JP3186666U - 半導体モジュール - Google Patents

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Abstract

【課題】多品種の半導体モジュールの展開に容易に対応することが可能な半導体モジュールを提供する。
【解決手段】この考案に従った半導体モジュール1は、半導体チップ2,4と、半導体チップ2,4を搭載する基板16と、基板16を収容する筺体とを備える。筺体は、基板16の周囲を囲む枠体10と、枠体10の開口部を覆う蓋体とを含む。枠体10は、基板16の外周の一部分に周方向に延在する第1の側壁部材10aと、基板16の外周の他の部分に周方向に延在する第2の側壁部材10bと、第1の側壁部材10aと第2の側壁部材10bとの相対的な位置関係が少なくとも2通りの状態において、基板16の外周を囲むように第1の側壁部材10aと第2の側壁部材10bとを繋ぐことが可能な接続部とを含む。
【選択図】図1

Description

この考案は、半導体モジュールに関し、より特定的には、半導体チップを搭載する基板を収容する筺体の構造に関する。
半導体モジュールは、一般的に、少なくとも1つの半導体チップと、半導体チップを搭載する基板と、基板を収容する筺体とを備えている。たとえばパワー半導体モジュールの場合、筺体には、機械的応力および環境からパワー半導体チップを守る、パワー半導体チップに通電して動作させるなどの筺体としての要求特性に加えて、パワー半導体モジュール特有の高電圧、大電流および大電力に耐える、絶縁性、放熱性および熱ストレス耐性が要求される。
このようなパワー半導体モジュールの筺体の構成が、たとえば非特許文献1(「Cuワイヤを中心としたワイヤボンディングの不良原因と信頼性向上・評価技術」、株式会社技術情報協会、2011年7月29日、p.162−163)に開示されている。
「Cuワイヤを中心としたワイヤボンディングの不良原因と信頼性向上・評価技術」、株式会社技術情報協会、2011年7月29日、p.162−163
上記の非特許文献1に開示された構成によれば、パワー半導体モジュールの筺体は、パワー半導体チップが実装された絶縁基板が搭載されるベース板と、熱可塑樹脂により形成され、筺体の側壁を構成する枠体と、枠体の開口部を閉じる蓋体とを有している。
ここで、パワー半導体モジュールは、適用される製品分野に応じて使用電圧、電流量および使用環境などが異なるため、市場要求に応じて様々な外形をとる。そのため、パワー半導体モジュールを、外形が互いに異なる多品種に展開するにあたっては、品種ごとに筺体を成型することが必要となり、その製造に手間やコストがかかるという問題があった。
この考案は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この考案の目的は、多品種の半導体モジュールの展開に容易に対応することが可能な半導体モジュールを提供することである。
この考案に従った半導体モジュールは、半導体チップと、半導体チップを搭載する基板と、基板を収容する筺体とを備える。筺体は、基板の周囲を囲む枠体と、枠体の開口部を覆う蓋体とを含む。枠体は、基板の外周の一部分に周方向に延在する第1の側壁部材と、基板の外周の他の部分に周方向に延在する第2の側壁部材と、第1の側壁部材と第2の側壁部材との相対的な位置関係が少なくとも2通りの状態において、基板の外周を囲むように第1の側壁部材と第2の側壁部材とを繋ぐことが可能な接続部とを含む。
この考案によれば、多品種の半導体モジュールの展開に容易に対応することができる。
第1の実施の形態に係る半導体モジュールの内部を概略的に示した平面図である。 図1のII−II線に沿った、第1の実施の形態に係る半導体モジュールの断面図である。 第1の実施の形態に係る半導体モジュールの等価回路図である。 第1の実施の形態による半導体モジュールのうちの枠体を抽出して示す斜視図である。 第1の実施の形態に係る半導体モジュールの他の構成例の内部を概略的に示した平面図である。 第2の実施の形態に係る半導体モジュールの内部を概略的に示した平面図である。 第2の実施の形態による半導体モジュールのうちの枠体を抽出して示す斜視図である。 第2の実施の形態に係る半導体モジュールの他の構成例の内部を概略的に示した平面図である。 第3の実施の形態に係る半導体モジュールの内部を概略的に示した平面図である。 第3の実施の形態による半導体モジュールのうちの枠体を抽出して示す斜視図である。 第3の実施の形態に係る半導体モジュールの他の構成例の内部を概略的に示した平面図である。
