いデータ伝送速度を用いていても、
このプロセスは高々１秒程度の短時間しか必要としな
い、データ伝送をこのように遅い速度で行う理由は、レ
ーザダイオードがすでに説明したような比較的長い時定
数を有するRC回路176を通して突然に電流変動を起こす
ことを防止する必要があるからである。
他の実施態様においては、このような伝送は、マルチ
プレクサ192を用いてデータを送ることによって実施さ
れる。こうすることによって、もっとずっと高速の例え
ば100kbit/sでデータ伝送を行うことができる。しかし
ながら、この実施態様においては、コントローラはその
ようなメッセージを受信するためのデータ受信回路（図
示せず）を受信チャンネルに有していることが必要であ
り、コントローラはかなり高価なものとなる。
好適な実施態様においては、伝送パワーの調節が必要
でない場合における伝送比率が100と定義される。伝送
比率が100以上である場合には、Ｘを送信比率を100で割
った値であるとするとき出力パワーをＸ％だけ増大する
必要がある。値が100以下である場合には出力パワーを
減少させる必要があり、理想的な出力パワーは現在の出
力パワーをＸ倍してさらに100で割った値である。
いずれにせよ、コントローラがパワー比率メッセージ
をリンクを介して送信しているとき、これとほとんど同
時にリンクの他方の側のコントローラも同じことを行っ
ている。従って、コントローラは出力パワー比率に関す
る対応するメッセージをリンクの他方の側のレーザダイ
オードコントローラから受信する（ステップ484）。す
ると、コントローラは受信したパワー比率Ｘに応じてそ
の出力パワーを以下のように調節する。
新たなパワーレベル＝（前のパワーレベル）＊X/100 さらに、コントローラの伝送データアテネータ184の
利得調節を同様に行い、データ伝送の変調を深さがほぼ
以前の状態と同じようになるようになされる。
この時点で、リンクの両方の側のコントローラは、両
方ともリンクを介してデータ伝送を行うことが可能な状
態となる。
最後にコントローラは受信された信号の交流成分の振
幅の波高値をモニタしながら、変調された信号が受信さ
れるのを待機している。いったん、伝送が開始されると
コントローラは受信した光信号の交流成分の振幅の測定
を行い、もし必要ならば受信チャンネルの増幅器232の
利得を調節して確実にデータ伝送ができるようにする
（ステップ488）。
光リンクを介して伝送されるデータの機密保護に関し
ては、光ファイバーを曲げて伝送光エネルギーの一部を
ファイバーの被覆部分から漏れ出るようにすることによ
って比較的容易に盗聴することが可能である。ファイバ
ーの曲げられた部分から漏れ出てくる光は標準的な光お
よび電子光装置を用いて読み取ることが可能であり、こ
うして伝送データの機密性が脅かされることになる。本
発明によるコントローラはいったん光リンクの完全性が
確立された後において、受信光パワーの減少を検出する
ようにプログラムすることが可能である。例えば、すで
に確立された受信直流パワーレベルと比較して５％以上
の減少を検出するようにコントローラをプログラムして
おき、そのような変動が検出されたときにはメッセージ
をホストコンピュータに対して送るようにすることがで
きる。このメッセージによってシステムモニタに光リン
クの機密性が脅かされたかもしれないことを知らせる。
ユーザインターフェース 図３および11を参照する。コントローラのソフトウェ
アの１つとして ユーザインターフェースルーチン392があり、このルー
チンによってユーザはホストコンピュータ202を介して
コントローラの状態情報にアクセスし、コントローラの
不揮発性メモリ166に記憶されているデータを見ること
ができる。また光出力パワー（すなわち、レーザが発生
すべき光出力パワーが何mWであるか）、また、もし電子
冷却装置と結合されている場合にはレーザダイオードの
目標温度、および伝送信号の高周波パワーを制御するた
めのアテネータの設定値、などの各種のパラメータをセ
ットおよびあるいはリセットすることができる。
図11はユーザインターフェースルーチン392がホスト
コンピュータの表示装置上に表示した表示画面を示した
ものであり、レーザダイオードのパラメータを変更する
のに用いられるコマンドが表示されている。表示された
“XX.X"の値はA/DおよびD/A変換器のカウント数を変換
することによって算出された測定値である。表示された
“ZZZZ"の値はA/D変換器の生データ値であり、“YYYY"
の値はD/A変換器の生データ値である。表示された“SS.
S"の値は、mWの単位で表した光出力パワーおよび高周波
伝送パワーと、摂氏の単位で表した温度についての指定
設定点である。
線で囲まれた領域内の表示項目はキーボードから＜CT
RL＞Ｄのコマンドを入力することによってオプションと
して表示することが可能な項目である。この領域内の４
つのパラメータは、表示の下半分のメインメニューの中
の「マニュアル制御」を選択し、表示されている値を図
11に示されているコマンドを用いて増減させることによ
って変更することが可能である。
表示装置に表示されている３つの設定点はメインメニ
ューの中の「設定点制御」を選択し図に示されたコマン
ドを用いてユーザが設定点を増減することによって変更
することができる。
メインメニューの中のデバッグコマンドを選択する
と、図示されていない新たな表示画面が現れて、デバイ
スの印加電圧、およびEEPROMに記憶されているデータの
一覧が示され、ユーザはレーザダイオードの初期立ち上
げデータを見ることができる。このようにデバッグコマ
ンドは主として製造業者が新しいレーザダイオードの最
初のテストを行う際、およびレーザダイオードが初期テ
スト中に故障してしまったり、古くなったりあるいはそ
の他の理由で機能しなくなってしまったときの後処理の
ために用いられる。
図12を参照する。発明者が提案するリンクの他の構成
方法は１つのディジタルコントローラを用いて複数のレ
ーザダイオードの動作点およびその他の動作パラメータ
の制御を行う方法である。例えば、４つのレーザダイオ
ードを用いて、赤、緑、青、および同期信号を伝送する
のに用いるチャンネルを有する遠隔光チャンネルを介し
てコンピュータとカラーモニタとの間をリンクすること
ができる。１つのコントローラを多数のレーザダイオー
ドに対して用いることができるのは、レーザダイオード
を立ち上げてモニタするソフトウェアの実行は各々１つ
のレーザダイオードに対しては非常に短時間しか必要と
しないからであり、また不揮発性メモリに記録すべきデ
ータ量は、１つのレーザダイオード当たりに対しては通
常は１つのEEPROMデバイスのメモリ容量と比較してある
いはマイクロコントローラ上に搭載されたEEPROMと比較
してさえもはるかに少ないからである。
以上に、本発明をいくつかの具体的な実施例について
説明したが、これらの記述は単に本発明の説明のための
ものであって、本発明がこれらのみに限定されるわけで
はない。当業者にとってはいろいろな変形が添付の請求
範囲に定義された本発明の真の精神と範囲とを逸脱する
ことなく可能であることは明らかであろう。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭62−25482（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−186041（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−103332（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−213142（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−50586（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−233938（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H01S 5/00 - 5/50

Claims (30)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】レーザダイオードコントローラにおいて、
    該コントローラが 第１のレーザダイオードの後面ファセットからから放出
    され、上記第１のレーザダイオードの前面ファセットか
    ら放出された光の光パワーに比例する光パワーを有する
    光を受信する光パワーセンサであり、この受信した光の
    光パワーに対応する光パワー測定信号を発する光パワー
    センサと、 指定されたレベルの駆動電流を上記第１のレーザダイオ
    ードに流すために上記第１のレーザダイオードに結合さ
    れた駆動電流回路と、 第２のレーザダイオードが発生した光を受信するための
    受信チャンネルと、 上記光パワーセンサと上記駆動電流回路とに結合され
    て、上記第１のレーザダイオードに印加する上記の指定
    されたレベルの駆動電流を設定し、上記光パワー測定信
    号を上記光パワーセンサから受信するディジタルデータ
    プロセッサと、 上記受信チャンネルを上記ディジタルデータプロセッサ
    に結合し、上記第２のレーザダイオードからの上記の受
    信した光の直流光パワーに対応する受信パワー信号を発
    生するためのモニタ手段とを有し、 上記２つのレーザダイオードが全デュープレックス光リ
    ンクを構成し、 上記ディジタルデータプロセッサが上記駆動電流を一連
    の離散的値に段階的に設定して、上記第１のレーザダイ
    オードの動作特性を、上記コントローラに電力が投入さ
    れる時毎に、駆動電流の各々の値に対する受信した光パ
    ワー測定信号に基づいて算出し、この算出した動作特性
    がしきい電流及び上記第１のレーザダイオードの微分効
    率を含み、上記第１のレーザダイオードの駆動電流レベ
    ルを上記算出した動作特性に基づいて選択して、第１の
    レーザダイオードに加えられる駆動電流を入力信号で変
    調したときにも上記第１のレーザダイオードをレーザモ
    ードに維持するようにプログラムされており、 上記のディジタルデータプロセッサが上記の受信パワー
    信号を受信する手段を備えており、該ディジタルデータ
    プロセッサが （Ａ）上記の受信パワー信号をあらかじめ定義された判
    定基準と比較することにより、上記の２つのレーザダイ
    オードの間に確実に全デュープレックス光リンクが構成
    されているかどうかを判定し、 （Ｂ）全デュープレックス光リンクが確実に構成されて
    いることが判定される前においては、上記第１のレーザ
    ダイオードに対する上記駆動電流レベルは第１のレベル
    に設定するようにし、 （Ｃ）全デュープレックス光リンクが確実に構成されて
    いることが判定された後においては、上記第１のレーザ
    ダイオードに対する上記駆動電流レベルを第２のレベル
    に設定する ようにプログラムされており、上記第１の駆動電流レベ
    ルにおける場合と比較して上記の第２の駆動電流レベル
    は上記第１のレーザダイオードが少なくとも２倍の光出
    力パワーを発生するようになされていることを特徴とす
    るレーザダイオードコントローラ。
  2. 【請求項２】上記ディジタルデータプロセッサが、第１
    のレーザダイオードの予め定められた通常動作範囲をカ
    バーする第１のレーザダイオード用の複数の駆動電流の
    各々について後面ファセットから放出された光出力パワ
    ーを測定する様にプログラムされており、第１のレーザ
    ダイオードの線形性のチェックされ、この線形性のチェ
    ックが、最小自乗法を達成することによって、光出力パ
    ワーの測定値に最も良く合致する線を定め、この線から
    測定値までの距離を定め、この距離が所定の値を越える
    時に故障信号を発生することを特徴とする請求項１記載
    のレーザダイオードコントローラ。
  3. 【請求項３】上記のディジタルデータプロセッサが、上
    記受信チャンネルが上記第２のレーザダイオードからの
    光を受信し続ける間に上記受信パワー信号があらかじめ
    定めた大きさ以上に減少していないかどうかを検出し、
    そのような減少が検出された場合には警告信号を発生
    し、これによって該ディジタルデータプロセッサは上記
    全デュープレックス光リンクを介して伝送されたデータ
    が盗聴されようとしていることを検出することができる
    ようにプログラムされていることを特徴とする請求項１
    に記載のレーザダイオードコントローラ。
  4. 【請求項４】レーザダイオードコントローラにおいて、
    該コントローラが レーザダイオードの後面ファセットから放出され、上記
    レーザダイオードの前面ファセットから放出された光の
    光パワーに比例する光パワーを有する光を受信する光パ
    ワーセンサであり、この受信した光の光パワーに対応す
    る光パワー測定信号を発する光パワーセンサと、 指定されたレベルの駆動電流を上記レーザダイオードに
    流すために上記レーザダイオードに結合された駆動電流
    回路と、 上記光パワーセンサと上記駆動電流回路とに結合され
    て、上記レーザダイオードに印加する上記の指定された
    レベルの駆動電流を設定し、上記光パワー測定信号を上
    記光パワーセンサから受信するディジタルデータプロセ
    ッサ とを有し、 上記ディジタルデータプロセッサが上記駆動電流を一連
    の離散値に段階的に設定して、上記のレーザダイオード
    の動作特性を、駆動電流の各々の値に対する受信した光
    パワー測定信号に基づいて算出し、この算出した動作特
    性がしきい電流と上記レーザダイオードの微分効率を含
    み、上記レーザダイオードの駆動電流レベルを上記算出
    した動作特性に基づいて選択して、上記レーザダイオー
    ドに加わる駆動電流を入力信号で変調したときにも、上
    記レーザダイオードをレーザモードに維持するようにプ
    ログラムされており、 上記駆動電流回路が エミッタが電源に接続され、ベースが上記ディジタルデ
    ータプロセッサに接続され、コレクタが上記レーザダイ
    オードに直接に接続されているバイポーラトランジスタ
    と、 上記コレクタに接続されたキャパシタ とを有し、 上記キャパシタは上記コレクタを入力信号ラインに交流
    的に結合させ、上記入力信号ラインが上記レーザダイオ
