JP3156373B2 - 搗精歩留測定方法及び搗精歩留測定装置 - Google Patents
搗精歩留測定方法及び搗精歩留測定装置Info
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- JP3156373B2 JP3156373B2 JP16852392A JP16852392A JP3156373B2 JP 3156373 B2 JP3156373 B2 JP 3156373B2 JP 16852392 A JP16852392 A JP 16852392A JP 16852392 A JP16852392 A JP 16852392A JP 3156373 B2 JP3156373 B2 JP 3156373B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】穀物等の搗精前後において変化す
る搗精歩留の正確な測定方法と該方法による搗精歩留測
定装置に関する。
る搗精歩留の正確な測定方法と該方法による搗精歩留測
定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術の特に穀物等を搗精する過程に
おいて、穀粒の搗精がどの程度進んだかを、搗精装置へ
投入する前の原料穀粒の重量と搗精装置から排出された
穀粒の重量とを計測してその比を歩留として算出してい
た。
おいて、穀粒の搗精がどの程度進んだかを、搗精装置へ
投入する前の原料穀粒の重量と搗精装置から排出された
穀粒の重量とを計測してその比を歩留として算出してい
た。
【０００３】更に図１によって説明すると、たとえば搗
精装置１の前後にバッチ式の流量計２，３を設けたフロ
−を示している。流量計２で計測された穀物原料のト−
タル重量と流量計３で計測された搗精後の穀物のト−タ
ル重量との重量比をもって歩留とし、この歩留値でどの
くらい搗精が進んだかを確認し搗精装置１での搗精時間
を調整し搗精制御を行っていた。特にこの例は搗精時間
が６０時間とか７０時間を要して少しずつ行われる酒造
用の搗精の場合に顕著であり、何度も循環させて少しず
つ行う搗精方法においては、この搗精途中における搗精
歩留の測定は重要となる。
精装置１の前後にバッチ式の流量計２，３を設けたフロ
−を示している。流量計２で計測された穀物原料のト−
タル重量と流量計３で計測された搗精後の穀物のト−タ
ル重量との重量比をもって歩留とし、この歩留値でどの
くらい搗精が進んだかを確認し搗精装置１での搗精時間
を調整し搗精制御を行っていた。特にこの例は搗精時間
が６０時間とか７０時間を要して少しずつ行われる酒造
用の搗精の場合に顕著であり、何度も循環させて少しず
つ行う搗精方法においては、この搗精途中における搗精
歩留の測定は重要となる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】以上のような従来技術
における歩留とは、搗精装置前後におけるト−タル重量
比で表現されており、一般的に「みかけ歩留」と呼ばれ
ている。一方、搗精前の整粒（完熟したつぶ）穀粒一粒
と搗精後の整粒穀粒一粒との比較の上で求められる歩留
を「真正歩留」と呼ばれている。つまり本来、搗精がど
のくらい進んだか、どのくらい穀粒の表面組織が削られ
たかについてはこの「真正歩留」の値で確認されるべき
である。ただし、原料に対してどのくらいの製品を生み
だしたかについては「みかけ歩留」が「製品歩留」の値
となる。
における歩留とは、搗精装置前後におけるト−タル重量
比で表現されており、一般的に「みかけ歩留」と呼ばれ
ている。一方、搗精前の整粒（完熟したつぶ）穀粒一粒
と搗精後の整粒穀粒一粒との比較の上で求められる歩留
を「真正歩留」と呼ばれている。つまり本来、搗精がど
のくらい進んだか、どのくらい穀粒の表面組織が削られ
たかについてはこの「真正歩留」の値で確認されるべき
である。ただし、原料に対してどのくらいの製品を生み
だしたかについては「みかけ歩留」が「製品歩留」の値
となる。
【０００５】さて、先の「みかけ歩留」では、搗精装置
において原料穀粒から取り去られるものが、搗精による
原料穀粒の表面組織だけでなく、脆い穀粒が砕粒となっ
て搗精装置の外に取り去られていることもあり、「真正
歩留」と比較すると大きく差を生じることになる。つま
り、この「みかけ歩留」を搗精歩留として扱うと、前記
のように脆い穀粒が砕粒となって搗精装置の外に取り去
られている分だけ搗精後のト−タル重量は軽くなり、み
かけ上それだけ搗精が進んだと判断されることになる。
これは同じ性質を持つ品種の穀粒であっても「みかけ歩
留」を基準に搗精すると、その原料穀粒の構成によっ
て、つまり原料穀粒内に含まれる脆い穀粒の含有割合に
よって、搗精後の整粒の歩留が違ってくるということに
なり、いつも安定した同じ搗精歩留の製品の供給は不可
能である。
において原料穀粒から取り去られるものが、搗精による
原料穀粒の表面組織だけでなく、脆い穀粒が砕粒となっ
て搗精装置の外に取り去られていることもあり、「真正
歩留」と比較すると大きく差を生じることになる。つま
り、この「みかけ歩留」を搗精歩留として扱うと、前記
のように脆い穀粒が砕粒となって搗精装置の外に取り去
られている分だけ搗精後のト−タル重量は軽くなり、み
かけ上それだけ搗精が進んだと判断されることになる。
これは同じ性質を持つ品種の穀粒であっても「みかけ歩
留」を基準に搗精すると、その原料穀粒の構成によっ
て、つまり原料穀粒内に含まれる脆い穀粒の含有割合に
よって、搗精後の整粒の歩留が違ってくるということに
なり、いつも安定した同じ搗精歩留の製品の供給は不可
能である。
【０００６】「真正歩留」の測定は搗精前の原料の整粒
一粒と搗精後の整粒一粒の体積あるいは重量とを比較す
るため搗精前後の整粒のみを取り出す必要があり、しか
も測定値の信頼性を高めるため搗精前後の整粒それぞれ
をたとえば１０００粒ずつ取り出してその体積あるいは
重量を測定し比較しなくてはならず、従来技術において
はこの「真正歩留」の測定を目的とした搗精歩留測定方
法及び搗精歩留測定装置の提案はない。