[本願考案の実施形態の説明]
最初に本願考案の実施の形態の内容を列記して説明する。
(1) この考案に従った半導体モジュールは、半導体チップと、半導体チップを搭載する基板と、基板を収容する筺体とを備える。筺体は、基板の周囲を囲む枠体と、枠体の開口部を覆う蓋体とを含む。枠体は、基板の外周の一部分に周方向に延在する第1の側壁部材と、基板の外周の他の部分に周方向に延在する第2の側壁部材と、第1の側壁部材と第2の側壁部材との相対的な位置関係が少なくとも2通りの状態において、基板の外周を囲むように第1の側壁部材と第2の側壁部材とを繋ぐことが可能な接続部とを含む。
この構成によれば、第1の側壁部材と第2の側壁部材とは、基板の形状に応じてその相対的な位置関係が少なくとも2通りの状態に変化する。そして、いずれの状態においても第1の側壁部材と第2の側壁部材との間に接続部を介在させることによって筺体の枠体が形成される。このように筺体の枠体は基板の形状に応じて変形可能に構成されるため、1つの枠体で、基板の形状が互いに異なる半導体モジュールに対応することができる。これにより、半導体モジュールを品種展開をする際の手間およびコストを低減できるとともに、部品の共通化も実現できる。この結果、多品種の半導体モジュールの展開に容易に対応することが可能となる。
(2) 上記半導体モジュールにおいて、基板は、互いに直交する第1軸および第2軸によって定まる主表面上に半導体チップが搭載される。第1の側壁部材および第2の側壁部材は、第1軸の方向における端部において、第1の側壁部材の外周側面と第2の側壁部材の内周側面とが対向するように配置される。接続部は、第1の側壁部材の外周側面と第2の側壁部材の内周側面とが対向する部分である。接続部は、第1軸の方向の長さを基板の形状に応じて調整可能とする。
この構成によれば、枠体は、接続部の第1軸の方向の長さを調整することによって、第1軸の方向における長さを調整可能に構成されるため、基板の形状の変更にも容易に対応することができる。
(3) 上記半導体モジュールにおいて、第1の側壁部材は、第2軸の方向に対向する1組の第1側壁部と、1組の第1側壁部の一方端同士を繋ぐ第2側壁部とを含む。第2の側壁部材は、第2軸の方向に対向する1組の第3側壁部と、1組の第3側壁部の一方端同士を繋ぐ第4側壁部とを含む。第2の側壁部材は、1組の第3側壁部の内周側面が、第1の側壁部材の1組の第1側壁部の外周側面と対向するように配置される。接続部は、第2の側壁部材を第1の側壁部材に対して第1軸の方向に移動させることによって、第1軸の方向の長さを調整可能とする。
この構成によれば、第2の側壁部材を第1の側壁部材に対して第1軸の方向に移動させることで枠体の形状を容易に変形することができる。
(4) 上記半導体モジュールにおいて、接続部は、第1の側壁部材と第2の側壁部材との間に接続され、蛇腹構造を有する接続部材を含む。
この構成によれば、蛇腹構造からなる接続部分を伸長または収縮させることによって、枠体の形状を容易に変形することができる。
(5) 上記半導体モジュールにおいて、基板は、互いに直交する第1軸および第2軸によって定まる主表面上に半導体チップが搭載される。接続部は、第1の側壁部材の第1軸の方向における端部と、第2の側壁部材の第1軸の方向における端部との間に接続され、第1軸の方向に延在する第3の側壁部材を含む。
この構成によれば、複数の側壁部材を組み換えることによって、枠体の形状を容易に変形することができる。
(6) 上記半導体モジュールにおいて、第1の側壁部材と第2の側壁部材との相対的な位置関係を固定するための接着部材をさらに備える。
この構成によれば、枠体を基板の形状に応じた形状に固定することができるとともに、筺体の機密性を維持できる。
(7) 上記半導体モジュールにおいて、半導体チップはワイドバンドギャップ半導体素子を含む。
半導体チップにワイドバンドギャップ半導体素子を用いた半導体モジュールにおいては、基板の面積の縮小に合わせて筺体のサイズの縮小が要求される。この構成によれば、このような要求にも容易に対応することが可能となる。
[本願考案の実施形態の詳細]
以下、図面に基づいて本考案の実施の形態を説明する。なお、以下の図面において同一または相当する部分には同一の参照番号を付し、その説明は繰り返さない。
