JP3120721U - 加速度センサー - Google Patents

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弘之 秦野
良晶 高田
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Abstract

【課題】 セラミックやガラス、シリコンで形成された保護ケースを用いた加速度センサ
ーで、加速度センサー素子の錘部の下面側の角部や稜部の欠けを防ぎ、高耐衝撃性、高性
能を実現した加速度センサーを提供する。
【解決手段】 シリコンで形成された錘部の下面側に1.0μm以上2.2μm以下の厚
さで金属膜を形成し、金属膜端部を錘部下面端部から1μm以上20μm以下後退させ、
過度な加速度が加わっても錘部の下面側の角部や稜部が直接保護ケース内底と接触しない
様にする。

【選択図】 図1

Description

本考案は、自動車や航空機、携帯端末機器、玩具等に用いられる加速度検出用の半導体
加速度センサーに関するものである。
加速度センサーは、エアーバッグ作動用に多く用いられ自動車が衝突した衝撃を加速度
としてとらえていた。自動車ではX軸,Y軸の加速度を測定するため1軸もしくは2軸機
能で充分であった。また、測定する加速度が非常に大きいため、加速度を検知する加速度
センサー素子も頑丈に製作されている。最近は、携帯端末機器やロボット等にも使用され
ることが多くなり、空間の動きを検出するためX,Y,Z軸の加速度を測定する3軸加速
度センサーが要求されてきている。また、携帯電話に代表されるような携帯機器用途では
、小型で微小な加速度を検出するために数10mGの高分解能が要求され一方、機器の落
下衝撃に耐えられる高耐衝撃性を要求されている。機器の落下衝突時の衝撃は、落下高さ
や機器の材質、衝突相手の材質など種々の条件で変るが、容易に2000〜3000G以
上になる。このような大きい衝撃加速度にも耐えられることが必要とされる。
加速度センサーは可撓部の動きを電気信号に変換する方法で、ピエゾ抵抗型、静電容量
型、圧電型に大別され、加速度センサーの出力の大きさや応答周波数特性、耐電磁ノイズ
、出力の直線性、静止加速度の検出、温度特性等を考慮し選ばれている。小型で高感度の
要求から微細加工が必要なため、シリコン基板にフォトリソ技術を用い所定の形状を形成
し、半導体技術でシリコンに不純物を打ち込みピエゾ抵抗を形成するピエゾ抵抗型3軸加
速度センサーが実用化されてきている。
従来の加速度センサーの展開斜視図を図4に示す。図4において加速度センサー素子1
はワイヤー4で保護ケース2の端子5に接続され外部端子6に接続される。保護ケース蓋
3が保護ケース2に固着密封され加速度センサー10が構成されている。加速度センサー
素子のピエゾ抵抗素子の図示は省略している。図5に図4のj−j’断面を示す。加速度
センサー素子1は、錘部11と支持枠部12、可撓部13から成っている。可撓部13の
ワイヤー4接続面にはピエゾ抵抗素子9が形成されている。保護ケース2に支持枠部12
および保護ケース蓋3が接着剤7および8により固着されている。加速度センサー素子に
外力が加わると、可撓部13に吊り下げられた錘部11が動き可撓部13を撓ませ、その
撓み量をピエゾ抵抗素子9で感知し電圧として出力するものである。
加速度センサー素子の拡大図を図6a)に示す。加速度センサー素子1は、錘部11を
支える可撓部13、可撓部13を支える支持部12から構成され、可撓部13にはピエゾ
抵抗素子9が設けられている。ピエゾ抵抗素子は端子14にパターニングされた配線(図
示せず)で接続されている。外力を加速度センサー素子1が受けた時の錘部と可撓部の動
きを、図6a)のn−n’断面を使って図6b)からd)に示す。図6b)は、外力が加
わっていない状態で可撓部13はほぼ水平の状態である。このときの錘部11の角部と保
護ケース2の内底の間隔をA0とする。図6c)は、加速度センサー素子の横方向から外
