JP3130257U - 配列変換システム - Google Patents
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Abstract
【課題】マイコン基板のCPUが変更され、その結果マイコン基板の入出力用のコネクタの各ピンの機能が変更された場合でも、従来の評価用基板が使用することができるようにするための配列変換システムを提供する。
【解決手段】マイコン基板7の信号が入出力されるコネクタと、前記マイコン基板の信号を検査するためのコネクタ4とを有する評価用基板1と、前記評価用基板に接続され、該評価用基板に流れる電気信号を変換する配列変換基板5とからなることを特徴とする配列変換システム。
【選択図】図1
【解決手段】マイコン基板7の信号が入出力されるコネクタと、前記マイコン基板の信号を検査するためのコネクタ4とを有する評価用基板1と、前記評価用基板に接続され、該評価用基板に流れる電気信号を変換する配列変換基板5とからなることを特徴とする配列変換システム。
【選択図】図1
Description
本考案は、マイコン基板の電気的評価に使用される配列変換システムに関する。
現在種々の電子機器に利用される1個のCPUを搭載したマイコン基板が使用されている。このマイコン基板の標準的な構成を図4に示す。部品搭載面側の中央にCPUのIC10が取り付けられており(図4(a)参照)、マイコン基板7の周縁部には種々の機能を有する複数のコネクタが配置されている(図4(b)参照)。
ここで、マイコン基板の部品搭載面側に取り付けられている複数のコネクタ8a、8bは、CPUへのプログラムの書き込み用、又は検査用のコネクタである。また、部品搭載面と反対側の面に半田付けされている2個のコネクタ9a、9bは、マイコン基板の入出力(I/O)用のコネクタである。
このようなマイコン基板を電気的に検査する際には、所謂評価用基板を使用するのが一般的である。その評価用基板の一般的な外観を図6に示す。
この評価用基板のコネクタ2a、2bは、それぞれ上記マイコン基板7の入出力コネクタ9a、9bに接続可能であり雄雌の関係にある。
マイコン基板の電気的評価を行おうとする者は、マイコン基板を前記評価用基板7のコネクタ2a、2bにマイコン基板のコネクタ9a、9bを接続した後、検査用コネクタ端子4に所定のコネクタを挿入して、自己の希望する信号等を取り出してマイコン基板の評価を行うことができる。
また、例えば特許文献1には端子配列変換基板の一例が示されている。
特開平08−008298号公報
しかし、上記のような評価用基板20を使用したマイコン基板7の電気的な検査方法において、マイコン基板7のCPU10がCPUメーカの都合により順次、変更若しくはバージョンアップされて製造されているのが現状である。つまり、CPUの端子の数が、従来のCPUの端子数と同数であったとしても、前のICと同一の位置にあるICの端子が異なる機能を有するCPUとして製造される場合がある。
この場合、当然のことながら図6のコネクタ2a、2bの端子ごとの機能も変わることになり、前記評価基板20も再度、設計・製造をしなければならなかった。
特に、マイコン基板の種類が例えば、数十種類にもなった場合、それに合わせて評価用基板を数十種類と準備しなければならないという問題があった。
本考案は、かかる課題を解決するためになされたものであり、マイコン基板のCPUが変更され、その結果マイコン基板の入出力用のコネクタの各ピンの機能が変更された場合でも、従来の評価用基板が使用することができるようにするための配列変換システムを提供することを目的とする。
本考案は、上述の目的を達成するため、以下(1)〜(3)の構成を備えるものである。
(1)マイコン基板の信号が入出力されるコネクタと、前記マイコン基板の信号を検査するためのコネクタとを有する評価用基板と、
前記評価用基板に接続され、該評価用基板に流れる電気信号を変換する配列変換基板とからなることを特徴とする配列変換システム。
前記評価用基板に接続され、該評価用基板に流れる電気信号を変換する配列変換基板とからなることを特徴とする配列変換システム。
(2)前記評価用基板と前記配列変換基板との接続がコネクタ対で行われることを特徴とする前記(1)記載の配列変換システム。
(3)前記配列変換基板の電気信号の変換が、該配列変換基板上のパターンによって、又は該配列変換基板のコネクタが有する複数のピン間の配線によって行われることを特徴とする前記(1)又は(2)記載の配列変換システム。
本考案の配列変換基板を使用することで、マイコン基板のCPUが変更になった場合に、評価用基板を再製作しなければならないという無駄を防止することができる。
以下、本考案を実施するための最良の形態を、実施例により詳しく説明する。
図1に本考案の第1の実施例を示す。
