JP3165870B2 - 長尺フィルムキャリアの検査補助装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、一つのリールに巻回さ
れた長尺フィルムキャリアの状態を検査する場合に使用
する検査補助装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】電子部品を実装するための基板としては
種々なものが提案されてきているが、中でもフィルムキ
ャリアと呼ばれているものは、その製造を連続的に行え
ること等の利点を有しているため、主として少ない電子
部品を実装した半導体掲載装置を構成するものとして利
用されているものである。つまり、この種のフィルムキ
ャリアは、長尺なフィルム基材をリールに巻回しておい
て、これを他のリールに巻き取りながら導体回路等の形
成を連続的に行って、電子部品のための実装部分を多数
かつ連続したものとして形成するものであり、最終工程
に近い工程において各実装部分に所定の電子部品が連続
的に実装されるものである。

【０００３】ところで、この種のフィルムキャリアを構
成するための長尺フィルム基材それ自体は、リールに巻
回しなければならないものであるため、可撓性があって
長尺なものであるから、各実装部分において導体回路等
の形成位置が多少ズレることがある。このようなズレが
生ずるのは、長尺フィルムキャリアは、その各種加工を
行う場合に、一方のリールへ所定寸法毎の送りを行う必
要があるが、この送りを行うためのスプロケットホール
間が加工の初期あるいは中間において多少ズレたり、こ
のズレたスプロケットホールを基準にして電子部品挿入
用のアライメントホールや導体回路等を形成するためと
考えられる。このようなズレがあると、後工程において
実装部分に対する電子部品の実装が正確に行えないこと
になるから、各実装部分のスプロケットホールやアライ
メントホール等の基準穴に対して正しい位置に形成され
ているか否かをチェック・検査しなければならないもの
である。

【０００４】従来、この検査は、長尺フィルムキャリア
の端部においてのみ行われていたものである。その理由
は、今までの長尺フィルムキャリアにおいては、これに
形成されている導体回路がそれ程ファインなものである
必要がなく部分的な検査で十分だったからであり、遂一
あるいは中間部まで検査を行う必要がなかったからであ
る。

【０００５】ところが、搭載される電子部品の高密度化
にともなって導体回路も高密度化され、しかも一つのフ
ィルムキャリアが複数個の電子部品を搭載するようにな
ってくると、やはり長尺フィルムキャリアの検査は部分
的なものでは不十分となってきたのである。すなわち、
長尺なフィルム基材は、リール・トゥ・リールによって
これに種々な加工を連続的に施していくと部分的に僅か
に伸びたり位置ズレしたりすることがあるものであり、
このように伸びた部分に、アライメントホールや導体回
路を形成すると、実装部分が基準穴に対してズレてしま
うことになって、最終工程付近での電子部品の実装が行
えないことになってしまうのである。

【０００６】このため、本発明者等は、長尺フィルムキ
ャリアの検査をその全体にわたって行うようにすること
を検討したのであるが、現在一般に採用されている検査
装置は、導体回路のショートや断線等を検査するために
開発されたものであって、連続的に流れる長尺フィルム
キャリアの検査を行うには不向きなものであることが分
かったのである。逆に言えば、現在一般の検査装置は導
体回路等の正確な検査ができることについては申し分な
いのであるが、そのための時間がかかりすぎるものであ
り、長尺フィルムキャリアの検査を行いながら種々な加
工を短時間内にしかも連続的に施していくことが、今度
は不可能になってきたのである。

【０００７】そこで、本発明者等が更に検討を加えてき
た結果、導体回路のショート・断線の問題はメッキある
いはエッチング技術が発達してきていることから、それ
程厳しく検査する必要がなくなってきていること、それ
よりもむしろリール・トゥ・リールによって連続加工を
施す場合に、被検査部がスプロケットホールやアライメ
ントホール等の基準穴に対して位置ズレしていることが
重要な問題であることを新規に知見して、本発明を完成
したのである。

【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上のよう
な経緯に基づいてなされたもので、その解決しようとす
る課題は、長尺フィルムキャリアにおける実装部分の基
準穴に対する位置ズレである。

