JP3126506B2 - 反射板を使用する光ファイバ減衰量測定装置 - Google Patents
反射板を使用する光ファイバ減衰量測定装置Info
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- JP3126506B2 JP3126506B2 JP04217128A JP21712892A JP3126506B2 JP 3126506 B2 JP3126506 B2 JP 3126506B2 JP 04217128 A JP04217128 A JP 04217128A JP 21712892 A JP21712892 A JP 21712892A JP 3126506 B2 JP3126506 B2 JP 3126506B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、端局間に布設された
光ファイバにより端局間が光信号通信中のとき、光信号
と波長の違う光パルスを光ファイバに入射し、光ファイ
バの始端側と終端側に反射板を設け、始端側の反射板に
よる反射光パルスのレベルと、終端側の反射板による反
射光パルスのレベルから光ファイバの減衰量を求める光
ファイバ減衰量測定装置についてのものである。
光ファイバにより端局間が光信号通信中のとき、光信号
と波長の違う光パルスを光ファイバに入射し、光ファイ
バの始端側と終端側に反射板を設け、始端側の反射板に
よる反射光パルスのレベルと、終端側の反射板による反
射光パルスのレベルから光ファイバの減衰量を求める光
ファイバ減衰量測定装置についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術による光パルス試験器
（以下、ＯＴＤＲという。）の構成を図６により説明す
る。図６の１Ａは光源、１Ｂは光方向性結合器、１０は
測定される光ファイバ、１Ｃは光検出器、１Ｄは表示部
である。なお、図６の構成は特公昭62-53062号公報の第
１図と同じものである。
（以下、ＯＴＤＲという。）の構成を図６により説明す
る。図６の１Ａは光源、１Ｂは光方向性結合器、１０は
測定される光ファイバ、１Ｃは光検出器、１Ｄは表示部
である。なお、図６の構成は特公昭62-53062号公報の第
１図と同じものである。
【０００３】次に、図６の表示部１Ｄに表示される反射
波形を図７により説明する。図７の左側が光ファイバ１
０の始端の状態を示し、右側に進むにつれて反射波形は
減衰する。なお、図７は特公昭62-53062号公報の第２図
と同じものである。例えば、光ファイバ１０が10kmのと
き、光ファイバ１０により5dB 程度の減衰を受ける。
波形を図７により説明する。図７の左側が光ファイバ１
０の始端の状態を示し、右側に進むにつれて反射波形は
減衰する。なお、図７は特公昭62-53062号公報の第２図
と同じものである。例えば、光ファイバ１０が10kmのと
き、光ファイバ１０により5dB 程度の減衰を受ける。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】図７の右側にいくにつ
れて光パルスは減衰するので、光ファイバ１０の終端を
検出できない場合があり、また、光ファイバ１０の中間
接続点による反射波や２次反射波などが現れ、終端では
ない波形を誤って終端の波形として検出する場合があ
る。この発明は、端局間に布設された光ファイバ１０に
より端局間が波長λａの光信号で通信中のとき、波長λ
ｂの光パルスを光ファイバ１０に入射し、光ファイバ１
０の始端側と終端側に反射板を設け、始端側の反射板に
よる反射光パルスのレベルと、終端側の反射板による反
射光パルスのレベルから光ファイバ１０の減衰量を求め
る光ファイバの減衰量測定装置の提供を目的とする。
れて光パルスは減衰するので、光ファイバ１０の終端を
検出できない場合があり、また、光ファイバ１０の中間
接続点による反射波や２次反射波などが現れ、終端では
ない波形を誤って終端の波形として検出する場合があ
る。この発明は、端局間に布設された光ファイバ１０に
