JP3156120B2 - Semiconductor device mounting structure - Google Patents

Semiconductor device mounting structure

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JP3156120B2
JP3156120B2 JP10228795A JP10228795A JP3156120B2 JP 3156120 B2 JP3156120 B2 JP 3156120B2 JP 10228795 A JP10228795 A JP 10228795A JP 10228795 A JP10228795 A JP 10228795A JP 3156120 B2 JP3156120 B2 JP 3156120B2
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/36Assembling printed circuits with other printed circuits
    • H05K3/361Assembling flexible printed circuits with other printed circuits
    • H05K3/363Assembling flexible printed circuits with other printed circuits by soldering

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体デバイスの実装構
造に係り、詳しくは、回路基板及び液晶ディスプレイ
(以下、LCDという)と、これら上に載置されたフィ
ルムキャリアデバイスとを備えて構成された半導体デバ
イスの実装構造に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device mounting structure, and more particularly, to a semiconductor device mounting structure comprising a circuit board and a liquid crystal display (hereinafter, referred to as LCD), and a film carrier device mounted on these. The mounting structure of the semiconductor device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、カードタイプの薄型電卓や電
子手帳などのような電子機器に組み込んで使用される半
導体デバイスのうちには、図13及び図14で示すよう
に、互いに離間して配置されたLCD駆動用の回路基板
1及び表示用のLCD2と、これら上に跨がって載置さ
れたフィルムキャリアデバイス3とを備えてなるLCD
表示装置があり、ここでのフィルムキャリアデバイス3
は、入力側端子リード3a及び出力側端子リード3bが
被着して形成されたフィルム基材4と、外装樹脂でもっ
て封止されたうえでフィルム基材4上に搭載されたLS
Iチップ部品5とから構成されている。そして、この半
導体デバイスにおいては、入力側端子リード3aを回路
基板1の接続電極1aに対して半田付け接続する一方、
その出力側端子リード3bをLCD2の接続電極2aに
異方性導電接着剤6を用いて接続した実装構造を採用す
ることが行われている。
2. Description of the Related Art Conventionally, among semiconductor devices which are used by being incorporated in electronic equipment such as a card-type thin calculator and an electronic organizer, as shown in FIG. 13 and FIG. Comprising an LCD driving circuit board 1 and a display LCD 2, and a film carrier device 3 mounted on the LCD driving circuit board 1 and the display LCD 2.
There is a display, where the film carrier device 3
Is a film substrate 4 formed by attaching the input-side terminal leads 3a and the output-side terminal leads 3b, and an LS mounted on the film substrate 4 after being sealed with an exterior resin.
And an I chip component 5. In this semiconductor device, the input terminal lead 3a is connected to the connection electrode 1a of the circuit board 1 by soldering,
A mounting structure in which the output terminal lead 3b is connected to the connection electrode 2a of the LCD 2 using an anisotropic conductive adhesive 6 has been adopted.

【0003】あるいはまた、電子機器構成上の必要か
ら、図15で示すように、回路基板1とLCD2とを上
下に離間した位置ごとに配置したうえ、フィルム基材4
を打ち抜いて形成された開口部4a上に架設された出力
側端子リード3bを曲がり変形させた状態で回路基板1
及びLCD2間に跨がるようにしてフィルムキャリアデ
バイス3を取り付けることも行われている。なお、図1
3では接続電極1a,2a及び出力側端子リード3bそ
れぞれの図示を省略し、また、図15において図14と
互いに同一となる部品、部分には同一符号を付してい
る。
Alternatively, the circuit board 1 and the LCD 2 are arranged at positions vertically separated from each other, as shown in FIG.
The circuit board 1 is bent and deformed on the output side terminal lead 3b provided on the opening 4a formed by punching
Also, the film carrier device 3 is attached so as to straddle between the LCDs 2. FIG.
In FIG. 3, connection electrodes 1a and 2a and output-side terminal leads 3b are not shown, and in FIG. 15, the same components and parts as those in FIG. 14 are denoted by the same reference numerals.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、前記従来構
造を採用した際における回路基板1とフィルムキャリア
デバイス3とは、接続電極1a及び入力側端子リード3
a間を接続した半田7のみを介して連結されているに過
ぎないことになっている。そのため、この半導体デバイ
スに外的ストレスが加わった場合、この外的ストレスは
入力側端子リード3aに対して直接的に作用することに
なり、入力側端子リード3aには外的ストレスの作用に
伴う破断や損傷が発生することになってしまう。特に、
図15で示した構成の半導体デバイスでは、ポリイミド
樹脂などのような剛性を有する素材を用いて作製された
フィルム基材4が常に平板状態へと戻ろうとする反発力
を生じているため、入力側端子リード3aに対する更な
る外的ストレスが加わることになっていた。
By the way, the circuit board 1 and the film carrier device 3 when the above-mentioned conventional structure is adopted are composed of the connection electrode 1a and the input terminal lead 3
It is supposed that the connection is made only via the solder 7 connecting the portions a. Therefore, when an external stress is applied to the semiconductor device, the external stress acts directly on the input-side terminal lead 3a, and the external-side stress acts on the input-side terminal lead 3a. Breakage and damage will occur. In particular,
In the semiconductor device having the configuration shown in FIG. 15, since the film substrate 4 made of a rigid material such as a polyimide resin always generates a repulsive force to return to the flat state, Further external stress was applied to the terminal lead 3a.

