JP3161311B2 - RTD circuit - Google Patents
RTD circuitInfo
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Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、測温抵抗体回路に関す
るものであり、更に詳しくはターミナルを増設若しくは
減少した場合に発生する基板上の配線抵抗による誤差の
影響を軽減した測温抵抗体回路に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resistance thermometer circuit and, more particularly, to a resistance thermometer circuit in which the influence of an error caused by wiring resistance on a substrate when a terminal is added or reduced is reduced. It is related to the circuit.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図３は従来の測温抵抗体回路において、
配線抵抗体Ｒｔのリード線の影響を除去した要部を示す
回路図である。図において、Ｒｔは３端子Ａ，Ｂ，ｂを
有する測温抵抗体であり、端子Ａには基準電流Ｉを加え
る定電流源ＣＳが接続され、端子ｂは基準抵抗Ｒｃを介
して共通電位点に接続されている。FIG. 3 shows a conventional resistance thermometer circuit.
FIG. 9 is a circuit diagram showing a main part of the wiring resistor Rt from which the influence of the lead wire has been removed. In the figure, Rt is a resistance thermometer having three terminals A, B, and b. A constant current source CS for applying a reference current I is connected to the terminal A, and a terminal b is connected to a common potential point via a reference resistor Rc. It is connected to the.
【０００３】ＯＰ1〜ＯＰ3はそれぞれ演算増幅器であ
る。これらの増幅器のうちＯＰ1の非反転入力端子には
測温抵抗体Ｒｔの端子Ａが接続され、反転入力端子には
抵抗Ｒ 1を介して測温抵抗体Ｒｔの端子ｂが接続される
とともに抵抗Ｒ3を介して演算増幅器ＯＰ1の出力端子が
接続されている。演算増幅器ＯＰ2の非反転入力端子に
は測温抵抗体Ｒｔの端子ｂが接続され、反転入力端子に
は抵抗Ｒ2を介して測温抵抗体Ｒｔの端子ｂが接続され
るとともに抵抗Ｒ4を介して演算増幅器ＯＰ2の出力端子
が接続されている。[0003] OP1~ OPThreeAre operational amplifiers
You. OP of these amplifiers1The non-inverting input terminal of
The terminal A of the resistance bulb Rt is connected, and the inverting input terminal is
Resistance R 1Is connected to the terminal b of the resistance bulb Rt
With resistance RThreeOperational amplifier OP1Output terminal
It is connected. Operational amplifier OPTwoTo the non-inverting input terminal of
Is connected to the terminal b of the resistance thermometer Rt, and is connected to the inverting input terminal.
Is the resistance RTwoIs connected to the terminal b of the resistance bulb Rt
And resistance RFourOperational amplifier OPTwoOutput terminal
Is connected.
【０００４】演算増幅器ＯＰ3の非反転入力端子には測
温抵抗体Ｒｔの端子Ｂが接続され、反転入力端子には抵
抗Ｒ5を介して演算増幅器ＯＰ1の出力端子が接続される
とともに抵抗Ｒ6を介して演算増幅器ＯＰ2の出力端子が
接続されている。更にこの演算増幅器ＯＰ3の反転入力
端子には抵抗Ｒ7を介して演算増幅器ＯＰ3の出力端子が
接続されるとともに、このＯＰ3の出力端子には出力端
子Ｅoutが接続されている。[0004] calculation to the non-inverting input terminal of the amplifier OP 3 is connected the terminal B of the RTD Rt, inverted input terminal resistor together with the output terminal of the operational amplifier OP 1 via the resistor R 5 is connected output terminal of the operational amplifier OP 2 through R 6 are connected. Furthermore with the output terminal of the operational amplifier OP 3 is connected through a resistor R 7 to the inverting input terminal of the operational amplifier OP 3, the output terminal E out is connected to the output terminal of the OP 3.