より端局間が波長λａの光信号で通信中のとき、波長λ
ｂの光パルスを光ファイバ１０に入射し、光ファイバ１
０の始端側と終端側に反射板を設け、始端側の反射板に
よる反射光パルスのレベルと、終端側の反射板による反
射光パルスのレベルから光ファイバ１０の減衰量を求め
る光ファイバの減衰量測定装置の提供を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明では、波長λａの光パルス１１を出射する
ＯＴＤＲ１と、ＯＴＤＲ１の出力が端子２Ａに接続され
る光方向性結合器２と、光方向性結合器２の分岐端子２
Ｃに接続される光減衰器３と、光減衰器３の出力に接続
される反射板４と、端局５の出力が端子６Ａに接続さ
れ、光ファイバ１０の始端が直通端子６Ｂに接続され、
光方向性結合器２の直通端子２Ｂが分岐端子６Ｃに接続
される光方向性結合器６と、光ファイバ１０の終端が端
子７Ａに接続され、端局８の入力が直通端子７Ｂに接続
される光方向性結合器７と、光方向性結合器７の分岐端
子７Ｃに接続される反射板９とを備え、端局５と端局８
間で波長λｂの光信号１２により光通信をしていると
き、反射板４による反射光パルス１３のレベルをＯＴＤ
Ｒ１で測定し、反射板９による反射光パルス１４のレベ
ルをＯＴＤＲ１で測定し、反射光パルス１３のレベルと
反射光パルス１４のレベル差から光ファイバ１０の減衰
量を求める。
め、この発明では、波長λａの光パルス１１を出射する
ＯＴＤＲ１と、ＯＴＤＲ１の出力が端子２Ａに接続され
る光方向性結合器２と、光方向性結合器２の分岐端子２
Ｃに接続される光減衰器３と、光減衰器３の出力に接続
される反射板４と、端局５の出力が端子６Ａに接続さ
れ、光ファイバ１０の始端が直通端子６Ｂに接続され、
光方向性結合器２の直通端子２Ｂが分岐端子６Ｃに接続
される光方向性結合器６と、光ファイバ１０の終端が端
子７Ａに接続され、端局８の入力が直通端子７Ｂに接続
される光方向性結合器７と、光方向性結合器７の分岐端
子７Ｃに接続される反射板９とを備え、端局５と端局８
間で波長λｂの光信号１２により光通信をしていると
き、反射板４による反射光パルス１３のレベルをＯＴＤ
Ｒ１で測定し、反射板９による反射光パルス１４のレベ
ルをＯＴＤＲ１で測定し、反射光パルス１３のレベルと
反射光パルス１４のレベル差から光ファイバ１０の減衰
量を求める。
【０００６】
【作用】次に、この発明による光ファイバの減衰量測定
装置の構成を図１により説明する。図１の１はＯＴＤ
Ｒ、２と６と７は光方向性結合器、３は光減衰器、４と
９は反射板、５と８は端局である。
装置の構成を図１により説明する。図１の１はＯＴＤ
Ｒ、２と６と７は光方向性結合器、３は光減衰器、４と
９は反射板、５と８は端局である。
【０００７】ＯＴＤＲ１は波長λａの光パルス１１を出
射し、光パルス１１は光方向性結合器２の端子２Ａに接
続される。光減衰器３は光方向性結合器２の分岐端子２
Ｃに接続され、光減衰器３の出力は反射板４に接続され
る。
射し、光パルス１１は光方向性結合器２の端子２Ａに接
続される。光減衰器３は光方向性結合器２の分岐端子２
Ｃに接続され、光減衰器３の出力は反射板４に接続され
る。
【０００８】次に、反射板４の構成を図２により説明す
る。反射板４は光ファイバの端部に金属蒸着をし、金属
蒸着面４Ａを形成したものである。これにより、入力さ
れた光パルス１１を完全に反射する。金属蒸着の程度を
調節することにより、反射率を変えることができる。反
射板９も反射板４と同じ構成である。
る。反射板４は光ファイバの端部に金属蒸着をし、金属
蒸着面４Ａを形成したものである。これにより、入力さ
れた光パルス１１を完全に反射する。金属蒸着の程度を
調節することにより、反射率を変えることができる。反
射板９も反射板４と同じ構成である。
【０００９】次に、図１の１〜４の代替回路を図３によ
り説明する。図３の４Ｂはハーフミラーであり、ＯＴＤ
Ｒ１の光パルス１１はハーフミラー４Ｂから光方向性結
合器２の端子２Ａに入り、分岐端子２Ｃから光減衰器３
を通り、ハーフミラー４ＢからＯＴＤＲ１に戻る。図３
