JP3160483B2 - 基板自動処理装置 - Google Patents

基板自動処理装置

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JP3160483B2
JP3160483B2 JP30298094A JP30298094A JP3160483B2 JP 3160483 B2 JP3160483 B2 JP 3160483B2 JP 30298094 A JP30298094 A JP 30298094A JP 30298094 A JP30298094 A JP 30298094A JP 3160483 B2 JP3160483 B2 JP 3160483B2
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  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は基板、例えばシリコンウ
ェハーの洗浄処理をなすウェハー洗浄処理装置などの、
基板自動処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばシリコンウェハーの自動洗浄を行
うウェハー洗浄処理装置においては、種々の処理液を夫
々貯留した複数の処理槽を備え、洗浄されるべきシリコ
ンウェハーをこれらの処理液に順に浸漬させるように移
送することが行われる。
【0003】一方、前段の工程を経て供給される未洗浄
のシリコンウェハーを受け入れて上記構成の洗浄処理手
段に持ち来すべく搬送する搬送手段が設けられる。な
お、通常、この未洗浄のシリコンウェハーはカセット内
に多数枚が配列収容された状態で供給され、該搬送手段
としてはこのカセットごと搬送するカセット搬送形式の
ものと、該カセット内のシリコンウェハーのみを保持し
て搬送するいわゆるカセットレス形式のものとがある。
また、前述した洗浄処理手段自体に関しても同様で、カ
セット搬送形式及びカセットレス形式があり、いずれか
が適宜選定される。
【0004】ところで、上記のように前段工程より供給
されるカセット内の各シリコンウェハーは、各々のオン
エンテーション・フラット(Orientation
Flat:以下、O/Fと略して示す)が不揃いであ
り、そのまま洗浄処理に供することは洗浄効果等の観点
から好ましくない。そこで、このO/Fを揃える作業を
なすO/F揃え手段が前述した洗浄処理手段の前段に配
設され、洗浄処理に先立ってこの作業が施される。この
O/F揃え作業は、上記搬送手段がシリコンウェハーを
上記洗浄処理手段まで持ち込む過程で一旦このO/F揃
え手段に預ける形で行われる。
【0005】また、この他、上記洗浄処理手段の処理能
力を高めることなどを目的として、上記カセットの1つ
分ではなく、例えばカセット2つ分のシリコンウェハー
をまとめて同時に洗浄処理することが行われる。このた
め、上記搬送手段は、まず、先行するカセット1つ分の
シリコンウェハー群を所定位置に搬送してここに一旦預
け、その後、続く他のカセット1つ分のシリコンウェハ
ー群を搬送してこれに加えることを行う。この場合、前
者と後者の2群のシリコンウェハー群に関して、処理す
べき処理面の向きが全て同じであると、上記洗浄処理手
段の後段に設けられた遠心乾燥装置においてこれら2群
のシリコンウェハーを乾燥させる際に不都合が生ずる
(その理由については、後の実施例における理由と同様
である故、ここでは詳述しない)。よって、上記所定位
置に載置された2群のシリコンウェハーについて、全て
の向きが同じであるなら、その一方の群を反転させて両
群のシリコンウェハーの処理面の向きを互いに逆向きに
することが必要となり、この作業を行う処理面揃え手段
が設けられる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述したウェハー洗浄
処理装置においては、前述の各処理槽を含む洗浄処理手
段のみにても多大なスペースを占有する。具体的には、
該各処理槽は夫々が比較的大きく、これらが一列に並べ
て設けられ、洗浄処理手段は長大である。従って、該洗
浄処理手段に加えて上記O/F揃え手段及び処理面揃え
手段を設けることによって、ウェハー洗浄処理装置全体
としての大型化を招来し、作業場など、装置の設置スペ
ースの確保に苦慮するという問題がある。
【0007】本発明は上記した点に鑑みてなされたもの
であって、その目的とするところは、装置全体としての
コンパクト化を達成すると共に、他の種々の効果を併せ
奏し得る基板自動処理装置を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明による基板自動処理装置は、所定方向におい
て延在しシリコンウエハーを該所定方向に移送して前記
シリコンウエハーの洗浄処理及び遠心乾燥処理を行う
理手段と、前段から供給される前記シリコンウエハー
受け入れて該処理手段に持ち来すべく搬送する搬送手段
と、該処理手段の前段に配置されて該搬送手段により搬
送される前記シリコンウエハーのオリエンテーション・
フラット(O/F)を揃える作業をするO/F揃え手段
と、前記シリコンウエハーの処理面の向きを揃える作業
を行う処理面揃え手段とからなる作業手段とを備え、
記O/F揃え手段及び前記処理面揃え手段前記所定
方向に対して交差する方向において略直線的に並設され
ているものである。また、前記搬送手段は、前記シリコ
ンウエハーを担持して前記O/F揃え手段及び前記処理
面揃え手段が並ぶ方向に沿って略直線的に移動する移動
台と、該移動台と前記作業手段との間で前記シリコンウ
エハーの中継を行う中継手段とを有するものである。ま
た、前記シリコンウエハーはカセットに収容された状態
で前記搬送手段によって搬送され、該搬送手段は、前記
シリコンウエハーを取り出して空となった該カセットを
更に後段に向けて搬出するものである。また、前記搬送
手段は、前記所定方向に対して交差する方向における前
記処理手段の片側に配置されて前段からカセットに収容
された状態で供給される前記シリコンウエハーを受け入
れるための搬入部と、該搬入部により搬入された該カセ
ットを受けて上昇せしめるリフタと、該リフタにより上
昇された該カセットを受けて前記作業手段に沿って略水
平に移動させる水平移動手段と、前記処理手段の前記片
側に対する他側に配置されて該水平移動手段を経て空と
なった前記カセットを後段に向けて搬出する搬出部とを
備え、該搬出部は前記搬入部に比して上方に配設されて
いるものである。
【0009】
【作用】上記構成によれば、上記各作業手段が、長尺な
上記処理手段の前段側において該処理手段の長手方向に
対して交差する状態に並ぶ。
【0010】
【実施例】以下、本発明に係る基板自動処理装置として
のウェハー洗浄処理装置について説明する。
【0011】図1に示すように、当該ウェハー洗浄処理
装置は、シリコンウェハー1の洗浄処理をなす洗浄処理
手段3と、前段(図示せず)の工程を経て供給される未
洗浄のシリコンウェハー1を受け入れて該洗浄処理手段
3に持ち来すべく搬送する搬送手段7とを有している。
この未洗浄のシリコンウェハー1は1つのカセット9内
に25枚が配列収容された状態で前段より供給される。
搬送手段7としては、該各シリコンウェハー1をこのカ
セット9に収容した状態のまま搬送するカセット搬送形
式のものが採用されている。また洗浄処理手段3として
は、該カセット9は残してシリコンウェハー1のみを保
持して搬送するいわゆるカセットレス形式のものが採用