【０００５】このような構成において、Ｒ1＝Ｒ2＝Ｒa
とし、Ｒ3＝Ｒ4＝Ｒbとして抵抗値ｒの影響を除去出来
る条件を求めることにより、 Ｒb＝Ｒa＋２Ｒc になり、例えばＲc＝１００とすると、一例としてＲ1＝
Ｒ2＝９．８ｋΩ、Ｒ3＝Ｒ4＝Ｒ5＝Ｒ6＝１０ｋΩが求
められる。なお、Ｒ7＝５ｋΩとする。その場合の出力
電圧Ｅoutは、 Ｅout＝Ｉ（Ｒt−Ｒc） となり、測温抵抗体Ｒｔのリード線の抵抗値ｒの影響を
除去することが出来る。In such a configuration, R 1 = R 2 = R a
By obtaining a condition that can eliminate the influence of the resistance value r as R 3 = R 4 = R b , R b = R a + 2R c . For example, if R c = 100, as an example, R 1 =
R 2 = 9.8 kΩ and R 3 = R 4 = R 5 = R 6 = 10 kΩ are required. Note that R 7 = 5 kΩ. In this case, the output voltage E out becomes E out = I (R t −R c ), and the influence of the resistance value r of the lead wire of the resistance bulb Rt can be eliminated.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】ところで、記録装置等
で測温抵抗体回路を用いて複数点の測定を行うような場
合、ターミナルは１０チャンネル程度が１つのターミナ
ルに組み込まれており、測定対象の数によって例えば一
台の測定装置に１〜３個のターミナルが取付可能とされ
ている。このような記録装置が工場から出荷される場
合、はじめの測定チャンネル仕様が１０チャンネル以下
の場合は１つのターミナルが取付られ、１１〜２０チャ
ンネルの測定を行う場合は２つのターミナルが、２１〜
３０チャンネルの測定を行う場合は３つのターミナルが
取付られる。When a plurality of points are measured using a resistance temperature detector circuit in a recording device or the like, about ten channels are incorporated in one terminal. Depending on the number, for example, one to three terminals can be attached to one measuring device. When such a recording apparatus is shipped from a factory, one terminal is attached if the initial measurement channel specification is 10 channels or less, and two terminals are 21 to 21 to perform measurement of 11 to 20 channels.
When measuring 30 channels, three terminals are attached.
【０００７】図４は１〜２０チャンネルの測定仕様の場
合の従来の要部結線例を示すものであり、矢印で示す部
分を境にして主及び従の２つのターミナルが取付られて
いるものとする。なお、図３で示す従来例と同一要素に
は同一符号を付している。また、演算回路１１はターミ
ナルの増減を認識する機能を有しており、取付けられた
ターミナルに応じて入力スキャナ１２のスキャニングを
行うようなプログラムが格納されているものとする。FIG. 4 shows an example of conventional connection of main parts in the case of measurement specifications of 1 to 20 channels, in which two terminals, main and sub, are attached at the part indicated by the arrow. I do. Note that the same elements as those of the conventional example shown in FIG. The arithmetic circuit 11 has a function of recognizing an increase or decrease in the number of terminals, and stores a program for scanning the input scanner 12 in accordance with the attached terminal.
【０００８】１３は各測温抵抗体のｂ端子に接続された
配線であり、その配線抵抗値は無視出来るものとする。
ＳＷ1は第１スイッチで、一端は演算回路に接続され、
他端は測温抵抗体Ｒｔのｂ端子に接続されている。ＳＷ
2は第２スイッチで、一端は演算回路及び共通電位点に
接続され、他端は測温抵抗体Ｒｔのｂ端子に接続されて
いる。Reference numeral 13 denotes a wiring connected to the terminal "b" of each of the resistance temperature detectors, and the wiring resistance is assumed to be negligible.
SW 1 is a first switch, one end of which is connected to an arithmetic circuit,
The other end is connected to the terminal b of the resistance bulb Rt. SW
Reference numeral 2 denotes a second switch, one end of which is connected to the arithmetic circuit and the common potential point, and the other end of which is connected to the terminal b of the resistance bulb Rt.
【０００９】そして、測定チャンネルが１チャンネル〜
１０チャンネルであれば図３で説明したように各測温抵
抗体Ｒｔのリード線の抵抗値ｒの影響は除去される。そ
して、出荷時の校正ではＲｔの基準値を入力して、その
校正値を装置に内蔵されたＥＥＰＲＯＭに書き込んで出
荷している。[0009] The measurement channel is one channel
In the case of ten channels, the influence of the resistance value r of the lead wire of each resistance bulb Rt is eliminated as described with reference to FIG. In the calibration at the time of shipment, a reference value of Rt is input, and the calibration value is written in an EEPROM built in the apparatus before shipment.