【0005】そこで、前記従来例においては、フィルム
キャリアデバイス3を構成するフィルム基材4の回路基
板側部分と回路基板1とを両面接着テープ8などによっ
て接着して固定することにより、入力側端子リード3に
対して外的ストレスが直接的に作用するのを防止する手
立てが採用されている。しかしながら、両面接着テープ
8などを用いた手立てによっては、固定が不十分となる
ばかりか、材料費及び取り付け費を要することになり、
かつ、取り付け作業に手間や時間がかかるという不都合
を生じてしまう。
In the prior art, the circuit board side portion of the film substrate 4 constituting the film carrier device 3 and the circuit board 1 are adhered and fixed by a double-sided adhesive tape 8 or the like, so that the input terminal A measure for preventing external stress from directly acting on the lead 3 is adopted. However, depending on the arrangement using the double-sided adhesive tape 8, etc., not only the fixing becomes insufficient, but also the material cost and the installation cost are required,
In addition, there is an inconvenience that the installation work takes time and labor.

【0006】本発明は、このような不都合に鑑みて創案
されたものであって、低コスト化を実現しながら入力側
端子リードの損傷を確実に防止することができる半導体
デバイスの実装構造を提供するものである。
The present invention has been made in view of such inconvenience, and provides a semiconductor device mounting structure capable of reliably preventing damage to input terminal leads while realizing low cost. Is what you do.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体デバ
イスの実装構造は、離間して配置された回路基板及び液
晶ディスプレイと、これら上に跨がって載置されたフィ
ルムキャリアデバイスとを備えており、このフィルムキ
ャリアデバイスの入力側端子リードが回路基板の接続電
極に対して半田付け接続される一方、その出力側端子リ
ードが液晶ディスプレイの接続電極に対して接続されて
なる半導体デバイスの実装構造であって、前記フィルム
キャリアデバイスには、該フィルムキャリアデバイスを
構成するフィルム基材の回路基板側部分における両側面
に接した所定の位置にフィルムキャリアデバイス側半田
付け端子部を入力側端子リードとは別に設けるととも
に、前記回路基板には、前記フィルムキャリアデバイス
側半田付け端子部と対応する所定位置に回路基板側半田
付け端子部を設けており、かつ、これらフィルムキャリ
アデバイス側及び回路基板側半田付け端子部同士を半田
付け接続し、デバイス側半田付け端子部は、フィルム基
材の厚み方向に沿って貫通する切欠き部の回路基板側面
を覆って設けられ、かつ、この切欠き部内に露出したも
のであることを特徴とするものである。
A semiconductor device mounting structure according to the present invention comprises a circuit board and a liquid crystal display which are spaced apart from each other, and a film carrier device which is placed over these. The input terminal lead of this film carrier device is soldered to the connection electrode of the circuit board, while the output terminal lead is connected to the connection electrode of the liquid crystal display. The film carrier device has a structure in which a film carrier device side soldering terminal portion is provided at an input terminal lead at a predetermined position in contact with both side surfaces of a circuit board side portion of a film base material constituting the film carrier device. In addition to the above, the circuit board has a solder terminal portion on the film carrier device side. Has established a circuit board side soldering terminal portion in position to respond, and, these film carrier device side and the circuit board side soldering terminal portions connected soldering, device-side soldered terminal portion, the film base
Notch penetrating along the thickness direction of the material side of the circuit board
And is exposed inside this notch.
It is characterized by the following.

【0008】[0008]

【0009】[0009]

【作用】上記構成によれば、デバイス側及び基板側半田
付け端子部同士が互いに半田付け接続されているのであ
るから、フィルム基材の回路基板側部分を具備したフィ
ルムキャリアデバイスは入力側端子リード及びデバイス
側半田付け端子部のそれぞれを各別に介したうえで回路
基板に対して強固に連結されていることになる。そこ
で、半導体デバイスに加わった外的ストレスは、入力側
端子リードのみならず、デバイス側半田付け端子部に対
しても作用することになり、これらデバイス側半田付け
端子部によって外的ストレスが受け止められる結果、入
力側端子リードに作用する外的ストレスは大幅に低減さ
れることになる。また、フィルム基材の切欠き部内にデ
バイス側半田付け端子部を露出させておけば、これらデ
バイス側半田付け端子部に対して半田ゴテを直接的に当
てつけたうえでの半田付け作業を行うことが可能とな
る。
According to the above construction, the device-side and the board-side soldering terminals are connected to each other by soldering. Therefore, the film carrier device provided with the circuit board-side portion of the film base material has the input-side terminal lead. In addition, each of the device-side soldering terminal portions is firmly connected to the circuit board via each of them. Therefore, the external stress applied to the semiconductor device acts not only on the input-side terminal leads but also on the device-side soldering terminals, and the external stress is received by these device-side soldering terminals. As a result, external stress acting on the input-side terminal leads is greatly reduced. Also, if the device-side soldering terminals are exposed in the cutouts of the film base, soldering work should be performed after directly applying a soldering iron to these device-side soldering terminals. Becomes possible.

【0010】[0010]

【0011】[0011]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0012】第1実施例 図1は本発明の第1実施例に係る半導体デバイスの実装
構造を示す平面図、図2は第1実施例に係る半導体デバ
イスの実装構造を示す側面図、図3及び図4のそれぞれ
は第1及び第2の変形例を示す平面図であり、図5は第
3の変形例を示す側面図である。なお、この実施例に係
る半導体デバイスの実装構造は従来例と基本的に異なら
ないから、図1ないし図5において図13ないし図15
と互いに同一となる部品、部分には同一符号を付してい
る。
[0012] a plan view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a first embodiment of the first embodiment Figure 1 the present invention, FIG 2 is a side view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a first embodiment, FIG. 3 4 and FIG. 4 are plan views showing first and second modifications, and FIG. 5 is a side view showing a third modification. Since the mounting structure of the semiconductor device according to this embodiment is not basically different from that of the conventional example, FIGS.
The same reference numerals are given to parts and portions that are identical to each other.

