JP2573628Y2 - 空回線の接続による光ファイバ接続状態試験装置 - Google Patents
空回線の接続による光ファイバ接続状態試験装置Info
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- JP2573628Y2 JP2573628Y2 JP1992057330U JP5733092U JP2573628Y2 JP 2573628 Y2 JP2573628 Y2 JP 2573628Y2 JP 1992057330 U JP1992057330 U JP 1992057330U JP 5733092 U JP5733092 U JP 5733092U JP 2573628 Y2 JP2573628 Y2 JP 2573628Y2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、端局間に布設された
光ファイバの接続状態を試験する場合、空回線の光ファ
イバを試験する光ファイバに接続し、試験する光ファイ
バの接続状態を試験する装置についてのものである。
光ファイバの接続状態を試験する場合、空回線の光ファ
イバを試験する光ファイバに接続し、試験する光ファイ
バの接続状態を試験する装置についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】次に、従来技術による光パルス試験器
（以下、ＯＴＤＲという。）の構成を図３により説明す
る。図３の１Ａは光源、１Ｂは光方向性結合器、４は測
定される光ファイバ、１Ｃは光検出器、１Ｄは表示部で
ある。なお、図３の構成は特公昭62-53062号公報の第１
図と同じものである。
（以下、ＯＴＤＲという。）の構成を図３により説明す
る。図３の１Ａは光源、１Ｂは光方向性結合器、４は測
定される光ファイバ、１Ｃは光検出器、１Ｄは表示部で
ある。なお、図３の構成は特公昭62-53062号公報の第１
図と同じものである。
【０００３】次に、図３の表示部１Ｄに表示される反射
波形を図４により説明する。図４の左側が光ファイバ４
の始端の状態を示し、右側に進むにつれて反射波形は減
衰する。なお、図４は特公昭62-53062号公報の第２図と
同じものである。例えば、光ファイバ４が10kmのとき、
光ファイバ４により5dB 程度の減衰を受ける。
波形を図４により説明する。図４の左側が光ファイバ４
の始端の状態を示し、右側に進むにつれて反射波形は減
衰する。なお、図４は特公昭62-53062号公報の第２図と
同じものである。例えば、光ファイバ４が10kmのとき、
光ファイバ４により5dB 程度の減衰を受ける。
【０００４】
【考案が解決しようとする課題】図３のＯＴＤＲにより
端局間に布設された光ファイバ４に光パルスを送り、反
射光により端局間の接続状態を試験する場合、受端付近
の反射光パルスでは、受端付近の光ファイバ４の断線に
よる反射光パルスかどうかを識別することができないこ
とがある。この考案は、端局間に布設された光ファイバ
の接続状態を試験する場合、空回線の光ファイバを試験
する光ファイバに接続し、試験する光ファイバと接続さ
れた空回線の光ファイバにＯＴＤＲの光パルスを入射
し、試験する光ファイバと接続された空回線の光ファイ
バからの反射光を測定することにより、試験する光ファ
イバの受端付近の接続状態を確実に試験する装置の提供
を目的とする。
端局間に布設された光ファイバ４に光パルスを送り、反
射光により端局間の接続状態を試験する場合、受端付近
の反射光パルスでは、受端付近の光ファイバ４の断線に
よる反射光パルスかどうかを識別することができないこ
とがある。この考案は、端局間に布設された光ファイバ
の接続状態を試験する場合、空回線の光ファイバを試験
する光ファイバに接続し、試験する光ファイバと接続さ
れた空回線の光ファイバにＯＴＤＲの光パルスを入射
し、試験する光ファイバと接続された空回線の光ファイ
バからの反射光を測定することにより、試験する光ファ
イバの受端付近の接続状態を確実に試験する装置の提供
を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この考案では、光パルス１１を出射するＯＴＤＲ１
と、光パルス１１を出射するＯＴＤＲ１と、端局２の出
力が端子３Ａに接続され、光ファイバ４の始端が端子３
Ｂに接続され、ＯＴＤＲ１の出力が端子３Ｃに接続され
る光スイッチ３と、光ファイバ４の終端が端子５Ａに接
続され、端局６の入力が端子５Ｂに接続され、端子５Ｃ
に空回線の光ファイバ７が接続される光スイッチ５とを
備え、端局２と端局６間で光通信をするときは、光スイ
ッチ３の端子３Ａと端子３Ｂを接にし、光スイッチ５の
端子５Ａと端子５Ｂを接にし、端局２と端局６間の光通
信を断にするときは、光スイッチ３の端子３Ｂと端子３
Ｃを接にし、光スイッチ５の端子５Ａと端子５Ｃを接に
して光ファイバ４に光ファイバ７を接続し、光ファイバ
４と光ファイバ７による反射光パルスのレベルをＯＴＤ
Ｒ１で測定し、光ファイバ４の接続状態を検査する。