【００１０】次に図示の様に１１〜２０チャンネル測定
のために従ターミナルを組みつけた場合は、共通電位点
から流入する電流Ｉは接点ｅにおいて、増設した従ター
ミナルのｂ’端子を経て流れる電流Ｉ1と主ターミナル
のｂ端子側に流れる電流Ｉ2に分岐して流れることにな
る。図５（ａ），（ｂ）はｂ端子のみに着目した場合の
電流Ｉの流れを示すもので（ａ）図は（ｂ）の様に展開
することができる。Next, when a slave terminal is assembled for measurement of channels 11 to 20 as shown in the figure, a current I flowing from a common potential point flows through the b 'terminal of the added slave terminal at the contact e. The current I 1 and the current I 2 flowing to the terminal b of the main terminal are branched and flow. FIGS. 5A and 5B show the flow of the current I when focusing only on the b terminal, and FIG. 5A can be developed as shown in FIG.
【００１１】即ち、共通電位点−ｂ端子間の電流経路は
従ターミナルのｂ’端子からの配線が接続されたｅ点で
２系路となる。その結果、１〜１０チャンネルの場合は
ｂ端子の電位に基づいて測定を行っていたものが、１１
〜２０チャンネルの従ターミナルを増設したことにより
Ｖｂ1点の電位（Ｖｂ1＝ｒ3-1・Ｉ＋ｒ2-1・Ｉ）により
演算が行われる。従って主ターミナルだけの場合と従タ
ーミナルを増設した場合では校正値が異なったものとな
り、２１〜３０チャンネルの測定をするために従ターミ
ナルをもう一つ増設し合計３個のターミナルとした場合
も３個めのリード線の抵抗が加わるので異なった校正値
となる。これらの校正値は工場出荷の段階で１〜３ター
ミナルの仕様に合わせた校正値がＥＥＰＲＯＭに書き込
んで出荷される。That is, the current path between the common potential point and the terminal b becomes a two-system path at the point e where the wiring from the terminal b 'of the slave terminal is connected. As a result, in the case of channels 1 to 10, the measurement was performed based on the potential of the terminal b.
Calculating the potential of Vb 1 point (Vb 1 = r 3-1 · I + r 2-1 · I) is carried out by installing additional 20 channels of the slave terminals. Therefore, the calibration values are different between the case where only the main terminal is used and the case where the slave terminal is added. Therefore, even if another slave terminal is added to measure 21 to 30 channels and a total of three terminals are used, the calibration value becomes 3 Since the resistance of the second lead wire is added, different calibration values are obtained. At the stage of shipment from the factory, these calibration values are written to the EEPROM in accordance with the specifications of terminals 1 to 3, and then shipped.
【００１２】ところで、記録装置に接続される測定チャ
ンネルの数ははじめの仕様に限定されず、実際の使用時
には測定点の数によってターミナルの数が増減されるこ
とがある。例えば、はじめの仕様が３０チャンネルで実
際の使用時には２０チャンネルになった場合、従ターミ
ナルを一つ取外すことが行われるが、その様な場合も共
通電位点から流れる電流経路が変わるのでｂ点の電位や
前述のＶｂ1点の電位が変わって校正値とのずれを生じ
測定誤差となる。本発明はターミナルの増減があっても
測定誤差の生じない測温抵抗体回路を実現することを目
的とする。Incidentally, the number of measurement channels connected to the recording apparatus is not limited to the initial specification, and the number of terminals may be increased or decreased depending on the number of measurement points in actual use. For example, when the initial specification is 30 channels and the actual use is 20 channels, one slave terminal is removed. In such a case, the current path flowing from the common potential point changes, so that the point b The potential or the potential at the Vb 1 point changes, causing a deviation from the calibration value, resulting in a measurement error. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to realize a resistance thermometer circuit in which a measurement error does not occur even if the number of terminals increases or decreases.
