JP3129480B2 - ガスシールド装置及び熱処理装置 - Google Patents

ガスシールド装置及び熱処理装置

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JP3129480B2
JP3129480B2 JP03238016A JP23801691A JP3129480B2 JP 3129480 B2 JP3129480 B2 JP 3129480B2 JP 03238016 A JP03238016 A JP 03238016A JP 23801691 A JP23801691 A JP 23801691A JP 3129480 B2 JP3129480 B2 JP 3129480B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ガスシールド装置及び
熱処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの製造工程に於ける熱拡
散工程や成膜工程で使用される熱処理装置として、被処
理体の均熱処理化およびローディングの容易さ等を図る
ことの出来る縦型熱処理装置が用いられるようになって
きた。
【0003】このような縦型熱処理装置は、耐熱性材料
例えば石英ガラス等からなり、円筒状に形成されたプロ
セスチューブがほぼ垂直に設けられており、このプロセ
スチューブを囲続する如く筒状ヒータ及び筒状断熱材料
層が設けられている。前記プロセスチューブ内均熱部に
は、被処理体例えば半導体ウェハを各々水平状態で複数
枚縦方向に所定間隔で配列し支持したウェハボートが配
置されている。そして前記プロセスチューブには図示し
ないガス供給装置に接続された石英ガラス製のガス導入
配管および図示しない排気装置に接続された石英ガラス
製のガス排気配管が設けられており、熱処理中は排気が
継続され、所定の圧力に減圧されたプロセスチューブ内
に所定の処理ガス例えばオキシ塩化りん(POCI3
を含んだO2 、N2 を導入して半導体ウェハにリンドー
ピングを行うようにしてある。このPOCI3 は腐食性
ガスである。また熱処理終了後にはパージングと称し、
窒素等の不活性ガスを導入し前記処理ガスを排気するこ
とが出来るように構成されている。また前記プロセスチ
ューブの下端開口部は、前記ウェハボートを支持する蓋
体例えば材質が石英ガラス等により熱処理中常に密着封
止される。
【0004】このような熱処理装置では、熱処理の内容
に応じてプロセスチューブ内は約900℃から1200
℃の高温に加熱される工程が多いので、前記プロセスチ
ューブと前記蓋体及び前記ガス導入配管や排気配管など
の接合部の温度は数百度℃と高温となる。このため前記
プロセスチューブと前記蓋体及び前記ガス導入配管や排
気配管の接合部の封止にはOリング等のシール材を使用
することが出来ないので、封止接合面を平滑に例えば摺
合わせ加工して接合したり、ガス道入配管や排気配管の
接続部には、両方の配管端部にフランジを形成し、接合
フランジ面を平滑に例えば摺合わせ加工して当接させる
いわゆるフラットジョイントを使用している。
【0005】また、実開平1−123336号公報によ
れば、二重Oリングを利用して、その中間を真空引きす
る方法が提案されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、Oリン
グをシール部材として用いた場合、このOリングは柔軟
な部材でフッ素ゴム等からなるもので、一般に耐熱温度
が200℃前後である。熱処理装置においてシール部材
がこの温度以上になると、Oリングが溶けて変形し所望
のシール効果が得られなくなるという課題点を有する。
このため、Oリングの近傍に冷却機構を設け、所定の温
度に冷却するので残留処理ガスが、この冷却された近傍
に堆積し、パーティクルが発生するという改善点また構
造が大型化、複雑化するという改善点を有する。
【0007】上記の材質例えば石英ガラスからなるプロ
セスチューブの下端開口部の封止には、プロセスチュー
ブのフランジ面と蓋体を平滑に加工し、密着することに
より封止機能をもたせている。またガス導入配管や排気
配管等では、フラットジョイントまたはボールジョイン
トが用いられているが、前記プロセスチューブのフラン
ジ封止部及び前記フラットジョイントやボールジョイン
トは、その接合部が擦り合わせであるため、完全なシー
ルが出来ず、若干のリークの発生が起きるという欠点が
ある。
【0008】この発明は、上記点に鑑みなされたもの
で、苛酷な高温状態であっても優れた耐久性を有し、接
合封止部分におけるガス漏れ等の事故を生じる事なく、
長期にわたり安定且つ封止効果の高いガスシールド装置
を提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の本発明は、封