【0013】本実施例に係る半導体デバイスは、図1及
び図2で示すように、平面的に離間した並列状態として
配置された回路基板1及びLCD2と、これら上に跨が
って載置されたフィルムキャリアデバイス3とを備えて
構成されたLCD表示装置であり、フィルムキャリアデ
バイス3を構成するフィルム基材4に被着して形成され
た入力側端子リード3aのアウターリード側は回路基板
1の接続電極1aに対して半田付け接続される一方、そ
の出力側端子リード3bのアウターリード側はLCD2
の接続電極2aに対して異方性導電接着剤6を用いたう
えで接続されている。そして、このフィルム基材4上に
は外装樹脂でもって封止されたLSIチップ部品5が搭
載されており、このLSIチップ部品5の電極は入力側
及び出力側端子リード3a,3bそれぞれのインナーリ
ード側と接続されている。なお、図1においては接続電
極1a,2a及び出力側端子リード3bの図示を省略し
ており、図2中の符号7は接続電極1a及び入力側端子
リード3a間を接続した半田を示している。また、出力
側端子リード3bの接続電極2aに対する接続が異方性
導電接着剤6による接着に限定されることはなく、半田
付けなどであってもよいことは勿論である。
As shown in FIGS. 1 and 2, the semiconductor device according to the present embodiment has a circuit board 1 and an LCD 2 which are arranged in parallel and are separated from each other in a plane, and are mounted over these. And an input terminal lead 3a formed on the film substrate 4 of the film carrier device 3. The outer lead side of the input terminal lead 3a is formed on the circuit board 1. Of the output terminal lead 3b is connected to the LCD 2
The connection electrodes 2a are connected using an anisotropic conductive adhesive 6. An LSI chip component 5 sealed with an exterior resin is mounted on the film substrate 4, and the electrodes of the LSI chip component 5 have inner leads of input and output terminal leads 3 a and 3 b, respectively. Connected to the side. In FIG. 1, the connection electrodes 1a and 2a and the output-side terminal lead 3b are not shown, and the reference numeral 7 in FIG. 2 indicates a solder connecting the connection electrode 1a and the input-side terminal lead 3a. . Further, the connection of the output-side terminal lead 3b to the connection electrode 2a is not limited to the bonding by the anisotropic conductive adhesive 6, but may be soldering or the like.

【0014】さらに、この際、フィルムキャリアデバイ
ス3を構成するフィルム基材4の回路基板側部分におけ
る両側端部の所定位置ごとにはデバイス側半田付け端子
部10が入力側端子リード3aとは別に設けられてお
り、これらの新たに設けられたデバイス側半田付け端子
部10は所定面積を有し、かつ、入力側及び出力側端子
リード3a,3bと同時に形成されたものとなってい
る。つまり、ここでのフィルム基材4はガラス繊維入り
エポキシ樹脂やポリイミド樹脂などのような剛性を有す
る素材を用いて作製されたものである一方、入力側及び
出力側端子リード3a,3bとデバイス側半田付け端子
部10とのそれぞれはフィルム基材4の一面上を全面的
に覆って被着された銅箔のエッチング処理を行うことに
よって形成されたものであり、これらのデバイス側半田
付け端子部10を設けるための新たな工程は全く不要と
なっている。
Further, at this time, the device-side soldering terminals 10 are provided separately from the input-side terminal leads 3a at predetermined positions on both sides of the circuit board-side portion of the film substrate 4 constituting the film carrier device 3. These newly provided device-side soldering terminals 10 have a predetermined area and are formed simultaneously with the input-side and output-side terminal leads 3a, 3b. That is, the film substrate 4 is made of a rigid material such as an epoxy resin containing glass fiber or a polyimide resin, while the input and output terminal leads 3a and 3b are connected to the device side. Each of the soldering terminal portions 10 is formed by performing an etching process on a copper foil applied so as to entirely cover one surface of the film substrate 4, and these device-side soldering terminal portions are formed. No new process for providing 10 is required at all.

【0015】さらにまた、これらのデバイス側半田付け
端子部10と対応する回路基板1の所定位置ごとには基
板側半田付け端子部11が接続電極1aとは別に設けら
れており、基板側半田付け端子部11の各々に対しては
デバイス側半田付け端子部10のそれぞれが半田付けで
もって接続されている。なお、これらの基板側半田付け
端子部11も回路基板1の導体パターン作製時における
銅箔のエッチング処理によって同時形成されたものであ
り、図1及び図2中の符号12はデバイス側及び基板側
半田付け端子部10,11同士を接続した半田を示して
いる。そして、この際におけるデバイス側及び基板側半
田付け端子部10,11同士の半田付け作業は、入力側
端子リード3aの接続電極1aに対する半田付け作業と
同時に行われる。
Further, board-side soldering terminal portions 11 are provided separately from the connection electrodes 1a at predetermined positions of the circuit board 1 corresponding to the device-side soldering terminal portions 10, respectively. Each of the device-side soldering terminal portions 10 is connected to each of the terminal portions 11 by soldering. Note that these board-side soldering terminal portions 11 are also formed simultaneously by etching of the copper foil at the time of forming the conductor pattern of the circuit board 1. Reference numerals 12 in FIGS. The solder connecting the soldering terminal portions 10 and 11 is shown. At this time, the work of soldering the device-side and board-side solder terminal portions 10 and 11 is performed simultaneously with the work of soldering the input terminal lead 3a to the connection electrode 1a.