され、一度に50枚、すなわちカセット2つ分のシリコ
ンウェハー1の洗浄処理が可能である。
【0012】但し、本実施例においては、このように搬
送手段7がカセット搬送形式で洗浄処理手段3がカセッ
トレス形式のものであるが、搬送手段7及び洗浄処理手
段3の夫々についてカセット搬送形式、カセットレス形
式のいずれを採用してもよい。
【0013】図1に示すように、上記洗浄処理手段3の
右側、すなわち前段には、上記搬送手段7により搬送さ
れるカセット9内の各シリコンウェハー1に対して夫々
次に示す所要の作業を施す作業手段としてのO/F揃え
手段11及び12、処理面揃え手段14及び15が装置
後部から前部に向って一列に並べて設けられている。な
お、当該ウェハー洗浄処理装置に関し、その全体的な方
向性や各部分の相対的な位置を明確化するため、各図に
おいて、当該装置についての左方向、前方向及び上方向
を各々矢印X、Y及びZにて示している。これらの逆方
向である右方向、後方向及び下方向は該各矢印の反対方
向として示される。
【0014】上述したように、前段の工程より供給され
るカセット9内の各シリコンウェハー1は、各々のオリ
エンテーション・フラット(Orientation
Flat:以下、O/Fと略して示す)が揃っておら
ず、そのまま洗浄処理手段3による洗浄処理に供するこ
とは洗浄効果等の観点から好ましくない。そこで、各シ
リコンウェハー1のO/Fを揃える必要があり、上記の
両O/F揃え手段11及び12はこの作業を行うべく設
けられている。このO/F揃え作業は、上記搬送手段7
がシリコンウェハー1を上記洗浄処理手段3まで持ち込
む過程で一旦このO/F揃え手段11、12に預ける形
で行われる。
【0015】また、当該ウェハー洗浄処理装置において
は、上記洗浄処理手段3の洗浄処理能力を高めることな
どを目的として、上記カセット9の1つ分、すなわち2
5枚ではなく、カセット2つ分である50枚のシリコン
ウェハー1をまとめて同時に洗浄処理することが行われ
る。よって、上記搬送手段7は、各々25枚ずつのシリ
コンウェハー1を収容した2つのカセット9を洗浄処理
手段3に搬入する。この場合、この2つのカセット9内
に収容されている25枚ずつの2群のシリコンウェハー
群に関して、処理すべき処理面の向きが全て同じである
と、下記の理由によって不都合が生ずる。よって、これ
ら2群のシリコンウェハー群の向きが全て同じであるな
ら、その一方の群を反転させて両群のシリコンウェハー
の処理面の向きを互いに逆向きにすることが必要とな
る。前記した処理面揃え手段14及び15はこの作業を
行うものである。
【0016】上記処理面揃え手段14及び15を設けた
理由は次の点による。
【0017】すなわち、当該ウェハー洗浄処理装置にお
いては、上記洗浄処理手段3による洗浄処理を施された
各シリコンウェハー1を乾燥させることが行われ、該洗
浄処理手段3の後段にこの乾燥処理を行う遠心乾燥装置
が設けられている。該遠心乾燥装置を図15及び図16
に基づいて説明する。なお、上記洗浄処理手段3と、こ
の遠心乾燥装置とを、処理手段と総称する。
【0018】図15及び図16において、当該遠心乾燥
装置は、図示しない駆動手段によって回転駆動される水
平なターンテーブル101を備えている。そして、この
ターンテーブル101上であってその回転中心101a
から偏倚した位置にクレードル102が例えば2つ取り
付けられている。図16から明らかなように、これらク
レードル102は、ターンテーブル101の回転中心1
01aに関して対象に振り分けて配置されている。
【0019】なお、図15に示すように、ターンテーブ
ル101は、上部にて開口したケーシング104により
囲繞されており、該開口部を開閉する蓋体105が設け
られている。また、この蓋体105は装置の本体部分を
構成するフレーム106にヒンジ107により回動自在
(矢印Lにて示している)に取り付けられており、図示
せぬシリンダーによって駆動力を付与されて開閉動作を
行う。
【0020】図15から明らかなように、上記両クレー
ドル102は、夫々複数枚、この場合25枚ずつのシリ
コンウェハー1を該シリコンウェハーの主面同士が互い
に平行となるように等ピッチにて整列して保持する。そ
して、図15において実線及び二点鎖線にて示すよう
に、各クレードル102は、その保持するシリコンウェ
ハー1の主面が略水平になる位置と略鉛直となる他の位
置との間で回動可能(図において矢印Qにて示してい
る)となっている。詳しくは、クレードル102はその
端部にてシャフト108に嵌着されており、該シャフト
108はターンテーブル101に回転自在に取り付けら
れている。そして、該シャフト108を回転駆動するこ
とによってクレードル102を上記2つの位置に位置決
めするシリンダ(図示せず)が設けられている。
【0021】ここで、クレードル12の構成について詳
述する。
【0022】図示のように、クレードル102は、枠状
の本体110及び蓋体111から成って上記シャフト1
08に固着された基体部と、夫々略棒状に形成されてシ
リコンウェハー1の整列方向において延在すべくこの基
体部に取り付けられてシリコンウェハー1の外周部に係
合してこれらを受ける例えば6本の保持部材113とを
有している。
【0023】上記各保持部材113は略円柱状に形成さ
れている。そして、各々シリコンウェハー1の外周部分
が係合し得る受け溝(図示せず)が25条、長手方向に
おいて等しいピッチにて並設されている。
【0024】上述したように、クレードル102の基体
部は本体110と該本体110に対して開閉自在(図1
5において矢印Sにて示す)に取り付けられた蓋体11
1とから成るが、上記保持部材113は該本体110と
共にこの蓋体111に設けられている。そして、蓋体1
11が閉位置にあるときに、本体110及び蓋体111
に夫々設けられた保持部材113が互いに協働してシリ
コンウェハー1を保持する状態となる。
【0025】なお、図示のように、上記蓋体111は、
本体110に回転可能に取り付けられたシャフト115
に嵌着されたフレーム116と、該フレーム116に一
端部にて取り付けられた上記保持部材113自体と、該
保持部材113の他端部に固着されたブロック117と
から成る。また、図示してはいないが、この蓋体111
を開閉動作させるためのシリンダが設けられている。
【0026】上記した構成の遠心乾燥装置の動作を説明
する。
【0027】まず、図15において、ケーシング104
上に設けられた蓋体105を二点鎖線で示すように開か
せる。そして、両クレードル102を上方に回動させて
待機させると共に、該各クレードル102が具備する蓋
体111も開状態とする。この状態において、乾燥させ
るべきシリコンウェハー1が各クレードル102内に搬
入される。
【0028】次に、各クレードル102の蓋体111を
閉状態とすると共に該各クレードル102を下方に回動
させ、更にケーシング104上の蓋体105を閉じる。
このようにクレードル102が下方に回動することによ
って該クレードル102に収容されている各シリコンウ
ェハー1はその主面が略水平となる。この状態でターン
テーブル101を回転駆動する。これによって遠心力が
作用し、各シリコンウェハーの表面に付着している水分
が飛散する。
【0029】各シリコンウェハー1の表面から水分が充
分に取り除かれた頃、ターンテーブル101を停止す
る。そして、各シリコンウェハー1を回収する。
【0030】上記した構成の遠心乾燥装置においては、