    ードによって光学的に送信される高周波信号の伝送を行
    うようになされていることを特徴とするレーザダイオー
    ドコントローラ。
  5. 【請求項５】上記ディジタルデータプロセッサが、レー
    ザダイオードの予め定められた通常動作範囲をカバーす
    るレーザダイオード用の複数の駆動電流の各々について
    後面ファセットから放出された光出力パワーを測定する
    様にプログラムされており、レーザダイオードの線形性
    のチェックされ、この線形性のチェックが、最小自乗法
    を達成することによって、光出力パワーの測定値に最も
    良く合致する線を定め、この線から測定値までの距離を
    定め、この距離が所定の値を越える時に故障信号を発生
    することを特徴とする請求項４記載のレーザダイオード
    コントローラ。
  6. 【請求項６】レーザダイオードコントローラにおいて、
    該コントローラが レーザダイオードの後面ファセットから放出され、上記
    レーザダイオードの前面ファセットから放出された光パ
    ワーに比例する光パワーを有する光を受信する光パワー
    センサであり、この受信した光の光パワーに対応する光
    パワー測定信号を発する光パワーセンサと、 指定されたレベルの駆動電流を上記レーザダイオードに
    流すために上記レーザダイオードに結合された駆動電流
    回路と、 上記光パワーセンサと上記駆動電流回路とに結合され
    て、上記レーザダイオードに印加する上記の指定された
    レベルの駆動電流を設定し、上記光パワー測定信号を上
    記光パワーセンサから受信するディジタルデータプロセ
    ッサ と、 上記ディジタルデータプロセッサに結合された不揮発性
    メモリ とを有し、 上記ディジタルデータプロセッサが上記駆動電流を一連
    の離散値に段階的に設定して、上記のレーザダイオード
    の動作特性を、上記コントローラに電力が投入される時
    毎に、駆動電流の各々の値に対する受信した光パワー測
    定信号に基づいて算出し、上記レーザダイオードの駆動
    電流レベルを上記算出した動作特性に基づいて選択し
    て、上記レーザダイオードに加えられる駆動電流を入力
    信号で変調したときにも上記レーザダイオードをレーザ
    モードに維持するようにプログラムされており、 上記ディジタルデータプロセッサが、上記レーザダイオ
    ードの上記の算出された動作特性含むデータを上記不揮
    発性メモリに記録し、上記コントローラの電源が投入さ
    れる度に上記の記録されたデータを用いて上記レーザダ
    イオードに対する上記駆動電流レベルの設定を行うよう
    にさらにプログラムされており、 これによって上記コントローラの電源が投入される毎に
    再キャリブレーションを行う必要なしに、また上記コン
    トローラを再立ち上げすることなしに上記レーザダイオ
    ードの再起動を行うことが可能となされている。 ことを特徴とするレーザダイオードコントローラ。
  7. 【請求項７】上記ディジタルデータプロセッサが、レー
    ザダイオードの予め定められた通常動作範囲をカバーす
    るレーザダイオード用の複数の駆動電流の各々について
    後面ファセットから放出された光出力パワーを測定する
    様にプログラムされており、レーザダイオードの線形性
    のチェックされ、この線形性のチェックが、最小自乗法
    を達成することによって、光出力パワーの測定値に最も
    良く合致する線を定め、この線から測定値までの距離を
    定め、この距離が所定の値を越える時に故障信号を発生
    することを特徴とする請求項６記載のレーザダイオード
    コントローラ。
  8. 【請求項８】上記ディジタルデータプロセッサが、 上記駆動電流を一連の値に段階的に設定し、駆動電流の
    各々の値に対する受信した光パワー測定信号に基づいて
    上記のレーザダイオードの１組の動作特性を算出するこ
    とにより、上記レーザダイオードの動作特性を定期的に
    検査し上記の算出した動作特性が上記の不揮発性メモリ
    に記録された上記の動作特性と比較してあらかじめ定義
    された判定基準を満たさない場合にはエラー信号を発す
    るように、さらにプログラムされている ことを特徴とする請求項６に記載のレーザダイオードコ
    ントローラ。
  9. 【請求項９】多チャンネルレーザダイオード装置が、 複数のレーザダイオードと、 上記レーザダイオードの後面ファセットから放出され、
    上記レーザダイオードの前面ファセットから放出された
    光の光パワーに比例する光パワーを有する光を受信し、
    この受信した光の光パワーに対応する光パワー測定信号
    を発生するために、上記の各々のレーザダイオードの近
    傍に個々に配備された光パワーセンサと、 指定されたレベルの駆動電流を上記の対応するレーザダ
    イオードにそれぞれ別個に供給するために上記の各々の
    レーザダイオードに個々に接続された駆動電流回路と、 上記レーザダイオードに供給する上記の指定された駆動
    電流レベルを設定し、また上記光パワーセンサから上記
    光パワー測定信号を受信するために、上記のすべての光
    パワーセンサと上記のすべての駆動電流回路とに接続さ
    れている１つのディジタルデータプロセッサとを有し、 上記ディジタルデータプロセッサが、上記の各々のレー
    ザダイオードに対して上記駆動電流を一連の離散値に段
    階的に設定して、上記装置に電力が投入される時毎に、
    駆動電流の各々の値に対する、受信した光パワー測定信
    号に基づいて上記の各々のレーザダイオードの動作特性
    を算出し、上記の各々のレーザダイオードの駆動電流レ
    ベルを上記の算出した動作特性に基づいて選択して、上
    記レーザダイオードの各々に加えられた駆動電流をそれ
    ぞれの入力信号で変調するときにも、上記レーザダイオ
    ードの各々をレーザモードに維持するようにプログラム
    されており、 上記の各々の駆動電流回路が エミッタが電源に接続され、ベースが上記ディジタルデ
    ータプロセッサに接続され、コレクタが上記レーザダイ
    オードに直接に接続されているバイポーラトランジスタ
    と、 上記コレクタに接続されたキャパシタ とを有し、 上記キャパシタは上記コレクタを入力信号ラインに交流
    的に結合させて、上記入力信号ラインが上記レーザダイ
    オードによって光学的に送信される高周波信号の伝送を
    行うようになされている ことを特徴とする多チャンネルレーザダイオード装置。
  10. 【請求項１０】上記ディジタルデータプロセッサが、レ
    ーザダイオードの予め定められた通常動作範囲をカバー
    するレーザダイオード用の複数の駆動電流の各々につい
    て各レーザダイオードの後面ファセットから放出された
    光出力パワーを測定する様にプログラムされており、レ
    ーザダイオードの線形性のチェックされ、この線形性の
    チェックが、最小自乗法を達成することによって、光出
    力パワーの測定値に最も良く合致する線を定め、この線
    から測定値までの距離を定め、この距離が所定の値を越
    える時に故障信号を発生することを特徴とする請求項９
    記載の多チャンネルレーザダイオード装置。
  11. 【請求項１１】多チャンネルレーザダイオード装置が、 複数のレーザダイオードと、 上記レーザダイオードの後面ファセットから放出され、
    上記レーザダイオードの前面ファセットから放出された
    光の光パワーに比例する光パワーを有する光を受信し、
    この受信した光の光パワーに対応する光パワー測定信号
    を発生するために、上記の各々のレーザダイオードの近
    傍に個々に配備された光パワーセンサと、 指定されたレベルの駆動電流を上記の対応するレーザダ
    イオードにそれぞれ別個に供給するために上記の各々の
    ダイオードに個々に接続された駆動電流回路と、 上記レーザダイオードに供給する上記の指定された駆動
    電流レベルを設定し、また上記光パワーセンサから上記
    光パワー測定信号を受信するために、上記のすべての光
    パワーセンサと上記のすべての駆動電流回路とに接続さ
    れている１つのディジタルデータプロセッサと、 上記ディジタルデータプロセッサに結合された不揮発性
    メモリ とを有し、 上記ディジタルデータプロセッサが、上記の各々のレー
    ザダイオードに対して上記駆動電流を一連の離散値に段
    階的に設定して、上記装置に電源が投入される時毎に、
    駆動電流の各々の値に対する、受信した光パワー測定信
    号に基づいて上記の各々のレーザダイオードの動作特性
    を算出し、上記の各々のレーザダイオードの駆動電流レ
    ベルを上記の受信した光パワー測定信号に基づいて選択
    し、上記レーザダイオードの各々に加えられる駆動電流
    をそれぞれの入力信号で変調するときにも上記レーザダ
    イオードの各々をレーザモードに維持するようにプログ
    ラムされており、 上記ディジタルデータプロセッサが、上記レーザダイオ
    ードが故障する前に、 （Ａ）上記レーザダイオードの上記の算出された動作特
    性を表すデータを上記不揮発性メモリに記録し、 （Ｂ）上記駆動電流を一連の離散値に段階的に設定し、
    駆動電流の各々の値に対する受信した光パワー測定信号
    に基づいて上記レーザダイオードの１組の動作特性を算
    出することにより、上記レーザダイオードの動作性を定
    期的に検査し、上記の算出した動作特性が上記の不揮発
    性メモリに記録された上記の動作特性と比較してあらか
    じめ定義された判定基準を満たさない場合にはエラー信
    号を発することによって上記の各々のレーザダイオード
    の経時変化の検出を行うように、さらにプログラムされ
    ており、 上記エラー信号は、上記レーザダイオードの将来の故障
    の予想を示すことを特徴とする多チャンネルレーザダイ
    オード装置。
  12. 【請求項１２】上記一つのディジタルデータプロセッサ
    が、レーザダイオードの予め定められた通常動作範囲を
    カバーするレーザダイオード用の複数の駆動電流の各々
    について各レーザダイオードの後面ファセットから放出
    された光出力パワーを測定する様にプログラムされてお
    り、レーザダイオードの線形性のチェックされ、この線
    形性のチェックが、最小自乗法を達成することによっ
    て、光出力パワーの測定値に最も良く合致する線を定
    め、この線から測定値までの距離を定め、この距離が所
    定の値を越える時に故障信号を発生することを特徴とす
    る請求項11記載の多チャンネルレーザダイオード装置。
  13. 【請求項１３】多チャンネルレーザダイオード装置が、 複数のレーザダイオードと、 上記レーザダイオードの後面ファセットから放出され、
    上記レーザダイオードの前面ファセットから放出される
    光の光パワーに比例する光パワーを有する光を受信し、
    この受信した光の光パワーに対応する光パワー測定信号
    を発生するために、上記の各々のレーザダイオードの近
    傍に個々に配備された光パワーセンサと、 指定されたレベルの駆動電流を上記の対応するレーザダ
    イオードにそれぞれ別個に供給するために上記の各々の
    レーザダイオードに個々に接続された駆動電流回路と、 上記レーザダイオードに供給する上記の指定された駆動
    電流レベルを設定し、また上記光パワーセンサから上記
    光パワー測定信号を受信するために、上記のすべての光
    パワーセンサと上記のすべての駆動電流回路とに接続さ
    れている１つのディジタルデータプロセッサと、 上記ディジタルデータプロセッサに結合された不揮発性
    メモリ とを有し、 上記ディジタルデータプロセッサが、上記の各々のレー
    ザダイオードに対して上記駆動電流を一連の離散値に段
    階的に設定して、上記装置に電力が投入される時毎に、
    駆動電流の各々の値に対する、受信した光パワー測定信
    号に基づいて上記の各々のレーザダイオードの動作特性
    を算出し、上記の各々のレーザダイオードの駆動電流レ
    ベルを上記の算出した動作特性に基づいて選択して、上
    記レーザダイオードの各々に加えられる駆動電流をそれ
    ぞれの入力信号で変調するときにも上記レーザダイオー
    ドをレーザモードに維持するようにプログラムされてお
    り、 上記ディジタルデータプロセッサが、 （Ａ）上記各々の光パワーセンサに対するキャリブレー
    ション係数と、上記レーザダイオードの立ち上げ時の値
    と、上記レーザダイオードの上記の算出された動作特性
    とを表すデータとを上記不揮発性メモリに記録し、 （Ｂ）レーザダイオードコントローラの電源が投入され
    る度に、上記の記録されたデータを用いて上記レーザダ
    イオードに対する上記駆動電流レベルの設定を行う ようにさらにプログラムされており、 これによって上記レーザダイオードコントローラの電源
    が投入される毎に再キャリブレーションを行う必要なし
    に、また上記コントローラを再立ち上げすることなしに
    上記レーザダイオードの再起動を行うことが可能となさ
    れている ことを特徴とする多チャンネルレーザダイオード装置。
  14. 【請求項１４】上記ディジタルデータプロセッサが、第
    １レーザダイオードの予め定められた通常動作範囲をカ
    バーする第１レーザダイオード用の複数の駆動電流の各
    々について後面ファセットから放出された光出力パワー
    を測定する様にプログラムされており、第１レーザダイ
    オードの線形性のチェックされ、この線形性のチェック
    が、最小自乗法を達成することによって、光出力パワー
    の測定値に最も良く合致する線を定め、この線から測定
    値までの距離を定め、この距離が所定の値を越える時に
    故障信号を発生することを特徴とする請求項13記載の多
    チャンネルレーザダイオード装置。
  15. 【請求項１５】駆動電流を第１のレーザダイオードを含
    むレーザダイオードに供給して光を発生させるステップ
    と、 上記第１のレーザダイオードの後面ファセットから放出
    され、上記第１のレーザダイオードの前面ファセットか
