JP3115093B2 - 平面走査型近傍電界測定装置 - Google Patents
平面走査型近傍電界測定装置Info
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- JP3115093B2 JP3115093B2 JP04093654A JP9365492A JP3115093B2 JP 3115093 B2 JP3115093 B2 JP 3115093B2 JP 04093654 A JP04093654 A JP 04093654A JP 9365492 A JP9365492 A JP 9365492A JP 3115093 B2 JP3115093 B2 JP 3115093B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、アンテナの近傍で電磁
界を測定して遠方放射特性を算出する平面走査型近傍電
界測定装置に関するものである。
界を測定して遠方放射特性を算出する平面走査型近傍電
界測定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】アンテナの測定は、自由空間中に被測定
アンテナと測定用アンテナを十分な距離を隔てて対向さ
せて行なわれる。しかるに、地面や周囲の障害物による
電磁波の反射が存在し、これらが測定に誤差をもたら
す。しかも、必要となるアンテナ間距離は、アンテナが
大きくなる程、また周波数が高くなる程増加し、測定上
の制約が著しい。
アンテナと測定用アンテナを十分な距離を隔てて対向さ
せて行なわれる。しかるに、地面や周囲の障害物による
電磁波の反射が存在し、これらが測定に誤差をもたら
す。しかも、必要となるアンテナ間距離は、アンテナが
大きくなる程、また周波数が高くなる程増加し、測定上
の制約が著しい。
【０００３】そこで、上述の遠方電界測定による制約を
避けて高精度の測定を行なう方法として、アンテナの近
傍の電磁界を測定し、それらから遠方放射特性を求める
アンテナの近傍電界測定の技術が発展しつつある。これ
らの状況が詳しく、電子通信学会誌１９７９年１０月号
（Ｖｏｌ．６２，Ｎｏ．１０）第１１４５乃至第１１５
３頁に示されている。
避けて高精度の測定を行なう方法として、アンテナの近
傍の電磁界を測定し、それらから遠方放射特性を求める
アンテナの近傍電界測定の技術が発展しつつある。これ
らの状況が詳しく、電子通信学会誌１９７９年１０月号
（Ｖｏｌ．６２，Ｎｏ．１０）第１１４５乃至第１１５
３頁に示されている。
【０００４】ここで、簡単に近傍電界測定の一例につい
て説明すれば、例えば、特開昭６０−６１６６４号公報
や特開昭６２−５４１７５号公報や特開平３−４８７７
６号および米国特許第３８７９７３３号等に示されるご
とく、被測定アンテナから放射される電磁界を、この被
測定アンテナに近接する平面上を走査し得るスキャナの
可動部に設けられたプローブアンテナで測定し、このプ
ローブアンテナの位置情報とその位置で測定された近傍
電界値より、コンピュータ等の演算処理手段により被測
定アンテナの遠方放射特性が算出される。そして、この
測定は電磁波の反射や外部からの雑音電波の影響を排除
すべく、電波暗室内にて行なわれる。
て説明すれば、例えば、特開昭６０−６１６６４号公報
や特開昭６２−５４１７５号公報や特開平３−４８７７
６号および米国特許第３８７９７３３号等に示されるご
とく、被測定アンテナから放射される電磁界を、この被
測定アンテナに近接する平面上を走査し得るスキャナの
可動部に設けられたプローブアンテナで測定し、このプ
ローブアンテナの位置情報とその位置で測定された近傍
電界値より、コンピュータ等の演算処理手段により被測
定アンテナの遠方放射特性が算出される。そして、この
測定は電磁波の反射や外部からの雑音電波の影響を排除
すべく、電波暗室内にて行なわれる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】近傍電界測定にあって
は、電波暗室内にて測定を行なうため、遠方電界測定の
ごとき制約が排除できる利点がある。しかるに、被測定
アンテナとプローブアンテナおよびプローブアンテナを
走査させるためのスキャナ等の装置全体を収納できる大
きさの容積を有する電波暗室が必要である。
は、電波暗室内にて測定を行なうため、遠方電界測定の
ごとき制約が排除できる利点がある。しかるに、被測定
アンテナとプローブアンテナおよびプローブアンテナを