力が加わったときの、錘部と可撓部の形状を模式的に表している。錘部11が左右に動か
され一方の可撓部13が下に、他方が上に撓みピエゾ抵抗素子の抵抗が変化してX軸方向
、Y軸方向の加速度に応じた電圧として検出される。このときの錘部の角部と保護ケース
2の内底の間隔をA1とする。図6d)は、加速度センサー素子の上下方向から外力が加
わったときの、錘部と可撓部の形状を模式的に表している。このときの錘部の角部と保護
ケース2の内底の間隔をA2とする。左右の可撓部は同一方向に撓みZ軸方向の加速度を
検知することができる。可撓部の寸法や印加された加速度によって決まるが、加速度セン
サー素子1に例えば1000Gという大きな加速度が加わるとA0とA1の位置の差は約
40μm、A0とA2の位置の差は約25μmと大きく変動することとなる。
加速度センサー素子1の感度は、可撓部13の撓み易さで決まるため、可撓部13の長
さが長く、幅が狭く、厚みが薄いほど向上するものである。そのため、高感度品では可撓
部13の長さは500〜700μm、幅は80〜120μm、厚みは5〜10μmと非常
に薄くなっている。このため、シリコンで形成された可撓部13は、前述した落下衝撃の
ような数1000Gという大きな加速度が加わった場合には、変形量が数10μmを超え
るため可撓部が破損し、加速度センサー素子1としての機能が失われてしまう。加速度セ
ンサーの感度を上げることと、測定できる加速度の上限を上げること言い換えると耐衝撃
性を上げることは相反することとなる。加速度センサーが携帯機器等に用いられ落下衝撃
に耐えられる様にするには、加速度センサーの感度を下げざるを得なかった。
そこで、高感度で落下衝撃に耐えられる加速度センサーを得るため、錘部11の動く量
を5〜10μmに強制的に抑えるための規制板15を設ける構造が、特許文献1から3に
記載されている。規制板を設けた加速度センサーの展開斜視図を図7に示す。また、図8
に図7のk−k’断面を示す。図8は図6a)に示した加速度センサー素子1を接着剤7
により保護ケース2の内底に接着固定した。規制板15を加速度センサー素子1の可撓部
13側の支持枠部12の一部に接着剤7’で固定している。最後に保護ケースの蓋3と保
護ケース2とを接着剤8で接着して完成するものである。加速度センサー素子1の電極と
保護ケース2の外部電極(いずれも図示せず)はワイヤーボンドで接続されるがこれも図
では省略している。この構造では加速度センサー素子1の下側の規制板は保護ケース2の
内底を利用するものであり、その分薄型に向いた構造である。錘部11の下面と保護ケー
ス内底の間隔g2、錘部11の上面と規制板15との間隔g1が、錘部が動くことのでき
る距離であり、これら間隔g1、g2では可撓部の破損は起きないものである。間隔g1
、g2は精度が求められるため、接着剤7,7’には直径5〜10μmの硬質プラスチッ
ク球のスペーサを接着樹脂に混合して用いている。硬質プラスチックの球径を変えること
で、間隔g1、g2を変えることができる。
特開平5−41148号 公報
特開平4−274005号 公報
特開平8−233851号 公報
図8に示した様に、錘11の上面と規制板15間、錘11の下面と保護ケース2の内底
間で、錘の過度な動きを規制することで可撓部13の損傷を防ぐことができた。しかし、
数多くの加速度センサーを製造するなかで、シリコンで形成されている錘部11の下部の
稜部や角部が欠けると言う問題が、非常に低い発生頻度であるが出てきた。図9に、観察
された欠け易い部分16を破線で示す。欠けた破片が間隔g1やg2に挟まると、正常な
錘の動きを阻害することとなり、加速度の検出値が不正確となる。錘の下面側の角部と稜
部が、保護ケースの内底と角度を持ってぶつかった時つまり、錘がX,Y方向に大きな加
速度を受けた時に、欠けが発生していると見られる。
錘の下面側の角部や稜部が保護ケースの内底とぶつかっても、欠けないように角部や稜
