JP3119809U - 自動材料試験機 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】引張試験終了後、把持爪11aを開いた状態で第1回収アーム10を退避位置Aから回収位置Bに回動させて把持爪11aを閉じ、試験片4を回収チャック11で掴む。次に、試験機本体2の下側のチャック5を開き、第1回収アーム10を退避位置Aまで回動させる。その後、把持爪21aを開いた状態で第2回収アーム20を退避位置Dから回収位置Eへ回動させて把持爪21aを閉じ、試験片4を回収チャック21で掴む。次に、回収チャック11の把持爪11aを開き、第2回収アーム20を退避位置Dまで回動させると、試験片4は破断した端部が下方に向くように回動される。退避位置Dでは回収チャック21が回収箱6の略真上に位置するので、回収チャック21の把持爪21aを開くと、試験片4は回収シュート7に案内されて回収箱6の中に落下する。
【選択図】図2
Description
(2) 請求項2の考案は、請求項1に記載の自動材料試験機において、第1の回収アームは、試験片を把持する第1把持装置と、第1把持装置を第1退避位置と第1回収位置との間で回動する第1回動装置とを有し、第1把持装置は、第1回収位置において、切断後に下つかみ具に把持されている試験片を把持し、第2の回収アームは、試験片を把持する第2把持装置と、第2把持装置を第2退避位置と第2回収位置との間で回動する第2回動装置とを有し、第2把持装置は、第2回収位置において、第1のアームで把持している試験片の下端把持部を把持し、第2把持装置により試験片の下端把持部を把持した後、第2回動装置により、試験片の破断部が垂れ下がるように第2把持装置を回動することを特徴とする。
(3) 請求項3の考案は、請求項2に記載の自動材料試験機において、第1の回収アームは、水平面内で回動して第1回収位置と第1退避位置との間を移動し、第1回収位置で試験片を下つかみ具から回収し、第2の回収アームは、鉛直面内を回動して第2回収位置と第2退避位置との間を移動し、第1の回収アームの第1退避位置で試験片を第1の回収アームから回収し、第2退避位置で試験片を解放することを特徴とする。
(4) 請求項4の考案は、請求項1〜3のいずれか一項に記載の自動材料試験機において、第1および第2の回収アームは下つかみ具に把持されている下方の試験片破断部を回収するものであり、上つかみ具に把持されている上方の試験片破断部を回収する第3の回収アームをさらに備えることを特徴とする。
(1) 試験済みの試験片4を第1回収アーム10で回収し、第1アーム10で回収した試験片4を第2回収アーム20で回収するように構成した。これにより、重力によって垂れ下がった試験済みの試験片4が回収チャック11やアーム12などにもたれかかっても、試験片4のもたれかかりを第2回収アーム20で把持して除去できるので、試験片4を確実に回収箱6に回収できる。また、回収チャック11やアーム12などにもたれかかった試験片4が、次の引張試験のための試験片4の取り付けを妨害することがなくなるので、自動材料試験機の確実性や信頼性を向上できる。
3 試験片回収装置 4 試験片
5 試験片把持チャック(チャック) 6 回収箱
10 第1回収アーム 11 回収チャック
15 回転シリンダ 20 第2回収アーム
21 回収チャック 25 回転シリンダ
30 上側回収アーム
Claims (4)
- 上下つかみ具間で試験片を把持して負荷を与える負荷手段と、
前記試験片を自動供給する供給装置と、
切断後に下つかみ具に把持されている前記試験片を回収する第1の回収アームと、
前記第1の回収アームで回収した前記試験片を把持して回収する第2の回収アームとを備えることを特徴とする自動材料試験機。 - 請求項1に記載の自動材料試験機において、
前記第1の回収アームは、前記試験片を把持する第1把持装置と、前記第1把持装置を第1退避位置と第1回収位置との間で回動する第1回動装置とを有し、前記第1把持装置は、前記第1回収位置において、切断後に下つかみ具に把持されている前記試験片を把持し、
前記第2の回収アームは、前記試験片を把持する第2把持装置と、前記第2把持装置を第2退避位置と第2回収位置との間で回動する第2回動装置とを有し、前記第2把持装置は、前記第2回収位置において、前記第1のアームで把持している前記試験片の下端把持部を把持し、前記第2把持装置により前記試験片の下端把持部を把持した後、前記第2回動装置により、前記試験片の破断部が垂れ下がるように前記第2把持装置を回動することを特徴とする自動材料試験機。 - 請求項2に記載の自動材料試験機において、
前記第1の回収アームは、水平面内で回動して前記第1回収位置と第1退避位置との間を移動し、前記第1回収位置で前記試験片を下つかみ具から回収し、
前記第2の回収アームは、鉛直面内を回動して前記第2回収位置と第2退避位置との間を移動し、前記第1の回収アームの第1退避位置で前記試験片を第1の回収アームから回収し、前記第2退避位置で前記試験片を解放することを特徴とする自動材料試験機。 - 請求項1〜3のいずれか一項に記載の自動材料試験機において、
前記第1および第2の回収アームは前記下つかみ具に把持されている下方の試験片破断部を回収するものであり、
前記上つかみ具に把持されている上方の試験片破断部を回収する第3の回収アームをさらに備えることを特徴とする自動材料試験機。
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JP2005010996U JP3119809U (ja) | 2005-12-27 | 2005-12-27 | 自動材料試験機 |
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JP2005010996U JP3119809U (ja) | 2005-12-27 | 2005-12-27 | 自動材料試験機 |
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JP3119809U true JP3119809U (ja) | 2006-03-09 |
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Family Applications (1)
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013213709A (ja) * | 2012-04-02 | 2013-10-17 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
JP2022509610A (ja) * | 2018-11-21 | 2022-01-21 | イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド | 試料清掃装置 |
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2005
- 2005-12-27 JP JP2005010996U patent/JP3119809U/ja not_active Expired - Fee Related
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JP2013213709A (ja) * | 2012-04-02 | 2013-10-17 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
JP2022509610A (ja) * | 2018-11-21 | 2022-01-21 | イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド | 試料清掃装置 |
JP7431232B2 (ja) | 2018-11-21 | 2024-02-14 | イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド | 試料清掃装置 |
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