【０００８】そして、本発明の目的とするところは、実
装部分の基準穴に対する位置検査を容易に行うことがで
きて、電子部品の搭載を確実に行うことのできる長尺フ
ィルムキャリアを連続的に選出することのできる検査補
助装置を簡単な構成によって提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、本発明の採った手段は、実施例において使用する
符号を付して説明すると、「導体回路等を形成すること
によって電子部品を実装し得る実装部分３２を多数かつ
連続的に有して、一つのリールに巻回された長尺フィル
ムキャリア３０について、これに形成した基準穴に対す
る各実装部分３２の位置を検査するための検査補助装置
１０であって、電子部品を実装するための実装装置の前
段に配置されて長尺フィルムキャリア３０を支持する支
持台１１と、この支持台１１に設けられて光源１３から
の光を通過させる透光部分１２と、この透光部分１２の
前後に配置されて長尺フィルムキャリア３０の案内を行
うガイド１４と、透光部分１２の光源１３とは反対側に
上下動可能に配置されて基準穴３１内に挿入される位置
決めピン１６を有した位置合わせホルダー１５と、この
位置合わせホルダー１５の透光部分１２に対向する開口
１８に交換自在に設けられて実装部分３２に対応した検
査補助ライン２１を有したマスク１７とを備えたことを
特徴とする検査補助装置」である。

【００１０】

【発明の作用】次に、本発明に係る検査補助装置１０の
作用を、その検査作業と関連させて説明する。

【００１１】まず、この検査補助装置１０においては、
基本的には電子部品を実装するための図示しない実装装
置の前段に設けられる支持台１１と、これに組付けられ
てこの支持台１１に対して上下動可能な位置合わせホル
ダー１５とによって全体構成がなされているため、構造
が非常に簡単なものとなっている。つまり、この検査補
助装置１０は、電子部品の実装装置の前段において、長
尺フィルムキャリア３０の一部を検査し得る程度の長さ
で支持できる程度の大きさのものであれば十分であり、
このため検査補助装置１０のために大きな設置空間は必
要ではないのである。

【００１２】このような検査補助装置１０に対して、電
子部品を実装する前の長尺フィルムキャリア３０を、図
１に示したようにセットするのであるが、このセットは
支持台１１上の各ガイド１４内に当該長尺フィルムキャ
リア３０を挿通することによりなされるものである。な
お、セットされた長尺フィルムキャリア３０の先端は、
当該検査補助装置１０の後段に位置する図示しない実装
装置側にセットされる。

【００１３】次いで、位置合わせホルダー１５につい
て、これを支持台１１上に停止状態で位置する長尺フィ
ルムキャリア３０の基準穴３１に対して降ろしたとき
に、その各位置決めピン１６が確実に挿入されるように
位置決めする。この場合の位置決めとしては種々な方法
が採用されるが、長尺フィルムキャリア３０に形成され
た各スプロケットホール３１ａは等間隔に形成されてい
るから、これを利用して行うことが最も一般である。例
えば、長尺フィルムキャリア３０を実装装置側にセット
した後に前段側に延ばして、この長尺フィルムキャリア
３０の各スプロケットホール３１ａに位置決めピン１６
が対応するように位置合わせホルダー１５を移動させる
こと、あるいは支持台１１側にスプロケットホール３１
ａと係合する位置決めピンを設けておき、これに合わせ
て位置合わせホルダー１５の位置調整すること、さらに
は支持台１１上に各ガイド１４そのものにスプロケット
ホール３１ａに係合するピンあるいはスプロケットホイ
ールを設ける等、種々適用し得るものである。

【００１４】以上のような準備が整った状態で、図示し
ない実装装置側において電子部品の実装作業を開始する
と同時に、検査補助装置１０を利用して検査を次のよう
にして行う。すなわち、長尺フィルムキャリア３０にお
ける一つの実装部分３２は、支持台１１側の透光部分１
２上に停止されるとともに、当該実装部分３２に対して
支持台１１の図示した側に配置してある光源１３からの
光が照射され、当該実装部分３２と位置合わせホルダー
１５側のマスク１７とを透過しながら検査者の目に入る
ことになる。この場合の状態は、例えば図２に示すよう
に検査者に見えるのであるが、このとき実装部分３２あ
るいはこれを構成している導体回路等がマスク１７の形
成した検査補助ライン２０に対して所定の位置関係にあ
れば、検査者は当該実装部分３２に対する電子部品の実
装を可とする信号を図示しない実装装置側に送るのであ
る。