走査させるためのスキャナ等の装置全体を収納できる大
きさの容積を有する電波暗室が必要である。
【０００６】この電波暗室の建設費用は、通常の実験・
研究用の建物と比べて高額である。そこで、アンテナの
開発や評価および測定を行なう上で大きな障害となって
いた。
研究用の建物と比べて高額である。そこで、アンテナの
開発や評価および測定を行なう上で大きな障害となって
いた。
【０００７】本発明は、かかる従来技術の事情に鑑みて
なされたもので、設置スペースが小さく、しかも安価に
製造し得る平面走査型近傍電界測定装置を提供すること
を目的とする。
なされたもので、設置スペースが小さく、しかも安価に
製造し得る平面走査型近傍電界測定装置を提供すること
を目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めに、本発明の平面走査型近傍電界測定装置は、被測定
アンテナから放射される電磁界を、この被測定アンテナ
に近接する平面上を走査し得るスキャナの可動部に設け
られたプローブアンテナで測定し、このプローブアンテ
ナの位置情報とその位置で測定された近傍電界値より演
算処理手段により前記被測定アンテナの遠方放射特性を
算出する平面走査型近傍電界測定装置において、前記被
測定アンテナを固定するテーブルの表面を覆うように第
１の電波吸収体を設け、前記スキャナの可動部の前記テ
ーブルと対向する面を覆うように第２の電波吸収体を設
け、前記テーブルと前記スキャナが設けられた側を除い
て、前記テーブルと前記スキャナの可動部の周囲を第３
の電波吸収体で囲んで構成されている。
めに、本発明の平面走査型近傍電界測定装置は、被測定
アンテナから放射される電磁界を、この被測定アンテナ
に近接する平面上を走査し得るスキャナの可動部に設け
られたプローブアンテナで測定し、このプローブアンテ
ナの位置情報とその位置で測定された近傍電界値より演
算処理手段により前記被測定アンテナの遠方放射特性を
算出する平面走査型近傍電界測定装置において、前記被
測定アンテナを固定するテーブルの表面を覆うように第
１の電波吸収体を設け、前記スキャナの可動部の前記テ
ーブルと対向する面を覆うように第２の電波吸収体を設
け、前記テーブルと前記スキャナが設けられた側を除い
て、前記テーブルと前記スキャナの可動部の周囲を第３
の電波吸収体で囲んで構成されている。
【０００９】そして、前記テーブルの表面を上方に向け
て配設し、前記スキャナを垂直に立設された４本の支柱
によって前記テーブルの上方水平面にて走査できるよう
に支持し、前記支柱で囲まれる空間部の周面に前記第３
の電波吸収体を配置して構成しても良い。
て配設し、前記スキャナを垂直に立設された４本の支柱
によって前記テーブルの上方水平面にて走査できるよう
に支持し、前記支柱で囲まれる空間部の周面に前記第３
の電波吸収体を配置して構成しても良い。
【００１０】
【作 用】被測定アンテナが固定されるテーブルの表面
と、プローブアンテナが突設されるスキャナの可動部の
面を覆うようにそれぞれ第１と第２の電波吸収体を設け
るとともに、テーブルとスキャナが設けられた側を除い
て、周囲を第３の電波吸収体で囲んでいるので、被測定
アンテナおよびプローブアンテナは、電磁波の反射や外
部からの雑音電波の影響を受けることがない。
と、プローブアンテナが突設されるスキャナの可動部の
面を覆うようにそれぞれ第１と第２の電波吸収体を設け
るとともに、テーブルとスキャナが設けられた側を除い
て、周囲を第３の電波吸収体で囲んでいるので、被測定
アンテナおよびプローブアンテナは、電磁波の反射や外
部からの雑音電波の影響を受けることがない。
【００１１】そして、テーブルの表面を上方に向け、ス
キャナをテーブルの上方水平面にて走査させるならば、
スキャナの可動部の移動に重力の影響を受けることがな
く、スキャナの可動部を高い精度で移動制御でき、それ
だけ測定精度を向上させ得る。しかも、スキャナを支持
する支柱で囲まれる空間部の周面に第３の電波吸収体を
配置するので、第３の電波吸収体の組み付け構造も簡単
である。
キャナをテーブルの上方水平面にて走査させるならば、
スキャナの可動部の移動に重力の影響を受けることがな
く、スキャナの可動部を高い精度で移動制御でき、それ
だけ測定精度を向上させ得る。しかも、スキャナを支持
する支柱で囲まれる空間部の周面に第３の電波吸収体を
配置するので、第３の電波吸収体の組み付け構造も簡単
