JP3229395B2 - ラベルプリンタ - Google Patents

ラベルプリンタ

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JP3229395B2
JP3229395B2 JP31662592A JP31662592A JP3229395B2 JP 3229395 B2 JP3229395 B2 JP 3229395B2 JP 31662592 A JP31662592 A JP 31662592A JP 31662592 A JP31662592 A JP 31662592A JP 3229395 B2 JP3229395 B2 JP 3229395B2
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栄治 北村
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、感熱紙に熱を加える
ことにより印字するサ−マルプリンタのようなラベルプ
リンタに関するものである。
【0002】
【従来の技術】サーマルプリンタは、ラベルの移動方向
と直交する方向に、熱により印字する多数の印字素子を
持つ印字ヘッドを備えている。従来より、サーマルプリ
ンタでは、熱により印字ヘッドが損傷することから、そ
の検査つまり「ヘッド切れ」のチェックを行っている
(たとえば、特公昭62−17550号公報参照)。こ
の検査は、たとえば図7のようなテストパターンTをラ
ベルLに印字させ、ラベルLの移動方向Aに伸びる未印
字のラインRが存在するか否かによって印字ヘッド1の
合否を判定する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ここで、感熱紙からな
るラベルLの幅W1は、顧客によって異なっており、印
字ヘッド1の有効印字幅Wpよりも狭い場合がある。こ
の場合、幅W1の狭いラベルLを用いて検査したので
は、プラテン2に対して印字ヘッド1が傾き、また、調
整しづらいので、正確なヘッド検査および調整を行うこ
とができない。このようなことから、検査の際には、有
効印字幅(最大印字幅)Wpと同一幅のラベルLを用い
て、印字ヘッド1を検査するのが最も好ましい。
【0004】しかし、従来は、ラベルLの幅W1に合わ
せた印字幅をユーザごとにプログラムなどによって一定
としていたので、検査の際に印字幅を変更するために
は、プログラムROMなどを入れ換える必要があるな
ど、極めて面倒な操作を必要としていた。
【0005】一方、検査モードにおいては、常に、印字
幅を有効印字幅Wpとすることも考えられる。しかし、
こうすると、有効印字幅Wpに合致したラベルLを用意
していない場合には、ラベルLのない部分の印字ヘッド
1が熱により損傷したり、プラテンローラを熱により傷
める原因となる。特に、テストパターンTは、通常の印
字よりも黒い部分(感熱させる部分)Bの面積が著しく
大きいので、印字幅よりもラベルの幅W1が小さいと、
印字ヘッド1やプラテン2を傷め易い。
【0006】この発明は、上記従来の問題に鑑みてなさ
れたもので、面倒な操作を伴うことなく、かつ、印字ヘ
ッドやプラテンを傷めることなく検査のできるラベルプ
リンタを提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明は、ラベルの幅を入力する手段と、基本テ
ストパターンを記憶しているプログラム記憶手段と、前
入力手段からラベルの幅情報と、プログラム記憶手
段に記憶された基本テストパターンとから、前記ラベル
幅に合わせたテストパターンを作成するテストパター
ン作成手段と、作成されたテストパターンに合わせて印
字するように印字ヘッドを制御するヘッド制御部と、
備えている。
【0008】
【作用】この発明によれば、ラベルの幅に合わせたテス
トパターンを作成するので、有効印字幅で検査を行うこ
とができる。その一方で、有効印字幅よりも狭い幅でも
検査を行うことができる。
【0009】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面にしたがって
説明する。図1は第1実施例を示す。図1において、キ
ー操作部3は、ラベルの幅を入力する入力手段を構成し
ている。このキー操作部3は、たとえばテンキーおよび
幅キーを備えており、この両キーからラベルの幅を入力
する。入力された幅は、幅信号wとしてCPU4のテス
トパターン作成手段5に出力される。