    ら放出された光の光パワーに比例する光パワーを有する
    光を測定し、上記第１のレーザダイオードを後面ファセ
    ットから放出された光の光パワーに対応する光パワー測
    定信号を発生することによって、上記の発生された光の
    光パワーを測定するステップと、 ディジタルデータプロセッサの制御の下に、自動的に上
    記駆動電流を一連の離散値に段階的に設定し、各駆動電
    流の値に対する上記光パワーの測定値を受信し、上記第
    １のレーザダイオードに電力が投入される時毎に、各駆
    動電流の値に対する上記の受信された上記の光パワー測
    定値に基づいて上記第１のレーザダイオードの動作特性
    を算出し、上記の算出した動作特性に基づいて上記第１
    のレーザダイオードに対する駆動電流を選定して、上記
    第１のレーザダイオードに加えられる駆動電流が入力信
    号で変調するときにも、上記第１のレーザダイオードを
    レーザモードに維持するようにするステップと、 第２のレーザダイオードが発生した光を受信するための
    受信チャンネルを準備し、上記２つのレーザダイオード
    が全デュープレックス光リンクを構成するようになすス
    テップと、 上記第２のレーザダイオードが発生した光の受信光につ
    いての直流光パワーを測定するステップと、 上記のディジタルデータプロセッサの制御の下に上記第
    ２のレーザダイオードについての直流光パワー測定値を
    受信し、上記の直流光パワー測定値をあらかじめ定義さ
    れた判定基準と比較することにより、上記の２つのレー
    ザダイオードの間に確実に全デュープレックス光リンク
    が構成されているかどうかを判定し、全デュープレック
    ス光リンクが確実に構成されていることが判定される前
    においては上記第１のレーザダイオードに対する上記駆
    動電流レベルを第１のレベルに設定するようにし、全デ
    ュープレックス光リンクが確実に構成されていることが
    判定された後においては上記第１のレーザダイオードに
    対する上記駆動電流レベルを上記第１の駆動電流レベル
    よりも第２の駆動レベルに設定するステップと を有することを特徴とするレーザダイオードの制御方
    法。
  16. 【請求項１６】上記方法が、第１のレーザダイオードの
    予め定められた通常動作範囲をカバーする第１のレーザ
    ダイオード用の複数の離散駆動電流値の各々について後
    面ファセットから放出された光出力パワーを測定するこ
    とを含み、第１のレーザダイオードの線形性のチェック
    され、この線形性のチェックが、最小自乗法を達成する
    ことによって、光出力パワーの測定値に最も良く合致す
    る線を定め、この線から測定値までの距離を定め、この
    距離が所定の値を越える時に故障信号を発生することを
    特徴とする請求項15記載の方法。
  17. 【請求項１７】上記受信チャンネルが第２のレーザダイ
    オードからの光を受信し続ける間に、上記直流光パワー
    測定値があらかじめ定めた大きさ以上に減少していない
    かどうかを検出し、そのような減少が検出された場合に
    は警告信号を発生し、これによって上記全デュープレッ
    クス光リンクを介して伝送されたデータが盗聴されよう
    としていることを検出するステップをさらに有すること
    を特徴とする請求項15に記載のレーザダイオードの制御
    方法。
  18. 【請求項１８】駆動電流をレーザダイオードに供給して
    光を発生させるステップと、 上記レーザダイオードの後面ファセットから放出して、
    上記レーザダイオードの前面ファセットから放出される
    光の光パワーに比例する光パワーを有する光を測定する
    ことによって、上記の発生された光の光パワーを測定す
    るステップと、 ディジタルデータプロセッサの制御の下に、自動的に上
    記駆動電流を一連の離散値に段階的に設定し、各駆動電
    流の値に対する上記光パワーの測定値を受信し、上記レ
    ーザダイオードに電力が投入される時毎に、各駆動電流
    の値に対して受信された上記の光パワー測定値に基づい
    て上記レーザダイオードの動作特性を算出し、上記の算
    出した動作特性に基づいて上記レーザダイオードに対す
    る駆動電流を選定し、上記レーザダイオードに加えられ
    る駆動電流を入力信号で変調するときにも上記レーザダ
    イオードをレーザモードに維持するようにするステップ
    と から成り 上記の駆動電流を供給するステップが エミッタが電源に接続され、ベースが上記ディジタルデ
    ータプロセッサに接続され、コレクタが上記レーザダイ
    オードに直接に接続されているパイポーラトランジスタ
    を準備するステップと、 上記コレクタに接続されたキャパシタを準備し、該キャ
    パシタによって上記コレクタを入力信号ラインに交流的
    に結合させて、上記入力信号ラインが上記レーザダイオ
    ードによって光学的に送信される高周波信号の伝送を行
    うようになすステップ とを含んでいることを特徴とするレーザダイオードの制
    御方法。
  19. 【請求項１９】上記方法が、レーザダイオードの予め定
    められた通常動作範囲をカバーするレーザダイオード用
    の複数の離散駆動電流値の各々について後面ファセット
    から放出された光出力パワーを測定することを含み、レ
    ーザダイオードの線形性のチェックされ、この線形性の
    チェックが、最小自乗法を達成することによって、光出
    力パワーの測定値に最も良く合致する線を定め、この線
    から測定値までの距離を定め、この距離が所定の値を越
    える時に故障信号を発生することを特徴とする請求項18
    記載の制御方法。
  20. 【請求項２０】駆動電流をレーザダイオードに供給して
    光を発生させるステップと、 上記レーザダイオードの後面ファセットから放出され、
    上記レーザダイオードの前面ファセットから放出された
    光の光パワーに比例する光パワーを有する光を測定し、
    上記レーザダイオードの背面から放出された光の光パワ
    ーに対応する光パワー測定信号を発生することによっ
    て。上記の発生された光の光パワーを測定するステップ
    と、 ディジタルデータプロセッサの制御の下に、自動的に上
    記駆動電流を一連の離散値に段階的に設定し、上記レー
    ザダイオードに電力が投入される時毎に、各駆動電流の
    値に対する上記光パワーの測定値を受信し、各駆動電流
    の値に対して受信された上記の光パワー測定値に基づい
    て上記レーザダイオードの動作特性を算出し、上記算出
    された動作特性に基づいて上記レーザダイオードに対す
    る駆動電流を選定し、上記レーザダイオードに加えられ
    る駆動電力を入力信号で変調するときにも、上記レーザ
    ダイオードをレーザモードに維持するようにするステッ
    プと、 上記レーザダイオードの上記の算出した動作特性を示す
    データと、上記の発生された光の光パワー測定を行うた
    めのキャリブレーション係数とを不揮発性メモリに記憶
    するステップと、 上記コントローラの電源が投入される度に、上記不揮発
    性メモリに記録された上記データを用いて、上記レーザ
    ダイオードに対する上記駆動電流レベルの設定を行うス
    テップ とを有することを特徴とするレーザダイオードの制御方
    法。
  21. 【請求項２１】上記方法が、レーザダイオードの予め定
    められた通常動作範囲をカバーするレーザダイオード用
    の複数の離散駆動電流値の各々について後面ファセット
    から放出された光出力パワーを測定することを含み、レ
    ーザダイオードの線形性のチェックされ、この線形性の
    チェックが、最小自乗法を達成することによって、光出
    力パワーの測定値に最も良く合致する線を定め、この線
    から測定値までの距離を定め、この距離が所定の値を越
    える時に故障信号を発生することを特徴とする請求項20
    記載の方法。
  22. 【請求項２２】個々の駆動電流を複数の各々のレーザダ
    イオードに供給して光を発生させるステップと、 上記レーザダイオードの後面ファセットから放出され、
    上記レーザダイオードの前面ファセットから放出される
    光の光パワーに比例する光パワーを有する光を測定し、
    上記レーザダイオードの後面ファセットから放出された
    光の光パワーに対応する光パワー測定信号を発生するこ
    とによって上記の発生された光の光パワーを測定するス
    テップと、 ディジタルデータプロセッサの制御の下に、自動的に上
    記駆動電流を一連の離散値に段階的に設定し、各駆動電
    流の値で上記の各々のレーザダイオードによって発生さ
    れた上記光パワーを測定し、上記レーザダイオードに電
    力を投入される時毎に、各駆動電流の値に対する上記の
    光パワー測定値に基づいて上記レーザダイオードの動作
    特性を算出し、上記の算出された動作特性に基づいて上
    記レーザダイオードに対する駆動電流を選定し、上記レ
    ーザダイオードの各々に加えられる駆動電流をそれぞれ
    の入力信号で変調するときにも上記レーザダイオードを
    レーザモードに維持するようにするステップと、 上記の各々のレーザダイオードの上記の算出した動作特
    性を不揮発性性メモリに記憶するステップと、 上記レーザダイオードコントローラの電源が投入される
    度に、上記不揮発性メモリに記録された上記データを用
    いて、上記の各々のレーザダイオードに対する上記駆動
    電流レベルの設定を行うステップ とを有することを特徴とするレーザダイオードの制御方
    法。
  23. 【請求項２３】上記方法が、レーザダイオードの予め定
    められた通常動作範囲をカバーするレーザダイオード用
    の複数の離散駆動電流値の各々について後面ファセット
    から放出された光出力パワーを測定することを含み、レ
    ーザダイオードの線形性のチェックされ、この線形性の
    チェックが、最小自乗法を達成することによって、光出
    力パワーの測定値に最も良く合致する線を定め、この線
    から測定値までの距離を定め、この距離が所定の値を越
    える時に故障信号を発生することを特徴とする請求項22
    記載の方法。
  24. 【請求項２４】上記ディジタルデータプロセッサの制御
    の下に、上記レーザダイオードが故障する以前に、
    （Ａ）上記レーザダイオードについての上記算出した動
    作特性を表すデータを上記不揮発性メモリに記録し、
    （Ｂ）上記駆動電流を一連の離散値に段階的に設定し、
    各駆動電流の値に対して測定された光パワーの値に基づ
    いて上記レーザダイオードの１連の動作特性を算出し、
    上記の算出した一連の動作特性が上記不揮発性メモリに
    記録された上記の動作特性と比較してあらかじめ定義さ
    れた判定基準を満たさない場合にはエラー信号を発する
    ことによって定期的に上記レーザダイオードの動作特性
    を検査することによって上記レーザダイオードの経時変
    化を検出するステップ をさらに有し、上記エラー信号が上記レーザダイオード
    の将来の故障の予想を示すことを特徴とする請求項22に
    記載と複数のレーザダイオードの制御方法。
  25. 【請求項２５】レーザダイオードの後面ファセットから
    放出され、上記レーザダイオードの前面ファセットから
    放出される光の光パワーに比例する光パワーを有する光
    を受信する光パワーセンサであって、上記パワーセンサ
    によって受信された光の光パワーに対応する光パワーに
    測定信号を発生する光パワーセンサ、 上記レーザダイオードに特定のレベルの駆動電流を与え
    る上記レーザダイオードに結合された駆動電流回路、 上記光パワーセンサと上記レーザダイオードに与えられ
    る特定のレベルの駆動電流を設定し、上記光パワーセン
    サからの上記光パワー測定信号を受信する上記駆動電流
    回路とに結合されたデジタルデータプロセッサ、であ
    り、 上記駆動電流を上記一連の離散値に段階的に設定し、 上記コントーラに電力が投入される時毎に、各駆動電流
    値に対する受信された光パワー測定信号に基づいて上記
    レーザダイオードの動作特性を算出し、 上記算出した動作特性に基づいて上記レーザダイオード
    に対する駆動電流を選択し、上記レーザダイオードに加
    えられる駆動電流を対応する入力信号で変調するときに
    も上記レーザダイオードをレーザモードに維持するよう
    にする、デジタルデータプロセッサ、及び 上記デジタルデータプロセッサに結合される不揮発性メ
    モリから成り、 上記デジタルデータプロセッサが上記不揮発性メモリに
    データを記憶すための手段を含み、上記記憶されたデー
    タが上記光パワーセンサに対する少なくとも一つのキャ
    リブレーション係数、立ち上げの時の値及び上記レーザ
    ダイオードの上記算出した動作特性を示し、上記少なく
    とも一つのキャリブレーション係数が、上記光パワーセ
    ンサから受信された上記光パワー測定信号と、上記駆動
    電流回路が電流を上記レーザダイオードに加える間に、
    レーザダイオードコントローラ外部の光測定装置から上
    記デジタルデータプロセッサによって受信された信号と
    に基づいて上記デジタルデータプロセッサによって発生
    且つ記憶され、 上記デジタルデータプロセッサは、上記レーザダイオー
    ドコントローラに電力が投入される時毎に、上記レーザ
    ダイオードに対する上記駆動電流を設定するために上記
    記憶されたデータを使用するための手段、及び上記不揮
    発性メモリに記憶された上記データを含む情報をホスト
    コンピュータに送信し、上記ホストコンピュータから命
    令を受信する通信ポートを含む、 レーザダイオードコントローラ。
  26. 【請求項２６】上記デジタルデータプロセッサが、レー
    ザダイオードの予め定められた通常動作範囲をカバーす
    るレーザダイオード用の複数の駆動電流の各々について
    後面ファセットから放出された光出力パワーを測定する