【0016】すなわち、本実施例においては、フィルム
キャリアデバイス3の入力側端子リード3aが回路基板
1の接続電極1aに半田付け接続されるとともに、デバ
イス側半田付け端子部10が基板側半田付け端子部11
に半田付けされた実装構造が採用されているのであり、
フィルムキャリアデバイス3におけるフィルム基材4の
回路基板側部分は入力側端子リード3a及びデバイス側
半田付け端子部10を介したうえで回路基板1に対して
強固に連結されたことになっている。従って、本実装構
造を採用してなる半導体デバイスに対して加わった外的
ストレスは、入力側端子リード3aのみならず、デバイ
ス側半田付け端子部10に対しても作用することにな
り、これらデバイス側半田付け端子部10によって外的
ストレスが受け止められる結果、入力側端子リード3a
に対して作用する外的ストレスは大幅に低減されること
になる。
That is, in this embodiment, the input-side terminal leads 3a of the film carrier device 3 are connected by soldering to the connection electrodes 1a of the circuit board 1, and the device-side soldering terminals 10 are connected to the board-side soldering terminals. Part 11
The mounting structure soldered to is adopted,
The circuit board side portion of the film substrate 4 in the film carrier device 3 is firmly connected to the circuit board 1 via the input side terminal leads 3a and the device side soldering terminals 10. Therefore, external stress applied to the semiconductor device employing this mounting structure acts not only on the input-side terminal lead 3a but also on the device-side soldering terminal portion 10. As a result of receiving external stress by the side soldering terminal section 10, the input side terminal lead 3a
The external stress acting on is greatly reduced.

【0017】ところで、図3で示す第1の変形例のよう
に、LSIチップ部品5の搭載位置よりも出力側寄り位
置となるフィルム基材4の回路基板側部分における両側
端部ごとにデバイス側半田付け端子部10を設けておい
ても、あるいは、図4で示す第2の変形例のように、接
続電極1aに対して半田付け接続される入力側端子リー
ド3aのアウターリード側とLSIチップ部品5との間
に位置するフィルム基材4の両側端部ごとにデバイス側
半田付け端子部10を設けておいてもよい。そして、こ
れらの際におけるデバイス側半田付け端子部10の配設
位置をLSIチップ部品5の搭載領域A(図3,4中の
仮想線で示す範囲)から離間させておけば、外的ストレ
スによる影響がLSIチップ部品5や入力側及び出力側
端子リード3a,3bそれぞれのインナーリード側に対
して及ぶことを防止しうるという利点が得られる。
By the way, as in a first modification shown in FIG. 3, a device side is provided for each side edge of the circuit board side portion of the film substrate 4 which is closer to the output side than the mounting position of the LSI chip component 5. Even if the soldering terminal portion 10 is provided, or as in the second modified example shown in FIG. 4, the outer lead side of the input side terminal lead 3a to be soldered to the connection electrode 1a and the LSI chip Device-side soldering terminal portions 10 may be provided at both end portions of the film substrate 4 located between the component 5. If the arrangement position of the device-side soldering terminal section 10 in these cases is separated from the mounting area A (the area indicated by the phantom line in FIGS. 3 and 4) of the LSI chip component 5, external stress may occur. The advantage is obtained that the influence can be prevented from affecting the LSI chip component 5 and the inner lead sides of the input and output terminal leads 3a and 3b.

【0018】また、電子機器構成上の都合から、図5で
示す第3の変形例のように、回路基板1とLCD2とを
上下に離間した位置ごとに配置しておき、かつ、フィル
ム基材4を打ち抜いて形成された開口部4a上に架設さ
れた出力側端子リード3bを曲がり変形させた状態でフ
ィルムキャリアデバイス3を回路基板1及びLCD2間
に跨がるようにして取り付けておく必要がある場合にお
いても、デバイス側半田付け端子部10をLSIチップ
部品5よりも出力側寄りで回路基板1の端部と対応する
位置に設けておけば、フィルム基材4が平板状態に戻ろ
うとして生じる反発力を回路基板1に半田付け接続され
たデバイス側半田付け端子部10でもって受け止めるこ
とが可能となる結果、この反発力による外的ストレスが
入力側端子リード3aに対して及ぶのを防ぎうることに
なる。なお、以上説明した各種の端子や電極はいずれも
錫メッキ処理が施されたものであり、また、出力側端子
リード3bが剥き出し状態のままでは信頼性が十分でな
い場合にはこれらをポリイミド樹脂などからなる薄板で
もって両側から覆うことが行われている。
Further, from the viewpoint of the configuration of the electronic equipment, as shown in a third modification shown in FIG. 5, the circuit board 1 and the LCD 2 are arranged at positions vertically separated from each other, and It is necessary to mount the film carrier device 3 so as to straddle between the circuit board 1 and the LCD 2 in a state where the output terminal lead 3b provided on the opening 4a formed by punching the punch 4 is bent and deformed. In some cases, if the device-side soldering terminal 10 is provided at a position closer to the output side than the LSI chip component 5 and corresponding to the end of the circuit board 1, the film base 4 attempts to return to the flat state. The generated repulsive force can be received by the device-side soldering terminal section 10 connected to the circuit board 1 by soldering. As a result, external stress due to the repulsive force is reduced by the input-side terminal lead. It would be prevented from reaching against a. The various terminals and electrodes described above are all plated with tin. If the output side terminal leads 3b are not sufficiently reliable in a bare state, they may be replaced with a polyimide resin or the like. From both sides with a thin plate made of

【0019】第2実施例 図6は本発明の第2実施例に係る半導体デバイスの実装
構造を示す平面図、図7は第2実施例に係る半導体デバ
イスの実装構造を示す側面図であり、図8は第4の変形
例を示す平面図である。なお、この実施例に関わる図6
ないし図8において、第1実施例に関わる図1及び図2
と互いに同一となる部品、部分には同一符号を付し、こ
こでの詳しい説明は省略する。
Second Embodiment FIG. 6 is a plan view showing a semiconductor device mounting structure according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a side view showing a semiconductor device mounting structure according to the second embodiment. FIG. 8 is a plan view showing a fourth modification. FIG. 6 relating to this embodiment.
FIGS. 1 and 2 related to the first embodiment in FIGS.
The same reference numerals are given to the same parts and portions as those described above, and the detailed description is omitted here.