遠心乾燥をなすべくターンテーブル101を回転させる
際、各シリコンウェハー1はその主面が略水平となるよ
うに保持される。具体的には、各クレードル102が具
備する各保持部材113に形成された受け溝(図示せ
ず)の内側面によって、シリコンウェハー1がその下面
を支え持たれる状態となる。従って、ターンテーブル1
01が回転を開始すると、シリコンウェハー1の下面側
とこれに当接している該受け溝内側面とが、微視的に互
いに擦れ合う状態が生ずる。シリコンウェハー1は、そ
の片側の面にパターンすなわち電子回路などが形成さ
れ、この面が処理面とされるが、この処理面が下側とな
ると該受け溝内側面との擦れ合いによってパターンの一
部が損傷することが懸念される。そこで、各シリコンウ
ェハー1は、遠心乾燥作動時にこのパターン面すなわち
処理面が上側となるように両クレードル102に収容さ
れる。具体的には、上述のように上方に回動して待機し
ている両クレードル102に対して、25枚ずつを1群
とする2群のシリコンウェハー1を振り分けて収容する
際、この2群のシリコンウェハー1の処理面の向きを互
いに逆向きとしておく。前述した処理面揃え手段14及
び15は、このように2群のシリコンウェハー1の処理
面の向きを逆とするためのものである。
【0031】上記搬送手段7は、搬送する2つのカセッ
ト9のうち、先行する1つ目のカセット9内のシリコン
ウェハー群を一方の処理面揃え手段15に一旦預け、続
いてもう1つのカセット9内のシリコンウェハー群を他
方の処理面揃え手段14に預ける。この状態で両処理面
揃え手段14、15が作動し、処理面が揃えられる。
【0032】続いて、上述した洗浄処理手段3、搬送手
段7、O/F揃え手段11及び12、処理面揃え手段1
4及び15の各々の構成について該各手段の相互関係も
含めて個別に詳細に説明する。
【0033】まず、洗浄処理手段3は、図1に示すよう
に、種々の処理液を夫々貯留した複数、例えば4つの処
理槽17乃至20を備えている。また、上記搬送手段7
によって搬入される50枚のシリコンウェハー1を保持
する保持手段22(後に構成を詳述する)と、該保持手
段22をその保持した各シリコンウェハー1が上記各処
理槽17乃至20内の処理液を順に巡るように所定経路
に沿って移送する移送手段(図示せず)とを備えてい
る。
【0034】ここで、図1から明らかなように、上記各
処理槽17乃至20は左右方向(矢印X方向及びその反
対方向)において一列に並べて設けられている。また、
前述した遠心乾燥装置は該処理槽20の更に後段に並べ
て設けられている。該各処理槽17乃至20、並びに該
遠心乾燥装置は夫々が比較的大きく、従って、洗浄処理
手段3及び該遠心乾燥装置からなる処理手段は該左右方
向において延在し、長大である。そこで、当該ウェハー
洗浄処理装置全体としての占有スペースを可能な限り狭
めるべく、下記の構成が採用されている。
【0035】すなわち、洗浄処理に供される50枚のシ
リコンウェハー1についてそのO/F及び処理面の向き
を夫々揃える作業を行う作業手段として上記洗浄処理手
段3の前段側に設けられた各O/F揃え手段11及び1
2並びに両処理面揃え手段14及び15が、該洗浄処理
手段3及び遠心乾燥装置からなる処理手段の長手方向で
ある左右方向(矢印X方向及びその反対方向)に対して
交差する方向、この場合直交する前後方向(矢印Y方向
及びその反対方向)において一列に並ぶように配設され
ている。従って、当該ウェハー洗浄処理装置全体が平面
的(左右方向及び前後方向)に広がって長大化が避けら
れ、コンパクトとなっている。
【0036】上記O/F揃え手段11及び12、処理面
揃え手段14及び15は夫々比較的大きな構造であり、
これらの配置を上記のようにすることは装置のコンパク
ト化にとって特に有効である。
【0037】次に、シリコンウェハー1を上記洗浄処理
手段3に搬入する搬送手段7の構成を詳しく説明する。
【0038】搬送手段7に関しては、図1から明らかな
ように、全体としては上記の洗浄処理手段3を囲むよう
に構成されている。具体的には、図2乃至図4にも示す
ように、上記洗浄処理手段3の前側に配置されて、未洗
浄のシリコンウェハー1を夫々25枚ずつ配列収容して
前段の工程より供給される2つのカセット9を受け入れ
て装置の左側(矢印X方向側)から右側(矢印X方向と
は反対方向側)に向けて搬入する搬入部27と、該搬入
部27により搬入された各カセット9を所定の高さまで
上昇(矢印Z方向)させるリフタ29と、該リフタ29
により持ち上げられたカセット9を担持して前後方向
(矢印Y方向及びその反対方向)において水平に適宜移
動させる水平移動手段31とを備えている。該カセット
9内の各シリコンウェハー1は、この水平移動手段31
による水平移動の過程で前述のO/F揃え手段11、1
2及び処理面揃え手段14、15に一旦預けられる形と
されて該各揃え手段によるO/F揃え及び処理面揃えが
行われ、最後に前述の洗浄処理手段3による洗浄処理に
供すべく該カセット9から抜き取られる。上記水平移動
手段31はシリコンウェハー1が抜き取られて空となっ
たカセット9を更に装置後側(矢印Y方向とは反対側)
に向けて移動させる。図示のように、この装置後側、具
体的には上記洗浄処理手段3の後側には、このシリコン
ウェハー抜き取り後の空のカセット9を担持して装置の
右側(矢印X方向とは反対方向側)から左側(矢印X方
向)に向けて搬出して後段(図示せず)の工程に受け渡
すための搬出部35とを有している。
【0039】なお、ここで明らかなように、上記搬送手
段7は、各シリコンウェハー1をカセット9に収容した
状態のまま搬送すると共に、該シリコンウェハーを取り
出して空となった該カセット9を更に後段に向けて搬出
する(搬出部35による)ことを行う。すなわち、当該
ウェハー洗浄処理装置においては、空のカセット9の回
収機能をも有するのであり、空のカセットの回収を人手
によって行う必要がなく、また、空のカセットの回収を
自動的になさしめるべく特別な回収装置を新たに付加す
る必要もなく、未洗浄のシリコンウェハーを収容したカ
セット9の受入れから空のカセットの回収までの一連の
工程をラインとして迅速に行うことができ、作業効率の
向上と作業コストの低減が達成されるものである。ま
た、上記の記載と図4から明らかなように、上記搬出部
35は、上記搬入部27に比して上方に配置されてい
る。それ故に、この図4に示すように、該搬出部35の
下方には上下方向に比較的大きな空きスペースが生じて
いる。従って、このスペースを利用して作業者が何等か
の作業を行うことができると共に通路とすることがで
き、当該ウェハー洗浄処理装置のメンテナンス、具体的
には装置背面側のメンテナンスが容易となっている。
【0040】上記搬送手段7を構成する搬入部27、リ
フタ29、水平移動手段31及び搬出部35の各々につ
いてより詳しく説明する。
【0041】まず、装置の前側に設けられた上記搬入部
27は、図1、図2及び図4から明らかなように、夫々
シリコンウェハー1を収容したカセット9を2つ搭載し
得て左右方向(矢印X方向及びその反対方向)において
往復動自在なスライダ27aと、該スライダ27aを移
動させる駆動手段(図示せず)とを有している。また、
装置の後側に配置された搬出部35についても該搬入部
27と同様であり、図1及び図4に示すように、空とな
ったカセット9を2つ搭載することができて左右方向
(矢印X方向及びその反対方向)において往復動自在な
スライダ35aと、該スライダ35aを往復動させる駆
