JP3124593B2 - 補正装置 - Google Patents

補正装置

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JP3124593B2
JP3124593B2 JP03289241A JP28924191A JP3124593B2 JP 3124593 B2 JP3124593 B2 JP 3124593B2 JP 03289241 A JP03289241 A JP 03289241A JP 28924191 A JP28924191 A JP 28924191A JP 3124593 B2 JP3124593 B2 JP 3124593B2
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重久 黒後
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東洋通信機株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は測定すべき物理量に応じ
た周波数の信号を出力するセンサの感度と基準周波数の
補正を行う装置に関する。
【0002】
【従来技術】従来から、測定すべき物理量に応じた周波
数の信号を出力するセンサ、例えば水晶圧力センサを量
産する際には、その製造誤差に起因してセンサ個々の感
度及び基準周波数が互いに異なるため、このようなセン
サを圧力測定器等に利用する場合には図2に示すような
補正装置を使用していた。即ち、この補正装置1はパル
ス幅1秒のクロックを繰り返し出力する基準発振器2の
出力端を、及び波形整形回路3を二入力アンドゲート4
の入力端に夫々接続し、そのアンドゲート4の出力端を
カウンタ5を介してメモリ6を備えた演算器7の入力端
に接続して構成するものであって、前記波形整形回路3
の入力端には水晶圧力センサ8を、及び演算器7の出力
端には表示器9を夫々補正装置1の外部から接続してい
た。
【0003】このような補正装置1は使用すべき前記水
晶圧力センサ8の感度と基準周波数を予め測定して、そ
の測定値から求めた補正定数をメモリ6に書き込んだ
後、波形整形回路3を使用して水晶圧力センサ8の出力
信号をこれと同じ周波数のパルス信号に変換すると共
に、カウンタ5を使用して1秒当りの前記波形整形回路
3の出力パルス数を計数する。又、演算器7を使用して
カウンタ5の計数値と前記メモリ6内の補正定数とから
その計数値を補正し、水晶圧力センサ8の製造誤差に起
因する感度及び基準周波数のバラツキを解消してその計
数値から換算した圧力値を表示器9で表示して圧力測定
器として利用できるようにしていた。しかしながら、こ
のような補正装置は高価な演算器を使用しなければなら
ないと共に、補正装置を動作させるためにプログラムを
作成しなければならず製造コストが増大すると云う問題
があった。
【0004】
【発明の目的】本発明は上述した従来の補正装置の問題
を解決するためになされたものであって、高価な演算器
及びメモリを使用することなく、製造コストを低減する
ことが可能な補正装置を提供することを目的とする。
【0005】
【発明の概要】上述の目的を達成するため、本発明の補
正装置は測定すべき物理量に応じた周波数の信号を出力
するセンサの出力信号をパルス信号に変換する手段と、
第1の設定値に応じた周波数の信号を発振する手段と、
前記センサの出力パルス数を計数すると共にその計数値
が第2の設定値に達した場合にこの計数値を零リセット
するプリセットカウンタと、前記パルス信号を該プリセ
ットカウンタに供給する期間を前記発振手段の出力信号
のパルス幅に基づくタイミングで制限する手段とを具
え、前記センサの感度に応じて前記第1の設定値を、及
び前記センサの基準周波数に応じて前記第2の設定値を
夫々可変するように構成する。
【0006】
【実施例】以下、本発明を図面に示した実施例に基づい
て詳細に説明する。図1は本発明を圧力測定器に適用し
た一実施例を示す構成図である。同図に於いて10は本
発明の補正装置であって、その外部入力端11及び出力
端12には夫々水晶圧力センサ13及び表示器14を接
続する。又、補正装置10はパルス幅1秒のクロックを
繰り返し出力する基準発振器15の出力端をプリセット
分周器16を介して二入力アンドゲート17の一方の入
力端に接続すると共に、前記外部入力端を波形整形回路
18を介して前記アンドゲート17の他方入力端に接続
する。更に、そのアンドゲート17の出力端をプリセッ
トカウンタ19の入力端を介して前記外部出力端12に
接続する。
【0007】このように構成する補正装置10は接続す
