JP3156323B2 - Oscillator circuit - Google Patents

Oscillator circuit

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、シュミット回路のヒス
テリシス特性とCR時定数回路の充放電特性を利用した
発振回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an oscillation circuit utilizing a hysteresis characteristic of a Schmitt circuit and a charge / discharge characteristic of a CR time constant circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、シュミット回路のヒステリシス特
性とCR時定数回路の充放電特性を利用した発振回路
は、例えば昭和55年オーム社発行の特許パルス回路技
術辞典p55に記載されており、CMOS論理ゲートを
用いてシュミット回路を構成することも特許パルス回路
技術辞典p120に記載されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an oscillation circuit utilizing the hysteresis characteristic of a Schmitt circuit and the charging / discharging characteristic of a CR time constant circuit is described in, for example, a patent pulse circuit technology dictionary p55 published by Ohmsha in 1980, and has a CMOS logic circuit. The configuration of a Schmitt circuit using gates is also described in Patent Pulse Circuit Technical Dictionary p120.

【0003】図4は、CMOS論理ゲートを用いてシュ
ミット回路を構成した発振回路の構成を示す回路図であ
る。発振回路は、シュミット回路10と、シュミット回
路10の出力電圧により抵抗12を介して充電されるコ
ンデンサ14とから構成されており、シュミット回路1
0は、閾値VL を有するインバータ16と、閾値V
H (VH >VL )を有するインバータ18と、インバー
タ16,18の出力を入力とするアンドノアゲート20
と、アンドノアゲート20の出力を反転するインバータ
22とから構成されている。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of an oscillation circuit in which a Schmitt circuit is formed using CMOS logic gates. The oscillation circuit includes a Schmitt circuit 10 and a capacitor 14 that is charged by an output voltage of the Schmitt circuit 10 via a resistor 12.
0 indicates the inverter 16 having the threshold value V L and the threshold value V
H (V H > V L ), and an AND NOR gate 20 receiving the outputs of the inverters 16 and 18
And an inverter 22 for inverting the output of the AND NOR gate 20.

【0004】次に動作を図5により説明する。Next, the operation will be described with reference to FIG.

【0005】この回路の発振周期は、インバータ16の
閾値VL とインバータ18の閾値VH の間をC点の電位
が抵抗12とコンデンサ14の充放電特性に従って上下
することにより決定される。VL 、VH はインバータ1
6,18を構成するPチャネル、Nチャネルそれぞれの
MOSトランジスタのスレッショルド電圧Vthにより決
定されるから、このVthが変化することにより入力イン
バータ16,18の閾値VL 、VH が影響を受ける。こ
の影響が(VH −VL )の値を変化させるように働いた
場合には、発振周期に変動が生じることになる。
[0005] oscillation period of the circuit is determined by the between thresholds V H threshold V L and the inverter 18 in the inverter 16 potential at point C is vertically accordance charge-discharge characteristics of the resistor 12 and capacitor 14. VL and VH are inverter 1
The threshold voltages V L and V H of the input inverters 16 and 18 are affected by the change of V th because the threshold voltages V th of the P-channel and N-channel MOS transistors constituting the transistors 6 and 18 are determined. . If this effect acts to change the value of ( VH - VL ), the oscillation cycle will fluctuate.

【0006】一般に、CMOSインバータの閾値は、次
式で与えられる。
Generally, the threshold value of a CMOS inverter is given by the following equation.

【0007】[0007]

【数1】 今、入力インバータ16,18の閾値をVL ≠VH とし
たい場合、集積回路の設計上、第1式中の変数WN 、L
N 、WP 、LP を操作するのが一般的である。すなわ
ち、その他の変数については使用条件、製造条件、半導
体物特性等から期待される値に固定し、所望のVT
なるようにWN 、LN 、WP 、LP を調整する。そこ
で、VthP とVthN は(2)式のように製造上期待され
るTYP値であるものと仮定し、VT =VH として第
1式を変形すると(3)式となる。
(Equation 1) Now, when it is desired to set the threshold values of the input inverters 16 and 18 to V L ≠ V H , the variables W N and L
It is common to operate N , W P , and L P. In other words, other variables are fixed to values expected from use conditions, manufacturing conditions, semiconductor characteristics, and the like, and W N , L N , W P , and L P are adjusted so as to obtain a desired V T * . Therefore, it is assumed that V thP and V thN are TYP values expected in manufacturing as shown in equation (2), and the first equation is modified as V T * = V H to obtain equation (3).