止面を、互いに当接されて封止する平滑な面からなる接
合面によって構成するとともに、この接合面内に中間溝
を設け、前記封止面から漏洩するガスを、前記中間溝か
ら排気もしくは、前記中間溝にガスを圧送してシールド
することを特徴とする。
【0010】請求項2の本発明は、反応管にガス導入配
管またはガス排気配管が気密に設けられた熱処理装置に
おいて、前記ガス導入配管または前記ガス排気配管等の
外部連通配管との封止面を、互いに当接されて封止する
平滑な面からなる接合面によって構成するとともに、こ
の接合面内に中間溝を設け、前記封止面から漏洩するガ
スを、前記中間溝から排気もしくは、前記中間溝にガス
を圧送してシールドすることを特徴する。請求項3の本
発明は、請求項2に記載の装置において、接合面及び中
間溝は環状であることを特徴とする。
【0011】
【作用】中間溝を排気する場合、封止面に内側接合面と
外側接合面及び中間部に中間溝を設ける事により、内部
より内側接合面を通してリーク例えば処理ガス等を封止
面中間部の中間溝を排気することにより封止面部の外部
には漏洩させないこと、及び外部より外側接合面を通し
てリークした空気等を封止面の中間部の中間溝を介して
排気することにより封止面部の外部には漏洩させないこ
と、及び外部より外側接合面を通してリークした空気等
を封止面の中間部の中間溝を介して排気することにより
封止接合部の漏洩を防止し、封止機能を確実なものにす
る。
【0012】中間溝にガス圧力をかける場合、また、内
部の圧力より高い圧力で中間溝にガスを圧送し、内部よ
り内側接合面を通過するリークを防止すること、及び外
部の圧力より高い圧力で中間溝にガスを圧送し、外部よ
り外側接合面を通過するリークを防止することにより封
止接合部の漏洩を防止し、封止機能を確実なものにす
る。
【0013】
【実施例1】以下、本発明を縦型熱拡散炉に実施した、
一実施例を図面を参照して説明する。 図1に示すよう
に、耐熱性材料例えば石英ガラスにより円筒状に形成さ
れたプロセスチューブ10は、内管14と外管12とか
らなる二重構造とされており、ほぼ垂直に立設されてい
る。なお、内管14の頂部には、ガス流入路を形成する
如く多数の細孔が設けられている。また、前記プロセス
チューブ10の外周囲には、プロセスチューブ10を囲
繞する如く筒状ヒータ16が設けられており、プロセス
チューブ10内を所望温度例えば900℃から1200
℃の範囲で選択して加熱処理可能に構成されている。
【0014】前記プロセスチューブ10の下端側壁部に
は、所定の拡散処理ガス例えばPOCI3 を導入するた
め、又熱処理終了後パージガスと称して前記処理ガスを
排出するために不活性ガス例えばN2 を導入するための
ガス導入配管20およびプロセスチューブ10内を所定
の圧力例えば700Torrに減圧するための、図示し
ないガス導入配管20やガス排気配管等の枝管が複数例
えば3つ突出する如く設けられている。また、プロセス
チューブ10の下端部には被処理体例えば半導体ウェハ
を搬入及び搬出するための開口部18が設けられ、この
開口部18の外周にはガス漏洩防止接触を得る接合面を
形成するためにフランジ20が外側に突出する如く設け
られている。このフランジ20のフランジ面22には
々環状に、内側接合面24、図示しない排気系に接続さ
れる中間溝26及び外側接合面28が設けられており、
前記中間溝26の一ケ所に、ガスシールド配管30を設
けている。またガスシールド配管30は、図示しない排
気装置に接続されており、縦型熱拡散炉が拡散処理の稼
働運転中は所定の圧力例えば5mmH2 Oで排気されて
いる。
【0015】上記プロセスチューブ10は、図示しない
筒体内に設けられたベースプレート32に、水冷フラン
ジ34を介して固定されている。この水冷フランジ34
はリンク状に形成されており、ガスシールド配管30に
対向する部分に切り欠き部36が形成されている。ま
た、水冷フランジ34内には冷却水循環用配管38が設
けられており、図示しない冷却水供給用配管及び冷却水
供給装置に接続されている。
【0016】さらに、プロセスチューブ10の下方部に
は、上下動可能に構成されたポートエレベータ40が設
けられている。このボートエレベータ40は蓋体42を
上方に移動させ、プロセスチューブ10のフランジ面2
2と当接しプロセスチューブ10を密着封止する操作を
行う如く設けられ、この蓋体42は材質例えば石英ガラ
スからなる。この蓋体42上に被処理体を均熱領域に設
定するためのウェハボート載置台44が設けられ、更に
その上に被処理体例えば半導体ウェハを複数例えば15
0枚収納されたウェハボート46が設けられ、上記エレ
ベータ40の上下動によりプロセスチューブ10内に搬
入及び搬出する。以上の如く縦型熱拡散炉は構成されて
いる。
【0017】次に上記構成の縦型熱拡散炉による拡散処
理工程を説明する。ヒータ16に通電することにより、