動手段(図示せず)とを有している。なお、これら搬入
部27及び搬出部35が各々備える各スライダ27a、
35aは、その搭載するカセット9を上下方向(矢印Z
方向及びその反対方向)において所定範囲内で昇降させ
得る機能を有している。
【0042】また、上記搬入部27によって搬入された
各カセット9を所定の高さ位置まで上昇させるべく設け
られたリフタ29は、図1乃至図4に示すように、昇降
自在にして1つのカセット9を担持し得る昇降台29a
と、該昇降台29aを昇降させる駆動手段29bとから
なる。
【0043】上記リフタ29の後方に設けられた水平移
動手段31については次のように構成されている。
【0044】図4乃至図6に示すように、この水平移動
手段31は、前述した各O/F揃え手段11及び12並
びに両処理面揃え手段14及び15の上方において該各
揃え手段の並ぶ前後方向(矢印Y方向及びその反対方
向)に直線的に延在するフレーム37(図1及び図3に
も示す)を備えている。図5及び図6から特に明らかな
ように、このフレーム37の右側面には、該フレーム3
7の略全長に亘るガイドレール38が取り付けられてい
る。そして、該ガイドレール38に沿って摺動するスラ
イダ39が設けられており、上記カセット9を担持し得
る移動台41が該スライダ39に取り付けられている。
【0045】図4乃至図6に示すように、上記移動台4
1は、一端部にて上記スライダ39に取り付けられて上
方に伸びる可動ベース43と、該可動ベース43の上端
部に一端部にて嵌着されて左方(矢印X方向)に向って
平行に伸長する2本の支持シャフト44(図4には示し
ていない)と、各々該両支持シャフト44の先端部及び
中央部近傍に固着されて互いに平行に延在する一対の支
持プレート46とを有している。図4から明らかなよう
に、この支持プレート46は、長尺な略平行四辺形を呈
するように形成され、後方(矢印Yとは反対方向)に向
って上方(矢印Z方向)に傾斜するように設けられてい
る。そして、該両支持プレート46の上辺部及び下辺部
には、夫々一対ずつにて前述のカセット9を担持し得る
支持枠48及び49が取り付けられている。詳しくは、
図6に示すように、カセット9の上端部には鍔部9aが
形成されており、支持枠48、49はこの鍔部9aを支
える。
【0046】上記構成の移動台41は下記構成の駆動手
段によって駆動力を付与されて移動する。
【0047】図4乃至図6に示すように、上記ガイドレ
ール38が取り付けられたフレーム37の前端部にブラ
ケット51を介してモータ52が取り付けられている。
該モータ52の出力軸にはプーリ52aが嵌着されてい
る。また、フレーム37の後端部にも他のプーリ53が
設けられており、該両ブーリ52a、53に駆動ベルト
55が掛け回されている。そして、移動台41が取り付
けられている上記スライダ39がこの駆動ベルト55の
一部に連結されている。すなわち、モータ52が作動す
ることによって駆動ベルト55が駆送され、これにより
移動台41が移動する。
【0048】ところで、前述したように、カセット9内
のシリコンウェハー1は、上記構成の水平移動手段31
による水平移動の過程で前述のO/F揃え手段11、1
2及び処理面揃え手段14、15に一旦預けられる形と
されて該各揃え手段による作業が行われる。該O/F揃
え手段11、12及び処理面揃え手段14、15におい
ては、その各々の作業位置に実際にはシリコンウェハー
1が存在していない状態で各揃え作業が無用に行われる
ことは時間等を浪費することとなる。そこで、当該ウェ
ハー洗浄処理装置においては、これらO/F揃え手段1
1、12及び処理面揃え手段14、15による作業は、
夫々の作業位置にシリコンウェハーが到達したことを確
認した上で実行される。この確認をなすべく設けられた
検知手段について説明する。但し、本実施例において
は、上記O/F揃え手段11、12及び処理面揃え手段
14、15の夫々の作業位置近傍に上記移動台41が達
した時点で、該移動台41上に被搬送物としてのカセッ
ト9が存在するや否やを検知することよりこの確認を行
っている。
【0049】図4及び図5に示すように、上記移動台4
1を案内するガイドレール38が取り付けられた固定側
としてのフレーム37の前後両端部に、夫々ブラケット
58、59を介して光センサ61及び62が取り付けら
れている。これらの光センサ61、62は各々発光素子
(図示せず)と受光素子(図示せず)とを有し、該発光
素子から上記移動台41の移動方向に光61a、62a
を照射すると共に、該受光素子への入射光61b、62
bに基づいて検知信号を発する。なお、前方に配置され
た光センサ61は後方(矢印Yとは反対方向)に向けて
光61aを照射し、後方に設けられた光センサ62は前
方(矢印Y方向)に向けて光62aを照射する。また、
図4から明らかなように、両光センサ61及び62の各
々の光軸は、上下方向(矢印Z方向及びその反対方向)
において距離Kを隔てるように設定されている。
【0050】図4乃至図6、特に図5及び図6に示すよ
うに、上記移動台41上、詳しくは該移動台41が具備
する左右一対の支持プレート46の各外側面に、反射手
段として、2枚ずつ合計4枚のミラー65乃至68が夫
々ブラケット71乃至74を介して取り付けられてい
る。これらのミラーは、2枚ずつが一組として被搬送物
としてのカセット9を左右で挟むように設けられてい
る。詳しくは、図6から明らかなように、該移動台41
が具備する上辺側の支持枠48によって支持されるカセ
ット9をミラー65及び66が挟むようになされ、下辺
側の支持枠49によって支持されるカセット9を残るミ
ラー67及び68が左右で挟むようになされている。
【0051】上記上辺側の支持枠48によって支持され
るカセット9を左右で挟むように設けられた一対のミラ
ー65及び66のうち一方、この場合右側に配置された
ミラー65は、前述した前方側の光センサ61の発光素
子から発せられる照射光61aの光軸上に該光軸に対し
て45°の傾斜角を以て設けられ、該照射光61aが左
側に配置された他方のミラー66に向うように90°の
角度を以て反射する。また、該他方のミラー66はこの
ミラー65を経た照射光61aを180°反射し、該反
射光は再びミラー65を経て光センサ61の受光素子へ
の入射光61bとなる。
【0052】一方、移動台41の下辺側の支持枠49に
よって支持されるカセット9を左右で挟むように設けら
れた一対のミラー67及び68のうち一方、この場合右
側に配置されたミラー67は、後方側の光センサ62の
発光素子から発せられる照射光62aの光軸上に該光軸
に対して45°の傾斜角を以て設けられ、該照射光62
aが左側に配置された他方のミラー68に向うように9
0°の角度を以て反射する。また、該他方のミラー68
はこのミラー67を経た照射光62aを180°反射
し、該反射光は再びミラー67を経て光センサ62の受
光素子への入射光62bとなる。
【0053】上述した両光センサ61及び62と、各ミ
ラー65、66、67及び68と、各ブラケット71乃
至74などとによって、上記移動台41上のカセット9
を検知するための検知手段が構成される。なお、該検知
手段と、前述の搬送手段7とを、搬送装置と総称する。
【0054】上記構成の検知手段においては、図7から
明らかなように、固定側に設けられた両光センサ61、
62のうち例えば後側に配置された光センサ62が具備
する発光素子から発せられた照射光62aは、上記移動
台41の位置に拘らず一方の反射手段としてのミラー6