【0020】本実施例に係る半導体デバイスは、図6及
び図7で示すように、離間して配置された回路基板1及
びLCD2と、これら上に載置されたフィルムキャリア
デバイス3とを備えており、このフィルムキャリアデバ
イス3の入力側端子リード3aは回路基板1の接続電極
1aに対して半田付け接続される一方、その出力側端子
リード3bはLCD2の接続電極2aに対して接続され
ている。そして、フィルムキャリアデバイス3を構成す
るフィルム基材4の回路基板側部分における両側端部の
所定位置ごとには、第1実施例同様の所定面積を有する
デバイス側半田付け端子部10が入力側端子リード3a
とは別に設けられており、これらのデバイス側半田付け
端子部10はフィルム基材4の厚み方向に沿って貫通す
る切欠き部13の回路基板側面を覆って設けられ、か
つ、切欠き部13内に露出したものとなっている。
As shown in FIGS. 6 and 7, the semiconductor device according to the present embodiment includes a circuit board 1 and an LCD 2 which are spaced apart from each other, and a film carrier device 3 mounted thereon. The input terminal lead 3a of the film carrier device 3 is connected to the connection electrode 1a of the circuit board 1 by soldering, while the output terminal lead 3b is connected to the connection electrode 2a of the LCD 2. . The device-side soldering terminal portion 10 having the same predetermined area as the first embodiment is provided at each of the predetermined positions of both side ends of the film substrate 4 constituting the film carrier device 3 on the circuit board side. Lead 3a
These device-side soldering terminal portions 10 are provided so as to cover the side surface of the circuit board of the notch portion 13 penetrating along the thickness direction of the film substrate 4. It is exposed inside.

【0021】一方、デバイス側半田付け端子部10と対
応する回路基板1の所定位置ごとには基板側半田付け端
子部11が接続電極1aとは別に設けられており、これ
ら基板側半田付け端子部11の各々に対してはデバイス
側半田付け端子部10が半田付けでもってそれぞれ接続
されている。そして、この際においては、デバイス側半
田付け端子部10のそれぞれがフィルム基材4の切欠き
部13内に露出しているから、これらのデバイス側半田
付け端子部10に対して半田ゴテを直接的に当てつける
ことが可能となる結果、半田付け温度を低く設定したう
えでの短時間しか必要としない半田付け作業を実現する
ことができる。また、デバイス側及び基板側半田付け端
子部10,11間を接続した半田12がデバイス側半田
付け端子部10上にも回り込んで付着することになるの
で、半田付け強度が向上するという利点も得られる。
On the other hand, board-side soldering terminals 11 are provided separately from the connection electrodes 1a at predetermined positions of the circuit board 1 corresponding to the device-side soldering terminals 10, respectively. The device-side soldering terminals 10 are connected to the respective terminals 11 by soldering. In this case, since each of the device-side soldering terminals 10 is exposed in the notch 13 of the film base 4, a soldering iron is directly applied to these device-side soldering terminals 10. As a result, it is possible to realize a soldering operation that requires only a short time after setting the soldering temperature low. In addition, since the solder 12 connecting the device-side and board-side soldering terminal portions 10 and 11 wraps around and adheres to the device-side soldering terminal portion 10, there is an advantage that the soldering strength is improved. can get.

【0022】ところで、以上説明した第1実施例及び第
2実施例においては、フィルムキャリアデバイス3を構
成するフィルム基材4の側端部にデバイス側半田付け端
子部10を設けることとしているが、これらデバイス側
半田付け端子部10の配設位置がフィルム基材4の側端
部に限られることはなく、例えば、図8で示す第4の変
形例のように、デバイス側半田付け端子部10をフィル
ム基材4の回路基板側部分における所定の内側位置に設
けておくことも可能である。そして、この図8では、フ
ィルム基材4に切欠き部13を設けることによってデバ
イス側半田付け端子部10を露出させているが、切欠き
部13を設けずにデバイス側半田付け端子部10を露出
させない状態としておいても差し支えないことは勿論で
ある。
In the first and second embodiments described above, the device-side soldering terminal 10 is provided at the side end of the film base 4 constituting the film carrier device 3. The disposition positions of these device-side soldering terminal portions 10 are not limited to the side end portions of the film substrate 4, for example, as in a fourth modification shown in FIG. May be provided at a predetermined inner position in the portion of the film substrate 4 on the circuit board side. In FIG. 8, the device-side soldering terminal 10 is exposed by providing the notch 13 in the film base 4. However, the device-side soldering terminal 10 is not provided without the notch 13. Of course, it can be left unexposed.