予めプロセスチューブ10内を所定温度例えば1000
℃に加熱しておき、ボートエレベータ40上に複数枚例
えば150枚の半導体ウェハを所定間隔で配列したウェ
ハボート46を載置し、プロセスチューブ10内に搬入
し、蓋体42を前記プロセスチューブ10のフランジ面
22に当接させ密着封止する。次に排気配管から図示し
ない排気装置により排気を行いプロセスチューブ10内
を所定の圧力例えば700Torrに減圧する。排気継
続し、ガス導入配管20からプロセスチューブ10内に
所定の処理ガス例えばPOCI3 を供給し、プロセスチ
ューブ10内を所定の処理ガス雰囲気として、半導体ウ
ェハに所定の例えばリンドープ処理を施す。なお、プロ
セスチューブ10内に供給された処理ガスは、内管14
と外管12との間を通って一旦上昇し、内管14の頂部
に設けられた細孔部を通って内管14内に流入する。
【0018】所定の熱処理が終了すると、プロセスチュ
ーブ10内の腐食性残留処理ガス例えばPOCI3 を排
出するために例えば窒素等の不活性ガスを所定の圧力例
えば2.5Kg/cm2 で所定時間例えば10分間導入す
る。プロセスチューブ10内が窒素等の不活性ガスで置
換されるとボートエレベータ40が下降し、被処理体で
ある半導体ウェハがプロセスチューブ10の下部に搬出
される。
【0019】以上の如く、被処理体である半導体ウェハ
は熱処理される。
【0020】この熱処理中において、プロセスチューブ
10の下端開口部18が蓋体42により密着封止され
て、プロセスチューブ10内が減圧に保たれ所定の処理
ガスが導入された際、従来前記プロセスチューブ10の
フランジ20封止部においてリークが生じ外部より空気
等の流入があった。このため処理ガスの濃度に変化が生
じ、熱処理が不安定であった。しかるに、上記実施例で
は、上記構成の気密構造即ち中間溝26を有しているの
でリークが中間溝26を介して排気され、処理ガスの濃
度が変化せず高精度な熱処理が可能になった。
【0021】また、熱処理終了後に腐食性残留処理ガス
を窒素等のパージガスで排出する際プロセスチューブ1
0内が陽圧となる。従来この時前記プロセスチューブ1
0のフランジ20部において、プロセスチューブ10内
より処理ガスがわずかながら外部に漏洩して、装置のフ
ランジ20回りを腐食するなどの悪影響を及ぼしてい
た。しかるに上記実施例では上記の中間溝26を有し、
漏洩した残留腐食性ガスが中間溝26を介して排気され
るので、前記腐食性残留処理ガスが熱処理炉外へ漏洩す
る事なく封止され、周囲への影響が著しく減少した。
【0022】
【実施例2】次に第2の実施例装置について説明する。
本発明の装置を上記第1の実施例のガス導入配管48に
おけるフラットジョイント部に適用した一実施例につい
て図2を参照して具体的に説明する。上記縦型熱処理装
置のプロセスチューブ10に処理ガスを導入するガス導
入配管48は、図示しないガス供給装置を接続するガス
導入接続配管50とフラットジョイント部で接続されて
いる。前記ガス導入配管48とガス導入接続配管50は
材質例えば石英ガラスで作製され、フランジ面22は、
平滑度例えば加工精度0.01に仕上げられている。
【0023】また、ガス導入接続配管50のフランジ面
22には、環状の内側接合面24、中間溝26、及び外
側接合面28が設けられており、前記中間溝26の少な
くとも一カ所にはガスシールド配管30が設けられてい
る。図示しない排気装置に接続され、所定の圧力例えば
5mmH2 Oで排気される。前記、ガスシールド配管3
0は材質例えば石英ガラスで例えば外径6mm、内径3
mm及び例えば70mmの長さL1を持つ管状体で、ガ
ス導入接続配管50から所定量例えば15mmの冷却用
の逃げL2を設けている。
【0024】また、フランジ面22より所定量例えば3
0mm離れたところにガス導入接続配管50とガスシー
ルド配管30を継ぐ補強ブリッジ54を設け、ガスシー
ルド配管30の強度を保っている。ガス導入配管48と
ガス導入接続配管50との接合は、材質例えばステンレ
ススチールの環状板材56を介し止めネジ58を用いて
締め付け操作により行う。以上の如く本実施例は構成さ
れている。
【0025】次に、図3はガスシールド装置をボールジ
ョイント部に用いた他の実施例である。上記第2の実施
例と同様に筒状体の接続に用いられているが、フランジ
面22が球外周面状に形成されているので水平、垂直方
向に所定量例えば±10゜の自由角度をもって接続でき
るものである。前記ボールジョイントの構造は上記第2
の実施例と同様であるのでその詳細な説明は省略する。
【0026】上記図2及び図3の実施例において、熱処
理中にプロセスチューブ10内が減圧され所定の圧力に
保たれ、所定の処理ガスが導入されたとき、従来前記ガ
ス導入配管48とガス導入接続配管50のフランジ20
封止部においてリークが生じ外部より空気等の流入があ
り、処理ガスの濃度に変化が生じ、熱処理が不安定であ