図面中に示したX軸、Y軸およびZ軸は互いに直交する軸である。X軸およびY軸によって定まる平面をXY平面と称する。XY平面は、本考案の実施の形態に係る半導体モジュールが設置される面として定義される。1つの例では、XY平面は水平面である。しかしながらXY平面は水平面に限定されない。たとえばXY平面は鉛直面であってもよい。
<実施の形態1>
図1および図2を参照して、本考案の第1の実施の形態に係る半導体モジュール1を説明する。図1は、第1の実施の形態に係る半導体モジュール1の内部を概略的に示した平面図である。図2は、図1のII−II線に沿った、第1の実施の形態に係る半導体モジュール1の断面図である。なお、図1では、半導体モジュール1の蓋体が外された状態が示される。
図1および図2を参照して、第1の実施の形態に係る半導体モジュール1は、たとえばインバータ回路等に適用されるパワー半導体モジュールである。半導体モジュール1は、半導体チップ2,4と、絶縁基板16と、外部導出端子19,20と、出力端子18と、ソース端子22a,24aと、ゲート端子22b,24bと、筺体5とを備える。
この実施の形態において、半導体チップ2,4は、ワイドバンドギャップ半導体素子を含む。ワイドバンドギャップ半導体は、代表的には、炭化珪素(SiC)、窒化ガリウム(GaN)あるいはダイヤモンドなどがある。
ワイドバンドギャップ半導体素子は、シリコン半導体素子に比べて高耐圧、低オン抵抗、および高温環境での安定動作を特徴とする。半導体チップ2,4をワイドバンドギャップ半導体素子によって作製することにより、たとえば同じ電流駆動能力を有するシリコン半導体素子に比べて、チップ面積を縮小することができる。したがって、この実施の形態によれば、半導体チップの実装面積(絶縁基板16の面積)を削減できるため、小型化された半導体モジュールを実現できる。
一般にインバータ回路は、たとえばFET、IGBTなどのスイッチング素子と、スイッチング素子に逆並列に接続されたダイオードとにより構成される。このダイオードは「フリーホイールダイオード」とも呼ばれる。シリコン系の半導体素子によってインバータ回路を構成する場合、一般に、スイッチング素子とフリーホイールダイオードとは、別個の半導体チップに形成される。
この実施の形態では、半導体チップ2,4は、たとえばSiCによって形成されたパワー半導体チップである。1つの実施の形態において、半導体チップ2,4の各々は、パワーMOSFETである。SiCによって形成されたMOSFETの場合、MOSFETに内蔵されるダイオードを、フリーホイールダイオードとして利用することができる。したがって、この実施の形態によれば、筺体5に収容される半導体チップの数を削減できる。
図2に示されるように、絶縁基板16は、絶縁板14と、絶縁板14の一方の主表面に配置された電極パターン15と、絶縁板14の他方の主表面に配置された電極パターン13とを含む。
半導体チップ2,4の各々(MOSFET)は、ドレイン電極と、ソース電極と、ゲート電極とを有する。この実施の形態では、ドレイン電極は、半導体チップの裏面に形成される。ソース電極およびゲート電極は、半導体チップの表面に形成される。
半導体チップ2,4の各々のドレイン電極(図示せず)は、はんだ等の導電材(図示せず)を介して電極パターン15に電気的に接続される。半導体チップ2のゲート電極2bは、図示しないワイヤによってゲート端子22bに電気的に接続される。半導体チップ4のゲート電極4bは、図示しないワイヤによってゲート端子24bに電気的に接続される。
半導体チップ2のソース電極2aは、図示しないワイヤによってソース端子22aに電気的に接続される。半導体チップ4のソース電極4aは、図示しないワイヤによってソース端子24aに電気的に接続される。
筺体5は、半導体チップ2,4が搭載された絶縁基板16を収容する。図2に示されるように、筺体5は、ベース12と、枠体10と、蓋体11とを含む。
ベース12は、銅(Cu)あるいはアルミニウム(Al)等の金属を含む金属ベースであり得る。ベース12は、絶縁基板16の電極パターン13に電気的に接続される。ベース12は、半導体チップ2,4が発生した熱を筺体5の外部に放出するための放熱板として機能し得る。さらにベース12をグラウンド電極として利用することもできる。
枠体10は、絶縁体(たとえば樹脂)により形成される。枠体10は、ベース12を取り囲むように形成されて、筺体5の側壁を構成する。枠体10およびベース12は、半導体チップ2,4が実装された絶縁基板16を収容する。絶縁基板16は、筺体5の内部において、封止樹脂8によって封止される。