め、この考案では、光パルス１１を出射するＯＴＤＲ１
と、光パルス１１を出射するＯＴＤＲ１と、端局２の出
力が端子３Ａに接続され、光ファイバ４の始端が端子３
Ｂに接続され、ＯＴＤＲ１の出力が端子３Ｃに接続され
る光スイッチ３と、光ファイバ４の終端が端子５Ａに接
続され、端局６の入力が端子５Ｂに接続され、端子５Ｃ
に空回線の光ファイバ７が接続される光スイッチ５とを
備え、端局２と端局６間で光通信をするときは、光スイ
ッチ３の端子３Ａと端子３Ｂを接にし、光スイッチ５の
端子５Ａと端子５Ｂを接にし、端局２と端局６間の光通
信を断にするときは、光スイッチ３の端子３Ｂと端子３
Ｃを接にし、光スイッチ５の端子５Ａと端子５Ｃを接に
して光ファイバ４に光ファイバ７を接続し、光ファイバ
４と光ファイバ７による反射光パルスのレベルをＯＴＤ
Ｒ１で測定し、光ファイバ４の接続状態を検査する。
【０００６】
【作用】次に、この考案による光ファイバ接続状態試験
装置の構成を図１により説明する。図１の１はＯＴＤ
Ｒ、２は端局、３は光スイッチ、４と７は光ファイバ、
５は光スイッチ、６は端局である。
装置の構成を図１により説明する。図１の１はＯＴＤ
Ｒ、２は端局、３は光スイッチ、４と７は光ファイバ、
５は光スイッチ、６は端局である。
【０００７】端局２は光スイッチ３の端子３Ａに接続さ
れ、ＯＴＤＲ１の光パルス１１は光スイッチ３の端子３
Ｃに接続される。光ファイバ４の始端は光スイッチ３の
端子３Ｂに接続され、光ファイバ４の終端は光スイッチ
５の端子５Ａに接続される。光スイッチ５の端子５Ｂに
端局６が接続され、光スイッチ５の端子５Ｃに空回線の
光ファイバ７が接続される。
れ、ＯＴＤＲ１の光パルス１１は光スイッチ３の端子３
Ｃに接続される。光ファイバ４の始端は光スイッチ３の
端子３Ｂに接続され、光ファイバ４の終端は光スイッチ
５の端子５Ａに接続される。光スイッチ５の端子５Ｂに
端局６が接続され、光スイッチ５の端子５Ｃに空回線の
光ファイバ７が接続される。
【０００８】図１の端局２・６の間で光通信をするとき
は、光スイッチ３の端子３Ａ・３Ｂを接にし、光スイッ
チ５の端子５Ａ・５Ｂを接にする。これにより、ＯＴＤ
Ｒ１と光ファイバ７は切り離され、端局２・６間が光フ
ァイバ４で接続される。端局２・６間の光通信を断にす
るときは、光スイッチ３の端子３Ｂ・３Ｃを接にし、光
スイッチ５の端子５Ａ・５Ｃを接にする。これにより、
端局２・６が光ファイバ４から切り離され、ＯＴＤＲ１
と光ファイバ７が光ファイバ４に接続される。ＯＴＤＲ
１から光パルス１１を光ファイバ４に入射すると、光フ
ァイバ４と光ファイバ７による反射光パルスのレベルが
ＯＴＤＲ１で測定される。これにより、光ファイバ４の
端局６付近の接続状態を検査することができる。
は、光スイッチ３の端子３Ａ・３Ｂを接にし、光スイッ
チ５の端子５Ａ・５Ｂを接にする。これにより、ＯＴＤ
Ｒ１と光ファイバ７は切り離され、端局２・６間が光フ
ァイバ４で接続される。端局２・６間の光通信を断にす
るときは、光スイッチ３の端子３Ｂ・３Ｃを接にし、光
スイッチ５の端子５Ａ・５Ｃを接にする。これにより、
端局２・６が光ファイバ４から切り離され、ＯＴＤＲ１
と光ファイバ７が光ファイバ４に接続される。ＯＴＤＲ
１から光パルス１１を光ファイバ４に入射すると、光フ
ァイバ４と光ファイバ７による反射光パルスのレベルが
ＯＴＤＲ１で測定される。これにより、光ファイバ４の
端局６付近の接続状態を検査することができる。
【０００９】次に、図１の波形図を図２により説明す
る。図４の２３は始端による反射光パルス１３のレベル
であり、図４の２４は光ファイバ７の終端による反射光
パルス１４のレベルである。図４のレベル２３・２４の
間にレベル２５〜２７が現れるが、これらは光ファイバ
７の接続点や２次反射光などである。レベル２４が観測
されることにより、端局２・６間の光ファイバ４の接続
状態を確認することができる。
る。図４の２３は始端による反射光パルス１３のレベル
であり、図４の２４は光ファイバ７の終端による反射光
パルス１４のレベルである。図４のレベル２３・２４の
間にレベル２５〜２７が現れるが、これらは光ファイバ
７の接続点や２次反射光などである。レベル２４が観測
されることにより、端局２・６間の光ファイバ４の接続
状態を確認することができる。
【００１０】
【考案の効果】この考案によれば、端局間に布設された
光ファイバの接続状態を試験する場合、空回線の光ファ
イバを試験する光ファイバに接続し、試験する光ファイ
バと接続された空回線の光ファイバにＯＴＤＲの光パル
スを入射し、試験する光ファイバと接続された空回線の
光ファイバからの反射光を測定することにより、試験す
する光ファイバの接続状態を確実に試験することができ
る。
光ファイバの接続状態を試験する場合、空回線の光ファ
イバを試験する光ファイバに接続し、試験する光ファイ
バと接続された空回線の光ファイバにＯＴＤＲの光パル
スを入射し、試験する光ファイバと接続された空回線の
光ファイバからの反射光を測定することにより、試験す
する光ファイバの接続状態を確実に試験することができ
る。