【0023】第3実施例 図9は本発明の第3実施例に係る半導体デバイスの実装
構造を示す平面図であり、図10は半導体デバイスの実
装手順を示す側面図である。なお、これらの図9及び図
10において、図1及び図2と互いに同一となる部品、
部分には同一符号を付し、ここでの詳しい説明は省略す
る。
Third Embodiment FIG. 9 is a plan view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a third embodiment of the present invention, and FIG. 10 is a side view showing a mounting procedure of the semiconductor device. 9 and FIG. 10, the same parts as those in FIG. 1 and FIG.
The same reference numerals are given to the portions, and the detailed description is omitted here.

【0024】この実施例に係る半導体デバイスのフィル
ムキャリアデバイス3を構成するフィルム基材4の回路
基板側部分には、図6及び図7で示した場合と同様、フ
ィルム基材4の切欠き部13を覆って形成されたデバイ
ス側半田付け端子部10が入力側端子リード3aとは別
に設けられており、各切欠き部13内に露出したデバイ
ス側半田付け端子部10にはその厚み方向に沿って形成
された貫通孔14が設けられている。そして、これらの
貫通孔14は、入力側及び出力側端子リード3a,3b
とデバイス側半田付け端子部10とを形成するための銅
箔エッチングによって同時に形成されたものとなってい
る。なお、図9における貫通孔14の平面視形状は円形
となっているが、円形に限られることはなく、エッチン
グ時のレジストマスクを選択することによって矩形など
の平面視形状を有する貫通孔を形成することも可能であ
る。
In the portion of the film substrate 4 constituting the film carrier device 3 of the semiconductor device according to this embodiment on the circuit board side, a cutout portion of the film substrate 4 is formed as in the case shown in FIGS. A device-side soldering terminal portion 10 formed so as to cover 13 is provided separately from the input-side terminal lead 3a, and the device-side soldering terminal portion 10 exposed in each cutout portion 13 has a thickness direction. A through hole 14 is provided along the hole. These through-holes 14 are connected to the input and output terminal leads 3a, 3b.
And the device-side soldering terminal portion 10 are simultaneously formed by copper foil etching. Although the shape of the through hole 14 in FIG. 9 in plan view is circular, the shape is not limited to a circle, and a through hole having a rectangular shape or the like in plan view is formed by selecting a resist mask at the time of etching. It is also possible.

【0025】また、デバイス側半田付け端子部10と対
応する回路基板1の所定位置ごとには基板側半田付け端
子部11が接続電極1aとは別に設けられており、これ
ら基板側半田付け端子部11の各々に対してはデバイス
側半田付け端子部10のそれぞれが半田付けでもって接
続されている。そして、この際の半田付け作業において
は、デバイス側半田付け端子部10に貫通孔14を形成
していることにより、この貫通孔14を利用したうえで
の基板側半田付け端子部11に対する位置合わせを精度
よく行えるばかりか、この貫通孔14を利用して半田付
け後における半田12の付着状態を確認することが容易
になるという利点が得られる。なお、位置合わせの実施
にあたっては、基板側半田付け端子部11に位置合わせ
マークを予め設けておく必要があることは勿論である。
A board-side soldering terminal section 11 is provided separately from the connection electrode 1a at each predetermined position of the circuit board 1 corresponding to the device-side soldering terminal section 10. Each of the device-side soldering terminal portions 10 is connected to each of the devices 11 by soldering. In the soldering operation at this time, since the through-holes 14 are formed in the device-side soldering terminal sections 10, the positioning with respect to the board-side soldering terminal sections 11 using the through-holes 14 is performed. Not only can be performed with high accuracy, but also it is easy to confirm the state of adhesion of the solder 12 after soldering by using the through hole 14. It is needless to say that in performing the alignment, it is necessary to provide an alignment mark on the board-side soldering terminal portion 11 in advance.

【0026】さらにまた、このような実装構造によれ
ば、デバイス側及び基板側半田付け端子部10,11間
を接続した半田12が貫通孔14を通ったうえでデバイ
ス側半田付け端子部10上にも回り込んでくる結果、半
田付け強度の向上をも図ることが可能になる。そして、
この際、図10で示すように、基板側半田付け端子部1
1上に所定長さのピン端子15を突設しておいてもよ
く、このようにすれば、回路基板1の上側から載置され
るフィルムキャリアデバイス3の位置決めがデバイス側
半田付け端子部10の貫通孔14とピン端子15とによ
って行われるという利点も得られる。なお、図10中の
符号20は、作業用台板である。
Furthermore, according to such a mounting structure, the solder 12 connected between the device-side and board-side soldering terminal portions 10 and 11 passes through the through-hole 14 and then on the device-side soldering terminal portion 10. As a result, the soldering strength can be improved. And
At this time, as shown in FIG.
1, a pin terminal 15 having a predetermined length may be protruded on the circuit board 1. In this case, the positioning of the film carrier device 3 mounted from the upper side of the circuit board 1 can be performed by the device-side soldering terminal portion 10. This is also achieved by the through hole 14 and the pin terminal 15. Reference numeral 20 in FIG. 10 is a work base plate.

【0027】第4実施例 図11は本発明の第4実施例に係る半導体デバイスの実
装構造を示す平面図であり、図12はその要部を拡大し
て示す断面図である。なお、この第4実施例に係る半導
体デバイスの全体構成は第1ないし第3実施例と基本的
に異ならないから、図11及び図12において図1及び
図2と互いに同一となる部品、部分には同一符号を付
し、ここでの詳しい説明は省略する。
Fourth Embodiment FIG. 11 is a plan view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 12 is an enlarged sectional view showing a main part thereof. Note that the overall configuration of the semiconductor device according to the fourth embodiment is not fundamentally different from those of the first to third embodiments. Therefore, in FIGS. 11 and 12, parts and portions which are the same as those in FIGS. Are denoted by the same reference numerals, and a detailed description thereof will be omitted.