一粒と搗精後の整粒一粒の体積あるいは重量とを比較す
るため搗精前後の整粒のみを取り出す必要があり、しか
も測定値の信頼性を高めるため搗精前後の整粒それぞれ
をたとえば１０００粒ずつ取り出してその体積あるいは
重量を測定し比較しなくてはならず、従来技術において
はこの「真正歩留」の測定を目的とした搗精歩留測定方
法及び搗精歩留測定装置の提案はない。
【０００７】本出願人は以上のことから原料穀粒の構成
に関係なく本来必要とされる「真正歩留」の測定を可能
とする実用的な搗精歩留測定方法及び該方法による搗精
歩留測定装置の提供を技術的課題とするものである。
に関係なく本来必要とされる「真正歩留」の測定を可能
とする実用的な搗精歩留測定方法及び該方法による搗精
歩留測定装置の提供を技術的課題とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本出願人は、搗精処理前
の複数個の被測定物と搗精処理後の複数個の被測定物と
のそれぞれから取り込んだＸ，Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タ
を処理して得られるＸ，Ｙ，Ｚ方向の寸法により、搗精
処理前の複数個の被測定物の体積デ−タと標準偏差σ並
びに搗精処理後の複数個の被測定物の体積デ−タとその
標準偏差σとを演算処理し、該演算処理により得られる
標準偏差σによって任意に定められる範囲外の体積デ−
タを除外した後の体積デ−タから得られる搗精処理前の
複数個の被測定物の体積デ−タの平均値と搗精処理後の
複数個の被測定物の体積デ−タの平均値とを比較して、
搗精した被測定物の搗精歩留を算定する穀物等の搗精歩
留測定方法によって前記課題を解決するための手段とし
た。
の複数個の被測定物と搗精処理後の複数個の被測定物と
のそれぞれから取り込んだＸ，Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タ
を処理して得られるＸ，Ｙ，Ｚ方向の寸法により、搗精
処理前の複数個の被測定物の体積デ−タと標準偏差σ並
びに搗精処理後の複数個の被測定物の体積デ−タとその
標準偏差σとを演算処理し、該演算処理により得られる
標準偏差σによって任意に定められる範囲外の体積デ−
タを除外した後の体積デ−タから得られる搗精処理前の
複数個の被測定物の体積デ−タの平均値と搗精処理後の
複数個の被測定物の体積デ−タの平均値とを比較して、
搗精した被測定物の搗精歩留を算定する穀物等の搗精歩
留測定方法によって前記課題を解決するための手段とし
た。
【０００９】また、搗精処理前の複数個の被測定物と搗
精処理後の複数個の被測定物とのそれぞれから取り込ん
だＸ，Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タを処理して得られるＸ，
Ｙ，Ｚ方向の寸法と、搗精処理前の複数個の被測定物の
比重と搗精処理後の複数個の被測定物の比重とにより、
搗精処理前の複数個の被測定物の重量デ−タとその標準
偏差σ並びに搗精処理後の複数個の被測定物の重量デ−
タとその標準偏差σとを演算処理し、該演算処理により
得られる標準偏差σによって任意に定められる範囲外の
重量デ−タを除外した後の重量デ−タから得られる搗精
処理前の複数個の被測定物の重量デ−タの平均値と搗精
処理後の複数個の被測定物の重量デ−タの平均値とを比
較して、搗精した被測定物の搗精歩留を算定する穀物等
の歩留測定方法により前記課題を解決するための手段と
した。
精処理後の複数個の被測定物とのそれぞれから取り込ん
だＸ，Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タを処理して得られるＸ，
Ｙ，Ｚ方向の寸法と、搗精処理前の複数個の被測定物の
比重と搗精処理後の複数個の被測定物の比重とにより、
搗精処理前の複数個の被測定物の重量デ−タとその標準
偏差σ並びに搗精処理後の複数個の被測定物の重量デ−
タとその標準偏差σとを演算処理し、該演算処理により
得られる標準偏差σによって任意に定められる範囲外の
重量デ−タを除外した後の重量デ−タから得られる搗精
処理前の複数個の被測定物の重量デ−タの平均値と搗精
処理後の複数個の被測定物の重量デ−タの平均値とを比
較して、搗精した被測定物の搗精歩留を算定する穀物等
の歩留測定方法により前記課題を解決するための手段と
した。
【００１０】さらに装置としては、穀粒等の被測定物を
一粒ずつ供給する供給部と、該供給部から任意間隔を置
いた測定位置で、前記被測定物のＸ，Ｙ，Ｚ軸方向から
画像デ−タを取り込むよう各軸方向に設置したカメラ装
置と前記測定位置の下方及び周辺から測定位置の照明を
行う照明装置及び測定後の被測定物を測定位置外に排除
する排除装置とを有する測定部と、前記供給部から供給
された被測定物を載置する半透明のステ−ジと該ステ−
ジを供給部から前記測定部の測定位置に移動させる駆動
装置とを有する測定ステ−ジ部と、被測定物の既知の特
性値等を入力する入力部、及び測定した搗精処理前の複
数個の被測定物と搗精処理後の複数個の被測定物のカウ
ント手段とＸ，Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タの画像処理手段
と前記特性値と画像デ−タとから被測定物の体積または
重量及び標準偏差σの演算を行う演算手段と該被測定物
の体積または重量及び標準偏差σから搗精処理後の被測
定物の搗精歩留を算定する算定手段とを有するとともに
前記供給部と測定部と測定ステ−ジ部と及び入力部のそ
れぞれに連絡した制御部とから構成した搗精歩留測定装
置により前記課題を解決するための手段とした。
一粒ずつ供給する供給部と、該供給部から任意間隔を置
いた測定位置で、前記被測定物のＸ，Ｙ，Ｚ軸方向から
画像デ−タを取り込むよう各軸方向に設置したカメラ装
置と前記測定位置の下方及び周辺から測定位置の照明を
行う照明装置及び測定後の被測定物を測定位置外に排除
する排除装置とを有する測定部と、前記供給部から供給
された被測定物を載置する半透明のステ−ジと該ステ−