枠体10は、第1側壁部材10aと、第2側壁部材10bとを含む。第1側壁部材10aおよび第2側壁部材10bの各々は、一例として、コの字形状を有する。第1側壁部材10aと第2側壁部材10bとは、コの字の開口部分が互いに向き合うように配置されている。さらに第1側壁部材10aと第2側壁部材10bとは、絶縁基板16のX軸方向における端部において、第1側壁部材10aの外周側面と第2側壁部材10bの内周側面とが対向するように配置されている。このようにして、第1側壁部材10aおよび第2側壁部材10bは一体となって、絶縁基板16の外周を囲む。
蓋体11は、枠体10に取り付けられて、筺体5の開口部を閉じる。図示は省略するが、蓋体11の四隅には、蓋体11と枠体10とを連結するための連結部(たとえばねじ穴とする)が設けられている。蓋体11の上面は、筺体5の主表面の少なくとも一部を形成する。
蓋体11の上面には複数の孔部17が設けられている。複数の孔部17の各々は、蓋体11の主表面を貫通している。図2に示すように、複数の孔部17は、出力端子18および外部導出端子19,20にそれぞれ対応する位置に設けられている。また図示は省略するが、複数の孔部17は、ソース端子22a,24aおよびゲート端子22b,24bにそれぞれ対応する位置にも設けられている。これにより、蓋体11が枠体10に取り付けられると、出力端子18、外部導出端子19,20、ソース端子22a,24aおよびゲート端子22b,24bの各々は、対応する孔部17を通じて蓋体11の内部から蓋体11の外部へと引き出される。
出力端子18は、L字形状を有する。具体的には、出力端子18は、延在部18aと引出部18bとを有する。引出部18bは、電極パターン15に電気的に接続される。引出部18bは、蓋体11の孔部17を通じて筺体5の内部から筺体5の外部へと引出される。
図示は省略するが、外部導出端子19,20は、出力端子18と同様に、延在部と引出部とを有する。引出部は電極パターン15に電気的に接続されるとともに、対応する孔部17を通じて筺体5の内部から筺体5の外部へと引出される。
なお、出力端子18および外部導出端子19,20は、たとえば、L字形状に予め折り曲げられた上で、蓋体11の孔部17にそれぞれ挿入されてもよい。あるいは、孔部17に真っ直ぐの導電板を挿入し、その後に導電板を折り曲げて出力端子18および外部導出端子19,20を形成してもよい。
図3は、第1の実施の形態に係る半導体モジュール1の等価回路図である。図3を参照して、半導体モジュール1は、MOSトランジスタM1,M2と、ダイオードD1,D2と、ソース端子22a,24aと、ゲート端子22b,24bと、外部導出端子19,20と、出力端子18とを含む。
MOSトランジスタM1およびダイオードD1は、図2に示す半導体チップ4の等価的表現である。半導体チップ4は、MOSトランジスタと、そのMOSトランジスタに内蔵されるダイオードとを有する。
MOSトランジスタM2およびダイオードD2は、図2に示す半導体チップ2の等価的表現である。半導体チップ2の構成は半導体チップ4の構成と同じである。
MOSトランジスタM1,M2は、外部導出端子19,20の間に電気的に直列に接続される。外部導出端子19は、MOSトランジスタM1のドレイン電極に電気的に接続される。外部導出端子20は、MOSトランジスタM2のソース電極に電気的に接続される。外部導出端子19,20は、それぞれ正極および負極に相当する。出力端子18は、MOSトランジスタM1,M2の接続点に接続される。
ソース端子22a,24aは、MOSトランジスタM1のソース電極およびMOSトランジスタM2のソース電極にそれぞれ接続される。ゲート端子22b,24bは、MOSトランジスタM1のゲート電極およびMOSトランジスタM2のゲート電極にそれぞれ接続される。
図3に示す回路構成は半導体モジュール1に複数含めることができる。たとえば図3に示す回路の数が2つであれば、半導体モジュール1は単相インバータ回路を実現する。また図3に示す回路の数が3つであれば、半導体モジュール1は三相インバータ回路を実現する。
図4は、第1の実施の形態による半導体モジュール1のうちの枠体10を抽出して示す斜視図である。
