JP3245217B2 - 画像検査用の閾値決定装置及び画像検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】基準画像と被検査画像との、対応
する画素単位毎の、濃度の比較検査を行う画像検査用の
閾値決定装置に係り、あるいは基準画像と被検査画像と
の、対応する画素単位毎の、濃度の比較検査を行う画像
検査装置に係り、特に、基準画像と被検査画像との、対
応する画素単位毎の、濃度の比較検査に用いる閾値をよ
り合理的に求め、これにより、該比較検査の精度や信頼
性を向上させることができる閾値決定装置あるいは画像
検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】印刷物の不良には、印刷用紙の汚れや、
印刷不良など様々なものがある。又、その欠陥部分が微
小なものであっても、印刷物の品質上問題となる場合が
ある。更に、輪転印刷機等、印刷済みの印刷物が高速で
連続走行している場合、個々の印刷物の検査も高速に行
わなければならない。

【０００３】従来、印刷物検査は、種々の方法で人手に
よって行われていた。例えば、印刷機や印刷物の種類に
よっては、印刷後の印刷物を適宜抜き取り、目視により
検査を行っていた。あるいは、一定速度で連続的に走行
する印刷物では、該走行速度に同期させてストロボを発
光し、該印刷物の目視検査を行っていた。

【０００４】近年、印刷物検査を自動的に行う様々な技
術が開示されている。

【０００５】例えば、特公平１−４７８２３では、所定
の時点で走行印刷物の絵柄から読み取った画像データの
記憶が可能なメモリを備え、該メモリから読み出した画
像データを基準データ、上記走行印刷物の残余の絵柄か
ら読み取った画像データを検査データとし、これら基準
データと検査データとの比較に基づいて印刷の良否判定
を行う方式の印刷物の検査装置に関する技術が開示され
ている。この技術は、上記基準データの特徴と検査デー
タの特徴とを、それぞれ対応する画素単位毎に抽出比較
して印刷の良否判定を行う第１の特徴抽出比較判定手段
を用いると共に、上記基準データの特徴と検査データの
特徴とを、同一絵柄内での所定の範囲における画素の総
和として抽出比較することにより印刷の良否判定を行う
第２の特徴抽出比較判定手段を用い、更に、上記基準デ
ータの特徴と検査データの特徴とを、印刷物の走行方向
に沿って同一直線上に配列された画素の同一絵柄内にお
ける総和として抽出比較することにより印刷の良否判定
を行う第３の特徴抽出比較判定手段をも用い、これら第
１〜第３の各特徴抽出比較判定手段の判定結果を総合判
定して、最終的な印刷物の良否判定を行う。又、この技
術では、所定時点における走行印刷物の走行速度と、検
査データの読取り時における走行印刷物の走行速度との
差を所定値と比較する比較手段を用い、該比較の結果に
基づいて、このときの走行印刷物の絵柄から読み取った
検査データを上記基準データとして新たに書替える手段
をも備えている。この特公平１−４７８２３で開示され
ている技術によれば、印刷物の絵柄など濃度変化が広い
範囲に亘っている場合の良否判定の精度を向上させると
共に、マスキング機能等も備え、印刷物の状態変化に対
しても常に安定した動作を得ることができる。

【０００６】又、特公平１−２０４７７では、印刷物の
試料絵柄を画素マトリックスに分解して検出した試料デ
ータを、標本印刷物から予め取り出されメモリに記録さ
れている標本データと１画素ずつ比較し、絵柄の良否判
定を行う印刷物の絵柄検査方法に関する技術が開示され
ている。この技術は、前記試料データ及び標本データの
一方を１画素ずつ印刷物の横方向に位置ずれさせて、前
記両データの他方と比較し、両データが最も一致に近付
いたときの前記両データ間の位置ずれ量により、前記試
料データ又は標本データを印刷物横方向に関し位置ずれ
補正した上で、前記標本データと比較するという技術で
ある。この特公平１−２０４７７で開示されている技術
によれば、印刷物搬送系に位置ずれがあっても、比較的
安価な装置で高精度で絵柄検査を行うことができる。

【０００７】又、特開昭６２−１１１５２では、印刷物
の走行方向と直角方向に互いに視野が重なり合い、画像
同士が重なり合った状態の画素データを取り出す検出手
段を用い、まず良品データを取り込んで基準データと
し、次に被検査データを取り込んで基準データと比較す
るようにしている。この比較は、各画素比較を行った上
で加算データ同士の比較を行うというものである。この
特開昭６２−１１１５２で開示されている技術によれ
ば、走行中の印刷物では避けられない位置ずれに影響さ
れることなく、正確な検査を行うことができる。

【０００８】

【発明が達成しようとする課題】しかしながら、従来、
基準画像と被検査画像との、対応する画素単位毎の、濃
度の比較検査に用いる閾値は、前記基準画像の全画素や
被検査画像の全画素に対して、通常単一の値を用いてい
た。このため、適正な閾値を決定することが難しく、前
記比較検査精度や信頼性上問題があった。

【０００９】又、従来、これら基準画像や被検査画像に
従って一部特定の画素に対してマスクをかけ、検査対象
より除外していた。これは、前記基準画像と前記被検査
画像との位置ずれがあると、正確な検査を行うことがで
きなくなるためである。特に、前記基準画像や前記被検
査画像の絵柄で濃度変化が激しい部分では、１画素程度
の位置ずれであっても、その悪影響が非常に大きくなっ
てしまう。このため、前述のようにマスクをかけること
で、このような位置ずれに関する問題を解消している。
しかしながら、このようにマスクをかけてしまうと、検
査対象外となってしまう部分が生じてしまうという問題
がある。

【００１０】このように、基準画像と被検査画像との、
対応する画素単位毎の、濃度の比較検査に用いる閾値の
その値の決定については、従来様々な問題があった。

【００１１】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
く成されたもので、基準画像と被検査画像との、対応す
る画素単位毎の、濃度の比較検査に用いる閾値をより合
理的に求め、これにより、誤検出を抑えて、検査結果の
精度や信頼性を向上させることができる画像検査用の閾
値決定装置及び画像検査装置を提供することを目的とす
る。

【００１２】

【課題を達成するための手段】本願の第１発明は、基準
画像と被検査画像との、対応する画素単位毎の、濃度の
比較検査を行う画像検査用の閾値決定装置にあって、前
記基準画像及び被検査画像を階層化する画像階層化手段
と、前記基準画像を元に、前記被検査画像の各画素単位
毎の濃度の許容変動範囲を階層毎に推定する限界値算出
手段と、該許容変動範囲が大きい時は、前記被検査画像
の各階層毎及び各画素単位毎の検査閾値を大きくし、前
記許容変動範囲が小さい時は、前記検査閾値を小さくす
る検査閾値算出手段とを備えたことにより、前記課題を
達成したものである。

