JP3230477B2 - メッキ装置及びウェーハのメッキ方法 - Google Patents

メッキ装置及びウェーハのメッキ方法

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JP3230477B2
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法生 副山
成治 岡治
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は半導体等のウェー
ハにバンプメッキ等選択的に電解メッキを行なうに改良
された方法及びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のメッキ方法を図3に示すメッキ装
置の断面図を用いて説明する。特開昭63−23235
4号公報や特開平3−214736号公報に記載のよう
に基板ウェーハ1a上に給電の電極を兼ねる下地金属層
2を形成し、その上にレジスト膜3を選択メッキする部
分を開口して形成したウェーハ1を準備する。
【0003】一方メッキ装置は内径が略ウェーハ1に等
しいカップ状で内部底面にメッキ液噴出口4を備えたメ
ッキ槽5の上縁の数箇所にウェーハ1を受ける先端鋭利
なカソードピン6を備える。そしてメッキ槽5の底の方
にアノード電極7を備える。
【0004】そしてウェーハ1のメッキをする面(表
面)を下側にしてカソードピン6上に配置し、裏面(上
面)から図示しない押圧手段で押さえるとカソードピン
6の先端がレジスト膜3を突き破り下地金属層2に接触
する。その状態でメッキ液噴出口4からメッキ液を吹き
上げウェーハ1のメッキ面に当てアノード電極7とカソ
ードピン6との間に通電してメッキを行なう。尚、オー
バーフローしたメッキ液は液路8で受けられ循環使用さ
れる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところがこのようにレ
ジスト層をカソードピンが突き破って下地金属層と電気
的接触をとる方法であるからレジスト層が厚くなると接
触が不十分となりがちである。そこでカソードピンに接
触する部分のレジストを除去したり、薄くしたりする提
案がある。しかしながらこれらの方法は選択メッキを行
なう正規のパターンとは別にパターニングする必要が有
るので手間がかかると言う問題があり、除去する方法は
その部分にもメッキが成長し、電流や例えば金の様な高
価なメッキ材料が無駄になり、場合によってはダイシン
グ等後工程の邪魔になる場合もある。そこでこの発明は
レジスト膜を残したままでもより確実に接触がとれ、安
定してメッキが行なえる方法を提供する。
【0006】
【課題を解決するための手段】そこでこの発明のメッキ
装置は内底にメッキ液の噴出口を有するメッキ槽の上縁
に設けたカソードピンにウェーハをメッキする面を下に
して配置し、上面から押圧してカソーソピンとウェーハ
との電気的接触を確保して電解メッキを行なうメッキ装
置に於いて、メッキ槽の上縁に表面でウェーハを受ける
柔軟な絶縁材が配置され、前記カソードピンが、先端鋭
利で、前記柔軟な絶縁材中でこの絶縁材によりウェーハ
に対して一定角度に傾斜支持され、かつ前記柔軟な絶縁
材より先端が一定量突き抜けるように固定配置され、
ェーハへの押圧によりたわむと共に接触点にすべりが起
り、さらにたわんで前記柔軟な絶縁材にめりこむよう
に押しつけられメッキ液からシールされることを特徴と
する。上記の構成によればウェーハがカソードピンに押
圧される際にピン先の接触点がすべるのでピン先に付着
した異物等による接触不要がなくなる。さらにウェーハ
がレジスト膜を被っている場合でもピン先端のすべりに
よりレジストを削るように突きささるので確実に接触が
とれる。さらに、この発明のメッキ方法は表面に下地金
属層、その上にメッキする部分を開口したレジスト膜を
形成したウェーハを準備し、上記のメッキ装置のカソー
ドピン上にレジスト膜が接するように配置し、前記すべ
りによりカソードピン先端がレジスト膜を削るように突
きさし下地金属層と接触をとることを特徴とする。この
方法によれば、ウェーハがレジスト膜を被っていても確
実に接触をとることができる。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明におけるカソードピンは弾
性のある金属材料でしかも酸化等変質しにくい物が良
く、白金が好適する。ピアノ線のような鉄系の材料に金
のような安定な金属をメッキしても良い。太さはこしの
強さにより選定する必要があり、ウェーハが割れない程
度の押圧でたわむような細いものでなければならない
が、細すぎるとたわみが生じてもピンの先端がすべらな
いのでレジスト膜を削りながらのすべりが生ずるような
太さが必要である。ウエーハに対するピンの角度は直角
に近いとすべりが起きにくくウエーハとの角度が小さい
ほどすべりが起こり易いが角度が小さすぎるとレジスト
膜を削りながらのすべりでなくレジシト膜の表面をすべ
るので適当な角度をピンのこしの強さに応じて選定すれ
ば良い。
【0008】
【実施例】この発明の一実施例について図面を用いて説
明する。図1はその要部断面図であり、(A)はウェー
ハを置いた状態を示し、(B)はウエーハを裏面より押
圧しセットが完了した状態を示す。このメッキ装置も内
径が略ウェーハ1に等しいカップ状で内部底面にメッキ
液噴出口(図示せず)を備えたメッキ槽5を具備する。
そしてメッキ槽5の底の方にアノード電極(図示せず)
を備える点も従来同様である。尚、オーバーフローした
メッキ液は複数のメッキ槽5全体を受ける大きな受け皿
容器(図示せず)で受けて循環使用する。
【0009】メッキ槽5上縁の数箇所(この場合等間隔
に3箇所)にカソードピン取りつけ具11を備える。カ
ソードピン取りつけ具11のウェーハ1を受ける頂面に
は柔軟な絶縁材この場合はシリコンゴム12が配置さ
れ、それを突き抜けるように先端鋭利なカソードピン1
6が配置されている。カソードピン16はウエーハ1に
対して略45度に傾斜してシリコンゴム12より先端を
突出している。そして他端はカソードピン取りつけ具1
1の外まで伸びて電極板17に溶接されている。そして
電極板17がネジ18でカソードピン取りつけ具11に
固定されている。カソードピン16は1mmφの白金線
の先端を斜め切り状に尖らしたもので切り取られた面が
下側を向いている。そして各カソードピン16の先端が
ウェーハ1の外周辺を受けるように配置している。
【0010】そして各カソードピン16の先端がウェー
ハ1の外周辺を受ける位置に対応してウェーハ1の裏面
を押圧する押さえ治具19が配置されている。
【0011】次にこのメッキ装置によるメッキ作業を説
明する。ウェーハ1が基板ウェーハ上に給電の電極を兼
ねる下地金属層を形成し、その上にレジスト膜を選択メ
ッキする部分を開口して形成したものである点は従来と
同様である。そして図1(A)のようにウェーハ1のメ
ッキをする面(表面)を下側にしてカソードピン16上
に配置し、裏面(上面)から押圧治具19で押さえると
図1(B)に示すようにカソードピン16はたわむよう
に曲がり先端がレジスト膜(図示せず)を突き破り、レ
ジスト膜を削るようにすべり下地金属層(図示せず)に
接触する。その際図2に示す様にカソードピン16の先
端は斜め切り状に鋭利に尖っていてしかも切り取り面1
6aが下側なのでレジスト膜3を削りながらすべるとき
なかへ(上方に)食込んで行き表面をすべることが防止
される。そして最初シリコンゴム12より突出していた
カソードピン16の先端部はウェーハ1によりシリコン
ゴム12にめりこむように押しつけられる。従ってカソ
ードピン16はシリコンゴム12にシールされてメッキ
液にほとんど接触せず、メッキされて太くなるのを防止
して長時間の使用を可能としている。その状態でメッキ
液噴出口(図示せず)からメッキ液(図示せず)を吹き
上げウェーハ1のメッキ面に当てアノード電極(図示せ
ず)と電極板17との間に通電してメッキを行なう。
【0012】この実施例によれば厚み20μmのポジ型
フォトレジスト膜を確実に破って接触をうることができ
る。さらに、カソードピンとの接触部分のレジスト膜を
あらかじめ除去しておく方法においてもカソードピンの
先端がすべるので先端に異物が付着したり先端が酸化等
変質して接触不良となるようなことはなくなる。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように、この発明よれば、
ウェーハが選択メッキのためのレジスト膜を被っていて
も確実にカソードピンと接触がとれる。レジスト膜を被
っていない場合にカソードピンの先端に異物が付着して
接触不良となるトラブルがなくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)この発明の一実施例のメッキ装置にウェ
ーハを置いた断面図 (B)その後ウェーハを押圧してセットが完了した状態
を示す断面図
【図2】 この発明の作用を説明するための要部拡大断
面図
【図3】 従来のメッキ装置の断面図
【符号の説明】
1 ウェーハ 2 下地金属層 3 レジスト膜 5 メッキ槽 12 シリコンゴム(柔軟な絶縁材) 6 カソードピン 16a 切り取り面 19 押圧治具
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C25D 7/12 H01L 21/288 H01L 21/60