図4を参照して、枠体10は、第1側壁部材10aおよび第2側壁部材10bを組み合わせて構成される。具体的には、第1側壁部材10aは、絶縁基板16の外周の一部分に周方向に延在する。第1側壁部材10aは、Y軸方向に対向する1組の第1側壁部30aと、1組の第1側壁部30aの一方端同士を繋ぐ第2側壁部32aとを含む。
第2側壁部材10bは、絶縁基板16の外周の他の部分に周方向に延在する。第2側壁部材10bは、Y軸方向に対向する1組の第3側壁部30bと、1組の第3側壁部30bの一方端同士を繋ぐ第4側壁部32bとを含む。第2側壁部材10bは、1組の第3側壁部30bの内周側面が、第1側壁部材10aの1組の第1側壁部30aの外周側面と対向するように配置される。
第1側壁部30aの外周側面と第3側壁部30bの内周側面とが対向する部分は、第1側壁部材10aおよび第2側壁部材10bを繋ぐ「接続部」を構成する。この接続部には、第1側壁部材10aの外周側面と第2側壁部材10bの内周側面とを固定するための接着部材25が設けられる。接着部材25にはたとえば接着剤や接着テープが用いられる。これにより、第1側壁部材10aと第2側壁部材10bとの位置関係が固定される。また、接着部材25が第1側壁部材10aおよび第2側壁部材10bの接触面に生じる隙間を埋めることによって筺体5の機密性が維持される。
この接続部は、図4に示すように、第2側壁部材10bを第1側壁部材10aに対してX軸方向に移動させることにより、X軸方向における長さを調整可能とする。接続部は、X軸方向の長さを変えることによって、第1側壁部材10aと第2側壁部材10bとの相対的な位置関係が少なくとも2通りの状態において、第1側壁部材10aと第2側壁部材10bとを繋ぐことができる。
この実施の形態では、一例として、第1側壁部材10aおよび第2側壁部材10bは、それぞれコの字形状を有しており、コの字の開口部分が互いに向き合うように配置されている。そして、図4に示すように、第2側壁部材10bにおけるコの字の開口部分の開口幅を、第1側壁部材10aにおけるコの字の開口部分の開口幅よりも広くする。これにより、第2側壁部材10bの開口部分に第1側壁部材10aを挿入可能としている。なお、第1側壁部材10aおよび第2側壁部材10bの各々の開口部分の開口幅は、第2側壁部材10bの開口部分に第1側壁部材10aが挿入された状態(図4の状態)において、第2側壁部材10bの内周側面と第1側壁部材10aの外周側面とが接触するように設定することが好ましい。
図1に示したように、枠体10は絶縁基板16の外周を取り囲む。第1の実施の形態では、第2側壁部材10bをX軸方向に沿ってスライドさせることによって、枠体10のX軸方向の長さを変更できる。すなわち、枠体10を、半導体モジュールが設置される平面の一方向(X軸方向)に伸縮させることができる。これにより、X軸方向の長さが互いに異なる複数種類の絶縁基板16に対しても、第2側壁部材10bのスライド量を調整することによって、枠体10を共通化することができる。
図5は、第1の実施の形態に係る半導体モジュール1の他の構成例の内部を概略的に示した平面図である。なお、図5では、半導体モジュール1の蓋体11が外された状態が示される。
図5に示す半導体モジュール1は、図3に示すMOSトランジスタM1およびダイオードD1を、電気的に並列に接続された半導体チップ4,5で構成するとともに、MOSトランジスタM2およびダイオードD2を、電気的に並列に接続された半導体チップ2,3で構成したものである。なお、半導体チップ2〜5の各々は、MOSトランジスタと、そのMOSトランジスタに内蔵されるダイオードとを有する。
図5に示す半導体モジュール1は、図1に示す半導体モジュール1と比べて、絶縁基板16のX軸方向の長さが長くなっている。そのため、第2側壁部材10bをX軸方向に沿ってスライドさせることによって、枠体10のX軸方向の長さを大きくしている。
ここで、図1に示す半導体モジュール1と図5に示す半導体モジュール1とを比較すると、第1側壁部材10aと第2側壁部材10bとの相対的な位置関係が異なっている。そして、いずれの状態においても、接続部が第1側壁部材10aと第2側壁部材10bとを繋ぐことによって枠体10が形成されている。なお、図示は省略するが、第2側壁部材10bをX軸方向に沿ってさらにスライドさせるとともに、接続部によって第1側壁部材10aと第2側壁部材10bとを繋ぐことにより、枠体10のX軸方向の長さをさらに大きくすることができる。この結果、枠体10のX軸方向の長さを2通り以上に変化させることができる。