った。しかるに、上記実施例の封止では上記構造の中間
溝26を有しているので空気等のリークが中間溝26を
介して排気され、処理ガスの濃度が変化せず高精度な熱
処理が可能になった。
【0027】また、熱処理終了後に腐食性残留処理ガス
を窒素等のパージガスで排気する際、プロセスチューブ
10内及び導入配管48が所定時間陽圧となる。従来こ
の時前記ガス導入配管48のフランジ20部において、
ガス導入配管48内より処理ガスがわずかながら外部に
漏洩して、装置のフランジ20回りを腐食するなどの悪
影響を及ぼしていた。しかるに、上記実施例では上記封
止構造の中間溝26を有しているので残留腐食性ガスが
中間溝26を介して排気され、前記腐食性残留処理ガス
が熱処理炉外へ漏洩する事なく、封止され周囲への影響
が著しく減少した。 図4は、ガスシールド装置をフラ
ットジョイント部に用いた、他の実施例である。中間溝
26は一重の環状のみの構成ではなく図4に示す如く二
重にしてもよく、前記中間溝26に所定のガス例えば不
活性ガスである窒素ガス等を所定の圧力で圧送し、内部
の処理ガス等の外部へのリークを防止したり、外部の空
気等の内部へのリークを防止することが可能である。
【0028】図5は、中間溝26を不連続に配置し、ガ
スシールド配管とフランジ内部で連通させた他の実施例
である。
【0029】上記実施例では縦型熱拡散炉について説明
を行ったが、減圧CVD装置や常圧熱処理装置等の熱処
理装置に応用しても良く、縦型装置に限らず横型装置に
応用できるのは当然のことである。
【0030】また、中間溝26はフランジ面22の両面
または片面のどちら側に設けても好適に使用でき、前記
中間溝26の断面形状は四角形に限定されるものではな
い。更に、本発明は熱処理装置に限らず、封止機構であ
ればエッチング装置やイオン注入装置等何れにも適用で
きると共に、常温、低温雰囲気でも使用して同様な効果
の得られる事は、説明するまでもないことである。
【0031】
【発明の効果】以上のことから明らかなように本発明に
よると次のような優れた効果がある。苛酷な高温部に於
いてもガス流に対して良好な封止装置を簡単な構造で小
型化出来る。長期にわたり安定且つ気密効果の高いガス
シールド装置を提供するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の縦型拡散炉の構成を示す図
である。
【図2】本発明の他の実施例のフラットジョイント部の
構成を示す図である。
【図3】本発明の他の実施例のボールジョイント部の構
成を示す図である。
【図4】本発明の他の実施例、中間溝にガスを圧送し、
二重環状中間溝の構造を示す図である。
【図5】本発明の他の実施例、中間溝を不連続に配置し
た構成を示す図である。
【符号の説明】
10………プロセスチューブ 12………外管 14………内管 15………細孔 16………ヒータ 18………開口部 20………フランジ 22……フランジ面 24………内側接合面 26………中間溝 28………外側接合面 30………ガスシールド配管 32………ベースプレート 34………水冷フランジ 36………切り欠き部 38………冷却水循環用配管 40………ボートエレベータ 42………蓋体 44………載置台 46………ウェハボート 48………ガス導入配管 50………ガス導入接続配管 54………補強ブリッジ 56………環状板材 58………止めネジ W………ウェハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 21/31 H01L 21/31 E

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 封止面を、互いに当接されて封止する平
    滑な面からなる接合面によって構成するとともに、この
    接合面内に中間溝を設け、前記封止面から漏洩するガス
    を、前記中間溝から排気もしくは、前記中間溝にガスを
    圧送してシールドすることを特徴とするガスシールド装
    置。
  2. 【請求項2】 反応管にガス導入配管またはガス排気配
    管が気密に設けられた熱処理装置において、 前記ガス導入配管または前記ガス排気配管等の外部連通
    配管との封止面を、互いに当接されて封止する平滑な面
    からなる接合面によって構成するとともに、この接合面
    に中間溝を設け、前記封止面から漏洩するガスを、前
    記中間溝から排気もしくは、前記中間溝にガスを圧送し
    てシールドすることを特徴する熱処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の装置において、 接合面及び中間溝は環状であることを特徴とする熱処理
    装置。
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