【００１５】つまり、この検査補助装置１０を利用した
検査によって、長尺フィルムキャリア３０の基準穴３１
に対して実装部分３２が正確に位置していれば、そのま
ま当該実装部分３２に対する電子部品の実装装置におい
て基準穴３１を基準にして行えるのであるが、そうでな
い場合は、実装装置における実装作業を省略して長尺フ
ィルムキャリア３０の送りのみを行うように、検査者が
指令を出すのである。

【００１６】勿論、この検査者の作業それ自体を画像処
理装置等を使用して機械的に行うように実施してもよい
ものであり、その場合には、この検査補助装置１０は画
像処理装置等とともに一体化した検査装置となるもので
ある。

【００１７】以上の検査を行うための検査補助ライン２
０としては種々な態様のものが考えられるが、本発明の
実施例においては、図２に示した枠状のものの他に、図
３又は図４に示したようなものを採用している。すなわ
ち、図３に示した検査補助ライン２０は、マスク１７の
略中央にて互いに突き合わさる階段状のものとしてクロ
ム等の金属メッキにより形成したものであり、図２中の
中央に突き合っている少ライン２１に対して実装部分３
２の外形ライン３２ａ等がどのような関係の場合に良と
するかを判断するためのものである。この場合、少ライ
ン２１が外形ライン３２ａのズレの許容範囲を示すもの
であり、この少ライン２１より外形ライン３２ａが位置
した場合に不良とするものである。

【００１８】また、図４に示した検査補助ライン２０
は、円を基調とするものであり、長尺フィルムキャリア
３０側の円形の実装部分３２に対応する第一円弧２２
と、実装部分３２のズレの許容範囲を規定する第一円弧
２２より大きな第二円弧２３とにより形成した開口状の
ものである。この検査補助ライン２０は、被検査部分が
円形を基調としたもので形成されている場合に、有効な
ものである。

【００１９】

【実施例】次に、本発明に係る検査補助装置１０を、図
面に示した実施例に従って説明すると、図１には当該検
査補助装置１０の概略構成が示してある。この検査補助
装置１０は、電子部品を実装するための実装装置の前段
に配置されて長尺フィルムキャリアを支持する支持台
と、この支持台に設けられて光源からの光を通過させる
透光部分と、この透光部分の前後に配置されて長尺フィ
ルムキャリアの案内を基準穴にて行うガイドと、透光部
分の光源とは反対側に上下動可能に配置されて基準穴内
に挿入される位置決めピンを有した位置合わせホルダー
と、この位置合わせホルダーの透光部分に対向する開口
に交換自在に設けられて実装部分に対応した検査補助ラ
インを有したマスクとを備えたものである。

【００２０】支持台１１は、当該検査補助装置１０の位
置を設定するものであり、当該検査補助装置１０を利用
した検査は電子部品の実装前に行わなければならないか
ら、図示しない電子部品の長尺フィルムキャリア３０に
対する実装を行う実装装置の前段に配置しなければなら
ないものである。勿論、この支持台１１は、長尺フィル
ムキャリア３０を巻回している図示しないリールの後段
に配置されるものであることは言うまでもない。この支
持台１１に形成した透光部分１２は、光源１３からの光
等を長尺フィルムキャリア３０の一つの実装部分３２に
ついて透過できるものであれば何であってもよく、支持
台１１に形成した単なる開口であってもよいものであ
る。