【００１３】[0013]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明は、３端子Ａ，Ｂ，ｂを有する測温抵抗体Ｒｔ
の複数個が並列に接続されたターミナルと、前記測温抵
抗体Ｒｔのそれぞれの端子Ａに共通に接続された電流源
と、前記ｂ端子に接続される一方の配線が第１スイッチ
を介して演算回路に接続され、他方の端子が第２スイッ
チを介して演算回路及び抵抗値が既知の基準抵抗Ｒｃを
介して共通電位点に接続された測温抵抗体回路におい
て、前記ターミナルの一つを主ターミナルとして複数個
の従ターミナルを増減させる際は、前記従ターミナルの
ｂ端子と前記第１スイッチと演算回路の間を結ぶ配線間
に第３スイッチを設け、前記第１スイッチと第３スイッ
チをスキャニングのタイミングに合わせて切換えるよう
にしたことを特徴とするものである。In order to achieve this object, the present invention provides a resistance thermometer Rt having three terminals A, B and b.
Are connected in parallel to each other, a current source commonly connected to the respective terminals A of the resistance thermometer Rt, and one wiring connected to the terminal b is connected via a first switch. In a temperature measuring resistor circuit, the other terminal of which is connected to an arithmetic circuit and the other terminal is connected to a common potential point via a second switch and an arithmetic circuit and a known resistance value Rc, one of the terminals is connected to the other terminal. When increasing or decreasing a plurality of slave terminals as a main terminal, a third switch is provided between a terminal b of the slave terminal, a wiring connecting the first switch and an arithmetic circuit, and the first switch and the third switch are connected. The switching is performed in accordance with the scanning timing.
【００１４】[0014]
【作用】ターミナル毎にｂ端子に設けられた第１スイッ
チはスキャニングのタイミングに合わせて切換えられ
る。従ってターミナルのｂ端子はそれぞれ独立に機能す
ることになりターミナルの増減によるリード線抵抗の増
減の影響を受けない。以下、実施例に基づき詳細に説明
する。The first switch provided at the terminal b for each terminal is switched in accordance with the scanning timing. Therefore, the b terminals of the terminals function independently of each other, and are not affected by the increase or decrease of the lead wire resistance due to the increase or decrease of the terminals. Hereinafter, a detailed description will be given based on embodiments.
【００１５】[0015]
【発明の実施の形態】図１は本発明の測温抵抗体回路の
概要の構成を示す構成図である。図１において、図４の
従来例と異なる部分は、従来は従ターミナルのｂ’端子
と第１スイッチＳＷ1とｂ端子の間を接続していた配線
を、演算回路と第１スイッチ間とｂ’端子を結ぶ配線と
し、その配線間に第３スイッチＳＷ3を設けたものであ
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a resistance temperature detector circuit according to the present invention. In Figure 1, a conventional example different parts of FIG. 4 is conventionally a wire that was connected between the the sub terminal b 'terminal and the first switch SW 1 and the terminal b, and between the arithmetic circuit and the first switch b and wiring connecting the 'terminal, in which the third switch SW 3 is provided between the wiring.
【００１６】上記の構成において、演算回路１１は１〜
１０チャンネルのスキャニングを行っているときは、Ｓ
Ｗ1，ＳＷ2をオンとしＳＷ3はオフとして信号を取り込
み、１１〜２０チャンネルのスキャニングを行っている
ときは、ＳＷ1をオフＳＷ2，ＳＷ3をオンとして信号を
取り込む。In the above configuration, the arithmetic circuit 11
When scanning 10 channels, S
W 1, SW 2 ON and switching SW 3 takes in the signal as an off, when doing scanning 11-20 channels, takes in the signal SW 1 turns on the OFF SW 2, SW 3.
【００１７】図２はｂ端子のみに着目した場合にＳＷ1
をオフＳＷ2，ＳＷ3をオンとして１１〜２０チャンネル
の信号を取り込んでいる状態を示している。即ち共通電
位点からの流入電流はｅ点で分岐せずにｂ’端子側のみ
に流れることになる。このことは各ターミナルが独立
し、ターミナル毎に図３で説明した従来例と同様な動作
をすることになり、ターミナルの増減にかかわらず主タ
ーミナルだけで校正した値をそのまま使用できることと
なる。なお、実施例では主，従２つのターミナルを用い
た場合について説明したがターミナルの数は装置の処理
能力に応じて更に増減することができる。FIG. 2 shows SW 1 when attention is paid only to the terminal b.