本考案においては、新しい評価用基板1と配列変換基板5を基本としている。新しい評価用基板1は、従来の評価用基板20と同様の入出力(I/O)用のコネクタ2と検査用コネクタ端子4を有しているものとする。そして、配列変換基板用コネクタ3を更に備えているものとする(図2参照)。このコネクタは、配列変換基板に取り付けられたコネクタ6と嵌合する(図3参照)。
図1は新評価用基板1にマイコン基板7及び配列変換基板5を接続した状態を示す。本実施例における配列変換基板5のコネクタのピン間は、配列変換基板上のパターンによって接続されているものとする(図3参照)。
このような構成とすることによって、マイコン基板7のCPU10が変更され接続I/Oコネクタのピンの機能が変わったとしても、新評価用基板のパターンを変更することなく検査用コネクタ端子4から検査用の信号を外部に取り出すことができる。すなわち、マイコン基板のCPUが変更になったとしても配列変換基板5のパターンを変えることのみで、CPUの変更に対応することが可能となるのである。
その結果、CPUの変更に伴い評価用基板をその都度設計、変更しなければならないという不都合を回避することができる。
図5に本考案の第二の実施例を示す。
実施例2の考案は、実施例1とほぼ同一の構成であるが、配列変換基板のコネクタの接続が異なる。
実施例1では配列変換基板に取り付けられたコネクタのピンは、プリント基板上のパターンによって接続されていたが、本実施例におけるそのコネクタのピンは長く線で接続されているものとする。なお、図5ではコネクタのピンの接続用の線は省略されている。このような構造とすることで、マイコン基板上のCPUが変更されたとしても、逐一配列変換基板のパターンを変更せずとも、線の接続を変えるだけで、CPUの変更に対応することが可能となる。
1 評価用基板
2a、2b 入出力用コネクタ
3a、3b 配列変換用コネクタ
4 検査用コネクタ
5 配列変換基板
6a、6b 配列変換用コネクタ
7 マイコン基板
8a、8b コネクタ
9a、9b 入出力用コネクタ
10 IC
15 配列変換基板
15a コネクタのピン
20 従来の評価用基板
2a、2b 入出力用コネクタ
3a、3b 配列変換用コネクタ
4 検査用コネクタ
5 配列変換基板
6a、6b 配列変換用コネクタ
7 マイコン基板
8a、8b コネクタ
9a、9b 入出力用コネクタ
10 IC
15 配列変換基板
15a コネクタのピン
20 従来の評価用基板
Claims (3)
- マイコン基板の信号が入出力されるコネクタと、前記マイコン基板の信号を検査するためのコネクタとを有する評価用基板と、
前記評価用基板に接続され、該評価用基板に流れる電気信号を変換する配列変換基板とからなることを特徴とする配列変換システム。 - 前記評価用基板と前記配列変換基板との接続がコネクタ対で行われることを特徴とする請求項1記載の配列変換システム。
- 前記配列変換基板の電気信号の変換が、該配列変換基板上のパターンによって、又は該配列変換基板のコネクタが有する複数のピン間の配線によって行われることを特徴とする請求項1又は2記載の配列変換システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006010324U JP3130257U (ja) | 2006-12-20 | 2006-12-20 | 配列変換システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006010324U JP3130257U (ja) | 2006-12-20 | 2006-12-20 | 配列変換システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP3130257U true JP3130257U (ja) | 2007-03-22 |
Family
ID=43281136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006010324U Expired - Fee Related JP3130257U (ja) | 2006-12-20 | 2006-12-20 | 配列変換システム |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3130257U (ja) |
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2006
- 2006-12-20 JP JP2006010324U patent/JP3130257U/ja not_active Expired - Fee Related
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