JP3201020B2 - ラッチ回路 - Google Patents

ラッチ回路

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JP3201020B2
JP3201020B2 JP31680292A JP31680292A JP3201020B2 JP 3201020 B2 JP3201020 B2 JP 3201020B2 JP 31680292 A JP31680292 A JP 31680292A JP 31680292 A JP31680292 A JP 31680292A JP 3201020 B2 JP3201020 B2 JP 3201020B2
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latch circuit
mos transistor
channel mos
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data
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俊幸 森脇
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Panasonic Holdings Corp
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Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路に用いる
ラッチ回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図2は従来のラッチ回路の構成を示すも
のである。同図において、200、201はインバー
タ、202はNチャンネルMOSトランジスタ(NMOSTr)であ
りこのラッチ回路のスイッチとなっている。210は入
力データ、211は出力データ、212は記憶データ、
213は制御信号であるである。ここでインバータ20
1の駆動能力はインバータ200に比較して十分小さく
なっている。
【0003】以上のように構成されたラッチ回路につい
て、以下その動作について説明する。
【0004】ラッチへの書き込み動作は、制御信号21
3がHIGHとなったときにNMOSTr202が導通状態になる
ことにより行なわれる。入力データ210がLOWで記憶
データ212がHIGHの場合、インバータ201のPチャ
ンネルMOSトランジスタが導通状態であるためにデータ
のコンフリクトを生じる。しかしながら、インバータ2
01の駆動能力が十分小さいために、記憶データ212
のノードはインバータ200のスイッチレベルより低電
位に引き落とされ、LOWのデータが書き込まれる。
【0005】一方、入力データ210がHIGHで記憶デー
タ212がLOWの場合、インバータ201のNチャンネル
MOSトランジスタが導通状態であるためにデータのコン
フリクトを生じる。加えて、この場合にスイッチとして
用いられるゲートがNMOSTrであるために、記憶データ2
12のノードの電位が入力データ210の電位よりも閾
値電圧分低い電位となるため、入力データ210がHIGH
のときのラッチへの書き込みが遅くなり、動作周波数が
高くなると誤動作を起こしてしまうという問題がある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来のような構成のラ
ッチ回路では、入力データがLOWからHIGHになった時に
記憶データの電圧が上がり切らないために、出力データ
がHIGHからLOWに引き落とされにくくなり、動作周波数
が高くなると誤動作を起こしてしまうという問題点を有
していた。
【0007】本発明は従来の課題を解決し、入力データ
がHIGHとなったときの書き込みを高速にし、かつ低電圧
で駆動する場合でも高速な書き込みが可能となるラッチ
回路を提供するものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明のラッチ回路は、
入力データ線と、出力データ線と、制御信号線と、2つ
のインバータの入出力を相互に結合した構成のメモリ
と、入力データ線と前記メモリの書き込み入力線の間に
接続した第1のNチャンネルMOSトランジスタよりなるト
ランスファーゲートと、前記メモリの出力と接地線の間
に直列に設けた第2のNチャンネルMOSトランジスタと第
3のNチャンネルMOSトランジスタを備え、前記メモリの
出力線を前記出力データ線と接続し、ラッチ回路の入力
データを第2のNチャンネルMOSトランジスタのゲートに
接続し、ラッチ回路の制御信号を第3のNチャンネルMOS
トランジスタのゲートに接続したことを特徴とする。
【0009】
【作用】本発明は、上記した構成によって、入力データ
がLOWからHIGHとなった時の書き込みの高速化が図れる
と同時に、低電圧で駆動する場合でも高速な書き込みが
可能となる。
【0010】
【実施例】以下本発明の実施例を、図面を参照しながら
説明する。
【0011】図1は本発明の実施例におけるラッチ回路
の回路構成を示すものである。図1において、100,
101はインバータ、102はNMOSTrでありこのラッチ
回路のスイッチとなっている。110は入力データ、1
11は出力データ、112は記憶データ、113は制御
信号であるである。また103,104は直列に接続さ
れたNMOSTrであり、NMOSTr103の一端は出力データ1
11に接続され、NMOSTr104の終端は接地線に接続さ
れている。
【0012】以上のように構成されたラッチ回路につい
て、以下その動作について説明する。
【0013】ラッチへの書き込み動作は、制御信号11
3がHIGHとなったときにNMOSTr102が導通状態になる
ことにより行なわれる。
【0014】入力データ110がLOWで記憶データ21
2がHIGHの場合、インバータ101のPチャンネルMOSト
ランジスタが導通状態であるためにデータのコンフリク
トを生じる。しかしながら、インバータ101の駆動能
力が十分小さいために、記憶データ112のノードはイ
ンバータ100のスイッチレベルより低電位に引き落と
され、LOWのデータが書き込まれる。
【0015】一方、入力データ110がHIGHで記憶デー
タ112がLOWの場合、インバータ101のNチャンネル
MOSトランジスタが導通状態であるためにデータのコン
フリクトを生じるが、この際、NMOSTr103およびNMOS
Tr104は導通状態となっており出力データ111をLO
Wに引き落とすパスができるために、従来の書き込みパ
スだけの場合に比べ、記憶データ112に高速にHIGHを
書き込むことができる。
【0016】以上のように本発明は、NMOSTrをスイッチ
とするラッチ回路において、入力データがLOWからHIGH
となったときの書き込みの高速化が図れ、更に、低電圧
で動作させる場合でもこの構成によれば高速な書き込み
が可能となる。
【0017】なお、本実施例において、入力データ11
0はNMOSTr104に接続し、制御信号113はNMOSTr1
03に接続するとしたが、入力データ110をNMOSTr1
03に接続し制御信号113をNMOSTr104に接続して
も良い。
【0018】
【発明の効果】以上のように本発明は、NMOSTrをスイッ
チとするラッチ回路において、入力データがLOWからHIG
Hとなったときの書き込みの高速化が図れ、更に、低電
圧で動作させる場合でもより高速な書き込みが可能とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例におけるラッチ回路の回路構成
【図2】従来のラッチ回路の回路構成図
【符号の説明】
100、101 インバータ 102、103、104 NMOSTr 110 入力データ 111 出力データ 112 記憶データ 113 制御信号

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】入力データ線と、出力データ線と、制御信
    号線と、2つのインバータの入出力を相互に結合した構
    成のメモリと、入力データ線と前記メモリの書き込み入
    力線の間に接続した第1のNチャンネルMOSトランジスタ
    よりなるトランスファーゲートと、前記メモリの出力と
    接地線の間に直列に設けた第2のNチャンネルMOSトラン
    ジスタと第3のNチャンネルMOSトランジスタとを備え、 前記メモリの出力線を前記出力データ線と接続し、ラッ
    チ回路の入力データを第2のNチャンネルMOSトランジス
    タのゲートに接続し、ラッチ回路の制御信号を第3のN
    チャンネルMOSトランジスタのゲートに接続したことを
    特徴とするラッチ回路。
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JP3335819B2 (ja) * 1995-11-13 2002-10-21 沖電気工業株式会社 ラッチ回路
JP4036688B2 (ja) 2002-06-18 2008-01-23 松下電器産業株式会社 自動配置配線用スタンダードセルライブラリ及び半導体集積装置
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