Shows a state in which have taken up signal 11 to 20 channels off SW 2, SW 3 turns on the. That is, the inflow current from the common potential point flows only to the b ′ terminal side without branching at the point e. This means that each terminal is independent and performs the same operation as the conventional example described with reference to FIG. 3 for each terminal, so that the value calibrated only by the main terminal can be used as it is regardless of the increase or decrease of the terminals. In the embodiment, the case where two terminals are used is described. However, the number of terminals can be further increased or decreased according to the processing capacity of the apparatus.
【００１８】[0018]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、タ
ーミナルの一つを主ターミナルとして複数個の従ターミ
ナルを増減させるに際し、従ターミナルのｂ端子と第１
スイッチと演算回路の間を結ぶ配線間に第３スイッチを
設け、第１スイッチと第３スイッチをスキャニングのタ
イミングに合わせて切換えるようにしたので、ターミナ
ルを増設若しくは減少した場合に発生する配線抵抗によ
る誤差の影響を軽減した測温抵抗体回路を実現すること
ができる。As described above, according to the present invention, when one of the terminals is used as a main terminal and a plurality of sub-terminals are increased or decreased, the terminal b of the sub-terminal is connected to the first terminal.
A third switch is provided between the switches and the wiring connecting the arithmetic circuits, and the first switch and the third switch are switched in accordance with the scanning timing. It is possible to realize a resistance temperature detector circuit in which the influence of errors is reduced.
【図１】本発明の測温抵抗体回路の一実施例の要部構成
説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of a main part configuration of an embodiment of a resistance temperature detector circuit of the present invention.
【図２】本発明の測温抵抗体回路のｂ端子に着目した共
通電位点からの流入電流の状態を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a state of an inflow current from a common potential point focusing on a terminal b of the resistance temperature detector circuit of the present invention.
【図３】配線抵抗による誤差の影響を軽減した回路の説
明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of a circuit in which the influence of an error due to wiring resistance is reduced.
【図４】従来の測温抵抗体回路の要部構成説明図であ
る。FIG. 4 is an explanatory diagram of a main part configuration of a conventional resistance temperature detector circuit.
【図５】従来の測温抵抗体回路のｂ端子に着目した共通
電位点からの流入電流の状態を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a state of an inflow current from a common potential point focusing on a terminal b of a conventional resistance temperature detector circuit.
Ｒｔ 測温抵抗体 Ｒｃ 基準抵抗 ＣＳ 定電流源 ＳＷ スイッチ １１ 演算回路 １２ 入力スキャナ（リレー） １３ 低抵抗配線 Rt RTD Rc Reference resistance CS Constant current source SW switch 11 Operation circuit 12 Input scanner (relay) 13 Low resistance wiring
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01K 7/20 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G01K 7/20
Claims (1)
の複数個が並列に接続されたターミナルと、 前記測温抵抗体Ｒｔのそれぞれの端子Ａに共通に接続さ
れた電流源と、 前記ｂ端子に接続される一方の配線が第１スイッチを介
して演算回路に接続され、他方の端子が第２スイッチを
介して演算回路及び抵抗値が既知の基準抵抗Ｒｃを介し
て共通電位点に接続された測温抵抗体回路において、 前記ターミナルの一つを主ターミナルとして複数個の従
ターミナルを増減させる際は、前記従ターミナルのｂ端
子と前記第１スイッチと演算回路の間を結ぶ配線間に第
３スイッチを設け、前記第１スイッチと第３スイッチを
スキャニングのタイミングに合わせて切換えるようにし
たことを特徴とする測温抵抗体回路。1. A resistance thermometer Rt having three terminals A, B and b.
A plurality of terminals connected in parallel, a current source commonly connected to each terminal A of the resistance temperature detector Rt, and one of the wires connected to the terminal b is connected via a first switch. A temperature measuring resistor circuit connected to an arithmetic circuit, the other terminal of which is connected to the arithmetic circuit via a second switch and a common potential point via a known reference resistance Rc, When increasing or decreasing a plurality of slave terminals as a main terminal, a third switch is provided between a terminal b of the slave terminal, a wiring connecting the first switch and an arithmetic circuit, and the first switch and the third switch are connected. A resistance temperature detector circuit characterized in that switching is performed in accordance with scanning timing.
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