【0028】本実施例に係る半導体デバイスを構成する
回路基板1に設けられた基板側半田付け端子部11上に
は、図10で示した場合と同様、所定長さを有するピン
端子15が上向き状態として突設されている。そして、
フィルムキャリアデバイス3を構成するフィルム基材4
の回路基板側部分には、フィルム基材4の切欠き部13
を回路基板1側から覆って形成されたデバイス側半田付
け端子部10が入力側端子リード3aとは別に設けられ
ており、各切欠き部13内に露出したデバイス側半田付
け端子部10にはピン端子15の挿通に従って拡がり変
形することになる切込み片部16、つまり、放射状のス
リットを介して互いに分離された複数枚の切込み片から
なる切込み片部16が形成されている。なお、この切込
み片部16を構成するスリットは、銅箔エッチングによ
って形成することが可能であるほか、プレス機などを用
いて形成することも可能なものである。
As shown in FIG. 10, a pin terminal 15 having a predetermined length faces upward on the board-side soldering terminal 11 provided on the circuit board 1 constituting the semiconductor device according to the present embodiment. It is protruded as a state. And
Film substrate 4 constituting film carrier device 3
The notch 13 of the film substrate 4
Are provided separately from the input terminal leads 3a. The device-side solder terminals 10 exposed in the cutouts 13 are provided separately from the input-side terminal leads 3a. A cut piece 16 that expands and deforms as the pin terminal 15 is inserted, that is, a cut piece 16 composed of a plurality of cut pieces separated from each other via a radial slit is formed. The slits forming the cutouts 16 can be formed by copper foil etching, or can be formed by using a press machine or the like.

【0029】そして、図10で示したのと同様、回路基
板1の上側からフィルムキャリアデバイス3を載置して
いくと、基板側半田付け端子部11上に設けられたピン
端子15はデバイス側半田付け端子部10に当接するこ
とになり、当接したピン端子15はデバイス側半田付け
端子部10の切込み片部16内へと侵入することにな
る。その結果、切込み片のそれぞれはピン端子15の挿
通に従って上向きに開くように拡がり変形したうえ、挿
通し終わったピン端子15を直径方向に押圧した状態で
保持していることになる。すなわち、本実施例に係る実
装構造を採用した場合には、ピン端子15が切込み片部
16を挿通することによってフィルムキャリアデバイス
3の回路基板1に対する位置決めが行えることになる。
Then, as shown in FIG. 10, when the film carrier device 3 is placed from the upper side of the circuit board 1, the pin terminals 15 provided on the board-side soldering terminal portion 11 become As a result, the pin terminal 15 that has come into contact with the soldering terminal portion 10 penetrates into the cutout portion 16 of the device-side soldering terminal portion 10. As a result, each of the cut pieces expands and deforms so as to open upward in accordance with the insertion of the pin terminal 15, and holds the pin terminal 15 that has been inserted while pressing it in the diametric direction. That is, when the mounting structure according to the present embodiment is employed, the film carrier device 3 can be positioned with respect to the circuit board 1 by inserting the pin terminals 15 through the cutout portions 16.

【0030】さらにまた、このようにした際には、ピン
端子15の挿通に従って切込み片が上向きに拡がり変形
しているのであるから、図12で示すように、切込み片
部16が形成されたデバイス側半田付け端子部10と基
板側半田付け端子部11との間における半田12の付着
範囲が増大する結果、半田付け強度が向上するという利
点も得られる。
Further, in this case, since the cut pieces are expanded upward and deformed as the pin terminals 15 are inserted, as shown in FIG. 12, the device in which the cut piece portions 16 are formed is formed. As a result of the increased range of the solder 12 between the side soldering terminal portion 10 and the board side soldering terminal portion 11, there is also obtained an advantage that the soldering strength is improved.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る半導
体デバイスの実装構造においては、フィルムキャリアデ
バイスを構成するフィルム基材の回路基板側部分にデバ
イス側半田付け端子部を入力側端子リードとは別に設
け、かつ、デバイス側半田付け端子部と対応する回路基
板の所定位置ごとに基板側半田付け端子部を設けたう
え、これらデバイス側及び基板側半田付け端子部同士を
半田付け接続しているので、フィルムキャリアデバイス
は入力側端子リード及びデバイス側半田付け端子部のそ
れぞれを各別に介したうえで回路基板に対して強固に連
結されていることになる。そこで、半導体デバイスに対
して加わった外的ストレスは、デバイス側半田付け端子
部によっても受け止められることになり、入力側端子リ
ードに作用する外的ストレスが大幅に低減される結果、
これらの入力側端子リードが外的ストレスの作用に伴っ
て破断したり損傷を受けたりすることは起こらず、入力
側端子リードの損傷を確実に防止することができる。
As described above, in the mounting structure of the semiconductor device according to the present invention, the device-side soldering terminal portion is connected to the input-side terminal lead on the circuit board-side portion of the film substrate constituting the film carrier device. Separately, and a board-side soldering terminal portion is provided at each predetermined position of the circuit board corresponding to the device-side soldering terminal portion, and these device-side and board-side soldering terminal portions are connected by soldering. Therefore, the film carrier device is firmly connected to the circuit board via each of the input-side terminal lead and the device-side soldering terminal. Therefore, the external stress applied to the semiconductor device is also received by the device-side soldering terminal portion, and as a result, the external stress acting on the input-side terminal lead is greatly reduced.
These input terminal leads do not break or be damaged by the action of the external stress, and the input terminal leads can be reliably prevented from being damaged.