はハーフミラー４Ｂの透過率を図１の反射板４の反射率
に置き換えたものである。
り説明する。図３の４Ｂはハーフミラーであり、ＯＴＤ
Ｒ１の光パルス１１はハーフミラー４Ｂから光方向性結
合器２の端子２Ａに入り、分岐端子２Ｃから光減衰器３
を通り、ハーフミラー４ＢからＯＴＤＲ１に戻る。図３
はハーフミラー４Ｂの透過率を図１の反射板４の反射率
に置き換えたものである。
【００１０】図１の説明に戻る。光方向性結合器６の端
子６Ａには端局５の出力が接続され、光方向性結合器６
の直通端子６Ｂには光ファイバ１０の始端が接続され、
光方向性結合器６の分岐端子６Ｃには光方向性結合器２
の直通端子２Ｂの出力が接続される。光方向性結合器７
の端子７Ａには光ファイバ１０の終端が接続され、光方
向性結合器７の直通端子７Ｂには端局８の入力が接続さ
れ、光方向性結合器７の分岐端子７Ｃには反射板９が接
続される。
子６Ａには端局５の出力が接続され、光方向性結合器６
の直通端子６Ｂには光ファイバ１０の始端が接続され、
光方向性結合器６の分岐端子６Ｃには光方向性結合器２
の直通端子２Ｂの出力が接続される。光方向性結合器７
の端子７Ａには光ファイバ１０の終端が接続され、光方
向性結合器７の直通端子７Ｂには端局８の入力が接続さ
れ、光方向性結合器７の分岐端子７Ｃには反射板９が接
続される。
【００１１】すなわち、図１では、端局５と端局８の間
を光ファイバ１０で接続しており、端局５と端局８間で
波長λｂの光信号１２により光通信をしている。この状
態のとき、ＯＴＤＲ１から波長λａの光パルス１１を光
方向性結合器２に入れ、反射板４による反射光パルス１
３のレベルをＯＴＤＲ１で測定し、反射板９による反射
光パルス１４のレベルをＯＴＤＲ１で測定する。そし
て、反射光パルス１３のレベルと反射光パルス１４のレ
ベル差から光ファイバ１０の減衰量を求める。波長λａ
の例としては、波長1.2 μm または1.6 μm を使用し、
波長λｂの例としては、波長 1.3μm または1.55μm を
使用する。
を光ファイバ１０で接続しており、端局５と端局８間で
波長λｂの光信号１２により光通信をしている。この状
態のとき、ＯＴＤＲ１から波長λａの光パルス１１を光
方向性結合器２に入れ、反射板４による反射光パルス１
３のレベルをＯＴＤＲ１で測定し、反射板９による反射
光パルス１４のレベルをＯＴＤＲ１で測定する。そし
て、反射光パルス１３のレベルと反射光パルス１４のレ
ベル差から光ファイバ１０の減衰量を求める。波長λａ
の例としては、波長1.2 μm または1.6 μm を使用し、
波長λｂの例としては、波長 1.3μm または1.55μm を
使用する。
【００１２】次に、図１の波形図を図４により説明す
る。図４アの２３は反射板４による反射光パルス１３の
レベルであり、図４イの２４は反射板９による反射光パ
ルス１４のレベルである。レベル２３は光減衰器３を通
過したレベルである。図４イは実際に観測される波形例
であり、レベル２３・２４の間にレベル２５〜２７が現
れる。これらは光ファイバ１０の接続点や２次反射光な
どである。
る。図４アの２３は反射板４による反射光パルス１３の
レベルであり、図４イの２４は反射板９による反射光パ
ルス１４のレベルである。レベル２３は光減衰器３を通
過したレベルである。図４イは実際に観測される波形例
であり、レベル２３・２４の間にレベル２５〜２７が現
れる。これらは光ファイバ１０の接続点や２次反射光な
どである。
【００１３】図４イのレベル２３とレベル２４の差から
光ファイバ１０の減衰量が求められる。図４イのレベル
２３とレベル２４の差は光ファイバ１０の往復の減衰量
なので、光ファイバ１０の真の減衰量は、図４の差の半
分である。例えば、図４イの差が10dBのときは、光ファ
イバ１０の減衰量は5dB となる。
光ファイバ１０の減衰量が求められる。図４イのレベル
２３とレベル２４の差は光ファイバ１０の往復の減衰量
なので、光ファイバ１０の真の減衰量は、図４の差の半
分である。例えば、図４イの差が10dBのときは、光ファ
イバ１０の減衰量は5dB となる。