従来の半導体モジュールにおいて、枠体は、樹脂の射出成型によって作製されていた。そのため、内部回路の設計変更等に伴なって絶縁基板の形状が変わると、変更後の絶縁基板の形状に合わせて射出成型用の金型を新たに作製することが必要となり、その製造に手間とコストがかかるという問題があった。
これに対して、第1の実施の形態に係る半導体モジュール1では、枠体10の形状を変形させることによって、絶縁基板の形状の変更に容易に対応することができる。これにより、金型を新たに作製する必要がなくなるため、設計変更に伴う手間およびコストの増大を抑えることができる。
また、1つの枠体10で、絶縁基板の形状が互いに異なる多品種の半導体モジュールに対応することが可能となる。この結果、部品の共通化による低コスト化を実現できる。
特に、半導体チップにワイドバンドギャップ半導体素子を用いた半導体モジュールにおいては、絶縁基板16の面積の縮小に合わせて筺体5のサイズの縮小が要求される。本実施の形態によれば、このような要求にも容易に対応することが可能となる。
なお、第1の実施の形態では、枠体10について、XY平面(半導体モジュール1が設置される平面)の一方向(X軸方向)の長さのみを変更可能とする構成について例示したが、XY平面の互いに垂直な二方向(X軸方向およびY軸方向)の長さを変更可能とする構成としてもよい。
<実施の形態2>
図6から図8を参照して、本考案の第2の実施の形態に係る半導体モジュール1Aを説明する。図6は、第2の実施の形態に係る半導体モジュール1Aの内部を概略的に示した平面図である。図7は、第2の実施の形態による半導体モジュール1Aのうちの枠体10Aを抽出して示す斜視図である。図8は、第2の実施の形態に係る半導体モジュール1Aの他の構成例の内部を概略的に示した平面図である。なお、図6および図8では、半導体モジュール1Aの蓋体が外された状態が示される。
第2の実施の形態に係る半導体モジュール1Aは、図1に示す半導体モジュール1において、枠体10に代えて、枠体10Aを設けたものである。半導体モジュール1Aの構成は、枠体10Aを除いて図1と同様であるので詳細な説明は繰り返さない。
図6を参照して、枠体10Aは、絶縁体(たとえば樹脂)により形成される。枠体10Aは、ベース12を取り囲むように形成されて、筺体5の側壁を構成する。枠体10Aおよびベース12は、半導体チップ2,4が実装された絶縁基板16を収容する。絶縁基板16は、筺体5の内部において、封止樹脂8によって封止される。
枠体10Aは、第1側壁部材10cと、第2側壁部材10hと、複数の接続部材10d〜10gとを含む。第1側壁部材10cは、たとえばコの字形状を有しており、コの字の開口部分が第2側壁部材10hに向かうように配置されている。接続部材10d〜10gは、絶縁体(たとえば樹脂)により形成される。
図7を参照して、接続部材10d,10eは、第1側壁部材10cのX軸方向の一方の端部と第2側壁部材10hとの間に直列に接続される。接続部材10f,10gは、第1側壁部材10cのX軸方向の他方の端部と第2側壁部材10hとの間に直列に接続される。接続部材10d〜10gは、第1側壁部材10cおよび第2側壁部材10hを繋ぐ「接続部」を構成する。
第1側壁部材10cと接続部材10d,10fの各々とは、蝶番等を用いて回動可能に連結される。第2側壁部材10hと接続部材10e,10gの各々とは、蝶番等を用いて回動可能に連結される。接続部材10dと接続部材10e、および接続部材10fと接続部材10gとは、それぞれ蝶番等を用いて回動可能に連結される。このような構成とすることにより、接続部(接続部材10d〜10g)は、XY平面(半導体モジュール1Aが設置される平面)の一方向(X軸方向)の伸縮を許容する蛇腹形状を有する。
接続部(接続部材10d〜10g)は、X軸方向の伸縮動作によって、図6に示すように折り畳まれた形態、および図8に示すように展開された形態のいずれかに固定される。すなわち、接続部は、X軸方向の長さを変えることによって、第1側壁部材10cと第2側壁部材10hとの相対的な位置関係が2通りの状態において、第1側壁部材10cと第2側壁部材10hとを繋ぐことができる。
なお、それぞれの形態において、第1側壁部材10a、接続部および第2側壁部材10bの間の連結を固定するための接着部材が用いられる。これにより、第1側壁部材10aと第2側壁部材10bとの相対的な位置関係が固定される。このようにして、枠体10AのX軸方向の長さを2通りに変化させることができる。