ジを供給部から前記測定部の測定位置に移動させる駆動
装置とを有する測定ステ−ジ部と、被測定物の既知の特
性値等を入力する入力部、及び測定した搗精処理前の複
数個の被測定物と搗精処理後の複数個の被測定物のカウ
ント手段とＸ，Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タの画像処理手段
と前記特性値と画像デ−タとから被測定物の体積または
重量及び標準偏差σの演算を行う演算手段と該被測定物
の体積または重量及び標準偏差σから搗精処理後の被測
定物の搗精歩留を算定する算定手段とを有するとともに
前記供給部と測定部と測定ステ−ジ部と及び入力部のそ
れぞれに連絡した制御部とから構成した搗精歩留測定装
置により前記課題を解決するための手段とした。
【００１１】
【作用】本発明による作用を説明する。本出願人は、搗
精処理前の複数個の被測定物と搗精処理後の複数個の被
測定物とのそれぞれから取り込んだＸ，Ｙ，Ｚ方向の画
像デ−タを処理して得られるＸ，Ｙ，Ｚ方向の寸法によ
り、搗精処理前の複数個の被測定物の体積デ−タとその
標準偏差σ並びに搗精処理後の複数個の被測定物の体積
デ−タとその標準偏差σとを演算処理するようにした。
精処理前の複数個の被測定物と搗精処理後の複数個の被
測定物とのそれぞれから取り込んだＸ，Ｙ，Ｚ方向の画
像デ−タを処理して得られるＸ，Ｙ，Ｚ方向の寸法によ
り、搗精処理前の複数個の被測定物の体積デ−タとその
標準偏差σ並びに搗精処理後の複数個の被測定物の体積
デ−タとその標準偏差σとを演算処理するようにした。
【００１２】更に、該演算処理により得られる標準偏差
σによって任意に定められる範囲外の体積デ−タを除外
した後の体積デ−タから得られる搗精処理前の複数個の
被測定物の体積デ−タの平均値と搗精処理後の複数個の
被測定物の体積デ−タの平均値とを比較して、搗精処理
後の被測定物の搗精歩留を算定する穀物等の搗精歩留測
定方法とした。
σによって任意に定められる範囲外の体積デ−タを除外
した後の体積デ−タから得られる搗精処理前の複数個の
被測定物の体積デ−タの平均値と搗精処理後の複数個の
被測定物の体積デ−タの平均値とを比較して、搗精処理
後の被測定物の搗精歩留を算定する穀物等の搗精歩留測
定方法とした。
【００１３】このことによって、搗精処理前のサンプル
穀粒と搗精処理後のサンプル穀粒のＸ，Ｙ，Ｚ方向の寸
法を画像デ−タにより得て、これを演算処理してサンプ
ル穀粒の一粒一粒を体積デ−タとして捉えることができ
る。
穀粒と搗精処理後のサンプル穀粒のＸ，Ｙ，Ｚ方向の寸
法を画像デ−タにより得て、これを演算処理してサンプ
ル穀粒の一粒一粒を体積デ−タとして捉えることができ
る。
【００１４】またこのようにして得られた複数個の穀粒
の体積デ−タの平均値をそのまま整粒穀粒の体積デ−タ
とするのでなく、前記演算で同時に得た標準偏差σを用
いて、この標準偏差σによって任意に定められる範囲外
の体積デ−タを除外した後の体積デ−タから得られる平
均値を比較するようにしたので、前記範囲外の体積デ−
タつまり極めて体積の小さい砕粒の様な物、あるいは極
めて体積の大きい異種穀物、異物の様な物の体積デ−タ
を除外することができ、サンプル穀粒の内、整粒となる
穀粒だけの体積デ−タの平均値で搗精前後の搗精歩留を
正確に算定することができるようになった。
の体積デ−タの平均値をそのまま整粒穀粒の体積デ−タ
とするのでなく、前記演算で同時に得た標準偏差σを用
いて、この標準偏差σによって任意に定められる範囲外
の体積デ−タを除外した後の体積デ−タから得られる平
均値を比較するようにしたので、前記範囲外の体積デ−
タつまり極めて体積の小さい砕粒の様な物、あるいは極
めて体積の大きい異種穀物、異物の様な物の体積デ−タ
を除外することができ、サンプル穀粒の内、整粒となる
穀粒だけの体積デ−タの平均値で搗精前後の搗精歩留を
正確に算定することができるようになった。
【００１５】また、それぞれの体積デ−タに搗精処理前
の穀物の比重と搗精処理後の穀物の比重とをそれぞれに
乗算すると体積デ−タは重量デ−タとして捉えることも
できる。
の穀物の比重と搗精処理後の穀物の比重とをそれぞれに
乗算すると体積デ−タは重量デ−タとして捉えることも
できる。
【００１６】さらに装置としては、穀粒等の被測定物を
一粒ずつ供給する供給部と、該供給部から任意間隔を置
いた測定位置で、前記被測定物のＸ，Ｙ，Ｚ軸方向から
画像デ−タを取り込むよう各軸方向に設置したカメラ装
置と前記測定位置の下方及び周辺から測定位置の照明を
行う照明装置及び測定後の被測定物を測定位置外に排除
する排除装置とを有する測定部と、前記供給部から供給
された被測定物を載置する半透明のステ−ジと該ステ−
ジを供給部から前記測定部の測定位置に移動させる駆動
装置とを有する測定ステ−ジ部と、被測定物の既知の特
性値等を入力する入力部、及び測定した被測定物のカウ
ント手段とＸ，Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タの画像処理手段
と前記特性値と画像デ−タとから被測定物の体積または
重量及び標準偏差σの演算を行う演算手段と該被測定物
の体積または重量及び標準偏差σから搗精処理後の被測
定物の搗精歩留を算定する算定手段とを有するとともに
前記供給部と測定部と測定ステ−ジ部と及び入力部のそ
れぞれに連絡した制御部とから搗精歩留測定装置を構成
した。
一粒ずつ供給する供給部と、該供給部から任意間隔を置
いた測定位置で、前記被測定物のＸ，Ｙ，Ｚ軸方向から
画像デ−タを取り込むよう各軸方向に設置したカメラ装
置と前記測定位置の下方及び周辺から測定位置の照明を
行う照明装置及び測定後の被測定物を測定位置外に排除
する排除装置とを有する測定部と、前記供給部から供給
された被測定物を載置する半透明のステ−ジと該ステ−
ジを供給部から前記測定部の測定位置に移動させる駆動
装置とを有する測定ステ−ジ部と、被測定物の既知の特
性値等を入力する入力部、及び測定した被測定物のカウ
ント手段とＸ，Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タの画像処理手段