【００１３】又、本願の第２発明は、基準画像と被検査
画像との、対応する画素単位毎の、濃度の比較検査を行
う画像検査装置において、前記基準画像及び被検査画像
を階層化する画像階層化手段と、前記基準画像を元に、
前記被検査画像の各画素単位毎の濃度の許容変動範囲を
階層毎に推定する限界値算出手段と、該許容変動範囲が
大きい時は、前記被検査画像の各階層毎及び各画素単位
毎の検査閾値を大きくし、前記許容変動範囲が小さい時
は、前記検査閾値を小さくする検査閾値算出手段と、該
検査閾値を、前記被検査画像の各階層毎及び各画素単位
毎に記憶する閾値メモリと、前記基準画像と前記被検査
画像との、対応する階層毎の画素単位毎の濃度差分値、
及び、該画素単位に対応する前記検査閾値から、前記被
検査画像を階層毎に検査する比較検査手段と、各階層の
判定結果のうち１つでも不良の判定があれば、総合的な
判定結果を不良とする検査結果決定手段とを備えたこと
により、前記課題を達成したものである。

【００１４】

【作用】基準画像と被検査画像との、対応する画素単位
毎の、濃度の比較検査に用いる閾値は、その値が大きす
ぎると、これら画像間の相違があるにも拘らず、これを
見落としてしまう。一方、該閾値の値が小さすぎると、
前記基準画像と前記被検査画像との位置ずれ等により、
これらの画像が同一であっても、相違があるとの判定を
行ってしまう。このように、前記比較検査に用いる閾値
は、該比較検査の精度や信頼性に大きな影響をもってい
る。

【００１５】本発明においては、このようにその値が検
査結果の精度や信頼性に影響を与える閾値を、前記基準
画像や前記被検査画像の画素毎に設定するようにしてい
る。更に、前記基準画像と前記被検査画像との位置ずれ
の悪影響が大きい、これら画像の絵柄の濃度変化が激し
い部分（即ち、絵柄の輪郭強度が高い部分）では、その
閾値をより大きくして、許容値を上げる。一方、濃度変
化が少ない部分（即ち、絵柄の輪郭強度が低い部分）に
ついては、その閾値を小さくして、許容値を下げる。更
に、基準画像と被検査画像を共に階層化し、各階層毎に
比較検査を行うようにしている。これにより、誤検出を
抑えて、検査結果の全体的な精度や信頼性を向上するこ
とができる。

【００１６】又、本発明では、このような画素毎の非常
に多くの閾値を設定するという、煩雑で時間がかかる設
定を、より合理的に決定するようにしている。

【００１７】図１は、本発明の要旨を示すブロック図で
ある。

【００１８】この図１に示されるように、本発明の特徴
部分は、限界値算出手段２０と、検査閾値算出手段２２
となっている。

【００１９】前記限界値算出手段２０は、前記基準画像
を元に、前記被検査画像の各画素単位毎の濃度の許容変
動範囲を推定する手段である。この各画素単位毎の濃度
の許容変動範囲の推定は、本発明はこれを具体的に限定
するものではないが、例えば、後述する実施例のよう
に、比較検査を行う部分（手段）までの入力系で見込ま
れるノイズレベル等より推定したり、あるいは、前記基
準画像と前記被検査画像との横方向や縦方向での最大位
置ずれ量等により推定してもよい。

【００２０】前記検査閾値算出手段２２は、前記限界値
算出手段２０で求められた前記許容変動範囲に従って、
前記被検査画像の各画素単位毎の検査閾値を求める手段
である。この各画素単位毎の検査閾値の求め方を、本発
明は具体的に限定するものではないが、例えば後述する
実施例の閾値決定部の第１例では、１つの閾値Ｔ（x，y
）を求めるようにしている。又、例えば後述する実施
例の閾値決定部の第２例では、上限許容閾値Ｔ_H （x ，
y ）と下限許容閾値Ｔ_L （x ，y ）との２つの閾値を求
めるようにしている。

【００２１】なお、このようにして求められた各画素毎
の検査閾値は、例えば前記図１に示される閾値メモリ２
４に書き込まれる。該閾値メモリ２４は、画素毎の前記
検査閾値を記憶できる記憶容量を有している。

【００２２】以上説明したように、本発明によれば、検
査閾値を各画素毎に求めることで前記比較検査の精度や
信頼性を向上できるだけでなく、能率良くこのような画
素毎の閾値を求めることが可能である。

【００２３】

【実施例】以下、図を用いて本発明の実施例を詳細に説
明する。

【００２４】図２は、本発明が適用された印刷機及び印
刷物集中検査装置の構成を示すブロック図である。

【００２５】この図２においては、図示されない印刷機
を含む複数の印刷機を１箇所で検査する印刷物集中検査
装置本体８０が示されている。又、この図１に示されて
いる印刷機１０は、最終印刷ユニット１２から送り出さ
れる帯状の印刷物１を、フィードロール１４及び巻上部
１６によりロール状に巻き取られる。又、該印刷機１０
からは、該印刷機が運転中であるか否か等を示す印刷状
態信号と、前記印刷ユニット１２に取付けられたロータ
リエンコーダ１８により、前記印刷物１の走行に従った
パルス信号を出力する。前記印刷ユニット１２等、前記
印刷機１０が備える印刷ユニットの版胴の周長が印刷さ
れる絵柄１つ（以降、１面とも称する）より長い場合、
版胴−回転で複数の絵柄が印刷される。このような面位
置を検出するため等、前記ロータリエンコーダ１８は、
所定回転毎パルス信号を出力する。

【００２６】この図２に示される印刷機１０において
は、走行中の印刷物表面状態を撮影し、所定の画像信号
を出力する検出部３０が、前記印刷ユニット１２と前記
フィードロール１４との間に配置されている。又、中継
器４０には、前記印刷状態信号と、前記ロータリエンコ
ーダ１８によるパルス信号が入力され、又前記検出部３
０が接続されている。なお、図示される合計３台の中継
器４０と同様に、図示されない他の中継器についても、
図示されない他の印刷機に対応して設けられている。こ
れら中継器４０は、それぞれ前記集中検査装置本体８０
中の判定部１００に接続されている。

【００２７】図３は、前記印刷物集中検査装置の検出部
の、印刷物走行方向から見た側面図である。

【００２８】この図３において、印刷物１は手前から向
こう側へと走行している。又、検出部３０は、主とし
て、ランプハウス３２a に収められた光源３２b と、該
光源３２b からの光をライトガイド３４へと導く光ファ
イバ３３とを備え、該ライトガイド３４に設けられたス
リットから前記印刷物１を照明する。前記ランプハウス
３２a には図示されぬ放熱ファンが内蔵され、前記光源
３２b で生じる熱が放熱される。該光源３２b には、例
えばハロゲンランプや、クセノンランプ等の放電光源等
が用いられる。又、前記検出部３０は、前記印刷物１の
走行方向に直交して配列された複数のラインセンサカメ
ラ３６を有している。これら個々のラインセンサカメラ
３６で撮影される、前記印刷物１上の１次元ライン状の
被撮影部分も、前記印刷物１の走行方向に直交してい
る。又、これら複数のラインセンサカメラ３６のそれぞ
れの視野は、隣接する他のラインセンサカメラ３６の視
野と重複している。なお、電気回路３８は、前記複数の
ラインセンサカメラ３６からの１次元ライン状の画像の
画像信号から、前記印刷物１のほぼ幅全体に亘る１つの
１次元ライン状の画像の信号を得ると共に、これを前記
中継器４０へと伝送する処理等を行う。

【００２９】図４は、前記印刷物集中検査装置の検出部
電気回路の電気回路図である。

【００３０】この図４に示されるように、前記複数のラ
インセンサカメラ３６から得られた画像信号を前記中継
器４０へ出力するための当該検出部電気回路３８は、主
に、Ａ／Ｄ変換部３８a と、フレームメモリ３８b と、
画像圧縮回路３８c と、光通信部３８d と、ドライバ３
８e とを備えている。

