JP3125765B2 - 半導体装置の樹脂パッケージ装置 - Google Patents

半導体装置の樹脂パッケージ装置

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JP3125765B2
JP3125765B2 JP27050598A JP27050598A JP3125765B2 JP 3125765 B2 JP3125765 B2 JP 3125765B2 JP 27050598 A JP27050598 A JP 27050598A JP 27050598 A JP27050598 A JP 27050598A JP 3125765 B2 JP3125765 B2 JP 3125765B2
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利雄 野田
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  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置を樹脂
によって封止するための樹脂パッケージ方法および樹脂
パッケージ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体装置を樹脂によって封止し
て樹脂封止型半導体装置を製造するための装置は、たと
えば、図2に示すように、上金型1、下金型2、プラン
ジャ3、ヒータ4から構成されており、半導体装置の製
造時は、上金型1と下金型2の間にワイヤーボンディン
グされた半導体装置(図示せず)がセットされ、カル部
5に封止樹脂(図示せず)が投入された後、上金型1と
下金型2で型締めされ、プランジャ3で封止樹脂がラン
ナ部6を経てキャビティ部7へ押し出されて、キャビテ
ィ部7に置かれた半導体装置が樹脂封止されるようにな
っている。
【0003】そして、この動作手順の中で、ヒータ4は
別に取り付けられたコントローラによりON−OFF制
御されて、上金型1と下金型2の温度を一定に保つため
働きをしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
従来の半導体装置の樹脂パッケージ装置においては、半
導体装置が樹脂封止されるときにボイドやワイヤー流れ
といった不具合を引き起こす。その理由としては、ヒー
タ4によって上金型1と下金型2が一定温度にコントロ
ールされているが、樹脂の流動可能な時間が温度によっ
て決まっているために、その時間内で充填完了させよう
とすると充填速度を上げることになり、ワイヤーにかか
る樹脂の粘性抵抗が高くなり、また、充填速度が速くな
りすぎると空気の巻き込みを起こしたりしてボイドの発
生も高くなってしまうことが挙げられる。ここで、一般
に樹脂は硬化反応により、樹脂の粘度が上昇していくこ
とが知られており、比較的高温であれば樹脂の粘度は下
がるが低粘度の時間は少なく、比較的低温であれば樹脂
の粘度は下がらないものの低粘度の時間は長くなるとさ
れている。
【0005】本発明は、このような従来の問題点に鑑み
てなされたもので、半導体装置の樹脂封止に際して、ボ
イドやワイヤー流れの発生を抑制し、かつ、封止樹脂の
硬化を迅速に行い得る半導体装置の樹脂パッケージ装置
を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1に記載
半導体装置の樹脂パッケージ装置は、前述した目的を
達成するために、金型内に、半導体装置が設置されるキ
ャビティと、半導体装置を封止する封止樹脂のタブレッ
トが投入されるカル部と、このカル部と前記キ ャビティ
とを連通するランナと、前記金型を加熱するヒータと、
前記金型に対して熱的に絶縁された状態に設けられて、
前記カル部やキャビティから熱を吸収し、かつ、その吸
収熱を前記カル部やキャビティへ放出する吸発熱体と、
前記カル部に投入された封止樹脂を、このカル部から前
記キャビティへ向けて押し出すプランジャとを設けてな
り、前記ヒータが前記金型を所定温度に加熱するように
なされているとともに、前記吸発熱体が、前記プランジ
ャによる押し出し工程中に、前記カル部やキャビティか
ら熱を吸収して、これらを封止樹脂の溶融温度に保持
し、かつ、押し出し工程終了後に、前記カル部やキャビ
ティへ熱を放出して、これらを封止樹脂の硬化温度まで
上昇させるようになされていることを特徴とする。
【0007】請求項1に記載の発明によれば、封止樹脂
の押し出し時においては、カル部やキャビティ内の温度
を、吸発熱体により封止樹脂の溶融温度に保持してその
流動性を確保する。これによって、適切な充填速度を保
持してボイドやワイヤー流れといった不具合を抑制する
ことができる。また、封止樹脂の押し出しが完了した時
点においては、カル部やキャビティ内の温度を、吸発熱
体により封止樹脂の硬化温度まで上昇させることによ
り、封止樹脂を迅速に硬化させることができる。したが
って、これらの相乗作用により、半導体装置を樹脂封止
する際に、安定した品質と、短い生産サイクルを実現す
ることができる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態につい
て図1を参照して説明する。まず、本発明の半導体装置
の樹脂パッケージ装置の一実施形態について説明すれ