と前記特性値と画像デ−タとから被測定物の体積または
重量及び標準偏差σの演算を行う演算手段と該被測定物
の体積または重量及び標準偏差σから搗精処理後の被測
定物の搗精歩留を算定する算定手段とを有するとともに
前記供給部と測定部と測定ステ−ジ部と及び入力部のそ
れぞれに連絡した制御部とから搗精歩留測定装置を構成
した。
【００１７】このように構成した搗精歩留測定装置は、
穀粒等の搗精処理前の複数個の被測定物と搗精処理後の
複数個の被測定物とをそれぞれ測定するが、搗精処理前
後の穀粒に関係なく作用としては同様であるので一方の
みとする。
穀粒等の搗精処理前の複数個の被測定物と搗精処理後の
複数個の被測定物とをそれぞれ測定するが、搗精処理前
後の穀粒に関係なく作用としては同様であるので一方の
みとする。
【００１８】穀粒を一粒ずつ供給する供給部から測定ス
テ−ジ部の半透明のステ−ジに一粒の穀粒を供給する
と、供給部の駆動装置が作動して、前記ステ−ジを供給
部から測定部の測定位置へ移動する。測定位置では測定
位置の下方及び周辺から測定部の照明装置によって穀粒
は照明される。照明された穀粒は、ステ−ジの穀粒に対
してＸ，Ｙ，Ｚ軸方向から穀粒の画像デ−タを取り込む
よう各軸方向に設置したカメラ装置によって撮像され
る。撮像が完了した穀粒は測定部の排除装置によって測
定部外に排除される。この排除は前記撮像を終えると直
ちに排除する場合と搗精歩留測定装置の体積デ−タまた
は重量デ−タの演算を終えて排除する場合とが考えられ
るが、後者の場合、体積デ−タまたは重量デ−タの値に
基づいて区分けすることも可能である。
テ−ジ部の半透明のステ−ジに一粒の穀粒を供給する
と、供給部の駆動装置が作動して、前記ステ−ジを供給
部から測定部の測定位置へ移動する。測定位置では測定
位置の下方及び周辺から測定部の照明装置によって穀粒
は照明される。照明された穀粒は、ステ−ジの穀粒に対
してＸ，Ｙ，Ｚ軸方向から穀粒の画像デ−タを取り込む
よう各軸方向に設置したカメラ装置によって撮像され
る。撮像が完了した穀粒は測定部の排除装置によって測
定部外に排除される。この排除は前記撮像を終えると直
ちに排除する場合と搗精歩留測定装置の体積デ−タまた
は重量デ−タの演算を終えて排除する場合とが考えられ
るが、後者の場合、体積デ−タまたは重量デ−タの値に
基づいて区分けすることも可能である。
【００１９】測定部の排除装置によって穀粒を排除する
と、測定ステ−ジ部のステージは、駆動装置によって供
給部に移動される。供給部からは次の穀粒が供給され再
び測定部での測定が開始される。以上の繰り返しを制御
部の制御によって搗精歩留測定装置は行う。
と、測定ステ−ジ部のステージは、駆動装置によって供
給部に移動される。供給部からは次の穀粒が供給され再
び測定部での測定が開始される。以上の繰り返しを制御
部の制御によって搗精歩留測定装置は行う。
【００２０】さてこのように測定された穀粒のデ−タは
制御部によって次のように演算処理される。カメラ装置
によって撮像された一つの穀粒のＸ，Ｙ，Ｚ方向の画像
デ−タは画像処理手段によって画像処理され、Ｘ，Ｙ，
Ｚ方向の長さのデ−タとされる。この長さのデ−タによ
って演算手段では穀粒の体積デ−タを求める。また入力
手段によって穀粒の比重が入力してあれば先の体積デ−
タから重量デ−タを演算することができる。このとき演
算で求められたデ−タに基づいて前記の排除装置を制御
して区分けすることができる。
制御部によって次のように演算処理される。カメラ装置
によって撮像された一つの穀粒のＸ，Ｙ，Ｚ方向の画像
デ−タは画像処理手段によって画像処理され、Ｘ，Ｙ，
Ｚ方向の長さのデ−タとされる。この長さのデ−タによ
って演算手段では穀粒の体積デ−タを求める。また入力
手段によって穀粒の比重が入力してあれば先の体積デ−
タから重量デ−タを演算することができる。このとき演
算で求められたデ−タに基づいて前記の排除装置を制御
して区分けすることができる。
【００２１】このようにして得られたデ−タがカウント
手段によって任意のデ−タ数たとえば１０００粒分にな
ると、同じく演算手段によって１０００粒分のデ−タの
標準偏差σを演算する。さらにこの標準偏差σをもとに
任意に決められた範囲、たとえば±３σを超えた範囲外
のデ−タは不良デ−タとして排除し、残った範囲内のデ
−タで平均値を算出する。次に算定手段によって、先の
ように算出した平均値デ−タは、搗精装置に投入前の原
料穀物から同様にして求めた平均デ−タと比較して歩留
算定を行う。
手段によって任意のデ−タ数たとえば１０００粒分にな
ると、同じく演算手段によって１０００粒分のデ−タの
標準偏差σを演算する。さらにこの標準偏差σをもとに
任意に決められた範囲、たとえば±３σを超えた範囲外
のデ−タは不良デ−タとして排除し、残った範囲内のデ
−タで平均値を算出する。次に算定手段によって、先の
ように算出した平均値デ−タは、搗精装置に投入前の原
料穀物から同様にして求めた平均デ−タと比較して歩留
算定を行う。
【００２２】この歩留算定で求められた歩留は、穀粒一
粒一粒を画像デ−タにより測定して得られた体積デ−タ
あるいは重量デ−タであり、搗精処理前の原料穀物の一
粒のデ−タと、搗精処理後の穀物の一粒のデ−タとを比
較して求める「真正歩留」である。
粒一粒を画像デ−タにより測定して得られた体積デ−タ
あるいは重量デ−タであり、搗精処理前の原料穀物の一
粒のデ−タと、搗精処理後の穀物の一粒のデ−タとを比
較して求める「真正歩留」である。
【００２３】ところで、前記供給部における測定ステ−
ジ位置に被測定物検知装置を設けて、制御装置を介して
供給部に連絡しておき、穀物の落下を被測定物検知装置
のセンサ−が検知すると、それと同時に供給部を停止さ
せることが可能でステ−ジ上に確実に穀粒を一粒ずつ供
給することができる。
ジ位置に被測定物検知装置を設けて、制御装置を介して
供給部に連絡しておき、穀物の落下を被測定物検知装置
のセンサ−が検知すると、それと同時に供給部を停止さ
せることが可能でステ−ジ上に確実に穀粒を一粒ずつ供