    様にプログラムされており、レーザダイオードの線形性
    のチェックされ、この線形性のチェックが、最小自乗法
    を達成することによって、光出力パワーの測定値に最も
    良く合致する線を定め、この線から測定値までの距離を
    定め、この距離が所定の値を越える時に故障信号を発生
    することを特徴とする請求項25記載のレーザダイオード
    コントローラ。
  27. 【請求項２７】上記算出した動作特性は上記レーザダイ
    オードのしきい電流及び微分効率を含み、 上記レーザダイオードの上記算出した動作特性を示すデ
    ータを上記不揮発性メモリに記憶し、上記駆動電流を一
    連の離散値に段階的に設定し、各駆動電流値に対して受
    信された光パワー信号に基づいて上記レーザダイオード
    の上記動作特性を算出し、上記算出した動作特性が上記
    不揮発性メモリに記憶された上記動作特性と比較して、
    あらかじめ定義された判断基準を満たさない場合に上記
    レーザダイオードの将来の故障の予想を示すエラー信号
    を発生することによって、上記レーザダイオードの故障
    に先立って、上記レーザダイオードの動作状態を定期的
    に検査する手段を上記ディジタルデータプセッサが更に
    含む請求項25記載のレーザダイオードコントローラ。
  28. 【請求項２８】光を発生するようにレーザダイオードに
    駆動電流を駆動電流回路によって与え、 上記レーザダイオードの後面ファセットから放出され、
    上記レーザダイオードの前面ファセットから放出された
    光の光パワーに比例する光パワーを有する光を測定し、 上記レーザダイオードの後面ファセットから放出された
    光の光パワーに対応する光パワー測定信号を発生するこ
    とによって、上記発生された光の光パワーを光パワーセ
    ンサによって測定し、 デジタルデータプロセッサの制御下で、上記レーザダイ
    オードに、初めて電力が投入される時、上記駆動電流を
    一連の離散値に自動的に設定し、各駆動電流値毎の光パ
    ワー測定値を受信し、各駆動電流値毎の上記受信された
    光パワー測定値に基づいて上記レーザダイオードの動作
    特性を算出し、上記光パワーセンサに対する少なくとも
    一つのキャリブレーション係数、立ち上げの時の値、上
    記レーザダイオードの上記算出した動作特性を示すデー
    タを不揮発性メモリに記憶し、上記キャリブレーション
    係数が、上記光パワーセンサから受信された上記光パワ
    ー測定値と、駆動電流回路が電流を上記レーザダイオー
    ドに加える間にレーザダイオードコントローラ外部の装
    置から上記デジタルデータプロセッサによって受信され
    る信号とに基づいて上記デジタルデータプロセッサによ
    って発生され且つ記憶され、 上記デジタルデータプロセッサの制御下で、上記レーザ
    ダイオードに電力が投入される毎に、上記光パワーセン
    サから受信された光パワー測定値と上記不揮発性メモリ
    に記憶される上記少なくとも一つのキャリブレーション
    係数に基づいて上記レーザダイオードの駆動電流レベル
    を選択し、上記レーザダイオードに加えられる駆動電流
    を入力信号で変調する時に、上記レーザダイオードをレ
    ーザモードに維持するようにし、 上記不揮発性メモリに記憶される上記データを含む情報
    を、ホストコンピュータに送信し、上記ホストコンピュ
    ータから命令を受信するステップから成るレーザダイオ
    ードを制御する方法。
  29. 【請求項２９】上記方法が、レーザダイオードの予め定
    められた通常動作範囲をカバーするレーザダイオード用
    の複数の離散駆動電流値の各々について後面ファセット
    から放出された光出力パワーを測定することを含み、レ
    ーザダイオードの線形性のチェックされ、この線形性の
    チェックが、最小自乗法を達成することによって、光出
    力パワーの測定値に最も良く合致する線を定め、この線
    から測定値までの距離を定め、この距離が所定の値を越
    える時に故障信号を発生することを特徴とする請求項28
    記載の方法。
  30. 【請求項３０】上記算出した動作特性が、上記レーザダ
    イオードのしきい電流及び微分効率を含み、 （Ａ）上記不揮発性メモリに、上記レーザダイオードの
    上記算出した動作特性を示すデータを記憶し、（Ｂ）上
    記駆動電流を一連の離散値に段階的に設定して、各駆動
    電流値に対する受信された光パワー信号に基づいて上記
    レーザダイオードの上記動作特性を算出し、上記算出し
    た動作特性が上記不揮発性メモリに記憶される上記動作
    特性と比較してあらかじめ定義された判断基準を満たさ
    ない場合に、エラー信号を発生することによって、上記
    レーザダイオードの動作状態を定期的に検査して、上記
    レーザダイオードが故障する前に、上記レーザダイオー
    ドの経時変化を検出するステップを更に含む請求項28記
    載のレーザダイオードを制御する方法。
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Families Citing this family (233)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5118964A (en) * 1990-09-26 1992-06-02 At&T Bell Laboratories Thermo-electric temperature control arrangement for laser apparatus
JP2546080B2 (ja) * 1991-05-10 1996-10-23 富士通株式会社 半導体レーザー制御装置
US5212700A (en) * 1991-07-24 1993-05-18 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Modulation circuit for a light emission device
US5123024A (en) * 1991-08-06 1992-06-16 General Scanning, Inc. Apparatus and method for controlling the light intensity of a laser diode
US5197076A (en) * 1991-11-15 1993-03-23 Davis James G Temperature stabilizable laser apparatus
US5247532A (en) * 1992-06-01 1993-09-21 Finisar Corporation Method and apparatus for stimulating a laser diode in a fiber optic transmitter
US5278404A (en) * 1992-07-20 1994-01-11 At&T Bell Laboratories Optical sub-system utilizing an embedded micro-controller
FR2694423B1 (fr) * 1992-07-30 1994-12-23 France Telecom Dispositif de contrôle de la puissance de sortie des diodes laser.
US5754576A (en) * 1992-09-24 1998-05-19 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor laser control apparatus and image forming apparatus using the same
US5276697A (en) * 1992-11-04 1994-01-04 Eastman Kodak Company Laser diode automatic power control circuit with means of protection of the laser diode
CA2092762A1 (en) * 1993-01-19 1994-07-20 Teruyuki Kobayashi Life span detector for a laser diode and a compact disk player having the same
US5442510A (en) * 1993-06-23 1995-08-15 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Control system for tracking nonlinear systems
US5604757A (en) * 1994-05-10 1997-02-18 E-Tek Dynamics, Inc. Multichannel, programmable laser diode power supply, stabilizer and controller
US6220878B1 (en) 1995-10-04 2001-04-24 Methode Electronics, Inc. Optoelectronic module with grounding means
US5717533A (en) 1995-01-13 1998-02-10 Methode Electronics Inc. Removable optoelectronic module
US5600126A (en) * 1995-06-20 1997-02-04 Xerox Corporation Method and apparatus for controlling the power output of multiple laser diodes
US5638390A (en) * 1995-07-27 1997-06-10 Methode Electronics, Inc. Optoelectronic transceiver module laser diode stabilizer and bias control method
US6446867B1 (en) 1995-11-22 2002-09-10 Jorge Sanchez Electro-optic interface system and method of operation
US5844928A (en) * 1996-02-27 1998-12-01 Lucent Technologies, Inc. Laser driver with temperature sensor on an integrated circuit
US5953690A (en) * 1996-07-01 1999-09-14 Pacific Fiberoptics, Inc. Intelligent fiberoptic receivers and method of operating and manufacturing the same
US5812572A (en) * 1996-07-01 1998-09-22 Pacific Fiberoptics, Inc. Intelligent fiberoptic transmitters and methods of operating and manufacturing the same
US5734672A (en) 1996-08-06 1998-03-31 Cutting Edge Optronics, Inc. Smart laser diode array assembly and operating method using same
AT405468B (de) * 1996-12-02 1999-08-25 Ulrich Ewald Ing Vorrichtung zum thermischen einbringen von informationen und informationsträger
US6377592B1 (en) * 1997-03-26 2002-04-23 Siemens Aktiengesellschaft Method for stabilizing the wavelength of a laser and arrangement for implementing said method
US6229833B1 (en) * 1997-10-16 2001-05-08 Fujitsu Limited Laser diode protecting circuit and laser driving current control circuit
JP3389480B2 (ja) * 1997-10-16 2003-03-24 富士通株式会社 Ｌｄ保護回路
US6122302A (en) * 1997-12-10 2000-09-19 Harmonic Inc. Automatic compensation of CNR and OMI in a laser transmitter
US6494370B1 (en) 1997-12-11 2002-12-17 Ceyx Technologies Electro-optic system controller and method of operation
SE519081C3 (sv) 1998-01-21 2003-02-19 Altitun Ab Förfarande och anordning för optimering av lasrars operationspunkt, jämte anordning
US6057918A (en) * 1998-01-26 2000-05-02 Lucent Technologies, Inc. Laser testing probe
US6535779B1 (en) 1998-03-06 2003-03-18 Applied Materials, Inc. Apparatus and method for endpoint control and plasma monitoring
US6049073A (en) * 1998-03-27 2000-04-11 Eastman Kodak Company Control circuit for a stabilized laser