【００１４】次に、この発明による他の光ファイバの減
衰量測定装置の構成を図５により説明する。図５の６Ｄ
と７Ｄは光スイッチであり、その他は図１と同じもので
ある。すなわち、図５は図１の光方向性結合器６・７の
代わりに、光スイッチ６Ｄ・７Ｄを採用したものであ
る。
衰量測定装置の構成を図５により説明する。図５の６Ｄ
と７Ｄは光スイッチであり、その他は図１と同じもので
ある。すなわち、図５は図１の光方向性結合器６・７の
代わりに、光スイッチ６Ｄ・７Ｄを採用したものであ
る。
【００１５】光スイッチ６Ｄは、端局５の出力が端子６
Ｅに接続され、光ファイバ１０の始端が端子６Ｆに接続
され、光方向性結合器２の直通端子２Ｂが端子６Ｇに接
続される。光スイッチ７Ｄは、光ファイバ１０の終端が
端子７Ｅに接続され、端局８の入力が端子７Ｆに接続さ
れ、端子７Ｇに反射板９が接続される。
Ｅに接続され、光ファイバ１０の始端が端子６Ｆに接続
され、光方向性結合器２の直通端子２Ｂが端子６Ｇに接
続される。光スイッチ７Ｄは、光ファイバ１０の終端が
端子７Ｅに接続され、端局８の入力が端子７Ｆに接続さ
れ、端子７Ｇに反射板９が接続される。
【００１６】図６の端局５・８の間で光通信をするとき
は、光スイッチ６Ｄの端子６Ｅ・６Ｆを接にし、光スイ
ッチ７Ｄの端子７Ｅ・７Ｆを接にする。これにより、Ｏ
ＴＤＲ１と反射板９は切り離され、端局５・８間が光フ
ァイバ１０で接続される。端局５・８の間の光通信を断
にするときは、光スイッチ６Ｄの端子６Ｆ・６Ｇを接に
し、光スイッチ７Ｄの端子７Ｅ・７Ｇを接にする。これ
により、端局５・８が光ファイバ１０から切り離され、
ＯＴＤＲ１と反射板９が光ファイバ１０に接続されるの
で、図１と同じ条件になり、光ファイバ１０による減衰
量を反射板４の反射光パルス１３と反射板９の反射光パ
ルス１４により測定することができる。すなわち、図１
の測定装置は端局５・８が光通信中でも光ファイバ１０
の減衰量を測定するが、図６の測定装置は端局５・８の
光通信を断にしたときに光ファイバ１０の減衰量を測定
する。
は、光スイッチ６Ｄの端子６Ｅ・６Ｆを接にし、光スイ
ッチ７Ｄの端子７Ｅ・７Ｆを接にする。これにより、Ｏ
ＴＤＲ１と反射板９は切り離され、端局５・８間が光フ
ァイバ１０で接続される。端局５・８の間の光通信を断
にするときは、光スイッチ６Ｄの端子６Ｆ・６Ｇを接に
し、光スイッチ７Ｄの端子７Ｅ・７Ｇを接にする。これ
により、端局５・８が光ファイバ１０から切り離され、
ＯＴＤＲ１と反射板９が光ファイバ１０に接続されるの
で、図１と同じ条件になり、光ファイバ１０による減衰
量を反射板４の反射光パルス１３と反射板９の反射光パ
ルス１４により測定することができる。すなわち、図１
の測定装置は端局５・８が光通信中でも光ファイバ１０
の減衰量を測定するが、図６の測定装置は端局５・８の
光通信を断にしたときに光ファイバ１０の減衰量を測定
する。
【００１７】
【発明の効果】この発明によれば、端局間に布設された
光ファイバにより端局間が波長λａの光信号で通信中の
とき、波長λｂの光パルスを光ファイバに入射し、光フ
ァイバの始端側と終端側に反射板を設け、始端側の反射
板による反射光パルスのレベルと、終端側の反射板によ
る反射光パルスのレベルを求めるので、端局間が光通信
中でも光ファイバの減衰量を求めることができる。ま
た、あらかじめ校正しておくことにより、光ファイバの
各点からの反射光レベルの絶対値を知ることができる。
光ファイバにより端局間が波長λａの光信号で通信中の
とき、波長λｂの光パルスを光ファイバに入射し、光フ
ァイバの始端側と終端側に反射板を設け、始端側の反射
板による反射光パルスのレベルと、終端側の反射板によ
る反射光パルスのレベルを求めるので、端局間が光通信
中でも光ファイバの減衰量を求めることができる。ま
た、あらかじめ校正しておくことにより、光ファイバの
各点からの反射光レベルの絶対値を知ることができる。
【図１】この発明による光ファイバ減衰量測定装置の構
成図である。
成図である。
【図２】図１の反射板４の構成図である。