給することができる。
【００２４】
【実施例】本発明による実施例を図２及び図３によって
説明する。まず、搗精歩留測定装置１０として示した図
３によって装置の概要を説明する。
説明する。まず、搗精歩留測定装置１０として示した図
３によって装置の概要を説明する。
【００２５】搗精歩留測定装置１０は、穀粒等の被測定
物を一粒ずつ測定できるよう供給するために、フィ−ダ
−トラフ１１と該フィ−ダ−トラフ１１を規則的に振動
させるバイブレ−タ１２とで構成した供給部１３を備
え、供給部１３から供給された被測定物を載置する半透
明のステ−ジ１４と該ステ−ジ１４を供給部１３から測
定位置１５に移動可能にした駆動装置１６とを有する測
定ステ−ジ部１７を備えている。
物を一粒ずつ測定できるよう供給するために、フィ−ダ
−トラフ１１と該フィ−ダ−トラフ１１を規則的に振動
させるバイブレ−タ１２とで構成した供給部１３を備
え、供給部１３から供給された被測定物を載置する半透
明のステ−ジ１４と該ステ−ジ１４を供給部１３から測
定位置１５に移動可能にした駆動装置１６とを有する測
定ステ−ジ部１７を備えている。
【００２６】さて、供給部１１から任意間隔を置いた測
定位置１５では、前記ステ−ジ１４上の被測定物のＸ，
Ｙ，Ｚ軸方向から画像デ−タを取り込むよう、各軸方向
にカメラ装置１８，１９，２０を設置し、前記ステ−ジ
１４の下方及び周辺から被測定物の照明を行う照明装置
２１，２２，２３を設けてある。また測定後の被測定物
を測定位置１５外に排除するため、排除ア−ム２４と該
排除ア−ム２４を回転駆動するア−ム駆動装置２５から
なる排除装置２６を備え、前記カメラ装置１８，１９，
２０と照明装置２１，２２，２３と排除装置２６とで測
定部２７を構成している。
定位置１５では、前記ステ−ジ１４上の被測定物のＸ，
Ｙ，Ｚ軸方向から画像デ−タを取り込むよう、各軸方向
にカメラ装置１８，１９，２０を設置し、前記ステ−ジ
１４の下方及び周辺から被測定物の照明を行う照明装置
２１，２２，２３を設けてある。また測定後の被測定物
を測定位置１５外に排除するため、排除ア−ム２４と該
排除ア−ム２４を回転駆動するア−ム駆動装置２５から
なる排除装置２６を備え、前記カメラ装置１８，１９，
２０と照明装置２１，２２，２３と排除装置２６とで測
定部２７を構成している。
【００２７】測定が終了して測定部２７から排除される
被測定物は、排除装置２６によって外部に排除される
が、その方向に搗精歩留測定装置１０の測定結果に基づ
いた選別が行えるよう、複数に区分した受け箱２８と該
受け箱２８を左右にスライド可能にしたレ−ル２９と受
け箱２８に固着したベルト３０と該ベルト３０を張架し
て受け箱２８を左右に移動可能にした駆動モ−タ３１と
によって選別部３２を構成している。
被測定物は、排除装置２６によって外部に排除される
が、その方向に搗精歩留測定装置１０の測定結果に基づ
いた選別が行えるよう、複数に区分した受け箱２８と該
受け箱２８を左右にスライド可能にしたレ−ル２９と受
け箱２８に固着したベルト３０と該ベルト３０を張架し
て受け箱２８を左右に移動可能にした駆動モ−タ３１と
によって選別部３２を構成している。
【００２８】さて図２により制御部３５について説明す
る。図２は制御部３５を説明するためのブロック図であ
る。制御部３５の中心にはＣＰＵ３３を設けてあり、該
ＣＰＵ３３には、まず前記カメラ装置１８，１９，２０
の画像デ−タを処理する画像処理手段３４と測定した被
測定物の数をカウントするカウント手段３６とを介して
ＣＰＵ３５に接続してある。ここでのカウント手段３６
は規定の個数の画像デ−タを測定した時にＣＰＵ３５に
信号出力するものである。また被測定物の持つ特性値と
前記画像処理手段３４から得られる画像デ−タとから被
測定物の体積または重量及び標準偏差σの演算を行う演
算手段３７とこれらの演算結果や被測定物の特性値を記
憶する記憶手段３８、更に前記カウント手段の信号によ
り前記記憶手段の演算手段３７で得られた被測定物の体
積または重量及び標準偏差σから搗精処理前後の被測定
物の搗精歩留を算定する算定手段３９とを備えると共
に、Ｉ／Ｏポ−ト４０を介して前記被測定物の特性値な
どを入力する入力手段４１と供給部１３と測定ステ−ジ
部１７と測定部２７とを接続してある。
る。図２は制御部３５を説明するためのブロック図であ
る。制御部３５の中心にはＣＰＵ３３を設けてあり、該
ＣＰＵ３３には、まず前記カメラ装置１８，１９，２０
の画像デ−タを処理する画像処理手段３４と測定した被
測定物の数をカウントするカウント手段３６とを介して
ＣＰＵ３５に接続してある。ここでのカウント手段３６
は規定の個数の画像デ−タを測定した時にＣＰＵ３５に
信号出力するものである。また被測定物の持つ特性値と
前記画像処理手段３４から得られる画像デ−タとから被
測定物の体積または重量及び標準偏差σの演算を行う演
算手段３７とこれらの演算結果や被測定物の特性値を記
憶する記憶手段３８、更に前記カウント手段の信号によ
り前記記憶手段の演算手段３７で得られた被測定物の体
積または重量及び標準偏差σから搗精処理前後の被測定
物の搗精歩留を算定する算定手段３９とを備えると共
に、Ｉ／Ｏポ−ト４０を介して前記被測定物の特性値な
どを入力する入力手段４１と供給部１３と測定ステ−ジ
部１７と測定部２７とを接続してある。
【００２９】このように構成した搗精歩留測定装置１０
は、穀粒等の搗精処理前の複数個の被測定物と搗精処理
後の複数個の被測定物とをそれぞれ測定するが、搗精処
理前後の穀粒に関係なく作用としては同様であるので一
方のみとする。
は、穀粒等の搗精処理前の複数個の被測定物と搗精処理
後の複数個の被測定物とをそれぞれ測定するが、搗精処
理前後の穀粒に関係なく作用としては同様であるので一
方のみとする。
【００３０】穀粒を一粒ずつ供給する供給部１３から測
定ステ−ジ部１７の半透明のステ−ジ１４に一粒の穀粒
を供給すると、供給部１３の駆動装置１６が作動して、
前記ステ−ジ１４を供給部１３から測定部２７の測定位
置１５へ移動する。測定位置１５では、測定位置１５の