部に面取りやr付けを行なうことが考えられるが、加工が難しく実用化には向いていなか
った。ぶつかっても錘の下面側の角部や稜部が欠けない様に、保護ケースを軟らかい材質
である金属やプラスチックで製作することが考えられるが、大部分がシリコンからなる加
速度センサー素子1と、金属やプラスチックでは熱膨張係数の差が大きい。加速度センサ
ーの周囲の温度変化で、加速度センサー素子の可撓部を引っ張ったり押し込んだりする力
が働き、加速度が加わっていないにも係わらず、ピエゾ抵抗素子の抵抗が変化して出力が
出る。この出力は、加速度センサーのノイズとなる。このような理由から、保護ケースの
材質は加速度センサー素子1のシリコンと同程度の熱膨張係数を有する、セラミックやガ
ラスあるいは加速度センサー素子と同じ材質のシリコンが主に用いられている。
本考案は上記問題点を解決するためになされたものであり、セラミックやガラス、シリ
コンで形成された保護ケースを用いた加速度センサーで、加速度センサー素子の錘部の下
面側の角部や稜部の欠けを防ぎ、高耐衝撃性、高性能を実現した加速度センサーを提供す
ることを目的とする。
本考案の加速度センサーは、支持枠部と支持枠部に可撓部を介して保持される錘部、可
撓部に設けられた半導体ピエゾ抵抗素子と配線よりなる加速度センサー素子を、セラミッ
クや金属で形成された保護ケース内に保持し、加速度センサー素子の錘部上面側には錘部
の動きを規制する規制板を備える加速度センサーであって、錘部下面側に1.0μm以上
2.2μm以下厚の金属膜が設けられ、金属膜端部は錘部下面端部から1μm以上20μ
m以下後退した位置にあることが好ましい。
加速度センサーに大きな加速度が加わり、錘部下面が保護ケース内底に衝突しても、錘
部下面に設けた金属膜が保護ケース内底と衝突し、錘部を形成するシリコンが保護ケース
内底と直接衝突することを防ぐことができる。錘部のシリコンの衝突による欠け易い部位
は、錘部下面の稜部と角部であり、これらの部位が保護ケース内底と衝突することを防ぐ
ことで、欠けの発生を防ぐ事ができる。
錘部下面全域に金属膜を形成しても良いが、フォトリソ技術に用いるレジストの位置合
わせを容易にするため、金属膜端部を錘部下面端部から1μm以上20μm以下後退させ
ることが好ましいものである。金属膜端部を錘部下面端部から後退させても、錘部の下面
稜部や角部が保護ケース内底と接触しないように、金属膜の厚みを決めることができる。
金属膜の厚みが1.0μm未満では、緩衝材としての効果が得られない。また、金属膜を
厚くし過ぎると、製膜時間が掛かるため余り好ましいとは言えない。そのため、金属膜の
厚みは1.0μm以上2.2μm以下とすることが好ましい。
本考案の加速度センサーは、金属膜はアルミニウム、銅、金のいずれかの金属もしくは
これらの合金であることが好ましい。
ピエゾ抵抗素子を繋ぐ配線に使用される金属と同じものを用いることで、スパッターの
ターゲットの種類が増えることを防ぐことができる。配線を作製するスパッター装置で錘
部下面の金属膜を作製することで、錘部下面金属膜用スパッター装置を設ける必要がなく
なり、製造コスト面で有利となる。
加速度センサー素子の錘部下面側に金属膜を設けることで、セラミックやガラス、シリ
コンで形成された保護ケースを用いた加速度センサーで、衝撃により過度の加速度が加わ
っても加速度センサー素子の錘部下面側の角部や稜部の欠けを防ぎ、高耐衝撃性、高性能
を実現した加速度センサーを提供することができた。
以下、本考案の実施例について、図を用いて詳細に説明する。説明を判り易くするため
、同じ部品、部位には同一の符号を用いている。
図1は、本考案の加速度センサー断面図である。半導体型3軸加速度センサーの基本的
な構成、構造は加速度センサー素子の錘部下面に金属膜が形成されている点が異なるだけ
で、図6a)に示した従来の加速度センサー素子構造、また、図7に示した従来例の展開
斜視図と同じであるので図示は省略している。本願で実施した加速度センサーの構成、構