【0032】そして、本発明によれば、従来例のような
両面接着テープなどを用いての固定を行う必要がなくな
るため、手間や時間を要する両面接着テープの取り付け
作業が不要となって低コスト化を図ることが容易にな
る。また、本発明においては、フィルム基材の切欠き部
内にデバイス側半田付け端子部を露出させておくことに
よって半田付け作業の容易化を図るとともに、デバイス
側半田付け端子部に貫通孔を形成しておくことによる位
置合わせ及び位置決めの容易化や半田付け接続の確実化
を実現することができるという効果も得られる。
According to the present invention, since it is not necessary to perform the fixing using a double-sided adhesive tape or the like as in the conventional example, it is not necessary to attach the double-sided adhesive tape which requires labor and time, thereby reducing the cost. It becomes easy to achieve the conversion. Further, in the present invention, the soldering operation is facilitated by exposing the device-side soldering terminal portion in the cutout portion of the film substrate, and a through hole is formed in the device-side soldering terminal portion. By doing so, it is possible to obtain an effect that the alignment and positioning can be facilitated and the soldering connection can be reliably performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】第1実施例に係る半導体デバイスの実装構造を
示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a first embodiment.

【図2】第1実施例に係る半導体デバイスの実装構造を
示す側面図である。
FIG. 2 is a side view showing a mounting structure of the semiconductor device according to the first embodiment.

【図3】第1の変形例に係る半導体デバイスの実装構造
を示す平面図である。
FIG. 3 is a plan view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a first modification.

【図4】第2の変形例に係る半導体デバイスの実装構造
を示す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a second modification.

【図5】第3の変形例に係る半導体デバイスの実装構造
を示す側面図である。
FIG. 5 is a side view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a third modification.

【図6】第2実施例に係る半導体デバイスの実装構造を
示す平面図である。
FIG. 6 is a plan view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a second embodiment.

【図7】第2実施例に係る半導体デバイスの実装構造を
示す側面図である。
FIG. 7 is a side view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a second embodiment.

【図8】第4の変形例に係る半導体デバイスの実装構造
を示す平面図である。
FIG. 8 is a plan view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a fourth modification.

【図9】第3実施例に係る半導体デバイスの実装構造を
示す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a third embodiment.

【図10】第3実施例に係る半導体デバイスの実装手順
を示す側面図である。
FIG. 10 is a side view showing a procedure for mounting a semiconductor device according to a third embodiment.

【図11】第4実施例に係る半導体デバイスの実装構造
を示す平面図である。
FIG. 11 is a plan view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a fourth embodiment.

【図12】第4実施例に係る半導体デバイスの実装構造
の要部を拡大して示す断面図である。
FIG. 12 is an enlarged sectional view showing a main part of a mounting structure of a semiconductor device according to a fourth embodiment.

【図13】従来例に係る半導体デバイスの実装構造を示
す平面図である。
FIG. 13 is a plan view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a conventional example.

【図14】従来例に係る半導体デバイスの実装構造を示
す側面図である。
FIG. 14 is a side view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a conventional example.

【図15】変形例に係る半導体デバイスの実装構造を示
す側面図である。
FIG. 15 is a side view showing a mounting structure of a semiconductor device according to a modification.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 回路基板 1a 接続電極 2 LCD 3 フィルムキャリアデバイス 3a 入力側端子リード 4 フィルム基材 10 デバイス側半田付け端子部 11 基板側半田付け端子部 12 半田 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit board 1a Connection electrode 2 LCD 3 Film carrier device 3a Input side terminal lead 4 Film base material 10 Device side soldering terminal part 11 Board side soldering terminal part 12 Solder

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 離間して配置された回路基板及び液晶デ
ィスプレイと、これら上に跨がって載置されたフィルム
キャリアデバイスとを備えており、このフィルムキャリ
アデバイスの入力側端子リードが回路基板の接続電極に
対して半田付け接続される一方、その出力側端子リード
が液晶ディスプレイの接続電極に対して接続されてなる
半導体デバイスの実装構造であって、 前記フィルムキャリアデバイスには、該フィルムキャリ
アデバイスを構成するフィルム基材の回路基板側部分に
おける両側面に接した所定の位置にフィルムキャリアデ
バイス側半田付け端子部を入力側端子リードとは別に設
けるとともに、 前記回路基板には、前記フィルムキャリアデバイス側半
田付け端子部と対応する所定位置に回路基板側半田付け
端子部を設けており、 かつ、これらフィルムキャリアデバイス側及び回路基板
側半田付け端子部同士を半田付け接続し、 デバイス側半田付け端子部は、フィルム基材の厚み方向
に沿って貫通する切欠き部の回路基板側面を覆って設け
られ、かつ、この切欠き部内に露出したものである こと
を特徴とする半導体デバイスの実装構造。
1. A liquid crystal display comprising: a circuit board and a liquid crystal display which are spaced apart from each other; and a film carrier device mounted on the circuit board and the liquid crystal display. A mounting structure of a semiconductor device in which an output terminal lead is connected to a connection electrode of a liquid crystal display while being soldered to the connection electrode. A film carrier device-side soldering terminal portion is provided separately from an input terminal lead at a predetermined position in contact with both side surfaces of a circuit board side portion of a film base constituting a device. A circuit board-side soldering terminal is provided at a predetermined position corresponding to the device-side soldering terminal. And, these film carrier device side and the circuit board side soldering terminal portions connected soldering, device-side soldered terminal portion, the thickness direction of the film substrate
Provided to cover the side of the circuit board of the notch that penetrates along
And a semiconductor device mounting structure which is exposed in the notch .
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