下方及び周辺から測定部２７の照明装置２１，２２，２
３によって穀粒が照明される。照明された穀粒は、ステ
−ジ１４の穀粒に対してＸ，Ｙ，Ｚ軸方向から穀粒の画
像デ−タを取り込むよう各軸方向に設置したカメラ装置
１８，１９，２０によって撮像される。
定ステ−ジ部１７の半透明のステ−ジ１４に一粒の穀粒
を供給すると、供給部１３の駆動装置１６が作動して、
前記ステ−ジ１４を供給部１３から測定部２７の測定位
置１５へ移動する。測定位置１５では、測定位置１５の
下方及び周辺から測定部２７の照明装置２１，２２，２
３によって穀粒が照明される。照明された穀粒は、ステ
−ジ１４の穀粒に対してＸ，Ｙ，Ｚ軸方向から穀粒の画
像デ−タを取り込むよう各軸方向に設置したカメラ装置
１８，１９，２０によって撮像される。
【００３１】撮像が完了した穀粒は測定部２７の排除装
置２６によって測定部２７外に排除される。この排除は
前記撮像を終えると直ちに排除する場合と搗精歩留測定
装置１０の体積デ−タまたは重量デ−タの演算を終えて
排除する場合とが考えられるが、後者の場合、体積デ−
タまたは重量デ−タの値に基づいて区分けすることも可
能である。
置２６によって測定部２７外に排除される。この排除は
前記撮像を終えると直ちに排除する場合と搗精歩留測定
装置１０の体積デ−タまたは重量デ−タの演算を終えて
排除する場合とが考えられるが、後者の場合、体積デ−
タまたは重量デ−タの値に基づいて区分けすることも可
能である。
【００３２】この体積デ−タまたは重量デ−タの値に基
づく区分けは、複数個に区分けした受け箱２８のそれぞ
れをあらかじめデ−タによって対応させておき、測定さ
れたデ−タにしたがって駆動モ−タ３１を駆動させ対応
する受け箱２８を排出する位置に停止させて排除装置２
６を作動させる。
づく区分けは、複数個に区分けした受け箱２８のそれぞ
れをあらかじめデ−タによって対応させておき、測定さ
れたデ−タにしたがって駆動モ−タ３１を駆動させ対応
する受け箱２８を排出する位置に停止させて排除装置２
６を作動させる。
【００３３】さて、測定部２７の排除装置２６によって
穀粒を排除すると、測定ステ−ジ部１７は駆動装置１６
を作動してステ−ジ１４を供給部１３に移動させる。供
給部１３からは次の穀粒が供給され再び測定部２７での
測定が開始される。以上の繰り返しを制御部３５の制御
によって行われ搗精歩留測定装置１０は稼働する。
穀粒を排除すると、測定ステ−ジ部１７は駆動装置１６
を作動してステ−ジ１４を供給部１３に移動させる。供
給部１３からは次の穀粒が供給され再び測定部２７での
測定が開始される。以上の繰り返しを制御部３５の制御
によって行われ搗精歩留測定装置１０は稼働する。
【００３４】このように測定された穀粒のデ−タは制御
部３５によって次のように演算処理される。カメラ装置
１８，１９，２０によって撮像された一つの穀粒のＸ，
Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タは画像処理手段３４によって画
像処理され、Ｘ，Ｙ，Ｚ方向の長さのデ−タとされる。
この長さのデ−タによって演算手段３７では穀粒の体積
デ−タを求める。また入力手段４１によって穀粒の比重
が入力してあれば先の体積デ−タから重量デ−タを演算
することができる。このとき演算で求められたデ−タに
基づいて前記の排除装置２６を制御して区分けすること
ができる。
部３５によって次のように演算処理される。カメラ装置
１８，１９，２０によって撮像された一つの穀粒のＸ，
Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タは画像処理手段３４によって画
像処理され、Ｘ，Ｙ，Ｚ方向の長さのデ−タとされる。
この長さのデ−タによって演算手段３７では穀粒の体積
デ−タを求める。また入力手段４１によって穀粒の比重
が入力してあれば先の体積デ−タから重量デ−タを演算
することができる。このとき演算で求められたデ−タに
基づいて前記の排除装置２６を制御して区分けすること
ができる。
【００３５】ここで体積デ−タ及び重量デ−タの演算に
ついて図５によって説明する。図５に示すものは穀粒、
特にここでは米穀を例にあげている。カメラ装置１８，
１９，２０によって撮像されたＸ，Ｙ，Ｚ方向のデ−タ
はそれぞれの長さのデ−タとして画像処理手段３４によ
って画像処理される。画像処理されたＸ，Ｙ，Ｚ方向の
デ−タによって次式から体積デ−タＶｂ、Ｖｗを求める
ことができる。ここでＶｂは原料玄米の体積デ−タでＶ
ｗは搗精後の白米の体積デ−タを表す。
ついて図５によって説明する。図５に示すものは穀粒、
特にここでは米穀を例にあげている。カメラ装置１８，
１９，２０によって撮像されたＸ，Ｙ，Ｚ方向のデ−タ
はそれぞれの長さのデ−タとして画像処理手段３４によ
って画像処理される。画像処理されたＸ，Ｙ，Ｚ方向の
デ−タによって次式から体積デ−タＶｂ、Ｖｗを求める
ことができる。ここでＶｂは原料玄米の体積デ−タでＶ
ｗは搗精後の白米の体積デ−タを表す。
【００３６】
【式１】 またこれらに原料玄米の比重ρｂ、または搗精後の白米
の比重ρｗを乗算すると重量デ−タＷｂ，Ｗｗを求める
ことが可能となる。
の比重ρｗを乗算すると重量デ−タＷｂ，Ｗｗを求める
ことが可能となる。
【００３７】
【式２】更にこの体積デ−タＶｂあるいは重量デ−タＷ
ｗの比較から算定手段３９では次式によって被測定物１
粒の搗精歩留Ｐをもとめることができる。
ｗの比較から算定手段３９では次式によって被測定物１
粒の搗精歩留Ｐをもとめることができる。
【００３８】
【式３】 このように演算処理して得られたデ−タは記憶手段３８
に記憶され、カウント手段３６のカウントアップ信号を
待って演算手段３７に読み込まれる。
に記憶され、カウント手段３６のカウントアップ信号を
待って演算手段３７に読み込まれる。
【００３９】さてこのようにして得られたデ−タの処理
について図４によって説明する。この重量デ−タあるい
は体積デ−タがカウント手段３６のカウントアップによ
って任意のデ−タ数たとえば１０００粒分になると、同
じく演算手段３７によって１０００粒分のデ−タの標準