【0010】上記テストパターン作成手段5は、後述す
るように、上記幅信号wを入力とし、入力されたラベル
の幅に合わせた印字テストパターンを作成する。上記C
PU4は、上記テストパターン作成手段5の他に、通常
のモードにおいてラベルに印字する品番、バーコード、
加工日、価格、重量などの印字情報を演算したり、作成
する手段(図示せず)を備えており、マイクロコンピュ
ータ6に内蔵されている。このマイクロコンピュータ6
には、CPU4の他にプログラム記憶手段9およびパタ
ーン記憶手段7などのメモリを有している。
【0011】上記プログラム記憶手段9は、たとえばR
OMからなり、図2(a)に示す基本テストパターンT
1に相当するプログラムを記憶している。したがって、
このプログラム記憶手段9に記憶された基本テストパタ
ーンT1に相当するプログラムの内容は、固定されてい
る。一方、図1のパターン記憶手段7は、イメージRA
Mと呼ばれるRAMにより構成されており、図2
(a),(b)のようなラベル幅Wiに合致した基本テ
ストパターンT1、印字テストパターンTiの他に通常
の印字パターンをイメージとして記憶する。上記印字テ
ストパターンTiは、テストパターン作成手段5(図
1)により、基本テストパターンT1とラベル幅Wiに
基づいて作成される。したがって、上記印字テストパタ
ーンTiは、入力されたラベルの幅によって、その都度
変更される。なお、これらのテストパターンT1,Ti
の黒く塗った部分は、たとえば、1行が48ドットで移
動方向が35ドット分の面積に相当する。
【0012】上記印字テストパターンTiは、図1のヘ
ッド制御部8にパターン信号pとして出力される。ヘッ
ド制御部8は、印字ヘッド1のシフトレジスタ1aに上
記印字テストパターンTiのうちの1行分、つまり、ラ
ベルの移動方向の1ドット分の情報を出力する。上記シ
フトレジスタ1aは、この1行分の情報を次の1行分の
情報が入力されるまで記憶している。
【0013】つぎに、上記テストパターン作成手段5に
よる印字テストパターンTiの作成手順について説明す
る。まず、オペレータは、キー操作部3を操作して、検
査モードに設定する。ついで、印字幅をキー操作部3か
ら入力する。その後、テストパターン作成手段5は、プ
ログラム記憶手段9からプログラムを読み出し、図2
(a)のような有効印字幅W1に合致した基本テストパ
ターンT1を作成してパターン記憶手段7に書き込む。
一方、テストパターン作成手段5は、入力されたラベル
幅Wiに合せて、図2(a)の基本テストパターンT1
の左右の部分を印字しない情報に書き換えて、図2
(b)のように修正した印字テストパターンTiが、図
1のパターン記憶手段7に記憶される。つづいて、ヘッ
ド制御部8にパターン信号pが入力されると、このヘッ
ド制御部8は、ラベルの移動方向A(図6)の1行分の
情報を印字ヘッド1のシフトレジスタ1aに出力する。
この出力により、印字ヘッド1は1行分を印字し、この
1行分の印字をたとえば210回連続的に繰り返すこと
により、図2(b)のような印字テストパターンTiが
ラベルに印字される。
【0014】上記構成においては、図1のテストパター
ン作成手段5が入力されたラベルの幅Wiに合せて図2
(b)の印字テストパターンTiを作成する。したがっ
て、有効印字幅W1に合致したラベルが用意されている
場合には、ラベル幅を広く設定して有効印字幅W1につ
いて、つまり、印字ヘッドの全てについて検査を行うこ
とができる。その一方で、用意されているラベルの幅が
狭い場合には、図2(b)のように、そのラベルの幅W
iに合わせた検査を行うことができる。
【0015】ところで、上記第1実施例では、パターン
記憶手段7の内容を書き換えたが、この発明では必ずし
もそうする必要はない。この一例を図3の第2実施例に
示す。図3において、テストパターン作成手段5は、パ
ターン記憶手段7に書き込んだ図2(a)の基本テスト
パターンT1を移動方向についての1行づつ読み出し、
1行分の信号について、図2(b)の左右の部分を印字
しない信号に書き換え、これを1行分の信号p1として
ヘッド制御部8に出力する。上記テストパターン作成手
段5は、この動作を繰り返して、印字テストパターンT
i(図2(b))に相当する信号をヘッド制御部8に出
力する。その他の構成は、上記第1実施例と同様であ
り、同一部分または相当部分に同一符号を付して、その
説明を省略する。
【0016】ところで、上記各実施例では、パターン記