【図３】図１の１〜４の代替回路である。
【図４】図１の波形図である。
【図５】この発明による他の光ファイバ減衰量測定装置
の構成図である。
の構成図である。
【図６】従来技術によるＯＴＤＲの構成図である。
【図７】図３の波形図である。
１ ＯＴＤＲ（光パルス試験器） ２ 光方向性結合器 ３ 光減衰器 ４ 反射板 ５ 端局 ６ 光方向性結合器 ６Ｄ 光スイッチ ７ 光方向性結合器 ７Ｄ 光スイッチ ８ 端局 ９ 反射板 １０ 光ファイバ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐藤 満久 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤 電気株式会社内 (72)発明者 竹内 伸成 東京都大田区蒲田４丁目19番７号 安藤 電気株式会社内 (72)発明者 跡部 直之 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 有居 正仁 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 鈴木 秀喜 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平３−211513（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−129529（ＪＰ，Ａ) 特表 平４−502210（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01M 11/00 - 11/02
Claims (2)
- 【請求項１】 波長λａの光パルス(11)を出射する光パ
ルス試験器(1) と、 光パルス試験器(1) の出力が第１の端子(2A)に接続され
る第１の光方向性結合器(2) と、 第１の光方向性結合器(2) の第１の分岐端子(2C)に接続
される光減衰器(3) と、 光減衰器(3) の出力に接続される第１の反射板(4) と、 第１の端局(5) の出力が第２の端子(6A)に接続され、光
ファイバ(10)の始端が第１の直通端子(6B)に接続され、
第１の光方向性結合器(2) の第２の直通端子(2B)が第２
の分岐端子(6C)に接続される第２の光方向性結合器(6)
と、 光ファイバ(10)の終端が第３の端子(7A)に接続され、第
２の端局(8) の入力が第３の直通端子(7B)に接続される
第３の光方向性結合器(7) と、 第３の光方向性結合器(7) の第３の分岐端子(7C)に接続
される第２の反射板(9) とを備え、 第１の端局(5) と第２の端局(8) 間で波長λｂの光信号
(12)により光通信をしているとき、第１の反射板(4) に
よる第１の反射光パルス(13)のレベルを光パルス試験器
(1) で測定し、第２の反射板(9) による第２の反射光パ
ルス(14)のレベルを光パルス試験器(1) で測定し、第１
の反射光パルス(13)のレベルと第２の反射光パルス(14)
のレベル差から光ファイバ(10) の減衰量を求めること
を特徴とする反射板を使用する光ファイバ減衰量測定装
置。 - 【請求項２】 波長λａの光パルス(11)を出射する光パ
ルス試験器(1) と、 光パルス試験器(1) の出力が第１の端子(2A)に接続され
る光方向性結合器(2)と、 光方向性結合器(2) の分岐端子(2C)に接続される光減衰
器(3) と、 光減衰器(3) の出力に接続される第１の反射板(4) と、 第１の端局(5) の出力が第２の端子(6E)に接続され、光
ファイバ(10)の始端が第３の端子(6F)に接続され、光方
向性結合器(2) の直通端子(2B)が第４の端子(6G)に接続
される第１の光スイッチ(6D)と、 光ファイバ(10)の終端が第５の端子(7E)に接続され、第
２の端局(8) の入力が第６の端子(7F)に接続される第２
の光スイッチ(7D)と、 第２の光スイッチ(7D)の第７の端子(7G)に接続される第
２の反射板(9) とを備え、 第１の端局(5) と第２の端局(8) 間で光通信をするとき