DE19818621A1 (de) * 1998-04-25 1999-10-28 Mannesmann Vdo Ag Schaltungsanordnung zur Einstellung der Helligkeit stromgesteuerter Leuchtdioden zur Beleuchtung einer Anzeige
US6226114B1 (en) * 1998-07-02 2001-05-01 Scientific-Atlanta, Inc. Temperature compensation for uncooled laser
EP1125314A1 (en) 1998-07-10 2001-08-22 Applied Materials, Inc. Improved endpoint detection for substrate fabrication processes
US6204493B1 (en) 1998-08-21 2001-03-20 Drexel University Fault tolerant electric current regulator
JP3307346B2 (ja) * 1998-11-27 2002-07-24 日本電気株式会社 波長制御回路
US6265857B1 (en) 1998-12-22 2001-07-24 International Business Machines Corporation Constant current source circuit with variable temperature compensation
SE518827C2 (sv) 1999-02-17 2002-11-26 Altitun Ab Metod för karakterisering av en avstämbar laser
SE514188C2 (sv) * 1999-02-17 2001-01-22 Altitun Ab Metod för karakterisering av en avstämbar laser och bestämmande av aktuell våglängd
DE19909137A1 (de) * 1999-02-19 2000-08-31 Micron Electronic Devices Gmbh Laserdiodenansteuerung, beispielsweise Laserbehandlungsgerät
GB2348063B (en) * 1999-03-19 2001-03-07 Marconi Comm Ltd Optical communication system
US6236667B1 (en) * 1999-06-23 2001-05-22 Agere Systems Inc. Method for temperature compensating an optical filter
US6220873B1 (en) 1999-08-10 2001-04-24 Stratos Lightwave, Inc. Modified contact traces for interface converter
EP1224843A1 (en) * 1999-09-29 2002-07-24 Color Kinetics Incorporated Systems and methods for calibrating light output by light-emitting diodes
US6624917B1 (en) 1999-10-28 2003-09-23 International Business Machines Corporation Optical power adjustment circuits for parallel optical transmitters
DE19953290A1 (de) * 1999-11-05 2001-05-10 Leica Microsystems Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung des von einer Beleuchtungsvorrichtung abgestrahlten Lichtes für ein optisches Messgerät
US6333602B1 (en) * 1999-12-14 2001-12-25 Exfo Photonic Solutions Inc. Smart light source with integrated operational parameters data storage capability
EP1130711A3 (en) * 2000-01-11 2003-04-09 Agere Systems Optoelectronics Guardian Corporation Apparatus and method for separating memory and control functions in a laser control system
JP4103287B2 (ja) * 2000-02-14 2008-06-18 横河電機株式会社 Ｄｆｂレーザ駆動装置、ｄｆｂレーザ駆動方法、及び記憶媒体
JP3533141B2 (ja) * 2000-03-31 2004-05-31 Ｎｅｃ化合物デバイス株式会社 半導体レーザ素子及びその測定装置並びに測定方法
US6707833B1 (en) 2000-03-31 2004-03-16 Marconi Communications, Inc. Digital laser driver circuit
US6771679B2 (en) 2000-05-17 2004-08-03 David Chalmers Schie Apparatus and method for programmable control of laser diode modulation and operating point
US6518563B1 (en) * 2000-06-22 2003-02-11 Agere Systems Inc. Detecting aging of optical components
JP3729045B2 (ja) * 2000-08-30 2005-12-21 日本電気株式会社 光モジュールの異常検出方法及びその装置
US6606332B1 (en) * 2000-11-01 2003-08-12 Bogie Boscha Method and apparatus of color mixing in a laser diode system
US6947456B2 (en) * 2000-12-12 2005-09-20 Agilent Technologies, Inc. Open-loop laser driver having an integrated digital controller
US6792015B1 (en) * 2000-12-29 2004-09-14 Cisco Technology, Inc. Thermo-electric cooler circuit and method for DWDM/TDM mode selection
US7181146B1 (en) 2001-01-17 2007-02-20 Optical Communication Products, Inc. Self-adjusting data transmitter
US7079775B2 (en) 2001-02-05 2006-07-18 Finisar Corporation Integrated memory mapped controller circuit for fiber optics transceiver
US7149430B2 (en) * 2001-02-05 2006-12-12 Finsiar Corporation Optoelectronic transceiver having dual access to onboard diagnostics
US20040197101A1 (en) * 2001-02-05 2004-10-07 Sasser Gary D. Optical transceiver module with host accessible on-board diagnostics
US7302186B2 (en) 2001-02-05 2007-11-27 Finisar Corporation Optical transceiver and host adapter with memory mapped monitoring circuitry
US6912361B2 (en) * 2002-10-08 2005-06-28 Finisar Corporation Optical transceiver module with multipurpose internal serial bus
US7346278B2 (en) * 2001-02-05 2008-03-18 Finisar Corporation Analog to digital signal conditioning in optoelectronic transceivers
JP3637872B2 (ja) * 2001-02-08 2005-04-13 日本電気株式会社 フィードフォワード型ａｐｃ回路を備えたレーザダイオード駆動回路および方法
US6850398B2 (en) 2001-06-07 2005-02-01 Xicor, Inc. Feed forward programmable current controller
JP2003008138A (ja) * 2001-06-13 2003-01-10 Motorola Inc レーザーダイオード制御装置
US20030002110A1 (en) * 2001-06-29 2003-01-02 Koninklijke Philips Electronics N.V. RF level stabilization of optical link over temperature
US6583926B1 (en) * 2001-08-21 2003-06-24 Onetta, Inc. Optical amplifiers with age-based pump current limiters
US6975642B2 (en) 2001-09-17 2005-12-13 Finisar Corporation Optoelectronic device capable of participating in in-band traffic
US7248611B2 (en) * 2001-10-31 2007-07-24 William Marsh Rice University Frequency scanning pulsed laser having synchronously set subthreshold current
WO2003058827A2 (en) * 2001-12-27 2003-07-17 Ceyx Technologies, Inc. Laser optics integrated control system and method of operation
WO2004064210A1 (en) 2003-01-08 2004-07-29 Ceyx Technologies, Inc. Apparatus and method for measurement of dynamic laser signals
JP2003224326A (ja) * 2002-01-30 2003-08-08 Ntt Electornics Corp レーザダイオード制御用半導体集積回路および光送信モジュールならびに光出力設定方法
CN1192520C (zh) * 2002-01-30 2005-03-09 华为技术有限公司 数字调节光发送模块及其调节方法
US6862302B2 (en) * 2002-02-12 2005-03-01 Finisar Corporation Maintaining desirable performance of optical emitters over temperature variations
US6803562B2 (en) * 2002-03-01 2004-10-12 Network Elements, Inc. Indirect monitoring of semiconductor light source within a photonic package
EP1345296A1 (en) * 2002-03-16 2003-09-17 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) System for controlling power, wavelength and extinction ratio in optical sources, and computer program product therefor
JP3945308B2 (ja) * 2002-05-09 2007-07-18 住友電気工業株式会社 光送信装置
US6873632B2 (en) * 2002-05-22 2005-03-29 Finisar Corporation Techniques for biasing lasers
US6885685B2 (en) * 2002-06-11 2005-04-26 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Control system for a laser diode and a method for controlling the same
US7561855B2 (en) 2002-06-25 2009-07-14 Finisar Corporation Transceiver module and integrated circuit with clock and data recovery clock diplexing
US7809275B2 (en) * 2002-06-25 2010-10-05 Finisar Corporation XFP transceiver with 8.5G CDR bypass
US7437079B1 (en) 2002-06-25 2008-10-14 Finisar Corporation Automatic selection of data rate for optoelectronic devices
US7664401B2 (en) * 2002-06-25 2010-02-16 Finisar Corporation Apparatus, system and methods for modifying operating characteristics of optoelectronic devices