偏差σを演算する。さらにこの標準偏差σをもとに任意
に決められた範囲、たとえば±３σを超えた範囲外のデ
−タは不良デ−タとして排除し、残った範囲内のデ−タ
で再度平均値を演算する。このように、前記演算で同時
に得た標準偏差σを用いて、この標準偏差σによって任
意に定められる範囲外の体積デ−タを除外した後の体積
デ−タから得られる平均値を比較するようにしたので、
前記範囲外の体積デ−タとなる極めて体積の小さい砕粒
の様な物、あるいは極めて体積の大きい異種穀物や、異
物の様な物の体積デ−タを除外することができ、サンプ
ル穀粒の内、整粒となる穀粒だけの体積デ−タの平均値
で搗精前後の搗精歩留を正確に算定することができるよ
うになった。演算された再平均値は記憶手段３８に記憶
しておく。
について図４によって説明する。この重量デ−タあるい
は体積デ−タがカウント手段３６のカウントアップによ
って任意のデ−タ数たとえば１０００粒分になると、同
じく演算手段３７によって１０００粒分のデ−タの標準
偏差σを演算する。さらにこの標準偏差σをもとに任意
に決められた範囲、たとえば±３σを超えた範囲外のデ
−タは不良デ−タとして排除し、残った範囲内のデ−タ
で再度平均値を演算する。このように、前記演算で同時
に得た標準偏差σを用いて、この標準偏差σによって任
意に定められる範囲外の体積デ−タを除外した後の体積
デ−タから得られる平均値を比較するようにしたので、
前記範囲外の体積デ−タとなる極めて体積の小さい砕粒
の様な物、あるいは極めて体積の大きい異種穀物や、異
物の様な物の体積デ−タを除外することができ、サンプ
ル穀粒の内、整粒となる穀粒だけの体積デ−タの平均値
で搗精前後の搗精歩留を正確に算定することができるよ
うになった。演算された再平均値は記憶手段３８に記憶
しておく。
【００４０】この演算手段３７によって演算した再平均
値デ−タは、搗精前の原料穀物の再平均値デ−タも同様
にして求めてある。次に算定手段３９では、搗精前の再
平均値デ−タと搗精後の再平均値デ−タとにより歩留算
定を行う。この歩留算定で求められた歩留は、穀粒一粒
一粒を画像デ−タにより測定して得られた体積デ−タあ
るいは重量デ−タであり、搗精処理前の原料穀物の一粒
のデ−タと、搗精処理後の穀物の一粒のデ−タとを比較
して求める「真正歩留」である。
値デ−タは、搗精前の原料穀物の再平均値デ−タも同様
にして求めてある。次に算定手段３９では、搗精前の再
平均値デ−タと搗精後の再平均値デ−タとにより歩留算
定を行う。この歩留算定で求められた歩留は、穀粒一粒
一粒を画像デ−タにより測定して得られた体積デ−タあ
るいは重量デ−タであり、搗精処理前の原料穀物の一粒
のデ−タと、搗精処理後の穀物の一粒のデ−タとを比較
して求める「真正歩留」である。
【００４１】ところで、前記供給部１３における測定ス
テ−ジ１４位置に被測定物検知装置４２を設けて、制御
部３５を介して供給部１３に連絡しておくと、穀物の落
下を被測定物検知装置のセンサ−４２が検知すると、そ
れと同時に供給部１３を停止させることが可能でステ−
ジ１４上に確実に穀粒を一粒ずつ供給することができ
る。
テ−ジ１４位置に被測定物検知装置４２を設けて、制御
部３５を介して供給部１３に連絡しておくと、穀物の落
下を被測定物検知装置のセンサ−４２が検知すると、そ
れと同時に供給部１３を停止させることが可能でステ−
ジ１４上に確実に穀粒を一粒ずつ供給することができ
る。
【００４２】
【発明の効果】以上のようにこの算定で求められた歩留
は、穀粒一粒一粒を画像デ−タにより測定して得られた
体積デ−タあるいは重量デ−タであり、搗精処理前の原
料穀物の一粒のデ−タと、搗精処理後の穀物の一粒のデ
−タとを比較して求める「真正歩留」である。したがっ
て従来技術のような本来歩留の算定に含まれてはならな
い搗精装置の外に吐き出された穀粒の減少分を含むこと
はなく、しかも歩留の算定に用いるデ−タが人手によら
ない、粒を直接画像デ−タにより読み取るものであるか
ら、短時間で「真正歩留の算定」が可能となった。この
ようにして得られる「真正歩留」のデ−タによって搗精
歩留の正確な管理と搗精装置の正確な稼働設定が可能と
なった。
は、穀粒一粒一粒を画像デ−タにより測定して得られた
体積デ−タあるいは重量デ−タであり、搗精処理前の原
料穀物の一粒のデ−タと、搗精処理後の穀物の一粒のデ
−タとを比較して求める「真正歩留」である。したがっ
て従来技術のような本来歩留の算定に含まれてはならな
い搗精装置の外に吐き出された穀粒の減少分を含むこと
はなく、しかも歩留の算定に用いるデ−タが人手によら
ない、粒を直接画像デ−タにより読み取るものであるか
ら、短時間で「真正歩留の算定」が可能となった。この
ようにして得られる「真正歩留」のデ−タによって搗精
歩留の正確な管理と搗精装置の正確な稼働設定が可能と
なった。
【図１】従来技術を示す装置のフロ−である。
【図２】本発明の制御部を示したブロック図である。
【図３】本発明の搗精歩留測定装置を示す図である。
【図４】本発明の標準偏差によるデ−タ処理を示す図で
ある。
ある。
【図５】本発明の画像処理によって求める長さを示した
穀物の一例である。
穀物の一例である。
１ 搗精装置 ２ 流量計 ３ 流量計 １０ 搗精歩留測定装置 １１ フィ−ダ−トラフ １２ バイブレ−タ １３ 供給部 １４ 半透明のステ−ジ １５ 測定位置 １６ 駆動装置 １７ 測定ステ−ジ部 １８ カメラ装置 １９ カメラ装置 ２０ カメラ装置 ２１ 照明装置 ２２ 照明装置 ２３ 照明装置 ２４ 排除ア−ム ２５ ア−ム駆動装置 ２６ 排除装置 ２７ 測定部 ２８ 受け箱 ２９ レ−ル ３０ ベルト ３１ 駆動モ−タ ３２ 選別部 ３３ ＣＰＵ ３４ 画像処理手段 ３５ 制御部 ３６ カウント手段 ３７ 演算手段 ３８ 記憶手段 ３９ 算定手段 ４０ Ｉ／Ｏポ−ト ４１ 入力手段 ４２ 被測定物検知装置（センサ−）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭56−56238（ＪＰ，Ａ) 特開 平８−201262（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/958 B02B 1/00 - 7/00