は、第１の光スイッチ(6D)の第２の端子(6E)と第３の端
子(6F)を接にし、第２の光スイッチ(7D)の第５の端子(7
E)と第６の端子(7F)を接にし、 第１の端局(5) と第２の端局(8) 間の光通信を断にする
ときは、第１の光スイッチ(6D)の第３の端子(6F)と第４
の端子(6F)を接にし、第２の光スイッチ(7D)の第５の端
子(7E)と第６の端子(7F)を接にし、第１の反射板(4) に
よる第１の反射光パルス(13)のレベルを光パルス試験器
(1) で測定し、第２の反射板(9) による第２の反射光パ
ルス(14)のレベルを光パルス試験器(1) で測定し、第１
の反射光パルス(13)のレベルと第２の反射光パルス(14)
のレベル差から光ファイバ(10)の減衰量を求めることを
特徴とする反射板を使用する光ファイバ減衰量測定装
置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04217128A JP3126506B2 (ja) | 1992-07-23 | 1992-07-23 | 反射板を使用する光ファイバ減衰量測定装置 |
| AU42143/93A AU4214393A (en) | 1992-07-23 | 1993-07-22 | Optical fiber attenuation measuring device using reflector plates |
| IT93MI001635A IT1266568B1 (it) | 1992-07-23 | 1993-07-23 | Dispositivo di misurazione di attenuazione di fibra ottica utilizzante lamine di riflessione |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04217128A JP3126506B2 (ja) | 1992-07-23 | 1992-07-23 | 反射板を使用する光ファイバ減衰量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0643069A JPH0643069A (ja) | 1994-02-18 |
| JP3126506B2 true JP3126506B2 (ja) | 2001-01-22 |
Family
ID=16699296
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04217128A Expired - Fee Related JP3126506B2 (ja) | 1992-07-23 | 1992-07-23 | 反射板を使用する光ファイバ減衰量測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3126506B2 (ja) |
| AU (1) | AU4214393A (ja) |
| IT (1) | IT1266568B1 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9284723B2 (en) | 2012-07-27 | 2016-03-15 | Kohler Co. | Magnetic docking faucet |
| US9181685B2 (en) | 2012-07-27 | 2015-11-10 | Kohler Co. | Magnetic docking faucet |
-
1992
- 1992-07-23 JP JP04217128A patent/JP3126506B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-07-22 AU AU42143/93A patent/AU4214393A/en not_active Abandoned
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