US7486894B2 (en) * 2002-06-25 2009-02-03 Finisar Corporation Transceiver module and integrated circuit with dual eye openers
KR100857083B1 (ko) * 2002-06-26 2008-09-05 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 광디스크 장치에서의 기준 파워 설정방법
US20040001721A1 (en) * 2002-06-26 2004-01-01 Lucent Technologies, Inc. Methods and apparatus for monitoring optical transmissions
US20040023224A1 (en) * 2002-07-31 2004-02-05 Corson John F. Maintaining scale factor in an instrument for reading a biopolymer array
US7023543B2 (en) * 2002-08-01 2006-04-04 Cunningham David W Method for controlling the luminous flux spectrum of a lighting fixture
US7269357B2 (en) * 2002-08-02 2007-09-11 Finisar Corporation Transceiver with programmable signal parameters
US7127177B1 (en) * 2002-08-02 2006-10-24 Finisar Corporation Integrated post-amplifier and laser driver assembly with digital control interface
US7177547B1 (en) 2002-08-02 2007-02-13 Finisar Corporation System and method for controlling polarity of a data signal
US6792020B2 (en) 2002-08-05 2004-09-14 Agilent Technologies, Inc. Laser driver with a safety circuit having digital feedback
DE10236870A1 (de) * 2002-08-12 2004-02-26 Hella Kg Hueck & Co. Leuchte mit einer Schaltungsanordnung zum Ansteuern von Leuchtdioden und Verfahren zum Abgleichen einer solchen Schaltungsanordnung
US7061949B1 (en) 2002-08-16 2006-06-13 Jds Uniphase Corporation Methods, apparatus, and systems with semiconductor laser packaging for high modulation bandwidth
US7477847B2 (en) * 2002-09-13 2009-01-13 Finisar Corporation Optical and electrical channel feedback in optical transceiver module
US7224904B1 (en) 2002-10-29 2007-05-29 Finisar Corporation Digital control of optical transceiver transmitting and receiving elements
US7058099B2 (en) * 2002-11-08 2006-06-06 Finisar Corporation Age compensation in optoelectronic modules with integrated temperature control
GB2410606B (en) * 2002-11-05 2007-03-28 Finisar Corp Age compensation in optoelectronic modules with integrated temperature control
US7035300B2 (en) * 2002-11-05 2006-04-25 Finisar Corporation Calibration of a multi-channel optoelectronic module with integrated temperature control
AU2003302557A1 (en) * 2002-11-06 2004-06-23 Finisar Corporation Control of peaking of laser driver current to improve eye quality
US7356262B2 (en) 2002-11-06 2008-04-08 Finisar Corporation Time division multiplexing of analog signals in an optical transceiver
US7230961B2 (en) * 2002-11-08 2007-06-12 Finisar Corporation Temperature and jitter compensation controller circuit and method for fiber optics device
US7236507B2 (en) * 2002-11-08 2007-06-26 Finisar Corporation Time-based adjustment of temperature control of laser to stabilize wavelengths
GB2425881A (en) * 2002-11-08 2006-11-08 Finisar Corp Age compensation in optoelectronic modules with integrated temperature control
US7136772B2 (en) * 2002-11-08 2006-11-14 Avago Technologies Fiber Ip (Singapore) Pte. Ltd. Monitoring system for a communications network
US7317743B2 (en) * 2002-11-08 2008-01-08 Finisar Corporation Temperature and jitter compensation controller circuit and method for fiber optics device
US7092604B2 (en) * 2002-11-20 2006-08-15 Edwards Phillip J Optical transceiver module with improved DDIC and methods of use
US7054343B1 (en) 2002-11-26 2006-05-30 National Semiconductor Corporation Method of compensating for temperature changes and channel variations in a laser diode array to produce a substantially constant average optical power over temperature
US7668512B2 (en) * 2003-01-15 2010-02-23 Avago Technologies Fiber Ip (Singapore) Pte. Ltd. Transceiver with a test mode of operation
US7426348B2 (en) * 2003-01-15 2008-09-16 Avago Technologies Fiber Ip Pte Ltd Calibrating an optical transceiver via adaptive testing
US20040143697A1 (en) * 2003-01-16 2004-07-22 Mahowald Peter H. Communication module configurable with firmware and related method
US20040213306A1 (en) * 2003-01-16 2004-10-28 Fennema Alan A. Apparatus and method for phase control of tunable external cavity lasers
US7425798B2 (en) * 2003-01-23 2008-09-16 Lumination Llc Intelligent light degradation sensing LED traffic signal
JP2004228384A (ja) 2003-01-23 2004-08-12 Sumitomo Electric Ind Ltd 発光モジュール及び通電制御方法
US7440865B1 (en) * 2003-02-03 2008-10-21 Finisar Corporation Screening optical transceiver modules for electrostatic discharge damage
US6929403B1 (en) * 2003-02-10 2005-08-16 Opnext, Inc. Small form-factor pluggable bail latch
SE525926C2 (sv) * 2003-05-28 2005-05-31 Transmode Systems Ab Förfarande för överföring av driftinformation i ett WDM-system
US6943505B2 (en) * 2003-06-05 2005-09-13 Infineon Technologies Ag Driving device for a light-emitting component and a method for driving a light-emitting component
US7215891B1 (en) 2003-06-06 2007-05-08 Jds Uniphase Corporation Integrated driving, receiving, controlling, and monitoring for optical transceivers
US7170919B2 (en) * 2003-06-23 2007-01-30 Northrop Grumman Corporation Diode-pumped solid-state laser gain module
US7045752B2 (en) * 2003-06-30 2006-05-16 Intel Corporation Illuminated and non-illuminated photodiodes for monitoring and controlling AC and DC components of a laser beam
GB2405496B (en) * 2003-08-27 2007-02-07 Agilent Technologies Inc A method and a system for evaluating aging of components, and computer program product therefor
US7233740B2 (en) * 2003-09-29 2007-06-19 Avago Technologies Fiber Ip (Singapore) Pte. Ltd. Self-characterizing and self-programming optical transmitter
US7321606B2 (en) * 2003-10-09 2008-01-22 National Semiconductor Corporation Laser trim and compensation methodology for passively aligning optical transmitter
US7433375B2 (en) * 2003-10-09 2008-10-07 National Semiconductor Corporation Laser trim and compensation methodology for passively aligning optical transmitter
US7054344B1 (en) 2003-11-17 2006-05-30 Finisar Corporation Method and system for equalizing transmission line loss of a laser drive signal
US7085296B2 (en) * 2003-12-05 2006-08-01 Branson Ultrasonics Corporation Dual parameter laser optical feedback
US7426586B2 (en) * 2003-12-15 2008-09-16 Finisar Corporation Configurable input/output terminals
US7702030B2 (en) * 2003-12-17 2010-04-20 Mindspeed Technologies, Inc. Module to module signaling with jitter modulation
US20050180711A1 (en) * 2004-02-13 2005-08-18 Kamath Kishore K. Dual loop automatic power control of optical transmitters