である。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の一実施例につき図１および図
２を参照して説明する。図１は、本発明の平面走査型近
傍電界測定装置の一実施例の構造を示す縦断面図であ
り、図２は、装置全体の一部切り欠き外観斜視図であ
る。
２を参照して説明する。図１は、本発明の平面走査型近
傍電界測定装置の一実施例の構造を示す縦断面図であ
り、図２は、装置全体の一部切り欠き外観斜視図であ
る。
【００１３】図１および図２において、垂直（Ｚ方向）
に立設された４本の支柱１０，１０，１０，１０で囲ま
れる空間部の中央に、表面を上方に向けてテーブル１２
が配置される。このテーブル１２の表面は第１の電波吸
収体１４で覆われるとともに適宜に被測定アンテナ１６
が固定できるものとする。しかも、テーブル１２は、シ
リンダー等により昇降可動に構成される。また、支柱１
０，１０，１０，１０の上端に、水平面上を走査し得る
（Ｘ−Ｙ方向）スキャナ１８が配置され、その可動部２
０のテーブル１２に対向する面を覆うように第２の電波
吸収体２２が配置される。さらに、この可動部２０に
は、第２の電波吸収体２２から２本のプローブアンテナ
２４，２６が突設される。この２本のプローブアンテナ
２４，２６は、直交するように配設される。さらに、支
柱１０，１０，１０，１０で囲まれる空間部の周面に
は、第３の電波吸収体２８，２８，２８，２８が支柱１
０，１０，１０，１０により支持固定される。そして、
プローブアンテナ２４，２６に接続される同軸ケーブル
がケーブルガイドレール３０により支持される。そして
また、スキャナ１８のＸ−Ｙ方向位置とテーブル１２の
Ｚ方向位置および２本のプローブアンテナ２４，２６を
切り換える同軸リレー３２の切り換えが制御コンピュー
タ３４により制御され、被測定アンテナ１６から放射さ
せる電磁界の制御および所定位置に制御されたプローブ
アンテナ２４，２６で受信された近傍電界値が測定装置
３６で測定処理される。そしてさらに、制御コンピュー
タ３４にスキャナ１８の位置情報と測定装置３６で測定
されたデータが蓄積され、制御コンピュータ３４でスキ
ャナ１８の位置情報とプローブアンテナ２４，２６によ
る近傍電界値から遠方放射特性が算出される。この制御
コンピュータ３４と測定装置３６とで演算処理手段３８
が構成される。
に立設された４本の支柱１０，１０，１０，１０で囲ま
れる空間部の中央に、表面を上方に向けてテーブル１２
が配置される。このテーブル１２の表面は第１の電波吸
収体１４で覆われるとともに適宜に被測定アンテナ１６
が固定できるものとする。しかも、テーブル１２は、シ
リンダー等により昇降可動に構成される。また、支柱１
０，１０，１０，１０の上端に、水平面上を走査し得る
（Ｘ−Ｙ方向）スキャナ１８が配置され、その可動部２
０のテーブル１２に対向する面を覆うように第２の電波
吸収体２２が配置される。さらに、この可動部２０に
は、第２の電波吸収体２２から２本のプローブアンテナ
２４，２６が突設される。この２本のプローブアンテナ
２４，２６は、直交するように配設される。さらに、支
柱１０，１０，１０，１０で囲まれる空間部の周面に
は、第３の電波吸収体２８，２８，２８，２８が支柱１
０，１０，１０，１０により支持固定される。そして、
プローブアンテナ２４，２６に接続される同軸ケーブル
がケーブルガイドレール３０により支持される。そして
また、スキャナ１８のＸ−Ｙ方向位置とテーブル１２の
Ｚ方向位置および２本のプローブアンテナ２４，２６を
切り換える同軸リレー３２の切り換えが制御コンピュー
タ３４により制御され、被測定アンテナ１６から放射さ
せる電磁界の制御および所定位置に制御されたプローブ
アンテナ２４，２６で受信された近傍電界値が測定装置
３６で測定処理される。そしてさらに、制御コンピュー
タ３４にスキャナ１８の位置情報と測定装置３６で測定
されたデータが蓄積され、制御コンピュータ３４でスキ
ャナ１８の位置情報とプローブアンテナ２４，２６によ
る近傍電界値から遠方放射特性が算出される。この制御
コンピュータ３４と測定装置３６とで演算処理手段３８
が構成される。
【００１４】かかる構成において、被測定アンテナ１６
から放射された電磁界が側方周囲の第３の電波吸収体２
８，２８，２８，２８に至ると、適宜に吸収されて反射
されることがない。また、後側への放射は、テーブル１
２上の第１の電波吸収体１４で吸収されて反射されるこ
とがない。そして、スキャナ１８の可動部２０に至る放