【0008】 VthN =−VthP =Vth …(2) (KN /KP 1/2 =(VDD−VH −Vth)/(VH −Vth) …(3) 同様に、VT =VL とすると、(1)式の変形により
(4)式となる。
V thN = −V thP = V th (2) (K N / K P ) 1/2 = (V DD −V H −V th ) / (V H −V th ) (3) Same as above. If VT * = VL , then equation (4) results from the transformation of equation (1).

【0009】 (KN /KP 1/2 =(VDD−VL −Vth)/(VL −Vth) …(4) ここで、(3)式および(4)式に示されるVth
(2)式で仮定したTYP値であり、式の値そのものは
各々のインバータのチャネル幅とチャネル長との比を実
現する定数である。一方、(1)式におけるVthN 、V
thP はトランジスタの実際のスレッショルド電圧であ
り、VT のスレッショルド電圧依存性を考える上での
変数となる点に注意を要する。従って、トランジスタの
実際のVth変動を考慮して図4における2つの入力イン
バータ間の回路閾値差(VH −VL a を求めると次式
のようになる。
(K N / K P ) 1/2 = (V DD −V L −V th ) / (V L −V th ) (4) Here, equations (3) and (4) are used. V th is the TYP value assumed in the equation (2), and the value itself in the equation is a constant for realizing the ratio between the channel width and the channel length of each inverter. On the other hand, V thN , V
thP is the actual threshold voltage of the transistor, requires attention to the point at which the variable of in considering the threshold voltage dependence of V T *. Therefore, when the circuit threshold difference ( VH - VL ) a between the two input inverters in FIG. 4 is determined in consideration of the actual Vth variation of the transistor, the following equation is obtained.

【0010】[0010]

【数2】 即ち、設計時に意図した閾値差(VH −VL )に係数
(VDD−|VthP |+VthN )/(VDD−2Vth)を乗
じたものが動作時の閾値差(VH −VL a となる。
(Equation 2) That is, coefficient threshold difference intended in the design (V H -V L) (V DD - | V thP | + V thN) / (V DD -2V th) the threshold difference during operation multiplied by (V H - VL ) a .

【0011】例えば、VDDを5V、Vthを0.8V、|
thP |とVthN との変化幅を±0.3Vとしたとき、
係数(VDD−|VthP |+VthN )/(VDD−2Vth
は表1に示すような値を取る。表1からわかるように、
PチャネルMOSトランジスタのスレッショルド電圧V
thP とNチャネルMOSトランジスタのスレッショルド
電圧VthN がそれぞれTYP値をとる場合、係数(VDD
−|VthP |+VthN )/(VDD−2Vth)は1とな
り、また|VthP |の変化が−0.3VかつVth N の変
化が+0.3Vの組み合わせにおいても係数は1とな
る。
For example, when V DD is 5 V, V th is 0.8 V, |
When the variation width between V thP | and V thN is ± 0.3 V,
Coefficient (V DD − | V thP | + V thN ) / (V DD −2V th )
Takes values as shown in Table 1. As can be seen from Table 1,
Threshold voltage V of P-channel MOS transistor
When thP and the threshold voltage V thN of the N-channel MOS transistor take TYP values, respectively, the coefficient (V DD
− | V thP | + V thN ) / (V DD −2V th ) is 1, and the coefficient is 1 even when the change of | V thP | is −0.3 V and the change of V th N is +0.3 V. Become.

【0012】[0012]