【００３１】前記Ａ／Ｄ変換部３８a は、Ａ／Ｄ変換器
３８g により前記複数のラインセンサカメラ３６それぞ
れからの画像アナログ信号を画像デジタル信号に変換す
る。又、該Ａ／Ｄ変換部３８a は、隣接する前記ライン
センサカメラ３６同士の画像を統合することにより、前
記印刷物１のほぼ幅全体に亘る連続した１次元ライン状
のデジタル画像を生成する。又、該生成されたデジタル
画像は、前記印刷物１の走行に同期して順次前記フレー
ムメモリ３８b へと書き込まれる。これにより、前記複
数のラインセンサカメラ３６で、前記印刷物１の走行に
同期して走査した２次元フレームの画像を得ることがで
きる。

【００３２】該フレームメモリ３８b に書き込まれた１
画面（１フレーム）分のデジタル画像は、前記画像圧縮
回路３８c によりデータ圧縮され、前記光通信部３８d
へと出力される。この画像圧縮回路３８c で行われるデ
ータ圧縮は、静止画像符号化で近年用いられるようにな
ってきているＪＰＥＧ（joint photographic codingexp
ert group）方式の符号化が用いられている。この画像
圧縮回路３８c で行うデータ圧縮は、画像デジタル信号
の伝送時間短縮等、伝送能率を向上させるためであり、
他のデータ圧縮方式であってもよい。例えば、従来から
知られているエントロピー符号化やハフマン符号化やラ
ンレングス符号化等を単一に用いるものであってもよ
い。前記画像圧縮回路３８c からの画像デジタル信号
は、前記光通信部３８d において光変調され、前記中継
器４０へと送信される。

【００３３】一方、前記中継器４０から伝送される、前
記印刷物１の走行に同期するタイミング信号、即ち該走
行によって走査しながら該印刷物１上を１次元ライン状
に撮影するタイミングの信号は、前記ドライバ３８e に
より、前記複数のラインセンサカメラ３６それぞれへと
出力される。又、前記中継器４０からは、印刷される絵
柄に対応した前記面毎のタイミング信号も送られるが、
該信号は前記Ａ／Ｄ変換部３８a が前記フレームメモリ
３８b へとデジタル画像を書き込む際に１フレームの開
始の検知のために用いられている。

【００３４】図５は、前記印刷物集中検査装置の中継器
のハードウェア構成を示すブロック図である。

【００３５】各印刷機１台ずつ接近して設置された前記
中継器４０は、この図５に示されるように、主として、
ＣＰＵ（central processing unit ）４０a と、ＲＯＭ
（read only menory）４０b と、ＲＡＭ（random acces
s menory）４０c と、並列入出力回路４０d と、カウン
タ４０e と、Ｏ／Ｅ（optical to electrical ）変換器
４０f と、シリアル変換器４０g と、シリアル変換器４
０h と、Ｅ／Ｏ（electrical to optical ）変換器４０
i と、バス４０j とにより構成されている。

【００３６】前記ＣＰＵ４０a は、前記ＲＯＭ４０b に
予め書き込まれているプログラムに従って、前記バス４
０j を介して、前記ＲＡＭ４０c や、前記並列入出力回
路４０d や、前記シリアル変換器４０g や、前記シリア
ル変換器４０h にアクセスし、所定の処理を行う。例え
ば、該ＣＰＵ４０a は、前記ＲＯＭ４０b に予め書き込
まれているプログラムに従って、前記印刷機１０からの
信号に主として従った前記検出部３０へのタイミング信
号の生成処理や、前記検出部３０からの画像デジタル信
号を前記判定部１００へ中継する処理等を行う。

【００３７】前記ＲＡＭ４０c は、前記ＣＰＵ４０a で
のプログラム実行時のデータ一時記憶に用いられるだけ
でなく、前記検出部３０から前記判定部１００へ画像デ
ジタル信号を中継する際に、該画像デジタル信号のバッ
ファメモリとしても用いられる。前記並列入出力回路４
０d は、前記印刷機１０や前記検出部３０に対して、ビ
ット単位あるいは所定ビット数毎の入出力を、前記ＣＰ
Ｕ４０a や前記バス４０j での処理単位となるビット数
幅で行う。前記カウンタ４０e は、前記ロータリエンコ
ーダ１８から送られてくる前記印刷物１の走行位置に相
対的に対応したエンコーダ信号から、該印刷物１の絶対
的な走行位置を求める。前記Ｏ／Ｅ変換器４０f は、光
ファイバを用いて前記検出部から送られてきた光変調さ
れた画像デジタル信号を復調し、前記シリアル変換器４
０g へと出力する。該シリアル変換器４０g は、前記Ｏ
／Ｅ変換器４０f が出力するシリアルの画像デジタル信
号を、前記ＣＰＵ４０a がアクセス可能な所定ビット数
幅のパラレルデータに変換する。前記シリアル変換器４
０h は、前記ＣＰＵ４０a が書き込んだ所定ビット数幅
の画像デジタル信号をシリアルに変換して、これを前記
Ｅ／Ｏ変換器４０iへと出力する。該Ｅ／Ｏ変換器４０i
は、前記シリアル変換器４０h から順次送られてくる
シリアルの画像デジタル信号を光変調し、光ファイバに
て前記判定部１００へと送信する。

【００３８】図６は、前記中継器の機能構成を示すブロ
ック図である。

【００３９】この図６に示されるように、前記中継器４
０の主な機能は、画像タイミング制御部４０m と、画像
信号中継部４０p と、メモリ４０n とにより構成され
る。

【００４０】前記画像タイミング制御部４０m は、前記
印刷機１０のロータリエンコーダ１８からの信号、例え
ば前記Ａ相信号等に従って、前記検出部３０が用いるタ
イミング信号、例えば前記カメラスタート信号や前記読
出イネーブル信号を生成する。この際、該画像タイミン
グ制御部４０m は、後述するキーボード６２からオペレ
ータが予め入力した面付情報をも用いる。この面付情報
は、前記印刷機１０の版胴の印刷内容等に関する情報で
あり、例えば何面の印刷を行うものであるか等の情報で
ある。

【００４１】前記画像信号中継部４０p は、前記検出部
電気回路３８から光ファイバを介して送られてきた画像
デジタル信号を受信し、これを前記メモリ４０n に記憶
する。又、該画像信号中継部４０p は、前記集中検査装
置本体８０の判定部１００からの要求に応じて、該メモ
リ４０n に記憶されているデジタル画像を画像デジタル
信号として該判定部１００へと光ファイバを介して出力
する。前記メモリ４０n には、複数フレームのデジタル
画像を記憶することができる。前記判定部１００は複数
の中継器４０（４０a 〜４０c ）が接続されているが、
このように前記画像信号中継部４０p や前記メモリ４０
n を用いた当該中継器４０の中継処理により、それぞれ
の中継器４０に対応するそれぞれの印刷機の印刷物検査
を順次行うことが可能である。