べき水晶圧力センサ13の製造誤差に起因する感度と基
準周波数とを測定すると共に、水晶圧力センサ13には
一定の圧力を加えて基準周波数の信号を出力せしめる。
ここで、水晶圧力センサ13の前記測定した感度が補正
すべき感度に対してn倍の場合プリセット分周器16の
出力パルス幅が基準発振器15の出力パルス幅の1/n
になるようにプリセット分周器16の設定値を可変すれ
ば、補正装置10は波形整形回路18を使用して水晶圧
力センサ13の出力信号をこれと同じ周波数のパルス信
号に変換すると共に、アンドゲート17を使用してその
パルス信号をプリセットカウンタ19に供給する期間を
プリセット分周器16の出力信号のパルス幅に基づくタ
イミングで制限するから、1/n秒間だけ波形整形回路
18の出力パルスをプリセットカウンタ19に供給する
ことになり、水晶圧力センサ13の感度バラツキを補正
することができる。又、その補正を行った後には前記波
形整形回路18の出力パルス信号をアンドゲート17を
介してプリセットカウンタ19に供給する毎にその計数
値を零リセットするようにプリセットカウンタ19の設
定値を可変すれば、水晶圧力センサ13の基準周波数の
バラツキを補正することができ、水晶圧力センサ13に
加えた前記圧力値を表示器14に表示させることができ
る。
【0008】尚、上述の実施例では水晶圧力センサの感
度バラツキを補正する際にアンドゲートを使用したが本
発明は波形整形回路の出力信号をプリセットカウンタに
供給するタイミングをプリセット分周器の出力信号のパ
ルス幅に基づくタイミングで制限するものであればこれ
に限らないことは自明であろう。又、上述の実施例では
補正装置の外部入力端には水晶圧力センサを接続した
が、本発明はこれに限らず測定すべき物理量に応じた周
波数の信号を出力するセンサを接続しても同様の効果が
得られることは自明であろう。更に、上述の実施例では
補正装置の外部出力端には表示器を接続して本発明を圧
力測定器に適用させたが、本発明はセンサの出力信号を
利用する装置であればこれに限らないことは自明であろ
う。
【0009】
【発明の効果】本発明は以上説明したように、安価なプ
リセット分周器とプリセットカウンタを使用して、製造
誤差に起因するセンサの感度及び基準周波数のバラツキ
を補正することができるので製造コストの低減化を図る
ことが可能な補正装置を提供する上で効果がある。
【0010】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す構成図である。
【図2】従来の補正装置を示す構成図である。
【符号の説明】
10 補正装置 11 外部入力端 12 外部出力端 13 水晶圧力センサ 14 表示器 15 基準発振器 16 プリセット分周器 17 アンドゲート 18 波形整形回路 19 プリセットカウンタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−313017(JP,A) 特開 昭50−107975(JP,A) 特開 平2−95226(JP,A) 特開 昭58−182525(JP,A) 特開 昭59−131131(JP,A) 特開 昭61−41925(JP,A) 実開 昭55−167136(JP,U) 実開 平2−67926(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01L 1/10 G01L 9/00 G01L 25/00 G01L 27/00 G01P 15/10 G01K 7/32 G01D 3/00

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測定すべき物理量に応じた周波数の信号
    を出力するセンサの感度と基準周波数の補正を行う装置
    に於いて、前記センサの出力信号をパルス信号に変換す
    る手段と、第1の設定値に応じた周波数の信号を発振す
    る手段と、前記センサの出力パルス数を計数すると共に
    その計数値が第2の設定値に達した場合にこの計数値を
    零リセットするプリセットカウンタと、前記パルス信号
    を該プリセットカウンタに供給する期間を前記発振手段
    の出力信号のパルス幅に基づくタイミングで制限する手
    段とを具え、前記センサの感度に応じて前記第1の設定
    値を、及び前記センサの基準周波数に応じて前記第2の
    設定値を夫々可変するようにしたことを特徴とする補正
    装置。
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