【表1】 これらの場合において、各々のMOSトランジスタのV
thの変化は、(VH −VL )の値には影響を及ぼさず、
従って図4に示す発振回路の発振周波数もほとんど変化
しない。詳細に見れば上述組み合わせのうちVthP とV
thN とが共にTYP値を取る場合を除いてVH とVL
その間隔を保持したまま上下に±0.3Vの範囲を平行
移動するが、VH 、VL がVDDまたはGNDレベルに極
めて近い電圧に設定されている場合の他、例えば図5に
示した程度の電圧値にVH 、VL が設定されている場合
には、発振周波数に対する影響はほとんど無い。
[Table 1] In these cases, the V
The change in th does not affect the value of (V H -V L ),
Therefore, the oscillation frequency of the oscillation circuit shown in FIG. 4 hardly changes. Looking at the details, VthP and V
Except when both thN take the TYP value, VH and VL move up and down in a range of ± 0.3 V while maintaining the interval, but VH and VL become V DD or GND level. In addition to the case where the voltage is set to a very close voltage and the case where V H and VL are set to the voltage values shown in FIG. 5, for example, there is almost no influence on the oscillation frequency.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】ところが、|VthP
の変化が+0.3VかつVthN の変化が+0.3Vの場
合、表1に示すように、係数(VDD−|VthP |+V
thN )/(VDD−2Vth)は0.824となり、また|
thP |の変化が−0.3VかつVthN の変化が−0.
3Vの場合、係数の値は1.176となり、発振周波数
に対して係数自体の変化率以上の変化を及ぼすこととな
り、発振周波数が変動するという問題点があった。
SUMMARY OF THE INVENTION However, | V thP |
When the change of V thN is +0.3 V and the change of V thN is +0.3 V, as shown in Table 1, the coefficient (V DD − | V thP | + V
thN ) / (V DD -2V th ) is 0.824, and |
The change in V thP | is -0.3 V and the change in V thN is -0.
In the case of 3 V, the value of the coefficient is 1.176, which causes a change in the oscillation frequency that is equal to or greater than the rate of change of the coefficient itself, and there is a problem that the oscillation frequency fluctuates.

【0014】この発明は、上記のような課題を解消する
ためになされたものであり、発振周波数の変動を小さく
することができる発振回路を提供することを目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem, and has as its object to provide an oscillation circuit capable of reducing fluctuations in oscillation frequency.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明は、それぞれ閾値
が異なる2個のCMOSインバータを含み入力信号が第
1のCMOSインバータの閾値より小さくなると高レベ
ル信号を出力しかつ入力信号が第2のCMOSインバー
タの閾値より大きくなると低レベル信号を出力するシュ
ミット回路と、シュミット回路に含まれる2個のCMO
Sインバータの閾値の差が小さくなる場合には大きくな
り、大きくなる場合には小さくなる閾値を有し、シュミ
ット回路から出力される高レベル信号からは当該閾値を
減算し、低レベル出力信号には加算して出力するレベル
交換回路と、レベル交換回路の出力電圧により抵抗を介
して充電されシュミット回路に入力電圧を与えるコンデ
ンサと、を備えたことを特徴とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention includes two CMOS inverters each having a different threshold value, and outputs a high-level signal when an input signal becomes smaller than the threshold value of the first CMOS inverter, and outputs a high-level signal when the input signal becomes second. A Schmitt circuit that outputs a low-level signal when the threshold voltage of the CMOS inverter is exceeded, and two CMOs included in the Schmitt circuit
When the difference between the threshold values of the S inverter is small, the threshold value is large, and when the difference is large, the threshold value is small. The threshold value is subtracted from the high-level signal output from the Schmitt circuit. It is characterized by comprising a level switching circuit for adding and outputting, and a capacitor which is charged via a resistor by an output voltage of the level switching circuit and supplies an input voltage to the Schmitt circuit.

【0016】[0016]

【作用】本発明に係る発振回路においては、シュミット
回路から入力信号に応じ高レベル出力信号(H)又は低
レベル出力信号(L)が出力される。さらに、レベル交
換回路の出力によりコンデンサが充電される。第1のC
MOSインバータの閾値と第2のCMOSインバータの
閾値の差が小さくなるよう変動する場合、レベル交換回
路の閾値が大きくなるためコンデンサの充電が緩やかに
なり、大きくなるよう変動する場合は逆に急になる。こ
の結果、発振周期の変動が小さくなる。
In the oscillation circuit according to the present invention, a high-level output signal (H) or a low-level output signal (L) is output from the Schmitt circuit according to an input signal. Further, the capacitor is charged by the output of the level switching circuit. 1st C
When the difference between the threshold value of the MOS inverter and the threshold value of the second CMOS inverter fluctuates so as to decrease, the threshold value of the level switching circuit increases, so that the charging of the capacitor becomes slower. Become. As a result, the fluctuation of the oscillation cycle is reduced.

【0017】[0017]

【実施例】以下、この発明の一実施例を図を用いて説明
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0018】図1は、本発明の一実施例に係る発振回路
の構成を示す回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an oscillation circuit according to one embodiment of the present invention.