7によって反射して他方の反射手段としてのミラー68
に向う。そして、移動台41上に被搬送物としてのカセ
ット9が存在しない場合には該ミラー68に達してその
反射光が再びミラー67を経て光センサ62の受光素子
に達する。また、移動台41上にカセット9が存在する
場合は該カセットにより遮られ、該受光素子が受光する
ことはない。なお、他の光センサ61、ミラー65及び
66に関しても同様に光の照射、反射がなされ、移動台
41の位置に拘らずカセット9を検知することができ
る。
【0055】かかる構成の検知手段を採用したことによ
って、上記O/F揃え手段11、12及び処理面揃え手
段14、15の夫々の作業位置におけるカセット9の検
知をなすための光センサの数が少なくて済み、比較的高
価な光センサの購入に掛る費用、センサ取付け用金具の
製造費用、並びにセンサ自体の調整に要する費用等に鑑
み、コストの低減が達成される。
【0056】また、上記両光センサ61、62は固定側
に設けられているから、センサから検知信号を取り出す
ための配線が移動配線とはならない。従って、移動配線
である場合の問題、例えば、配線の摩耗、移動台41の
円滑な移動の阻害等は回避される。
【0057】また、本実施例で示すウェハー洗浄処理装
置などの基板自動処理装置に関してはコストダウンが一
般に要望されていることから、上記のようにコスト低減
を図ることは特に有用である。また、該基板自動処理装
置においては、シリコンウェハー等の基板の搬送、位置
決めを円滑かつ高精度に行わなければならない故に、上
記のように検知手段に関して固定配線とすることは搬送
抵抗の低減をもたらすから有効である。
【0058】なお、当該ウェハー洗浄処理装置において
は、上記検知手段はカセット9を検知する形式である
が、光センサ61、62や各ミラー65乃至68の位置
等を変えるなどして、シリコンウェハー1の検知を行う
ようにしてもよい。特に、当該ウェハー洗浄装置におい
ては、上記移動台41を含む搬送手段7がカセット9を
搬送するカセット搬送形式のものである故にカセット9
の検知を行っているが、シリコンウェハー1のみを搬送
するカセットレス形式の搬送手段を採用する場合には上
記構成の検知手段が採用される。
【0059】次に、先に概略を説明した作業手段として
のO/F揃え手段11及び12並びに処理面揃え手段1
4及び15について詳述する。
【0060】まず、O/F揃え手段11及び12につい
ては、図3及び図4に示すように、夫々、互いに平行に
して回転自在な2本ずつの揃えローラ11a、12a
と、モータ11b、12b(図4参照)を含んで該揃え
ローラ11a、12aを回転駆動する駆動手段とを有し
ている。なお、図4に示すように、これら揃えローラ1
1a、12a及びモータ11b、12bは、固定側であ
るベースプレート78に対し、ブラケット11c、12
cを介して取り付けられている。
【0061】上記O/F揃え手段11及び12は、その
各々が具備した上記揃えローラ11a、12aを、持ち
来されたカセット9内の各シリコンウェハー群の下端部
に対して該カセットの底部開口部を通じて当接させ、こ
の当接状態にて両揃えローラ11a、12aを回転させ
ることにより、O/Fが不揃いな各シリコンウェハー1
を回転させて揃えることを行う。
【0062】ところで、前述した移動台41は、上記カ
セット9を担持して上記O/F揃え手段11及び12の
上方を前後方向(矢印Y方向及びその反対方向)におい
て単に直線的に水平移動するだけである。故に、該移動
台41の作動のみにてはその担持したカセット9、従っ
てシリコンウェハー1をO/F揃え手段11、12に受
け渡すことは出来ない。よって、該O/F揃え手段11
及び12と移動台41との間でカセット9の中継を行う
べく、図1、図3及び図4に示す中継手段80が設けら
れている。この中継手段80は、前述した搬送手段7の
一部として含まれるものである。
【0063】図示のように、該中継手段80は、全体と
して矩形板状に形成されて水平に設けられた受け治具8
2を有している。この受け治具82は下記構成の駆動手
段によって昇降させられるが、図1及び図3に示すよう
に、該受け治具82には上記両O/F揃え手段11及び
12が遊挿し得る開口部82a、82bが形成されてお
り、昇降の際に該両O/F揃え手段11、12と干渉す
ることはない。
【0064】図4に示すように、受け治具82は詳しく
は、前述のベースプレート78にボス84を介して上下
動自在に設けられた複数本のスライドシャフト85の上
端部に取り付けられている。なお、該各スライドシャフ
ト85は、その下端部同士が連結プレート86によって
互いに連結されている。そして、同図に示すように、該
ベースプレート78には、該各スライドシャフト85と
平行に、油圧若しくは空圧式のシリンダ88がその出力
軸88aが上側となるように取り付けられており、該出
力軸88aの先端部が上記受け治具82に連結されてい
る。このシリンダ88が駆動手段として作用し、その出
力軸88aが出没動作をなすことによって上記受け治具
82が昇降する。
【0065】続いて、前述したO/F揃え手段11及び
12の前方に配置された処理面揃え手段14及び15に
ついて説明する。
【0066】図3及び図4に示すように、両処理面揃え
手段14及び15は、夫々、25枚ずつのシリコンウェ
ハー1を整列した状態のまま保持し得る支持台14a、
15aを備えている。詳しくは、図3に示すように、各
支持台14a、15aの上端部には、各シリコンウェハ
ーの下端部に嵌合することにより整列状態を維持して支
え持つ櫛歯状の支持溝14b、15bが25条ずつ形成
されている。
【0067】図4に示すように、上記両支持台14a、
15aは、上下方向(矢印Z方向及びその反対方向)に
おいて延在するように設けられたシャフト14c、15
cの上端部に取り付けられている。該両シャフト14c
及び15cは、図示しない駆動手段によって駆動され、
図4において矢印にて示すように、回転及び昇降、並び
に相互接離動作を行い、該各シャフトと一体の両支持台
14a、15aはこのように作動する。すなわち、上記
両支持台14a、15aは、前述の移動台41によって
持ち来されるカセット9の底部開口部を通じて上昇する
ことにより該カセット内の各シリコンウェハーを整列状
態のまま持ち上げる。そして、該両支持台14a、15
aによって支持された25枚ずつの2群のシリコンウェ
ハーについて、両群の処理面の向きが全て同じである場
合、両支持台14a、15aのうちいずれか一方を適宜
180°回転させることによって両群のシリコンウェハ
ーの処理面の向きを互いに逆向きにさせるものである。
但し、図15及び図16に示した遠心乾燥装置が具備す
る2つのクレードル102が下方に回動した際に該両群
のシリコンウェハー1の処理面が共に上側となるように
設定される。
【0068】ところで、前述した移動台41は、カセッ
ト9を担持して上記両処理面揃え手段14及び15の上
方を前後方向(矢印Y方向及びその反対方向)において
単に直線的に水平移動するだけである。よって、前述の
O/F揃え手段11、12に対すると同様に、該移動台
41の作動のみにてはその担持したカセット9、従って
シリコンウェハー1を両処理面揃え手段14、15の支
持台14a、15aに受け渡すことは出来ない。故に、
該処理面揃え手段14及び15と移動台41との間でカ
セット9の中継を行うため、下記の構成の中継手段(参
照符号は付していない)が設けられている。この中継手