【００２１】支持台１１に対して上下動されるべき位置
合わせホルダー１５は、支持台１１上の長尺フィルムキ
ャリア３０の実装部分３２に対して正確に降下しなけれ
ばならないから、図示しない調整台によって支持台１１
に対する位置決めが行われるものである。この位置合わ
せホルダー１５には、図１にも示したように、マスク１
７のための開口１８が形成してあって、この開口１８に
対してマスク１７が交換自在に取付けられるものであ
る。つまり、マスク１７は、種類の異なる長尺フィルム
キャリア３０の検査に使用されるものであるから、各長
尺フィルムキャリア３０の実装部分３２に対応した検査
補助ライン２０を形成したものであり、開口１８にて交
換されるものである。

【００２２】検査補助ライン２０としては、長尺フィル
ムキャリア３０の種類に応じた最も効率の良い形状のも
のとして形成されるものであり、図２〜図４に示したよ
うに、種々な態様のものが採用される。この検査補助ラ
イン２０は、半透明のものとして形成して実施してもよ
いが、本実施例においては、金属メッキによって不透明
のものとして形成してある。

【００２３】勿論、長尺フィルムキャリア３０はその側
縁に等間隔に形成したスプロケットホール３１ａを有し
ているものであり、このスプロケットホール３１ａある
いは後に形成されるアライメントホールが基準穴３１を
構成するものである。そして、この長尺フィルムキャリ
ア３０には、電子部品を実装するために多数の実装部分
３２が同じ形状で連続的に形成してあるものである。

【００２４】

【発明の効果】以上後述した通り、本発明においては、
上記実施例にて例示した如く、「電子部品を実装するた
めの実装装置の前段に配置されて長尺フィルムキャリア
３０を支持する支持台１１と、この支持台１１に設けら
れて光源１３からの光を通過させる透光部分１２と、こ
の透光部分１２の前後に配置されて長尺フィルムキャリ
ア３０の案内を行うガイド１４と、透光部分１２の光源
１３とは反対側に上下動可能に配置されて基準穴３１内
に挿入される位置決めピン１６を有した位置合わせホル
ダー１５と、この位置合わせホルダー１５の透光部分１
２に対向する開口１８に交換自在に設けられて実装部分
３２に対応した検査補助ライン２１を有したマスク１７
とを備えた」ことにその特徴があり、これにより、実装
部分の基準穴に対する位置検査を容易に行うことができ
て、電子部品の搭載を確実に行うことのできる長尺フィ
ルムキャリアを連続的に選出することのできる検査補助
装置を簡単な構成によって提供することができるのであ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る検査補助装置の概略構成を示す部
分斜視図である。

【図２】支持台の透光部分に位置する長尺フィルムキャ
リアの実装部分をマスクを通してみた部分拡大平面図で
ある。

【図３】マスクに形成した検査補助ラインの他の実施例
を示す部分拡大平面図である。

【図４】マスクに形成したさらに他の実施例を示す部分
拡大平面図である。

【符号の説明】

１０ 検査補助装置 １１ 支持台 １２ 透光部分 １３ 光源 １４ ガイド １５ 位置合わせホルダー １６ 位置決めピン １７ マスク １８ 開口 ２０ 検査補助ライン ３０ 長尺フィルムキャリア ３１ 基準穴 ３１ａ スプロケットホール ３２ 実装部分

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H01L 21/60 G01N 21/84 H01L 21/66 G01R 31/26

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 導体回路等を形成することによって電子
   部品を実装し得る実装部分を多数かつ連続的に有して、
   一つのリールに巻回された長尺フィルムキャリアについ
   て、これに形成した基準穴に対する前記各実装部分の位
   置を検査するための検査補助装置であって、 前記電子部品を実装するための実装装置の前段に配置さ
   れて前記長尺フィルムキャリアを支持する支持台と、こ
   の支持台に設けられて光源からの光を通過させる透光部
   分と、この透光部分の前後に配置されて前記長尺フィル
   ムキャリアの案内を行うガイドと、前記透光部分の前記
   光源とは反対側に上下動可能に配置されて前記基準穴内
   に挿入される位置決めピンを有した位置合わせホルダー
   と、この位置合わせホルダーの前記透光部分に対向する
   開口に交換自在に設けられて前記実装部分に対応した検
   査補助ラインを有したマスクとを備えたことを特徴とす
   る検査補助装置。