【0019】本実施例の発振回路は、シュミット回路1
0と、シュミット回路10の高レベル出力信号に対して
第3の閾値分だけ小さい出力信号を出力しかつシュミッ
ト回路の低レベル出力信号に対して第3の閾値分だけ大
きい出力信号を出力するレベル交換回路30と、レベル
交換回路30の出力電圧により抵抗12を介して充電さ
れるコンデンサ14とから構成されており、シュミット
回路10は、閾値VL を有するインバータ16と、閾値
H を有するインバータ18と、インバータ16,18
の出力を入力とするアンドノアゲート20と、アンドノ
アゲート20の出力を反転するインバータ22と、イン
バータ22の出力を反転するインバータ24とから構成
されている。
The oscillation circuit of the present embodiment is a Schmitt circuit 1
0, a level at which an output signal smaller than the high-level output signal of the Schmitt circuit 10 by the third threshold value and an output signal larger than the low-level output signal of the Schmidt circuit by the third threshold value are output. inverter having an exchange circuit 30 is constituted by a capacitor 14 that is charged via the resistor 12 by the output voltage level exchange circuit 30, Schmitt circuit 10 includes an inverter 16 having a threshold V L, a threshold V H 18 and inverters 16 and 18
, And an inverter 22 for inverting the output of the AND NOR gate 20, and an inverter 24 for inverting the output of the inverter 22.

【0020】レベル交換回路30は、PチャネルMOS
トランジスタ32、34およびNチャネルMOSトラン
ジスタ36、38により構成されている。
The level switching circuit 30 is a P-channel MOS
Transistors 32 and 34 and N-channel MOS transistors 36 and 38 are provided.

【0021】次に、本実施例の動作を図2のタイミング
チャートに沿って説明する。なお、図2中の信号名A、
B、Cは図1に付したノード名に対応する。
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to the timing chart of FIG. In addition, the signal name A in FIG.
B and C correspond to the node names given in FIG.

【0022】PチャネルトランジスタおよびNチャネル
トランジスタのスレッショルド電圧が、前述したよう
に、(VH −VL )の値を変化させるような組み合わせ
であった場合、例えば|VthP |がそのTYP値との差
が+0.3VかつVthN がそのTYP値との差が+0.
3Vであった場合、VH 、VL の値は図2中VH 、V
L に示すように波形Cの振幅が小さくなるように変化
する。この際、波形Bの振幅も|VthP |、VthN の変
化に伴いその振幅が減少するように変化する。
As described above, when the threshold voltages of the P-channel transistor and the N-channel transistor are a combination that changes the value of (V H -V L ), for example, | V thP | Is +0.3 V and V thN is +0.
In the case of 3 V, the values of V H and V L are V H + and V in FIG.
As shown by L + , the amplitude of the waveform C changes so as to decrease. At this time, the amplitude of the waveform B also changes so as to decrease as | V thP | and V thN change.

【0023】また、|VthP |がそのTYP値との差が
−0.3VかつVthN がそのTYP値との差が−0.3
Vであった場合、VH 、VL の値は図2中VH 、VL
に示すように波形Cの振幅が大きくなるように変化す
る。この際、波形Bの振幅も|VthP |、VthN の変化
に伴いその振幅が増加するように変化する。
| V thP | has a difference of -0.3 V from its TYP value and V thN has a difference of -0.3 V from its TYP value.
In the case of V, the values of V H and V L are V H and V L in FIG.
As shown by-, the amplitude of the waveform C changes so as to increase. At this time, the amplitude of the waveform B also changes so as to increase as | V thP | and V thN change.

【0024】ところで、波形Cは、図1に示す発振回路
の抵抗12およびコンデンサ14からなる時定数回路の
充放電特性に従い、かつ波形Bの振幅範囲を変化するe
xponentialカーブの内でVH とVL とに挟ま
れた部分だけで充電と放電とを繰り返すので、発振周期
に応じて抵抗12およびコンデンサ14の時定数と
H 、VL の設定レベルの組み合わせを適当に選ぶこと
により、図中の動作波形C、Cのように(VH −V
L )の値が変化しても発振周期への影響がほとんどなく
なる。
By the way, the waveform C changes according to the charging / discharging characteristics of the time constant circuit composed of the resistor 12 and the capacitor 14 of the oscillation circuit shown in FIG.
just because repeated charge and discharge portion sandwiched between the V H and V L Of xponential curve, a combination of setting the level of the constant and V H, V L when the resistor 12 and the capacitor 14 in accordance with the oscillation period by choosing the appropriate operating waveforms in FIG C +, C - as in (V H -V
Even if the value of L ) changes, there is almost no effect on the oscillation cycle.