射は、プローブアンテナ２４，２６で受信されたもの以
外は、第２の電波吸収体２２で吸収されて反射されるこ
とがない。しかも、外部からの雑音電波等も第１と第２
および第３の電波吸収体１４，２２，２８，２８，２
８，２８で遮断される。この結果、従来の電波暗室にお
ける近傍電界測定と同様に、反射電波や外部からの雑音
電波の影響を受けずに近傍電界測定ができる。
から放射された電磁界が側方周囲の第３の電波吸収体２
８，２８，２８，２８に至ると、適宜に吸収されて反射
されることがない。また、後側への放射は、テーブル１
２上の第１の電波吸収体１４で吸収されて反射されるこ
とがない。そして、スキャナ１８の可動部２０に至る放
射は、プローブアンテナ２４，２６で受信されたもの以
外は、第２の電波吸収体２２で吸収されて反射されるこ
とがない。しかも、外部からの雑音電波等も第１と第２
および第３の電波吸収体１４，２２，２８，２８，２
８，２８で遮断される。この結果、従来の電波暗室にお
ける近傍電界測定と同様に、反射電波や外部からの雑音
電波の影響を受けずに近傍電界測定ができる。
【００１５】そして、本発明の構成では、装置を部分的
に電波吸収体で囲むにすぎず、従来の電波暗室に比べて
その設置スペースが小さく、しかも安価に製造できる。
に電波吸収体で囲むにすぎず、従来の電波暗室に比べて
その設置スペースが小さく、しかも安価に製造できる。
【００１６】なお、上記実施例では、スキャナは水平面
上（Ｘ−Ｙ方向）を走査し得るように配設したが、これ
に限られず、図２におけるＺ−Ｘ方向またはＺ−Ｙ方向
に走査するように配設しても良い。
上（Ｘ−Ｙ方向）を走査し得るように配設したが、これ
に限られず、図２におけるＺ−Ｘ方向またはＺ−Ｙ方向
に走査するように配設しても良い。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したところから明らかなよう
に、本発明の平面走査型近傍電界測定装置は以下のごと
き格別な効果を奏する。
に、本発明の平面走査型近傍電界測定装置は以下のごと
き格別な効果を奏する。
【００１８】まず、請求項１記載の平面走査型近傍電界
測定装置は、被測定アンテナとプローブアンテナの周囲
が電波吸収体で囲まれ、被測定アンテナから放射されて
電波吸収体に至る電磁波は吸収されて反射することがな
い。このため、従来の電波暗室と同様の測定精度が得ら
れる簡易電波暗室が構成される。しかも、構造が簡単で
あり、安価に製造でき、しかも設置スペースが小さくて
良い。
測定装置は、被測定アンテナとプローブアンテナの周囲
が電波吸収体で囲まれ、被測定アンテナから放射されて
電波吸収体に至る電磁波は吸収されて反射することがな
い。このため、従来の電波暗室と同様の測定精度が得ら
れる簡易電波暗室が構成される。しかも、構造が簡単で
あり、安価に製造でき、しかも設置スペースが小さくて
良い。
【００１９】そして、請求項２記載の平面走査型近傍電
界測定装置にあっては、スキャナの可動部の走査が重力
に影響されることがないので、プローブアンテナの位置
を精度良く制御することができ、それだけ遠方放射特性
を精度良く算出することができる。また、第３の電波吸
収体の支持を支柱を用いて簡単な構造で行なうことがで
きる。
界測定装置にあっては、スキャナの可動部の走査が重力
に影響されることがないので、プローブアンテナの位置
を精度良く制御することができ、それだけ遠方放射特性
を精度良く算出することができる。また、第３の電波吸
収体の支持を支柱を用いて簡単な構造で行なうことがで
きる。
【図１】本発明の平面走査型近傍電界測定装置の一実施
例の構造を示す縦断面図である。
例の構造を示す縦断面図である。
【図２】本発明の平面走査型近傍電界測定装置の装置全
体の一部切り欠き外観斜視図である。
体の一部切り欠き外観斜視図である。
１０ 支柱 １２ テーブル １４ 第１の電波吸収体 １６ 被測定アンテナ １８ スキャナ ２０ 可動部 ２２ 第２の電波吸収体 ２４，２６ プローブアンテナ ２８ 第３の電波吸収体 ３８ 演算処理手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中原 祐治 大阪府大阪市平野区加美鞍作１丁目６番 19号 アイコム株式会社内 (72)発明者 喜多 仁 大阪府大阪市平野区加美鞍作１丁目６番 19号 アイコム株式会社内 (56)参考文献 特開 昭61−160067（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−170770（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−158797（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 29/10