段も、前述の中継手段80と同様に、前述の搬送手段7
の一部として含まれるものである。
【0069】該中継手段は、図1、図3及び図4に示す
受け治具91及び92を有している。図示のように、該
両受け治具91、92は夫々円盤状に形成され、両処理
面揃え手段14及び15の各々に対応して水平に設けら
れている。これら受け治具91及び92は図示しない駆
動手段によって昇降させられるが、図1及び図3に示す
ように、該両受け治具91、92には上記両処理面揃え
手段14及び15が具備する支持台14a、15aが遊
挿し得る開口部91a、92aが形成されており、昇降
時に該両処理面揃え手段14、15と干渉することはな
い。
【0070】上記したように、当該ウェハー洗浄処理装
置においては、前段の工程を経てカセット9に収容され
た状態で供給されるシリコンウェハーを受け入れて洗浄
処理手段3に持ち来すべく搬送する搬送手段7が、該カ
セット9を担持して作業手段としての上記O/F揃え手
段11、12及び処理面揃え手段14、15が並ぶ方向
(前後方向:矢印Y方向及びその反対方向)に沿って略
直線的に水平移動する移動台41を含む水平移動手段3
1と、該移動台41及び該各作業手段の間でカセット
9、従ってシリコンウェハーの中継を行う中継手段とを
有している。この構成によれば、該中継手段はシリコン
ウェハーを収容したカセット9を単に上下方向(矢印Z
方向及びその反対方向)において略直線的に運ぶだけで
よいからその構成は簡単であり、また、上記移動台41
に関しても直線的な動作を行うのみである故に水平移動
手段31も簡単な構成であり、よって搬送手段7全体の
構成が簡略なものとなり、装置の製造コスト等の観点か
ら有効である。
【0071】次に、上記構成のウェハー洗浄処理装置の
動作について、図8以降をも参照しつつ説明する。な
お、以下の動作は、当該ウェハー洗浄処理装置が備える
マイクロプロセッサ等の制御部(図示せず)が司る。
【0072】まず、図1及び図2に示すように、夫々2
5枚ずつのシリコンウェハー1が配列収容されて前段の
工程から供給される2つのカセット9が搬入部27が具
備するスライダ27aに搭載され、該スライダ27aの
移動によってリフタ29に向って搬入される(矢印X1
にて示す)。
【0073】上記リフタ29が具備する昇降台29aの
直上に上記スライダ27a上の1つ目のカセット9が達
したことが図示しない検知手段よりの検知信号に基づい
て確認されると、図8に示すように、該昇降台29aが
上昇(矢印Z1 で示す)し、該カセット9は該昇降台2
9aにより持ち上げられて所定の高さに達する。
【0074】上記カセット9が上記所定高さに至ったこ
とが図示しない検知手段よりの検知信号によって確認さ
れると、図8に示すように、移動台41が前方(矢印Y
方向)に移動(矢印Y1 にて示す)し、該移動台41が
具備する下辺側の支持枠49が該カセット9の鍔部(図
6参照:参照符号9aで示す)の下側に差し込まれる。
この状態で、昇降台29aが下降(矢印Z2 で示す)
し、カセット9は該支持枠49によって釣支される。
【0075】次いで、図8に示すように、上記移動台4
1が後方(矢印Yとは反対方向)に移動(矢印Y2 にて
示す)し、該カセット9はO/F揃え手段11(図3、
図4等参照)の直上に位置決めされる。
【0076】ここで、説明の便宜上、例えば図1、図
3、図4及び図7に示すように、装置の前方から後方に
向って順に並ぶ搬入部27、リフタ29、処理面揃え手
段15及び14、O/F揃え手段12及び11、並びに
搬出部35について、その各々に対してカセット9の着
脱が行われるべき基準位置、この場合前後方向(矢印Y
方向及びその反対方向)における基準位置を、夫々記号
A乃至Fにて示す。なお、前述した光センサ61及び6
2並びに各ミラー65乃至68等からなる検知手段は、
上記移動台41がこれら各位置A乃至Fのいずれに対応
する位置にあろうとも、該移動台41上のカセット9を
検知することが出来る訳である。
【0077】すなわち、上記のようにO/F揃え手段1
1の直上に位置決めされた1つ目のカセット9は、これ
ら各位置A乃至Fのうち、位置Eにある。
【0078】カセット9が上記位置Eに至ったことの確
認は、その時点における移動台41の位置を図示しない
検知手段よりの検知信号に基づいて判定することによ
る。
【0079】カセット9が上記位置Eに持ち来されたこ
とが確認されると、図8に示すように、中継手段80
(図4等参照)が具備する受け治具82が上昇(矢印Z
3 にて示す)し、該カセット9を持ち上げ、移動台41
の支持枠49から離脱させる。すると、移動台41は、
既に位置Aに来ている2つ目のカセット9を受け取るべ
く、前方へと移動(矢印Y3 で示す)する。また、受け
治具82は下降(矢印Z 4 で示す)する。この2つ目の
カセット9に関しては、上記1つ目のカセット9と同様
に、前述したリフタ29の昇降台29aの作動によって
搬入部27のスライダ27a上から持ち上げられ、移動
台41の下辺側の支持枠49により支えられ得る位置に
達している。
【0080】上記のように移動台41が前方に移動して
その下辺側の支持枠49が2つ目のカセット9の鍔部
(図6参照:参照符号9aで示す)の下側に差し込まれ
ると、上記昇降台29aが下降し、該カセット9は該支
持枠49によって釣支される。なお、上記搬入部27の
スライダ27aは、後続のカセットを受け入れるべく左
方(矢印X方向)へと復帰(図1及び図2において矢印
2 にて示す)する。
【0081】この後、図8に示すように、上記移動台4
1が後方に移動(矢印Y4 で示す)し、2つ目のカセッ
ト9はO/F揃え手段12(図3、図4等参照)の直
上、すなわち位置Dに位置決めされる。この位置決めが
確認されると、既に1つ目のカセット9を担持している
受け治具82が上昇(矢印Z5 で示す)し、該2つ目の
カセット9を持ち上げ、移動台41の支持枠49から離
脱させる。すると、移動台41は、前方へと退避(矢印
5 にて示す)する。
【0082】上記のようにして2つのカセット9が受け
治具82上に搭載されると、図8に示すように、該受け
治具82は下降(矢印Z6 で示す)する。これによっ
て、該両カセット9の底部開口部を通じてO/F揃え手
段11及び12の各揃えローラ11a、12a(図3、
図4参照)が該各カセット内に入り込み、カセット内に
収容されている各シリコンウェハーの下端部に当接す
る。この状態で該各揃えローラ11a、12aが回転駆
動され、各シリコンウェハーが適宜回転せしめられ、O
/Fが揃えられる。
【0083】上記のようにして全てのシリコンウェハー
のO/Fが揃えられると、続いて次に示す動作が行われ
る。
【0084】すなわち、図9に示すように、2つのカセ
ット9を搭載した上記受け治具82が上昇(矢印Z8
て示す)する。これにより、上記各シリコンウェハーは
上記各揃えローラ11a、12a(図3、図4参照)か
ら離脱する。
【0085】受け治具82の上昇が確認されると、図9
に示すように、退避位置にあった移動台41が後方に移
動(矢印Y7 にて示す)し、該移動台41が具備する下
辺側の支持枠49が位置Dにある2つ目のカセット9の
鍔部(前述)の下側に差し込まれる。この状態で、受け
治具82が下降(矢印Z9 で示す)し、該カセット9は
支持枠49によって釣支される。
【0086】次いで、図9に示すように、移動台41が
前方(矢印Y方向)に移動(矢印Y8 にて示す)し、該
カセット9は一方の処理面揃え手段15の直上となる位
置Bに位置決めされる。