造を簡単に述べる。加速度センサー素子1は、保護ケース2にφ12μmの硬質プラスチ
ック球を含有した接着剤7で固着した。錘部に付加したアルミニウムの金属膜20の厚み
は1.8μmとした。加速度センサー素子1の錘部11に付加した金属膜の下面と、保護
ケース2の内底との間隔g2は、硬質プラスチックの球径12μmから衝撃緩衝材の厚み
1.8μmを差し引いた10.2μmである。この間隔g2は、過度の加速度が加わった
時に、錘部11の動きを規制し可撓部13の破損を防ぐものである。図1では図示を省略
したが、加速度センサー素子1の端子14と保護ケース2の端子5はワイヤー4で接続し
た。ワイヤー4はφ25μmの金の裸線を超音波ボンディングで端子5,14に熔接した
。加速度センサー素子1の上にφ10μmの硬質プラスチック球を含有した接着剤7’で
規制板15を固着した。規制板15には、厚さ0.3mmの青板ガラスを用いた。この規
制板と加速度センサー素子との間隔g1も、質量部13の過度の動きを規制し可撓部の破
損を防ぐものである。保護ケース蓋3を保護ケース2にエポキシ系の接着剤8で固着して
加速度センサー10を得た。
実施した加速度センサー素子1の製造方法を説明する。625μm厚のシリコン板30
に1μm程度のシリコン酸化層と6μmのシリコン層の積層構造を有するSOI(Sil
icon on Insulator)ウェファーを使用した。フォトレジストでパター
ニングを行い、シリコン層にボロンを1〜3×1019原子/cm打ち込みピエゾ抵抗
素子9を作製した。ピエゾ抵抗素子9を保護するためと、シリコンとアルミニウム配線電
極の絶縁を確保するために、0.2〜0.5μm厚に酸化シリコンの絶縁層を形成した。
ピエゾ抵抗素子9に接続するアルミニウム配線(図示せず)と端子14、可撓部13等を
、フォトレジストのパターニングとスパッタリング成膜装置、ドライエッチング装置等を
用いて形成した。SOIウェファーのシリコン酸化層がエッチングストッパーとなるため
、エッチングされるのはシリコン層のみである。ここまでの工程で、加速度センサー素子
上面の形成が終了する。
次に、加速度センサー素子の下面の形成である。図2に、本考案の加速度センサー素子
1の素子下面側から見た斜視図を示す。図2のk−k’断面を示しながら、加速度センサ
ー素子の下面側の工程を図3に示す。図3a)に、加速度センサー素子上面の形成が終了
した状態を示す。シリコン板30に金属膜20をスパッター装置を用い1.8μmの厚み
で形成した[図3b]]。金属膜はアルミニウムとした。金属膜20の面にフォトレジス
トパターン32を形成[図3c]]した後、イオンミリング装置を用い露出部分の金属膜
を除去[図3d]]、フォトレジストパターン32も有機溶剤で除去した[図3e]]。
錘部11に相当する部位にはフォトレジストパターン32’、支持枠部12に相当する部
位にはフォトレジストパターン32”を形成した[図3f]]。フォトレジストパターン
32’は金属膜20を被うように形成している。金属膜20の側面を被うフォトレジスト
パターンの厚みwが、金属膜の端部が錘部の端部から後退した距離となる。本実施例では
、wを5.7μmとした。SFと酸素を導入したプラズマ内でドライエッチングを行い
、錘部と支持枠部を形成した[図3g]]。このドライエッチングではシリコン板30は
エッチングされるが、シリコン酸化層31はエッチングされない。フォトレジストパター
ンを有機溶剤で除去し[図3h]]、弗酸溶液を用いてシリコン酸化層31を除去し、図
2に示した加速度センサー素子1を得た[図3i)]。
実施例1で製造した加速度センサー素子を用い、加速度センサーを2000個製作し金
属膜の効果を検証した。比較のため、金属膜を具備しない従来の加速度センサーも200
0個作製し供試した。供試数を多くしているのは、錘部の欠け発生率が低いためである。
供試加速度センサー100個を金属板に固定し、所定の加速度を与え出力v0を測定した