【００４２】図７は、前記印刷物集中検査装置本体のハ
ードウェア構成を示すブロック図である。

【００４３】この図７に示されるように、前記印刷物集
中検査装置本体８０は、主として、ＣＰＵ（central pr
ocessing unit ）５０と、主記憶装置５２と、ハードデ
ィスク装置５４と、フロッピディスク装置５８と、入出
力装置６０と、Ｏ／Ｅ変換器６０a と、キーボード６２
と、ＣＲＴ（cathode ray tube）制御装置６４a と、Ｃ
ＲＴ６４b と、ネットワーク制御装置６６と、プリンタ
装置６８と、システムバス７０とにより構成されてい
る。

【００４４】前記ＣＰＵ５０は、印刷物検査処理に係る
もの等、前記ハードディスク装置５４から前記主記憶装
置５２へと読み込まれたプログラムモジュール等を実行
する。前記ハードディスク装置５４には、本実施例に係
るプログラムモジュールやデータ等が記憶されており、
必要に応じて前記主記憶装置５２へと読み出されるよう
になっている。前記フロッピディスク装置５８は、種々
のプログラムモジュールやデータの、他のコンピュータ
システム等との受け渡しに用いられている。前記入出力
装置６０は、他のデジタル処理装置との接続に用いられ
ている。例えば、複数の前記Ｏ／Ｅ変換器６０a を介し
て、複数の前記中継器４０（４０a 〜４０c ）と接続さ
れ、各印刷機の印刷物検査に係る画像デジタル信号が入
力される。

【００４５】前記キーボード６２は、前記ＣＲＴ制御装
置６４a 及び前記ＣＲＴ６４b と共に、オペレータが当
該集中検査装置本体８０を操作する際に用いられる。
又、該キーボード６２は、種々のデータ設定等の際にも
用いられる。又、前記ＣＲＴ制御装置６４a 及びＣＲＴ
６４b は、当該集中検査装置本体８０での印刷物検査結
果や、これに基づいた異常検出をオペレータに伝達する
ために用いられる。

【００４６】前記ネットワーク制御装置６６は、当該集
中検査装置本体８０をオンラインで他のコンピュータシ
ステムに接続するために用いられている。例えば、当該
集中検査装置本体８０で収集することができるデータや
印刷物検査結果、更には、当該集中検査装置本体８０の
自己診断結果や、当該集中検査装置本体８０に接続され
る機器や装置、例えば前記中継器４０や前記検出部３０
や印刷機１０の異常診断結果等を、他のコンピュータシ
ステムで集中監視することができるようになっている。
前記プリンタ装置６８は、当該集中検査装置本体８０で
の印刷物検査結果や、これに関する情報等を印字する。

【００４７】なお、前記システムバス７０は、前記ＣＰ
Ｕ５０が、前記主記憶装置５２や、前記ハードディスク
装置５４や、前記フロッピディスク装置５８や、前記入
出力装置６０や、前記キーボード６２や、前記ＣＲＴ制
御装置６４a や、前記ネットワーク制御装置６６や、前
記プリンタ装置６８にアクセスする際用いられる。該シ
ステムバス７０は、該システムバス７０に接続される装
置選択等に用いられるアドレスバスと、前記ＣＰＵ５０
がアクセスする際のデータ受け渡しに用いられるデータ
バスとを有している。

【００４８】図８は、前記印刷物集中検査装置本体の機
能構成を示すブロック図である。

【００４９】この図８に示されるように、当該印刷物集
中検査装置本体８０は、主として、判定部１００と、不
良画像記憶部８２と、不良表示部８４と、データ集計部
８６と、ネットワーク接続部８８とを有している。又、
キーボード６２、ＣＲＴ制御装置６４a 、ＣＲＴ６４b
及びプリンタ６８等が用いられている。これら判定部１
００や不良画像記憶部８２等で行われる処理や操作は、
当該集中検査装置本体８０に接続されている複数の印刷
機１０について行われる。又、印刷物検査結果等のデー
タは、これら印刷機１０間で共用されている。

【００５０】前記判定部１００は、光ファイバにより前
記中継器４０から光変調されて伝送された画像デジタル
信号を復調し、前記検出部電気回路３８の画像圧縮回路
３８c で行われたデータ圧縮を復元し、この結果のデジ
タル画像に従って印刷物検査を行う。

【００５１】前記不良画像記憶部８２は、前記判定部１
００で印刷物の不良が検出された場合、対応するフレー
ムのデジタル画像をデータ圧縮し、不良発生場所情報等
と共に前記ハードディスク装置５４に記憶する。該不良
発生場所情報は、印刷物の不良が検出されたフレーム番
号や、該フレーム内での欠陥部分の場所を示す情報であ
る。

【００５２】前記不良表示部８４は、前記キーボード６
２や前記ＣＲＴ制御装置６４a や前記ＣＲＴ６４b によ
るオペレータの操作で、あるいは印刷物不良発生時に自
動的に、前記不良画像記憶部８２で記憶された画像やこ
れに係る不良発生場所情報等を表示する。該不良表示部
８４では、この際、記憶されていた表示するデータ圧縮
されていたデジタル画像の復元を行う。

【００５３】このように、本実施例では印刷物不良が発
生した際に、そのフレームの画像及びこれに関する不良
発生場所情報を記憶するようにしているので、オペレー
タは随時印刷物不良の状態を把握したり観察したりする
ことができる。輪転印刷機で目視で印刷物不良が発見さ
れた場合、従来、ラベルの挿入やマーキング等が行われ
ていたが、その不良箇所や欠陥部分を観察するためには
巻き取られている印刷物を巻き戻さなければならないと
いう問題があった。しかしながら、本実施例によれば、
随時、印刷物の不良の把握や検査を行うことができる。

【００５４】前記データ集計部８６は、前記判定部１０
０で検出された印刷物不良の数等を集計し、この結果を
記憶する。又、この集計結果は、前記キーボード６２か
らのオペレータの操作等により、前記ＣＲＴ６４b に表
示したり、前記プリンタ装置６８に印字したりして出力
することができる。

【００５５】なお、前記ネットワーク接続部８８は、当
該集中検査装置本体の故障等の異常や、当該集中検査装
置本体８０に接続される機器や装置、例えば前記検出部
３０や前記中継器４０や印刷機１０の故障等の異常を検
出し、これをオンラインで他のコンピュータシステムに
伝達する。

【００５６】図９は、前記印刷物集中検査装置本体の判
定部の機能構成を示すブロック図である。

【００５７】この図９に示されるように、前記判定部１
００は、主に、光受信部１０２と、画像復元部１０４
と、一時画像メモリ１０６と、比較判定部１１０と、記
録部１１８とを備えている。これらの構成は、前記印刷
機１０の前記検出器３０毎に備える。あるいは、これら
の構成を１組備え、前記検出器３０毎の印刷物不良判定
を順次行う。

【００５８】前記光受信部１０２は、光ファイバを介し
て前記中継器４０から光変調されて送信された画像デジ
タル信号の復調を行う。前記画像復元部１０４は、前記
検出部電気回路３８内の画像圧縮回路３８c でデータ圧
縮されたデジタル画像を復元する。