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】内底にメッキ液の噴出口を有するメッキ槽
    の上縁に設けたカソードピンにウェーハをメッキする面
    を下にして配置し、上面から押圧してカソーソピンとウ
    ェーハとの電気的接触を確保して電解メッキを行なうメ
    ッキ装置に於いて、前記メッキ槽の上縁に表面でウェーハを受ける柔軟な絶
    縁材が配置され、 前記カソードピンが、先端鋭利で、前記柔軟な絶縁材中
    でこの絶縁材によりウェーハに対して一定角度に傾斜支
    持され、かつ前記柔軟な絶縁材より先端が一定量突き抜
    けるように固定配置され、ウェーハへの押圧によりたわ
    むと共に接触点にすべりが起こり、さらにたわんで前記
    柔軟な絶縁材にめりこむように押しつけられメッキ液か
    らシールされることを特徴とするメッキ装置。
  2. 【請求項2】前記カソードピンの先端は斜め切り状に尖
    りその切り取り面が下側に向け配置されている請求項1
    に記載のメッキ装置。
  3. 【請求項3】表面に下地金属層、その上にメッキする部
    分を開口したレジスト膜を形成したウェーハを準備し、
    上記請求項1又は2のメッキ装置のカソードピン上にレ
    ジスト膜が接するように配置し、前記すべりによりカソ
    ードピン先端がレジスト膜を削るように突き破り下地金
    属層と接触をとることを特徴とするウェーハのメッキ方
    法。
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