なお、図示は省略するが、接続部材10d〜10gを1組として、第1側壁部材10cと第2側壁部材10hとの間に複数組を連続的に設けることにより、枠体10AのX軸方向の長さを2通り以上に変化させることが可能となる。
第2の実施の形態に係る半導体モジュール1Aによれば、枠体10Aの形状を変形させることによって、絶縁基板16の形状の変更に容易に対応することができる。したがって、第2の実施の形態によっても上記の第1の実施の形態と同様の効果が得られる。
<実施の形態3>
上記の第1および第2の実施の形態では、枠体を、半導体モジュールが設置される平面の少なくとも一方向に伸縮させることで、枠体の形状を変形する構成について説明したが、側壁部材を組み換えることで、実質的に枠体の形状を変形するようにしてもよい。この第3の実施の形態では、側壁部材を組み換えることで、枠体の形状を変形する構成について説明する。
図9は、第3の実施の形態に係る半導体モジュール1Bの内部を概略的に示した平面図である。図10は、第3の実施の形態による半導体モジュール1Bのうちの枠体10Bを抽出して示す斜視図である。図11は、第3の実施の形態に係る半導体モジュール1Bの他の構成例の内部を概略的に示した平面図である。なお、図9および図11では、半導体モジュール1Bの蓋体が外された状態が示される。
第3の実施の形態に係る半導体モジュール1Bは、図1に示す半導体モジュール1において、枠体10に代えて、枠体10Bを設けたものである。半導体モジュール1Bの構成は、枠体10Bを除いて図1と同様であるので詳細な説明は繰り返さない。
図9を参照して、枠体10Bは、絶縁体(たとえば樹脂)により形成される。枠体10Bは、ベース12を取り囲むように形成されて、筺体5の側壁を構成する。枠体10Bおよびベース12は、半導体チップ2,4が実装された絶縁基板16を収容する。絶縁基板16は、筺体5の内部において、封止樹脂8によって封止される。
枠体10Bは、第1側壁部材10iと、第2側壁部材10jとを含む。第1側壁部材10iは、絶縁基板16の外周の一部分に周方向に延在する。第2側壁部材10jは、絶縁基板16の外周の他の部分に周方向に延在する。この実施の形態では、第1側壁部材10iは、たとえばコの字形状を有しており、コの字の開口部分が第2側壁部材10jに向かうように配置されている。そして、第1側壁部材10iのX軸方向における両端部は、第2側壁部材10jに連結される。これにより、第1側壁部材10iおよび第2側壁部材10jは一体となって環状の枠体10Cを構成する。
なお、第1側壁部材10iおよび第2側壁部材10jの連結部分は、凹凸の嵌め合わせ構造となっている。当該連結部分は接着部材25によって固定される。この連結部分は、第1側壁部材10iと第2側壁部材10jとを連結することが可能であれば、どのような構造であってもよい。
図10を参照して、枠体10Cは、第3側壁部材10k,10lをさらに含む。第3側壁部材10kは、第1側壁部材10iのX軸方向における一方端部と第2側壁部材10jとの間に設けられる。第4側壁部材10lは、第1側壁部材10iのX軸方向における他方端部と第2側壁部材10jとの間に設けられる。
図10に示すように第3側壁部材10k,10lを組み込むことによって、枠体10BはX軸方向の長さが長くなる。すなわち、図9に示す半導体モジュール1Bと図11に示す半導体モジュール1Bとを比較すると、第1側壁部材10iと第2側壁部材10jとの相対的な位置関係が異なっている。そして、いずれの状態においても、接続部(第3側壁部材10k,10l)が第1側壁部材10iと第2側壁部材10jとを繋ぐことによって枠体10Bが形成されている。
この実施の形態では、X軸方向における長さが互いに異なる複数種類の第3側壁部材10k,10lを予め用意しておく。そして、絶縁基板16の形状に応じて複数種類の第3側壁部材10k,10lのうちのいずれか1つを選択して、第1側壁部材10iおよび第2側壁部材10jの間に接続させる。これにより、枠体10BのX軸方向の長さを2通り以上に変化させることが可能となる。あるいは、第3側壁部材10k,10lを1組として、第1側壁部材10iと第2側壁部材10jとの間に複数組を連続的に設けることにより、枠体10CのX軸方向の長さを2通り以上に変化させてもよい。