【００５９】前記一時画像メモリ１０６は、前記比較判
定部１１０あるいは前記記録部１１８で行われる処理が
完了するまで、１画面分（１フレーム分）の画像を一時
記憶する。前記比較判定部１１０は、前記一時画像メモ
リ１０６に記憶された被検査画像と、予め当該比較判定
部１１０に記憶されている基準画像とを比較し、これら
画像の違いを判定する。該判定結果は、前記記録部１１
８へと出力される。該記録部１１８は、前記比較判定部
１１０からの印刷物不良の入力があると、該印刷物不良
に対応する前記一時画像メモリ１０６のデジタル画像を
読み出し、不良発生時刻や不良発生箇所等の各種情報と
共に、印刷物不良情報として一時記憶する。この際、該
記録部１１８は、前記デジタル画像のデータ圧縮をも行
う。又、一時記憶された前記種々の情報を、前記不良画
像記憶部８２や前記データ集計部８６からの要求に応じ
て出力する。

【００６０】図１０は、前記判定部の比較判定部の構成
を示すブロック図である。

【００６１】この図１０に示されるように、前記図９を
用いて説明した前記判定部１００の前記比較判定部１１
０は、合計４個の画像階層化回路１２０と、合計５個の
比較検査回路１３０と、検査結果決定回路１７０とを有
している。

【００６２】前記画像階層化回路１２０の１つには、前
記一時画像メモリ１０６に記憶されているデジタル画像
が入力される。又、該１つの画像階層化回路１２０の出
力は、他の前記画像階層化回路１２０の１つに入力さ
れ、該入力された画像階層化回路１２０の出力は、次の
前記画像階層化回路１２０の１つに入力される。残るも
う１つの前記画像階層化回路１２０も同様に接続され
る。このように、これら合計４個の画像階層化回路１２
０は、それぞれのデジタル画像入力部分及びそれぞれの
デジタル画像出力部分に関して、順次接続するというデ
イジチェイン接続されている。

【００６３】又、これら合計４個の画像階層化回路１２
０のそれぞれの他の出力、即ちこれら画像階層化回路１
２０のそれぞれの抽出画像出力は、それぞれ前記比較検
査回路１３０に入力されている。なお、第４個目の前記
画像階層化回路１２０から出力されるデジタル画像につ
いては、第５個目の前記比較検査回路１３０に入力され
ている。

【００６４】これら合計５個の比較検査回路１３０それ
ぞれから出力される仮判定結果は、全て前記検査結果決
定回路１７０へと入力される。

【００６５】前記画像階層化回路１２０は、画像周波数
成分フィルタ、即ち後述する低域通過回路１２２や高域
通過回路１２６を有し、被検査画像の周波数成分の抽出
により、合計２個の特性の異なる出力画像を得る。即
ち、該画像階層化回路１２０は、特性の異なる前記デジ
タル画像の出力と前記抽出画像の出力とを得る。従っ
て、該画像階層化回路１２０をこの図１０に示されるよ
うに接続することにより、合計５個の特性の異なる出力
画像を得ることができる。本実施例では、これら合計４
個の画像階層化回路１２０により、本発明の画像階層化
手段が構成されている。

【００６６】なお、本発明の画像階層化手段はこのよう
に複数の前記画像回析回路１２０をデイジチェイン接続
したものに限定すされるものではないが、しかしなが
ら、このようにデイジチェン接続する構成によれば、１
つの前記画像階層化回路１２０を設計することにより、
出力画像の数が異なる種々の前記画像階層化手段を設計
することができる。

【００６７】前記比較検査回路１３０は、前記画像階層
化回路１２０から出力された抽出画像と、該抽出画像に
対応する当該比較検査回路１３０内に予め記憶されてい
る基準画像とを比較して所定の検査結果を得る。前記検
査結果決定回路１７０は、合計５個の前記比較検査回路
１３０それぞれから入力される仮判定結果を基に、全体
的な判定結果を得るというものである。該検査結果決定
回路１７０は、入力された仮判定結果のうち１つでも不
良の判定があれば、総合的な判定結果を不良とするとい
うものであり、具体的には５入力ＯＲ回路が用いられて
いる。

【００６８】図１１は、前記判定部の画像階層化回路の
第１例の構成を示すブロック図である。

【００６９】この図１１に示されているように、前記判
定部１００に用いられている前記画像階層化回路１２
０、即ち前記図１０の前記画像階層化回路１２０の１つ
は、主として、低域通過回路１２２と、画像間引回路１
２４とを備えている。前記低域通過回路１２２は、所定
のカットオフ周波数ＦＣの低域通過フィルタである。該
低域通過回路１２２は、入力されたデジタル画像から、
前記カットオフ周波数ＦＣより低い画像空間周波数成分
を抽出し出力する。前記画像間引回路１２４は、前記低
域通過回路１２２から出力されたデジタル画像（画素画
像）の画素数を減少させる。なお、これら低域通過回路
１２２と画像間引回路１２４とを複合的に構成してもよ
い。

【００７０】このように、前記画像階層化回路の第１例
は、入力されたデジタル画像をそのまま抽出画像として
出力すると共に、前記低域通過回路１２２及び前記画像
間引回路１２４を通過させて所定のデジタル画像を出力
する。このようにして、当該画像階層化回路１２０の第
１例は、入力したデジタル画像を基に、特性の異なる２
つの出力画像を得る。

【００７１】図１２は、前記比較判定部１１０に用いら
れる前記画像階層化回路１２０、即ち前記図１０に示さ
れる前記画像階層化回路１２０の１つの第２例の構成が
示されている。この図１２に示される画像階層化回路１
２０は、主として、低域通過回路１２２と、画像間引回
路１２４と、高域通過回路１２６とにより構成されてい
る。前記低域通過回路１２２と前記画像間引回路１２４
とは、前記画像階層化回路１２０の第１例の同符号のも
のと同一のものである。

【００７２】前記高域通過回路１２６は、所定のカット
オフ周波数ＦＣの高域通過フィルタであり、入力される
デジタル画像の前記カットオフ周波数ＦＣより高い画像
空間周波数成分を抽出し出力する。該高域通過回路１２
６の出力は、当該画像階層化回路１２０の抽出画像の出
力となる。

【００７３】このように、本実施例の画像階層化回路の
第２例は、前記低域通過回路１２２に加え、更に該低域
通過回路１２２と同じカットオフ周波数ＦＣの前記高域
通過回路１２６を備え、これらにより合計２個の特性の
異なる２つの出力画像、即ち抽出画像とデジタル画像と
を出力している。

【００７４】なお、前記画像階層化回路の第１例及び第
２例で用いられている前記低域通過回路１２２及び前記
高域通過回路１２６は、デジタルシグナルプロセッサ
（ＤＳＰ）や通常のＣＰＵ（central processing unit
）、あるいは所定の算術論理演算回路等により構成す
ることができる。又、前記画像間引回路１２４について
も同様に構成することができる。

【００７５】図１３は、本実施例での画像階層化と総画
素数との関係を示す線図である。

【００７６】この図１３に示されるように、本実施例で
は、総画素数２５６×２５６画素の第０階層デジタル画
像Ｖ₀ が、その低域画像空間周波数成分が抽出され、総
画素数が間引きされ、順次、第１階層デジタル画像Ｖ₁
〜第４階層デジタル画像Ｖ₄となっていく。これら第０
階層デジタル画像Ｖ₀ から第４階層デジタル画像Ｖ₄ま
での総画素数の間引きは、総画素数が順次１／４となっ
ていくというものであり、隣接する４画素を順次統合し
ていくというものである。従って、各階層のデジタル画
像の総画素数は次の通りとなる。