ば、上金型101、下金型102、プランジャ103、
ヒータ104、吸発熱体105、断熱体106から構成
されており、半導体製造時は上金型101と下金型10
2の間にワイヤーボンディングされた半導体装置(図示
せず)がセットされ、カル部107に封入樹脂(図示せ
ず)が投入された後、上金型101と下金型102で型
締めされ、この型締め状態において、カル部107とキ
ャビティ部109との間にランナ部108が形成され、
プランジャ103でカル部107内の封止樹脂が押し出
されてキャビティ部109内に充填されて、その内部に
置かれた半導体装置が樹脂封止されるようになってい
る。また、図1中において符号110は、エアベント部
である。
【0009】そして、ヒータ104は、別に取り付けら
れたコントローラによりON−OFF制御されて、上金
型101と下金型102の温度を一定に保つようになっ
ている。また、吸発熱体105は、カル部107および
キャビティ部109とのそれぞれに対応して設けられて
いるとともに、断熱体106によって上金型101と下
金型102から熱的に絶縁されており、上金型101と
下金型102の型開き〜型締め〜押し出し完了までを、
カル部107やキャビティ109の内部から熱吸収を行
う吸熱状態に、また、押し出し完了〜樹脂硬化〜型開き
までを、カル部107やキャビティ109の内部へ放熱
を行う発熱状態に制御されるようになっており、吸熱状
態において、カル部107およびキャビティ109内を
封止樹脂の溶融温度に保持し、かつ、発熱状態におい
て、少なくともキャビティ109内を封止樹脂の硬化温
度に加熱するようになっている。
【0010】このような構成とされた本実施形態に係わ
る半導体装置の樹脂パッケージ装置においては、封止樹
脂の押し出し時においては、吸発熱体105の作用によ
ってカル部107およびキャビティ部109が、封止樹
脂の溶融温度に保持されることから、この封止樹脂の粘
度が適切な値に保持されるとともに、キャビティ部10
9内の樹脂の押し出し速度が適切な値に保たれ、この結
果、ボイドやワイヤー流れといった不具合が抑制され
る。また、押し出し工程を完了した時点においては、同
じく吸発熱体105の作用によって、カル部107やキ
ャビティ部109の内部が、封止樹脂の硬化温度に加熱
されることにより、封止樹脂の硬化が迅速に行われ、こ
の結果、生産サイクルが大幅に短縮される。
【0011】なお、前記実施形態において示した各構成
部材の諸形状や寸法等は一例であって、設計要求等に基
づき種々変更可能である。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
発明によれば、封止樹脂の押し出し時において、カル部
やキャビティ内の温度を、吸発熱体によって封止樹脂の
溶融温度に保持してその流動性を確保し、これによっ
て、適切な充填速度を保持してボイドやワイヤー流れと
いった不具合を抑制することができる。また、封止樹脂
の押し出しが完了した時点において、カル部やキャビテ
ィ内の温度を、吸発熱体によって封止樹脂の硬化温度ま
で上昇させることにより、封止樹脂を迅速に硬化させる
ことができる。したがって、これらの相乗作用により、
半導体装置を樹脂封止する際に、安定した品質を得るこ
とができるとともに、短い生産サイクルを実現すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態を示す縦断面図である。
【図2】一従来例を示す縦断面図である。
【符号の説明】
1 上金型 2 下金型 3 プランジャ 4 ヒータ 5 カル部 6 ランナ部 7 キャビティ部 101 上金型 102 下金型 103 プランジャ 104 ヒータ 105 吸発熱体 106 断熱体 107 カル部 108 ランナ部 109 キャビティ部 110 エアベント部
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/56 B29C 45/02 B29C 45/14 B29C 45/73

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金型内に、半導体装置が設置されるキャ
    ビティと、半導体装置を封止する封止樹脂のタブレット
    が投入されるカル部と、このカル部と前記キャビティと
    を連通するランナと、前記金型を加熱するヒータと、前
    記金型に対して熱的に絶縁された状態に設けられて、前
    記カル部やキャビティから熱を吸収し、かつ、その吸収
    熱を前記カル部やキャビティへ放出する吸発熱体と、前
    記カル部に投入された封止樹脂を、このカル部から前記
    キャビティへ向けて押し出すプランジャとを設けてな
    り、前記ヒータが前記金型を所定温度に加熱するように
    なされているとともに、前記吸発熱体が、前記プランジ
    ャによる押し出し工程中に、前記カル部やキャビティか
    ら熱を吸収して、これらを封止樹脂の溶融温度に保持
    し、かつ、押し出し工程終了後に、前記カル部やキャビ
    ティへ熱を放出して、これらを封止樹脂の硬化温度まで
    上昇させるようになされていることを特徴とする半導体
    装置の樹脂パッケージ装置。
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