【0025】なお、発振回路を集積回路に用いる場合、
図3に示すように、ノードB、Cを集積回路の入出力と
して抵抗12およびコンデンサ14を外付けすることが
一般的に行われており、このようにした場合、ノードB
はCR時定数回路の充放電源として十分低いインピーダ
ンスに設計されているから、電磁ノイズの輻射源となっ
て外部装置に障害を及ぼす原因となり得るが、本発明の
発振回路では、図2の波形Bに示すように、従来例の動
作波形B(図5参照)に対してその振幅が約2Vthだけ
小さくなる。従って、ノードBから輻射される電磁ノイ
ズの全エネルギー量もその分減少し、輻射ノイズを低減
することができるという効果がある。
When an oscillation circuit is used for an integrated circuit,
As shown in FIG. 3, it is common practice to externally connect a resistor 12 and a capacitor 14 using nodes B and C as input and output of the integrated circuit.
Is designed to have a sufficiently low impedance as a charging / discharging power supply for the CR time constant circuit, and may become a radiation source of electromagnetic noise and cause a failure in an external device. However, in the oscillation circuit of the present invention, the waveform shown in FIG. As shown in FIG. B, the amplitude is smaller by about 2 Vth than the operation waveform B (see FIG. 5) of the conventional example. Therefore, the total amount of energy of the electromagnetic noise radiated from the node B is correspondingly reduced, and the radiation noise can be reduced.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の発振回路
によれば、第1、第2のCMOSインバータの閾値差が
小さくなるよう変動する場合は第3の閾値を大きくして
充電曲線を緩やかにし、第1、第2の閾値差が大きくな
るよう変動する場合は第3の閾値を小さくして充電曲線
を急峻にするように構成したので、発振周期の変動を小
さくできる。
As described above, according to the oscillation circuit of the present invention, when the threshold difference between the first and second CMOS inverters fluctuates so as to be small, the third threshold is increased to increase the charging curve. In the case where the variation is made gentle and the difference between the first and second thresholds becomes large, the third threshold is made small and the charging curve is made steep, so that the fluctuation of the oscillation cycle can be made small.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る発振回路の構成を示す
回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of an oscillation circuit according to one embodiment of the present invention.

【図2】本実施例に係る発振回路の各部の電圧を示すタ
イミングチャートである。
FIG. 2 is a timing chart showing voltages of respective parts of the oscillation circuit according to the embodiment.

【図3】本実施例に係る発振回路を集積回路に用いた場
合の構成を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a configuration when the oscillation circuit according to the present embodiment is used for an integrated circuit.

【図4】従来の発振回路の構成を示す回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of a conventional oscillation circuit.

【図5】従来の発振回路の各部の電圧を示すタイミング
チャートである。
FIG. 5 is a timing chart showing voltages of respective parts of a conventional oscillation circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 シュミット回路 12 抵抗 14 コンデンサ 30 レベル交換回路 10 Schmitt circuit 12 resistor 14 capacitor 30 level exchange circuit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 それぞれ閾値が異なる2個のCMOSイ
ンバータを含み入力信号が第1のCMOSインバータの
閾値より小さくなると高レベル信号を出力しかつ入力信
号が第2のCMOSインバータの閾値より大きくなると
低レベル信号を出力するシュミット回路と、 シュミット回路に含まれる2個のCMOSインバータの
閾値の差が小さくなる場合には大きくなり、大きくなる
場合には小さくなる閾値を有し、シュミット回路から出
力される高レベル信号からは当該閾値を減算し、低レベ
ル出力信号には加算して出力するレベル交換回路と、 レベル交換回路の出力電圧により抵抗を介して充電され
シュミット回路に入力電圧を与えるコンデンサと、 を備えたことを特徴とする発振回路。
1. A high-level signal is output when an input signal is smaller than a threshold value of a first CMOS inverter, including two CMOS inverters having different threshold values, and is low when an input signal is larger than a threshold value of a second CMOS inverter. A Schmitt circuit that outputs a level signal has a threshold value that increases when a difference between threshold values of two CMOS inverters included in the Schmitt circuit decreases and increases when the difference increases, and is output from the Schmitt circuit. A level switching circuit that subtracts the threshold from the high-level signal and adds the low-level output signal and outputs the added signal; a capacitor that is charged via a resistor by an output voltage of the level switching circuit and provides an input voltage to the Schmitt circuit; An oscillation circuit comprising:
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