【００７７】第０階層デジタル画像Ｖ₀ の総画素数：２
５６×２５６＝６５５３６画素 第１階層デジタル画像Ｖ₁ の総画素数：１２８×１２８
＝１６３８４画素 第２階層デジタル画像Ｖ₂ の総画素数：６４×６４＝４
０９６画素 第３階層デジタル画像Ｖ₃ の総画素数：３２×３２＝１
０２４画素 第４階層デジタル画像Ｖ₄ の総画素数：１６×１６＝２
５６画素

【００７８】図１４は、本実施例での画像階層化と画像
空間周波数分布との関係を示す線図である。

【００７９】この図１４に示されるように、前記図１０
に示される合計４個の画像階層化回路１２０のそれぞれ
のカットオフ周波数ＦＣ₁ 〜ＦＣ₄ は、この図１０にお
いて下方に行く程低周波数となる。又、本実施例で特に
前記画像階層化回路１２０の第１例を用いた場合には、
該画像階層化回路１２０の抽出画像の出力は、順に、第
０階層デジタル画像Ｖ₀ 、第１階層デジタル画像Ｖ₁ 、
第２階層デジタル画像Ｖ₂ 、第３階層デジタル画像Ｖ₃
及び第４階層デジタル画像Ｖ₄ となる。一方、本実施例
で特に前記画像階層化回路１２０の第２例を用いた場合
には、合計４個の該画像階層化回路１２０から出力され
る抽出画像の出力は、それぞれ順に、高域周波数成分画
像Ｏ₀ 、高域周波数成分画像Ｏ₁ 、高域周波数成分画像
Ｏ₂ 、高域周波数成分画像Ｏ₃ 及び第４階層デジタル画
像Ｖ₄ となる。

【００８０】なお、図１５〜図２４は、それぞれ、前記
第０階層デジタル画像Ｖ₀ 〜第４階層デジタル画像
Ｖ₄ 、及び前記高域周波数成分画像Ｏ₀ 〜Ｏ₃ 、及び前
記第４階層デジタル画像Ｖ₄ の第２例の、それぞれの画
像の一例を示す画像図である。

【００８１】即ち、前記図１５は、前記第０階層デジタ
ル画像Ｖ₀ の一例を示す画像図である。前記図１６は、
前記高域周波数成分画像Ｏ₀ の一例を示す画像図であ
る。前記図１７は、前記第１階層デジタル画像Ｖ₁ の一
例を示す画像図である。前記１８は、前記高域周波数成
分画像Ｏ₁ の一例を示す画像図である。前記図１９は、
前記第２階層デジタル画像Ｖ₂ の一例を示す画像図であ
る。前記２０は、前記高域周波数成分画像Ｏ₂ の一例を
示す画像図である。前記図２１は、前記第３階層デジタ
ル画像Ｖ₃ の一例を示す画像図である。前記２２は、前
記高域周波数成分画像Ｏ₃ の一例を示す画像図である。
前記図２３は、前記第４階層デジタル画像Ｖ₄ の第１例
を示す画像図である。前記図２４は、前記第４階層デジ
タル画像Ｖ ₄ の第２例を示す画像図である。

【００８２】以下、数式を用いて、前記画像階層化回路
１２０の第２例を用いた前記比較判定部１１０の作用を
説明する。

【００８３】前記図１２において、前記画像階層化回路
１２０に入力される第n 階層デジタル画像Ｖ_n （x ，y
）に対して、前記低域通過回路１２２において実現さ
れる低域通過フィルタ（即ち画像空間周波数フィルタ）
Ｋ_L （i ，j ）を用いた処理は、間引き処理を同時に行
う場合には次式のように表わすことができる。

【００８４】 Ｖ_n+1 （x ，y ）＝Ｋ_L （i ，j ）＊Ｖ_n （２x ，２y ） …（１）

【００８５】又、該低域通過フィルタＫ_L （i ，j ）を
用いた処理で、間引き処理を別に行う場合には、まず、
次式で示される処理を行う（フィルタ処理）。

【００８６】 Ｖ_n ′（x ，y ）＝Ｋ_L （i ，j ）＊Ｖ_n （x ，y ） …（２）

【００８７】この後、間引き処理として次式に示される
処理を行う（間引き処理）。

【００８８】 Ｖ_n+1 （x ，y ）＝Ｖ_n ′（２x ，２y ） …（３）

【００８９】ここで、「＊」は、コンボリューション演
算を表わす。なお、前記低域通過フィルタＫ_L として
は、通常次式のようなものが用いられる。

【００９０】１／９ １／９ １／９ １／９ １／９ １／９ １／９ １／９ １／９ …（４）

【００９１】なお、前記（２）式では３×３画素の低域
通過フィルタＫ_L の一例を示しているが、５×５画素や
７×７画素を対象とした場合であってもよい。このよう
にフィルタの画素数が多い程、空間フィルタの遮断特性
を向上することができることは言うまでもない。

【００９２】続いて、前記高域通過回路１２６において
実現される高域通過フィルタ（画像空間周波数フィル
タ）Ｋ_H （i ，j ）とし、該高域通過回路１２６から得
られる抽出画像を高域周波数成分画像Ｏ_n とすると、該
高域通過回路１２６で行われる処理は、次式のように表
わすことができる。

【００９３】 Ｏ_n （x ，y ）＝Ｋ_H （i ，j ）＊Ｖ_n （x ，y ） …（５）

【００９４】なお、前記高域通過フィルタＫ_H （i ，j
）としては、一例として、３×３画素の次式に示され
るようなものを用いることができる。

【００９５】−１ −１ −１ −１ ８ −１ −１ −１ −１ …（６）

【００９６】この（４）式に示される高域通過フィルタ
Ｋ_H （x ，y ）は、８方向のラプラシアンとして知られ
るフィルタである。

【００９７】図２５は、前記比較判定部の前記比較検査
回路の構成を示すブロック図である。

【００９８】この図２５においては、前記図１０におい
て示された前記比較判定部１１０の合計５個の前記比較
検査回路１３０の１つの構成が示されている。この図２
５に示されるように、本実施例で用いられる比較検査回
路１３０は、主として、切替器１３２と、基準画像メモ
リ１３４と、被検査画像メモリ１３６と、閾値決定部１
３８と、閾値メモリ１４０と、比較検査手段１４２とに
より構成されている。

【００９９】前記切替器１３２は、前記画像階層化回路
１２０から出力される前記抽出画像を、前記基準画像メ
モリ１３４又は前記被検査画像メモリ１３６へと切り替
える。該切替器１３２は、接点a と接点c とがオン状態
となると、前記抽出画像が前記被検査画像メモリ１３６
に書き込まれる。一方、接点b と接点c とがオン状態と
なると、前記抽出画像は、前記基準画像メモリ１３４へ
と書き込まれる。

【０１００】本実施例の画像検査装置において、所定の
画像検査開始にあたっては、まず、前記切替器１３２を
接点b へと切り替えることで、まず良品のデジタル画像
を前記基準画像メモリ１３４に書き込む。又、この後の
画像検査中には、前記切替器を接点a へと切り替え、逐
次前記検出部３０及び前記中継機４０から送られ、前記
画像復元部１０４及び前記一時画像メモリ１０６、又必
要に応じていくつかの前記画像階層化回路１２０を経て
入力された抽出画像は、前記被検査画像メモリ１３６へ
と書き込まれる。