Claims (7)
- 【請求項１】搗精処理前の複数個の被測定物と搗精処理
後の複数個の被測定物とのそれぞれから取り込んだＸ，
Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タを処理して得られるＸ，Ｙ，Ｚ
方向の寸法により、搗精処理前の複数個の被測定物の体
積デ−タとその標準偏差σ並びに搗精処理後の複数個の
被測定物の体積デ−タとその標準偏差σとを演算処理
し、該演算処理により得られる標準偏差σによって任意
に定められる範囲外の体積デ−タを除外した後の体積デ
−タから得られる搗精処理前の複数個の被測定物の体積
デ−タの平均値と搗精処理後の複数個の被測定物の体積
デ−タの平均値とを比較して、搗精した被測定物の搗精
歩留を算定することを特徴とする搗精歩留測定方法。 - 【請求項２】 搗精処理前の複数個の被測定物と搗精処
理後の複数個の被測定物とのそれぞれから取り込んだ
Ｘ，Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タを処理して得られるＸ，
Ｙ，Ｚ方向の寸法と、搗精処理前の複数個の被測定物の
比重と搗精処理後の複数個の被測定物の比重とにより、
搗精処理前の複数個の被測定物の重量デ−タとその標準
偏差σと搗精処理後の複数個の被測定物の重量デ−タと
その標準偏差σとを演算処理し、該演算処理により得ら
れる標準偏差σによって任意に定められる範囲外の重量
デ−タを除外した後の重量デ−タから得られる搗精処理
前の複数個の被測定物の重量の平均値と搗精処理後の複
数個の被測定物の重量の平均値とを比較して、搗精した
被測定物の搗精歩留を算定することを特徴とする搗精歩
留測定方法。 - 【請求項３】 特性値が被測定物の比重であることを特徴
とする請求項１または２記載の搗精歩留測定方法。 - 【請求項４】 体積データまたは重量データに基づいて被
測定物を区分けすることを特徴とする請求項１または２
記載の搗精歩留測定方法。 - 【請求項５】 穀粒等の被測定物を一粒ずつ供給する供給
部と、該供給部から任意間隔を置いた測定位置で、前記
被測定物のＸ，Ｙ，Ｚ軸方向から画像デ−タを取り込む
よう各軸方向に設置したカメラ装置と前記測定位置の下
方及び周辺から測定位置の照明を行う照明装置及び測定
後の被測定物を測定位置外に排除する排除装置とを有す
る測定部と、前記供給部から供給された被測定物を載置
する半透明のステ−ジと該ステ−ジを供給部から前記測
定部の測定位置に移動させる駆動装置とを有する測定ス
テ−ジ部と、被測定物の既知の特性値等を入力する入力
部、及び測定した複数個の被測定物のカウント手段と
Ｘ，Ｙ，Ｚ方向の画像デ−タの画像処理手段と前記特性
値と画像デ−タとから被測定物の体積または重量及び標
準偏差σの演算を行う演算手段と該被測定物の体積また
は重量及び標準偏差σから搗精処理後の被測定物の搗精
歩留を算定する算定手段とを有するとともに前記供給部
と測定部と測定ステージ部と及び入力部のそれぞれに連
絡した制御部とから構成したことを特徴とする搗精歩留
測定装置。 - 【請求項６】 前記供給部における測定ステージ位置には
被測定物検知装置を備え、該被測定物検知装置は前記制
御部を介して供給部に連絡したことを特徴とする請求項
５記載の搗精歩留測定装置。 - 【請求項７】 測定位置に、被測定物の堆積または重量に
応じて被測定物を複数に区分けする選別手段を備えるこ
とを特徴とする請求項５記載の搗精歩留測定装置 。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16852392A JP3156373B2 (ja) | 1992-06-02 | 1992-06-02 | 搗精歩留測定方法及び搗精歩留測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16852392A JP3156373B2 (ja) | 1992-06-02 | 1992-06-02 | 搗精歩留測定方法及び搗精歩留測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05332941A JPH05332941A (ja) | 1993-12-17 |
| JP3156373B2 true JP3156373B2 (ja) | 2001-04-16 |
Family
ID=15869607
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16852392A Expired - Fee Related JP3156373B2 (ja) | 1992-06-02 | 1992-06-02 | 搗精歩留測定方法及び搗精歩留測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3156373B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000180369A (ja) * | 1998-10-09 | 2000-06-30 | Satake Eng Co Ltd | 穀粒品位測定方法及びその装置 |
| JP3790515B2 (ja) * | 2003-01-06 | 2006-06-28 | 株式会社クボタ | 穀物検査装置 |
| JP3763818B2 (ja) * | 2003-01-06 | 2006-04-05 | 株式会社クボタ | 穀物検査装置 |
-
1992
- 1992-06-02 JP JP16852392A patent/JP3156373B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05332941A (ja) | 1993-12-17 |
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