後、金属板に固定した状態で、1mの高さから厚さ10cmの木の板上に自然落下させて
衝撃を与えた。図6c)で示した様なX,Y方向に加速度が加わる方向に自然落下させた
。20回自然落下させた後、所定の加速度を与え出力v1を測定し、v1とv0で20%
以上の差が有ったものを、欠けが発生した疑いのある加速度センサーとした。欠けが発生
した疑いのある加速度センサーは分解して欠けの有無を検査し、視覚的に欠けが確認され
たものを欠けが発生した加速度センサーとした。錘部の角部や稜部が欠けるような衝撃が
一回加わった時に、欠けが発生する割合を欠け発生率としている。欠け発生率=欠けが発
生した加速度センサー素子数/(供試加速度センサー素子数×20回)×100%で求め
ている。欠け発生率が低いため、効果を確認するには分母を大きくする必要があるためで
ある。本実験の自然落下によって、加速度センサーに加わる加速度は4000〜5000
(G)と測定されている。
金属膜の無い従来の加速度センサー素子の欠け発生率は、0.036%であった。金属
膜を有する本加速度センサー素子で欠け発生率は0%であった。欠け発生した加速度セン
サーを分解し、錘部の稜部と角部を観察したところ、稜部もしくは角部に20μm角程度
の欠けが観察された。これらの結果から、錘部下面稜部と角部が保護ケース内底と衝突し
ないように、金属膜を錘部下面に形成することは有効であることが確かめられた。
本考案の加速度センサーの断面図である。 本考案の加速度センサー素子の素子下面側から見た斜視図である。 本考案の加速度センサー素子1の製造方法を説明する図である。 従来の加速度センサーの展開斜視図である。 従来の加速度センサーの断面図である。 加速度センサー素子の拡大図と錘部の動きを説明する図である。 規制板を設けた加速度センサーの展開斜視図である。 規制板を設けた加速度センサーの断面図である。 観察された欠け易い部分を示す図である。
符号の説明
1 加速度センサー素子、2 保護ケース、
3 保護ケース蓋、4 ワイヤー、
5 端子、6外部端子、
7,8接着剤、9 ピエゾ抵抗素子、
10 加速度センサー、11 錘部、
12 支持枠部、13 可撓部、
14 端子、15 規制板、
16 欠け易い部分、20 金属膜、
30 シリコン板、31 シリコン酸化層、
32 フォトレジストパターン。

Claims (2)

  1. 支持枠部と支持枠部に可撓部を介して保持される錘部、可撓部に設けられた半導体ピエ
    ゾ抵抗素子と配線よりなる加速度センサー素子を、セラミックや金属で形成された保護ケ
    ース内に保持し、加速度センサー素子の錘部上面側には錘部の動きを規制する規制板を備
    える加速度センサーであって、錘部下面側に1.0μm以上2.2μm以下厚の金属膜が
    設けられ、金属膜端部は錘部下面端部から1μm以上20μm以下後退した位置にあるこ
    とを特徴とする加速度センサー。
  2. 金属膜はアルミニウム、銅、金のいずれかの金属もしくはこれらの合金であることを特
    徴とする請求項1に記載の加速度センサー。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008045908A (ja) * 2006-08-11 2008-02-28 Rohm Co Ltd 加速度センサならびにセンサチップおよびその製造方法
JP2010117292A (ja) * 2008-11-14 2010-05-27 Alps Electric Co Ltd 角速度センサ
US8776602B2 (en) 2006-08-11 2014-07-15 Rohm Co., Ltd. Acceleration sensor, semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device

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