【0087】カセット9が上記位置Bに持ち来されたこ
とが確認されると、図9に示すように、該位置Bに配設
された受け治具92が上昇(矢印Z10で示す)し、該カ
セット9を持ち上げ、移動台41の支持枠49から離脱
させる。すると、移動台41は、位置Eにある1つ目の
カセット9を受け取るために後方へと移動(矢印Y9
て示す)する。
【0088】1つ目のカセット9については、上記2つ
目のカセット9の搬送の場合と同様であり、図9に示す
ように該1つ目のカセット9を担持している受け治具8
2が上昇(矢印Z11で示す)した状態で、移動台41の
下辺側の支持枠49が該カセット9の鍔部(前述)の下
側に差し込まれる。そして、受け治具82が下降(矢印
12で示す)し、該カセット9は支持枠49によって釣
支される。
【0089】続いて、図9に示すように、移動台41が
前方に移動(矢印Y10にて示す)し、該カセット9は他
方の処理面揃え手段14の直上、すなわち位置Cに位置
決めされる。
【0090】カセット9が上記位置Cに位置決めされた
ことが図示しない検知手段よりの検知信号によって確認
されると、図9に示すように、該位置Cに設けられた受
け治具91が上昇(矢印Z13にて示す)し、該カセット
9を持ち上げ、移動台41の支持枠49から離脱させ
る。すると、移動台41は、後方へと退避(矢印Y11
て示す)する。
【0091】かくして、両受け治具91及び92上への
カセット9の装填が完了する。
【0092】この後、図10に示すように、夫々カセッ
ト9を搭載した両受け治具91、92が下降(矢印Z16
にて示す)し、ベースプレート78上に位置する。この
状態で、同図に示すように、櫛歯状の支持溝(図3にお
いて参照符号14b及び15bにて示している)が各々
形成された支持台14a及び15aが上昇(矢印Z17
示す)する。これにより、該両支持台14a、15aは
両カセット9内の各シリコンウェハー1を担持して該カ
セットの上方へと抜き出す状態となる。
【0093】続いて、図10に示すように、両支持台1
4a及び15aのいずれか一方が回転(矢印R1 及びR
2 で示す)し、該両支持台14a、15a上に25枚ず
つ担持されている2群のシリコンウェハー1の処理面の
向きが互いに逆向きとされる。
【0094】処理面の揃えが完了すると、図10及び図
11に示すように、両支持台14a及び15aが互いに
接近(図10において矢印Y14及びY15にて示す)し、
その結果、25枚ずつ2群、合計50枚の各シリコンウ
ェハー1は集合させられる。
【0095】上記の動作が完了すると、図1に示す洗浄
処理手段3が備える保持手段22が上記各シリコンウェ
ハー1を保持すべく右方(矢印Xとは反対方向)へと移
動(図1において、矢印X4 で示す)する。図11及び
図12に示すように、この保持手段22は、互いに開閉
自在にして50枚のシリコンウェハー1をまとめて保持
し得る一対のアーム部材22aと、該両アーム部材22
aを開閉させる駆動手段(図示せず)とを有している。
【0096】上記保持手段22は、各シリコンウェハー
1の直上に達すると、図11に示すように下降(矢印Z
18で示す)する。そして、図12に示すように、両アー
ム部材22aを閉じる(矢印R3 で示す)ことにより各
シリコンウェハー1を保持し、図11に示すように上昇
(矢印Z19にて示す)する。このようにシリコンウェハ
ー1を保持した保持手段22は、この後、図1に示すよ
うに各処理槽17乃至20を順に巡るように移動(矢印
5 で示す)し(図示してはいないが、上下方向の昇降
動作も行う)、保持された各シリコンウェハー1は該各
処理槽17乃至20内の処理液に順次浸漬され、洗浄処
理が施される。なお、図11に示すように、シリコンウ
ェハー1が運び去られた両支持台14a及び15aは離
間(矢印Y16及びY17で示す)し、更に下降(矢印
20、Z21で示す)する。また、両受け治具91及び9
2がその担持した空のカセット9と共に上昇(矢印Z22
で示す)する。
【0097】上記両受け治具91、92の上昇が確認さ
れると、図13に示すように、退避位置にあった移動台
41が前方(矢印Y方向)に移動(矢印Y20で示す)
し、該移動台41が具備する下辺側の支持枠49が位置
Cにあるカセット9の鍔部(前述)の下側に差し込まれ
る。この状態で、該カセット9を担持している受け治具
91が下降(矢印Z25にて示す)し、該カセット9は該
支持枠49によって釣支される。
【0098】次いで、図13に示すように、上記移動台
41が後方に移動(矢印Y21にて示す)し、該移動台4
1に釣支されているカセット9は位置Dに位置決めされ
る。
【0099】上記のようにカセット9が位置Dに持ち来
されたことが確認されると、図13に示すように受け治
具82が上昇(矢印Z26で示す)し、該カセット9を持
ち上げ、移動台41の支持枠49から離脱させる。な
お、移動台41は、前方へと退避(矢印Y22で示す)す
る。
【0100】この後、図14に示すように、カセット9
を担持した上記受け治具82は上昇(矢印Z28にて示
す)する。すると、前方に退避していた移動台41が後
方(矢印Yとは反対方向)に移動(矢印Y24で示す)
し、該移動台41が具備する上辺側の支持枠48が該受
け治具82と共に上昇した位置Dのカセット9の鍔部
(前述)の下側に差し込まれる。この状態で、該カセッ
ト9を担持している受け治具82が下降(矢印Z29で示
す)し、該カセット9は該支持枠48によって釣支され
る。
【0101】次いで、図14に示すように、上記移動台
41が後方に移動(矢印Y25にて示す)し、該移動台4
1に釣支されているカセット9は位置F、すなわち搬出
部35(図1及び図4参照)が具備するスライダ35a
の直上に達する。すなわち、このとき、図1に示すよう
に該スライダ35aが右方(矢印X方向とは反対方向)
に移動(矢印X7 にて示す)しており、待機している。
【0102】上記カセット9が上記位置Fに至ったこと
が図示しない検知手段よりの検知信号に基づいて確認さ
れると、上記スライダ35aが持ち上げ動作(矢印Z30
で示す)をなし、該カセット9は持ち上げられ、移動台
41の支持枠48から離脱する。すると、移動台41
は、位置Bにある他のカセット9を受け取るべく前方へ
と移動(矢印Y26で示す)する。
【0103】上記のようにしてカセット9を担持したス
ライダ35aは、図14に示すように下降動作(矢印Z
31にて示す)をする。
【0104】以降、位置Bに残された他の空のカセット
9についても、該スライダ35a上に先に載置されたカ
セット9に関すると同様の動作(詳述はしない)が行わ
れ、該スライダ35a上に載置される。かくして図1に
示すように2つの空のカセット9を搭載したスライダ3
5aは左方(矢印X方向)に向けて移動(矢印X8 にて
示す)し、該カセット9を後段の工程へと搬出する。
【0105】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による基板
自動処理装置においては、各作業手段が、長尺な処理手
段の前段側において該処理手段の長手方向に対して交差
する状態に並ぶ。従って、基板自動処理装置全体が平面
的に広がって長大化が避けられ、コンパクトとなる。具
体的には、基板自動処理装置がシリコンウェハーの自動
洗浄を行うウェハー洗浄処理装置である場合、上記処理
手段は、シリコンウェハーを一列に並列した各処理槽内
の処理液に順に浸漬させるように移送して洗浄処理をな
す洗浄処理手段や、該洗浄処理手段を経たシリコンウェ