Claims (2)
- 【請求項１】 被測定アンテナから放射される電磁界
を、この被測定アンテナに近接する平面上を走査し得る
スキャナの可動部に設けられたプローブアンテナで測定
し、このプローブアンテナの位置情報とその位置で測定
された近傍電界値より演算処理手段により前記被測定ア
ンテナの遠方放射特性を算出する平面走査型近傍電界測
定装置において、前記被測定アンテナを固定するテーブ
ルの表面を覆うように第１の電波吸収体を設け、前記ス
キャナの可動部の前記テーブルと対向する面を覆うよう
に第２の電波吸収体を設け、前記テーブルと前記スキャ
ナが設けられた側を除いて、前記テーブルと前記スキャ
ナの可動部の周囲を第３の電波吸収体で囲んで構成した
ことを特徴とする平面走査型近傍電界測定装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の平面走査型近傍電界測定
装置において、前記テーブルの表面を上方に向けて配設
し、前記スキャナを垂直に立設された４本の支柱によっ
て前記テーブルの上方水平面にて走査できるように支持
し、前記支柱で囲まれる空間部の周面に前記第３の電波
吸収体を配置して構成したことを特徴とする平面走査型
近傍電界測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04093654A JP3115093B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 平面走査型近傍電界測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04093654A JP3115093B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 平面走査型近傍電界測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06160450A JPH06160450A (ja) | 1994-06-07 |
| JP3115093B2 true JP3115093B2 (ja) | 2000-12-04 |
Family
ID=14088374
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04093654A Expired - Lifetime JP3115093B2 (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 平面走査型近傍電界測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3115093B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7109932B2 (en) * | 2004-06-18 | 2006-09-19 | Centurion Wireless Technologies, Inc. | Antenna efficiency test device |
| US7109931B2 (en) * | 2004-06-18 | 2006-09-19 | Centurion Wireless Technologies, Inc. | Method and apparatus to control an antenna efficiency test device |
| CN109142890B (zh) * | 2018-08-23 | 2020-03-31 | 清华大学 | 太赫兹漏波天线测量系统 |
-
1992
- 1992-03-19 JP JP04093654A patent/JP3115093B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06160450A (ja) | 1994-06-07 |
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