【０１０１】前記閾値決定部１３８は、前記比較検査手
段１４２での画像検査の際用いられる所定の閾値Ｔ（x
，y ）を求める。求められた該閾値Ｔ（x ，y ）は、
前記閾値メモリ１４０に記憶される。該閾値メモリ１４
０は、当該比較検査回路１３０に入力される前記抽出画
像の総画素数と同じ数の複数の閾値Ｔ（x ，y ）を記憶
することができる記憶容量を有している。

【０１０２】前記閾値決定部１３８及び前記閾値メモリ
１４０に図２６に示されるものを用いた場合、前記比較
検査手段１４２は、次式に従って、検査結果Ｇ（x ，y
）を前記抽出画像の各画素毎に求める。

【０１０３】 Ｇ（x ，y ）＝ＮＧ：｜Ｓ（x ，y ）−Ｉ（x ，y ）｜＞Ｔ（x ，y ） ＧＯＯＤ：｜Ｓ（x ，y ）−Ｉ（x ，y ）｜≦Ｔ（x ，y ） …（７）

【０１０４】なお、（x ，y ）は前記抽出画像、あるい
は前記基準画像メモリ１３４に記憶されている前記基準
画像、あるいは前記被検査画像メモリ１３６に記憶され
ている被検査画像の各画素の位置を示しており、Ｓ（x
，y ）は前記基準画像の各画素であり、Ｉ（x ，y ）
は前記被検査画像の各画素である。又、「ＮＧ」は検査
結果が不良の判定を示し、「ＧＯＯＤ」は検査結果が良
であることを示す。

【０１０５】このように、本実施例では、被検査画像の
検査を各画素毎に行うと共に、この際の許容閾値を各画
素毎に有するようにしている。前記基準画像と前記被検
査画像との位置ずれがあると、前記比較検査手段１４２
で正確な検査を行うことができなくなる。特に、前記基
準画像や前記被検査画像の絵柄で濃度変化が激しい部分
では、１画素未満の位置ずれであっても、その悪影響が
非常に大きくなってしまう。しかしながら、本実施例で
は、このように濃度変化の激しい部分の閾値を自動的に
大きな値にすることができ、誤った検査を行ってしまう
ことを低減することができる。

【０１０６】図２６は、前記比較検査回路の閾値決定部
の第１例の構成を示すブロック図である。

【０１０７】この図２６では、前記図２５の前記閾値決
定部１３８の構成が示されている。

【０１０８】前記閾値決定部１３８は、主として、最大
値算出回路１５０と、最小値算出回路１５２と、差分回
路１５４と、演算回路１５６とにより構成されている。
該閾値決定部１３８では、前記基準画像と前記被検査画
像との横方向や縦方向でのそれぞれの最大位置ずれ量、
即ち横方向（Ｘ軸方向）の最大位置ずれ量ＭＸ及び縦方
向（Ｙ軸方向）の最大位置ずれ量ＭＹ、及び前記比較検
査手段までの入力系で見込まれるノイズ等を許容するた
めに設けられた許容値ＮＭＩＮ、及び次式により閾値Ｔ
（x ，y ）が求められる。

【０１０９】 Ｔ（x ，y ）＝Ｍax［ＮＭＩＮ，Ｍax｛Ｓ（x ＋i ，y ＋j ）｝ −Ｍin｛Ｓ（x ＋i ，y ＋j ）｝］ …（８）

【０１１０】ここで、Ｍax（Ａ，Ｂ・・・）は、Ａ、Ｂ
・・・のうちの最大値を返す関数であり、Ｍin（Ａ，Ｂ
・・・）は、Ａ、Ｂ・・・のうちの最小値を返す関数で
ある。又、i は−ＭＸからＭＸまで変化する変数であ
り、j は−ＭＹからＭＹまで変化する変数である。又、
前記（６）式において、「Ｍax｛Ｓ（x ＋i ，y ＋j
）｝」の演算は、前記最大値算出回路１５０で行われ
るものであり、i が−ＭＸからＭＸまで、j が−ＭＹか
らＭＹまでの範囲での、最大濃度値を求めるというもの
である。「Ｍin｛Ｓ（x ＋i ，y ＋j ）｝」は、前記最
小値算出回路１５２で行われる演算であり、i が−ＭＸ
からＭＸまで、j が−ＭＹからＭＹまでの範囲での最小
濃度値を求めるというものである。従って、前記（６）
式は、入力系で見込まれるノイズ等も考慮しながら、許
容範囲内での位置ずれが発生したときの最大濃度値と最
小濃度値との差から注目画素についての許容閾値Ｔ（x
，y ）を求めるというものである。

【０１１１】なお、前記（６）式において、最大位置ず
れ量が横方向についても縦方向についても１画素より小
さい場合には、次式のように変形することができる。

【０１１２】 Ｔ（x ，y ）＝Ｍax（ＮＭＩＮ，［Ｍax｛Ｓ（x ＋i ，y ＋j ）｝ −Ｍin｛Ｓ（x ＋i ，y ＋j ）｝］×r ％） …（９）

【０１１３】ここで、i 及びj は±１の範囲であり、r
は０％以上１００％以下の数値である。

【０１１４】図２７は、前記比較検査回路の閾値決定部
の第２例の構成を示すブロック図である。

【０１１５】この図２７に示される閾値決定部１３８
は、主として、最大値算出回路１６０と、最小値算出回
路１６２と、演算部１６４とにより構成されている。当
該閾値決定部１３８では、上限許容閾値Ｔ_H （x ，y ）
及び下限許容閾値Ｔ_L （x ，y）が求められ、これら許
容閾値はそれぞれ前記閾値メモリ１４０内の上限閾値メ
モリ１４０a あるいは下限閾値メモリ１４０b にそれぞ
れ書き込まれる。

【０１１６】前記閾値決定部１３８では、次式に示され
るような演算が行われる。

【０１１７】 Ｔ_H （x ，y ）＝Ｍin［ＭＸＶ，Ｍax｛Ｓ（x ＋i ，y ＋j ）｝＋ＮＭＩＮ］ …（１０）

【０１１８】 Ｔ_L （x ，y ）＝Ｍax［０，Ｍin｛Ｓ（x ＋i ，y ＋j ）｝−ＮＭＩＮ］ …（１１）

【０１１９】ここで、ＭＸＶは、前記閾値決定部１３８
及び前記閾値メモリ１４０等でデータ表現可能な最大値
である。又、これら（８）式及び（９）式は、最大位置
ずれ量が１画素未満時には、前記（７）式と同様に変形
することができる。

【０１２０】なお、前記閾値決定部１３８が後述する第
２例のものである場合には、当該比較検査手段１４２で
は、次式により検査結果Ｇ（x ，y ）を求める。

【０１２１】 Ｇ（x ，y ）＝ＯＶＥＲ：Ｉ（x ，y ）＞Ｔ_H （x ，y ） ＵＮＤＥＲ：Ｉ（x ，y ）＜Ｔ_L （x ，y ） ＧＯＯＤ：otherwise …（１２）