US7369587B2 (en) * 2004-02-21 2008-05-06 Finisar Corp Temperature control for coarse wavelength division multiplexing systems
US7630631B2 (en) * 2004-04-14 2009-12-08 Finisar Corporation Out-of-band data communication between network transceivers
EP1594238A3 (en) * 2004-05-06 2006-05-03 Avanex Corporation Method and system for controlling laser diodes in optical communications systems
US20050271100A1 (en) * 2004-06-04 2005-12-08 Keith Everett System and method for controlling optical sources, such as laser diodes, and computer program product therefor
US7720387B2 (en) * 2004-06-30 2010-05-18 Finisar Corporation Microcode-driven calculation of temperature-dependent operational parameters in an optical transmitter/receiver
US8639122B2 (en) * 2004-07-02 2014-01-28 Finisar Corporation Filtering digital diagnostics information in an optical transceiver prior to reporting to host
US7447438B2 (en) * 2004-07-02 2008-11-04 Finisar Corporation Calibration of digital diagnostics information in an optical transceiver prior to reporting to host
US7132805B2 (en) * 2004-08-09 2006-11-07 Dialight Corporation Intelligent drive circuit for a light emitting diode (LED) light engine
US7551852B2 (en) * 2004-08-10 2009-06-23 Mindspeed Technologies, Inc. Module to module signaling
US7583902B2 (en) * 2004-08-10 2009-09-01 Mindspeed Technologies, Inc. Module to module signaling utilizing amplitude modulation
US7620329B2 (en) * 2004-11-19 2009-11-17 Mindspeed Technologies, Inc. Laser power control with automatic compensation
US7265334B2 (en) * 2004-11-19 2007-09-04 Mindspeed Technologies, Inc. Laser power control with automatic compensation
US7504610B2 (en) * 2004-09-03 2009-03-17 Mindspeed Technologies, Inc. Optical modulation amplitude compensation system having a laser driver with modulation control signals
US7608806B2 (en) * 2004-11-19 2009-10-27 Mindspeed Technologies, Inc. Multiple parameter laser power control with automatic compensation
US8705973B2 (en) * 2004-09-07 2014-04-22 Finisar Corporation Optical transceiver with off-transceiver logging mechanism
US7881616B2 (en) * 2004-10-29 2011-02-01 Finisar Corporation Transceiver based loop back initiation
US7532820B2 (en) 2004-10-29 2009-05-12 Finisar Corporation Systems and methods for providing diagnostic information using EDC transceivers
US7381935B2 (en) * 2004-11-19 2008-06-03 Mindspeed Technologies, Inc. Laser power control with automatic power compensation
US7276682B2 (en) * 2004-11-19 2007-10-02 Mindspeed Technologies, Inc. Laser power control with automatic compensation
WO2006055244A1 (en) * 2004-11-19 2006-05-26 Mindspeed Technologies Laser power control with automatic compensation
US7940821B2 (en) * 2005-01-05 2011-05-10 Lg Electronics Inc. Temperature compensating method of laser power in optical disk storage apparatus
JP5148815B2 (ja) * 2005-01-20 2013-02-20 住友電気工業株式会社 光送信モジュール
US7515619B2 (en) * 2005-06-22 2009-04-07 Intel Corporation Laser control circuit
GB2428149B (en) * 2005-07-07 2009-10-28 Agilent Technologies Inc Multimode optical fibre communication system
US7349454B2 (en) * 2005-09-09 2008-03-25 Avago Technologies Fiber Ip Pte Ltd Method of monitoring and controlling a laser diode
US7729620B2 (en) * 2005-09-29 2010-06-01 Adc Telecommunications, Inc. Methods and systems for controlling optical power attenuation
US20070071450A1 (en) * 2005-09-29 2007-03-29 Adc Telecommunications, Inc. Systems and methods for optical power window control
US20070127530A1 (en) * 2005-12-05 2007-06-07 Bookham Technology, Plc. Laser control
US7853154B2 (en) * 2006-01-13 2010-12-14 Mindspeed Technologies, Inc. Bias circuit for burst-mode/TDM systems with power save feature
US7721012B2 (en) * 2006-01-18 2010-05-18 Mindspeed Technologies, Inc. Reprogrammable device address for a serial interface in an optic module
US7684698B2 (en) * 2006-02-08 2010-03-23 Adc Telecommunications, Inc. Methods and systems for controlling power in a communications network
US20100050656A1 (en) * 2007-02-26 2010-03-04 Blentech Corporation Continuous food product cooling system
JP2008211735A (ja) * 2007-02-28 2008-09-11 Mitsubishi Electric Corp 光伝送制御回路
WO2008108399A1 (ja) * 2007-03-05 2008-09-12 Nec Corporation 光モジュール
US7512162B2 (en) * 2007-05-11 2009-03-31 Avanex Corporation Dynamic thermal management of laser devices
JP6076580B2 (ja) * 2007-06-19 2017-02-08 シリコン・ライン・ゲー・エム・ベー・ハー 発光部品を制御する回路装置
JP5738589B2 (ja) * 2007-06-19 2015-06-24 シリコン・ライン・ゲー・エム・ベー・ハー 発光部品を制御する回路装置及び方法
WO2009007464A1 (de) * 2007-07-12 2009-01-15 Silicon Line Gmbh Schaltungsanordnung und verfahren zum treiben mindestens einer differentiellen leitung
US8583395B2 (en) * 2007-07-23 2013-11-12 Finisar Corporation Self-testing optical transceiver
US7881615B2 (en) * 2007-07-26 2011-02-01 Finisar Corporation Dynamic digital diagnostic alerts
DE102007043915A1 (de) * 2007-09-14 2009-03-19 Robert Bosch Gmbh Lasereinrichtung und Betriebsverfahren hierfür
WO2009055035A2 (en) * 2007-10-26 2009-04-30 Mindspeed Technologies, Inc. High sensitivity two-stage amplifier
US8750341B2 (en) * 2008-01-04 2014-06-10 Mindspeed Technologies, Inc. Method and apparatus for reducing optical signal speckle
US8582978B2 (en) * 2008-01-16 2013-11-12 Finisar Corporation Logging mechanism for an intelligent transmitter module
JP4645655B2 (ja) 2008-02-04 2011-03-09 富士ゼロックス株式会社 光伝送モジュール
CN102318338A (zh) 2008-03-31 2012-01-11 曼德斯必德技术公司 便携式lcos/lcd/dlp投影系统中的功率耗散的减少
WO2009127670A1 (de) * 2008-04-16 2009-10-22 Silicon Line Gmbh Programmierbarer antifuse-transistor und verfahren zum programmieren desselben
WO2009141449A2 (de) * 2008-05-21 2009-11-26 Silicon Line Gmbh Schaltungsanordnung und verfahren zum ansteuern lichtemittierender bauelemente
US8159956B2 (en) 2008-07-01 2012-04-17 Finisar Corporation Diagnostics for serial communication busses
US8521019B2 (en) * 2008-07-14 2013-08-27 Nanotech Semiconductor Ltd. Method and system for closed loop control of an optical link
EP2359502B1 (de) 2008-10-09 2017-04-05 Silicon Line GmbH Schaltungsanordnung und verfahren zum übertragen von tmds-kodierten signalen
US7948323B2 (en) * 2009-05-06 2011-05-24 Mindspeed Technologies, Inc. Linear transimpedance amplifier with wide dynamic range for high rate applications
US7973602B2 (en) * 2009-05-06 2011-07-05 Mindspeed Technologies, Inc. Variable gain amplifier
CA2770366C (en) 2009-08-03 2019-01-22 Sof-Tek Integrators, Inc., Dba Op-Test System and method of testing high brightness led (hbled)
JP5388913B2 (ja) * 2010-03-15 2014-01-15 三菱電機株式会社 画像表示装置