第3の実施の形態に係る半導体モジュール1Bによれば、枠体10Bの形状を変形させることによって、絶縁基板16の形状の変更に容易に対応することができる。したがって、第3の実施の形態によっても上記の第1の実施の形態と同様の効果が得られる。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものでないと考えられるべきである。本考案の範囲は上記した説明ではなくて実用新案登録請求の範囲によって示され、実用新案登録請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
この考案は、パワー半導体チップを搭載したパワー半導体モジュールに有利に適用される。
1,1A,1B 半導体モジュール
2〜5 半導体チップ
6 筺体
7 ワイヤ
8 封止樹脂
10,10A,10B 枠体
10a,10c,10i 第1側壁部材
10b,10h,10j 第2側壁部材
10d〜10g 接続部材
10k,10l 第3側壁部材
11 蓋体
12 ベース
13,15 電極パッド
14 絶縁板
16 絶縁基板
18 出力端子
19,20 外部導出端子
22a,24a ソース端子
22b,24b ゲート端子
25 接着部材
30a 第1側壁部
32a 第2側壁部
30b 第3側壁部
32b 第4側壁部

Claims (7)

  1. 半導体チップと、
    前記半導体チップを搭載する基板と、
    前記基板を収容する筺体とを備え、
    前記筺体は、
    前記基板の周囲を囲む枠体と、
    前記枠体の開口部を覆う蓋体とを含み、
    前記枠体は、
    前記基板の外周の一部分に周方向に延在する第1の側壁部材と、
    前記基板の外周の他の部分に周方向に延在する第2の側壁部材と、
    前記第1の側壁部材と前記第2の側壁部材との相対的な位置関係が少なくとも2通りの状態において、前記基板の外周を囲むように前記第1の側壁部材と前記第2の側壁部材とを繋ぐことが可能な接続部とを含む、半導体モジュール。
  2. 前記基板は、互いに直交する第1軸および第2軸によって定まる主表面上に前記半導体チップが搭載されており、
    前記第1の側壁部材および前記第2の側壁部材は、前記第1軸の方向における端部において、前記第1の側壁部材の外周側面と前記第2の側壁部材の内周側面とが対向するように配置され、
    前記接続部は、前記第1の側壁部材の外周側面と前記第2の側壁部材の内周側面とが対向する部分であり、
    前記接続部は、前記第1軸の方向の長さを前記基板の形状に応じて調整可能とする、請求項1に記載の半導体モジュール。
  3. 前記第1の側壁部材は、
    前記第2軸の方向に対向する1組の第1側壁部と、
    前記1組の第1側壁部の一方端同士を繋ぐ第2側壁部とを含み、
    前記第2の側壁部材は、
    前記第2軸の方向に対向する1組の第3側壁部と、
    前記1組の第3側壁部の一方端同士を繋ぐ第4側壁部とを含み、
    前記第2の側壁部材は、前記1組の第3側壁部の前記内周側面が、前記第1の側壁部材の前記1組の第1側壁部の前記外周側面と対向するように配置され、
    前記接続部は、前記第2の側壁部材を前記第1の側壁部材に対して前記第1軸の方向に移動させることによって、前記第1軸の方向の長さを調整可能とする、請求項2に記載の半導体モジュール。
  4. 前記接続部は、前記第1の側壁部材と前記第2の側壁部材との間に接続され、蛇腹構造を有する接続部材を含む、請求項1に記載の半導体モジュール。
  5. 前記基板は、互いに直交する第1軸および第2軸によって定まる主表面上に前記半導体チップが搭載されており、
    前記接続部は、前記第1の側壁部材の前記第1軸の方向における端部と、前記第2の側壁部材の前記第1軸の方向における端部との間に接続され、前記第1軸の方向に延在する第3の側壁部材を含む、請求項1に記載の半導体モジュール。
  6. 前記第1の側壁部材と前記第2の側壁部材との相対的な位置関係を固定するための接着部材をさらに備える、請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の半導体モジュール。
  7. 前記半導体チップは、ワイドバンドギャップ半導体素子を含む、請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の半導体モジュール。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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