ハーを遠心力を利用して乾燥させる遠心乾燥装置であ
り、上記作業手段としては各シリコンウェハーのO/F
及び処理面の揃えを各々行うO/F揃え手段及び処理面
揃え手段が挙げられる。これらO/F揃え手段及び処理
面揃え手段は夫々比較的大きな構造であり、これらの配
置を上記のようにすることは装置のコンパクト化にとっ
て特に有効である。また、本発明に係る基板自動処理装
置においては、前段の工程を経て供給されるシリコンウ
ェハー等の基板を受け入れて上記処理手段に持ち来すべ
く搬送する搬送手段が、該基板を担持して上記作業手段
各々が並ぶ方向に沿って略直線的に移動する移動台と、
該移動台と上記作業手段各々との間で基板の中継を行う
中継手段とを有する。この構成によれば、該中継手段は
基板を単に略直線的に運ぶだけでよいからその構成は簡
単であり、また、上記移動台に関しても略直線的な動作
を行うのみである故に簡単な構成であるから、搬送手段
全体の構成が簡略なものになり、装置の製造コスト等の
観点から有効である。更に、本発明に係る基板自動処理
装置においては、基板はカセットに収容された状態で上
記搬送手段によって搬送され、該搬送手段は、基板を取
り出して空となった該カセットを更に後段に向けて搬出
することを行う。すなわち、本発明に係る基板自動処理
装置においては空のカセットの回収機能をも有するので
あり、空のカセットの回収を人手によって行う必要がな
く、また、空のカセットの回収を自動的になさしめるべ
く特別な回収装置を新たに付加する必要もなく、処理前
の基板を収容したカセットの受入れから空のカセットの
回収までの一連の工程をラインとして迅速に行うことが
でき、作業効率の向上と作業コストの低減が達成される
ものである。また、本発明による基板自動処理装置にお
いては、上記搬送手段が、上記作業手段各々が並ぶ方向
における上記処理手段の片側に配置されて前段からカセ
ットに収容された状態で供給される基板を受け入れるた
めの搬入部と、該搬入部により搬入された該カセットを
受けて上昇せしめるリフタと、該リフタにより上昇され
た該カッセットを受けて上記作業手段各々に沿って略水
平に移動させる水平移動手段と、上記処理手段の上記片
側に対する他側に配置されて該水平移動手段を経て空と
なった上記カセットを後段に向けて搬出する搬出部とを
備え、該搬出部は上記搬入部に比して上方に配置されて
いる。かかる構成の故、該搬出部の下方には上下方向に
比較的大きな空きスペースが生じる。従って、このスペ
ースを利用して作業者が何等かの作業を行うことができ
ると共に、通路とすることができ、当該基板自動処理装
置のメンテナンス、具体的には装置背面側のメンテナン
スが容易となっている。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明に係るウェハー洗浄処理装置の
要部の概略を示す平面図である。
【図2】図2は、図1に関するM−M矢視図である。
【図3】図3は、図1に示したウェハー洗浄処理装置の
一部の拡大図である。
【図4】図4は、図3に関するN−N矢視図である。
【図5】図5は、図1乃至図4に示したウェハー洗浄処
理装置が具備する水平移動手段の平面図である。
【図6】図6は、図5に関するO−O矢視図である。
【図7】図7は、図1乃至図4に示したウェハー洗浄処
理装置の動作説明図である。
【図8】図8は、図1乃至図4に示したウェハー洗浄処
理装置の動作説明図である。
【図9】図9は、図1乃至図4に示したウェハー洗浄処
理装置の動作説明図である。
【図10】図10は、図1乃至図4に示したウェハー洗
浄処理装置の動作説明図である。
【図11】図11は、図1乃至図4に示したウェハー洗
浄処理装置の動作説明図である。
【図12】図12は、図1乃至図4に示したウェハー洗
浄処理装置の動作説明図である。
【図13】図13は、図1乃至図4に示したウェハー洗
浄処理装置の動作説明図である。
【図14】図14は、図1乃至図4に示したウェハー洗
浄処理装置の動作説明図である。
【図15】図15は、図1乃至図4に示したウェハー洗
浄処理装置が具備する遠心乾燥装置の要部の縦断面図で
ある。
【図16】図16は、図15に示した遠心乾燥装置の内
部機構を示す、一部断面を含む平面図である。
【符号の説明】
1 シリコンウェハー(基板) 3 洗浄処理手段(処理手段) 7 搬送手段 9 カセット 11、12 O/F揃え手段(作業手段) 14、15 処理面揃え手段(作業手段) 17、18、19、20 処理槽 22 保持手段 27 搬入部 29 リフタ 31 水平移動手段 35 搬出部 37 フレーム 38 ガイドレール 39 スライダ 41 移動台 48 (上辺側)支持枠 49 (下辺側)支持枠 52 モータ 55 駆動ベルト 61、62 光センサ 61a、62a 照射光 61b、62b 入射光 65、66、67、68 ミラー(反射手段) 78 ベースプレート 80 中継手段 82 受け治具 88 シリンダ 91、92 受け治具

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定方向において延在しシリコンウエハ
    を該所定方向に移送して前記シリコンウエハーの洗浄
    処理及び遠心乾燥処理を行う処理手段と、 前段から供給される前記シリコンウエハーを受け入れて
    該処理手段に持ち来すべく搬送する搬送手段と、 該処理手段の前段に配置されて該搬送手段により搬送さ
    れる前記シリコンウエハーのオリエンテーション・フラ
    ット(O/F)を揃える作業をするO/F揃え手段と、
    前記シリコンウエハーの処理面の向きを揃える作業を行
    う処理面揃え手段とからなる作業手段とを備え、前記O/F揃え手段及び前記処理面揃え手段前記所
    定方向に対して交差する方向において略直線的に並設さ
    れていることを特徴とする基板自動処理装置。
  2. 【請求項2】 前記搬送手段は、前記シリコンウエハー
    を担持して前記O/F揃え手段及び前記処理面揃え手段
    が並ぶ方向に沿って略直線的に移動する移動台と、該移
    動台と前記作業手段との間で前記シリコンウエハーの中
    継を行う中継手段とを有することを特徴とする請求項1
    記載の基板自動処理装置。
  3. 【請求項3】 前記シリコンウエハーはカセットに収容
    された状態で前記搬送手段によって搬送され、該搬送手
    段は、前記シリコンウエハーを取り出して空となった該
    カセットを更に後段に向けて搬出することを特徴とする
    請求項1又は請求項2記載の基板自動処理装置。
  4. 【請求項4】 前記搬送手段は、前記所定方向に対して
    交差する方向における前記処理手段の片側に配置されて
    前段からカセットに収容された状態で供給される前記
    リコンウエハーを受け入れるための搬入部と、該搬入部
    により搬入された該カセットを受けて上昇せしめるリフ
    タと、該リフタにより上昇された該カセットを受けて前
    記作業手段に沿って略水平に移動させる水平移動手段
    と、前記処理手段の前記片側に対する他側に配置されて
    該水平移動手段を経て空となった前記カセットを後段に
    向けて搬出する搬出部とを備え、該搬出部は前記搬入部
    に比して上方に配設されていることを特徴とする請求項
    3記載の基板自動処理装置。
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