DE102010041987A1 (de) * 2010-10-05 2012-04-05 Tridonic Gmbh & Co. Kg Betriebsgerät mit einstellbarer kritischer Temperatur
US8643296B2 (en) 2010-11-22 2014-02-04 Mindspeed Technologies, Inc. Color mixing and desaturation with reduced number of converters
US9000934B1 (en) 2010-12-17 2015-04-07 Musco Corporation Apparatus, method, and system for determining end-of-life of a product
US9107245B2 (en) 2011-06-09 2015-08-11 Mindspeed Technologies, Inc. High accuracy, high dynamic range LED/laser driver
US8872487B2 (en) 2011-08-28 2014-10-28 Mindspeed Technologies, Inc. Scalable buck-boost DC-DC converter
CN103117810A (zh) * 2012-02-10 2013-05-22 索尔思光电（成都）有限公司 采用动态阈值的光收发器操作状态提示符
US8934779B2 (en) * 2012-02-10 2015-01-13 Source Photonics, Inc. Operational status indicators in an optical transceiver using dynamic thresholds
US9385606B2 (en) 2012-12-03 2016-07-05 M/A-Com Technology Solutions Holdings, Inc. Automatic buck/boost mode selection system for DC-DC converter
WO2015044942A2 (en) 2013-09-30 2015-04-02 Corning Optical Communications Wireless Ltd. Determining efficiency of an optical signal source in distributed communication systems
US9355671B2 (en) 2014-05-15 2016-05-31 Seagate Technology Llc Controlling laser output in a HAMR device
US9153272B1 (en) 2014-05-15 2015-10-06 Seagate Technology Llc Characterizing laser output in a HAMR device
US10861682B2 (en) 2014-07-31 2020-12-08 iSenseCloud, Inc. Test wafer with optical fiber with Bragg Grating sensors
US10033153B1 (en) * 2014-07-31 2018-07-24 iSenseCloud, Inc. Fiber optic sensor and wavelength drift controlled laser
US10771159B2 (en) 2014-07-31 2020-09-08 iSenseClound, Inc. Fiber optic patch and voltage conditioning
US10209060B1 (en) 2014-07-31 2019-02-19 iSenseCloud, Inc. Fiber-optic sensors in a rosette or rosette-like pattern for structure monitoring
US10097908B2 (en) 2014-12-31 2018-10-09 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. DC-coupled laser driver with AC-coupled termination element
US9236081B1 (en) 2015-03-31 2016-01-12 Seagate Technology Llc Laser temperature calibration in a HAMR device
US9472229B1 (en) 2015-04-16 2016-10-18 Seagate Technology Llc Adaptive laser output control in a HAMR device
US10044328B2 (en) 2015-07-20 2018-08-07 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Transimpedance amplifier with bandwidth extender
DE102016200503A1 (de) * 2016-01-16 2017-07-20 Robert Bosch Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Erzeugen von Licht mittels eines Leuchtstoffs
TWI644493B (zh) * 2016-05-13 2018-12-11 國家中山科學研究院 Laser diode drive system
US10263573B2 (en) 2016-08-30 2019-04-16 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Driver with distributed architecture
US9985414B1 (en) 2017-06-16 2018-05-29 Banner Engineering Corp. Open-loop laser power-regulation
JP2019021866A (ja) * 2017-07-21 2019-02-07 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 半導体レーザ装置
US10630052B2 (en) 2017-10-04 2020-04-21 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Efficiency improved driver for laser diode in optical communication
DE102017220807A1 (de) 2017-11-22 2019-05-23 Robert Bosch Gmbh Verfahren zu einer Kalibrierung zumindest einer Laserdiode
US10326523B1 (en) * 2017-12-15 2019-06-18 International Business Machines Corporation Optical module and link operationanalysis and failure prediction
WO2019116660A1 (ja) * 2017-12-15 2019-06-20 株式会社堀場製作所 半導体レーザ装置、半導体レーザ装置の駆動方法及び駆動プログラム
US10938365B2 (en) 2018-05-18 2021-03-02 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Variable step size to reduce convergence time of a control loop
US11848653B2 (en) 2018-05-18 2023-12-19 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Method and apparatus to speed convergence and control behavior of digital control loop
DE102018212689A1 (de) * 2018-07-30 2020-01-30 Koninklijke Philips N.V. Verfahren zum Schätzen eines Zustandsparameters einer Laserdiode mit einer zugeordneten Fotodiode, Vorrichtung zum Überwachen des Betriebs einer solchen Laserdiode und Partikelsensorvorrichtung
US11131618B2 (en) * 2018-08-10 2021-09-28 Cytek Biosciences, Inc. Smart flow cytometers with self monitoring and self validation
EP3651290A1 (en) * 2018-11-08 2020-05-13 TRUMPF Photonic Components GmbH Laser device and method of determining a malfunction of a laser diode
US11005573B2 (en) 2018-11-20 2021-05-11 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Optic signal receiver with dynamic control
US11218345B2 (en) 2019-09-19 2022-01-04 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Using ISI or Q calculation to adapt equalizer settings
FR3101218B1 (fr) 2019-09-23 2022-07-01 Macom Tech Solutions Holdings Inc Adaptation d’égaliseur sur la base de mesures de dispositif de surveillance de l’œil
US11196484B2 (en) 2019-10-15 2021-12-07 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Finding the eye center with a low-power eye monitor using a 3-dimensional algorithm
CN113050462A (zh) * 2019-12-26 2021-06-29 福州高意通讯有限公司 实现edfa光输出不中断的结构及控制方法
TW202143665A (zh) 2020-01-10 2021-11-16 美商Ｍａｃｏｍ技術方案控股公司 最佳等化分割
US11575437B2 (en) 2020-01-10 2023-02-07 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Optimal equalization partitioning
TWI719882B (zh) * 2020-04-10 2021-02-21 四零四科技股份有限公司 對光學收發器進行失效預測之方法及相關光學收發器和光纖通訊系統
US11609116B2 (en) 2020-08-27 2023-03-21 Banner Engineering Corp Open-loop photodiode gain regulation
US11658630B2 (en) 2020-12-04 2023-05-23 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Single servo loop controlling an automatic gain control and current sourcing mechanism
US11616529B2 (en) 2021-02-12 2023-03-28 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Adaptive cable equalizer
RU2760745C1 (ru) * 2021-04-01 2021-11-30 Федеральное государственное унитарное предприятие "Ростовский-на-Дону научно-исследовательский институт радиосвязи" (ФГУП "РНИИРС") Способ передачи аналогового высокочастотного сигнала по волоконно-оптической линии связи

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60169179A (ja) * 1984-02-10 1985-09-02 Ricoh Co Ltd 半導体レ−ザの異常処理装置
DE3728234A1 (de) * 1986-08-26 1988-04-28 Sharp Kk Steuervorrichtung fuer eine laserdiode
US4890288A (en) * 1986-08-27 1989-12-26 Canon Kabushiki Kaisha Light quantity control device
JPS63164031A (ja) * 1986-12-25 1988-07-07 Toshiba Corp 情報記憶再生装置
DE3706572A1 (de) * 1987-02-28 1988-09-08 Philips Patentverwaltung Regelung von laserdioden

Also Published As

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EP0548111A1 (en) 1993-06-30
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