憶手段7に図2(a)、(b)のテストパターンT1ま
たはTiを書き込んだ。しかし、テストパターンT1、
Tiは、文字などの印字情報に比べ極めて簡単であるこ
とから、テストパターンT1、Tiをパターン記憶手段
7に必ずしも書き込む必要はない。たとえば、図4の第
3実施例のように、テストパターン作成手段5がプログ
ラム記憶手段9から基本パターンに相当するプログラム
を読み出し、このプログラムとラベルの幅信号wに基づ
いて、印字する領域を定め、第2実施例のような1行分
の信号p1を作成し、ヘッド制御部8に出力してもよ
い。なお、この場合、通常の際には、図示しないパター
ン記憶手段に、印字パターンを書き込む。
【0017】また、上記各実施例では、ラベルの幅をキ
ー操作部3から入力した。しかし、この発明では、ラベ
ルの幅を検出器で検出し、この検出器を入力手段とし
て、ラベルの幅をテストパターン作成手段5に入力して
もよい。この検出器の一例を図5および図6に示す。
【0018】図5において、ラベルLは、ロール10か
らプラテン2と印字ヘッド1との間に巻き出される。ラ
ベルLは、印字された後、台紙Bから剥離されて発行さ
れ、一方、台紙Bは巻取ロール11に巻き取られる。上
記巻出ロール10から印字ヘッド1に到るラベルLの経
路には、光検出器3Aが設けられている。この光検出器
3Aは、図6のように、投光器3aおよび受光器3bか
らなり、ラベルLの上下に1列に複数個設けられてお
り、光が透過したか否かによってラベルLの幅が検出さ
れる。
【0019】なお、上記各実施例では、図2(b)の印
字テストパターンTiをセンタ振り分けに対称に作成し
たが、一方の端に寄せる処理を行って印字パターンを作
成してもよい。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、入力されたラベルの幅に応じたテストパターンを作
成するので、有効印字幅と同じ幅のラベルが用意されて
いる場合には、有効印字幅の全領域について印字ヘッド
の検査ができ、一方、幅の狭いラベルしか用意されてい
ない場合には、有効印字幅よりも狭い幅について印字ヘ
ッドの検査を行うことができる。したがって、プリント
基板を交換するという面倒な操作を伴うことなく、か
つ、ラベルのないヘッドの部分が加熱するのを防止する
ことで印字ヘッドやプラテンを傷めることなく、必要に
応じて印字ヘッドの全ての部分について検査を行うこと
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1実施例を示す印字ヘッド検査装
置の概略構成図である。
【図2】(a)は基本のテストパターン、(b)は印字
すべきテストパターンを示す概念図である。
【図3】第2実施例を示す印字ヘッド検査装置の概略構
成図である。
【図4】第3実施例を示す印字ヘッド検査装置の概略構
成図である。
【図5】ラベルプリンタの概略構成図である。
【図6】入力手段の変形例を示す斜視図である。
【図7】検査モードにおけるラベルの発行の動作を示す
斜視図である。
【符号の説明】
1…印字ヘッド、3,3A…入力手段、5…テストパタ
ーン作成手段、A…移動方向、L…ラベル。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B41J 29/46 B41J 2/515 B41J 3/01

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ラベルの移動方向と直交する方向に、熱
    により印字する多数の印字素子を持つ印字ヘッドを備え
    たラベルプリンタにおいて、 ラベルの幅を入力する入力手段と、基本テストパターンを記憶しているプログラム記憶手段
    と、 前記 入力手段からラベルの幅情報と、プログラム記憶
    手段に記憶された基本テストパターンとから、前記ラベ
    ルの幅に合わせたテストパターンを作成するテストパタ
    ーン作成手段と 作成されたテストパターンに合わせて印字するように印
    字ヘッドを制御するヘッド制御部と、 を備えたことを特徴とするラベルプリン
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JP2013188995A (ja) * 2012-03-15 2013-09-26 Ishida Co Ltd ラベル印字装置

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