【図１】この考案による光ファイバ減衰量測定装置の構
成図である。
成図である。
【図２】図１の波形図である。
【図３】従来技術によるＯＴＤＲの構成図である。
【図４】図３の波形図である。
１ ＯＴＤＲ（光パルス試験器） ２ 端局 ３ 光スイッチ ４ 光ファイバ ５ 光スイッチ ６ 端局 ７ 光ファイバ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 跡部 直之 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)考案者 有居 正仁 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)考案者 鈴木 秀喜 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 審査官 村田 尚英
Claims (1)
- 【請求項１】 光パルス(11)を出射する光パルス試験器
(1) と、 第１の端局(2) の出力が第１の端子(3A)に接続され、第
１の光ファイバ(4) の始端が第２の端子(3B)に接続さ
れ、光パルス試験器(1) の出力が第３の端子(3C)に接続
される第１の光スイッチ(3) と、 第１の光ファイバ(4) の終端が第４の端子(5A)に接続さ
れ、第２の端局(6) の入力が第５の端子(5B)に接続さ
れ、第６の端子(5C)に空回線の第２の光ファイバ(7) に
接続される第２の光スイッチ(5) とを備え、 第１の端局(2) と第２の端局(6) 間で光通信をするとき
は、第１の光スイッチ(3) の第１の端子(3A)と第２の端
子(3B)を接にし、第２の光スイッチ(5) の第４の端子(5
A)と第５の端子(5B)を接にし、 第１の端局(2) と第２の端局(6) 間の光通信を断にする
ときは、第１の光スイッチ(3) の第２の端子(3B)と第３
の端子(3C)を接にし、第２の光スイッチ(5) の第４の端
子(5A)と第６の端子(5C)を接にして第１の光ファイバ
(4) に第２の光ファイバ(7) を接続し、第１の光ファイ
バ(4) と第２の光ファイバ(7) による反射光パルスのレ
ベルを光パルス試験器(1) で測定し、第１の光ファイバ
(4) の接続状態を検査する空回線の接続による光ファイ
バ接続状態試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992057330U JP2573628Y2 (ja) | 1992-07-23 | 1992-07-23 | 空回線の接続による光ファイバ接続状態試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992057330U JP2573628Y2 (ja) | 1992-07-23 | 1992-07-23 | 空回線の接続による光ファイバ接続状態試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0614943U JPH0614943U (ja) | 1994-02-25 |
| JP2573628Y2 true JP2573628Y2 (ja) | 1998-06-04 |
Family
ID=13052566
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992057330U Expired - Fee Related JP2573628Y2 (ja) | 1992-07-23 | 1992-07-23 | 空回線の接続による光ファイバ接続状態試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2573628Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3637377B2 (ja) * | 1995-11-07 | 2005-04-13 | 住電オプコム株式会社 | 光多重伝送システムにおけるシステム機能試験用光スイッチ装置 |
| JP6901843B2 (ja) * | 2016-11-04 | 2021-07-14 | 日立金属株式会社 | 光ファイバ監視システム |
-
1992
- 1992-07-23 JP JP1992057330U patent/JP2573628Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0614943U (ja) | 1994-02-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980127 |
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| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R323117 |
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