【０１２２】このように、前記閾値決定部１３８の第２
例を用いた場合には、前記比較検査手段１４２での検査
不良の判定をより細かく行うことができる。即ち、許容
範囲以上となった不良であるか、あるいは許容範囲以下
となった不良であるかを区別することができる。このよ
うな前記閾値決定部１３８の第２例を用いた場合には、
前記第１例に比べ前記閾値メモリ１４０の記憶容量が２
倍に増えてしまうが、しかしながら、前記基準画像メモ
リ１３４は検査時には用いないので、これを流用しても
よい。従って、該第２例を用いた場合には、その不良が
色の欠如によるか、色の付加によるかを区別でき、又、
光源むらの問題の低減や、絶対値化処理を行わないこと
による検査処理の高速化を図ることができる。

【０１２３】

【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、基
準画像と被検査画像との、対応する画素単位毎の、濃度
の比較検査に用いる閾値をより合理的に求め、これによ
り、該比較検査の精度や信頼性を向上させることができ
るという優れた効果を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の要旨を示すブロック図

【図２】本発明が適用された印刷機及び印刷物集中検査
装置の構成を示すブロック図

【図３】前記印刷物集中検査装置の検出部の印刷物走行
方向から見た側面図

【図４】前記検出部の検出部電気回路のブロック図

【図５】前記印刷物集中検査装置の中継器のハードウェ
ア構成を示すブロック図

【図６】前記中継器の機能構成を示すブロック図

【図７】前記印刷物集中検査装置の本体のハードウェア
構成を示すブロック図

【図８】前記印刷物集中検査装置本体の機能構成を示す
ブロック図

【図９】前記印刷物集中検査装置本体の判定部の機能構
成を示すブロック図

【図１０】前記判定部の比較判定部の構成を示すブロッ
ク図

【図１１】前記比較判定部の画像階層化回路の第１例の
構成を示すブロック図

【図１２】前記比較判定部の画像階層化回路の第２例の
構成を示すブロック図

【図１３】前記実施例での画像階層化と総画素数との関
係を示す線図

【図１４】前記実施例での画像階層化と空間周波数分布
との関係を示す線図

【図１５】前記実施例が対象とする第０階層デジタル画
像の一例を示す画像図

【図１６】前記実施例が対象とする第０階層の高域周波
数成分画像の一例を示す画像図

【図１７】前記実施例が対象とする第１階層デジタル画
像の一例を示す画像図

【図１８】前記実施例が対象とする第１階層の高域周波
数成分画像の一例を示す画像図

【図１９】前記実施例が対象とする第２階層の被検査画
像の一例を示す画像図

【図２０】前記実施例が対象とする第２階層の高域周波
数成分画像の一例を示す画像図

【図２１】前記実施例が対象とする第３階層デシタル画
像の一例を示す画像図

【図２２】前記実施例が対象とする第３階層の高域周波
数成分画像の一例を示す画像図

【図２３】前記実施例が対象とする第４階層デシタル画
像の第１例を示す画像図

【図２４】前記実施例が対象とする第４階層デジタル画
像の第２例を示す画像図

【図２５】前記比較判定部の比較検査回路の構成を示す
ブロック図

【図２６】前記比較検査回路の閾値決定部の第１例の構
成を示すブロック図

【図２７】前記比較検査回路の閾値決定部の第２例の構
成を示すブロック図

【符号の説明】

１…印刷物 １０…印刷機 １２…印刷ユニット １４…フィードロール １６…巻上部 １８…ロータリエンコーダ ２０…限界値算出手段 ２２…検査閾値算出手段 ２４…閾値メモリ ３０…検出部 ３２a …ランプハウス ３２b …光源 ３３…光ファイバ ３４…ライトガイド ３４a …スリット ３４b …ケーシング ３４c …ガラス棒 ３４d …塗料 ３６…ラインセンサカメラ ３８…検出部電気回路 ３８a …Ａ／Ｄ変換部 ３８b …フレームメモリ ３８c …画像圧縮回路 ３８d …光通信部 ３８e …ドライバ ３８g …Ａ／Ｄ変換器 ４０…中継器 ４０a …ＣＰＵ ４０b …ＲＯＭ ４０c …ＲＡＭ ４０d …並列入出力回路 ４０e …カウンタ ４０f …Ｏ／Ｅ変換器 ４０g 、４０h …シリアル変換器 ４０i …Ｅ／Ｏ変換器 ４０j …バス ４０m …画像タイミング制御部 ４０n …メモリ ４０p …画像信号中継部 ５０…ＣＰＵ ５２…主記憶装置 ５４…ハードディスク装置 ５８…フロッピディスク装置 ６０…入出力装置 ６０a …Ｏ／Ｅ変換器 ６２…キーボード ６４a …ＣＲＴ制御装置 ６４b …ＣＲＴ ６６…ネットワーク制御装置 ６８…プリンタ装置 ８０…印刷物集中検査装置本体 ８２…不良画像記憶部 ８４…不良表示部 ８６…データ集計部 ８８…ネットワーク接続部 １００…判定部 １０２…光受信部 １０４…画像復元部 １０６…一時画像メモリ １１０…比較判定部 １１８…記録部 １２０…画像階層化回路 １２２…低域通過回路 １２４…画像間引回路 １２６…高域通過回路 １３０…比較検査回路 １３２…切替器 １３４…基準画像メモリ １３６…被検査画像メモリ １３８…閾値決定部 １４０…閾値メモリ １４２…比較検査手段 １５０…最大値算出回路 １５２…最小値算出回路 １５４…差分回路 １５６…演算回路 １６０…最大値算出回路 １６２…最小値算出回路 １６４…演算部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 橋本 弘之 東京都新宿区市谷加賀町一丁目１番１号 大日本印刷株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−176837（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−296687（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−53390（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−22181（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G06T 7/00 G06T 1/00 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】基準画像と被検査画像との、対応する画素
   単位毎の、濃度の比較検査を行う画像検査用の閾値決定
   装置にあって、前記基準画像及び被検査画像を階層化する画像階層化手
   段と、 前記基準画像を元に、前記被検査画像の各画素単位毎の
   濃度の許容変動範囲を階層毎に推定する限界値算出手段
   と、 該許容変動範囲が大きい時は、前記被検査画像の各階層
   毎及び各画素単位毎の検査閾値を大きくし、前記許容変
   動範囲が小さい時は、前記検査閾値を小さくする検査閾
   値算出手段とを備えたことを特徴とする画像検査用の閾
   値決定装置。
2. 【請求項２】基準画像と被検査画像との、対応する画素
   単位毎の、濃度の比較検査を行う画像検査装置におい
   て、前記基準画像及び被検査画像を階層化する画像階層化手
   段と、 前記基準画像を元に、前記被検査画像の各画素単位毎の
   濃度の許容変動範囲を階層毎に推定する限界値算出手段
   と、 該許容変動範囲が大きい時は、前記被検査画像の各階層
   毎及び各画素単位毎の検査閾値を大きくし、前記許容変
   動範囲が小さい時は、前記検査閾値を小さくする検査閾
   値算出手段と、 該検査閾値を、前記被検査画像の各階層毎及び各画素単
   位毎に記憶する閾値メモリと、 前記基準画像と前記被検査画像との、対応する階層毎の
   画素単位毎の濃度差分値、及び、該画素単位に対応する
   前記検査閾値から、前記被検査画像を階層毎に検査する
   比較検査手段と、 各階層の判定結果のうち１つでも不良の判定があれば、
   総合的な判定結果を不良とする検査結果決定手段と を備
   えたことを特徴とする画像検査装置。